JPH037984B2 - - Google Patents
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- JPH037984B2 JPH037984B2 JP58155434A JP15543483A JPH037984B2 JP H037984 B2 JPH037984 B2 JP H037984B2 JP 58155434 A JP58155434 A JP 58155434A JP 15543483 A JP15543483 A JP 15543483A JP H037984 B2 JPH037984 B2 JP H037984B2
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 claims description 13
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 12
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 102100029469 WD repeat and HMG-box DNA-binding protein 1 Human genes 0.000 description 1
- 101710097421 WD repeat and HMG-box DNA-binding protein 1 Proteins 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000002405 diagnostic procedure Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318505—Test of Modular systems, e.g. Wafers, MCM's
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Small-Scale Networks (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
本発明はデータ処理システムにおいて複数の端
末装置に対応してデータを集配信する端末制御装
置における自己診断方式に関する。
末装置に対応してデータを集配信する端末制御装
置における自己診断方式に関する。
(b) 技術の背景
従来よりデータ処理システムは日常のデータ処
理モードにおいて期待されるデータ処理機能を保
持するため、システムを構成する各種装置はデー
タ伝送路を含め定期的に診断を行い、診断の結果
欠点が発見されゝば一定レベルでの修復を施す保
守を行う必要がある。
理モードにおいて期待されるデータ処理機能を保
持するため、システムを構成する各種装置はデー
タ伝送路を含め定期的に診断を行い、診断の結果
欠点が発見されゝば一定レベルでの修復を施す保
守を行う必要がある。
(c) 従来技術と問題点
第１図ａ，ｂに従来におけるデータ処理システ
ムの自己診断方式の概念図を示す。図において
１，１ａは中央処理装置（cpu）、２，２ａは記
憶装置（MEM）、３はバス、４は入出力チヤネ
ル装置（MC）、５ａ〜５ｍは端末制御装置
（TC）、６aa〜６an，…６ma〜６mnは端末装置
（Ｔ）、および６１，６２は折返しケーブルであ
る。
ムの自己診断方式の概念図を示す。図において
１，１ａは中央処理装置（cpu）、２，２ａは記
憶装置（MEM）、３はバス、４は入出力チヤネ
ル装置（MC）、５ａ〜５ｍは端末制御装置
（TC）、６aa〜６an，…６ma〜６mnは端末装置
（Ｔ）、および６１，６２は折返しケーブルであ
る。
cpu１，１ａは図示省略したがデータ処理モー
ドの他通常はMEM２，２ａに保持するプログラ
ムおよびデータに従つて必要によりcpu１，１ａ
自身または制御する支配下のMC４，TC５ａ〜
５ｍおよびＴ６aa〜mnを診断する機能を有して
これ等各構成装置およびデータ伝送路を診断する
機能を有している。しかしcpu１，１ａを除く以
下の構成部材は自己診断機能は備えていないの
で、システム構成の全装置を一定レベルで診断す
るためには第１図ａのようにcpu１より例えば処
理モードと同一状態において端末装置６aa〜６
mnより何れかを１台選択して逐一診断する方法
によるか、第１図ｂのようにＴ６aa〜mnの中か
ら端末装置の何れかを取外して代りに折返しケー
ブル６１、または６２を接続して実行する方式が
用いられている。前者はcpu１における処理モー
ドを維持しつゝ該当の端末装置を逐一選択するた
め、端末装置を含めての診断が出来るが診断作業
を実行するため割込みおよび端末装置の種類が異
なる毎に別の診断プログラムを必要とする上、端
末装置における操作を伴うときは煩わしさが増加
する欠点があり、後者は端末装置に対応する２伝
送路を含めて同時に診断出来るが端末装置を停止
して折返しケーブル６１，６２の差し支えが必要
であり、ケーブル６１，６２の選択や保管を伴う
煩わしい欠点があつた。また別途試験装置を接続
する診断方法はcpu１，１ａのデータ処理機能を
低下することはないが必要機能としてcpu１，１
ａに匹適する機能を別に準備することになり、コ
スト高になる欠点があつた。
ドの他通常はMEM２，２ａに保持するプログラ
ムおよびデータに従つて必要によりcpu１，１ａ
自身または制御する支配下のMC４，TC５ａ〜
５ｍおよびＴ６aa〜mnを診断する機能を有して
これ等各構成装置およびデータ伝送路を診断する
機能を有している。しかしcpu１，１ａを除く以
下の構成部材は自己診断機能は備えていないの
で、システム構成の全装置を一定レベルで診断す
るためには第１図ａのようにcpu１より例えば処
理モードと同一状態において端末装置６aa〜６
mnより何れかを１台選択して逐一診断する方法
によるか、第１図ｂのようにＴ６aa〜mnの中か
ら端末装置の何れかを取外して代りに折返しケー
ブル６１、または６２を接続して実行する方式が
用いられている。前者はcpu１における処理モー
ドを維持しつゝ該当の端末装置を逐一選択するた
め、端末装置を含めての診断が出来るが診断作業
を実行するため割込みおよび端末装置の種類が異
なる毎に別の診断プログラムを必要とする上、端
末装置における操作を伴うときは煩わしさが増加
する欠点があり、後者は端末装置に対応する２伝
送路を含めて同時に診断出来るが端末装置を停止
して折返しケーブル６１，６２の差し支えが必要
であり、ケーブル６１，６２の選択や保管を伴う
煩わしい欠点があつた。また別途試験装置を接続
する診断方法はcpu１，１ａのデータ処理機能を
低下することはないが必要機能としてcpu１，１
ａに匹適する機能を別に準備することになり、コ
スト高になる欠点があつた。
(d) 発明の目的
本発明の目的は上記の欠点を除去するため、端
末装置をダミーとして用いることも、折返しケー
ブルの差し替えを行うこともなくTC間に診断用
のデータパスを設けてcpu１，１ａからの制御に
従つて各TC５ａ〜ｍより任意の１対を選択して
該データバスに接続させ相互に試験用データを送
受せしめてTC５ａ〜ｍの試験を行う自己診断方
式を提供しようとするものである。
末装置をダミーとして用いることも、折返しケー
ブルの差し替えを行うこともなくTC間に診断用
のデータパスを設けてcpu１，１ａからの制御に
従つて各TC５ａ〜ｍより任意の１対を選択して
該データバスに接続させ相互に試験用データを送
受せしめてTC５ａ〜ｍの試験を行う自己診断方
式を提供しようとするものである。
(e) 発明の構成
この目的はデータを入出力する複数の端末装置
と、該端末装置の各群毎にデータを集配信する複
数の端末制御装置と、これらを制御する少なくと
も１台の中央処理装置とを備えたデータ処理シス
テムにおいて、該端末制御装置には中央処理装置
に対応する第１の入出力手段と、複数の端末装置
に対応する第２の入出力手段と、診断モードにお
いて試験データを入出力する第３の入出力手段
と、処理モードにおいて該第１の入出力手段と該
第２の入出力手段とのデータ中継動作を制御する
送受信制御手段とを備え、更に前記複数の端末制
御装置間を接続する共通の診断用データバスを備
え、診断モードにおいて該第３の入出力手段と該
診断用データバスを介して任意の２つの該端末制
御装置間で試験データを送受することを特徴とす
るデータ処理システムにおける自己診断方式を提
供することによつて達成することが出来る。
と、該端末装置の各群毎にデータを集配信する複
数の端末制御装置と、これらを制御する少なくと
も１台の中央処理装置とを備えたデータ処理シス
テムにおいて、該端末制御装置には中央処理装置
に対応する第１の入出力手段と、複数の端末装置
に対応する第２の入出力手段と、診断モードにお
いて試験データを入出力する第３の入出力手段
と、処理モードにおいて該第１の入出力手段と該
第２の入出力手段とのデータ中継動作を制御する
送受信制御手段とを備え、更に前記複数の端末制
御装置間を接続する共通の診断用データバスを備
え、診断モードにおいて該第３の入出力手段と該
診断用データバスを介して任意の２つの該端末制
御装置間で試験データを送受することを特徴とす
るデータ処理システムにおける自己診断方式を提
供することによつて達成することが出来る。
(f) 発明の実施例
以下図面を参照しつゝ本発明の一実施例につい
て説明する。
て説明する。
第２図は本発明の一実施例における自己診断方
式の概念図、第３図はそのブロツク図および第４
図は他の実施例における概念図を示す。図におい
て１ｃ，１ca，１cbは中央処理装置（cpu），２
ｃ，２ca，２cbは記憶装置（MEM）、３はバス、
４は入出力チヤネル（MC）、５０ａ〜５０ｍは
端末制御装置（TC），６aa〜６mn，６aaa〜６
amn，６baa〜６bmnは端末装置（Ｔ），７，７
ａ，７ｂは診断用データバス更に５１は第１ドラ
イバ／レシーバ（第1DV／RV）、５２は送受信
制御部（TRC）、５３はデマルチプレクサ
（DEMPX），５４はマルチプレクサ（MPX），５
５はアドレスレジスタ、５６ａ〜５６ｎは第２ド
ライバ／レシーバ（第2DV／RV），５７は第３
ドライバレシーバ（第3DV／RV），５８ａ，５
８ｂは切替回路、５９はセツトリセツトフリツプ
フロツプ回路（FF），AND１〜AND５はアンド
回路およびORはオア回路である。第２図，第３
図のように構成されている本実施例ではcpu１ｃ
の制御に従つて通常のデータ処理を実行する処理
モードではMC４を介し第1DV／RV５１に入力
される並列データはTRC５２に印加され、TRC
５１は並直列変換を施して得られた直列送信デー
タ（Ｔ−DATA）を送出する。処理モードの送
信状態においては、TRC５２はFF５９にロード
信号を送出してその出力より１が送出され、且
同時に送信コマンド（Ｔ−COM）が送出され、
切換回路５８ａはＴ−DATAをDEMPX５３に
入力し、TRC５２の送出するアドレスデータ
（ADD−DATA）に従つてアドレスレジスタ５
５がアドレス信号（ADD）をDEMPX５３に印
加し、その出力ａ〜ｎを選択して対応するＴ６
aa〜Ｔ６anの何か１個にＴ，DATAを送出する。
Ｔ６aa〜Ｔ６anの何れか１個からの受信データ
も同様にADD，DATAに伴うアドレスレジスタ
のADDによるMPX５４の選択動作に従つて入力
され、TRCによるロードおよび受信コマンド
（Ｒ・COM）の送出に伴う切換回路５８ｂの選択
動作によつてTRC５２に入力されTRC５２は直
並列変換后第1DV／RV５１経由MC４を介し送
出する従来の動作に変りはない。
式の概念図、第３図はそのブロツク図および第４
図は他の実施例における概念図を示す。図におい
て１ｃ，１ca，１cbは中央処理装置（cpu），２
ｃ，２ca，２cbは記憶装置（MEM）、３はバス、
４は入出力チヤネル（MC）、５０ａ〜５０ｍは
端末制御装置（TC），６aa〜６mn，６aaa〜６
amn，６baa〜６bmnは端末装置（Ｔ），７，７
ａ，７ｂは診断用データバス更に５１は第１ドラ
イバ／レシーバ（第1DV／RV）、５２は送受信
制御部（TRC）、５３はデマルチプレクサ
（DEMPX），５４はマルチプレクサ（MPX），５
５はアドレスレジスタ、５６ａ〜５６ｎは第２ド
ライバ／レシーバ（第2DV／RV），５７は第３
ドライバレシーバ（第3DV／RV），５８ａ，５
８ｂは切替回路、５９はセツトリセツトフリツプ
フロツプ回路（FF），AND１〜AND５はアンド
回路およびORはオア回路である。第２図，第３
図のように構成されている本実施例ではcpu１ｃ
の制御に従つて通常のデータ処理を実行する処理
モードではMC４を介し第1DV／RV５１に入力
される並列データはTRC５２に印加され、TRC
５１は並直列変換を施して得られた直列送信デー
タ（Ｔ−DATA）を送出する。処理モードの送
信状態においては、TRC５２はFF５９にロード
信号を送出してその出力より１が送出され、且
同時に送信コマンド（Ｔ−COM）が送出され、
切換回路５８ａはＴ−DATAをDEMPX５３に
入力し、TRC５２の送出するアドレスデータ
（ADD−DATA）に従つてアドレスレジスタ５
５がアドレス信号（ADD）をDEMPX５３に印
加し、その出力ａ〜ｎを選択して対応するＴ６
aa〜Ｔ６anの何か１個にＴ，DATAを送出する。
Ｔ６aa〜Ｔ６anの何れか１個からの受信データ
も同様にADD，DATAに伴うアドレスレジスタ
のADDによるMPX５４の選択動作に従つて入力
され、TRCによるロードおよび受信コマンド
（Ｒ・COM）の送出に伴う切換回路５８ｂの選択
動作によつてTRC５２に入力されTRC５２は直
並列変換后第1DV／RV５１経由MC４を介し送
出する従来の動作に変りはない。
こゝで本実施例における診断モード時には
TRC５２は処理モード時のロード信号に代りテ
スト信号をFF５９に送出してその出力に０を、
Ｑ出力に１を出力する。また同時に送信時にはＴ
−COM受信時にはＲ−COMがそれぞれ送出され
ているので切換回路５８ａは従来のDEMPX５３
へのＴ−DATA出力を第3DR／RV５７に試験送
信データ（ET−DATA）として送出し、切換回
路５８ｂはMPX５４からのＲ−DATA入力に代
り第3DV／RV５７からの試験受信データ（ER
−DATA）をTRC５２に入力するように切換え
動作を行う。従つてcpu１ｃが診断モードにおい
てTC５０ａ〜ｍの中より１対を選択してその一
方に、例えばTC５０ａには送信動作を実行させ、
他方例えばTC５０ｂに受信動作を実行させれば
送信データはTC５０ａの第3DV／RV５７より
ET−DATAデータバス７に送出され、データバ
ス７より図示省略したがTC５０ｂの第3DV／
RVからER−DATAとして受信され再びMC４を
介してcpu１ｃに回収される折返し試験が実行出
来る。このように本実施例によれば、第１図ａの
ようにＴ６aa〜Ｔ６mnを使用することなく、ま
た第２図ｂのように折返しケーブルをTC５ａ〜
ｍの対Ｔ６aa〜６mnの出力端子にその都度接続
することなく、診断モードとして選択するTC５
０ａ〜ｍの１対の一方にＴ−COM、他方にＲ−
COMを印加してデータバス７を介し試験データ
を折返し送受させることが出来るcpu１ca〜TC
５０ａ〜ｍ間における自己診断方式が得られる。
以上は単一のcpu１ｃによるデータ処理システム
によつて説明したが第４図の他の実施例のように
２個のcpu１ca，１cbに伴う２重制御によるデー
タ処理システムにおいて図のように構成すればそ
れぞれcpu１ca，１cb毎に自己診断のための診断
モードを実行出来るだけでなく、cpu１ca系と１
cb系間にこゝではMC４とTC５０ａ〜ｍ間に設
けた交叉接続によるフオールバツク用制御線によ
つてその一方が故障で例えばcpu１ca系の何れ
かゞ故障で、システムダウンとなり、cpu１cbが
cpu１ca側のTC５０ａ〜ｍを介しフオールバツ
ク制御を実行しているときに、処理モード状態で
ないTCを選択して試験モードをcpu１cbにより
または可能であればcpu１caにより折返し試験を
実行させることが出来る。勿論必要により両系の
診断用データバス７ａ，７ｂを相互に連結して他
系のTCと組合せて折返し試験が実行出来ること
はいう迄もない。
TRC５２は処理モード時のロード信号に代りテ
スト信号をFF５９に送出してその出力に０を、
Ｑ出力に１を出力する。また同時に送信時にはＴ
−COM受信時にはＲ−COMがそれぞれ送出され
ているので切換回路５８ａは従来のDEMPX５３
へのＴ−DATA出力を第3DR／RV５７に試験送
信データ（ET−DATA）として送出し、切換回
路５８ｂはMPX５４からのＲ−DATA入力に代
り第3DV／RV５７からの試験受信データ（ER
−DATA）をTRC５２に入力するように切換え
動作を行う。従つてcpu１ｃが診断モードにおい
てTC５０ａ〜ｍの中より１対を選択してその一
方に、例えばTC５０ａには送信動作を実行させ、
他方例えばTC５０ｂに受信動作を実行させれば
送信データはTC５０ａの第3DV／RV５７より
ET−DATAデータバス７に送出され、データバ
ス７より図示省略したがTC５０ｂの第3DV／
RVからER−DATAとして受信され再びMC４を
介してcpu１ｃに回収される折返し試験が実行出
来る。このように本実施例によれば、第１図ａの
ようにＴ６aa〜Ｔ６mnを使用することなく、ま
た第２図ｂのように折返しケーブルをTC５ａ〜
ｍの対Ｔ６aa〜６mnの出力端子にその都度接続
することなく、診断モードとして選択するTC５
０ａ〜ｍの１対の一方にＴ−COM、他方にＲ−
COMを印加してデータバス７を介し試験データ
を折返し送受させることが出来るcpu１ca〜TC
５０ａ〜ｍ間における自己診断方式が得られる。
以上は単一のcpu１ｃによるデータ処理システム
によつて説明したが第４図の他の実施例のように
２個のcpu１ca，１cbに伴う２重制御によるデー
タ処理システムにおいて図のように構成すればそ
れぞれcpu１ca，１cb毎に自己診断のための診断
モードを実行出来るだけでなく、cpu１ca系と１
cb系間にこゝではMC４とTC５０ａ〜ｍ間に設
けた交叉接続によるフオールバツク用制御線によ
つてその一方が故障で例えばcpu１ca系の何れ
かゞ故障で、システムダウンとなり、cpu１cbが
cpu１ca側のTC５０ａ〜ｍを介しフオールバツ
ク制御を実行しているときに、処理モード状態で
ないTCを選択して試験モードをcpu１cbにより
または可能であればcpu１caにより折返し試験を
実行させることが出来る。勿論必要により両系の
診断用データバス７ａ，７ｂを相互に連結して他
系のTCと組合せて折返し試験が実行出来ること
はいう迄もない。
(g) 発明の効果
以上説明したように本発明によれば、従来のよ
うに端末装置や折返しケーブルを必要とすること
なく、中央処理装置の制御による診断モードによ
つて端末制御装置に共通して接続する診断用デー
タバスを介して端末制御装置の１対を作動させて
実行する折返し試験による自己診断方式が得られ
るので有用である。
うに端末装置や折返しケーブルを必要とすること
なく、中央処理装置の制御による診断モードによ
つて端末制御装置に共通して接続する診断用デー
タバスを介して端末制御装置の１対を作動させて
実行する折返し試験による自己診断方式が得られ
るので有用である。
第１図ａ，ｂは従来の自己診断方式による概念
図、第２図は本発明の一実施例における自己診断
方式による概念図、第３図はそのブロツク図、第
４図は本発明の他の実施例における概念図であ
る。図において１，１ａ，１ｂ，１ｃ，１ca，
１cbは中央処理装置（cpu）、５ａ〜ｍ，５０ａ
〜ｍは端末制御装置（TC）、６aa〜mn，６aaa
〜bmnは端末装置（Ｔ）、７，７ａ，７ｂは診断
用データバス、５１は第１ドライバ／レシーバ
（第1DV／RV）、５２は送受信制御装置（TRC）、
５６ａ〜ｎは第２ドライバ／レシーバ（第
2DV／RV）、５７は第３ドライバ／レシーバ
（第3DV／RV）、５８ａ，５８ｂは切換回路であ
る。
図、第２図は本発明の一実施例における自己診断
方式による概念図、第３図はそのブロツク図、第
４図は本発明の他の実施例における概念図であ
る。図において１，１ａ，１ｂ，１ｃ，１ca，
１cbは中央処理装置（cpu）、５ａ〜ｍ，５０ａ
〜ｍは端末制御装置（TC）、６aa〜mn，６aaa
〜bmnは端末装置（Ｔ）、７，７ａ，７ｂは診断
用データバス、５１は第１ドライバ／レシーバ
（第1DV／RV）、５２は送受信制御装置（TRC）、
５６ａ〜ｎは第２ドライバ／レシーバ（第
2DV／RV）、５７は第３ドライバ／レシーバ
（第3DV／RV）、５８ａ，５８ｂは切換回路であ
る。
Claims (1)
- １ データを入出力する複数の端末装置と、該端
末装置の各群毎にデータを集配信する複数の端末
制御装置と、これらを制御する少なくとも１台の
中央処理装置とを備えたデータ処理システムにお
いて、該端末制御装置には中央処理装置に対応す
る第１の入出力手段と、複数の端末装置に対応す
る第２の入出力手段と、診断モードにおいて試験
データを入出力する第３の入出力手段と、処理モ
ードにおいて該第１の入出力手段と該第２の入出
力手段とのデータ中継動作を制御する送受信制御
手段とを備え、更に前記複数の端末制御装置間を
接続する共通の診断用データバスを備え、診断モ
ードにおいて該第３の入出力手段と該診断用デー
タバスを介して任意の２つの該端末制御装置間で
試験データを送受することを特徴とするデータ処
理システムにおける自己診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58155434A JPS6048560A (ja) | 1983-08-25 | 1983-08-25 | 自己診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58155434A JPS6048560A (ja) | 1983-08-25 | 1983-08-25 | 自己診断方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6048560A JPS6048560A (ja) | 1985-03-16 |
| JPH037984B2 true JPH037984B2 (ja) | 1991-02-04 |
Family
ID=15605936
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58155434A Granted JPS6048560A (ja) | 1983-08-25 | 1983-08-25 | 自己診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6048560A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61289434A (ja) * | 1985-06-18 | 1986-12-19 | Nec Corp | 複数階層制御システムの診断方式 |
| JPS6366642A (ja) * | 1986-09-08 | 1988-03-25 | Fanuc Ltd | 入出力動作確認方法 |
| JPH01265742A (ja) * | 1988-04-18 | 1989-10-23 | Sony Corp | 情報伝送装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5789354A (en) * | 1980-11-26 | 1982-06-03 | Hitachi Ltd | Distributed automatic testing device based on loop transmission system |
-
1983
- 1983-08-25 JP JP58155434A patent/JPS6048560A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5789354A (en) * | 1980-11-26 | 1982-06-03 | Hitachi Ltd | Distributed automatic testing device based on loop transmission system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6048560A (ja) | 1985-03-16 |
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