JPS6048560A - 自己診断方式 - Google Patents

自己診断方式

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JPS6048560A
JPS6048560A JP58155434A JP15543483A JPS6048560A JP S6048560 A JPS6048560 A JP S6048560A JP 58155434 A JP58155434 A JP 58155434A JP 15543483 A JP15543483 A JP 15543483A JP S6048560 A JPS6048560 A JP S6048560A
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JP
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diagnostic
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JP58155434A
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Hiromi Uchikawa
内川 博己
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318505Test of Modular systems, e.g. Wafers, MCM's

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Small-Scale Networks (AREA)
  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (al 発明の技術分野 本発明はデータ処理システムにおいて複数の端末装置に
対応してデータを集配信する端末制御装置における自己
診断方式に関する。
(b) 技術の背景 従来よりデータ処理システムは日常のデータ処理モード
において期待されるデータ処理機能を保持するため、シ
ステムを構成する各種装置はデータ伝送路を含め定期的
に診断を行い、診断の結果欠点が発見され\ば一定レベ
ルでの修復金施す保守を行う必妥がある。
(C) 従来技術と問題点 第1図(al、 fb)に従来におけるデータ処理シス
テムの自己診断方式の概念図を示す。図において1゜1
ail−1:中央処理装置、 (c p u )、2,
2aは記憶装置(MEM)、3はバス、4は入出力チャ
ネル装置(MC’)、5a〜5mは端末制御装置(TC
)、6aa 〜6an + ・−6ma 〜6mnは端
末装[4(T)、および61.62は折返しケーブルで
ある。
cpul、laは図示省略したがデータ処理モードの池
通常はMEM2.2aに保持するプログラムおよびデー
タに従って心安によりepul、la自身または制御す
る支配下のMC4,5a〜5mおよびT 6 a a 
−m nを診断する機能を有してこれ等各借成装置およ
びデータ伝送路を診10テする機能を有している。しか
しcpu ]、、laを除く以下の構成部材は自己診断
機能は備えていないので、システムわ1成の全装置全一
定レベルで診断するためには第1図tin+のようにc
pulより例えば処理モードと同一状態において端末装
置6aa−mnより何れかを1台選択して逐一診断する
方法によるが、第1図(b)のようにT6aa−mnの
中から端末装置の何れかを取脱して代りに折返しケーブ
ル61、または62を接続して実行する方式が用いられ
ている。
前者はcpulにおける処理モードを維持しつX該当の
端末装置を逐一選択するため、端末装置を含めての診断
が出来るが診断作業全実行するため割込みおよび端末装
置の種類が兄なる毎に別の診断プログラムを8敦とする
上、端末装置における操作を伴うときは煩わしさが増加
する欠点があり、後者は端末装置に対応する2伝送路を
含めて同時に診断出来るが端末装置を停止して折返しケ
ーブル61.62の差し支えが心安であシ、クープル6
1゜62の選択や保管を伴う煩わしい欠点があった。
また別途試験装置全接続する診断方法はcpul+1a
のデータ処理機能を低下することはないが必要機能とし
てcpul、laに匹敵する機能を別に準備することに
なり、コスト高になる欠点があった。
fcl) 発明の目的 本発明の目的は上記の欠点を除去するため、端末装置を
ダミーとして用いることも、折返しケーブルの差し替え
を行うこともなくTC間に診断用のデータバスを設けて
cpul、laがらの制御に従って各TC5a=mより
任意の1対を選択して該データバスに1させ相互に試験
用データ全送受せしめてTC5a−mの試Jfiを行う
自己診断方式を提供しようとするものである。
tel 発明の構成 この目的は、データを入出力する複数の端末装置および
該若j末装置の各群毎にデータを集配信する複数の!;
W末制御装置を配し、単一または複数の中央処理装置に
より制御するデータ処理システムにおいて、各端末制御
装置に接続する共通の診断用データバスを備えると共に
、端末制御装置は中央処理装置に対応してデータを入出
力する第1の入出力手段、複数の端末装置ζに対応して
そのデータを別途入出力する第2の入出力手段、該第2
人出力手段を選択し第1入出力手段と選択した第2人出
力手段とに対応して処理モードにおけるデータの中継動
作を制御する送受信制御手段、診断モードにおける試験
データを入出力する縞3の入出力手段および処理モード
における第2人出力手段との接続を診断モードにおいて
送受信制御手段と第3人出力手段との接続にl、lJ換
える手段を具備し、送受信制′1Ii11手段は処理モ
ード知おいて第2人出力手段を介し端末装置へのデータ
入出力を中継制御すると共に、診断モードにおいて切換
手段をして第3人出力手段を介し接続する診断用データ
バス経由他の端末制御装置と試験データを送受して端末
制御装置の診断を実行することf:特徴とするデータ処
理システムにおける自己診断方式を提供することによっ
て達成することが出来る。
(f) 発明の実施例 以下図面を参照しつ\本発明の一実施例について説明す
る。
m2図は本発明の一実施例における自己診断方式の概念
図、第3図はそのブロック図および第3図は他の実施例
における概念図を示す。図において]、c+ 1ean
 lcbは中央処理装置ff(cpu)。
2c、2ca、2cbは記憶装置(MEM)、3はバス
、4は入出力チャネル(MC)、50a 〜50mは0
1に末tlilj御装置(TC)、6aa〜6mn、6
aaa 〜6a、mn、6baa 〜6bmnld 端
)i ft+’l (”OR’::v (T ) 、7
゜7ar7bは診断用データバス更IC51は第1ドラ
イバ/レソーバ(E(S I Dv/Rv )、52 
i’j: 送受4iJfu制御部(TRC)、53はデ
マルチプレクサ(DIJIpx)。
54はマルチプレクサ(MPX)、55はアドレスレジ
スタ、56a〜56nは第2ドライバ/レシーバ(K2
DV/Ry)、57 ハ第31’ 7 イハ” −バ(
第31)V/RV )、58a、58bは切替回路、5
9はセラトリ七ッ)・フリップフロップ回路(FF)。
ANDI〜AND5はアンド回路およびORはオア回路
である。第2図、第3図のように構成されている本実施
列ではcpulcの制御に従って通常のデータ処理を実
行する処理モードではMC4に介し第11)V/RV5
1に入力される並列データはTRC51に印加され、T
1えC51は並(a列変換を施して(Uられた直列送信
データ(T−DATA)を送出する。処理モードの送信
状態においては、TRC51はFF59にロード1g号
を送出してそのQ出力より1が送出され、且同時に送信
コマンド(T−COM)が送出され、切換回路58aは
T−DATAをDEへ伊X53に入カレ、TRC52の
送出するアドレスデータ(ADD−DATA )に従っ
てアドレスレジスタ55がアドレスイ。号(ADD)を
DEMPX53に印加し、その出力a−ni選択して対
応するT6aa〜T6anの何か1個にT 、DATA
を送出する。
T6aa−T6anの何れか1個からの受信データも同
様にADD、DATAに伴うアドレスレジスタのADD
によるMPX54の選択動作に従って入力され、TRC
によるロードおよび受信コマンド(R・COM)の送出
に伴う切換回路58bの選択動作によってTRC52に
入力されTRC52は直並列変換層wIDV/RV51
経由MC4’4−介し送出する従来の動作に変りはない
こ\で本実施例における診1θiモード時にはTRC5
2は処理モード時のロード信号に代りテスト信−号をF
F59に送出してその豆出力にOを、Q出力に1を出力
する。また四峙に送信時にはT−COM受信時にはR−
COMがそれぞれ送出されているので切換回路58aは
従来のDEMPX53 へのT−DATA出力を第3D
R/RV57に試験送信データ(ET−DATA)とし
て送出し、切換回路58bはMPX54からのR−DA
TA入力に代り第3DV/RV57からの試験受信デー
タ(ER−DATA)をTRC52に入力するように切
換え動作を行う。従ってcpulcが診断モードにおい
て’l’c50a −rnの中より1対を選択してその
一方に、例えばTC50aには送信動作を実行させ、他
方例えばTC50bK受信動作を実行させれば送信デー
タはTC50aの第3DV/RV57よりET−DAT
Aデータバス7に送出され、データバス7より図示省略
したが’l’c50bの第3DV/RVからER−DA
TAとして受信され再びMC4を介してcpu lcに
回収される折返し試験が実行出来る。このように本実施
例によれば、第1図ta)のようにT6aa〜6mnを
使用することなく、また第2図fb)のように折返しケ
ーブル’c T C5a−mの対T6aa 〜6mnの
出力端子にその511m接続することなく、診断モード
として選択するTC50a−mの1対の一方にT−CO
M、他方にR−COMを印加してデータバス7を介し試
験データを折返し送受させることが出来るcpulca
−TC50a−m間における自己診断方式が得られる。
以上は単一のepulcによるデータ処理システムによ
って説明したが第4図の他の災施例のように2個のcp
ulca、lcbに伴う2fyi制御に上るデータ処理
システムにおいて図のように構成すればそれぞれcpu
lca、lcb毎に自己診断のだめの診断モードを実行
出来るだけでなく、cpulca系とlcb系間にこ\
ではMC4とTC50a−m間に設け/ξ交交接接続よ
るフォールバック用制御線によってその一方が酸1章で
例えばcpulca糸の何れかに故障で、システムタ゛
ウンとなり、cpulcbがcpulca’j11]の
TC50a〜mを介しフォールノ(ツクfull 1i
illを実行しているときに、処理モード状態でないT
Cを選択して試P、61モード’fcpulcbにより
または可能でおればcpulcaにより所返し試験を実
行させることが出来る。勿論必侠により両系の診断用f
−タノくスフa、7bを相互に連結して他系のTCと組
合せて折返し試験が実行出来ることはいう迄もない。、 (g) 発明の詳細 な説明したように本発明によれば、従来のようにflJ
末装置や折返しケーブルを必要とすることなく、中央処
理装置のfit!IGIによる診断モードによって端末
制御装置に共通して接続する診断用データバスを介して
端末制御装置の1対を作動させて実行する折返し試験に
」:る自己診断方式が得られるので有用でちる。
【図面の簡単な説明】
第1図ta+、 (b)は従来の自己診断方式による概
念図、第2図は本発明の一実施例における自己診断方式
による概念図、第3図はそのブロック図、第4図は本発
明の他の実施例における概念図である。 図において1.1a+ 1b11c、lea、lcbは
中央処理装置(cpu)、5a〜m、50a〜mは端末
制御装置(TC)、6aa−mn、6aaa〜bmnは
端末装置(T)、7,7a、7bは診断用データバス5
1は第1 ト’f;イ”’/ ”/−ハ(第i DV/
RV )、52は送受信制御装置(’I’RC)、56
a−nは第2トライバ/レシーバ(第2DV/RV)、
57は第3ドライバ/レシーバ(i7L 3 DV/R
V )、58a。 58bは切換回路である 代理人 弁理士 イ公 1”:j 宏四’!’J5か%
”、、、’JFfi1−2−口 IBΔ」

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. データを入出力する8数の端末装置分および該端末装置
    の各群毎にデータを祭配信する複数の端末制御装置を配
    し、単一または複数の中央処理装置により制御するデー
    タ処理システムにおいて、各端末制御装置に接続する共
    通の診断用データバスを備えると共に、鶏末制御装置は
    中央処理装置に対応してデータを入出力する第1の入出
    力手段、複数の端末装置に対応してそのデータを別途入
    出力する第2の入出力手段、該第2人出力手段を選択し
    第1人出力手段と辷択した第2人出力手段とに対応して
    処理モードにおけるデータの中tdi動作を制御する送
    受イ4制御手段、診断モードにおける試験データを入出
    力する第3の入出力手1’Zおよび処理モードにおける
    第2人出力手段との接続を診断モードにおいて送受信f
    111制御手段と第3人出力手段との接続に切換える手
    段を具備し、送受信制御手段は処理モードにおいて第2
    人出力手段を介し端末装置へのデータ入出力を中継制御
    すると共に、診断モードにおいて切換手段をして第3人
    出力手段を介し接続する診断用データバス経由他の端末
    制御装置と試験データを送受して端末制御装置の診断を
    実行することを特徴とするデータ処理システムにおける
    自己診断方式。
JP58155434A 1983-08-25 1983-08-25 自己診断方式 Granted JPS6048560A (ja)

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JP58155434A JPS6048560A (ja) 1983-08-25 1983-08-25 自己診断方式

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JP58155434A JPS6048560A (ja) 1983-08-25 1983-08-25 自己診断方式

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JPS6048560A true JPS6048560A (ja) 1985-03-16
JPH037984B2 JPH037984B2 (ja) 1991-02-04

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61289434A (ja) * 1985-06-18 1986-12-19 Nec Corp 複数階層制御システムの診断方式
JPS6366642A (ja) * 1986-09-08 1988-03-25 Fanuc Ltd 入出力動作確認方法
JPH01265742A (ja) * 1988-04-18 1989-10-23 Sony Corp 情報伝送装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5789354A (en) * 1980-11-26 1982-06-03 Hitachi Ltd Distributed automatic testing device based on loop transmission system

Patent Citations (1)

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