JPH03165435A - 電子顕微鏡 - Google Patents
電子顕微鏡Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
乾燥させずにそのままの状態で観察することのできる電
子顕微鏡に関する。
するには、基本的には、試料の固定、脱水、乾燥と言う
前処理を施さなければならなかった。また、試料を真空
外より液体チッソ等で凍結させて観察する方法もあるが
、いずれの方法も試料作製に技術と時間を要したり、装
置が大掛かり)こなってしまう。このように、従来は、
試料が水分を含んだ状態そのままで観察したいという要
望には応えられなかった。
気系とは別の排気系(通常、ロータIJ +ポンプを用
いる。)で差動排気し、試料室の圧力を0.数Torr
として観察する低真空走査形電子顕微鏡も知られている
が、この程度の圧力下では試料の水分は直ちに氷結し、
次第に乾燥してしまい、試料の収縮、変形等の形態変化
を完全に抑えることはできなかった。
、生物等の水分を含む試料をそのままの状態で観察する
ことはできなかった。
の乾燥を抑えて、水分を含む試料をそのままの状態で観
察することができる走査形等の電子顕微鏡を提供するこ
とを目的とする。
燥を抑えるには水分を補給すればよいが、真空中では水
分補給路が氷結してしまうので、これを防止するには空
気を常時供給すればよいことに着目して完成されたもの
である。
に試料に補給する液体を収容するための水槽、及び、こ
の水槽から試料に液体を移送するための通路を有し、試
料室の真空排気中にこの水槽と通路に空気等のガスを導
入して、前記水槽内及び前記通路中の液体の氷結を防止
するように構成したことを特徴とするものである。
記水槽内の液体を前記通路中に通した糸、中空糸等の毛
細管によって試料に移送させるように構成することを好
適とする。
と電子光学系を高真空に保ちながら、電子銃と電子光学
系を収容する本体から電子ビーム通過穴を有するオリフ
ィスによって仕切られた試料室を低真空に差動排気し、
低真空の試料室内に組成信号と凹凸信号とを分離可能な
反射電子検出器を配置し、高真空の電子光学系内に二次
電子検出器を配置すると、生物試料等の水を含む試料を
導電化処理せずにそのままの状態で観察、分析すること
ができる。
して、水槽内及び通路中の液体の氷結を防止するように
構成されているので、生物等の水等を含む試料には、観
察中でも常に試料室内の水槽に貯えられた水等の液体が
補給される。したがって、試料の乾燥を防ぎ、試料の収
縮、変形等の形態変化を抑えることができる。
給しながら試料の乾燥を抑え、試料をそのままの状態で
観察できるようにした走査形等の電子顕微鏡に関するも
のである。本発明は、特に試料支持装置に特徴があるも
のであり、第1図に本発明の試料支持装置の1実施例の
構成の概略を示す。真空に保たれた試料室l中において
、図示しない試料ステージ上の試月ホルダ2に、装置の
真空外より、バリアプルリークバルブ3、電磁弁4及び
チューブ5を介して、空気又は窒素、二酸化炭素、アル
ゴン、ヘリウム等のガスを導入するようになっている。
される。試料ホルダ2中に組み込まれた試料台6の内部
には、試料台6の上に載置される試料12に通路9中の
毛細管13を経て補給する水、水溶液等の液体を入れる
水槽7が設けられており、この通路9は試料ホルダ2の
ガス導入口8と通路10によりつながっている。一方、
両面テープなどの接着剤11によって試料台6に固定さ
れた生物などの含水試料12は、水ta7から通路9中
に通された糸や中空糸等の毛細管13を伝わって上昇し
てきた水等の液体を吸収して乾燥が抑えられる。一般に
、水等の液体を試料室Iに入れ、試料室Iを真空に排気
して行くと、液体は次第に氷結してしまうが、水、17
及び通路9に、ガス導入口8と通路10を経て、このよ
うな氷結が起こらない程度の圧力のガス(数10 To
rrの圧力)を導入することによって、水槽7中の液体
及び毛細管13中の液体の氷結が防止され、液体が試料
12に補給され続ける。通路9を経て接着剤11近傍に
もガスが漏れるが、この近傍の圧力は10〜20Tor
rの圧力になり、試料12表面では、試料室1の排気系
により0.1〜ITorr程度に保たれる。試料12表
面がこの程度の圧力に保たれると、低真空走査形電子顕
微鏡としてよく知られているように、電子ビームが試料
12に照射されて電荷が試′#412表面に帯電しても
、電子ビーム周辺の残留ガス分子が電子ビームによって
イオン化され、そのイオンと試料12表面の帯電電荷が
電気的に中和するので、試料12はチャージアップする
ことはなく、したがって、試料12として導電性のない
ものを用いても、試料を導電化する金やカーボン等の蒸
着又はコーティング処理をせずに観察することができる
。なお、試料台6は金属で構成してもよいが、低真空走
査形電子顕微鏡として用いる場合、フッ素樹脂、アクリ
ル樹脂、セラミック等の絶縁体製にするのがよい。金属
製の場合、熱伝導性により試料の乾燥が促進されるが、
絶縁体にて構成すると、このようなことが起こらず、乾
燥がより抑制されるからである。
顕微鏡の全体の構成を示す。本装置は、試料室1を通常
の走査形電子顕微鏡のように高真空に保持するモードと
、走査形電子顕微鏡本体とは別系統の例えばロータリー
ポンプからなる排気系により低真空に保持するモードと
を持ち、簡単に切り換えて使用できるものである。まず
、高真空モードの排気系から説明すると、電磁弁4と電
磁弁14を閉じ、電磁弁15を開き、本体側の排気系の
ロータリーポンプ16と油拡散ポンプ17で、電子!+
8、電子光学系19等が収容されている本体と試料室1
とを真空排気をする。次に、低真空モード時は、電磁弁
15を閉じ、電子銃18及び電子光学系19は本体側の
ロータリーポンプ16と油拡散ポンプ17で真空排気を
する。そして、電磁弁4と電磁弁14を開き、試料室1
はロータリーポンプ20で真空排気をする。この時、電
子銃18から照射される電子ビーム28の通過穴を有す
るオリフィス21によって、電子銃18と電子光学系1
9は高真空の排気状態に保たれ、試料室1はバリアプル
リークバルブ3によって調節された低真空に保たれる。
ム28が電子光学系19によって細かく絞られ、試料1
2の表面で焦点を合わせられ、二次元的に走査されると
、試料12の表面から二次電子や反射電子が発生する。
れ、図示しない陰極線管の輝度の変調を行い、CRT上
に試料表面の反射電子像を表示する。また二次電子は、
高真空に保持された電子光学系19内に設置された二次
電子検出器23によって検出され、図示しない陰極線管
の輝度を変調して、CRT上に試料表面の二次電子像を
表示する。なお、図中24はロータリーポンプ20から
試料室lへ逆流するオイルミストを吸着させるだめの活
性炭からなるフォアライントラップ、25は試料室1の
圧力を測定するためのビラニー管、26は電子銃18及
び電子光学系19の圧力を測定するためのビラニー管で
ある。
り、1対の半導体素子22a、22bからなっており、
真ん中に電子ビームを通過させるための穴27を有する
ものである。反射電子検出器22のような1対の半導体
素子22a、22bを、第4図に示すように、電子銃1
8から照射された電子ビーム28に対して対称に配置す
るように真空外から位置合わせする。このように配置さ
れた各半導体素子22a、22bによって検出される反
射電子29a、29bを合算処理すれば、試料12の組
成信号のみとなり、減算処理すれば、試料12の凹凸信
号のみに分離される。そして、これらの信号によってそ
れぞれ組成像または凹凸像をCRT上に表示できること
は、従来の走査形電子顕微鏡と同様である。
この実施例に限定されるものではなく、種々の変形が可
能である。
には、観察中でも常に試料室内の水槽に貯えられた水等
の液体を補給できる構造になっているため、試料の乾燥
を防ぎ、試料の収縮、変形等の形態変化を抑えることが
できる。
の低真空に保つことにより、電子ビームが試料に照射さ
れて電荷が試料表面に帯電したとしても、電子ビーム周
辺の残留ガス分子がイオン化されて試料表面の帯電電荷
を電気的に中和する作用をするので、非導電性試料であ
っても金やカーボン等で蒸着又はコーティング処理によ
る導電化処理をする必要がなく、簡単に生物等の非導電
性試料を観察、分析できる。
の概略構成図、第2図はこのような試料支持装置を用い
た電子顕微鏡の全体構成図、第3図は反射電子検出器の
平面図、第4図は反射電子検出器の1対の半導体素子の
配置を示す図である。 1・・・試料室、2・・・試料ホルダ、3・・バリアプ
ルリークバルブ、4・・・電磁弁、5・・・チューブ、
6・・・試料台、7・・・水槽、8・・・ガス導入口、
9.10・・・通路、11・・・接着剤、12・・・試
料、13・・・毛細管、14.15・・・電磁弁、16
・・・ロータリーポンプ、17・・・油拡散ポンプ、1
8・・・電子銃、19・・・電子光学系、20・・・ロ
ータリーポンプ、21・・・オリフィス、22・・・反
射電子検出器、22a、22b・・・半導体素子、23
・・・二次電子検出器、24・・・フォアライントラッ
プ、25.26・・・ピラニー管、27・・・電子ビー
ム通過穴、28・・・電子ビーム、29a、29b・・
・反射電子
Claims (3)
- (1)試料室内に試料に補給する液体を収容するための
水槽、及び、この水槽から試料に液体を移送するための
通路を有し、試料室の真空排気中にこの水槽と通路に空
気等のガスを導入して、前記水槽内及び前記通路中の液
体の氷結を防止するように構成したことを特徴とする電
子顕微鏡。 - (2)試料台中に前記水槽と前記通路とを設け、前記水
槽内の液体を前記通路中に通した糸、中空糸等の毛細管
によって試料に移送させるように構成したことを特徴と
する請求項1記載の電子顕微鏡。 - (3)電子顕微鏡を走査形に構成し、電子銃と電子光学
系を高真空に保ちながら、電子銃と電子光学系を収容す
る本体から電子ビーム通過穴を有するオリフィスによっ
て仕切られた試料室を低真空に差動排気し、低真空の試
料室内に組成信号と凹凸信号とを分離可能な反射電子検
出器を配置し、高真空の電子光学系内に二次電子検出器
を配置したことを特徴とする請求項1又は2記載の電子
顕微鏡。
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