JPH0373338A - 複合箔とその製法 - Google Patents
複合箔とその製法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は複合箔とその製法に関し、より詳細には銅箔担
体の粗面側にクロメート被膜の離型層を有し、銅−ニッ
ケル合金層及び極薄鋼箔層が順次膜けられ、特に極薄w
4Fgの厚みが9μm以下であって、しかも該銅−ニッ
ケル層と銅箔担体との剥離強度を安定させた複合箔とそ
の製法に関するものである。
体の粗面側にクロメート被膜の離型層を有し、銅−ニッ
ケル合金層及び極薄鋼箔層が順次膜けられ、特に極薄w
4Fgの厚みが9μm以下であって、しかも該銅−ニッ
ケル層と銅箔担体との剥離強度を安定させた複合箔とそ
の製法に関するものである。
本発明に係る複合箔はプリント配線板用として有用なも
のである。以下プリント配線板用として用いた場合を説
明する。
のである。以下プリント配線板用として用いた場合を説
明する。
近年、電子機器の小型化が急速に進展するに伴い、電子
機器中に組み込まれたプリント配線板において配線の高
密度化及び回路導体の極細化が進められている。
機器中に組み込まれたプリント配線板において配線の高
密度化及び回路導体の極細化が進められている。
従来、これらの要求に応えるために、サイドエツチング
の少ない厚さ12μm以下の極薄tR箔が使用されてい
る。これらの極薄銅箔は強度的に弱いため、取り扱い中
シワになったり破れたりして作業が難しかった。そのた
めアルミニウム箔担体あるいは銅箔担体の片面に12μ
m以下の極薄鋼箔層を電析させた、いわゆる担体付き極
I銅箔(以下「複合箔」という)がプリント配線板用銅
箔として使用されている。
の少ない厚さ12μm以下の極薄tR箔が使用されてい
る。これらの極薄銅箔は強度的に弱いため、取り扱い中
シワになったり破れたりして作業が難しかった。そのた
めアルミニウム箔担体あるいは銅箔担体の片面に12μ
m以下の極薄鋼箔層を電析させた、いわゆる担体付き極
I銅箔(以下「複合箔」という)がプリント配線板用銅
箔として使用されている。
その−例として、電解銅箔の片面に離型層を介して極薄
鋼箔層を直接電着させた複合箔(特公昭53−1832
9号)が提案されている。
鋼箔層を直接電着させた複合箔(特公昭53−1832
9号)が提案されている。
該複合箔を使用して例えば4層の多層板を作るには、第
2図に示す工程を通る。
2図に示す工程を通る。
まず、内層用プリント配線板の両面にガラスエポキシプ
リプレグをのせ、その外側に銅箔担体が外側になるよう
に複合箔をのせて高温高圧でプレスして積層板を得る。
リプレグをのせ、その外側に銅箔担体が外側になるよう
に複合箔をのせて高温高圧でプレスして積層板を得る。
でき上がった積層板の所望の位置にドリル穴明は後、銅
箔担体を機械的に剥離する。その後、大め中に導体を形
成させるために、各種前処理を施した後、無電解銅メッ
キを行う。次いで、フォトメッキレジスト材料を使って
、必要となる回路以外の部分を覆い、露光、現像して所
望の回路パターン以外を該メッキレジストで覆う、そし
て、スルホール用電気銅メッキ浴を使って回路部分及び
穴の中の導体部分を厚付は銅メッキし、更にその上に、
はんだメッキを行った後、使用したレジストは除去する
。最後に、アルカリ性アンモニア・エツチング液で該積
層板をタイツクエツチングすることによって多層プリン
ト配線板を製造していた。
箔担体を機械的に剥離する。その後、大め中に導体を形
成させるために、各種前処理を施した後、無電解銅メッ
キを行う。次いで、フォトメッキレジスト材料を使って
、必要となる回路以外の部分を覆い、露光、現像して所
望の回路パターン以外を該メッキレジストで覆う、そし
て、スルホール用電気銅メッキ浴を使って回路部分及び
穴の中の導体部分を厚付は銅メッキし、更にその上に、
はんだメッキを行った後、使用したレジストは除去する
。最後に、アルカリ性アンモニア・エツチング液で該積
層板をタイツクエツチングすることによって多層プリン
ト配線板を製造していた。
しかし、前記した複合箔及びその製法に次のような問題
があった。
があった。
即ち、前記した複合箔は、剥離層と極薄銅箔とが直接、
接しているため、接着の程度が不均一となるので接着力
いわゆる担体剥離強度のバラツキが大きかった。その為
、この複合箔を使用して前記した多層プリント配線板を
得る際に、次のような問題があった。
接しているため、接着の程度が不均一となるので接着力
いわゆる担体剥離強度のバラツキが大きかった。その為
、この複合箔を使用して前記した多層プリント配線板を
得る際に、次のような問題があった。
担体剥離強度が低すぎると、
■複合箔とプリプレグとを高温高圧でプレスした後、プ
レス機から取り出した時点、又はワーキングサイズに切
断する時点で銅箔担体が自然剥離し、そのため、その後
の積層板の取り扱い時に積層板表面の極薄鋼箔層を損傷
する危険性があった。
レス機から取り出した時点、又はワーキングサイズに切
断する時点で銅箔担体が自然剥離し、そのため、その後
の積層板の取り扱い時に積層板表面の極薄鋼箔層を損傷
する危険性があった。
また、
■積層板のドリル穴明は工程においてドリルを穴から引
き抜く時、ドリルとともに銅箔担体が基板から剥れて浮
き上りドリル加工が続行不能となる欠点があった。
き抜く時、ドリルとともに銅箔担体が基板から剥れて浮
き上りドリル加工が続行不能となる欠点があった。
逆に担体剥離強度が高すぎると、
■ドリル穴明は後、銅箔担体を基板から機械的に剥すと
き、穴の縁部の極薄鋼箔層の一部を損傷する欠点、また
、 ■特に大型の積層板において、銅箔担体の剥離にかなり
の力を要する欠点、そして、 ■担体と離型層との密着力よりも離型層と極薄銅箔との
密着力が大きい場合には担体を剥離した後の極薄鋼箔層
表面に、一部の離型層が残留し、所望の導体回路が得ら
れない欠点があった。
き、穴の縁部の極薄鋼箔層の一部を損傷する欠点、また
、 ■特に大型の積層板において、銅箔担体の剥離にかなり
の力を要する欠点、そして、 ■担体と離型層との密着力よりも離型層と極薄銅箔との
密着力が大きい場合には担体を剥離した後の極薄鋼箔層
表面に、一部の離型層が残留し、所望の導体回路が得ら
れない欠点があった。
また、クロムの問題として積層板から剥した銅箔担体に
は、離型層が付着しているため銅原料として再利用でき
ず、そのスクラップの処分に難点があった。
は、離型層が付着しているため銅原料として再利用でき
ず、そのスクラップの処分に難点があった。
さらに、製造上の問題として、複合箔を製造する際、離
型層としてクロム層を形成する場合には、高濃度の六価
クロムイオンを含む強酸のクロムメッキ浴を使用する。
型層としてクロム層を形成する場合には、高濃度の六価
クロムイオンを含む強酸のクロムメッキ浴を使用する。
そのため、メッキ液の廃液処理に多大な費用がかかる欠
点を有していた。そして、このメッキ液を高電流密度で
電解するため、人体に有害なミストが多く発生する欠点
があった。
点を有していた。そして、このメッキ液を高電流密度で
電解するため、人体に有害なミストが多く発生する欠点
があった。
本発明の主たる目的は、主として上記した銅箔担体剥離
強度のばらつきによっておこる問題を解決するため、担
体剥離強度を実用上好ましいレベルに安定させた複合箔
を提供することである。別の目的は、極薄鋼箔層から銅
箔担体を剥離した後の銅箔担体を再利用することが可能
犀複合箔を提供することである。更に、別の目的は、廃
液処理の問題がなく、また、ミストの発生しない複合箔
の製法を提供することである。
強度のばらつきによっておこる問題を解決するため、担
体剥離強度を実用上好ましいレベルに安定させた複合箔
を提供することである。別の目的は、極薄鋼箔層から銅
箔担体を剥離した後の銅箔担体を再利用することが可能
犀複合箔を提供することである。更に、別の目的は、廃
液処理の問題がなく、また、ミストの発生しない複合箔
の製法を提供することである。
本発明者は、従来の複合箔及びその製法の上記種々の問
題を解決すべく検討し、特に担体剥離強度を安定させる
ため種々検討した結果、離型層と極薄鋼箔層の間に銅−
ニッケル合金層を介在させることにより、適当な剥離強
度を有する複合箔が得られることを見出し本発明を完成
したものである。
題を解決すべく検討し、特に担体剥離強度を安定させる
ため種々検討した結果、離型層と極薄鋼箔層の間に銅−
ニッケル合金層を介在させることにより、適当な剥離強
度を有する複合箔が得られることを見出し本発明を完成
したものである。
即ち、本発明に係る複合箔は、粗面を有する銅箔担体の
粗面側にクロメート被膜の離型層、銅−ニッケル合金層
及び極薄銅f!層が順次設けられたことを特徴とする複
合箔である。
粗面側にクロメート被膜の離型層、銅−ニッケル合金層
及び極薄銅f!層が順次設けられたことを特徴とする複
合箔である。
本発明者は、従来の複合箔の種々の欠点を検討している
とき、極薄銅箔から銅箔担体を剥離する際、離型層と極
薄鋼箔層の間で担体剥離強度にばらつきがあり、これは
クロムメッキにより形成される離型層と銅メッキにより
形成される極薄鋼箔層との間の結合に問題があることを
見出した。そこで、この中間に、離型層との適当な結合
力を有する中間層を介すれば担体剥離強度のばらつきが
なくなるものと考え、この中間層の組成を種々検討した
結果、銅−ニッケル合金層を形成すれば担体剥離強度の
ばらつきがなくなることを見出したものである。
とき、極薄銅箔から銅箔担体を剥離する際、離型層と極
薄鋼箔層の間で担体剥離強度にばらつきがあり、これは
クロムメッキにより形成される離型層と銅メッキにより
形成される極薄鋼箔層との間の結合に問題があることを
見出した。そこで、この中間に、離型層との適当な結合
力を有する中間層を介すれば担体剥離強度のばらつきが
なくなるものと考え、この中間層の組成を種々検討した
結果、銅−ニッケル合金層を形成すれば担体剥離強度の
ばらつきがなくなることを見出したものである。
なお、担体剥離強度のテストは、901剥離テストをも
って行ったが、この担体剥離強度が20g/cm未満で
あれば、複合箔とプリプレグとの高温高圧プレス中に、
又はドリル穴明は中にIRFi担体が剥れる危険性があ
り、また200 g/amを越えるときは、特に大型の
積層板において銅箔担体の剥離にかなりな力を要するだ
けでなく、穴まわりの基板上の極薄鋼箔層が損傷する危
険性があるので好ましくない。
って行ったが、この担体剥離強度が20g/cm未満で
あれば、複合箔とプリプレグとの高温高圧プレス中に、
又はドリル穴明は中にIRFi担体が剥れる危険性があ
り、また200 g/amを越えるときは、特に大型の
積層板において銅箔担体の剥離にかなりな力を要するだ
けでなく、穴まわりの基板上の極薄鋼箔層が損傷する危
険性があるので好ましくない。
本発明において使用する担体は、粗面を有する銅箔担体
であり、この粗面は銅箔担体の少なくとも1面にあれば
よいが、両面にあったとしても、必要に応じ、片面のみ
を使用すればよい。この銅箔担体が有する粗面の粗さが
担体剥離強度に及ぼす影響を調査したところ、粗面の表
面粗さが絶対山−谷間の差で1〜10μ鵠が好ましいこ
とが判った。この絶対山−谷間の差が1μ園未満の場合
には、離型層と銅−ニッケル合金層の剥離強度が20g
/cm未満になる場合があり、又絶対山−谷間の差が1
0μ慣を超えると剥離強度が200 g/ctaを超え
る場合が発生するので好ましくない。
であり、この粗面は銅箔担体の少なくとも1面にあれば
よいが、両面にあったとしても、必要に応じ、片面のみ
を使用すればよい。この銅箔担体が有する粗面の粗さが
担体剥離強度に及ぼす影響を調査したところ、粗面の表
面粗さが絶対山−谷間の差で1〜10μ鵠が好ましいこ
とが判った。この絶対山−谷間の差が1μ園未満の場合
には、離型層と銅−ニッケル合金層の剥離強度が20g
/cm未満になる場合があり、又絶対山−谷間の差が1
0μ慣を超えると剥離強度が200 g/ctaを超え
る場合が発生するので好ましくない。
銅箔担体の厚さは通常70μ糟であるが、18μm以上
100μm以下が好ましい。銅箔担体の厚さが18μ曙
未満の場合、複合箔の取り扱い時に、極薄鋼箔層にしわ
等が発生しやすく好ましくない、逆に銅箔担体の厚さが
100μmを超える場合、銅箔担体自体の剛性により担
体剥離強度が200g/cmを超えることがあるので好
ましくない。
100μm以下が好ましい。銅箔担体の厚さが18μ曙
未満の場合、複合箔の取り扱い時に、極薄鋼箔層にしわ
等が発生しやすく好ましくない、逆に銅箔担体の厚さが
100μmを超える場合、銅箔担体自体の剛性により担
体剥離強度が200g/cmを超えることがあるので好
ましくない。
銅箔担体の粗面側に形成する離型層は、クロメート処理
によって得られるクロム化合物をもって構成される。
によって得られるクロム化合物をもって構成される。
なお、他の離型層の形成方法として、銅酸化物、硫化銅
、ヨウ化銀などを銅箔担体の上に形成させた後、極薄鋼
箔層を電気メッキ法により析出する方法があるが、これ
らの方法では、いずれも担体剥離強度を安定させるには
、離型層の形成に細かい注意が必要である。本発明によ
る離型層は、クロメート処理によって得られるクロム化
合物からなり、そしてこの離型層と極薄鋼箔層との間に
銅ニツケル合金層が介在することにより、その担体剥離
強度が安定するという特徴を持っている。
、ヨウ化銀などを銅箔担体の上に形成させた後、極薄鋼
箔層を電気メッキ法により析出する方法があるが、これ
らの方法では、いずれも担体剥離強度を安定させるには
、離型層の形成に細かい注意が必要である。本発明によ
る離型層は、クロメート処理によって得られるクロム化
合物からなり、そしてこの離型層と極薄鋼箔層との間に
銅ニツケル合金層が介在することにより、その担体剥離
強度が安定するという特徴を持っている。
銅−ニッケル合金層は、多層プリント配線板の製造工程
のソフトエツチング工程で溶解除去されなければならな
い。一般に使用されるソフトエツチング液とは、硫酸−
過酸化水素、過硫酸塩、塩化第二鉄、塩化第二鋼あるい
はアンモニア複塩の少なくともいずれか一種を含むエツ
チング液である。
のソフトエツチング工程で溶解除去されなければならな
い。一般に使用されるソフトエツチング液とは、硫酸−
過酸化水素、過硫酸塩、塩化第二鉄、塩化第二鋼あるい
はアンモニア複塩の少なくともいずれか一種を含むエツ
チング液である。
銅−ニッケル合金層の組成は、Cu1O〜90wt%、
残部ニッケルのものを使用する。銅の割合がCulOl
lt%未満のときは、ソフトエツチングに時間がかかる
場合があって好ましくない。また、90w t%を超え
るときは、ti4箔担体の剥離強度が20g/cm以下
になる場合があり好ましくない。
残部ニッケルのものを使用する。銅の割合がCulOl
lt%未満のときは、ソフトエツチングに時間がかかる
場合があって好ましくない。また、90w t%を超え
るときは、ti4箔担体の剥離強度が20g/cm以下
になる場合があり好ましくない。
銅−ニッケル合金層の厚さは0.01〜6.0μmが好
ましい。0.01μm未満では、合金層が下地の離型層
を完全に被覆できずピンホールの原因となるので好まし
くない。
ましい。0.01μm未満では、合金層が下地の離型層
を完全に被覆できずピンホールの原因となるので好まし
くない。
銅−ニッケル合金層の最大厚さは、後述するソフトエツ
チング工程での溶解スピードから決定される。プリント
配線板製造業者で使用される通常の条件では、処理時間
3分間で最高6.0μmの溶解量であるから、銅−ニッ
ケル合金層の最大厚さを6.Ou t*以下におさえる
と良いと考えられる。
チング工程での溶解スピードから決定される。プリント
配線板製造業者で使用される通常の条件では、処理時間
3分間で最高6.0μmの溶解量であるから、銅−ニッ
ケル合金層の最大厚さを6.Ou t*以下におさえる
と良いと考えられる。
銅−ニッケル合金層上に形成される極薄鋼箔層の厚さは
1〜9μmが好ましい。多層板プリント配線板を製造す
る際のソフトエツチング工程では、最表面の銅−ニッケ
ル合金層を完全除去して、下層にある極薄銅V3層を表
に出すことを目的としているため、この極薄鋼箔層の厚
さが1μm未満では、オーバーエツチングによって、極
薄鋼箔層をも溶解除去する危険性があり好ましくない、
一方、極薄鋼箔層の厚さが9μ階を超えると、サイドエ
ツチングの問題から極細回路を作ることが難しくなる欠
点がある。なお、この極薄鋼箔層にはプリプレグとの接
着力を改善する目的で粗面を形成する場合があるが、前
記極薄鋼箔層の厚さはこの粗面を含めての厚さである。
1〜9μmが好ましい。多層板プリント配線板を製造す
る際のソフトエツチング工程では、最表面の銅−ニッケ
ル合金層を完全除去して、下層にある極薄銅V3層を表
に出すことを目的としているため、この極薄鋼箔層の厚
さが1μm未満では、オーバーエツチングによって、極
薄鋼箔層をも溶解除去する危険性があり好ましくない、
一方、極薄鋼箔層の厚さが9μ階を超えると、サイドエ
ツチングの問題から極細回路を作ることが難しくなる欠
点がある。なお、この極薄鋼箔層にはプリプレグとの接
着力を改善する目的で粗面を形成する場合があるが、前
記極薄鋼箔層の厚さはこの粗面を含めての厚さである。
次に、本発明の複合箔の製法は、(a)粗面を有する銅
箔担体を準備する工程、(ロ)六価クロムイオンを含み
pHを2.0〜6.5に保ったクロメート浴に、前記銅
箔担体を浸漬することによって、該銅箔担体の粗面側に
離型層を形成させる工程、(c)第二鋼イオン、ニッケ
ルイオン及びクエン酸を含み、pHを5.0以上に保っ
た合金メッキ浴に、■)工程で得た粗面側に離型層を形
成した銅箔担体を浸漬し、陰極電解することによって、
前記銅箔担体の離型層の表面に銅−ニッケル合金層を形
成させる工程、そして、(d)電気銅メッキ浴に、(c
)工程で得た離型層の表面に銅−ニッケル合金層を形成
した銅箔担体を浸漬することによって、前記銅箔担体の
銅−ニッケル合金層の表面に、極薄鋼箔層を電析させる
工程を含むことを特徴とする複合箔の製法である。
箔担体を準備する工程、(ロ)六価クロムイオンを含み
pHを2.0〜6.5に保ったクロメート浴に、前記銅
箔担体を浸漬することによって、該銅箔担体の粗面側に
離型層を形成させる工程、(c)第二鋼イオン、ニッケ
ルイオン及びクエン酸を含み、pHを5.0以上に保っ
た合金メッキ浴に、■)工程で得た粗面側に離型層を形
成した銅箔担体を浸漬し、陰極電解することによって、
前記銅箔担体の離型層の表面に銅−ニッケル合金層を形
成させる工程、そして、(d)電気銅メッキ浴に、(c
)工程で得た離型層の表面に銅−ニッケル合金層を形成
した銅箔担体を浸漬することによって、前記銅箔担体の
銅−ニッケル合金層の表面に、極薄鋼箔層を電析させる
工程を含むことを特徴とする複合箔の製法である。
銅箔担体に粗面を形成する方法としては、■銅箔を、過
硫酸アンモニウム20ル100水溶液で、浴温度30〜
50’Cに保ち20〜120秒間浸漬する化学的エツチ
ング方法。
硫酸アンモニウム20ル100水溶液で、浴温度30〜
50’Cに保ち20〜120秒間浸漬する化学的エツチ
ング方法。
■銅箔をやすりなどで研摩する機械的研摩法。
■銅箔を、硫酸銅(五水塩)100〜150g/f,硫
酸50〜80g/ 1 、硝酸10〜50g/ lを含
む銅メッキ浴中で、浴温度35〜50°C9陰極電流密
度18〜32 A/drs”、電解時間60〜180秒
間銅メッキする粗面化メッキ法.あるいは、 ■ブIJント配線板用銅箔として公知の片面が粗面を有
する電解銅箔を使用する方法、又は前記■〜■を組合わ
せる方法等が考えられ、いずれも本発明に適用できる。
酸50〜80g/ 1 、硝酸10〜50g/ lを含
む銅メッキ浴中で、浴温度35〜50°C9陰極電流密
度18〜32 A/drs”、電解時間60〜180秒
間銅メッキする粗面化メッキ法.あるいは、 ■ブIJント配線板用銅箔として公知の片面が粗面を有
する電解銅箔を使用する方法、又は前記■〜■を組合わ
せる方法等が考えられ、いずれも本発明に適用できる。
離型層は、六価クロムイオンを含み、pHを2゜0〜6
.5に保ったクロメート浴に前記銅箔担体を浸漬するこ
とによって、該!rl箔担体の粗面側に形成するのが好
ましい。
.5に保ったクロメート浴に前記銅箔担体を浸漬するこ
とによって、該!rl箔担体の粗面側に形成するのが好
ましい。
クロメート浴のpHは、この担体剥離強度に影響を与え
る。 p H2,0未満あるいはpH6,5を超える
と離型層が形成され難く、銅箔担体を基板から剥離する
ことが困難となる。p Hが2.0〜6.5の範囲内に
あるとき非常に安定した担体剥離強度が得られる。この
p Hの調節には、硫酸又は苛性ソーダを用いるとよい
。
る。 p H2,0未満あるいはpH6,5を超える
と離型層が形成され難く、銅箔担体を基板から剥離する
ことが困難となる。p Hが2.0〜6.5の範囲内に
あるとき非常に安定した担体剥離強度が得られる。この
p Hの調節には、硫酸又は苛性ソーダを用いるとよい
。
六価クロムイオンは、酸化クロム、重クロム酸カリウム
及び重クロム酸ナトリウムから選ばれた一種又は二種以
上のクロム酸塩を六価クロムイオンとして0.1g/f
以上含むクロメート浴を用いるのが好ましい、六価クロ
ムイオン濃度が0.1g/j2未満では、担体剥離強度
が高くなる欠点を有する。
及び重クロム酸ナトリウムから選ばれた一種又は二種以
上のクロム酸塩を六価クロムイオンとして0.1g/f
以上含むクロメート浴を用いるのが好ましい、六価クロ
ムイオン濃度が0.1g/j2未満では、担体剥離強度
が高くなる欠点を有する。
六価クロムイオン濃度はいくら高くても、担体剥離強度
に悪影響はないが、クロメート浴の廃液処理に費用がか
かる。好ましくは、六価クロムイオン濃度として5〜2
0g/ lである。
に悪影響はないが、クロメート浴の廃液処理に費用がか
かる。好ましくは、六価クロムイオン濃度として5〜2
0g/ lである。
銅−ニッケル合金層は、第二鋼イオンとニッケルイオン
及びクエン酸を含み、pHを5.0以上にった合金メッ
キ浴中に、前工程で得た粗面側に離型層を形成した銅箔
担体を浸漬し、陰極電解することによって、前記銅箔担
体の離型層の表面に消ニッケル合金層を形成する。
及びクエン酸を含み、pHを5.0以上にった合金メッ
キ浴中に、前工程で得た粗面側に離型層を形成した銅箔
担体を浸漬し、陰極電解することによって、前記銅箔担
体の離型層の表面に消ニッケル合金層を形成する。
合金メッキ浴は、第二鋼イオンとして硫酸銅(五水塩)
を0.04〜0.12モ14/l、ニッケルイオンとし
て硫酸ニッケル(六水塩)を0.07〜0.24 aL
/l、及びクエン酸を0.3〜0.5 モル/lを含
む浴を使用することが好ましい。
を0.04〜0.12モ14/l、ニッケルイオンとし
て硫酸ニッケル(六水塩)を0.07〜0.24 aL
/l、及びクエン酸を0.3〜0.5 モル/lを含
む浴を使用することが好ましい。
合金メッキ浴のpHが5.0未満では、銅箔担体の粗面
に付与した離型層が破壊されて、離型効果が減少し、銅
箔担体を剥すことが困難となる。pHが5.0以上にあ
るとき、担体剥離強度は常に安定した値を示す。
に付与した離型層が破壊されて、離型効果が減少し、銅
箔担体を剥すことが困難となる。pHが5.0以上にあ
るとき、担体剥離強度は常に安定した値を示す。
また、合金メッキ浴にクエン酸を添加するのは、第二鋼
イオンとニッケルイオンとのキレート化合物を作るため
であって、他にもキレートを作る薬品があるが、クエン
酸を使うとピンホールの少ないメッキ状の合金被膜が析
出することがわかった。
イオンとニッケルイオンとのキレート化合物を作るため
であって、他にもキレートを作る薬品があるが、クエン
酸を使うとピンホールの少ないメッキ状の合金被膜が析
出することがわかった。
クエン酸などのキレート剤が添加されないとき銅のみ優
先析出し、鋼−ニッケル合金被膜とならないとか粉末状
のポーラスな合金層が析出する欠点を有する。
先析出し、鋼−ニッケル合金被膜とならないとか粉末状
のポーラスな合金層が析出する欠点を有する。
次に、前工程で得た離型層の表面に銅−ニッケル合金層
を形成した銅箔担体を電気銅メ・ンキ浴に浸漬し、陰極
電解して極薄鋼箔層を前記銅箔担体の銅−ニッケル合金
層の表面に析出させる。
を形成した銅箔担体を電気銅メ・ンキ浴に浸漬し、陰極
電解して極薄鋼箔層を前記銅箔担体の銅−ニッケル合金
層の表面に析出させる。
ここで電気銅メッキ浴とは、ピロリン酸銅浴、硫酸銅浴
、シアン化銅浴、硼弗化銅浴などを指し、いずれの浴で
も使用可能である。
、シアン化銅浴、硼弗化銅浴などを指し、いずれの浴で
も使用可能である。
更に、プリプレグに対する極薄鋼箔層の接着力を改善す
る0的で、極薄鋼箔層表面にデンドライト状の銅を電着
するのが好ましい。
る0的で、極薄鋼箔層表面にデンドライト状の銅を電着
するのが好ましい。
複合箔の極薄鋼箔層表面を粗面化処理する方法としては
、 ■硫酸銅(五水塩)100〜150g#!、硫酸50〜
Bog/l、硝酸10〜50g/ fを含み、浴温度3
5〜50°Cに保った水溶液に複合箔を浸漬し、極薄鋼
箔層表面を陰極として、陰極電流密度10〜40A/d
−で60〜180秒間通電することにより、粗面化処理
する方法。
、 ■硫酸銅(五水塩)100〜150g#!、硫酸50〜
Bog/l、硝酸10〜50g/ fを含み、浴温度3
5〜50°Cに保った水溶液に複合箔を浸漬し、極薄鋼
箔層表面を陰極として、陰極電流密度10〜40A/d
−で60〜180秒間通電することにより、粗面化処理
する方法。
あるいは、
■硫酸銅(五水塩)40〜50g/ i 、 クエン
酸ナトリウム120−130 g/ R、)リエタノー
ルアミン8〜10g/ ffiを含み、浴温度40〜5
0″Cに保った水溶液に複合箔を浸漬し、極薄鋼箔層表
面を陰極として、陰極電流密度10〜12A/d−で1
0〜12秒間通電することにより、褐色のデンドライト
状の銅を電着する陰極電解処理による方法。
酸ナトリウム120−130 g/ R、)リエタノー
ルアミン8〜10g/ ffiを含み、浴温度40〜5
0″Cに保った水溶液に複合箔を浸漬し、極薄鋼箔層表
面を陰極として、陰極電流密度10〜12A/d−で1
0〜12秒間通電することにより、褐色のデンドライト
状の銅を電着する陰極電解処理による方法。
■亜塩素酸ソーダ25g/ f!、、水酸化ナトリウム
8呂/lす過リン酸ソーダ8g/ Itを含み、浴温度
を90°Cに保った水溶液に複合箔を4分間浸漬し、極
薄鋼箔層表面に黒色の粗面を形成する浸漬処理による方
法等がある。
8呂/lす過リン酸ソーダ8g/ Itを含み、浴温度
を90°Cに保った水溶液に複合箔を4分間浸漬し、極
薄鋼箔層表面に黒色の粗面を形成する浸漬処理による方
法等がある。
また、必要に応じて、複合箔の極薄f!箔層表面に表面
表面処理層を設けるが、この方法としては、■重クロム
酸ソーダ5〜20g/ itを含んだ水溶液中に、複合
箔を30秒間浸漬することにより、クロメートの無機防
錆皮膜をつける方法。及び、■ベンゾトリアシ−ルア1
フ0.5〜5だ水溶液に複合箔を30秒間浸漬すること
により、有機防錆皮膜をつける方法等がある。
表面処理層を設けるが、この方法としては、■重クロム
酸ソーダ5〜20g/ itを含んだ水溶液中に、複合
箔を30秒間浸漬することにより、クロメートの無機防
錆皮膜をつける方法。及び、■ベンゾトリアシ−ルア1
フ0.5〜5だ水溶液に複合箔を30秒間浸漬すること
により、有機防錆皮膜をつける方法等がある。
以上説明したように、本発明によれば銅箔担体と極薄鋼
箔層間の担体剥離強度が適性な値に安定しているため、 ■担体付き極薄銅箔とプリプレグの高温高圧積層中、担
体が剥離しない。
箔層間の担体剥離強度が適性な値に安定しているため、 ■担体付き極薄銅箔とプリプレグの高温高圧積層中、担
体が剥離しない。
■ドリル穴明は中、担体が剥離しドリル作業を中断する
危険性がない。
危険性がない。
■ドリル穴明は後、担体剥離時、穴まわりの合金層を損
傷する危険性がない。
傷する危険性がない。
■大型積層板から担体を剥離する場合、手で容易におこ
なえる。
なえる。
■担体剥離後、合金層上には、クロムなどのソフトエツ
チング液に不溶の金属が残留しない。
チング液に不溶の金属が残留しない。
■剥離した銅箔担体は、無視しえる程度のクロム化合物
しか付着しておらず、高純度電解銅として再利用可能で
ある。
しか付着しておらず、高純度電解銅として再利用可能で
ある。
■離型層を形成するのに、低濃度の六価クロムイオンを
含む弱酸性クロメート浴を用い、ξストの発生のない浸
漬法で処理するため人体への危険性は極めて少なく、又
クロメート浴の廃液も容易におこなえる等、非常多くの
メリットを有している。
含む弱酸性クロメート浴を用い、ξストの発生のない浸
漬法で処理するため人体への危険性は極めて少なく、又
クロメート浴の廃液も容易におこなえる等、非常多くの
メリットを有している。
本発明を、以下の実施例によって具体的に説明する。
実施例(1)
担体として、片面が粗面(表面粗さが絶対山−谷間の差
で5μs)を有する厚さ70μ朧の電解銅箔を5Ht%
硫酸に20秒間浸漬後、水道水で20秒間洗浄した0次
にこの担体を、重クロム酸ナトリウム20g/4 (
六価クロムイオンとして7.9g/jlりを水道水に溶
かしたクロメート浴に60秒間浸漬し、離型層を形成さ
せた。このときのクロメート浴のpHは4.1、浴温は
25°Cであった。この担体を水道水で20秒間洗浄後
、下記鋼ーニッケル合金メッキ浴に浸漬、陰極電解して
電解銅箔の粗面の上に厚さ1,0μmの鋼−ニッケル合
金層を形成させた。
で5μs)を有する厚さ70μ朧の電解銅箔を5Ht%
硫酸に20秒間浸漬後、水道水で20秒間洗浄した0次
にこの担体を、重クロム酸ナトリウム20g/4 (
六価クロムイオンとして7.9g/jlりを水道水に溶
かしたクロメート浴に60秒間浸漬し、離型層を形成さ
せた。このときのクロメート浴のpHは4.1、浴温は
25°Cであった。この担体を水道水で20秒間洗浄後
、下記鋼ーニッケル合金メッキ浴に浸漬、陰極電解して
電解銅箔の粗面の上に厚さ1,0μmの鋼−ニッケル合
金層を形成させた。
硫酸!ji (五水塩) : 0.08 u
/l2硫酸ニッケル(六水塩) : 0.16
u#!クエン酸 二0.5 モル
/lpH :5.2浴温度
:40°C 陰極電流密度 : 3 A/d+++”時間
: 4 分間 析出した合金を分析したところ75wt%Cu−25i
*t%Niであった。
/l2硫酸ニッケル(六水塩) : 0.16
u#!クエン酸 二0.5 モル
/lpH :5.2浴温度
:40°C 陰極電流密度 : 3 A/d+++”時間
: 4 分間 析出した合金を分析したところ75wt%Cu−25i
*t%Niであった。
次いで、これを水道水で30秒間洗浄後、以下に示すピ
ロリン酸銅メッキ浴を使い、前記銅ーニッケル合金層上
に厚さ5μ園の極薄鋼箔層を形成させた。
ロリン酸銅メッキ浴を使い、前記銅ーニッケル合金層上
に厚さ5μ園の極薄鋼箔層を形成させた。
ビロリン酸1ii :80g#!ピロリ
ン酸カリウム :290g/j!アンモニア水(
比重0.85) : 3,d/4銅メッキ浴のpH
は8.7、浴温度57’C,陰極電流密度4 A/d−
で5分38秒間メッキした。その後、直ちにこの担体付
き極薄銅箔を水道水で30秒間水洗し、ドライヤーで熱
風乾燥させた。
ン酸カリウム :290g/j!アンモニア水(
比重0.85) : 3,d/4銅メッキ浴のpH
は8.7、浴温度57’C,陰極電流密度4 A/d−
で5分38秒間メッキした。その後、直ちにこの担体付
き極薄銅箔を水道水で30秒間水洗し、ドライヤーで熱
風乾燥させた。
多層プリント配線板を作るために、内層板の両面にガラ
ス・エポキシ・プリプレグ(NEMAグレードPR−4
)を重ね、更にその上に極薄鋼箔層がプリプレグに向い
合うように複合箔を重ね、高温高圧下(165°C−5
0kg/cm”−60分間)でプレスして積層板を得た
。次いで、直径111IIのドリルで穴明は後、該積層
板から銅箔担体を引き剥がしたところ、その担体剥離強
度は60g/c+++であり、積層板の全面にわたって
手で容易に剥離できた.また、ドリル穴まわりの合金層
には何ら部分剥離もなく良好であった。
ス・エポキシ・プリプレグ(NEMAグレードPR−4
)を重ね、更にその上に極薄鋼箔層がプリプレグに向い
合うように複合箔を重ね、高温高圧下(165°C−5
0kg/cm”−60分間)でプレスして積層板を得た
。次いで、直径111IIのドリルで穴明は後、該積層
板から銅箔担体を引き剥がしたところ、その担体剥離強
度は60g/c+++であり、積層板の全面にわたって
手で容易に剥離できた.また、ドリル穴まわりの合金層
には何ら部分剥離もなく良好であった。
次に、脱脂、酸洗を行った後、過硫酸アンモニウム10
0g/ 1を水に溶かした液に浸漬してソフトエツチン
グ性を調べたところ、基板表面の灰白色の合金層は完全
溶解し、下地のピンク色の極’fRWR箔が現れた。そ
の後、ブリデツプ、キャタライジング、そして、アクセ
レーティング処理を施した後、無電解銅メッキを行った
0次いで、フォトメッキレジスト材料を使って必要とな
る回路以外の部分を該レジストで覆いスルホール用電気
銅メンキ浴を使って回路部分及び穴の中の導体部分を厚
付は銅メッキし、更にその上にはんだメッキを行った後
、使用したレジストを除去した。最後にアルカリ性アン
モニア・エツチング液で該積層板をクイックエツチング
し多層板を作った。
0g/ 1を水に溶かした液に浸漬してソフトエツチン
グ性を調べたところ、基板表面の灰白色の合金層は完全
溶解し、下地のピンク色の極’fRWR箔が現れた。そ
の後、ブリデツプ、キャタライジング、そして、アクセ
レーティング処理を施した後、無電解銅メッキを行った
0次いで、フォトメッキレジスト材料を使って必要とな
る回路以外の部分を該レジストで覆いスルホール用電気
銅メンキ浴を使って回路部分及び穴の中の導体部分を厚
付は銅メッキし、更にその上にはんだメッキを行った後
、使用したレジストを除去した。最後にアルカリ性アン
モニア・エツチング液で該積層板をクイックエツチング
し多層板を作った。
この評価を表1に示す。
実施例(2)
厚さ70μmの圧延銅箔を下記水溶液に浸漬して両面を
粗化処理した。
粗化処理した。
過硫酸アンモニウム100g/ l 、液温40°Cで
60秒間浸漬することによって粗面の表面粗さは、絶対
山−谷間の差で1.0μ曽の値を得た。
60秒間浸漬することによって粗面の表面粗さは、絶対
山−谷間の差で1.0μ曽の値を得た。
この粗化圧延銅箔を水道水で45秒間水洗後、次のクロ
メート浴に浸漬し粗面上に離型層を形成させた。
メート浴に浸漬し粗面上に離型層を形成させた。
酸化クロム :1g/II!
重クロム酸カリウム :3g/R
pH: 2,2
浴温度 : 25 ”C浸漬時間
二60 秒間 そして水道水で10秒間洗浄後、次の組成の銅−ニッケ
ル合金メッキ浴に浸漬、陰極電解し、片面に厚さ1.0
μ慣の銅−ニッケル合金をメッキした。
二60 秒間 そして水道水で10秒間洗浄後、次の組成の銅−ニッケ
ル合金メッキ浴に浸漬、陰極電解し、片面に厚さ1.0
μ慣の銅−ニッケル合金をメッキした。
硫酸銅(五水塩) :O,O4モル/l硫酸ニ
ツケル(六水塩): 0.15 モ11/eクエン
酸 :0.4 モル/l合金メッ
キ浴のpHは5.5、浴温度40″C1陰極電流密度3
.OA/dl11”において4分間メンキした。
ツケル(六水塩): 0.15 モ11/eクエン
酸 :0.4 モル/l合金メッ
キ浴のpHは5.5、浴温度40″C1陰極電流密度3
.OA/dl11”において4分間メンキした。
この銅−ニッケル合金層のML戒はG:u35wt%で
あった。この銅−ニッケル合金メッキ付き担体を水洗後
、以下に示す硫酸銅メッキ浴を使い、銅−ニッケル合金
層上に厚さ5μmの極薄鋼箔層を形成させた。
あった。この銅−ニッケル合金メッキ付き担体を水洗後
、以下に示す硫酸銅メッキ浴を使い、銅−ニッケル合金
層上に厚さ5μmの極薄鋼箔層を形成させた。
硫酸1i1(五水塩) : 240 g/41
!硫酸 : 70 g/lこのときの
液温は40゛C1陰極電流密度3 A/dm”で4.5
分間メッキした。この後、ガラスエポキシプリプレグと
の接着力を向上させるため、以下に示す粗面化処理浴を
使って、極薄銅箔層の表面にデンドライト状の銅を電着
させた。
!硫酸 : 70 g/lこのときの
液温は40゛C1陰極電流密度3 A/dm”で4.5
分間メッキした。この後、ガラスエポキシプリプレグと
の接着力を向上させるため、以下に示す粗面化処理浴を
使って、極薄銅箔層の表面にデンドライト状の銅を電着
させた。
硫酸銅(五水塩) : 120 g#2硫酸
: 60 g/l。
: 60 g/l。
硝酸 : 20 g/Ilこのときの
液温は40″C1陰極電流密度25A/dad”で2分
間通電した。次いで、実施例(1)と同じ条件で、プリ
プレグと積層した。そしてこの積層板について担体剥離
強度、ドリル穴まわりの銅−ニッケル合金層の剥離の有
無、及び合金層のソフトエツチング性を調べた。その評
価を表1に示す。
液温は40″C1陰極電流密度25A/dad”で2分
間通電した。次いで、実施例(1)と同じ条件で、プリ
プレグと積層した。そしてこの積層板について担体剥離
強度、ドリル穴まわりの銅−ニッケル合金層の剥離の有
無、及び合金層のソフトエツチング性を調べた。その評
価を表1に示す。
実施例(3)〜0つ
厚さが18.35及び10amの片面が粗面を有するプ
リント配線板用電解銅箔を用い、その粗面を室温下3w
t%硫酸に30秒間浸漬し水道水で60秒間洗浄した。
リント配線板用電解銅箔を用い、その粗面を室温下3w
t%硫酸に30秒間浸漬し水道水で60秒間洗浄した。
そして、表1に示す浴条件で、離型層、銅−ニッケル合
金層及び極薄鋼箔層を形威し、複合箔を得た。そして、
実施例(1)と同じ条件でプリプレグと積層し、この積
層板の担体剥離強度、ドリル穴まわりの銅−ニッケル合
金層の剥離の有無、及び合金層のソフトエツチング性を
調べた。その評価を表1に示す。
金層及び極薄鋼箔層を形威し、複合箔を得た。そして、
実施例(1)と同じ条件でプリプレグと積層し、この積
層板の担体剥離強度、ドリル穴まわりの銅−ニッケル合
金層の剥離の有無、及び合金層のソフトエツチング性を
調べた。その評価を表1に示す。
以上の結果から、粗面を有する#R箔担体を用い離型層
と極薄鋼箔層の間に銅−ニッケル合金層を介在させるこ
とによって、常に安定した好ましい担体剥離強度が得ら
れ、それによって積層板から担体を剥離する際のトラブ
ルは解消されることが判った。
と極薄鋼箔層の間に銅−ニッケル合金層を介在させるこ
とによって、常に安定した好ましい担体剥離強度が得ら
れ、それによって積層板から担体を剥離する際のトラブ
ルは解消されることが判った。
比較例(1)〜(4)
実施例(])と同様に、同じ表面粗度を有する厚さ70
μmの電解銅箔を用い、その粗面を室温下3wt%硫酸
に30秒間浸漬し水道水で60秒間洗浄した。
μmの電解銅箔を用い、その粗面を室温下3wt%硫酸
に30秒間浸漬し水道水で60秒間洗浄した。
そして、表1に示すような浴のpHを変えた条件で、離
型層と銅−ニッケル合金層を形成させた後、実施例(1
)と同様に、極薄鋼箔層を形成させ、プリプレグと積層
し、この積層板の担体剥離強度を調べた。その結果を表
1に示す0本発明の条件からはずれた浴のpH条件で処
理すると、銅箔担体に形成させた離型層は、離型効果が
なく、銅箔担体、離型層及び銅−ニッケル合金層の三層
は互いに密着性をもち、銅箔担体を積層板から剥がすこ
とはできなかった。
型層と銅−ニッケル合金層を形成させた後、実施例(1
)と同様に、極薄鋼箔層を形成させ、プリプレグと積層
し、この積層板の担体剥離強度を調べた。その結果を表
1に示す0本発明の条件からはずれた浴のpH条件で処
理すると、銅箔担体に形成させた離型層は、離型効果が
なく、銅箔担体、離型層及び銅−ニッケル合金層の三層
は互いに密着性をもち、銅箔担体を積層板から剥がすこ
とはできなかった。
比較例(5)
厚さ70μ階の光沢圧延銅箔(表面粗さが絶対力−谷間
の差で0.2μs+)を担体として、液温25°Cの5
wt%硫酸に60秒間浸漬後、水道水で30秒間洗浄し
た。その片面を次に示すメッキ浴に浸漬し、陰極電解し
て厚さ0.06μmのクロムをメッキした。
の差で0.2μs+)を担体として、液温25°Cの5
wt%硫酸に60秒間浸漬後、水道水で30秒間洗浄し
た。その片面を次に示すメッキ浴に浸漬し、陰極電解し
て厚さ0.06μmのクロムをメッキした。
クロム酸 : 350 g#!硫酸
: 3.5 gel液温度 :27
°C 陰極電流密度 : 11.0^/d1浸漬時間
:30 秒 陽極 : 鉛 このクロムメッキした1il箔担担体水道水で60秒間
水洗後、実施例(1)と同じビロリン銅メッキ浴を使っ
て同じメッキ条件で厚さ5.0μmの極lF4箔層を形
成させた。その後、直ちにこの複合箔を水道水で30秒
間水洗し、ドライヤーで熱風乾燥した。
: 3.5 gel液温度 :27
°C 陰極電流密度 : 11.0^/d1浸漬時間
:30 秒 陽極 : 鉛 このクロムメッキした1il箔担担体水道水で60秒間
水洗後、実施例(1)と同じビロリン銅メッキ浴を使っ
て同じメッキ条件で厚さ5.0μmの極lF4箔層を形
成させた。その後、直ちにこの複合箔を水道水で30秒
間水洗し、ドライヤーで熱風乾燥した。
この複合箔をプリプレグに高温高圧下(165°C−5
0kg/cm”−60分間〉でプレスし積層した。次い
で、直径1■−のドリルで穴あけ後、銅箔担体を引き剥
したところ、その担体剥離強度は150〜500 g/
c−とばらつきが大きく、かつドリル穴まわりの極薄鋼
箔層の一部が引き剥した担体によって損傷しているとこ
ろが多数見つかった。
0kg/cm”−60分間〉でプレスし積層した。次い
で、直径1■−のドリルで穴あけ後、銅箔担体を引き剥
したところ、その担体剥離強度は150〜500 g/
c−とばらつきが大きく、かつドリル穴まわりの極薄鋼
箔層の一部が引き剥した担体によって損傷しているとこ
ろが多数見つかった。
比較例(6)
厚さ70μ履、粗面の表面粗さが絶対力−谷間の差で5
μmの銅箔を担体として、その粗面を比較例(5)と同
様に酸洗浄、水洗後クロムメンキした。
μmの銅箔を担体として、その粗面を比較例(5)と同
様に酸洗浄、水洗後クロムメンキした。
クロムメッキの厚さが1μ慣となるように電解時間を調
節した。このクロムメッキ銅箔担体を水道水で45秒間
水洗後、実施例(1)と同じビロリン酸銅メッキ浴を使
って厚さ5μmの極薄鋼’4 JIJを形成させた。こ
の後、水道水で30秒間水洗後ドライヤーで乾燥して複
合箔を得た。この後、極薄鋼箔層がプリプレグ(NEN
AグレードFR−4)に向い合うようにして複合箔を高
温高圧下(165°C−50kg/c+m”−60分間
)でプレスし積層した。この積N板をプレス機から取り
出したところ、積層板表面に直径1〜2cmの銅箔担体
のふくれが多数見つかった。該積層板を所望の大きさに
切断するとき、銅箔担体が基材から剥がれてしまい次工
程のドリリングをすることが困難となった。このときの
担体剥離強度を測定したところ2g/cmであった。
節した。このクロムメッキ銅箔担体を水道水で45秒間
水洗後、実施例(1)と同じビロリン酸銅メッキ浴を使
って厚さ5μmの極薄鋼’4 JIJを形成させた。こ
の後、水道水で30秒間水洗後ドライヤーで乾燥して複
合箔を得た。この後、極薄鋼箔層がプリプレグ(NEN
AグレードFR−4)に向い合うようにして複合箔を高
温高圧下(165°C−50kg/c+m”−60分間
)でプレスし積層した。この積N板をプレス機から取り
出したところ、積層板表面に直径1〜2cmの銅箔担体
のふくれが多数見つかった。該積層板を所望の大きさに
切断するとき、銅箔担体が基材から剥がれてしまい次工
程のドリリングをすることが困難となった。このときの
担体剥離強度を測定したところ2g/cmであった。
上述の構成からなる本発明では、離型層と極薄鋼箔層と
の間に銅−ニッケル合金層を介しているので離型層と極
薄鋼V3層の接着が均一で適当な強さとなり、このため
安定な担体剥離強度が得られ、しかも胴−ニッケル合金
層は一般に使用されるソフトエツチング液に容易に溶解
されるので、プリント配線板製造上何ら問題を起こさな
い。また、本発明の製法による離型層は薄いクロメート
被膜であるから、積層後剥離したm担体体は高純度銅箔
として再利用可能であり、省資源の立場からもメリット
がある。
の間に銅−ニッケル合金層を介しているので離型層と極
薄鋼V3層の接着が均一で適当な強さとなり、このため
安定な担体剥離強度が得られ、しかも胴−ニッケル合金
層は一般に使用されるソフトエツチング液に容易に溶解
されるので、プリント配線板製造上何ら問題を起こさな
い。また、本発明の製法による離型層は薄いクロメート
被膜であるから、積層後剥離したm担体体は高純度銅箔
として再利用可能であり、省資源の立場からもメリット
がある。
さらに、本発明の製法によれば、離型層がミストの発生
しない低濃度クロメート浸漬処理によって形成されるた
め作業上安全であり、クロメート液の廃液処理も容易で
ある。
しない低濃度クロメート浸漬処理によって形成されるた
め作業上安全であり、クロメート液の廃液処理も容易で
ある。
第1図は本発明に係る複合箔の断面図、第2図は複合箔
を利用して多層プリント配線板を製造する工程図である
。 1−一銅箔担体、2−離型層、
を利用して多層プリント配線板を製造する工程図である
。 1−一銅箔担体、2−離型層、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)粗面を有する銅箔担体の粗面側にクロメート被膜
の離型層、銅−ニッケル層及び極薄鋼箔層が順次設けら
れたことを特徴とする複合箔。 (2)極薄銅箔層の外表面が粗面であることを特徴とす
る請求項(1)に記載の複合箔。(3)極薄銅箔層上に
表面処理層が設けられたことを特徴とする請求項(1)
又は(2)に記載の複合箔。 (4)銅箔担体が有する粗面の表面粗さが絶対山−谷間
の差で1〜10μmであり、離型層がクロメート処理に
よって得られた被膜からなり、銅−ニッケル合金層の組
成が銅10〜90wt%、残部ニッケルで、厚さが0.
01〜6μmであり、さらに、極薄銅箔層の厚さが1〜
9μmであることを特徴とする請求項(1)、(2)、
(3)のいずれかに記載の複合箔。 (5)(a)粗面を有する鋼箔担体を準備する工程、(
b)六価クロムイオンを含みpHを2.0〜6.5に保
ったクロメート浴に、前記銅箔担体を浸漬することによ
って、該銅箔担体の粗面側に離型層を形成させる工程、
(c)第二鋼イオン、ニッケルイオン及びクエン酸を含
み、pHを5.0以上に保った合金メッキ浴に、(b)
工程で得た粗面側に離型層を形成した銅箔担体を浸漬し
陰極電解することによって、前記銅箔担体の離型層の表
面に銅−ニッケル合金層を形成させる工程、そして、(
d)電気メッキ浴に、(c)工程で得た離型層の表面に
銅−ニッケル合金層を形成した銅箔担体を浸漬すること
によって、前記銅箔担体の銅−ニッケル合金層の表面に
極薄鋼箔層を電析させる工程を含むことを特徴とする複
合箔の製法。 (6)(a)粗面を有し、その粗面の表面粗さが絶対山
−谷間の差で1〜10μmであり、その厚さが18〜1
00μmの銅箔担体を準備する工程、(b)酸化クロム
、重クロム酸カリウム及び重クロム酸ナトリウムから選
ばれた一種又は二種以上のクロム酸塩を六価クロムイオ
ンとして0.1g/l以上含み、pHを2.0〜6.5
に保ったクロメート浴に、前記銅箔担体を浸漬すること
よって、該銅箔担体の粗面側に離型層を形成させる工程
、(c)硫酸銅(五水塩)0.04〜0.12モル/l
、硫酸ニッケル(六水塩)0.07〜0.24モル/l
及びクエン酸0.3〜0.5モル/lを含みpHを5.
0以上に保った合金メッキ浴に、(b)工程で得た粗面
側に離型層を形成した鋼箔担体を浸漬し、陰極電解する
ことによって、前記銅箔担体の離型層の表面に厚さ0.
01〜6.0μmの銅−ニッケル合金層を形成させる工
程、そして(d)電気銅メッキ浴に、(c)工程で得た
離型層の表面に銅−ニッケル合金層を形成した銅箔担体
を浸漬することによって、前記銅箔担体の銅−ニッケル
合金層の表面に厚さ1〜9μmの極薄銅箔層を電析させ
る工程を含むことを特徴とする請求項(5)記載の複合
箔の製法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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