JPH0316712B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は目的とする記憶領域もしくはその周辺
に欠陥（デイフエクテイブスポツト）が存在する
場合に代替の記憶領域を自動的にアクセスする磁
気デイスク装置に関する。

磁気デイスク装置において各種情報を記憶する
ために用いられるデイスクは、多かれ少なかれ何
らかの欠陥（デイフエクテイブスポツト）を有し
ている。このような欠陥を有するデイスクにあつ
ては、１デイスクアドレスが割り当てられる最小
記憶領域（通常の最小記憶領域）すなわちセク
タ、更には一定数のセクタの集合でなるトラツク
の幾つかが使用不可能となる恐れがある。しか
し、ホスト計算機側で、デイスク内の使用可能な
領域と使用不可能な領域とを認識し、この認識に
基づいてデイスクをリード／ライトすることは不
可能である。そこで、デイスクに予備領域（予備
セクタ、更には予備トラツク）を設けておき、使
用不可能なセクタ（欠陥セクタ）または使用不可
能なトラツク（欠陥トラツク）内のセクタをアク
セスする場合、磁気デイスク装置の内部制御によ
つて上記予備領域の該当するセクタを代替セクタ
として用いる方法が一般的に採用されている。

第１図および第２図は欠陥トラツク（または欠
陥セクタ）の代替えのための予備領域を備えた従
来のデイスクのフオーマツトを示すものである。
まず第１図を参照して従来の磁気デイスク装置に
おける制御動作について説明する。図中、Ｔ０〜
Ｔ６，TSP０〜TSP３はデイスクの物理的なト
ラツク位置を示し、このうちTSP０〜TSP３は
予備トラツクである。Ｓ０〜Ｓ８はセクタの物理
位置を示し、第１図の例では１トラツク当り９セ
クタに分割されている。また、各トラツク（Ｔ
０，Ｔ４，Ｔ５，TSP０〜TSP３）の各セクタ
位置ごとに記されている２桁の数値列はデイスク
に書き込まれているデイスクアドレスを示すもの
で、上位桁はトラツク番号、下位桁はセクタ番号
をそれぞれ示している。たとえば「01」はトラツ
ク０、セクタ１を、「40」はトラツク４、セクタ
０を示している。また、Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，Ｔ６
の各セクタ位置ごとに記されているTSP０〜
TSP３は代替トラツク位置（代替トラツクのト
ラツクアドレス）を示している。これは、Ｔ１，
Ｔ２，Ｔ３，Ｔ６に欠陥（デイフエクテイブスポ
ツト）が存在するために、それぞれ予備トラツク
TSP０，TSP１，TSP２，TSP３を代替トラツ
クとして使用することを指示するものである。た
とえばデイスクアドレス「10」をアクセスする場
合、磁気デイスク装置内のデイスク制御装置は、
まずデイスクの該当する物理位置のセクタすなわ
ちＴ１，Ｓ０セクタのヘツダ部の内容をリードす
ることにより、代替トラツクTSP０のアドレス
を知る。次にデイスク制御装置は上記アドレスで
指定されているトラツクTSP０をあたかもトラ
ツクＴ１としてTSP０，Ｓ０セクタをアクセス
する。なお、Ｔ１，Ｓ０セクタのヘツダ部にデイ
フエクテイブスポツトが存在する場合にはリード
エラーとなり、代替トラツクTSP０のアドレス
を知ることができないため、デイスク制御装置は
後続するセクタすなわちＴ１，Ｓ１セクタのヘツ
ダ部をリードする。この動作はヘツダ部がエラー
なくリードされるまで続けられる。第１図および
上述の説明で明らかなように、トラツクＴ１の各
セクタには予備トラツクTSP０のアドレスが書
き込まれており、Ｔ１，Ｓ０〜Ｔ１，Ｓ８のうち
１セクタでもエラーなくヘツダ部がリードできれ
ばトラツクTSP０を代替トラツクとして使用す
ることができる。TSP０，Ｓ０セクタにはデイ
スクアドレス「10」が書き込まれており、目的の
セクタがアクセスされたことになる。すなわち、
トラツクＴ１が欠陥トラツクである場合に、その
代替トラツクTSP０が見かけ上トラツクＴ１と
してアクセスされる。しかし、上述の方式では、
１トラツクを構成するセクタ群のたとえ１セクタ
だけにしかデイフエクテイブスポツトが存在しな
い場合でも、当該トラツクに代えて代替トラツク
を使用するため、多数の代替トラツクを必要と
し、デイスクの実質的な記憶容量が著しく減少す
る欠点があつた。また、上述の方式では、代替ト
ラツクをアクセスするのにシーク動作を必要とす
る場合が殆んどであり、処理速度が著しく低下す
る欠点もあつた。

次に第２図のフオーマツトが適用される従来の
磁気デイスク装置における制御動作について説明
する。図中SPは予備トラツク、×はデイフエクテ
イブセクタ（欠陥セクタ）を示している。ここで
はデイフエクテイブスポツトの存在をセクタ単位
で問題にする場合に、該当セクタをデイフエクテ
イブセクタ（欠陥セクタ）と称している。第２図
の例では、トラツクＴ０〜Ｔ６についてはそれぞ
れセクタＳ８を予備セクタとし、トラツクTSP
０〜TSP３については全セクタを予備セクタと
している。そして、第２図に示されるようにトラ
ツクＴ１のセクタＳ３（Ｔ１，Ｓ３セクタ）がデ
イフエクテイブセクタである場合、当該セクタの
代替セクタはＴ１，Ｓ８セクタに置かれる。ま
た、トラツクＴ２のセクタＳ２，Ｓ５のように１
トラツク当り２セクタ以上のデイフエクテイブセ
クタの存在に対しては、１つのデイフエクテイブ
セクタたとえばＴ２，Ｓ２セクタの代替セクタは
同一トラツクＴ１の予備セクタ（Ｔ１，Ｓ８セク
タ）に置かれ、残りのデイフエクテイブセクタた
とえばＴ２，Ｓ５セクタの代替セクタは予備トラ
ツクTSP０のセクタＳ０（TSP０，Ｓ０セクタ）
に置かれる。すなわち、Ｔ１，Ｓ８セクタのヘツ
ダ部にデイスクアドレス「13」が、Ｔ２，Ｓ８セ
クタのヘツダ部にデイスクアドレス「22」が、
TSP０，Ｓ０のセクタのヘツダ部にデイスクア
ドレス「25」がそれぞれ書き込まれている。この
方式では、デイフエクテイブセクタのヘツダ部で
代替アドレスを示す必要がある。しかし、当該ヘ
ツダ部にデイフエクテイブスポツトが存在する場
合にはリードエラーとなつて代替アドレスを知る
ことができなくなるため、同じセクタ内のデイフ
エクテイブスポツトの存在しない部分で代替アド
レスを示す特別の制御が必要となる欠点があつ
た。しかも、代替アドレスを示すためのエラー部
分を有さないデイフエクテイブセクタが存在する
場合には上述の方式は適用不可能となり、第１図
の場合と同様にトラツク単位で代替えをしなけれ
ばならなかつた。したがつて、デイフエクテイブ
セクタが１トラツク当り１セクタの場合には、第
１図の場合に比較して予備トラツク数は少なくて
済むが、２セクタ以上存在する場合には必要とす
る予備トラツク数は第１図の場合とほぼ同程度で
あり、やはりデイスクの実質的な記憶容量の減少
は避けられなかつた。

ところで、デイスクアクセスは一般に特定の１
セクタだけを対象とすることはなく、連続する多
数のセクタを対象として行なわれる。上述の方式
において、たとえばトラツクＴ２の全セクタを順
次アクセスする場合、その（データ部に対する）
アクセス順はＴ２，Ｓ０→Ｔ２，Ｓ１→Ｔ２，Ｓ
８→Ｔ２，Ｓ３→Ｔ２，Ｓ４→TSP０，Ｓ０→
Ｔ２，Ｓ６→Ｔ２，Ｓ７となる。ここで、Ｔ２，
Ｓ１→Ｔ２，Ｓ８，Ｔ２，Ｓ８→Ｔ２，Ｓ３，Ｔ
２，Ｓ４→TSP０，Ｓ０，TSP０，Ｓ０→Ｔ２，
Ｓ６については、隣接するセクタへのアクセスで
はなくなるため、トラツクＴ０のようにデイフエ
クテイブセクタがない場合にくらべて著しくアク
セス速度が低下する。しかも上述の例ではトラツ
クの移動が２回発生するためより一層の遅れが発
生する。また、デイフエクテイブセクタが１セク
タだけしか存在しない、たとえばトラツクＴ１の
場合でも、上述の方式ではＴ１，Ｓ２→Ｔ１，Ｓ
８，Ｔ１，Ｓ８→Ｔ１，Ｓ４の如く隣接するセク
タへのアクセスでなくなる場合が２回発生し、や
はりアクセス速度が低下する欠点があつた。

本発明は上記事情に鑑みてなされたものでその
目的は、欠陥を有するデイスクの実質的な記憶容
量を増加し、かつアクセス速度が高速化できる磁
気デイスク装置を提供することにある。

以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明
する。第３図は磁気デイスク装置１０の構成を示
すものである。磁気デイスク装置１０はデイスク
装置１０１とデイスク制御装置１０２とを有して
いる。デイスク装置１０１はデイスク１０３の駆
動／停止を行なうデイスク駆動機構、磁気ヘツド
を移動させて所望のトラツクへ位置付けするアク
セス（シーク）機構、デイスク１０３へのデータ
書込み／読出しを行なう書込み／読出し機構（い
ずれも図示せず）など周知の構成を有している。

第４図はデイスク１０３のフオーマツトの一例
を示すもので、第２図のデイスクフオーマツトと
同様にトラツクＴ０〜Ｔ６の各Ｓ８セクタが予備
セクタ（予備の最小記憶領域）として用いられ、
トラツクTSP０〜TSP３が予備トラツクとして
用いられる。ただし、以下に詳述するように、本
実施例におけるデイスクのデイフエクテイブセク
タの代替え割り当ての仕方は第２図とは異なつて
いる。トラツクＴ０はデイフエクテイブセクタが
存在しない場合であり、Ｓ８セクタは予備セクタ
として残される。トラツクＴ１はデイフエクテイ
ブセクタが１セクタ（Ｔ１，Ｓ３セクタ）存在す
る場合である。ここでは、Ｔ１，Ｓ３セクタ〜Ｔ
１，Ｓ７セクタのヘツダ部に本来書き込まれるべ
きデイスクアドレス「13」〜「17」は、それぞれ
次のセクタすなわちＴ１，Ｓ４セクタ〜Ｔ１，Ｓ
８セクタのヘツダ部に書き込まれている。すなわ
ち本実施例では、デイフエクテイブセクタである
Ｔ１，Ｓ３セクタから後続するＴ１，Ｓ４セクタ
〜Ｔ１，Ｓ７セクタに至る各セクタのデイスクア
ドレス「13」〜「17」を１セクタずつ順次後のセ
クタにずらして割り当てることによつて、デイフ
エクテイブセクタの代替えを行なうようにデイス
クがフオーマツトされている。したがつて、図か
ら明らかなようにトラツクＴ１の予備セクタ（Ｔ
１，Ｓ８セクタ）には正常セクタであるＴ１，Ｓ
７セクタに割り当てられるべきデイスクアドレス
「17」が割り当てられる。この場合、デイフエク
テイブセクタであるＴ１，Ｓ３セクタの直接の代
替セクタは正常セクタであるＴ１，Ｓ４セクタで
ある。

トラツクＴ２はデイフエクテイブセクタが２セ
クタ（Ｔ２，Ｓ２セクタ、Ｔ２，Ｓ５セクタ）存
在する場合であり、Ｔ２，Ｓ２セクタ〜Ｔ２，Ｓ
７セクタのヘツダ部に本来書き込まれるべきデイ
スクアドレス「22」〜「27」は、それぞれ次のセ
クタ、もしくは次のセクタがデイフエクテイブセ
クタである場合には更に次のセクタ、もしくは次
のセクタが存在しないためオーバフローする場合
には次のトラツクの先頭セクタ（Ｓ０セクタ）、
すなわちＴ２，Ｓ３セクタ、Ｔ２，Ｓ４セクタ，
Ｔ２，Ｓ６セクタ〜Ｔ２，Ｓ８セクタ、Ｔ３，Ｓ
０セクタのヘツダ部に書き込まれている。トラツ
クＴ３〜Ｔ５についても同様の手順でヘツダ部が
形成されている。トラツクＴ４はデイフエクテイ
ブセクタが存在しない場合であるが、先行するト
ラツクＴ３からのオーバーフローにより、Ｔ４，
Ｓ０セクタにデイスクアドレス「37」が割り当て
られるため、デイスクアドレス「40」〜「47」の
割り当て先を、本来の割り当て先であるＴ４，Ｓ
０セクタ〜Ｔ４，Ｓ７セクタから順に１セクタず
つ後にずらして、Ｔ４，Ｓ１セクタ〜Ｔ４，Ｓ８
セクタに変更してある。

トラツクＴ６はデイフエクテイブセクタが３セ
クタ（Ｔ６，Ｓ１セクタ、Ｔ６，Ｓ５セクタ、Ｔ
６，Ｓ６セクタ）存在する場合である。トラツク
Ｔ６にデイフエクテイブセクタが２セクタ以上存
在する場合には、上述の如き手順でデイスクアド
レスのずらし割り当てが行なわれた際に、トラツ
クＴ６からのオーバーフローが発生するために、
オーバフローしたデイスクアドレスについては、
予備トラツクTSP０内の予備セクタを順に使用
する。

なお、第４図のデイスクフオーマツトには図示
されていないが、各セクタのヘツダ部には、デイ
フエクテイブセクタと正常セクタを区別するため
のデイフエクテイブセクタフラグ、更にはエラー
チエツクのためのCRC（Cyclic Redundancy
Check）情報なども書き込まれている。

再び第３図を参照すると１０４はデイスク制御
装置１０２に中心を成す制御部である。制御部１
０４は演算制御装置２０から与えられる指令を解
読してデイスク装置１０１をアクセス制御する機
能を有する。制御部１０４には目的トラツク上
（の或るセクタ）から読み出されたヘツダ部のデ
イフエクテイブセクタフラグが保持されるフラグ
レジスタ１０５が設けられている。制御部１０４
は、フラグレジスタ１０５を参照し、対応するセ
クタがデイフエクテイブセクタであるか否かを判
断し、デイフエクテイブセクタと判断した場合に
後続する物理位置のセクタのヘツダ部、もしくは
リード状態にあるセクタが最後尾のセクタであれ
ば次のトラツクの先頭セクタのヘツダ部に対する
リード動作を行なう機能を有している。また制御
部１０４は、ヘツダ部の内容が正しく読み取れな
かつた（リードエラー）の場合、更にはヘツダ部
で示されているデイスクアドレスが目的とするデ
イスクアドレスに一致しなかつた場合にもデイフ
エクテイブセクタ検出時と同様なリード動作を行
なう機能を有している。なお、本実施例におい
て、制御部１０４はシーク後のセクタアクセスに
際し、物理位置上のデイスクアドレスが目的とす
るデイスクアドレスより小さいか等しいセクタか
らヘツダ部のリード動作を行なうようになつてい
る。１０６は制御部１０４と演算制御装置２０と
の間のコントロールライン、１０７は制御部１０
４とデイスク装置１０１との間のコントロールラ
インである。１０８は制御部１０４のインタフエ
ースとしてのドライバ／レシーバ、１０９はドラ
イバ／レシーバ１０９を介して演算装置２０、デ
イスク装置１０１にそれぞれ接続されるデータラ
インである。

次に本発明一実施例の動作を第５図のフローチ
ヤートを参照して説明する。たとえば、演算制御
装置２０からデータライン１０９およびコントロ
ールライン１０６を介してデイスク制御装置１０
２の制御部１０４にデイスクアクセス指令が与え
られ、当該指令がデイスクアドレス「13」へのア
クセス指令であるものとする。制御部１０４は当
該指令を解読してトラツクＴ１のＳ３セクタへの
アクセスであることを判断し、データライン１０
９およびコントロールライン１０７を介してデイ
スク装置１０１に対応するシーク指令を与える。
デイスク装置１０１はこのシーク指令に応じて磁
気ヘツドを指定されたトラツク（トラツクＴ１に
該当するシリンダ位置）上に位置決めする。そし
て、シーク動作が完了すると、制御部１０１は第
５図のステツプSP１に示されるようにデイスク
アドレスリード指令をデイスク装置１０１に与え
る。本実施例では、目的とするデイスクアドレス
（「13」）に対応する物理的なセクタ位置、または
当該セクタ位置より更に先行するセクタ位置から
デイスクアドレス（ヘツダ部）の読み出しが行な
われるようになつている。たとえば今、デイスク
１０３におけるトラツクＴ１のＳ３セクタのヘツ
ダ部の内容がデイスク装置１０１で読み出され、
データライン１０９、ドライバ／レシーバ１０８
を介して制御部１０４に転送されたものとする。

制御部１０４は、上記ヘツダ部の内容が正常に
リードされたか否かすなわちリードエラーが発生
したか否かをCRCチエツクによつて判断する
（ステツプSP２）。そして、正常にリードが行な
われた場合、制御部１０４はフラグレジスタ１０
５を参照し、デイフエクテイブフラグが立つてい
るか否かを判断する（ステツプSP３）。Ｔ１，Ｓ
３セクタはデイフエクテイブセクタであるため、
デイフエクテイブフラグが立つており、制御部１
０４は次のセクタ（Ｔ１，Ｓ４セクタ）を指定し
（ステツプSP４）、再びデイスクアドレスリード
指令をデイスク装置１０１に与える。なお、Ｔ
１，Ｓ３セクタのヘツダ部にデイフエクテイブス
ポツトが存在するために、ステツプSP２でエラ
ー検出がなされた場合にも、制御部１０４は次の
セクタ（Ｔ１，Ｓ４セクタ）のデイスクアドレス
リードを行なう。そして、Ｔ１，Ｓ４セクタから
ヘツダ部の内容が正常にリードされ、かつデイフ
エクテイブフラグが立つていなければ（Ｔ１，Ｓ
４セクタは正常セクタであるため、デイフエクテ
イブフラグは立つていない）、制御部１０４はデ
イスク装置１０１から読み出されたＴ１，Ｓ４セ
クタのヘツダ部の内容に示されているデイスクア
ドレスが目的とするデイスクアドレス「13」に一
致するか否かを比較判断する。（ステツプSP５）。
この場合、第４図のデイスクフオーマツトから明
らかなように、Ｔ１，Ｓ４セクタにはデイスクア
ドレス「13」が割り当てられており、制御部１０
４は一致判断を行なう。次に制御部１０４は一致
判断に応じ、（当該Ｔ１，Ｓ４セクタの）データ
部のアクセス指令をデイスク装置１０１に出力す
る（ステツプSP６）。デイスク装置１０１は制御
部１０４からのアクセス指令に応じてＴ１，Ｓ４
セクタのデータ部の読み取りを行なう。そして、
この読み取りデータはデータライン１０９を経由
して演算制御装置２０に転送される。

なお、上述の動作説明は目的とするデイスクア
ドレスが「13」の場合であつたが、他のデイスク
アドレスが割り当てられているセクタをアクセス
する場合も同様の手順となる。すなわち、制御部
１０４はデイスクアドレスリードを行ない、ヘツ
ダ部が正常に（エラーなく）リードされ、かつデ
イフエクテイブフラグが立つていないセクタ位置
まで順次デイスクアドレスリードを続ける。次に
制御部１０４は、このようにしてリードされたヘ
ツダ部のデイスクアドレスが目的のデイスクアド
レスに一致するか否かを判断し、一致している場
合、該当セクタのデータ部をアクセスする。ま
た、読み取られたデイスクアドレスが目的のデイ
スクアドレスより小さい場合、制御部１０４は次
のセクタのデイスクアドレスリードを行ない、読
み取られたデイスクアドレスが目的のデイスクア
ドレスより大きくなつている場合には演算制御装
置２０に対してエラー通知を行なう。

なお、前記実施例では、各トラツクＴ１〜Ｔ６
にそれぞれ１つの予備セクタが設けられている場
合について説明したが、予備セクタ数は前記実施
例に限定されるものではなく、デイフエクテイブ
セクタの数およびその分布状態に応じて適切な数
の予備セクタを設けることが好ましい。

以上の説明から明らかなように本発明によれば
次に列挙する如き種々の作用効果を得ることがで
きる。

(1) １トラツクに存在するデイフエクテイブセク
タの数が、該トラツクに設けられている予備セ
クタ数以下の場合には、その予備セクタを使用
すればよいため、この種のデイフエクテイブセ
クタに対しては冗長がある。

(2) デイフエクテイブセクタの代替えが、直接予
備セクタに対して行なわれるのではなく、正常
セクタをも含めて１セクタずつ順次ずらして割
り当て先を変更し、最終的に或るトラツクの予
備セクタで収束するようにしているので、デイ
フエクテイブセクタに対する直接の代替えセク
タが、第１図、第２図の従来例に比較してデイ
フエクテイブセクタの極めて近くに位置するた
め、デイフエクテイブセクタの代替えによるア
クセス速度の低下は少なくてすむ。

(3) １トラツクに存在するデイフエクテイブセク
タ数が該トラツクに設けられている予備セクタ
数を越えた場合には、割り当てセクタを順次ず
らして各トラツクごとに設けられた予備セクタ
を順に使用するようにしているので、少ない予
備セクタ数で多数の予備セクタを設けた場合と
同等の効果が得られる。

(4) 複数のデイスクを用いる磁気デイスク装置に
あつては、一般に同一シリンダに該当する各デ
イスクの表面、裏面の順にトラツク番号（ヘツ
ド番号）が割り当てられている。たとえば１枚
目のデイスクのシリンダ０の表面をトラツク
０、裏面をトラツク１、同じく２枚目のデイス
クのシリンダ０の表面をトラツク２、裏面をト
ラツク３，…の如く割り当てられる。これは、
同一シリンダ内ではシーク動作は不要となるこ
とに着目して、アクセス速度の高速化を図つた
ことによるものである。ところで、大きなデイ
フエクテイブスポツトの存在は、該当デイスク
の近接するシリンダ方向に影響を及ぼす必然性
があるが、ヘツド方向（該当デイスクの同一シ
リンダ内の反対面、他のデイスクの同一シリン
ダ内）に影響を及ぼす必然性がない。したがつ
て、上述のようなトラツク（ヘツド）割り当て
がなされている磁気デイスク装置にあつては、
該当トラツクで代替セクタの割り当てが取束し
ない場合でも、同一シリンダ内の他のデイスク
のトラツクで収束が可能となるため、予備セク
タを効率的に使用できるとともに、シーク動作
が不要であるため、デイフエクテイブセクタの
代替えによるアクセス速度の低下は少なくてす
む。

(5) 第１図、第２図の例ではデイフエクテイブセ
クタ内の代替アドレスを示す部分はエラーフリ
ーである必要があるが、本発明では代替えアド
レスを示す必要がないためエラーフリーの部分
を全く必要とせず、デイスクの歩留りも向上す
る。

(6) デイフエクテイブセクタが多数ある場合で
も、後述する幾つかのトラツクで代替えが収束
してしまうため、予備トラツクを使用すること
が極めて少なく、従来例にくらべて予備トラツ
ク数が少なくてすむ。

(7) 第１図、第２図の例では、予備トラツクを使
用する場合、その部分のアクセス速度が著しく
低下するが、本発明では平均化されているので
特に磁気デイスク装置間の一連のコピー動作等
に好適する。

以上要するに本発明の磁気デイスク装置によれ
ば、欠陥を有するデイスクの実質的な記憶容量の
増加およびアクセス速度の高速化を図ることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図および第２図は従来の磁気デイスク装置
に適用されるデイスクのフオーマツトを示す図、
第３図は本発明の磁気デイスク装置の一実施例を
示すブロツク図、第４図は上記実施例におけるデ
イスクのフオーマツトを示す図、第５図は動作を
説明するためのフローチヤートである。 １０……磁気デイスク装置、１０１……デイス
ク装置、１０２……デイスク制御装置、１０３…
…デイスク、１０４……制御部、１０５……フラ
グレジスタ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ デイスクアドレスが割り当てられる通常の最
   小記憶領域の集合で成る記憶領域ごとに所定数の
   予備の最小記憶領域を備え、上記各最小記憶領域
   のヘツダ部には、同最小記憶領域に割り当てられ
   ているデイスクアドレス、および同最小記憶領域
   が欠陥であるかを示す情報が設定され、更に欠陥
   を有する通常最小記憶領域を含む記憶領域が存在
   する場合、同記憶領域または同記憶領域を含む複
   数の連続する記憶領域において、欠陥を有する最
   初の通常最小記憶領域から、その全領域内の最後
   の通常最小領域までの各通常最小記憶領域に本来
   割り当てられるべき各デイスクアドレスが、その
   全領域内の上記予備最小記憶領域を含む欠陥のな
   い最小記憶領域に順次ずらされて割り当てられる
   ようにフオーマツトされたデイスクがセツトされ
   るデイスク装置と、 外部から与えられる目的アドレス情報に一致し
   ているデイスクアドレスが割り当てられている最
   小記憶領域をアクセス制御するデイスク制御装置
   とを具備し、 上記デイスク制御装置は、外部から与えられる
   アクセス指令に応じて上記デイスクの最小記憶領
   域のヘツダ部をリードアクセスするリードアクセ
   ス手段と、このリードアクセス手段によつてリー
   ドされた該当する最小記憶領域が欠陥であるか否
   かを判別する欠陥判別手段と、この欠陥判別手段
   により上記該当する最小記憶領域が欠陥であるこ
   とが判別された場合、上記リードアクセス手段に
   対して後続する最小記憶領域のヘツダ部をリード
   させる手段とを備えていることを特徴とする磁気
   デイスク装置。