JPH0422287A - 三段スイッチ回路 - Google Patents
三段スイッチ回路Info
- Publication number
- JPH0422287A JPH0422287A JP12790090A JP12790090A JPH0422287A JP H0422287 A JPH0422287 A JP H0422287A JP 12790090 A JP12790090 A JP 12790090A JP 12790090 A JP12790090 A JP 12790090A JP H0422287 A JPH0422287 A JP H0422287A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switch
- test
- test signal
- circuit
- terminals
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 2
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、三段スイッチのスイッチ経路の正常性をチエ
ツクする診断手段に関する。
ツクする診断手段に関する。
本発明は、三段スイッチ回路の空き経路の正常性を診断
する手段において、 実回線に接続される入出力端子のほかにテスト手段に接
続される入出力端子を設けることにより、実回線に接続
される入出力端子に空きが無くても三段スイッチ回路の
空き経路の正常性を実用中に診断することができるよう
にしたものである。
する手段において、 実回線に接続される入出力端子のほかにテスト手段に接
続される入出力端子を設けることにより、実回線に接続
される入出力端子に空きが無くても三段スイッチ回路の
空き経路の正常性を実用中に診断することができるよう
にしたものである。
従来の三段スイッチは、第２図に示すように、一次スイ
ッチを構成している１つ１つのスイッチは７１ｘ（２ｎ
−１）であり、二次スイッチではＮ／ｎｘＮ／ｎ、三次
スイッチでは（２ｎ−１）ｘｎである。これらのスイッ
チ数を満たすことによりＮＸＮスイッチでの一対一接続
に対してノンブロッキングであることが知られている。
ッチを構成している１つ１つのスイッチは７１ｘ（２ｎ
−１）であり、二次スイッチではＮ／ｎｘＮ／ｎ、三次
スイッチでは（２ｎ−１）ｘｎである。これらのスイッ
チ数を満たすことによりＮＸＮスイッチでの一対一接続
に対してノンブロッキングであることが知られている。
この三段スイッチに対してＮ本のパスを設定した場合に
、一次スイッチの出力端子、二次スイッチの入出力端子
および三次スイッチの入力端子はすべて使用されること
はなく、空いている端子が多い。これらの端子すなわち
一次スイッチの入力端子および三次スイッチの出力端子
以外の端子が使用されるがどうかはＮＸＮスイッチのパ
スの設定状態に依存している。
、一次スイッチの出力端子、二次スイッチの入出力端子
および三次スイッチの入力端子はすべて使用されること
はなく、空いている端子が多い。これらの端子すなわち
一次スイッチの入力端子および三次スイッチの出力端子
以外の端子が使用されるがどうかはＮＸＮスイッチのパ
スの設定状態に依存している。
従来の三段スイッチでは、スイッチおよびスイッチ間の
正常性を診断するために、任意の一次スイッチの入力端
子へテスト信号を流し、その端子を通る任意のパスを一
次スイッチと三次スイッチとの間に設定し、三次スイッ
チの出力信号を監視することで任意のパスの正常性を診
断することができる。しかし、実回線と接続されていな
い入出力端子に対してしか行えず、入出力端子Ｎ本がす
べて実回線と接続されているときは、一次スイッチと三
次スイッチとの間の空き経路を診断することはできなか
った。したがって、障害経路を事前に発見することはで
きず、パスを切り替えてから障害を検出するので、実回
線に影響を与える欠点があった。
正常性を診断するために、任意の一次スイッチの入力端
子へテスト信号を流し、その端子を通る任意のパスを一
次スイッチと三次スイッチとの間に設定し、三次スイッ
チの出力信号を監視することで任意のパスの正常性を診
断することができる。しかし、実回線と接続されていな
い入出力端子に対してしか行えず、入出力端子Ｎ本がす
べて実回線と接続されているときは、一次スイッチと三
次スイッチとの間の空き経路を診断することはできなか
った。したがって、障害経路を事前に発見することはで
きず、パスを切り替えてから障害を検出するので、実回
線に影響を与える欠点があった。
本発明はこのような欠点を除去するもので、全入出力端
子が実回線に接続されている状態でも空経路の正常性の
診断が行える三段スイッチ回路を提供することを目的と
する。
子が実回線に接続されている状態でも空経路の正常性の
診断が行える三段スイッチ回路を提供することを目的と
する。
本発明は、ｎ個の入力端子と（２ｎ−１）個の出力端子
とを持つスイッチ格子の（Ｎ／ｎ）個が並べられた一次
スイッチと、（Ｎ／ｎ）個の入力端子と（Ｎ／ｎ）の出
力端子とを持つスイッチ格子の（２ｎ−１）個が並べら
れた二次スイッチと、（２ｎ−１）個の入力端子とｎ個
の出力端子とを持つスイッチ格子の（Ｎ／ｎ）個が並べ
られた三次スイッチと、テスト信号を発生し、このテス
ト信号が与えられる上記一次スイッチの入力端子を経由
して上記三次スイッチの出力端子に到るテストバスをあ
らかじめ設定するテスト信号発生回路と、このテストパ
スに含まれる三次スイッチの出力端子でのテスト信号の
通運状態を監視するテスト信号監視回路とを備えた三段
スイッチ回路において、上記一次スイッチのそれぞれの
スイッチ格子はそのｎ個の入力端子のほかにさらに１個
のテスト入力端子を備え、上記三次スイッチのそれぞれ
のスイッチ格子はそのｎ個の出力端子のほかにさらに１
個のテスト出力端子を備え、上記テスト入力端子のそれ
ぞれとテスト信号発生回路とを接続する第一回路手段お
よび上記テスト出力端子のそれぞれとテスト信号監視回
路とを接続する第二回路手段を備えたことを特徴とする
。ここで、実回線信号が通過するパスとして、あらかし
必設定されたテストパスが使用されるときに、上記テス
ト信号発生回路および上記テスト信号監視回路間のこの
テストパスに対するテスト信号の送受を中断するテスト
中断回路を備えることが好ましい。
とを持つスイッチ格子の（Ｎ／ｎ）個が並べられた一次
スイッチと、（Ｎ／ｎ）個の入力端子と（Ｎ／ｎ）の出
力端子とを持つスイッチ格子の（２ｎ−１）個が並べら
れた二次スイッチと、（２ｎ−１）個の入力端子とｎ個
の出力端子とを持つスイッチ格子の（Ｎ／ｎ）個が並べ
られた三次スイッチと、テスト信号を発生し、このテス
ト信号が与えられる上記一次スイッチの入力端子を経由
して上記三次スイッチの出力端子に到るテストバスをあ
らかじめ設定するテスト信号発生回路と、このテストパ
スに含まれる三次スイッチの出力端子でのテスト信号の
通運状態を監視するテスト信号監視回路とを備えた三段
スイッチ回路において、上記一次スイッチのそれぞれの
スイッチ格子はそのｎ個の入力端子のほかにさらに１個
のテスト入力端子を備え、上記三次スイッチのそれぞれ
のスイッチ格子はそのｎ個の出力端子のほかにさらに１
個のテスト出力端子を備え、上記テスト入力端子のそれ
ぞれとテスト信号発生回路とを接続する第一回路手段お
よび上記テスト出力端子のそれぞれとテスト信号監視回
路とを接続する第二回路手段を備えたことを特徴とする
。ここで、実回線信号が通過するパスとして、あらかし
必設定されたテストパスが使用されるときに、上記テス
ト信号発生回路および上記テスト信号監視回路間のこの
テストパスに対するテスト信号の送受を中断するテスト
中断回路を備えることが好ましい。
三段スイッチ回路の入出力端子のすべてが実回線に接続
されていても、一次スイッチの出力端子、二次スイッチ
の入出力端子および一次スイッチの入力端子には空き端
子が存在し、テスト入出力端子とこれらの空き端子とを
経由するテストパスを形成し、空き経路の正常性を事前
に確認する。
されていても、一次スイッチの出力端子、二次スイッチ
の入出力端子および一次スイッチの入力端子には空き端
子が存在し、テスト入出力端子とこれらの空き端子とを
経由するテストパスを形成し、空き経路の正常性を事前
に確認する。
以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第１図はこの実施例の構成を示す構成図である。
一次スイッチの入力端子には実回線と接続される入力端
子１以外にテスト信号発生回路５と接続するテスト入力
端子３を備え、また、三次スイッチの出力端子は実回線
と接続される出力端子２以外にテスト信号監視回路６と
接続するテスト出力端子４を備える。
子１以外にテスト信号発生回路５と接続するテスト入力
端子３を備え、また、三次スイッチの出力端子は実回線
と接続される出力端子２以外にテスト信号監視回路６と
接続するテスト出力端子４を備える。
すなわち、この実施例は、第１図に示すように、ｎ個の
入力端子１と（２ｎ−１）個の出力端子とを持つスイッ
チ格子の（Ｎ／ｎ）個が並べられた一次スイッチと、（
Ｎ／ｎ）個の入力端子と（Ｎ／ｎ）の出力端子とを持つ
スイッチ格子の（２ｎ−１）個が並べられた二次スイッ
チと、（２ｎ−１）個の入力端子とｎ個の出力端子２と
を持つスイッチ格子の（Ｎ ／ ｎ ）個が並べられた
三次スイッチと、テスト信号を発生し、このテスト信号
が与えられる上記一次スイッチの入力端子１を経由して
上記三次スイッチの出力端子２に到るテストパスをあら
かじめ設定するテスト信号発生回路５と、このテストパ
スに含まれる三次スイッチの出力端子２でのテスト信号
の通過状態を監視するテスト信号監視回路６とを備え、
さらに、本発明の特徴とする手段として、上記一次スイ
ッチのそれぞれのスイッチ格子はそのｎ個の入力端子１
のほかにさらに１個のテスト入力端子３を備え、上記三
次スイッチのそれぞれのスイッチ格子はそのｎ個の出力
端子２のほかにさらに１個のテスト出力端子４を備え、
テスト入力端子３のそれぞれとテスト信号発生回路５と
を接続する第一回路手段およびテスト出力端子４のそれ
ぞれとテスト信号監視回路６とを接続する第二回路手段
と、実回線信号が通過するパスとして、あらかし於設定
されたテストパスが使用されるときに、上記テスト信号
発生回路および上記テスト信号監視回路間のこのテスト
パスに対するテスト信号の送受を中断するテスト中断回
路７を備える。
入力端子１と（２ｎ−１）個の出力端子とを持つスイッ
チ格子の（Ｎ／ｎ）個が並べられた一次スイッチと、（
Ｎ／ｎ）個の入力端子と（Ｎ／ｎ）の出力端子とを持つ
スイッチ格子の（２ｎ−１）個が並べられた二次スイッ
チと、（２ｎ−１）個の入力端子とｎ個の出力端子２と
を持つスイッチ格子の（Ｎ ／ ｎ ）個が並べられた
三次スイッチと、テスト信号を発生し、このテスト信号
が与えられる上記一次スイッチの入力端子１を経由して
上記三次スイッチの出力端子２に到るテストパスをあら
かじめ設定するテスト信号発生回路５と、このテストパ
スに含まれる三次スイッチの出力端子２でのテスト信号
の通過状態を監視するテスト信号監視回路６とを備え、
さらに、本発明の特徴とする手段として、上記一次スイ
ッチのそれぞれのスイッチ格子はそのｎ個の入力端子１
のほかにさらに１個のテスト入力端子３を備え、上記三
次スイッチのそれぞれのスイッチ格子はそのｎ個の出力
端子２のほかにさらに１個のテスト出力端子４を備え、
テスト入力端子３のそれぞれとテスト信号発生回路５と
を接続する第一回路手段およびテスト出力端子４のそれ
ぞれとテスト信号監視回路６とを接続する第二回路手段
と、実回線信号が通過するパスとして、あらかし於設定
されたテストパスが使用されるときに、上記テスト信号
発生回路および上記テスト信号監視回路間のこのテスト
パスに対するテスト信号の送受を中断するテスト中断回
路７を備える。
次に、この実施例の動作を説明する。
いま、第１図の三段スイッチに８本のパスが設定され、
入力端子１および出力端子２が実回線と接続された状態
のときに各々の一次スイッチで空いている出力端子数は （２Ｔ１−１） −１＝ （雇用） 本であり、同様に各々の三次スイッチで空いている入力
端子も（ｎ−１）本である。二次スイッチの各々のスイ
ッチの空き端子数はパスの設定状態に依存し定式化でき
ないが、二次スイッチ全体としては Ｎ／ｎＸ（２ｎ−１）−Ｎ＝ （Ｎ−Ｎ／ｎ）本の入出
力端子が空いている。これらの空き端子とテスト入力端
子３およびテスト出力端子４を通る診断用パスを設定す
る。空き端子を使用するので、実回線のパスと競合する
ことはない。テスト信号発生回路５からのテスト信号が
テスト入力端子３へ人力され、診断用パスを経由して一
次スイッチと三次スイッチとの間を流れ、三次スイッチ
のテスト出力端子４へ出力され、テスト信号監視回路６
て正常かどうかが判断される。これによって、空き経路
の正常性を事前に確認することができる。
入力端子１および出力端子２が実回線と接続された状態
のときに各々の一次スイッチで空いている出力端子数は （２Ｔ１−１） −１＝ （雇用） 本であり、同様に各々の三次スイッチで空いている入力
端子も（ｎ−１）本である。二次スイッチの各々のスイ
ッチの空き端子数はパスの設定状態に依存し定式化でき
ないが、二次スイッチ全体としては Ｎ／ｎＸ（２ｎ−１）−Ｎ＝ （Ｎ−Ｎ／ｎ）本の入出
力端子が空いている。これらの空き端子とテスト入力端
子３およびテスト出力端子４を通る診断用パスを設定す
る。空き端子を使用するので、実回線のパスと競合する
ことはない。テスト信号発生回路５からのテスト信号が
テスト入力端子３へ人力され、診断用パスを経由して一
次スイッチと三次スイッチとの間を流れ、三次スイッチ
のテスト出力端子４へ出力され、テスト信号監視回路６
て正常かどうかが判断される。これによって、空き経路
の正常性を事前に確認することができる。
また、空き経路の診断中に実回線のパス切替により空き
経路が空き経路でなくなる場合は、実回線のパス切替が
優先されて診断は中断され、また、診断パスの信号監視
も中断される。
経路が空き経路でなくなる場合は、実回線のパス切替が
優先されて診断は中断され、また、診断パスの信号監視
も中断される。
この実施例では、実回線に対して常に第２図に示す三段
スイッチの構成が適用されているので、ノンブロッキン
グが保証される。
スイッチの構成が適用されているので、ノンブロッキン
グが保証される。
本発明は、以上説明したように、一次スイッチの入力端
子にテスト信号発生回路と接続されるテスト端子を加え
、三次スイッチの出力端子にテスト信号監視回路と接続
されるテスト端子を加えることによって、ＮＸＮの３段
スイッチの全入出力端子が実回線と接続されている状態
でも、一次スイッチと三次スイッチとの間の空き経路の
正常性診断を実回線のパス設定に影響を与えずに行える
効果がある。
子にテスト信号発生回路と接続されるテスト端子を加え
、三次スイッチの出力端子にテスト信号監視回路と接続
されるテスト端子を加えることによって、ＮＸＮの３段
スイッチの全入出力端子が実回線と接続されている状態
でも、一次スイッチと三次スイッチとの間の空き経路の
正常性診断を実回線のパス設定に影響を与えずに行える
効果がある。
第１図は、本発明実施例の構成を示す構成図。
第２図は、従来例の構成を示す構成図。
１・・・入力端子、２・・・出力端子、３・・・テスト
入力端子、４・・・テスト出力端子、５・・・テスト信
号発生回路、６・・・テスト信号監視回路、７・・・テ
スト中断回路。
入力端子、４・・・テスト出力端子、５・・・テスト信
号発生回路、６・・・テスト信号監視回路、７・・・テ
スト中断回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、ｎ個の入力端子と（２ｎ−１）個の出力端子とを持
つスイッチ格子の（Ｎ／ｎ）個が並べられた一次スイッ
チと、 （Ｎ／ｎ）個の入力端子と（Ｎ／ｎ）の出力端子とを持
つスイッチ格子の（２ｎ−１）個が並べられた二次スイ
ッチと、 （２ｎ−１）個の入力端子とｎ個の出力端子とを持つス
イッチ格子の（Ｎ／ｎ）個が並べられた三次スイッチと
、 テスト信号を発生し、このテスト信号が与えられる上記
一次スイッチの入力端子を経由して上記三次スイッチの
出力端子に到るテストパスをあらかじめ設定するテスト
信号発生回路と、 このテストパスに含まれる三次スイッチの出力端子での
テスト信号の通過状態を監視するテスト信号監視回路と を備えた三段スイッチ回路において、 上記一次スイッチのそれぞれのスイッチ格子はそのｎ個
の入力端子のほかにさらに１個のテスト入力端子を備え
、 上記三次スイッチのそれぞれのスイッチ格子はそのｎ個
の出力端子のほかにさらに１個のテスト出力端子を備え
、 上記テスト入力端子のそれぞれとテスト信号発生回路と
を接続する第一回路手段および上記テスト出力端子のそ
れぞれとテスト信号監視回路とを接続する第二回路手段 を備えたことを特徴とする三段スイッチ回路。 ２、実回線信号が通過するパスとして、あらかじめ設定
されたテストパスが使用されるときに、上記テスト信号
発生回路および上記テスト信号監視回路間のこのテスト
パスに対するテスト信号の送受を中断するテスト中断回
路を備えた請求項１記載の三段スイッチ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12790090A JPH0422287A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | 三段スイッチ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12790090A JPH0422287A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | 三段スイッチ回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0422287A true JPH0422287A (ja) | 1992-01-27 |
Family
ID=14971444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12790090A Pending JPH0422287A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | 三段スイッチ回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0422287A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100325134B1 (ko) * | 1998-08-18 | 2002-02-25 | 서평원 | 스위칭 시스템의 용량 증설 방법 |
-
1990
- 1990-05-16 JP JP12790090A patent/JPH0422287A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100325134B1 (ko) * | 1998-08-18 | 2002-02-25 | 서평원 | 스위칭 시스템의 용량 증설 방법 |
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