JPS60246418A - 基準電位発生回路 - Google Patents
基準電位発生回路Info
- Publication number
- JPS60246418A JPS60246418A JP59102867A JP10286784A JPS60246418A JP S60246418 A JPS60246418 A JP S60246418A JP 59102867 A JP59102867 A JP 59102867A JP 10286784 A JP10286784 A JP 10286784A JP S60246418 A JPS60246418 A JP S60246418A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- potential
- reference potential
- transistor
- transistors
- invertors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F3/00—Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
- G05F3/02—Regulating voltage or current
- G05F3/08—Regulating voltage or current wherein the variable is dc
- G05F3/10—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
- G05F3/16—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
- G05F3/20—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
- G05F3/24—Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は同一半導体基板に集積されたMO8集積回路の
電源電位の変動に応答して基準電位を保持する基準電位
発生回路に関する。
電源電位の変動に応答して基準電位を保持する基準電位
発生回路に関する。
(従来の技術)
従来、基準電位発生回路は差動増幅器、MOSトランジ
スタメモリ等に多く用いられているが、消費電力及び電
流供給能力の面で大きな欠点があった。
スタメモリ等に多く用いられているが、消費電力及び電
流供給能力の面で大きな欠点があった。
第1図は従来の基準電位発生回路の一例の回路図である
。
。
この回路は、電源電位(以下■。Cと称す)と接地電位
(以下GNDと称す)との間に、ドレイ/とゲートを共
通接続されたMOSトラ/′)スタQ全複数個直列に接
続したものである。MOSトラ/ジスタQは、単なる抵
抗素子として機能し、この回路はいわゆる抵抗分割回路
を構成する。従って、第1図の回路は、■CCの変動に
応じて抵抗分割の比率によって定まる電位を発生する為
、基準電位発生回路として用いることができる。
(以下GNDと称す)との間に、ドレイ/とゲートを共
通接続されたMOSトラ/′)スタQ全複数個直列に接
続したものである。MOSトラ/ジスタQは、単なる抵
抗素子として機能し、この回路はいわゆる抵抗分割回路
を構成する。従って、第1図の回路は、■CCの変動に
応じて抵抗分割の比率によって定まる電位を発生する為
、基準電位発生回路として用いることができる。
しかしながら、第1図の回路においては、抵抗分割によ
って基準電位を発生させる為、単に電流全消費し、また
基準電位に対する電流供給能力を大きくする為には必要
な電流供給能力に応じて消費電流を増加させなければな
らない。従って、第1図に示すような基準電位発生回路
においては、消費電流が大きい割には小さな電流供給能
力しか得られないという欠点があった。
って基準電位を発生させる為、単に電流全消費し、また
基準電位に対する電流供給能力を大きくする為には必要
な電流供給能力に応じて消費電流を増加させなければな
らない。従って、第1図に示すような基準電位発生回路
においては、消費電流が大きい割には小さな電流供給能
力しか得られないという欠点があった。
(発明の目的)
本発明の目的は、上記欠点を除去し、低い消費電力で大
きな電流供給能力をもつ基準電位発生回路を提供するこ
とにある。
きな電流供給能力をもつ基準電位発生回路を提供するこ
とにある。
(発明の構成)
本発明の基準電位発生回路は、同−半導体基板罠互いに
しきい値の相異なる複数個のM OSインバータを設け
、該MOSインバータの入力節点を共通接続し、かつ基
準電位との差電位を検出して負帰還をかけるように接続
したことを特徴として構成される。
しきい値の相異なる複数個のM OSインバータを設け
、該MOSインバータの入力節点を共通接続し、かつ基
準電位との差電位を検出して負帰還をかけるように接続
したことを特徴として構成される。
(実施例)
次に、本発明の実施例について図面を用いて説明する。
以下の説明圧おいては、相補型MO8)う/ジスタ回路
(以下CMO8と称す)を例にもちいて説明を行なうが
、E/E型MOSインバータ、E/D型MOSインバー
タもしくは抵抗負荷型のMOSインバータを用いても同
様である。
(以下CMO8と称す)を例にもちいて説明を行なうが
、E/E型MOSインバータ、E/D型MOSインバー
タもしくは抵抗負荷型のMOSインバータを用いても同
様である。
第2図は本発明の第1の実施例の回路図である。
第2図において、0で囲んだトラフ′)スタHpチャ/
ネルMOSトラ/ジスタを示し、それ以外はNチャ/ネ
ルMOSトランジスタを示す。
ネルMOSトラ/ジスタを示し、それ以外はNチャ/ネ
ルMOSトランジスタを示す。
トランジスタQ21とQ2□は一つのCMOSインバー
タを構成し、トランジスタQ23とQ24は他の一つの
0MO8インバータを構成し、これらのインバータは互
いにしきい値が異なるように構成されている。インバー
タ(Q21 、 Q22 )は、そのしきい値が基準電
位より少し低めになるようにインバータ比が設定されて
おり、インバータ(Q23゜Q24)は反対にそのしき
い値が基準電位より少し高めになるように設定されてい
る。
タを構成し、トランジスタQ23とQ24は他の一つの
0MO8インバータを構成し、これらのインバータは互
いにしきい値が異なるように構成されている。インバー
タ(Q21 、 Q22 )は、そのしきい値が基準電
位より少し低めになるようにインバータ比が設定されて
おり、インバータ(Q23゜Q24)は反対にそのしき
い値が基準電位より少し高めになるように設定されてい
る。
上記二つのインバータの入力端は共通に節点N21に接
続される。二つのインバータの出力は次段のCMOSイ
ンバータ(Q25 、 Q26 ) 、 (Q27 、
Q2g)を通してトランジスタQ2Q Q2Aより成る
ドライブ回路に入力され、基準電位との差電圧が検出さ
れ、節点N21からインバータ(Q21.Q2□)。
続される。二つのインバータの出力は次段のCMOSイ
ンバータ(Q25 、 Q26 ) 、 (Q27 、
Q2g)を通してトランジスタQ2Q Q2Aより成る
ドライブ回路に入力され、基準電位との差電圧が検出さ
れ、節点N21からインバータ(Q21.Q2□)。
(Q23.Q24)の入力端に負帰還される。
第3図は第2図に示すトランジスタQ 211 Q 2
2及びトランジスタQ231Q24で構成されるCMO
Sインバータの入出力特性図である。
2及びトランジスタQ231Q24で構成されるCMO
Sインバータの入出力特性図である。
曲線1がトランジスタQ21+Q22 で構成される0
MO8インバータの入出力特性であり、曲線2がトラン
ジスタQ231Q24で構成されるCMOSインバータ
の入出力特性である。第3図かられかるように、二つの
インバータはしきい値が異っている。
MO8インバータの入出力特性であり、曲線2がトラン
ジスタQ231Q24で構成されるCMOSインバータ
の入出力特性である。第3図かられかるように、二つの
インバータはしきい値が異っている。
次に、この実施例の動作について説明する。
節点N21の電位がトランジスタQ2□lQ2□で構成
される0MO8インバータのしきい値エリ低いと、トラ
ンジスタQ21 + Q 2□で構成てれるCMOSイ
ンバータの出力節点N、、□は高電位となる。一方、ト
ランジスタQ 231 Q 24で構成されるCMOS
インバータの出力節点N23の電位は、入力節点である
N21の電位がしきい値より低い為、高電位となる。節
点N2□の電位はトランジスタQ251Q26で構成さ
れる0MO8インバータの入力信号となるが、節点N2
□は高電位である為、出力節点N24は低電位となる。
される0MO8インバータのしきい値エリ低いと、トラ
ンジスタQ21 + Q 2□で構成てれるCMOSイ
ンバータの出力節点N、、□は高電位となる。一方、ト
ランジスタQ 231 Q 24で構成されるCMOS
インバータの出力節点N23の電位は、入力節点である
N21の電位がしきい値より低い為、高電位となる。節
点N2□の電位はトランジスタQ251Q26で構成さ
れる0MO8インバータの入力信号となるが、節点N2
□は高電位である為、出力節点N24は低電位となる。
節点N23の電位も同様にトランジスタQ 27 r
Q 2g で構成でれる0MO8インバータを介して、
節点Nz5t低電位とする。従って、トランジスタQ2
9 、Q2A Vi、共にゲートの電位が低電位となる
為に、Pチャ/ネルトランジスタQ211はオフ状態と
なり、節点N21は■ccからトランジスタQ29を介
して電流が供給される。NチャノネルトランジスタQ2
Aはゲートが低電位となる為にオフ状態である。
Q 2g で構成でれる0MO8インバータを介して、
節点Nz5t低電位とする。従って、トランジスタQ2
9 、Q2A Vi、共にゲートの電位が低電位となる
為に、Pチャ/ネルトランジスタQ211はオフ状態と
なり、節点N21は■ccからトランジスタQ29を介
して電流が供給される。NチャノネルトランジスタQ2
Aはゲートが低電位となる為にオフ状態である。
節点N21の電位がトランジスタQ2□IQ22で構成
される0MO8インバータのしきい値より高く、かつト
ランジスタQ z3+ Q 24 で構成されるCMO
Sインバータのしきい値より低い場合は、トランジスタ
Q H+ Q 22で構成されるCMOSインバータの
出力節点N2□が低電位となり、従ってトランジスタQ
25 * Q26で構成されるCMOSインバータの出
力節点N24は高電位となるが、トランジスタQ 23
1 Q 24で構成されるCMOSインバータの出力節
点N23が高電位である為、節点N2Sは低電位となる
。よって、トランジスタQ29及びトランジスタQ2A
は共にオフ状態となり、節点N21は、フロート状態と
なる。
される0MO8インバータのしきい値より高く、かつト
ランジスタQ z3+ Q 24 で構成されるCMO
Sインバータのしきい値より低い場合は、トランジスタ
Q H+ Q 22で構成されるCMOSインバータの
出力節点N2□が低電位となり、従ってトランジスタQ
25 * Q26で構成されるCMOSインバータの出
力節点N24は高電位となるが、トランジスタQ 23
1 Q 24で構成されるCMOSインバータの出力節
点N23が高電位である為、節点N2Sは低電位となる
。よって、トランジスタQ29及びトランジスタQ2A
は共にオフ状態となり、節点N21は、フロート状態と
なる。
節点N 2.の電位がトランジスタQ2□、Q22及び
トランジスタQ 231 Q 24で構成されるCMO
Sインバータの双方のしきい値より高いと、節点N2□
。
トランジスタQ 231 Q 24で構成されるCMO
Sインバータの双方のしきい値より高いと、節点N2□
。
N23の電位は共に低電位となり、節点N24 r N
25は共に高電位となる為、トランジスタQ29はオフ
状態、トランジスタQ2Aはオフ状態となり、出力節点
N2□はトランジスタQ2A1に介してGNDに接続さ
れる。
25は共に高電位となる為、トランジスタQ29はオフ
状態、トランジスタQ2Aはオフ状態となり、出力節点
N2□はトランジスタQ2A1に介してGNDに接続さ
れる。
以上説明したように、この実施例の基準電位発生回路は
、出力節点の電位が上昇すると、トラ/’)ス1Q2A
VCよりGNDと導通状態となり、また電位が低下する
とトランジスタQ29により■。Cと導通状態となる為
、基準電位に対して大きな電流供給能力をもち、また消
費電流はトランジスタQ211Q22及びトランジスタ
Q 23 r Q 24で構成される0MO8インバー
タの貫通を流のみであり電流供給能力に対し極めて小さ
くすることが可能である。
、出力節点の電位が上昇すると、トラ/’)ス1Q2A
VCよりGNDと導通状態となり、また電位が低下する
とトランジスタQ29により■。Cと導通状態となる為
、基準電位に対して大きな電流供給能力をもち、また消
費電流はトランジスタQ211Q22及びトランジスタ
Q 23 r Q 24で構成される0MO8インバー
タの貫通を流のみであり電流供給能力に対し極めて小さ
くすることが可能である。
′第4図は本発明の第2の実施例の回路図である。
第4図に示す実施例において、トランジスタQ4□。
Q4A及びトランジスタQ4c+ Q4E は第3図の
トランジスタQ211Q2□及びトランジスタQ23゜
Q24に相当する。入力信号φ4□、φ4□及びトラン
ジスタQ41 r Q42 r Q43 + Q44
r Q45 + Q461Q48 + Q49 r Q
4B r Q 4Dで構成される回路L1信号φ41.
φ4□が共に高電位になった場合のみ、第4図の回路が
第2図に示す回路と同様の動作をするように構成されて
おり、信号φ41.φ4□により基準電位発生回路が断
続的に動作する為、消費電流をより低下させることが可
能である。信号φ4□、φ4□は、例えば第4図の回路
を1/2vCcをデジット線のプリチャージ電位とする
MOSダイナミツクラ/ダムアクセスメモリのプリチャ
ージ電位の維持に用いる場合には、信号φ41として基
準電位発生に用いる発振器の出力信号を、信号φ4□と
して該メモリが非活性化状態になるとそれに同期して高
電位になる信号を用いることにより、該メモリの非活性
時の電源電位の変動もしくはリ−り電流によるプリチャ
ージ電位の変動を抑えて、デジット線の電位を低い消費
電流で常に2vCCに保つことを可能とする。
トランジスタQ211Q2□及びトランジスタQ23゜
Q24に相当する。入力信号φ4□、φ4□及びトラン
ジスタQ41 r Q42 r Q43 + Q44
r Q45 + Q461Q48 + Q49 r Q
4B r Q 4Dで構成される回路L1信号φ41.
φ4□が共に高電位になった場合のみ、第4図の回路が
第2図に示す回路と同様の動作をするように構成されて
おり、信号φ41.φ4□により基準電位発生回路が断
続的に動作する為、消費電流をより低下させることが可
能である。信号φ4□、φ4□は、例えば第4図の回路
を1/2vCcをデジット線のプリチャージ電位とする
MOSダイナミツクラ/ダムアクセスメモリのプリチャ
ージ電位の維持に用いる場合には、信号φ41として基
準電位発生に用いる発振器の出力信号を、信号φ4□と
して該メモリが非活性化状態になるとそれに同期して高
電位になる信号を用いることにより、該メモリの非活性
時の電源電位の変動もしくはリ−り電流によるプリチャ
ージ電位の変動を抑えて、デジット線の電位を低い消費
電流で常に2vCCに保つことを可能とする。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、本発明によれば、低い消費
電力で大きな電流供給能力をもつ基準電位発生回路t−
得ることができるという効果が得られる。
電力で大きな電流供給能力をもつ基準電位発生回路t−
得ることができるという効果が得られる。
第1図は従来の基準電位発生回路の一例の回路図、第2
図は本発明の第1の実施例の回路図、第3図は第2図に
示すトランジスタQ211Q22 及びトランジスタQ
231Q24で構成されるCMOSインバータの入出力
特性図、第4図は本発明の第2の実施例の回路図である
。 1・・・・・・トランジスタQ 21 r Q 22
で構成される0MO8インバータの入出力特性曲線、2
・・・・・・トランジスタQ 23 p Q 24で構
成されるCMOSインバータの入出力特性曲線、N2□
〜N25 r N41〜N462・・・・・節点、Q・
・・・・・MOSトランジスタ、Q4RIQ4Cr Q
4F + Q4Hr Q4K + Q211Q23 +
Q251 Q 2□1Q291Q4□+ Q42 +
Q45 + Q47゜Q48・・・・・・Pチャ/ネル
MOSトランジスタ%Q4AIQ4D r Q4E +
Q10 + Q4J + Q4υl Q22 rQ2
41Q26 +Qza 1Q431Q441 Q461
Q49・・・・・・Nチャ/ネルMO8トランジスタ。 第1図 第3図 第2図 第4図
図は本発明の第1の実施例の回路図、第3図は第2図に
示すトランジスタQ211Q22 及びトランジスタQ
231Q24で構成されるCMOSインバータの入出力
特性図、第4図は本発明の第2の実施例の回路図である
。 1・・・・・・トランジスタQ 21 r Q 22
で構成される0MO8インバータの入出力特性曲線、2
・・・・・・トランジスタQ 23 p Q 24で構
成されるCMOSインバータの入出力特性曲線、N2□
〜N25 r N41〜N462・・・・・節点、Q・
・・・・・MOSトランジスタ、Q4RIQ4Cr Q
4F + Q4Hr Q4K + Q211Q23 +
Q251 Q 2□1Q291Q4□+ Q42 +
Q45 + Q47゜Q48・・・・・・Pチャ/ネル
MOSトランジスタ%Q4AIQ4D r Q4E +
Q10 + Q4J + Q4υl Q22 rQ2
41Q26 +Qza 1Q431Q441 Q461
Q49・・・・・・Nチャ/ネルMO8トランジスタ。 第1図 第3図 第2図 第4図
Claims (1)
- 同一半導体基板に互いにしきい値の相異なる複数個のM
OSインバータを設け、該MOSイノノ(−タの入力節
点を共通接続し、かつ基準電位との差電位を検出して負
帰還をかけるように接続したことを特徴とする基準電位
発生回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59102867A JPS60246418A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 基準電位発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59102867A JPS60246418A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 基準電位発生回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60246418A true JPS60246418A (ja) | 1985-12-06 |
Family
ID=14338854
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59102867A Pending JPS60246418A (ja) | 1984-05-22 | 1984-05-22 | 基準電位発生回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60246418A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01124012A (ja) * | 1987-11-09 | 1989-05-16 | Sanyo Electric Co Ltd | 中間電位発生回路 |
EP0399226A2 (en) * | 1989-05-25 | 1990-11-28 | International Business Machines Corporation | Voltage clamping circuit |
EP0405105A2 (en) * | 1989-06-13 | 1991-01-02 | International Business Machines Corporation | Reference voltage generator for precharging bit lines of a transistor memory |
JPH0315915A (ja) * | 1989-03-01 | 1991-01-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 基準電圧発生回路 |
EP1217662A1 (en) * | 2000-12-21 | 2002-06-26 | Universite Catholique De Louvain | Ultra-low power basic blocks and their uses |
-
1984
- 1984-05-22 JP JP59102867A patent/JPS60246418A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01124012A (ja) * | 1987-11-09 | 1989-05-16 | Sanyo Electric Co Ltd | 中間電位発生回路 |
JPH0315915A (ja) * | 1989-03-01 | 1991-01-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 基準電圧発生回路 |
EP0399226A2 (en) * | 1989-05-25 | 1990-11-28 | International Business Machines Corporation | Voltage clamping circuit |
EP0405105A2 (en) * | 1989-06-13 | 1991-01-02 | International Business Machines Corporation | Reference voltage generator for precharging bit lines of a transistor memory |
EP0405105A3 (en) * | 1989-06-13 | 1991-10-23 | International Business Machines Corporation | Reference voltage generator for precharging bit lines of a transistor memory |
EP1217662A1 (en) * | 2000-12-21 | 2002-06-26 | Universite Catholique De Louvain | Ultra-low power basic blocks and their uses |
WO2002050911A1 (en) * | 2000-12-21 | 2002-06-27 | Universite Catholique De Louvain | Ultra-low power basic blocks and their uses |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5488321A (en) | Static high speed comparator | |
US4584492A (en) | Temperature and process stable MOS input buffer | |
US4695748A (en) | Comparing device | |
US4307333A (en) | Two way regulating circuit | |
JPH04291608A (ja) | 電源回路 | |
US5414379A (en) | Output buffer circuit for integrated circuit | |
US5355028A (en) | Lower power CMOS buffer amplifier for use in integrated circuit substrate bias generators | |
US6104234A (en) | Substrate voltage generation circuit | |
US4742247A (en) | CMOS address transition detector with temperature compensation | |
US4093875A (en) | Field effect transistor (FET) circuit utilizing substrate potential for turning off depletion mode devices | |
KR100307637B1 (ko) | 부스팅 커패시터를 구비하는 입력버퍼 회로 | |
US4464581A (en) | Trigger pulse generator | |
JPS60246418A (ja) | 基準電位発生回路 | |
JPH0399516A (ja) | レベル変換回路 | |
JPH04238197A (ja) | センスアンプ回路 | |
JPH09282880A (ja) | 半導体集積回路 | |
US4908794A (en) | Semiconductor memory device with improved output circuit | |
JPH04115622A (ja) | カレントミラー型増幅回路及びその駆動方法 | |
KR930009150B1 (ko) | 반도체 회로장치 | |
JP2527050B2 (ja) | 半導体メモリ用センスアンプ回路 | |
US4435656A (en) | Phase inverter circuit | |
JP3224712B2 (ja) | 論理&レベル変換回路及び半導体装置 | |
US4439691A (en) | Non-inverting shift register stage in MOS technology | |
JPS601708B2 (ja) | 感知回路 | |
JP2000163970A (ja) | バックバイアス回路 |