JPH0350461Y2 - - Google Patents
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- JPH0350461Y2 JPH0350461Y2 JP15447586U JP15447586U JPH0350461Y2 JP H0350461 Y2 JPH0350461 Y2 JP H0350461Y2 JP 15447586 U JP15447586 U JP 15447586U JP 15447586 U JP15447586 U JP 15447586U JP H0350461 Y2 JPH0350461 Y2 JP H0350461Y2
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- probes
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 57
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 235000014676 Phragmites communis Nutrition 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、トランジスタ、IC等の電子部品の
検査、選別装置などに使用して好適な電子部品の
測定装置に関する。
検査、選別装置などに使用して好適な電子部品の
測定装置に関する。
測定位置に電子部品（以下デバイスと称す）を
セツトし、そのリードに測子（接触子）を接触さ
せ、テスターから電流または電圧を印加し、デバ
イスの電気特性を測定する際、デバイスが小さい
場合は第４図に示すようにシングルコンタクトを
使用している。なお、１はデバイス、２はリー
ド、３は測子、４は測子３の基部を保持する保持
体、５は測定時に測子３を押圧しデバイス方向に
変位させるプツシヤーである。
セツトし、そのリードに測子（接触子）を接触さ
せ、テスターから電流または電圧を印加し、デバ
イスの電気特性を測定する際、デバイスが小さい
場合は第４図に示すようにシングルコンタクトを
使用している。なお、１はデバイス、２はリー
ド、３は測子、４は測子３の基部を保持する保持
体、５は測定時に測子３を押圧しデバイス方向に
変位させるプツシヤーである。
一方、デバイス１が大きい場合は、第５図もし
くは第６図に示すケルビンコンタクトが通常使用
される。これは第１および第２測子３Ａ，３Ｂを
左右方向に配列し、これをプツシヤー５で押圧変
位させ、リード２に接触させることによりリード
２との接触抵抗による影響を少なくするようにし
たもので、第５図は各測子３Ａ，３Ｂをプツシヤ
ー５Ａ，５Ｂによつて個々独立に押圧変位させる
ように構成したもの、第６図は第１および第２測
子３Ａ，３Ｂの中間部を第２の保持体７で保持
し、この保持体７をプツシヤー５で押圧変位させ
るように構成したものである。
くは第６図に示すケルビンコンタクトが通常使用
される。これは第１および第２測子３Ａ，３Ｂを
左右方向に配列し、これをプツシヤー５で押圧変
位させ、リード２に接触させることによりリード
２との接触抵抗による影響を少なくするようにし
たもので、第５図は各測子３Ａ，３Ｂをプツシヤ
ー５Ａ，５Ｂによつて個々独立に押圧変位させる
ように構成したもの、第６図は第１および第２測
子３Ａ，３Ｂの中間部を第２の保持体７で保持
し、この保持体７をプツシヤー５で押圧変位させ
るように構成したものである。
この場合、測子３Ａ，３Ｂがリード２にある程
度の強さで接触しないと精度の高い測定結果が得
られず、また強い力で押し付けても２本の測子３
Ａ，３Ｂがリード２から外れないことが重要であ
る。このことはケルビンコンタクトに限らず、第
４図に示したシングルコンタクトにも云えること
である。
度の強さで接触しないと精度の高い測定結果が得
られず、また強い力で押し付けても２本の測子３
Ａ，３Ｂがリード２から外れないことが重要であ
る。このことはケルビンコンタクトに限らず、第
４図に示したシングルコンタクトにも云えること
である。
ところで、測定精度向上の観点からして小さい
デバイス１の測定においてもケルビンコンタクト
を使用することが望ましいが、実際問題として測
子を確実に接触させることが難しく、その実現化
の大きな障害となつている。その理由は、大型の
DIPICの場合はリード２が略逆Ｌ字状に折曲形成
されて、その垂直片部に２つの測子３Ａ，３Ｂを
直角に当てるだけでよく、またリード２自体の長
さも十分長く、ケルビンコンタクトの使用に何ら
支障をきたすものではなく、むしろ好適とされる
のに対して小型デバイスの場合は、リード２が短
かく、その上第４図に示すように一般に湾曲形成
されて垂直片部が著しく短かく、かつ測子３の先
端が滑り易いことから、２本の測子を確実に接触
させることが非常に難しいことによるものであ
る。
デバイス１の測定においてもケルビンコンタクト
を使用することが望ましいが、実際問題として測
子を確実に接触させることが難しく、その実現化
の大きな障害となつている。その理由は、大型の
DIPICの場合はリード２が略逆Ｌ字状に折曲形成
されて、その垂直片部に２つの測子３Ａ，３Ｂを
直角に当てるだけでよく、またリード２自体の長
さも十分長く、ケルビンコンタクトの使用に何ら
支障をきたすものではなく、むしろ好適とされる
のに対して小型デバイスの場合は、リード２が短
かく、その上第４図に示すように一般に湾曲形成
されて垂直片部が著しく短かく、かつ測子３の先
端が滑り易いことから、２本の測子を確実に接触
させることが非常に難しいことによるものであ
る。
すなわち、第５図に示したケルビンコンタクト
においては、プツシヤー５Ａ，５Ｂによつて押圧
されると、測子５Ａ，５Ｂがその基部Ａを支点と
してデバイス側に共に回動変位するため、リード
が短かいと第１測子３Ｂの先端部がリードの上方
に逃げてしまい、十分な押圧力が得られなくなる
からである。一方、第６図に示したケルビンコン
タクトにおいては第２支持体７をプツシヤー５に
よつて押圧し平行移動させると、２つの測子３
Ａ，３Ｂの先端部も平行移動してリードに当接す
るが、この場合もリードが短かいと２つの測子３
Ａ，３Ｂの先端が第７図に示すようにリード２に
よつて拡げられ、十分な押圧力が得られないから
である。
においては、プツシヤー５Ａ，５Ｂによつて押圧
されると、測子５Ａ，５Ｂがその基部Ａを支点と
してデバイス側に共に回動変位するため、リード
が短かいと第１測子３Ｂの先端部がリードの上方
に逃げてしまい、十分な押圧力が得られなくなる
からである。一方、第６図に示したケルビンコン
タクトにおいては第２支持体７をプツシヤー５に
よつて押圧し平行移動させると、２つの測子３
Ａ，３Ｂの先端部も平行移動してリードに当接す
るが、この場合もリードが短かいと２つの測子３
Ａ，３Ｂの先端が第７図に示すようにリード２に
よつて拡げられ、十分な押圧力が得られないから
である。
本考案に係る電子部品の測定装置は上述したよ
うな問題点を解決すべくなされたもので、離間し
て配列され先端部がそれぞれ同方向に略直角に折
曲されて上下に対向し、その先端が電子部品のリ
ードとの接触部を構成する第１および第２測子
と、第１および第２測子の基部を保持する第１保
持体と、第１測子と第２測子のうちいずれか一方
の測子の中間部を保持し、他方の測子の中間部が
貫通する貫通孔が設けられた第２保持体と、この
第２保持体を電子部品方向に平行移動させるプツ
シヤーとを備え、第２保持体の移動により該保持
体に保持されている測子の先端部を平行移動させ
てリードに接触させ、貫通孔に挿通されている測
子を、その基部を支点として回動変位させリード
に接触させるようにしたものである。
うな問題点を解決すべくなされたもので、離間し
て配列され先端部がそれぞれ同方向に略直角に折
曲されて上下に対向し、その先端が電子部品のリ
ードとの接触部を構成する第１および第２測子
と、第１および第２測子の基部を保持する第１保
持体と、第１測子と第２測子のうちいずれか一方
の測子の中間部を保持し、他方の測子の中間部が
貫通する貫通孔が設けられた第２保持体と、この
第２保持体を電子部品方向に平行移動させるプツ
シヤーとを備え、第２保持体の移動により該保持
体に保持されている測子の先端部を平行移動させ
てリードに接触させ、貫通孔に挿通されている測
子を、その基部を支点として回動変位させリード
に接触させるようにしたものである。
本考案においては一方の測子の先端部を平行移
動させ、他方の測子を回動変位させるように構成
したので、各測子の接触部がリードに当接した
際、両測子の先端部がリードから逃げたり拡がつ
たりせず確実に接触するため、小型デバイスの測
定を可能にするケルビンコンタクトを達成し得
る。
動させ、他方の測子を回動変位させるように構成
したので、各測子の接触部がリードに当接した
際、両測子の先端部がリードから逃げたり拡がつ
たりせず確実に接触するため、小型デバイスの測
定を可能にするケルビンコンタクトを達成し得
る。
以下、本考案を図面に示す実施例に基づいて詳
細に説明する。
細に説明する。
第１図は本考案に係る測定装置の一実施例を示
す斜視図、第２図は断面図である。これらの図に
おいて、測定装置１０は左右方向に所定距離はな
れて配列された第１および第２測子１１，１２
と、第１および第２測子１１，１２の基部ａ，ｂ
を共通に保持するプラスチツク等の絶縁体からな
る第１保持体１３と、前後一対の弾性支持片１４
Ａ，１４Ｂを介して第１保持体１３の上方に配設
され第１測子１１の中間部Ｃの上部を保持する絶
縁材料からなる第２保持体１５と、第２保持体１
５を測定時にデバイス方向（第２図矢印方向）に
押圧し平行移動させるプツシヤー１６等を備え、
これらによつてケルビンコンタクトを構成してい
る。第１および第２測子１１，１２は、デバイス
１のリード間隔で前後方向に並列配置された、例
えば９本の測子群につてそれぞれ構成され、その
先端部ｅ，ｆがデバイス１側に略直角に折曲され
て上下に対向し、先端がデバイス１のリード２と
の接触１８，１９を構成している。一方、第１お
よび第２測子１１，１２の下端部は前記第１保持
体１３の下方に突出して端子部２０，２１を構成
し、テスターの電気回路に接続されている。
す斜視図、第２図は断面図である。これらの図に
おいて、測定装置１０は左右方向に所定距離はな
れて配列された第１および第２測子１１，１２
と、第１および第２測子１１，１２の基部ａ，ｂ
を共通に保持するプラスチツク等の絶縁体からな
る第１保持体１３と、前後一対の弾性支持片１４
Ａ，１４Ｂを介して第１保持体１３の上方に配設
され第１測子１１の中間部Ｃの上部を保持する絶
縁材料からなる第２保持体１５と、第２保持体１
５を測定時にデバイス方向（第２図矢印方向）に
押圧し平行移動させるプツシヤー１６等を備え、
これらによつてケルビンコンタクトを構成してい
る。第１および第２測子１１，１２は、デバイス
１のリード間隔で前後方向に並列配置された、例
えば９本の測子群につてそれぞれ構成され、その
先端部ｅ，ｆがデバイス１側に略直角に折曲され
て上下に対向し、先端がデバイス１のリード２と
の接触１８，１９を構成している。一方、第１お
よび第２測子１１，１２の下端部は前記第１保持
体１３の下方に突出して端子部２０，２１を構成
し、テスターの電気回路に接続されている。
前記第２保持体１５には前後方向に長く形成さ
れたスリツト状の貫通孔２２が形成されており、
この貫通孔２２に前記第２測子１２の中間部ｇが
挿通されている。なお、前１保持体１３は測定装
置にねじ止め固定されている。２３はねじ取付用
孔である。
れたスリツト状の貫通孔２２が形成されており、
この貫通孔２２に前記第２測子１２の中間部ｇが
挿通されている。なお、前１保持体１３は測定装
置にねじ止め固定されている。２３はねじ取付用
孔である。
このような構成からなる測定装置１０におい
て、第１および第２測子１１，１２の接触部１
８，１９をリード２に接触させるべくプツシヤー
１６で第２保持体１５を押圧すると、該保持体１
５は一対の弾性支持片１４Ａ，１４Ｂおよび第１
測子１１が弾性変形することでデバイス１方向に
平行移動する。すると、第１測子１１の先端部ｅ
も第２保持体１５と共に第３図に示すように左方
に平行移動し、その接触部１８がリード２の下部
に接触する。一方、第２測子１２は中間部ｇの上
部が第２保持体１５に固定されていないので、該
保持体１５の平行移動に伴つて左方へ押し曲げら
れ、接触部１９がリード２の上方へ逃げずに下方
へ向つて回転運動をして該リード２を接触部１
８，１９で挟むように接触する。この結果第１お
よび第２測子１１，１２の接触部１８，１９はリ
ード２が短い場合でも良好に接触し、リード２か
ら外れることがない。
て、第１および第２測子１１，１２の接触部１
８，１９をリード２に接触させるべくプツシヤー
１６で第２保持体１５を押圧すると、該保持体１
５は一対の弾性支持片１４Ａ，１４Ｂおよび第１
測子１１が弾性変形することでデバイス１方向に
平行移動する。すると、第１測子１１の先端部ｅ
も第２保持体１５と共に第３図に示すように左方
に平行移動し、その接触部１８がリード２の下部
に接触する。一方、第２測子１２は中間部ｇの上
部が第２保持体１５に固定されていないので、該
保持体１５の平行移動に伴つて左方へ押し曲げら
れ、接触部１９がリード２の上方へ逃げずに下方
へ向つて回転運動をして該リード２を接触部１
８，１９で挟むように接触する。この結果第１お
よび第２測子１１，１２の接触部１８，１９はリ
ード２が短い場合でも良好に接触し、リード２か
ら外れることがない。
すなわち、第１測子１１の接触部１８は単に平
行移動するだけで下方へ回転運動するものでない
ため、仮りにリード２の下端によつて先端部ｅが
押し下げられ下方に逃げたとしても、該先端部ｅ
の弾撥力により接触部１８をリード２の下端面に
強く圧接させることができる。一方、第２測子１
２は下方への回転運動をしながらリード２に圧接
されるため、平行移動する場合と異なり上方に逃
げることがない。
行移動するだけで下方へ回転運動するものでない
ため、仮りにリード２の下端によつて先端部ｅが
押し下げられ下方に逃げたとしても、該先端部ｅ
の弾撥力により接触部１８をリード２の下端面に
強く圧接させることができる。一方、第２測子１
２は下方への回転運動をしながらリード２に圧接
されるため、平行移動する場合と異なり上方に逃
げることがない。
この結果、第１および第２測子１１，１２は拡
がつたりせず、リード２の接触状態が良好にし
て、精度の高い測定を可能にする。
がつたりせず、リード２の接触状態が良好にし
て、精度の高い測定を可能にする。
なお、上記実施例は第１測子１１を平行移動さ
せ、第２測子１２を回転移動させるように構成し
たが、本考案はこれに何ら特定されるものではな
く、デバイス１のリード形状によつてはこの逆、
すなわち第１測子１１を回転移動させ、第２測子
１２を平行移動させてもよいことは勿論である。
せ、第２測子１２を回転移動させるように構成し
たが、本考案はこれに何ら特定されるものではな
く、デバイス１のリード形状によつてはこの逆、
すなわち第１測子１１を回転移動させ、第２測子
１２を平行移動させてもよいことは勿論である。
また、上記実施例は第１および第２測子１１，
１２をそれぞれ９本の測子群で構成が、その数に
何ら特定されるものではなく、デバイス１がトラ
ンジスタである場合はそのリードが左に２本、右
に１本で構成されるため、各測子１１，１２をそ
れぞれ左で２本、右は１本で構成すればよい。な
お、この逆もある。
１２をそれぞれ９本の測子群で構成が、その数に
何ら特定されるものではなく、デバイス１がトラ
ンジスタである場合はそのリードが左に２本、右
に１本で構成されるため、各測子１１，１２をそ
れぞれ左で２本、右は１本で構成すればよい。な
お、この逆もある。
以上説明したように本考案に係る電子部品の測
定装置は第１および第２測子の動きを異ならせ、
一方を平行移動させ、他方を回転運動させてデバ
イスのリードに圧接するように構成したので、小
型デバイスであつても各測子をリードに強く圧接
させることができてリードから外れたり拡がつた
りすることがなく、良好な接触状態を作り出すこ
とができる。したがつて、精度の高い測定を可能
にし、また構造も簡単で製作が容易であるなど、
その実用的効果は非常に大である。
定装置は第１および第２測子の動きを異ならせ、
一方を平行移動させ、他方を回転運動させてデバ
イスのリードに圧接するように構成したので、小
型デバイスであつても各測子をリードに強く圧接
させることができてリードから外れたり拡がつた
りすることがなく、良好な接触状態を作り出すこ
とができる。したがつて、精度の高い測定を可能
にし、また構造も簡単で製作が容易であるなど、
その実用的効果は非常に大である。
第１図は本考案に係る測定装置の斜視図、第２
図は断面図、第３図は測定時の状態を示す断面
図、第４図は従来のシングルコンタクトによる測
定状態を示す図、第５図および第６図はそれぞれ
ケルビンコンタクトの従来例を示す図、第７図は
測定時の測子の逃げを示す図である。 １……デバイス、２……リード、３Ａ，１１…
…第１測子、３Ｂ，１２……第２測子、４，１３
……第１保持体、５，５Ａ，５Ｂ，１６……プツ
シヤー、７，１５……第２保持体、１８，１９…
…接触部、２２……貫通孔。
図は断面図、第３図は測定時の状態を示す断面
図、第４図は従来のシングルコンタクトによる測
定状態を示す図、第５図および第６図はそれぞれ
ケルビンコンタクトの従来例を示す図、第７図は
測定時の測子の逃げを示す図である。 １……デバイス、２……リード、３Ａ，１１…
…第１測子、３Ｂ，１２……第２測子、４，１３
……第１保持体、５，５Ａ，５Ｂ，１６……プツ
シヤー、７，１５……第２保持体、１８，１９…
…接触部、２２……貫通孔。
Claims (1)
- 離間して配列され先端部がそれぞれ同方向に略
直角に折曲されて上下に対向し、その先端が電子
部品のリードとの接触部を構成する第１および第
２測子と、これらの第１および第２測子の基部を
保持する第１保持体と、第１測子と第２測子のう
ちいずれか一方の測子の中間部を保持し、他方の
測子の中間部が貫通する貫通孔が設けられた第２
保持体と、この第２保持体を測定時に電子部品方
向に押圧し平行移動させるプツシヤーとを備えた
ことを特徴とする電子部品の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15447586U JPH0350461Y2 (ja) | 1986-10-09 | 1986-10-09 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15447586U JPH0350461Y2 (ja) | 1986-10-09 | 1986-10-09 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6360967U JPS6360967U (ja) | 1988-04-22 |
| JPH0350461Y2 true JPH0350461Y2 (ja) | 1991-10-28 |
Family
ID=31074296
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15447586U Expired JPH0350461Y2 (ja) | 1986-10-09 | 1986-10-09 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0350461Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103547935A (zh) * | 2011-05-26 | 2014-01-29 | 伊斯梅卡半导体控股公司 | 夹具 |
-
1986
- 1986-10-09 JP JP15447586U patent/JPH0350461Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6360967U (ja) | 1988-04-22 |
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