JPH031608A - マスター・スレーブ型フリップフロップ回路 - Google Patents

マスター・スレーブ型フリップフロップ回路

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Publication number
JPH031608A
JPH031608A JP1136318A JP13631889A JPH031608A JP H031608 A JPH031608 A JP H031608A JP 1136318 A JP1136318 A JP 1136318A JP 13631889 A JP13631889 A JP 13631889A JP H031608 A JPH031608 A JP H031608A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
latch section
master
slave
latch
Prior art date
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Pending
Application number
JP1136318A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshio Inoue
善雄 井上
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH031608A publication Critical patent/JPH031608A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はマスター・スレーブ型フリップフロップ回路
(以下、rMS−FF回路」と呼ぶ。)に関するもので
、特に、高速動作が可能なMS−FF回路に関する。
〔従来の技術〕
第5図は従来のMS−FF回路の概念を模式化して示す
図である。第5図において、このMS−FF回路は、マ
スターラッチ部10とスレーブラッチ部20との直列接
続を有している。このMS−FF回路の動作タイミング
を規定するクロック信号Tは、クロック入力端子から人
力され、インバータ30.40の直列接続に与えられる
このうち、前段側のインバータ30は、クロック信号T
の波形整形を行うとともに、その出力をマスターラ・ツ
チ部10のクロック人力として与えることにより、マス
ターラッチ部10の動作タイミング制御を行うクロック
・ドライバ用のインバータである。また、後段側のイン
バータ40は、スレーブラッチ部20に対する同様の動
作タイミング制御を行うためのクロック・ドライバ用の
インバータである。
インバータ30の存在によってマスターラッチ部10へ
供給されるクロックは入力クロック信号Tと逆相となり
、また、2つのインバータ30゜40を介していること
によって、スレーブラッチ部20へ供給されるクロック
は、入力クロック信号Tと同相となる。
マスターラッチ部10は、それに与えられる上記クロッ
クに同期して、データ入力端子からデータ信号りを取込
み、それをラッチする。次段のスレーブラッチ部20は
、マスターラッチ部10とは逆相のクロックで動作する
ため、マスターラッチ部10のラッチ動作の後に、この
マスターラッチ部10の出力のラッチを行う。そして、
スレーブラッチ部20の出力は、出力信号Qおよび反転
出力信号Q として、出力端子へ与えられる。
ところで、このようなデータのラッチとその転送(シフ
ト)とを行う場合、マスターラッチ部10およびスレー
ブラッチ部20の相互の動作タイミングは、インバータ
30.40のそれぞれにおけるクロック信号の遅延の影
響を受ける。以下、この点について詳述する。
第6図は、第5図の構成を具体化した回路を示しており
、このうち第6図(a)はマスターラッチ部10とスレ
ーブラッチ部20との内部構成を示す。また、第6図(
b)は、第5図においてインバータ30.40で表現さ
れた機能の具体的構成を示す、この第6図(b)ではイ
ンバータ3,4の直列接続を含むが、これらと第5図の
インバータ30.40との関係は次の通りである。
すなわち、後述するように、第6図(a)のマスターラ
ッチ部10およびスレーブラッチ部20のいずれにおい
ても、インバータ4の出力であるクロックTtと、イン
バータ3の出力であるクロックTlcとの双方が利用さ
れるが、マスターラッチ部10ではクロック”lcが高
電位(以下、「Hレベル」と言う。)に立上ると次のデ
ータ取込みが開始され、スレーブラッチ部20ではクロ
ックT1が立下るとラッチ状態が実質的に確立する。
このため、マスターラッチ部10における次のデータ取
込み動作とスレーブラッチ部20のラッチ動作との関係
においては、クロックT1゜がマスターラッチ部10の
基準クロックとなり、他方のクロックTtがスレーブラ
ッチ部20の基準クロックとなる。そして、第5図では
、これらの基準クロックについてのみ、その生成/入力
経路が示されている。
したがって、第5図のインバータ30.40は第6図(
b)のインバータ3.4にそれぞれ相当するが、上記の
違いを明確にする目的で、便宜上、異なる参照符号が付
されている。
以上の前提の下で第6図(a)を参照する。第6図(a
)に示すマスターラッチ部10では、トランスファゲー
ト11を介してデータ信号りが取込まれる。次段のラッ
チループは、NANDゲート12、インバータ13およ
びトランスファゲート14によって形成されている。信
号Rは、低電位(以下、「Lレベル」と言う。)で活性
となるリセット信号である。
一方、スレーブラッチ部20は、マスターラ・ソチ部1
0のラッチ出力をゲートするトランスファゲート21を
備えており、このトランスファゲート21の後段には、
ラッチループを形成するインバータ23.NANDゲー
ト25およびトランスファゲート26を有している。ま
た、トランスファゲート21とインバータ23との間の
ノードにはインバータ22が接続され、このインバータ
22から出力信号Qが取出される。さらに、反転出力信
号Q は、インバータ23の出力を別のインバーク24
で反転して得るようになっている。そして、各ラッチ部
10.20に含まれるトランスファゲート11,14.
21.26のそれぞれの制御信号は、第6図(b)の回
路で生成されるクロック信号T  、T  となってい
る。
   1c 第7図は、第′6図に示す回路の動作を示すタイミング
チャートである。なお、第7図において、マスターラッ
チ部10およびスレーブラッチ部20のそれぞれの「入
力ゲート開状態」とは、トランスファゲート11,21
のそれぞれが部分的または全面的に導通状態となってゲ
ートが開いている状態を示している。また、「ラッチ状
態」とは、トランスファゲート14.26のそれぞれが
部分的または全面的に導通状態となってラッチループに
よるラッチ機能が部分的または全面的に作用している状
態を示している。さらに、ラッチ状態を示す期間のうち
、二重線で示す期間は、それぞれの入力ゲート(トラン
スファゲート11.21)が完全に閉じているとともに
ラッチループ内のトランスファゲート(14または26
)が完全に開いており、この期間内ではラッチ状態が完
全に確立している。
この第7図において、クロックT10は、インバータ3
の反転作用によって入力クロック信号Tと逆相となると
ともに、インバータ3に関連する遅延によって、入力ク
ロック信号Tの変化タイミングよりも遅れて変化する。
(なお、インバータ3に関連する遅延とは、インバータ
3における固有の遅延のほか、その負荷側の配線容量な
どによる影響も含む。他のインバータについても同様。
)また、クロックTIは、後段側のインバータ4に関連
する遅延によって、クロックTlcと逆(lで、かつ変
化タイミングが遅れた信号となる。第7図において、遅
延時間ΔT 、ΔTbはそれぞれ、クロック”lcの立
上り時のインバータ4の遅延と立下り時の遅延とを示し
ている。
第6図(a)かられかるように、マスターラッチ部10
の入力ゲートに相当するトランスファゲート11は、ク
ロックTtがLレベルであるか、またはクロック”lc
がHレベルであるかの2つの条件のうち少なくとも一方
が満足される期間て開状態となるたる。このため、第7
図の時刻t2までの期間と、時刻t4からの期間とのそ
れぞれで、トランスファゲート11は開状態となる。
また、マスターラッチ部10のラッチループを機能させ
るトランスファゲート14では、クロックTtがHレベ
ルであるか、またはクロックTlcがLレベルであるか
の2つの条件のうちいずれか一方が満足される期間で開
状態となり、この期間でラッチループはラッチ状態とな
る。したがって、第7図の例では、時刻t2から時刻t
5までの期間が、マスターラッチ部10のラッチ状態期
間となる。
一方、スレーブラッチ部20では、入力ゲート(トラン
スファゲート21)とラッチループのゲート(トランス
ファゲート26)とのそれぞれに与えるクロックT、T
1oの関係が、マスターラ■ ッチ部10とは逆になっている。このため、スレーブラ
ッチ部20ての入力ゲート開状態の期間とラッチ状態の
期間との関係は、第7図中に示すように、マスターラッ
チ部20とは反対となる。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところで、このようなタイミング関係においては、第7
図の遅延時間ΔT 、ΔT、に相当するそれぞれの期間
内でマスターラッチ部10とスレーブラッチ部20との
それぞれの入力ゲート(トランスファゲート11.21
)がともに開状態となっている。したがって、これらの
期間ではデータ信号りはマスターラッチ部10を通り抜
けた後にスレーブラッチ部20のラッチループ側にまで
到達するという状況(以下、「スルー現象」と言う。)
が生ずる。
このうち、遅延時間ΔT の期間内で生ずるスルー現象
はあまり問題ではない。それは、時刻t1での人力クロ
ック信号Tの立上りに対してあまり遅れずにデータ信号
りのレベル変化(図示例では立下り)が生じ得るように
している一方で、その後は、ある程度の時間が経過しな
いとデータ信号りに新たなレベル変化を与えないように
データ信号供給タイミングが規定されているのが通例で
あることと関係している。つまり、期間ΔTaでスルー
現象が生じても、そのときにスレーブラッチ部20へと
通り抜けるデータ信号レベルは、この期間Δτ 内でマ
スターラッチ部10がラッチするデータ信号レベルと同
一であって、マスク−ラッチ部10のラッチ出力と異な
るデータ信号レベルがスレーブラッチ部20へと通り抜
けるということはない。
これに対して、遅延期間ΔTbにおいては、入力クロッ
ク信号Tの立上り時刻t1からある程度の時間が経過し
ているために、データ信号りに新たなレベル変化を生じ
させる場合がある。このとき、スレーブラッチ部20は
マスターラッチ部10がラッチしていたデータ信号レベ
ルとは異なる信号レベルを取込むことになり、その結果
、スレーブラッチ部20は誤った値をラッチして、MS
−FF回路は誤動作してしまう。
このため、従来のMS−FF回路では、遅延期間ΔT、
中でデータ13号りにレベル変化を生じさせないことが
必要となる。したがって、遅延期間ΔTbが経過した後
にのみデータ信号りのレベル変化を許容するという構成
がとられるが、このようにすると、データ信号りは低周
波信号に限定されてしまい、高周波のデータ信号に対し
てはこのM S −F F回路は使用困難であるという
問題があった。
この発明は従来技術における上記の問題の解決を意図し
ており、データ信号として高周波の信号をt手えても誤
動作することのないMS−FF回路を提供することを第
1の目的とする。
また、このような改良にあたって、MS−FF回路全体
表してのデータ信号伝達時間が長くなってしまうとその
利用価値が低くなるため、上記伝達時間を長くすること
なしに改良を行うことを第2の目的とする。
〔課題を解決するための手段〕 上記の各目的を達成するために、この発明では、マスタ
ーラッチ部のラッチ出力を取込んでスレーブラッチ部が
ラッチ状態を確立する第1のタイミングが、マスターラ
ッチ部に新たなデータの取込み動作を開始させる第2の
タイミングよりも先行するように、クロック供給回路か
らのクロック供給タイミングを定めている。
〔作用〕
従来のMS−FF回路では、スレーブラッチ部がマスタ
ーラッチ部のラッチ出力を取込んでラッチ状態を確立す
る前にマスターラッチ部が新たなデータを取込む動作を
始めているために、新たなデータがマスターラッチ部を
通り抜けてスレーブラッチ部にラッチされてしまったこ
とに着目する。
これに対して、この発明では、スレーブラッチ部がマス
ターラッチ部のラッチ出力を取込んでラッチ状態を確立
するタイミングを、マスターラッチ部が新たなデータの
取込みを始めるタイミングより早めているため、新たな
データがマスターラッチ部を通り抜けてスレーブラッチ
部へ伝達されても、既にその時にはスレーブラッチ部は
完全なラッチ状態となっていて、この新たなデータは受
付けない。
したがって、このような過渡期間内にデータレベルの変
化があっても、それがマスターラッチ部を通り抜けて直
接にスレーブラッチ部でラッチされてしまうことはなく
、この過渡期間内でのデータのレベル変化が許容される
。その結果、データ信号が高周波信号であっても誤動作
は生じない。
また、スレーブラッチ部のラッチ動作開始時刻を相対的
に遅らせるわけではないため、MS−FF回路全体とし
てのデータ信号伝達時間は長くならない。
〔実施例〕
第1図は、この発明の概念を模式的に例示した概念図で
ある。この第1図を第5図と比較することによ7てわか
るように、第1図のMS−FF回路では、入力クロック
信号Tをインバータ40て反転・遅延したクロックが基
準クロックとしてスレーブラッチ部20に与えられ、こ
のクロックをさらにインバータ30で反転・遅延したク
ロックが基準クロックとしてマスターラッチ部10に与
えられる。すなわち、スレーブラッチ部20におけるデ
ータの取込みとラッチ状態の確立とを先行させ、それよ
りも遅れて、マスターラッチ部10における新たなデー
タの取込みとラッチとを開始させるようにしている。
第2図は、第1図の概念を具体化した一実施例を示して
おり、第2図(b)と第1図との関係は、従来技術にお
ける第6図(b)と第5図との関係に相当している。第
2図(b)のクロック供給回路50はインバータ3〜6
の直列接続を含み、クロック群T  、T  は、クロ
ック群T、T1oよりも2    2c       
        1遅延してレベル変化する。そして、
後述するように、スレーブラッチ回路20のラッチ状態
確立夕イミノジはクロック群T  、T  に依存し、
マス1  1c ターラッチ回路10における次のデータ取込みタイミン
グはクロック群T、T2oに依存することから、第2図
(b)のクロック供給回路50は第1図のように概念的
に表現されている。
このため、第5図および第6図に示す従来例との比較に
おいては、第2図<b>のインバータ3゜4が第1図の
インバータ30.40にそれぞれ対応するが、これは概
念的なものであって、実際には4個のインパーク3〜6
を用いて、この実施例におけるクロック供給回路50が
形成されている。
第2図(a)に示すマスターラッチ部10とスレーブラ
ッチ部20とのそれぞれの内部回路JR成は、第6図(
a)のものと同一である。ただし、トランスファゲート
11,14,21.26へのクロックの供給関係が従来
と異なっており、 (1)  スレーブラッチ部20内の各トランスファゲ
ート21.26には、第2図(b)の1段めインバータ
4の出力クロックT、。と、2段めインバータ5の出力
クロックTIが与えられ、(2)  マスターラッチ部
10内の各トランスファゲートit、14には、3段め
インバータ6の出力クロック”2cと、4段めインバー
タ3の出力クロックT2とが与えられている。
第3図は第2図の回路におけるタイミングチャートであ
り、図中の記号は第7図に準する。まず、各クロックの
関係を見ると、第2図(b)のインバータ3〜6のそれ
ぞれが反転作用と遅延作用とを有するため、第2図(b
)のインバータ列の接続順序に従って、第3図の上から
順にクロックT。
T  、T  、T  、T  が、この順序で交互反
転lc   1  2c   2 と順次遅延とを受けたタイミング関係となる。マスター
ラッチ部10におけるクロック信号対の相互遅延ΔT 
、ΔT、は、この実施例回路では、クロックT に対す
るクロックT2cの遅延期間に相当する。
マスターラッチ部10の動作はクロック” 2c’T 
で規定され、第3図の時刻t14以前の期間と時刻t1
7以降の期間では、トランスファゲート11が開いて「
入力ゲート開状態Jとなる。また、期間t13〜t18
ては、ラッチループを形成するトランスファゲート14
が部分的または全面的に開いてラッチ状態となる。ただ
し、完全にラッチ状態が確立しているのはt14〜t1
7の期間である。
一方、スレーブラッチ部20ではクロックTlc’T 
の状態によって動作が規定され、時刻t12以■ 前と時刻t1.以降とがラッチ状態に、また、期6間t
11〜t1Bが人力ゲート開状態となっている。入力ゲ
ートが完全に閉じ、かつラッチループ内のトランスファ
ゲート26が完全に開いているという意味においてラッ
チ状態が完全に確立しているのは時刻t 以前と時刻t
1B以降とである。なお、時刻t10は入力クロック信
号Tの立上り時刻を示す。
第3図において特徴的なことは、時刻t15からスレー
ブラッチ部20のラッチ状態の確立が開始され、時刻t
16においてスレーブラッチ部20の入力ゲートが閉じ
るとともにこのスレーブラッチ部20のラッチ状態が完
全に確立し、そして、その後の時刻t17において、マ
スターラッチ部10の入力ゲート(トランスファゲート
11ンが開いてマスターラッチ部10が新たなデータの
取込みを開始することである。このため、遅延期間ΔT
bおよびその付近においてマスターラッチ部10とスレ
ーブラッチ部20とのそれぞれの入力ゲート(トランス
ファゲート11.21)が同時に開状態となることはな
く、この期間でのスルー現象は生じない。
したがって、データ信号りがこの期間内にレベル変化し
ても、それがスレーブラッチ部20に誤ってラッチされ
てしまうことはない。その結果、データ信号りのこの期
間内またはそれ以前の時点でのレベル変化が許容される
ことになり、高周波のデータ信号りに対応可能となる。
他方の遅延期間ΔT およびその周辺ではスルー現象が
生ずるが、既述した理由により、この期間でのスルー現
象は実質上、問題とならない。
また、スレーブラッチ部20のラッチタイミングを後方
へずらせて、マスターラッチ部10における入力ゲート
開状態の期間が完了した後にスレ−ブラッチ部20のラ
ッチ動作を開始させるわけではないため、クロック端子
に入力クロック信号Tが与えられてから、それに対応す
るデータQ。
Q がスレーブラッチ部20から出力されるまでの全体
的遅延時間が従来より長くなってしまうこともない。す
なわち、MS−FF回路全体としてのデータ出力遅延を
増大させることなく、高周波動作が可能なMS−FF回
路を得ることができる。
第4図は、クロック供給回路50において第2図(b)
のインバータ6を省略し、クロックT1とT とを同一
とするとともに、クロックT2cを最終段インバータ3
から取出した実施例を示す。この場合には、第4図のク
ロックT2がTIと同一となるが、このクロックT2の
レベル変化のタイミングが変化しても、マスターラッチ
部10の入力ゲート開状態の開始時刻t17や、スレー
ブラッチ部20のラッチ動作開始時刻t  それにスレ
15ゝ 一ブラッチ部20でのラッチ状態完全確立時刻t1Bは
変化しない。このため、第2図の実施例と同様の作用効
果を奏することになる。
なお、特に詳述しないが、以上の各実施例におけるMS
−FF回路の基本的機能、すなわち、入力データ信号の
ラッチと転送との繰返しが問題なく行われることは容易
に理解できる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明によれば、スレーブラッ
チ部でのラッチ確立がなされた後にマスターラッチ部が
新たなデータの取込みを行うため、この時間帯でのスル
ー現象によってスレーブラッチ部の誤動作を招くことは
なく、人力データ信号のレベル変化許容時間帯が拡大す
る。その結果、データ信号として高周波の信号を与えて
も誤動作することなく機能するMS−FF回路となって
いる。
また、スレーブラッチ部でのラッチ動作開始時刻を遅く
して誤動作を回避しているわけではないため、MS−F
F回路全体としてのデータ信号伝達時間が長くなってし
まうこともない。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の概念を模式的に例示する概念図、第
2図はこの発明の一実施例であるMS−FF回路を示す
回路図、第3図は第2図に示す回路の動作を示すタイミ
ング図、第4図はこの発明の他の実施例に用いられるク
ロック供給回路の回路図、第5図は従来のMS−FF回
路の概念を模式的に示す概念図、第6図は従来のMS−
FF回路の具体例を示す回路図、第7図は第6図に示す
回路の動作を示すタイミング図である。 図において、10はマスターラッチ部、20はスレーブ
ラッチ部、50はクロック供給回路、3〜6はクロック
信号生成用インバータである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 第5図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)マスターラッチ部とスレーブラッチ部とを備え、
    所定のクロック供給回路によって供給されるクロック信
    号によって前記マスターラッチ部と前記スレーブラッチ
    部とのそれぞれの動作タイミングが定まるマスター・ス
    レーブ型フリップフロップ回路において、 前記マスターラッチ部のラッチ出力を取込んで前記スレ
    ーブラッチ部がラッチ状態を確立する第1のタイミング
    が、前記マスターラッチ部に新たなデータの取込み動作
    を開始させる第2のタイミングよりも先行するように、
    前記クロック供給回路からのクロック供給タイミングを
    定めてあることを特徴とするマスター・スレーブ型フリ
    ップフロップ回路。
JP1136318A 1989-05-30 1989-05-30 マスター・スレーブ型フリップフロップ回路 Pending JPH031608A (ja)

Priority Applications (1)

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JP1136318A JPH031608A (ja) 1989-05-30 1989-05-30 マスター・スレーブ型フリップフロップ回路

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JP1136318A JPH031608A (ja) 1989-05-30 1989-05-30 マスター・スレーブ型フリップフロップ回路

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5774003A (en) * 1996-10-09 1998-06-30 National Semiconductor Corporation Flip-flop cell having clock skew protection
US5774475A (en) * 1996-12-05 1998-06-30 National Semiconductor Corporation Testing scheme that re-uses original stimulus for testing circuitry embedded within a larger circuit
US5999029A (en) * 1996-06-28 1999-12-07 Lsi Logic Corporation Meta-hardened flip-flop
US6242957B1 (en) 1998-05-21 2001-06-05 Nec Corporation Master-slave type flip-flop

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