JPH0331077Y2 - - Google Patents

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JPH0331077Y2
JPH0331077Y2 JP1984185270U JP18527084U JPH0331077Y2 JP H0331077 Y2 JPH0331077 Y2 JP H0331077Y2 JP 1984185270 U JP1984185270 U JP 1984185270U JP 18527084 U JP18527084 U JP 18527084U JP H0331077 Y2 JPH0331077 Y2 JP H0331077Y2
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JP
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wafer
stage
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recess
probe
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JP1984185270U
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Description

【考案の詳細な説明】 〔技術分野〕 この考案は、ウエハの電気的特性を確認するた
めのプローバに関する。
〔背景技術〕
トランジスタやICは、その材料たるウエハの
段階で導通を確認するための検査がなされる。従
来、その検査の際、第1図にみるように、ウエハ
1を載置する真ちゆう製のウエハステージ3と、
このステージ3上のウエハ1の表面を探触するた
めのプローブ4とを備え、ステージ3とプローブ
4との間に電圧をかけた状態でウエハ1の導通状
態を確認するプローバ2を使用していた。このプ
ローバ2は、第2図にみるように、ステージ3が
円柱状のもので、上面に同心円を形成する複数の
溝3a……が形成されており、各溝3aの一部に
真空引き用の孔4が開いていた。ウエハ1は、前
記孔4……を通じる真空吸引によつて吸着され、
ステージ3上にチヤツクされるようになつてい
た。ステージ3上にチヤツクされたウエハ1は、
第1図にみるように、その表面の熱酸化膜
(SiO2膜)1aに形成されている孔1bに前記プ
ローブ4を挿入させるようにして導通の確認がな
されていた。図中、5,6はそれぞれプローバ2
を構成するリード線およびカーブトレーサであ
る。
ところで、ウエハ1は、空気中にさらされてい
たため、表面に絶縁性の薄い酸化膜(厚み約100
Å)が自然形成されている。そのため、プローブ
2を用いて導通検査を行つても、カーブトレーサ
6に表示されるグラフが、第3図にみるように、
整流接続状態になつてしまつていた。これは、ウ
エハ表面の酸化膜が絶縁膜であるために、ウエハ
被吸着面とステージ上面との間にオーミツクコン
タクトが得られないことが原因であつた。このよ
うに、従来のプローバには、ウエハ内の導通の確
認が得られにくいという問題があつた。
〔考案の目的〕
そこで、この考案は、ウエハの電気的特性検査
の結果を正確に知ることのできるプローバを提供
することを目的とする。
〔考案の開示〕
考案者らは、上記の目的を達成するために鋭意
検討を重ね、この考案を完成した。
この考案は、ウエハを載置する金属製のウエハ
ステージと、このステージ上のウエハの表面を探
触するためのプローブとを備え、ステージとプロ
ーブとの間に電圧をかけた状態でプローブにより
ウエハ表面を探触してウエハの導通状態を確認す
るプローバであつて、ステージが、上端が同一平
面となるよう立て並べられた多数の突起と、これ
らの突起を支持する台とを備え、前記突起群の先
端でウエハを受けるようになつていることを特徴
とするプローバをその要旨とする。以下、これ
を、その実施例をあらわす図面に基づき、詳しく
説明する。
この考案にかかるプローバは、従来と同様、第
4図にみるように、ウエハ1を載置する真ちゆう
等金属製のウエハステージ8と、このステージ8
上のウエハ1の表面を探触するためのプローブ9
と、カーブトレーサ11と、このカーブトレーサ
11と前記プローブ9およびステージ8との各間
を接続するリード線12とを備えている。ウエハ
1の導通状態を確認するに際しては、第5図にみ
るように、ウエハ1が載置されたステージ8とプ
ローブ9との間に電圧をかけた状態で、プローブ
9によりウエハ1表面を探触する。ウエハ1の探
触される部分は、熱酸化膜1aに形成されている
孔1b内の部分である。この実施例にかかる上記
プローバ7は、ステージ8が、上端が同一平面と
なるよう平面8a上に立て並べられた多数の突起
10……と、これらの突起10……を支持する台
10aとを備え、前記突起群10……の先端でウ
エハ1を受けるようになつている。そのため、破
線矢印で示すように、真空吸着により、前記突起
群10……の上にウエハ1を押し付けるようにす
れば、あるいは、突起群10……にウエハ1を突
き差すようにすれば、各突起10の鋭利な先端で
ウエハ1裏面の薄い酸化膜が破られウエハ1の酸
化されていない内部とステージ8とが確実に接触
する。したがつて、ウエハ1とステージ8との間
に良好なオーミツクコンタクトが得られ、カーブ
トレーサ11に、第6図にみるように、正比例直
線状のグラフが表示される。すなわち、ウエハ1
の導通が確認されるのである。なお、この実施例
にかかるプローバは、第4図および第5図にみる
ように、ステージ8の台10aの表面に凹部10
bが形成されていて、この凹部10bの底面が突
起群10……を立て並べる平面8aになつてい
る。凹部10bの周壁からはウエハ1の周縁部を
載置する載置台13が延出しており、この載置台
13と凹部底面8aとの間には輪状のゴム14が
介在している。このゴム14は、凹部底面8aか
らのウエハ1の真空吸着によりウエハ1が強く押
し付けられて屈曲する載置台13の屈曲度を柔ら
げる働きをしている。このゴムの形状に特別の制
限はない。ゴムは他の弾性体で代替されてもよ
い。しかしながら、ゴム等の弾性体を設けず、載
置台が、その強度を強くして、ウエハの真空吸着
によつても屈曲しないような構造になつていても
良い。また、載置台が、過度の屈曲をおこさない
よう、適度の屈曲性をもたせたものになつていて
も良い。さらに、また、載置台を設けず、ゴム等
の弾性体で直接ウエハを受けるような構造になつ
ていても構わない。あるいは、載置台も弾性体も
設けられていなくとも構わない。第4図および第
5図中、15は真空引き用の孔である。
上記実施例では、ウエハをステージの突起群に
押し当てるに際し、ステージからの真空吸着を利
用していた。しかしながら、真空吸着以外の方法
でウエハを突起群に押し当てるようにしても構わ
ない。
この考案にかかるプローバは、ウエハの様々な
電気的特性を検査したり測定したりする場合に使
用されることは言うまでもない。
〔考案の効果〕 以上のように、この考案にかかるプローバは、
ウエハを載置する金属製のウエハステージと、こ
のステージ上のウエハの表面を探触するためのプ
ローブとを備え、ステージとプローブとの間に電
圧をかけた状態でプローブによりウエハ表面を探
触してウエハの導通状態を確認するプローバであ
つて、ステージが、上端が同一平面となるよう立
て並べられた多数の突起と、これらの突起を支持
する台とを備え、前記突起群の先端でウエハを受
けるようになつていることを特徴としており、突
起群がウエハ表面に自然形成されている酸化膜を
破り、ウエハの酸化していない部分と接触するた
め、ウエハの電気的特性検査の結果を正確に知る
ことができるという効果がもたらされるのであ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図はプローバの従来例をモデ
ル的にあらわす側面図および部分的斜視図、第3
図は従来のプローバによつてウエハの導通検査を
行つた際の結果を示すグラフ、第4図および第5
図はこの考案にかかるプローバの一実施例をモデ
ル的にあらわす部分的断面図、第6図は第4図の
プローバによつてウエハの導通検査を行つた際の
結果を示すグラフである。 1……ウエハ、7……プローバ、8……ステー
ジ、8a……凹部底面、9……プローブ、10…
…突起、10a……台、10b……凹部、13…
…載置台、14……ゴム。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) ウエハを載置する金属製のウエハステージ
    と、このステージ上のウエハの表面を探触する
    ためのプローブとを備え、ステージとプローブ
    との間に電圧をかけた状態でプローブによりウ
    エハ表面を探触してウエハの導通状態を確認す
    るプローバであつて、ステージが、上端が同一
    平面となるよう立て並べられた多数の突起と、
    これらの突起を支持する台とを備え、前記突起
    群の先端でウエハを受けるようになつているこ
    とを特徴とするプローバ。 (2) ウエハが真空吸着により突起群の先端に押し
    付けられるようになつている実用新案登録請求
    の範囲第1項記載のプローバ。 (3) ステージの台の表面に凹部が形成されてい
    て、その凹部内に突起群が形成され、凹部の周
    壁からはウエハ周縁部を載置する載置台が延出
    しており、この載置台と凹部底面との間に弾性
    体が介在している実用新案登録請求の範囲第1
    項または第2項記載のプローバ。
JP1984185270U 1984-12-05 1984-12-05 Expired JPH0331077Y2 (ja)

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JPS61100138U JPS61100138U (ja) 1986-06-26
JPH0331077Y2 true JPH0331077Y2 (ja) 1991-07-01

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JP5470766B2 (ja) * 2008-07-18 2014-04-16 株式会社Sumco 半導体デバイスの製造方法
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JPS56147076A (en) * 1980-04-18 1981-11-14 Hitachi Ltd Characteristic testing electrode
JPS6080772A (ja) * 1983-10-08 1985-05-08 Rohm Co Ltd プロ−ブニ−ドル

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