JPH0336012A - 成形機の成形条件上下限値自動設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、射出成形機などの成形機において、製品の良
否を自動判定するために用いられる成形条件の上下限値
の自動設定方法に関する。

〔従来の技術］ 射出成形などの成形作業を自動運転で行う際、成形され
た製品が不良品の山となったのでは全く意味がないため
、製品の品質決定要因となる多数の成形運転条件はきめ
細かく設定されている。そして、成形機全体の制御を司
どるマイクロコンピュータよりなる制御装置は、予め設
定された成形運転条件値に基づき各種センサからの計測
情報を参照して自動運転を実行し、成形品を連続的に成
形する。ところで、突発的な事態などにより運転条件が
変動し、不良品が生じることは製造−１−避は難く、こ
の場合不良品を自動的に排除できるようにすることが望
ましい。

そこで、上述した成形運転条件の設定値と共に、このそ
れぞれの設定値に併せて上限値並びに下限値を設定し、
自動成形を行いながら各成形運転条件値が実際にどのよ
うに変化したかを実測し、該実測値が上記した上・下限
値の範囲内にあれば良品、上限値または下限値から外れ
た場合には不良品と判定し、不良判定がなされた場合に
はその際の成形品を、型開き・取出し時に正規の排出箇
所以外の場所に持ってゆくようにした５所謂「モニタ機
能付き（もしくはウオッチング機能付きもしくは自動検
査機能付き）」の成形機が公知となっている。

モニタ項目としては、射出成形機を例にとると、例えば
チャージ完了位置、射出１次圧から２次圧に切替える位
置（所謂保圧切替位置〉、射出保圧行程完了時点での射
出スクリュー先端値！（所謂クツション量）などが、成
形品の良・不良と大きな相関関係があるので、従来から
重要なモニタ（監視）項目として使用されてきた。とこ
ろで、最近は、成形品の複雑化、高精密度化の要求や使
用樹脂の高級化に伴って、成形品の良・不良の判定に用
いられるモニタ項目も増えてきて、各行程時のスクリュ
ー位置、ａ分化された射出速度・射出圧力条件、チャー
ジ条件、型開閉条件、各行程の時間等々、成形機によっ
ては３０〜５０を数える多数のモニタ項目が設けられて
いる。そして、各モニタ項目について、前記した成形運
転条件値と共に、上・下限値が設定されるようになって
いた。

このように高級化されたモニタ機能を駆使すると１品質
管理上非常に有益である。すなわち、例えば、成形条件
と品質との相関関係を把握するために、制御装置にプリ
ンタを付設し、このプリンタによって、横軸に上・下限
値を設定した各モニタ項目を、縦軸にはｌショット毎（
又１ま数ショットに１回）のモニタ項目の実測値をショ
ット番号や時間と共にプリントアウトし、特に上・下限
値内からはみ出した異状データについてはプリントする
ときに異常マークを付すようにする。一方、取出された
成形品はショット番号順に並べ、プリントアウトされた
データと対比することによって、成形品品質の異状（不
良）と異状データとの相関関係が検討できる。このよう
な手法を採ることにより、成形条件管理が相当難しい製
品についても、成形品品質（例えば、パリやヒケ等の成
形品重量精度と密接な関係を有するものから、表面外観
不良に至るまで）と成形条件の許容上・下限値との相関
関係が明確に掴めて、数量的・具体的な品質管理が行え
るようになってきている。

［発明が解決しようとする課ｌＩｉ］ しかし、このように品質管理上等で非常に役立つモニタ
機能であっても、金型変更毎、樹脂材料変更毎に３０〜
５０に及ぶ全モニタ項目に上・下限値を設定してゆくの
は、現場の操作者にとっては大きな負担になるという問
題があった。

負担になる要因は、 ■予めプリントアウトされた実測データのバラツキなど
を参考にして、上・下限値を設定するのが、かなり高度
な判断を伴う業務となり、モニタ項目が増えるにつれて
、増々煩雑で時間がかかるものとなること。

■全項目に上・下限値設定を行うのは大変だから、重要
な項目だけを選出してモニタ項目にしようとしても、「
この製品形状でこの使用樹脂では、このような不良が発
生し勝ちであるから、それと因果関係のあるモニタすべ
き項目はこれこれである。

Ｊというような判断を下さなければならないが。

それには射出成形全般にわたる知識と相当熟達した経験
が必要となること。

などが挙げられる。

また、総べてのモニタ項目の上・下限値を素早く設定し
てゆこうとすると、勢い上・下限値は見当でラフに設定
されて、許容箱・囲が甘くなってしまい勝ちになり、前
述したモニタ機能による良品／不良品判定という所期の
自動検査の目的が果せなくなる。

従って本発明の解決すべき技術的課題は、上記従来技術
のもつ問題点を解消することにあり、その目的とすると
ころは、特別に自動検査化についての熟達した１ｘＪｌ
ｌと経験を持たない操作者（作業員）でも、間違いなく
モニタ機能を発揮させて良／不良の自動判別が行い得る
成形機の成形条件上下限値自動設定方法を提供すること
にある。

［１１ＩｉＩを解決するための手段］ 本発明の上記した目的は、設定された各成形運転条件値
と各センサからの計測情報とに基づき成形機の各部を駆
動制御するマイクロコンピュータよりなる制御装置を具
備し、該制御装置は、連続自動運転時における成形品の
品質を判別するために、予め定められたモニタ項目の上
限値並びに下限値と実測値とを対比して、この比較結果
によって成形品の良否を判別する機能を具備した成形機
の成形条件上下限値自動設定方法において、連続自動運
転をスタートして初期の所定ショット数が終了した後に
、引続く所定数のショット毎に各モニタ項目の実測値Ｘ
を計測し、各モニタ項目毎に、実測値Ｘのバラツキ範囲
Ｒ（ｘ　ｗａｘ　−ｘ　５ｉｎ）並びに実測値Ｘの中央
値Ｍ　ｅ　（ｘ　ｍｉｎ＋Ｒ／　２）　。

もしくは 実測値Ｘの平均値ｉ（Σｘ　／　ｎ　）並びに標準偏を
統計演算し、該演算結果に基づき各モニタ項目毎の前記
上限値並びに下限値を自動設定可能とすることによって
、達成される。

［作　用］ 連続自動運転をスタートして、初期の過渡的・不安定な
期間が終了して運転状態が安定したと見なせる程度の初
期の所定ショット数（例えば１０ショット程度）が終了
すると、マイクロコンピュータよりなる制御装置は、引
続く連続数１０ショット以上（望ましくは１００シヨツ
ト程度）の各ショット毎に、予め定められた全モニタ項
目に関する実測値Ｘを、所定の記憶エリアに格納する。

そして、所定数の実測値Ｘのサンプリングが終了すると
、制御装置は予め書込まれたプログラムに基づきモニタ
項目毎に多数の実測値Ｘを統計演算処理し、各モニタ項
目毎に、 実測値Ｘのバラツキ範囲Ｒ（ｘ　ｗａｘ−ｘ　ｗｉｎ）
並びに実測値Ｘの中央値Ｍ　ａ　（ｘ　ｍｉｎ＋Ｒ／　
２）、もしくは 実ｍＩｘの平均値Ｘ（Σｘ　／　ｎ　）並びに標準偏を
まず算出する。

次に、制御装置は、上記算出データを予め設定された修
正値ａを考慮して演算処理し、各モニタ項目毎の上限値
並びに下限値を、 上限値＝Ｍｅ十ａ−Ｒ／２ 下限値＝Ｍｅ−ａ−Ｒ／２ もしくは、 上限値＝マ＋ａ・３σ／２ 下限値＝；−ａ・３σ／２ として算出し、これを所定の記憶エリアに取込んで格納
する。

Ｌ述のように、安定状態の数ｌＯショット以上のサンプ
リング実測値を統計処理することによって１合理的に計
算された」二・下限値を全モニタ項目について自動的に
設定することにより、自動モニタ（検査）動作が確実に
実行される。

［実施例］ 以ト１本発明をインラインスクリュータイプの射出成形
機に適用した第１図〜第６図に示した１実施例によって
説明する。

第１図は射出成形機の要部の概略構成を示す説明図であ
る。同図における左上部分は型開閉メカニズム系を示し
ており、該図示部分において、ｌはベース、２は該ベー
ス１Ｌに固設された固定ダイプレート、３は、ベースｌ
上に延設されたスライドベース１ａ上に設置された支持
盤、４は固定ダイプレート２と支持盤３との間に架設さ
れた複数本のタイバーである。上記支持盤３には、型開
閉駆動源たる型締シリンダ（油圧シリンダ）５が固設さ
れており、該型締シリンダ５のピストンロッド５ａの先
端部には、公知のトグルリンク機構６を介して前記タイ
バー４に挿通された可動ダイプレート７が連結されてい
る。そして、ピストンロッド５ａを前後進させることに
より、可動ダイプレート７を固定ダイプレート２に対し
、接近または後退させるようになっている。

また、前記固定ダイプレート２と前記可動ダイプレート
７の相対向する面には、固定側金型８と可動側金型９と
が取付けられている。そして、成形サイクル中の型閉じ
行程時には２前記ピストンロツド５ａの前進で前記トグ
ルリンク機構６を伸長させて可動ダイプレート７をｍ進
させ、両金型８．９を密栓させ、ｙｔいて公知のように
トグルリンク機構６を突張らせて所定の型締力を与える
ようになっている。一方、成形サイクル中の型開き行程
時には、ピストンロッド５ａの後退でトグルリンク機構
６を折り縮めて可動ダイプレート７を後退させ、両全型
８，９を離間させるようになっている。なお、この型開
き行程時に、図示せぬ公知のエジェクト機構と製品（ｌ
ｉ形形出取出し手段とによって製品が取出され、例えば
ベルトコンペア上に載置され、また、後述する如く不良
品判定がなされた場合には、取出された不良製品は不良
品温めに搬送される。

第１図における６上部分は射出メカニズム系を示してお
り、該図示部分において、ＩＯは加熱シノンダ、１１は
該加熱シリンダ１０内に回転並びに前後進可能に配設さ
れたスクリュー、１２は加熱シリンダ１０の先端に取付
けられたノズル、１３は加熱シリンダ１０披びにノズル
１２の外周に巻装されたバンドヒータ、１４け樹脂材料
をスクリュー１１の後部に供給するためのホッパー、１
５はスクリュー１１の回転駆動源たるモータ（例えば、
該実施例ではｍ磁モータを用いているが油り三モータを
用いることもできる）、１６はスクリュー１１の前後進
を制御するための射出シリンダ（油圧シリンダ）である
、公知のように、ホッパー１４から供給された樹脂材料
は、スクリューｌｌの回転によって混練・可塑化されつ
つスクリュー１１の先端側に移送されながら溶融され、
溶融樹脂がスクリュー１１の先端側に貯えられるに従つ
てスクリュー１１が背圧を制御されつつ後退し、ｌショ
ット分の溶融樹脂がスクリューｌｌの先端側に貯えられ
た時点でスクリュー回転は停；１：される、そして、所
定秒時を経た後、射出開始タイミングに至ると、スクリ
ュー１１が前進駆動されて型締めされた金型８，９間の
キャビティへ溶融樹脂が射出・充填される。

２０は油圧測定ヘッド等よりなる射出圧力検出センサ、
２１はエンコーダ等よりなる射出ストローク検出センサ
、２２は回転エンコーダ等よりなるスクリュー回転検出
センサ、２３は加熱シリンダ１０の温度を検出する熱電
材等よりなる温度検出センサ、２４はエンコーダ等より
なる型開閉ストローク検出センサ、２５は油圧測定ヘッ
ド等よりなる型締圧力検出センサで、これら各センサ２
０〜２５の計測情報信号５ｔ−３６、並びに図示せぬ他
のセンサからの計３１１情報信廿が、後記する制御表ｆ
ｉ３０に必要に応じ適宜入力変換処理を施されて送出さ
れる。

３０は、マシン全体の動作制御を司どる制御装直で、型
開閉動作、チャージ・射出動作などの各成形行程全体の
制御や、後述する良品／不良品判定処理等々の各種演算
処理を実行する。該制御装置３０はマイクロコンピュー
タよりなっており、各種Ｉ１０インタフニス、主制御プ
ログラム並びに各種固定データを格納したＲＯＭ、各種
フラグや計測データなどを読み書きするＲＡＭ、全体の
制御を司どるＣＰＵなどを具備しており、予め作成され
た各種プログラムに従って各種処理を実行するも、該実
施例においては説明の便宜上、制御装置３０は、成形条
件設定記憶部３１．成形プロセス制御部３２．演算処理
部３３．実測値記憶部３４、上・下限値設定記憶部３５
、比較演算部３６等々の機能部を具備しているものとし
て、以下の説明を行う。

上記成形条件設定記憶部３１には、キー人力手段４０も
しくは他の適宜入力手段によって入力された各種成形条
件値が、必要に応じ演算処理されて書き替え可能な形で
記憶されている。この成形条件としては、例えば、チャ
ージ行程時のスクリュー位置とスクリュー回転数及び背
圧との関係、サックバック制御条件、射出開始点（位置
）から保圧切替点（位Ｉ！りまでの細分化された射出速
度条件、保圧切換時点から保圧終了時点までの細分化さ
れた２次射出圧力（保圧圧力）条件、各部のバンドヒー
タ温度、型閉じストロークと速度、型締力、型開きスト
ロークと速度、エジェクト制御条件、製品取出し機制御
条件等々が挙げられる。

前記成形プロセス制御部３２は、予め作成された成形プ
ロセス制御プログラムと成形条件設定記憶部３１に格納
された設定条件値とに基づき、前記したセンサ２０〜２
５などからの情報及び制御部Ｎ３０に内蔵されたクロッ
クからの計時情報を参照しつつ、ドライバー群４１を介
して対応する駆動源を駆動制御し、一連の成形行程を実
行させる。第１図においては、ドライバ群４１の駆動信
号Ｄｌが制御弁４２を介して前記型締シリンダ５を駆動
制御し、駆動信号Ｄ２が前記バンドヒータ１３の電熱源
を駆動制御し、駆動信号Ｄ３が前記モータ１５を駆動制
御し、駆動信号Ｄ４が制御弁４３を介して前記射出シリ
ンダ１６を駆動制御し。

また、他の駆動信号が図示せぬ適宜の駆動源を駆動制御
するようになっている。

前記実測値記憶部３４には、連続自動運転時に自動検査
（モニタ）動作を実行させるための前提条件となるモニ
タ項目の総べての実測値Ｘが、連続する所定多数回のシ
ョットにわたってその記録エリアに取込れる。取込れる
モニタ項目は大別すると、■時間監視項目、■位置監視
項目、■回転数監視項目、■速度監視項目、■圧力監視
項目。

■温度監視項目、■電力監視項目などが挙げられ。

前記した成形条件設定項目の相当部分がこれとオーバー
ラツプし、成形品の品質に密接に関係するするファクタ
ーがモニタ項目として予め設定されている（例えば、第
４図に示したモニタ項目参照）、該実施例においては、
このモニタ項目の数は３０〜５０程度とされ、前記した
センサ２０〜２５などからの情報及び制御装置３０に内
蔵されたクロックからの計時情報が必要に応じ変換処理
されて順次格納される。なお、モニタ項目はオペレータ
が選択入力して設定することも可能である。

前記演算処理部３３は、実測値記憶部３４に記憶された
データが所定サンプリングショット数に達すると、各モ
ニタ項目毎の実測値Ｘを統計演算処理し、 実測値Ｘのバラツキ範囲Ｒ（ｘ　ｌｌ１ａｘ−ｘ　ｗｉ
ｎ）と実測値Ｘの中央値Ｍ　ｅ　（ｘ　ｍｉｎ＋Ｒ／　
２）　、及び／または、 実測値Ｘの平均値ｉ（Σｘ　／　ｎ　）と標準偏差σ先
ず算出し。

次に上記算出結果と後述する如く設定される修正係数（
修正値）ａとによって、各モニタ項目毎の上・下限値を
、 上限値＝Ｍｅ＋ａ−Ｒ／２ 下限値＝Ｍｅ−ａ−Ｒ／２ もしくは。

上限値：ｘ＋ａ・３σ／２ 下限値＝　ｘ　−ａ・３σ／２ として算出する。このようにして算出された各モニタ項
目毎の」二限値並びに下限値は、前記した上下限値設定
記憶部３５に転送されて記憶される。

前記比較演算部３６は、上・下限値設定記憶部３５に格
納されたデータと、７＆新のショットにおける実測値デ
ータ（例えば実測値記憶部３４から転送される）とを対
比し、実測値が上・下限値範囲内（許容範囲内）にある
か否かを判断し、上・ド限値範囲内を外れた場合には、
この旨を前記成形プロセス制御部３２に認知させて、該
成形プロセス制御部３２による製品取出し機の制御によ
って、最新ショットによる成形品を不良品として所定の
不良品溜めに搬送させる。

なお、第１図において、４４はカラーＣＲＴデイスプレ
ィ等よりなる表示装置、４５はドツトプリンタ等のプリ
ンタで、この出力装［４４，４５には、制御部［３０で
の処理結果などが必要に応じ出力される。また、４Ｇは
磁気ディスク装置等の外部メモリで、制御部［１３０と
の間で必要に応じ情報の授受がなされる。

次に、上述した構成による動作を説明する。

前記制御装！３０は、オペレータによってモニタ機能（
自動検査機能）を発揮させるための前提条件となる各モ
ニタ項目毎の上限値並びに下限値を自動的に算出するた
めのモードが選択されると。

例えば表示装置４４に、第２図示のようなモニタ上・下
限値自動設定画面を表示させる。

第２図において、表示画面５０上の左側部分には、統計
演算処理の基本データとなる実測値サンプリング中のプ
リンタ４５の出力モードを指定するためのウィンド表示
がなされ、プリント出力を望む場合はカーソルをｒＯＮ
Ｊ表示に移動させてこれを選択する。同様にカーソルを
移動させて、「全モニタ（実測）データ印字」か「任意
ショット数おきの印字」か「（不良判定が下された峙の
）不良データのみ印字」かが選択され、「任意ショット
数おきの印字Ｊが選択された場合には具体的数航がキー
人力される。また、ｒ全モニタデータ印字」もしくは「
任意ショット数おきの印字」が選択された場合には、「
（不良データにこれを識別するための）不良データマー
ク」を付与するか否かが選択される。

表示画面５０上の中央部分には、各モニタ項目毎の上限
値並びに下限値を自動的に算出するための初期設定を行
うためのウィンド表示がなされ、上・下限値を計算させ
る場合には、当然ｒＯＮＪが選択される。また、上・下
限値を算出するための前提となる各モニタ項目毎の実測
値を何回サンプリングするかが、「統計ショット数ｊ表
示部で数位をキー人力することによって設定される。こ
のサンプリング（統計）ショット数は後述する統計計算
の精度を上げるため数ｌＯショット以りを選定すること
が望ましく、第２図では１００シヨツトが選定された場
合を示している。また、統計計算のみを実行させて、算
出結果を自動検査のための設定データに自動的に設定し
ない場合には。

「統計計算のみスタート」のモードが選択され、統計計
算を実行させてこの算出結果に基づき演算された上・下
限値を自動設定する場合には、「上・下限値の自動設定
と連動」のモードが選択される。

表示画面５０上の右側上部分には、前記した上・下限値
を算出するための初期設定項目のウィンド表示がなされ
、前記上・下限値を前記実測値Ｘのバラツキ範囲Ｒと中
央値Ｍｅで算出する場合には。

計算値ｒＲＪが指定選択され、前記上・下限値を前記実
測値Ｘの平均値ｉと標準偏差σで算出する場合には、計
算値「３σＪが指定選択される。また、前記した上・下
限値の計算式に用いられる前記修正係数ａが５例えばｒ
ｌ、ｌＯＪあるいはｒｌ、２０１の如く入力設定される
。この修正係数ａは、要求される成形品品質への要求の
難易度などを考慮して決定され、高精度が要求される場
合には比較的小さ（、要求精度がラフな場合には比較的
大きく設定され、通常は１．００以上の値が設定される
。なお、該実施例においては、上記計算値及び修正係数
ａは全モニタ項目に共通に一括して入力設定されるよう
になっているが、第２図の表示画面の右下に２点鎖線で
囲んだ部位に示したように、各モニタ項目毎に、計算値
ｒＪまたは「３σＪの選択と修正係数ａの設定とを行う
ようにしてもよい。

いま、第２図のモニタ上・下限値自動設定画面において
、プリンタモードが「ＯＮ」されて所望の印字出力形態
が選択され、また、統計計算モードがｒＯＮＪ　されて
統計ショット数が入力設定されると共に、「上・下限値
の自動設定と連動Ｊするモードが選択され、さらに、上
・下限値を算出するために使用する前記した計算値ｒＲ
Ｊまたは「３σ」の何れか一方が選択されると共に、修
正係数ａが設定されたとする。この状態で、前記制御装
置３０の管理下で射出成形機の連続自動運転が開始され
て、初回のショット数からカウントして所定数（例えば
１０ショット程度）の初期ショット数が計数され終わる
と、制御装置３０は初期の過渡的・不安定な期間が終了
して運転状態が安定したと見なし、引続く連続自動運転
の各ショット毎に、予め設定された前記モニタ項目総べ
ての実測値Ｘを前記実測値記憶部３４に取込ませる。

実測値Ｘの実測値記憶部３４への格納を行ないながら、
ショットカウンタによって設定されたサンプリングショ
ット数に達したことが認知されると、前記演算処理部３
３は、各モニタ項目毎に全サンプリングショット数の実
測値Ｘを前記した如く統計演算処理する。該実施例にお
いては、前記した実測値Ｘのバラツキ範囲Ｒ１実測値Ｘ
の中央値Ｍ　ｅ　、実測値Ｘの平均値マ、実測値Ｘの標
準偏差σの全部が算出されるようになっており、この計
算結果と前記修正係数ａとに基づき前記した如く上・下
限値が算出される。第３図はこうした演算処理がなされ
る演算処理部３３のワークエリアが模式的に示されてい
る。

上記のようにして求められた上・下限値は、前記したよ
うに上・下限値設定記憶部３５に転送されて格納され、
また、このデータは、必要に応じ前記した外部メモリ４
６にも転送されて記憶される。なお、前記した統計（サ
ンプリングショット）期間中の実測値データは、例えば
第４図のような形態で表示装置４４に表示され、必要に
応じプリントアウトされる。同図において、ｍａｘ、ｍ
ｉｎは制御装置！３０が便宜上自動的に設定する初期値
であり、各データを比較した結果の最大・最小値ではな
い、また、ｒｏ／ＸＪは例えば最大・最小の統計処理を
行うか否の設定などを示している。

そして、上・下限値設定記憶部３５に取込まれたデータ
は前述したように、連続自動運転時におけるモニタ動作
（自動検査）における各モニタ項目（成形条件実測値）
の許容範囲を示す値として活用され、制御装置３０によ
るモニタ動作が前記した如く実行される。なお、第５図
はこのモニタ動作のためのワークエリアをごく模式的に
示しており、同図におけるｒ不良数」は現在までの不良
カウンタの計数内容を指している。

第６図は、制御装置３０で実行される上・下限値自動計
算処理フローの１例を示している。前記した第２図の表
示画面５０で設定あるいは選択された数値やモードが入
力された後、上・下限値自動設定が指示されると、同図
に示す初期設定のステップＳ２の後、ステップＳ２で射
出成形機の連続自動運転をスタートさせ、ステップＳ３
に進む。

ステップＳ３では予め設定された初期ショット数に達し
たか否かが判断され、ＹＥＳならステップＳ４に進み、
Ｎｏなら該ステップに留まる。ステップＳ４では、モニ
タ項目総べてについての実測値Ｘが各ショット毎にサン
プリングされ、ステップＳ５に進む、ステップＳ５では
、！！２定されたサンプリングショット数に達したか否
かが判断され、ＹＥＳならステップＳ６に進み、ＮＯな
らステップＳ４に戻る。ステップＳ６では、サンプリン
グされた実測値Ｘを各モニタ項目毎に前述したように統
計計算処理をし、前記実測値Ｘのバラツキ範囲Ｒ２実測
値Ｘの中央値Ｍｅ、実測値Ｘの平均値Ｘ、実測値Ｘの標
準偏差σがそれぞれ算出され、ステップＳ７へ進む。ス
テップＳ７では、上・下限値算出のために前記実測値χ
のバラシキ範ＨＲを用いるか否かが問われ、ＹＥＳなら
ステップＳ８で実測値Ｘのバラツキ範囲Ｒなどを用いて
前述した算式による上・下限値の算出処理がなされてス
テップＳ１０へ進み、Ｎｏなら実測値Ｘの平均値Ｘなど
を用いて前述した算式による上・下限値の算出処理がな
されてステップＳ１０へ進む、ステップＳ１０では、上
・下限値の自動設定がなされて一連の上・下限値自動計
算・設定処理フローが終了する。

［発明の効果］ 以上のように本発明によれば、現場の操作員が。

個別の成形品形状や使用樹脂の特性による不良の発生要
因とそれに対応する成形条件（モニタ項］−１）のし不
変動許容範囲についての、高度な知識と熟達した判断力
を持たなくても（成形品の良否判別程度の知識のあるオ
ペレータであれば）、実測状３１データから合理的に演
算決定された上・下限値が内勤的に入力・設定されるの
で、モニタリング機能により間違いなく良／不良の自動
判別が行える。さらに、修正係数（修正値）ａの値を、
統計に現われない生産管理要因上の判断、例えば、製品
納入先の検査基準の厳寛度などに応じて調整を加え、品
質管理／コスト管理を徹底させることが出来る。

【図面の簡単な説明】

図面は何れも本発明の１実施例に係り、第１図は射出成
形機の要部の概略構成を示す説明図、第２図は表示装置
の表示画面」二のモニタ上・下限値臼！ｌＪ設定画面モ
ードの１例を示す説明図、第３図は上・下限値算出のた
めの演算処理がなされる制御装置のワークエリアを模式
的に示す説明図、第４図はサンプリングショット期間中
の実測値データの表示装置での表示形態の１例を示す説
明図、第５図はモニタリング処理がなされる制御装置の
ワークエリアを模式的に示す説明図、第６図は制御装置
で実行される上・下限値自動Ｊ１算処理フローの１例を
示す説明図である。 ■・・・・・・ベース、２・・・・・・固定ダイプレー
ト、３・・・・・・支持盤、４・・・・・・タイバー、
５・・・・・・型締シリンダ、６・・・・・・トグルリ
ンク機構、７・・・・・・可動ダイプレート、８・・・
・・・固定側金型、９・旧・・可動側金型、１゜・・・
・・加熱シリンダ、１１・・・・・・スクリュー　１２
・・・ノズル、１３・・・・・・バンドヒータ、１４・
・・・・ホンバー、１５・・・・・・モータ、１６・・
・・・・射出シリンダ、２０・・・・・・射出圧力検出
センサ、２１・・・・・・射出ストロークセンサ、２２
・・・・・・スクリュー回転検出センサ、２３・・・・
・・温度検出センサ、２４・・・・・・型開閉ストロー
ク検出センサ、２５・・・・・・型締圧力検出センサ、
３０・・・・・・制御装置、３１・・・・・・成形条件
設定記憶部、３２・・・・・・成形プロセス制御部、３
３・・・・・・演算処理部、３４・・・・・実測値記憶
部、３５・・・・・・上・下限値設定記憶部、３６・・
・・・・比較演算部、４ｏ・・・・・キー人力手段、４
１・・・・・・ドライバ群、４２，４３・・・・・・制
御弁、４４・・・・・・表示装置、４５・・・・・・プ
リンタ、４６・・・・・・外部メモリ、５０・・・・・
・表示画面、５１・・・・・・カーソル。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）設定された各成形運転条件値と各センサからの計
   測情報とに基づき成形機の各部を駆動制御するマイクロ
   コンピュータよりなる制御装置を具備し、該制御装置は
   、連続自動運転時における成形品の品質を判別するため
   に、予め定められたモニタ項目の上限値並びに下限値と
   実測値とを対比して、この比較結果によつて成形品の良
   否を判別する機能を具備した成形機において、連続自動
   運転をスタートして初期の所定ショット数が終了した後
   に、引続く所定数のショット毎に各モニタ項目の実測値
   ｘを計測し、各モニタ項目毎に、実測値ｘのバラツキ範
   囲Ｒ（ｘｍａｘ−ｘｍｉｎ）並びに実測値ｘの中央値Ｍ
   ｅ（ｘｍｉｎ＋Ｒ／２）、もしくは実測値ｘの平均値＠
   ｘ＠（Σｘ／ｎ）並びに標準偏差σ（√｛Σｘ＾２−（
   Σｘ）＾２／ｎ｝／（ｎ−１））を統計演算し、該演算
   結果に基づき各モニタ項目毎の前記上限値並びに下限値
   を自動設定可能としたことを特徴とする成形機の成形条
   件上下限値自動設定方法。
2. （２）請求項１記載において、前記統計演算結果に基づ
   き前記各モニタ項目毎の上限値並びに下限値を設定・演
   算するに際し、半固定的な修正値が算式中に入れられて
   いることを特徴とする成形機の成形条件上下限値自動設
   定方法。
3. （３）請求項２記載において、前記修正値をａとしたと
   き、前記各モニタ項目毎の上限値並びに下限値は、 上限値＝Ｍｅ＋ａ・Ｒ／２ 下限値＝Ｍｅ−ａ・Ｒ／２ で決定されることを特徴とする成形機の成形条件上下限
   値自動設定方法。
4. （４）請求項２記載において、前記修正値をａとしたと
   き、前記各モニタ項目毎の上限値並びに下限値は、 上限値＝＠ｘ＠＋ａ・３σ／２ 下限値＝＠ｘ＠−ａ・３σ／２ で決定されることを特徴とする成形機の成形条件上下限
   値自動設定方法。
5. （５）請求項２記載において、前記修正値ａは、各モニ
   タ項目毎に可変設定可能とされたことを特徴とする成形
   機の成形条件上下限値自動設定方法。
6. （６）請求項１記載において、前記した統計演算を算出
   するためのショット数は、可変設定可能とされたことを
   特徴とする成形機の成形条件上下限値自動設定方法。