JPH0319516A - 電圧リミッタ回路 - Google Patents
電圧リミッタ回路Info
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- JPH0319516A JPH0319516A JP2132772A JP13277290A JPH0319516A JP H0319516 A JPH0319516 A JP H0319516A JP 2132772 A JP2132772 A JP 2132772A JP 13277290 A JP13277290 A JP 13277290A JP H0319516 A JPH0319516 A JP H0319516A
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/01—Shaping pulses
- H03K5/08—Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A.産業上の初用分野
本発明は、電圧クランプ回路に関し、特に高電流が扱え
るCMOS (相補型金属酸化膜半導体)技術を用いた
電圧クランプ回路に関する.B,従来の技術及びその課
題 CMOS回路は従来からよく知られている.たとえば米
国特許第4532439号(1983年9月2日出願)
は、直列接続のPチャネル素子とNチャネル素子のドレ
インが、水晶発振子を通してそれぞれのゲート電極に接
続されてヒステリシス特性を与える論理回路について説
明している.米国特許第40244 1 8号(1 9
76年2月4日出願)は、極性が逆の2個のダイ才一ド
を直列に接続した形で入力と出力との間で帰還を行うC
MOSインバータについて説明している.米国特許第4
251739号(1977年9月20日出願)は,ゲー
ト信号を受信するためのゲート回路と、構造が単純で,
消費電力の低減に寄与し,少なくとも1lWの入力に接
続されたメモリとを持つCMOS入力回路について説明
している. 米国特許第457 1 504号(1983年IO月l
9日出願}は、素子数を減らし、きわめて良好なヒステ
リシス特性を示すCMOSシュミッタ・トリガ回路につ
いて説明している.米国特許第3809926号+1
973年3月28日出願)に示されているCMOSウィ
ンドウ横出回路では、PチャネルとNチャネルの2個の
素子が直列に接続され、それぞれのドレインがインバー
タを通してPチャネル素子の制御電極に接続される. 米国特許第4314167号は,入力端子と出力端子と
の間に減圧抵抗器を接続したNチャネルCMOSトラン
ジスタを用いる電圧クランプ回路を示している. 本発明の目的は、電界効果トランジスタと半導体基板(
または半導体チップ)の表面積のいずれも小さい素子を
用い、高電流を扱えて電圧安定付が高く,消費電力が極
めて小さく特に歩留りと信頼性を向上させるためにDR
AM(ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ)に
使用するのに適した,簡素な電圧クランプ回路を提供す
ることにある. C.課題を解決するための手段 本発明により、第1と第2の電位基準点が有り、第1と
第2の電位基準点の間に第1と第2のトランジスタが直
列に配置された電圧源を含む電圧クランプ回路が提供さ
れる.両トランジスタに共通の点から第1のトランジス
タの制!l電極へ第1の制御手段が、第1と第2のトラ
ンジスタに共通の点から第2のトランジスタの制御電極
へ第2の制御手段がそれぞれ接続され、第2の制御手段
は、第1と第2の制御手段が異なる制taia圧レベル
で付勢されるように,第1の制御手段とは異なる特性を
示す. 本発明の実施例により、クランプ回路に含まれるPチャ
ネル・トランジスタは、電圧源の第1の電位基準点と第
2の電位基準点との間で,Nチャネル・トランジスタと
直列に配置される.両トランジスタに共通の点からPチ
ャネル・トランジスタのi1)@電極へは,第1のイン
バータの入力が共通の点に,第1のインバータの出力が
第2のインバータの入力にそれぞれ接続されるように、
第1と第2のインバータが接続され,第2のインバータ
の出力が,Pチャネル・トランジスタの制@電極に接続
される.両トランジスタに共通の点からNチャネル・ト
ランジスタの制御電極へは、第3と第4のインバータが
接続されて.第3のインバータの入力が共通点に、第3
のインバータの出力が第4のインバータの入力にそれぞ
れ接続され,第4のインバータの出力がNチャネル・ト
ランジスタの制lII電極に接続される.第1と第3の
インバータは,スイッヂング・ポイントが宣なるように
設計される. 以下、本発明の作用とともに実施例を説明する. D.実施例 第1の導電型と第2の導?ft型のトランジスタが第1
と第2の電位基準点の間に直列に接続された電圧クラン
プ回路が提供される.両トランジスタに共通の点から、
第1の導i型のトランジスタのIll御電極へ、第1の
インバータを含む第1の制御手段が接続され、2つのト
ランジスタに共通の点から、第2の導電型のトランジス
タの制l!l#1Ijへ、第2のインバータを含む第2
の制御手段が接続され、第Iと第2のインバータが,異
なるスイッチング・ポイントを持つ. 第1図は、本発明の電圧クランプ回路のCMOS技術に
よる実施例を示す回路図である.この回路は、対角線を
引いた四角形と、四角形の一辺に隣接し、これと平行な
線で表したゲート電極とで示したPチャネル電界効果ト
ランジスタ,および対角線のない四角形と、四角形に隣
接するゲート1!極とで示したNチャネル電界効果トラ
ンジスタを持つ. 第1図に示した本発明のCMOS電圧クランプ回路は、
入力/出力端子NlおよびVDDと示した電圧源または
電源を含む.この発明は、3.6Vの電源でドライブさ
れるサブミクロンのCMOS技術によって実施した.実
際には他の電源も使用できる(VDD=5Vなど).P
チャネル電界効果トランジスタTI)lは、端子VDD
と入力/出力端子Nlとの間に、Nチャネル電界効果ト
ランジスタTNIは,入力/出力端子Nlとグランドな
ど電位基準点との間にそれぞれtljjMされる.トラ
ンジスタTPIとTNIに共通の点は(ノード)Nlと
している. 第1のインバータ1)の入力はノードNlに、第2のイ
ンバータI2の出力は、ノードN2においてPチャネル
・トランジスタTPIの制御電極にそれぞれ接続され、
第1のインバータ1)の出力は、ノードN3において第
2のインバータ■2の入力に接続される.第3のインバ
ータ■3の入力もノードNlに,第4のインパータI4
の出力はノードN4においてNチャネル・トランジスタ
TNIの制御電極にそれぞれ接続され、第3のインバー
タI3の出力は、ノードN5において第4のインバータ
l4の入力に接続される.インバータIf、I2.I3
、I4はそれぞれ、従来からのCMOSインバータが望
ましく,第1のインバータIlのスイッチング・ポイン
トは、第3のインバータI3のスイッチング電圧または
入力電圧と大きく異なるように設計される.第1のイン
バータI1のスイッチング・ポイントは、第3のインバ
ータI3よりも低い電圧が望ましい,第2のインバータ
I2のスイッチング・ポイントは、第1のインバータI
tと実質的に同じ電圧が望ましく、第4のインバータ■
4のスイッチング・ポイント6,第3のインバータI3
と実質的に同じ電圧が望ましい.第1図の回路のクラン
プ電圧は,この回路およびこれに接続される他の回路の
3種の素子によって決定される. 第1図に示した本発明のCMOS電圧クランプ回路の動
作は、第2図を堅照すれば理解しやすい.第2図のグラ
フは、第1図の回路の遷移特性を示す.平衡インバータ
は,これの入力電圧が電源電圧の2分の1すなわち電圧
レベルがVDD/2に達したときに状態が切り替わるこ
とが知られている.このスイッチング・ポイントは、た
とえばインバータの素子またはトランジスタの幅と長さ
の比を変えることによってシフトすることができる.一
例を挙げると、CMOSインバータでは、Pチャネル・
トランジスタのチャネル幅を大きくすれば、インバータ
のスイッチング・ポイントは高い入力電圧にシフトする
. 第1図の電圧クランプ回路では,第3のインバータI3
と第4のインバータ■4のスイッチング・ポイントを第
1と7142のインバータのスイッチング・ポイントよ
りも高い電圧にシフトさせるのが望ましい.ここから7
j41のインバータ1)は.第3のインバータI3より
も低い電圧で付勢されるのが分かる. そこで、第2図に示した参照ウィンドウは、第1のイン
バータ1)と第3のインバータI3のスイッチング・ポ
イントによって決定される.ここで注意しておきたいこ
とは、第1のインバータ■lと第3のインバータI3の
スイッチング・ポイントが近接し゜て設定されていると
,参照ウィンドウは小さくなるということである.また
第2図のグラフから分かるとおり、ノードNlのクラン
プ電圧が参照ウィンドウより低いとき、ノードN4の電
圧は論理的にLOWであり、Nチャネル・トランジスタ
TNIはオフになる.そしてノードN2の電圧もLOW
であり、Pチャネル・トランジスタTPIはオンになる
.これによってノードN1のクランプ電圧が参照ウィン
ドゥの方へ引き上げられる.ノードN1のクランプ電圧
が参照ウィンドウより高いとき2ノードN2の電圧は論
理HIGHであり、Pチャネル・トランジスタTPIは
オフになる.そしてノードN4の電圧もHIG[1であ
り、Nチャネル・トランジスタTNIはオンになる.こ
れによってノードNlのクランプ電圧が参明ウィンドウ
の方へ引き下げられる.クランプ電圧が参照ウィンドウ
内であれば、ノードN2の電圧はl−{ I G H、
ノードN4(7)電圧はLOWであり、トランジスタT
PIとTNIは両方と6オフになる.ノードNlのクラ
ンプ電圧は、理想的には,第1のインバータ1)と第3
のインバータI3のスイッヂング・ポイント間の参閃ウ
ィンドウ内にとどまる. 参照ウィンドウのサイズは,入力/出力端子N1として
電圧クランプ回路に接続される回路(メモリ・アレイな
ど)の動作の耐電圧条件によって決定される.また寄生
コンデンサCによっても決定される.適正な参照ウィン
ドウ幅を設定するには、かなり注意を要する.参明ウィ
ンドウが狭すぎれば、クランプ回路はクランプ電圧レベ
ルの変化に充分高速に応答することができなくなる.そ
の場合、クランプ電圧は、クランプされていないウィン
ドウの上下の電圧で発振しやすくなる.かかる発振を防
ぐには,帰還インバータ■1、I2,■3、■4が.N
lでの電圧変化に応答して、ドライブ・トランジスタT
PIまたはTNIをオフにする一方、N1の電圧が参明
ウィンドウ内でなければならない.本発明による電圧ク
ランプ回路の参照ウィンドウ幅は.代表値で数6ミリボ
ルトである,負尚の大きい回路の場合、参明ウィンドウ
のサイズまたは幅を小さくすることができる.参照ウィ
ンドウのサイズは、Pチャネル・トランジスタTPIと
Nチャネル・トランジスタTNIのサイズにも依存し、
トランジスタのサイズが小さければ,すなわちトランジ
スタ・チャネルの幅と長さの比が小さければ,応答は、
比較的大きなトランジスタより6遅く、よってウィンド
ウを小さくできる.インバータ1).12、13.14
の素子またはトランジスタのサイズについては、トラン
ジスタTPl.TNlの場合と逆のルールが当てはまる
.インバータII、12、I3、■4の幅と長さの比を
大きくとると、応答は速くなり,小さい参照ウィンドウ
を安定性を失わずに維持できる. 直i(1)C)は,インバータがそのスイクヂング・ポ
イントの近くで動作する場合には,インバータにおいて
消費されること、またCMOSタイプのインバータにお
レ)ても〆肖費されることが知られている.これがこの
回路で起こるのは,クランプ7r1圧が参明ウィンドウ
に近いときである.消費M流(DC)を大幅に低下させ
るためには、この回路が比較的小型のトランジスタまた
は素子を用いるにしても、第1図の電圧クランプ回路は
、これに、第3図に示すようにゲート手段またはサンプ
リング手段とラッチ手段を追加することによって変更す
ることができる.第3図の電圧クランプ回路の素子は,
第1図の電圧クランプ回路の素子と同一または類似のも
のであり,参照符号や文字も同じである.インパータI
l.I2、I3,I4は、クロツク・サイクルの検知時
に,クロック・パルスN6がVDDであるとき電力を消
費する.そのときインバータII、■3はノードN1か
ら(T10とTl2を介して)入力を受け、それぞれの
スイッチング・ポイント付近で動作する.クロック・パ
ルスN6がオフになると,インバータはすべてCMOS
−杯のレベル(VDDまたはGND)までドライブされ
、インバータ【l、■2、13.I4の消費電力はゼロ
になる,TPIとTNIにとって望ましい状態は、クロ
ック・パルスがVDDであるときに決定される.TNl
とTPIは、クロック・パルスが次に立ち上がるまでこ
のような状態にとどまり,その時点で可変になる. 第3図に示すように、本発明による電圧クランプ回路の
インバータI1、■2、13.I4は、それぞれ従来の
CMO Sインバータであり、PチャネルとNチャネル
の電界効果トランジスタが電圧源端子VDDとグランド
との間に直列に接続されたものである.また第3図の回
路は、入力がノードN3すなわちインバータI1の出力
に接続された第5のインバータI5.および入力がノー
ドN5すなわちインバータI3の出力に接続された第6
のインバータを含む.インバータ■5、I6もそれぞれ
CMOSインバータと示している.ノードNlと第1の
インバータIfの入力との間には第1の転送ゲートまた
は遷移ゲートT10が、ノードNlと第3のインバータ
■3の入力との間には第2の転送ゲートまたは遷移ゲー
トT12が、第5のインバータI5の出力と第1のイン
バータ1)の入力との間には第3の転送ゲートまたは遷
移ゲートT14が、そして第6のインバータ■6の出力
と第3のインバータ■3の入力との間には第4の転送ゲ
ートまたは遷移ゲー} 1” 1 6が配置されている
.転送ゲートTIO、TI2、Ti4、Tl6はそれぞ
れ、並列に配置された従来のPチャネルおよびNチャネ
ルの電界効果トランジスタを含む.転送ゲートTIO.
TI2、Tl4、Tl6に制御電圧を印加するために、
クロック・パルス端子(ノード)N6が、このノードに
入力、ノードN7に出力を6つ第7のインバータI7と
ともに追加される.第7のインバータI7もCMOSタ
イプとしてよい.第3図に示した本発明による電圧クラ
ンプ回路の実施例は、第I図に示した回路と似ているが
、第1の変形箇所として,第1の転送ゲートTIOと第
2の転送ゲートTl2は,限られた時間内すなわちクロ
ック・パルス(N6)がVDDであるときを除いて、第
1のインバータ■1と第3のインバークI3の入力に電
圧Nlが印加されないように配置される.また第2の変
形箇所として、第1のラッチLLと第2のラッチL2が
形成される.これらのラッヂは、ノードN3とノードN
5のそれぞれから{得られた電圧を格納し、クロツク・
バルスN6がGNDであるときにVDDレベルまたはG
NDレベル一杯まで増幅する.第1のラッチL1は,第
3の転送ゲートT14によって完全に接続されたときは
第1のインバータIIと?55のインバータ■5を含み
、第2のラッチL2は,転送ゲート’I’ 1 6によ
って完全に接続されたときは第:3のインバータI3と
第6のインバータI6を含む. 第3図の回路のインバークItと13は、第2図のグラ
フに示した所望の参閃・クィンドゥを得るためには,第
1図のインバータ1).13と同じようにスイッチング
・ポイントが調整されなければならない. 第3図に示した本発明によるCMOS電圧クランプ回路
の動作は、基本的には第1図に示した電圧クランプ回路
の動作と似ているが、サンブリンクよたはゲート機能お
よびラッチ機能を付加した点が異なる.これらの機能は
、本発明による電圧クランプ回路においてDC消費電カ
を大幅に低下させるための6のである.第3図の回路が
動作面で6物理面で6第1図の回路と実質的に類似する
のは、特に端子N6のクロック・パルスがHIGHすな
わち論理lのときである.端子N6が高電圧のとき,ノ
ードN6はH T G fIでノードN7はLOW、そ
の結果、転送ゲートTIOとTl2はオンになり、転送
ゲートT14と716はオフになる.ゲートTl4とT
16がオフになると、ラッチLlとL2は解除され,ゲ
ートT10とT12がオンになると、ノードNlの電圧
は第1のインバータI1と第3のインバータ■3のそれ
ぞれに印加される.したがって第3図の回路は,この状
態では第1図の回路と同様である.ただしこの状態で、
ノードNlのクランプ電厘がインバータIl、■3のス
イッチング・ポイントに近い結果消費され得るDC電力
を最小にするかゼロにするために,端子CPのクロック
・パルスは低電圧すなわち論理0に切り替えられて5転
送ゲートTIO、TI2が才7 i.m、転送ゲート1
’l4.T16がオンにされる.ゲートTIO、TI2
がオフになると、ノードNlのクランプ電圧は、第1の
インバータI l’と第3のインパータ■3の入力に印
加されなくなるが、転送ゲート14,Tl6がオンにな
ると、第1のインバータIlと第5のインバータI5が
接続されてラッチLlが形成され、第3のインバータI
3と第6のインバータI6が接続されてラッチL2が形
成される.第1のラッヂLlの状態は,ノードN3の電
圧によって,第2のラッチL2の状態は、ノードN5の
電圧によってそれぞれ制御される.第5のインバータI
5と第6のインバータI6からの帰還によって2第1の
インバータIfと第3のインバータI3のそれぞれの入
力がドライブされで,電圧レベルがVDDまたはGND
一杯にまで引き上げられ、ノードN3、N5で検知され
た電圧にラッヂがかかり,回路の直流がオフになる.こ
のときインバータII.I2.15およびインバータI
3,I4、I6は,完全なCMOS状態にラッチされる
.それぞれの出力はVDD一杯の電圧レベルまたはグラ
ンドになる.このように.ノードNlの電圧を定期的に
サンプルすることにより、必要な補正が行われ、結果が
ラツチLl.L2に保持されて.DC消費電力が最小に
なるかまたはゼロになる. 第3図の回路の動作の具体的な側面は,第4図のグラフ
を見れば把握しやすい.第4図は,第3図の回路におけ
る各点を時間との関係で示している.ここでは2時間t
oよりも前に,入力/出力端子Nlのクランプ電圧はV
DD/2の電圧レベル、または少なくとち第2図に示し
た.llIQウィンドウ内にあり,よってPチャネル・
トランジスタTPIとNチャネル・トランジスタTNI
は両方ともオフであり、ノードN2はy DO 電圧レ
ベル、ノードN3はグランド、ノードN4はグランド,
そしてノードN5はVDD?ff圧レベルにあると仮定
する.そこで時間LOでは、ノードNlの電圧は参照ウ
ィンドウよりv−hのレベルにまで増加する.これには
いくつか原因がある.このような増加は、あるいは減少
でも、入力/出力端子N1において電圧クランプ回路に
接続された回路に生じる欠陥やリーク電流によって起こ
る.ノードNlのクランプ電圧がVDD電圧レベルより
上にあり,参照ウィンドウの外側にある時間tlでは、
端子CPのクロック・パルスがI{ I G I−1に
なりはじめ.ziの転送ゲートTIOと第2の転送ゲー
トTI2がオンになる.これにより、ノーFNl上の比
較的高いクランプ電圧が第1のインバータIfと第3の
インバータI3の入力に印加され、ラッチLl.L2が
解除される.第3のインバータI3の入力において電圧
が比較的高いと、インバータI3のPチャネル・トラン
ジスタはオフに、インバータI3のNチャネル・トラン
ジスタはオン側に傾き、その結果ノードN5が放電する
.ノードN5が放電すると、第4のインバータ■4のN
チャネル・トランジスタはオフになりはじめ、第4のイ
ンバータI4のPチャネル・トランジスタはオン側に傾
いて.ノードN4が充電され、Nチャネル・トランジス
タTNIがオンになり、これによってノードNlが放電
しやすくなる.時間L2では、ノードN6のクロック・
パルスはLOWになりはじめ,転送ゲートT10、TI
2がオフ、転送ゲートTl4.Tl6がオンになって,
ラッチLl.L2が有効になり,ノードN4の電圧がV
DDレベル一杯まで増加し,ノードN5の電圧がグラン
ドに落ちる.81間tlとt2との間では、ラッヂL
1が解除されて無効になるので、ノードN3の電圧は、
ノードN2の電圧を大きく変化させることなく,いくら
か増加する. 時間t3とt4との1)1.端子C I)およびノード
N6のクロック・パルスはグランドであり、よってラッ
チLl.L2はノードN3、N5をグランドに保つ.そ
の結果,ノードN2、N4の両方の電圧がこの期間にH
I G L{となる.したがってPチャネル・トラン
ジスタ’r p iは引き続きオフ、Nチャネル・トラ
ンジスタTNIはオンに固定される,その結果,ノード
Nlのクランプ電圧は、特間t3とt4との間で引き続
きM電する.時間t4で端子CPのクロック・パルスは
再び増加しはじめるが,ノードNlのクランプ電圧は、
低下するかVDD/2レベルに近づき、第3インバータ
I3の入力に印加される.第3のインバークr3の入力
側の電圧により,第3インバータI3のPチャネル・ト
ランジスタはオンに、インバータI3のNチャネル・ト
ランジスタはオフ側に傾く.そこで、ノードN5の電圧
は増加しはじめ、ノードN4の電圧は低下しはじめる.
時間t5では、ノードN6の電圧は低下しはじめ,再び
ラッチLl.L2が有効になる.その結果、ノードN5
の電圧はVDDレベルー杯にまで上昇し,ノドN4の電
圧はグランドに落ちる.時間がt4からt5に移る間、
ノードN3の電圧は,時間がLlからt2へ移る間に達
した値よりも高い値にまで上界する.これはインバータ
IIの入力に印加された電圧がここでは低下しているか
らである.時間t6において、ノードNlのクランプ電
圧は,参照ウィンドウ内にあり.VDD/2である.ノ
ードN3、N4、N6の電圧はグランド、ノードN5の
電圧はVDDレベルである.ここですぐ分かるように,
ノードN2の電圧は、時間toとL6との間で大きく変
化してはおらず、VDDレベルにとどまっている.その
ため,ノードN2の電圧は第4図のグラフには示してい
ない.また、ノードN7の電圧6、これがノードN6の
電圧を補うちのにすぎないので,第4図のグラフには示
していない.さらに、実際には、ノードNlの電圧を参
照ウィンドウより高い値からVDD/2レベルにまで下
げるのに2サイクル以上の動作が必要な場合がある. ノードNlのクランプ電圧が、時間toで参照ウィンド
ウの値よりも低い値に下がっていれば、ノードN3の電
圧はtlからt3までの期間にVDDレベルにまで増加
し,ノードN2の電圧はグランドに落ち、ノードN5の
電圧はVDDレベルから大きくずれることはなく,ノー
ドN4の電圧はグランドにとどまる.したがって、セl
からt4までの期間、,ノードNlは、Pチャネル・ト
ランジスタTPIを通して充電されてVDD/2の電圧
レベルになるか、そのレベルに近づき、Nチャネル・ト
ランジスタはオフのままである. 第2図に示し′た参照ウィンドウの幅と位置は、インバ
ータ1).12、I3、工4の寸法によって次のように
調節される.インバータのスイッチング・ポイントB
rを(Wp/L p)/ (Wn/L n )と等しく
する.ここでWpはインバータのI)チャネル・トラン
ジスタのチャネル幅、L pはインバータのPチャネル
素子のチャネル長.WnはインバータのNチャネル素子
の幅、LnはインバータのNチャネル・トランジスタの
チャネル長である.そこでインバータIf、■3のBr
が等しくなるようにすれば、参明ウィンドウはそれだt
ナ狭くなる.インバータIIと13の両方のBrを同じ
量だけ増加させれば、参明ウィンドウは右に,減少させ
れば左にシフトする. この電圧クランプ回路は、特に,ビット/検知ラインが
電源電圧の2分のlすなわちVDD/2まであらかじめ
充電される高密度のRAM (ランダム・アクセス・メ
モリ)に有益である.fi圧VDD/2は、ビット/検
知ラインをVDD″:t1圧レベルとグランドで同数に
して短絡または接続することによって得られる.ビット
/検知ラインは、共通のバスに短絡または接続され,よ
ってビット/検知ラインのいずれかに流れる不良M流が
、すべてのビット/検知ラインの事imに設定された充
電レベル(プリヂャージ・レベル)に影響する.ブリチ
ャージ・レベルがいずれかの方向にシフトしすぎる場合
は,メモリが機能しなくなる.したがって、この種の電
圧クランプ回路は、メモリの歩留りと信頼性を高める−
Lできわめて重要である. E.発明の効果 本発明による電圧クランプ回路は、電圧が振幅一杯まで
供給側のトランジスタ1’ P 1と吸収側のトランジ
スタTNIの両方に印加されるので,比較的小さなトラ
ンジスタまたは素子構成で比較的大きな″i流を供給ま
たは吸収できることが分かる.さらに本発明による電圧
クランプ回路は、高M流を扱うことができるので、性能
向上、消費電流(DC)の低減、および電圧安定度の向
上が可能である. 本発明は、特に実施例とあわせて説明したが、当業者に
は明らかなように、形式と詳細について様々に変更を加
えることは、本発明の精神と通用範囲から逸脱すること
なく可能である.
るCMOS (相補型金属酸化膜半導体)技術を用いた
電圧クランプ回路に関する.B,従来の技術及びその課
題 CMOS回路は従来からよく知られている.たとえば米
国特許第4532439号(1983年9月2日出願)
は、直列接続のPチャネル素子とNチャネル素子のドレ
インが、水晶発振子を通してそれぞれのゲート電極に接
続されてヒステリシス特性を与える論理回路について説
明している.米国特許第40244 1 8号(1 9
76年2月4日出願)は、極性が逆の2個のダイ才一ド
を直列に接続した形で入力と出力との間で帰還を行うC
MOSインバータについて説明している.米国特許第4
251739号(1977年9月20日出願)は,ゲー
ト信号を受信するためのゲート回路と、構造が単純で,
消費電力の低減に寄与し,少なくとも1lWの入力に接
続されたメモリとを持つCMOS入力回路について説明
している. 米国特許第457 1 504号(1983年IO月l
9日出願}は、素子数を減らし、きわめて良好なヒステ
リシス特性を示すCMOSシュミッタ・トリガ回路につ
いて説明している.米国特許第3809926号+1
973年3月28日出願)に示されているCMOSウィ
ンドウ横出回路では、PチャネルとNチャネルの2個の
素子が直列に接続され、それぞれのドレインがインバー
タを通してPチャネル素子の制御電極に接続される. 米国特許第4314167号は,入力端子と出力端子と
の間に減圧抵抗器を接続したNチャネルCMOSトラン
ジスタを用いる電圧クランプ回路を示している. 本発明の目的は、電界効果トランジスタと半導体基板(
または半導体チップ)の表面積のいずれも小さい素子を
用い、高電流を扱えて電圧安定付が高く,消費電力が極
めて小さく特に歩留りと信頼性を向上させるためにDR
AM(ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ)に
使用するのに適した,簡素な電圧クランプ回路を提供す
ることにある. C.課題を解決するための手段 本発明により、第1と第2の電位基準点が有り、第1と
第2の電位基準点の間に第1と第2のトランジスタが直
列に配置された電圧源を含む電圧クランプ回路が提供さ
れる.両トランジスタに共通の点から第1のトランジス
タの制!l電極へ第1の制御手段が、第1と第2のトラ
ンジスタに共通の点から第2のトランジスタの制御電極
へ第2の制御手段がそれぞれ接続され、第2の制御手段
は、第1と第2の制御手段が異なる制taia圧レベル
で付勢されるように,第1の制御手段とは異なる特性を
示す. 本発明の実施例により、クランプ回路に含まれるPチャ
ネル・トランジスタは、電圧源の第1の電位基準点と第
2の電位基準点との間で,Nチャネル・トランジスタと
直列に配置される.両トランジスタに共通の点からPチ
ャネル・トランジスタのi1)@電極へは,第1のイン
バータの入力が共通の点に,第1のインバータの出力が
第2のインバータの入力にそれぞれ接続されるように、
第1と第2のインバータが接続され,第2のインバータ
の出力が,Pチャネル・トランジスタの制@電極に接続
される.両トランジスタに共通の点からNチャネル・ト
ランジスタの制御電極へは、第3と第4のインバータが
接続されて.第3のインバータの入力が共通点に、第3
のインバータの出力が第4のインバータの入力にそれぞ
れ接続され,第4のインバータの出力がNチャネル・ト
ランジスタの制lII電極に接続される.第1と第3の
インバータは,スイッヂング・ポイントが宣なるように
設計される. 以下、本発明の作用とともに実施例を説明する. D.実施例 第1の導電型と第2の導?ft型のトランジスタが第1
と第2の電位基準点の間に直列に接続された電圧クラン
プ回路が提供される.両トランジスタに共通の点から、
第1の導i型のトランジスタのIll御電極へ、第1の
インバータを含む第1の制御手段が接続され、2つのト
ランジスタに共通の点から、第2の導電型のトランジス
タの制l!l#1Ijへ、第2のインバータを含む第2
の制御手段が接続され、第Iと第2のインバータが,異
なるスイッチング・ポイントを持つ. 第1図は、本発明の電圧クランプ回路のCMOS技術に
よる実施例を示す回路図である.この回路は、対角線を
引いた四角形と、四角形の一辺に隣接し、これと平行な
線で表したゲート電極とで示したPチャネル電界効果ト
ランジスタ,および対角線のない四角形と、四角形に隣
接するゲート1!極とで示したNチャネル電界効果トラ
ンジスタを持つ. 第1図に示した本発明のCMOS電圧クランプ回路は、
入力/出力端子NlおよびVDDと示した電圧源または
電源を含む.この発明は、3.6Vの電源でドライブさ
れるサブミクロンのCMOS技術によって実施した.実
際には他の電源も使用できる(VDD=5Vなど).P
チャネル電界効果トランジスタTI)lは、端子VDD
と入力/出力端子Nlとの間に、Nチャネル電界効果ト
ランジスタTNIは,入力/出力端子Nlとグランドな
ど電位基準点との間にそれぞれtljjMされる.トラ
ンジスタTPIとTNIに共通の点は(ノード)Nlと
している. 第1のインバータ1)の入力はノードNlに、第2のイ
ンバータI2の出力は、ノードN2においてPチャネル
・トランジスタTPIの制御電極にそれぞれ接続され、
第1のインバータ1)の出力は、ノードN3において第
2のインバータ■2の入力に接続される.第3のインバ
ータ■3の入力もノードNlに,第4のインパータI4
の出力はノードN4においてNチャネル・トランジスタ
TNIの制御電極にそれぞれ接続され、第3のインバー
タI3の出力は、ノードN5において第4のインバータ
l4の入力に接続される.インバータIf、I2.I3
、I4はそれぞれ、従来からのCMOSインバータが望
ましく,第1のインバータIlのスイッチング・ポイン
トは、第3のインバータI3のスイッチング電圧または
入力電圧と大きく異なるように設計される.第1のイン
バータI1のスイッチング・ポイントは、第3のインバ
ータI3よりも低い電圧が望ましい,第2のインバータ
I2のスイッチング・ポイントは、第1のインバータI
tと実質的に同じ電圧が望ましく、第4のインバータ■
4のスイッチング・ポイント6,第3のインバータI3
と実質的に同じ電圧が望ましい.第1図の回路のクラン
プ電圧は,この回路およびこれに接続される他の回路の
3種の素子によって決定される. 第1図に示した本発明のCMOS電圧クランプ回路の動
作は、第2図を堅照すれば理解しやすい.第2図のグラ
フは、第1図の回路の遷移特性を示す.平衡インバータ
は,これの入力電圧が電源電圧の2分の1すなわち電圧
レベルがVDD/2に達したときに状態が切り替わるこ
とが知られている.このスイッチング・ポイントは、た
とえばインバータの素子またはトランジスタの幅と長さ
の比を変えることによってシフトすることができる.一
例を挙げると、CMOSインバータでは、Pチャネル・
トランジスタのチャネル幅を大きくすれば、インバータ
のスイッチング・ポイントは高い入力電圧にシフトする
. 第1図の電圧クランプ回路では,第3のインバータI3
と第4のインバータ■4のスイッチング・ポイントを第
1と7142のインバータのスイッチング・ポイントよ
りも高い電圧にシフトさせるのが望ましい.ここから7
j41のインバータ1)は.第3のインバータI3より
も低い電圧で付勢されるのが分かる. そこで、第2図に示した参照ウィンドウは、第1のイン
バータ1)と第3のインバータI3のスイッチング・ポ
イントによって決定される.ここで注意しておきたいこ
とは、第1のインバータ■lと第3のインバータI3の
スイッチング・ポイントが近接し゜て設定されていると
,参照ウィンドウは小さくなるということである.また
第2図のグラフから分かるとおり、ノードNlのクラン
プ電圧が参照ウィンドウより低いとき、ノードN4の電
圧は論理的にLOWであり、Nチャネル・トランジスタ
TNIはオフになる.そしてノードN2の電圧もLOW
であり、Pチャネル・トランジスタTPIはオンになる
.これによってノードN1のクランプ電圧が参照ウィン
ドゥの方へ引き上げられる.ノードN1のクランプ電圧
が参照ウィンドウより高いとき2ノードN2の電圧は論
理HIGHであり、Pチャネル・トランジスタTPIは
オフになる.そしてノードN4の電圧もHIG[1であ
り、Nチャネル・トランジスタTNIはオンになる.こ
れによってノードNlのクランプ電圧が参明ウィンドウ
の方へ引き下げられる.クランプ電圧が参照ウィンドウ
内であれば、ノードN2の電圧はl−{ I G H、
ノードN4(7)電圧はLOWであり、トランジスタT
PIとTNIは両方と6オフになる.ノードNlのクラ
ンプ電圧は、理想的には,第1のインバータ1)と第3
のインバータI3のスイッヂング・ポイント間の参閃ウ
ィンドウ内にとどまる. 参照ウィンドウのサイズは,入力/出力端子N1として
電圧クランプ回路に接続される回路(メモリ・アレイな
ど)の動作の耐電圧条件によって決定される.また寄生
コンデンサCによっても決定される.適正な参照ウィン
ドウ幅を設定するには、かなり注意を要する.参明ウィ
ンドウが狭すぎれば、クランプ回路はクランプ電圧レベ
ルの変化に充分高速に応答することができなくなる.そ
の場合、クランプ電圧は、クランプされていないウィン
ドウの上下の電圧で発振しやすくなる.かかる発振を防
ぐには,帰還インバータ■1、I2,■3、■4が.N
lでの電圧変化に応答して、ドライブ・トランジスタT
PIまたはTNIをオフにする一方、N1の電圧が参明
ウィンドウ内でなければならない.本発明による電圧ク
ランプ回路の参照ウィンドウ幅は.代表値で数6ミリボ
ルトである,負尚の大きい回路の場合、参明ウィンドウ
のサイズまたは幅を小さくすることができる.参照ウィ
ンドウのサイズは、Pチャネル・トランジスタTPIと
Nチャネル・トランジスタTNIのサイズにも依存し、
トランジスタのサイズが小さければ,すなわちトランジ
スタ・チャネルの幅と長さの比が小さければ,応答は、
比較的大きなトランジスタより6遅く、よってウィンド
ウを小さくできる.インバータ1).12、13.14
の素子またはトランジスタのサイズについては、トラン
ジスタTPl.TNlの場合と逆のルールが当てはまる
.インバータII、12、I3、■4の幅と長さの比を
大きくとると、応答は速くなり,小さい参照ウィンドウ
を安定性を失わずに維持できる. 直i(1)C)は,インバータがそのスイクヂング・ポ
イントの近くで動作する場合には,インバータにおいて
消費されること、またCMOSタイプのインバータにお
レ)ても〆肖費されることが知られている.これがこの
回路で起こるのは,クランプ7r1圧が参明ウィンドウ
に近いときである.消費M流(DC)を大幅に低下させ
るためには、この回路が比較的小型のトランジスタまた
は素子を用いるにしても、第1図の電圧クランプ回路は
、これに、第3図に示すようにゲート手段またはサンプ
リング手段とラッチ手段を追加することによって変更す
ることができる.第3図の電圧クランプ回路の素子は,
第1図の電圧クランプ回路の素子と同一または類似のも
のであり,参照符号や文字も同じである.インパータI
l.I2、I3,I4は、クロツク・サイクルの検知時
に,クロック・パルスN6がVDDであるとき電力を消
費する.そのときインバータII、■3はノードN1か
ら(T10とTl2を介して)入力を受け、それぞれの
スイッチング・ポイント付近で動作する.クロック・パ
ルスN6がオフになると,インバータはすべてCMOS
−杯のレベル(VDDまたはGND)までドライブされ
、インバータ【l、■2、13.I4の消費電力はゼロ
になる,TPIとTNIにとって望ましい状態は、クロ
ック・パルスがVDDであるときに決定される.TNl
とTPIは、クロック・パルスが次に立ち上がるまでこ
のような状態にとどまり,その時点で可変になる. 第3図に示すように、本発明による電圧クランプ回路の
インバータI1、■2、13.I4は、それぞれ従来の
CMO Sインバータであり、PチャネルとNチャネル
の電界効果トランジスタが電圧源端子VDDとグランド
との間に直列に接続されたものである.また第3図の回
路は、入力がノードN3すなわちインバータI1の出力
に接続された第5のインバータI5.および入力がノー
ドN5すなわちインバータI3の出力に接続された第6
のインバータを含む.インバータ■5、I6もそれぞれ
CMOSインバータと示している.ノードNlと第1の
インバータIfの入力との間には第1の転送ゲートまた
は遷移ゲートT10が、ノードNlと第3のインバータ
■3の入力との間には第2の転送ゲートまたは遷移ゲー
トT12が、第5のインバータI5の出力と第1のイン
バータ1)の入力との間には第3の転送ゲートまたは遷
移ゲートT14が、そして第6のインバータ■6の出力
と第3のインバータ■3の入力との間には第4の転送ゲ
ートまたは遷移ゲー} 1” 1 6が配置されている
.転送ゲートTIO、TI2、Ti4、Tl6はそれぞ
れ、並列に配置された従来のPチャネルおよびNチャネ
ルの電界効果トランジスタを含む.転送ゲートTIO.
TI2、Tl4、Tl6に制御電圧を印加するために、
クロック・パルス端子(ノード)N6が、このノードに
入力、ノードN7に出力を6つ第7のインバータI7と
ともに追加される.第7のインバータI7もCMOSタ
イプとしてよい.第3図に示した本発明による電圧クラ
ンプ回路の実施例は、第I図に示した回路と似ているが
、第1の変形箇所として,第1の転送ゲートTIOと第
2の転送ゲートTl2は,限られた時間内すなわちクロ
ック・パルス(N6)がVDDであるときを除いて、第
1のインバータ■1と第3のインバークI3の入力に電
圧Nlが印加されないように配置される.また第2の変
形箇所として、第1のラッチLLと第2のラッチL2が
形成される.これらのラッヂは、ノードN3とノードN
5のそれぞれから{得られた電圧を格納し、クロツク・
バルスN6がGNDであるときにVDDレベルまたはG
NDレベル一杯まで増幅する.第1のラッチL1は,第
3の転送ゲートT14によって完全に接続されたときは
第1のインバータIIと?55のインバータ■5を含み
、第2のラッチL2は,転送ゲート’I’ 1 6によ
って完全に接続されたときは第:3のインバータI3と
第6のインバータI6を含む. 第3図の回路のインバークItと13は、第2図のグラ
フに示した所望の参閃・クィンドゥを得るためには,第
1図のインバータ1).13と同じようにスイッチング
・ポイントが調整されなければならない. 第3図に示した本発明によるCMOS電圧クランプ回路
の動作は、基本的には第1図に示した電圧クランプ回路
の動作と似ているが、サンブリンクよたはゲート機能お
よびラッチ機能を付加した点が異なる.これらの機能は
、本発明による電圧クランプ回路においてDC消費電カ
を大幅に低下させるための6のである.第3図の回路が
動作面で6物理面で6第1図の回路と実質的に類似する
のは、特に端子N6のクロック・パルスがHIGHすな
わち論理lのときである.端子N6が高電圧のとき,ノ
ードN6はH T G fIでノードN7はLOW、そ
の結果、転送ゲートTIOとTl2はオンになり、転送
ゲートT14と716はオフになる.ゲートTl4とT
16がオフになると、ラッチLlとL2は解除され,ゲ
ートT10とT12がオンになると、ノードNlの電圧
は第1のインバータI1と第3のインバータ■3のそれ
ぞれに印加される.したがって第3図の回路は,この状
態では第1図の回路と同様である.ただしこの状態で、
ノードNlのクランプ電厘がインバータIl、■3のス
イッチング・ポイントに近い結果消費され得るDC電力
を最小にするかゼロにするために,端子CPのクロック
・パルスは低電圧すなわち論理0に切り替えられて5転
送ゲートTIO、TI2が才7 i.m、転送ゲート1
’l4.T16がオンにされる.ゲートTIO、TI2
がオフになると、ノードNlのクランプ電圧は、第1の
インバータI l’と第3のインパータ■3の入力に印
加されなくなるが、転送ゲート14,Tl6がオンにな
ると、第1のインバータIlと第5のインバータI5が
接続されてラッチLlが形成され、第3のインバータI
3と第6のインバータI6が接続されてラッチL2が形
成される.第1のラッヂLlの状態は,ノードN3の電
圧によって,第2のラッチL2の状態は、ノードN5の
電圧によってそれぞれ制御される.第5のインバータI
5と第6のインバータI6からの帰還によって2第1の
インバータIfと第3のインバータI3のそれぞれの入
力がドライブされで,電圧レベルがVDDまたはGND
一杯にまで引き上げられ、ノードN3、N5で検知され
た電圧にラッヂがかかり,回路の直流がオフになる.こ
のときインバータII.I2.15およびインバータI
3,I4、I6は,完全なCMOS状態にラッチされる
.それぞれの出力はVDD一杯の電圧レベルまたはグラ
ンドになる.このように.ノードNlの電圧を定期的に
サンプルすることにより、必要な補正が行われ、結果が
ラツチLl.L2に保持されて.DC消費電力が最小に
なるかまたはゼロになる. 第3図の回路の動作の具体的な側面は,第4図のグラフ
を見れば把握しやすい.第4図は,第3図の回路におけ
る各点を時間との関係で示している.ここでは2時間t
oよりも前に,入力/出力端子Nlのクランプ電圧はV
DD/2の電圧レベル、または少なくとち第2図に示し
た.llIQウィンドウ内にあり,よってPチャネル・
トランジスタTPIとNチャネル・トランジスタTNI
は両方ともオフであり、ノードN2はy DO 電圧レ
ベル、ノードN3はグランド、ノードN4はグランド,
そしてノードN5はVDD?ff圧レベルにあると仮定
する.そこで時間LOでは、ノードNlの電圧は参照ウ
ィンドウよりv−hのレベルにまで増加する.これには
いくつか原因がある.このような増加は、あるいは減少
でも、入力/出力端子N1において電圧クランプ回路に
接続された回路に生じる欠陥やリーク電流によって起こ
る.ノードNlのクランプ電圧がVDD電圧レベルより
上にあり,参照ウィンドウの外側にある時間tlでは、
端子CPのクロック・パルスがI{ I G I−1に
なりはじめ.ziの転送ゲートTIOと第2の転送ゲー
トTI2がオンになる.これにより、ノーFNl上の比
較的高いクランプ電圧が第1のインバータIfと第3の
インバータI3の入力に印加され、ラッチLl.L2が
解除される.第3のインバータI3の入力において電圧
が比較的高いと、インバータI3のPチャネル・トラン
ジスタはオフに、インバータI3のNチャネル・トラン
ジスタはオン側に傾き、その結果ノードN5が放電する
.ノードN5が放電すると、第4のインバータ■4のN
チャネル・トランジスタはオフになりはじめ、第4のイ
ンバータI4のPチャネル・トランジスタはオン側に傾
いて.ノードN4が充電され、Nチャネル・トランジス
タTNIがオンになり、これによってノードNlが放電
しやすくなる.時間L2では、ノードN6のクロック・
パルスはLOWになりはじめ,転送ゲートT10、TI
2がオフ、転送ゲートTl4.Tl6がオンになって,
ラッチLl.L2が有効になり,ノードN4の電圧がV
DDレベル一杯まで増加し,ノードN5の電圧がグラン
ドに落ちる.81間tlとt2との間では、ラッヂL
1が解除されて無効になるので、ノードN3の電圧は、
ノードN2の電圧を大きく変化させることなく,いくら
か増加する. 時間t3とt4との1)1.端子C I)およびノード
N6のクロック・パルスはグランドであり、よってラッ
チLl.L2はノードN3、N5をグランドに保つ.そ
の結果,ノードN2、N4の両方の電圧がこの期間にH
I G L{となる.したがってPチャネル・トラン
ジスタ’r p iは引き続きオフ、Nチャネル・トラ
ンジスタTNIはオンに固定される,その結果,ノード
Nlのクランプ電圧は、特間t3とt4との間で引き続
きM電する.時間t4で端子CPのクロック・パルスは
再び増加しはじめるが,ノードNlのクランプ電圧は、
低下するかVDD/2レベルに近づき、第3インバータ
I3の入力に印加される.第3のインバークr3の入力
側の電圧により,第3インバータI3のPチャネル・ト
ランジスタはオンに、インバータI3のNチャネル・ト
ランジスタはオフ側に傾く.そこで、ノードN5の電圧
は増加しはじめ、ノードN4の電圧は低下しはじめる.
時間t5では、ノードN6の電圧は低下しはじめ,再び
ラッチLl.L2が有効になる.その結果、ノードN5
の電圧はVDDレベルー杯にまで上昇し,ノドN4の電
圧はグランドに落ちる.時間がt4からt5に移る間、
ノードN3の電圧は,時間がLlからt2へ移る間に達
した値よりも高い値にまで上界する.これはインバータ
IIの入力に印加された電圧がここでは低下しているか
らである.時間t6において、ノードNlのクランプ電
圧は,参照ウィンドウ内にあり.VDD/2である.ノ
ードN3、N4、N6の電圧はグランド、ノードN5の
電圧はVDDレベルである.ここですぐ分かるように,
ノードN2の電圧は、時間toとL6との間で大きく変
化してはおらず、VDDレベルにとどまっている.その
ため,ノードN2の電圧は第4図のグラフには示してい
ない.また、ノードN7の電圧6、これがノードN6の
電圧を補うちのにすぎないので,第4図のグラフには示
していない.さらに、実際には、ノードNlの電圧を参
照ウィンドウより高い値からVDD/2レベルにまで下
げるのに2サイクル以上の動作が必要な場合がある. ノードNlのクランプ電圧が、時間toで参照ウィンド
ウの値よりも低い値に下がっていれば、ノードN3の電
圧はtlからt3までの期間にVDDレベルにまで増加
し,ノードN2の電圧はグランドに落ち、ノードN5の
電圧はVDDレベルから大きくずれることはなく,ノー
ドN4の電圧はグランドにとどまる.したがって、セl
からt4までの期間、,ノードNlは、Pチャネル・ト
ランジスタTPIを通して充電されてVDD/2の電圧
レベルになるか、そのレベルに近づき、Nチャネル・ト
ランジスタはオフのままである. 第2図に示し′た参照ウィンドウの幅と位置は、インバ
ータ1).12、I3、工4の寸法によって次のように
調節される.インバータのスイッチング・ポイントB
rを(Wp/L p)/ (Wn/L n )と等しく
する.ここでWpはインバータのI)チャネル・トラン
ジスタのチャネル幅、L pはインバータのPチャネル
素子のチャネル長.WnはインバータのNチャネル素子
の幅、LnはインバータのNチャネル・トランジスタの
チャネル長である.そこでインバータIf、■3のBr
が等しくなるようにすれば、参明ウィンドウはそれだt
ナ狭くなる.インバータIIと13の両方のBrを同じ
量だけ増加させれば、参明ウィンドウは右に,減少させ
れば左にシフトする. この電圧クランプ回路は、特に,ビット/検知ラインが
電源電圧の2分のlすなわちVDD/2まであらかじめ
充電される高密度のRAM (ランダム・アクセス・メ
モリ)に有益である.fi圧VDD/2は、ビット/検
知ラインをVDD″:t1圧レベルとグランドで同数に
して短絡または接続することによって得られる.ビット
/検知ラインは、共通のバスに短絡または接続され,よ
ってビット/検知ラインのいずれかに流れる不良M流が
、すべてのビット/検知ラインの事imに設定された充
電レベル(プリヂャージ・レベル)に影響する.ブリチ
ャージ・レベルがいずれかの方向にシフトしすぎる場合
は,メモリが機能しなくなる.したがって、この種の電
圧クランプ回路は、メモリの歩留りと信頼性を高める−
Lできわめて重要である. E.発明の効果 本発明による電圧クランプ回路は、電圧が振幅一杯まで
供給側のトランジスタ1’ P 1と吸収側のトランジ
スタTNIの両方に印加されるので,比較的小さなトラ
ンジスタまたは素子構成で比較的大きな″i流を供給ま
たは吸収できることが分かる.さらに本発明による電圧
クランプ回路は、高M流を扱うことができるので、性能
向上、消費電流(DC)の低減、および電圧安定度の向
上が可能である. 本発明は、特に実施例とあわせて説明したが、当業者に
は明らかなように、形式と詳細について様々に変更を加
えることは、本発明の精神と通用範囲から逸脱すること
なく可能である.
第1図は,本発明のCMOSクランプ回路の実施例を示
す回路図である。 第2図は、第1図に示したクランプ回路の遷移特性を示
す図である. 第3図は、本発明のCMOSクランプ回路の実施例であ
り,第2図に示した回路の変形例を示す回路図である. 第4図は.第3図に示したクランプ回路の各点における
電圧と時間の関係図である.
す回路図である。 第2図は、第1図に示したクランプ回路の遷移特性を示
す図である. 第3図は、本発明のCMOSクランプ回路の実施例であ
り,第2図に示した回路の変形例を示す回路図である. 第4図は.第3図に示したクランプ回路の各点における
電圧と時間の関係図である.
Claims (5)
- (1)第1と第2の電位基準点がある電圧源と、 制御電極を持ち、上記電圧源の上記第1と第2の電位基
準点の間に直列に接続された第1と第2のトランジスタ
と、 上記第1と第2のトランジスタに共通の点から上記第1
のトランジスタの上記制御電極に接続された第1の制御
手段と、 上記第1と第2のトランジスタに共通の上記の点から上
記第2のトランジスタの上記制御電極に接続され、上記
第1と第2の制御手段が付勢されるとき、これらに印加
される電圧のレベルが異なるように上記第1の制御手段
とは特性が異なる第2の制御手段とを含む、電圧クラン
プ回路。 - (2)第1と第2の電位基準点と、 所定の端子と、 上記第1の電位基準点と上記所定の端子との間に配置さ
れた所定の導電型の第1の素子と、上記第2の電位基準
点と上記所定の端子との間に配置された上記所定の導電
型とは逆の導電型の第2の素子と、 上記所定の端子と上記第1の素子の制御電極との間に配
置され、上記第1の素子の上記制御電極に、上記所定の
端子における電圧と同位相の電圧を印加する第1の手段
と、 上記所定の端子と上記第2の素子の制御電極との間に配
置され、上記第2の素子に、上記所定の端子における電
圧と同位相の電圧を印加する第2の手段とを含み、 上記第1と第2の手段が、異なる電圧レベルで付勢され
る特性を有する、電圧クランプ回路。 - (3)第1と第2の電位基準点と、 入力/出力端子と、 上記第1の電位基準点と上記入力/出力端子との間に接
続されたPチャネル電界効果トランジスタと、 上記第2の電位基準点と上記入力/出力端子との間に接
続されたNチャネル電界効果トランジスタと、 入力が上記入力/出力端子に、出力が第2のインバータ
の入力にそれぞれ接続された第1のインバータと、 出力が上記Pチャネル電界効果トランジスタの制御電極
に接続された第2のインバータと、入力が上記入力/出
力端子に、出力が第4のインバータの入力にそれぞれ接
続された第3のインバータと、 出力が上記Nチャネル電界効果トランジスタの制御電極
に接続された第4のインバータとを含み、 上記第1のインバータのスイッチング・ポイントが所定
の印加電圧であり、上記第3のインバータのスイッチン
グ・ポイントが上記所定の印加電圧とは異なる印加電圧
である、電圧クランプ回路。 - (4)第1と第2の電位基準点と、 入力/出力端子と、 上記第1の電位基準点と上記入力/出力端子との間に制
御電極が接続された第1の導電型のトランジスタと、 上記第2の電位基準点と上記入力/出力端子との間に制
御電極が接続された第2の導電型のトランジスタと、 入力が上記入力/出力端子に、出力が上記第1の導電型
のトランジスタの上記制御電極にそれぞれ接続された第
1の制御手段と、 入力が上記入力/出力端子に、出力が上記第2の導電型
のトランジスタの上記制御電極にそれぞれ接続された第
2の制御手段とを含み、 上記第1と第2の制御手段が、上記入力/出力端子にお
いて大きさの異なる電圧によって付勢される、電圧クラ
ンプ回路。 - (5)第1と第2の電位基準点と、 入力/出力端子と、 制御電極が上記第1の電位基準点と上記入力/出力端子
との間に接続されたPチャネル電界効果トランジスタと
、 制御電極が上記第2の電位基準点と上記入力/出力端子
との間に接続されたNチャネル電界効果トランジスタと
、 上記入力/出力端子に接続されたコンデンサと、 それぞれ入力と出力とを有し、第1のインバータの出力
が第2と第3のインバータの入力に接続され、上記第2
のインバータの出力が上記Pチャネル電界効果トランジ
スタの制御電極に接続された第1、第2、第3のインバ
ータと、 上記入力/出力端子と上記第1のインバータの入力との
間に接続された第1の転送ゲートと、上記第1のインバ
ータの入力と上記第3のインバータの出力との間に接続
された第2の転送ゲートと、 それぞれ入力と出力とを有し、第4のインバータの出力
が第5と第6のインバータの入力に接続され、上記第5
のインバータの出力が上記Nチャネル電界効果トランジ
スタの制御電極に接続され、上記第1のインバータのス
イッチング・ポイントが所定の電圧レベル、上記第4の
インバータのスイッチング・ポイントが上記所定の電圧
レベルよりも高い電圧である、第4、第5、第6のイン
バータと、 上記入力/出力端子と上記第4のインバータの入力との
間に接続された第3の転送ゲートと、上記第4のインバ
ータの入力と上記第6のインバータの出力との間に接続
された第4の転送ゲートと、 上記第1、第2、第3、第4の転送ゲートに接続されて
、上記第1と第3の転送ゲートを第1の期間にオンに、
第2の期間にオフにし、且つ上記第2と第4の転送ゲー
トを上記第1の期間にオフに、上記第2の期間にオンに
するクロック・パルス手段とを含む、電圧クランプ回路
。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US356917 | 1989-05-25 | ||
US07/356,917 US4958093A (en) | 1989-05-25 | 1989-05-25 | Voltage clamping circuits with high current capability |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0319516A true JPH0319516A (ja) | 1991-01-28 |
Family
ID=23403499
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2132772A Pending JPH0319516A (ja) | 1989-05-25 | 1990-05-24 | 電圧リミッタ回路 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4958093A (ja) |
EP (1) | EP0399226A3 (ja) |
JP (1) | JPH0319516A (ja) |
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-
1989
- 1989-05-25 US US07/356,917 patent/US4958093A/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-04-24 EP EP19900107764 patent/EP0399226A3/en not_active Ceased
- 1990-05-24 JP JP2132772A patent/JPH0319516A/ja active Pending
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EP0399226A3 (en) | 1991-10-02 |
EP0399226A2 (en) | 1990-11-28 |
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