JP3324547B2 - 集積回路のリセット回路 - Google Patents
集積回路のリセット回路Info
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- JP3324547B2 JP3324547B2 JP06085799A JP6085799A JP3324547B2 JP 3324547 B2 JP3324547 B2 JP 3324547B2 JP 06085799 A JP06085799 A JP 06085799A JP 6085799 A JP6085799 A JP 6085799A JP 3324547 B2 JP3324547 B2 JP 3324547B2
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は集積回路のリセット
回路に係り、特に論理回路と、この論理回路に供給する
クロック信号の位相同期をとる位相同期回路(以下、P
LL(Phase Locked Loop)回路と記す。)とを内蔵す
る集積回路を複数、有する回路装置における集積回路の
リセット回路に関する。
回路に係り、特に論理回路と、この論理回路に供給する
クロック信号の位相同期をとる位相同期回路(以下、P
LL(Phase Locked Loop)回路と記す。)とを内蔵す
る集積回路を複数、有する回路装置における集積回路の
リセット回路に関する。
【0002】
【従来の技術】集積回路の動作周波数が高まるにつれ、
セットアップ時間、ホールド時間の規格が厳しくなって
きた。一方、集積回路内でクロック信号の遅延がある
と、セットアップ時間、ホールド時間の余裕を減らすこ
とになる。これは、遅延時間の最大値及び最小値に対し
てセットアップ時間、ホールド時間の規格を満足する必
要があるからである。これを防ぐためには、集積回路装
置内の各集積回路がPLL回路を内蔵し、集積回路内の
クロック信号の遅延を無くせばよい。
セットアップ時間、ホールド時間の規格が厳しくなって
きた。一方、集積回路内でクロック信号の遅延がある
と、セットアップ時間、ホールド時間の余裕を減らすこ
とになる。これは、遅延時間の最大値及び最小値に対し
てセットアップ時間、ホールド時間の規格を満足する必
要があるからである。これを防ぐためには、集積回路装
置内の各集積回路がPLL回路を内蔵し、集積回路内の
クロック信号の遅延を無くせばよい。
【0003】ところが、PLL回路使用時は、クロック
信号の位相同期がとれるまでは集積回路に内蔵される論
理回路、すなわち内部論理回路をリセットしておき、位
相同期がとれた時点で速やかに内部論理回路のリセット
状態を解除して、動作を開始させる必要がある。
信号の位相同期がとれるまでは集積回路に内蔵される論
理回路、すなわち内部論理回路をリセットしておき、位
相同期がとれた時点で速やかに内部論理回路のリセット
状態を解除して、動作を開始させる必要がある。
【0004】従来の複数の集積回路を有する回路装置に
おける集積回路のリセット回路の構成を図3に示す。同
図において、複数の集積回路を有する回路装置はPLL
回路100、内部論理回路102及びAND回路300
を有する集積回路10'と、PLL回路200及び内部
論理回路202を有する集積回路20'とを有してい
る。各PLL回路100、200は、それぞれ信号源3
0より入力された基準クロック信号を内部論理回路10
2、202にそれぞれ供給し、位相同期が取れた時点で
各PLL回路100、200より出力されるロック信号
(状態信号)118、218を出力する。
おける集積回路のリセット回路の構成を図3に示す。同
図において、複数の集積回路を有する回路装置はPLL
回路100、内部論理回路102及びAND回路300
を有する集積回路10'と、PLL回路200及び内部
論理回路202を有する集積回路20'とを有してい
る。各PLL回路100、200は、それぞれ信号源3
0より入力された基準クロック信号を内部論理回路10
2、202にそれぞれ供給し、位相同期が取れた時点で
各PLL回路100、200より出力されるロック信号
(状態信号)118、218を出力する。
【0005】従来の集積回路のリセット回路では、この
ロック信号118、218の論理積をとるAND回路3
00の出力信号により集積回路10'、20'内の内部論
理回路102、202のリセット状態を制御するように
構成されていた。
ロック信号118、218の論理積をとるAND回路3
00の出力信号により集積回路10'、20'内の内部論
理回路102、202のリセット状態を制御するように
構成されていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の集積回
路のリセット回路では、回路装置が有する集積回路の数
に応じて入力ピン数が増加するという問題が有った。図
3に示した例では、集積回路10'にはAND回路30
0への入力信号端子302、集積回路20'には内部論
理回路202に対してリセット信号が入力されるリセッ
ト信号端子308が必要である。ここでPLL回路を内
蔵する集積回路がN個を有する回路装置の場合、N個の
各PLL回路から出力されるロック信号の論理積演算を
行うAND回路が内蔵された集積回路(図3の集積回路
10'に相当)には、N−1個の入力ピンが必要とな
り、その他のN−1個の集積回路にはそれぞれ1個の入
力ピンが必要となる。
路のリセット回路では、回路装置が有する集積回路の数
に応じて入力ピン数が増加するという問題が有った。図
3に示した例では、集積回路10'にはAND回路30
0への入力信号端子302、集積回路20'には内部論
理回路202に対してリセット信号が入力されるリセッ
ト信号端子308が必要である。ここでPLL回路を内
蔵する集積回路がN個を有する回路装置の場合、N個の
各PLL回路から出力されるロック信号の論理積演算を
行うAND回路が内蔵された集積回路(図3の集積回路
10'に相当)には、N−1個の入力ピンが必要とな
り、その他のN−1個の集積回路にはそれぞれ1個の入
力ピンが必要となる。
【0007】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、PLL回路を内蔵した複数の集積回路を有
する回路装置において、入力ピン数を増加することなく
クロック信号の位相同期化後、速やかに各集積回路の内
部論理回路のリセット状態を解除することができる集積
回路のリセット回路を提供することを目的とする。
ものであり、PLL回路を内蔵した複数の集積回路を有
する回路装置において、入力ピン数を増加することなく
クロック信号の位相同期化後、速やかに各集積回路の内
部論理回路のリセット状態を解除することができる集積
回路のリセット回路を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1に記載の発明は、論理回路と、該論理回路に
供給するクロック信号の位相同期をとる位相同期回路と
を内蔵する集積回路を複数、有する回路装置において、
前記集積回路は、前記論理回路に供給されるクロック信
号が位相同期化されたことを示す前記位相同期回路から
出力される状態信号を取り込み、外部に出力するオープ
ンコレクタ出力型またはオープンドレイン出力型のゲー
トを有し、これらのゲート出力を集積回路の外部で共通
接続し、負荷抵抗を介して電源に接続すると共に、複数
の各集積回路において、ゲートを介して出力される前記
状態信号が前記論理回路のリセット端子に入力されるよ
うに前記状態信号を外部に出力するための出力端子と前
記論理回路のリセット端子とを接続したことを特徴とす
る。
に請求項1に記載の発明は、論理回路と、該論理回路に
供給するクロック信号の位相同期をとる位相同期回路と
を内蔵する集積回路を複数、有する回路装置において、
前記集積回路は、前記論理回路に供給されるクロック信
号が位相同期化されたことを示す前記位相同期回路から
出力される状態信号を取り込み、外部に出力するオープ
ンコレクタ出力型またはオープンドレイン出力型のゲー
トを有し、これらのゲート出力を集積回路の外部で共通
接続し、負荷抵抗を介して電源に接続すると共に、複数
の各集積回路において、ゲートを介して出力される前記
状態信号が前記論理回路のリセット端子に入力されるよ
うに前記状態信号を外部に出力するための出力端子と前
記論理回路のリセット端子とを接続したことを特徴とす
る。
【0009】
【0010】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面を参照
して詳細に説明する。本発明の実施の形態に係る集積回
路のリセット回路の構成を図1に示す。同図において、
回路装置は、複数の集積回路10、20を有している。
集積回路10は、PLL回路100と、内部論理回路1
02とを有している。内部論理回路102に供給するク
ロック信号の位相同期をとるPLL回路100の入力端
は信号源30より基準クロック信号が入力される入力端
子110に接続され、出力端はオープンドレイン出力型
ゲートを構成するNMOSトランジスタ104のゲート
に接続されている。NMOSトランジスタ104のソー
ス及び基板は共通接続され接地されている。またNMO
Sトランジスタ104のドレインはロック信号端子11
4に接続されている。
して詳細に説明する。本発明の実施の形態に係る集積回
路のリセット回路の構成を図1に示す。同図において、
回路装置は、複数の集積回路10、20を有している。
集積回路10は、PLL回路100と、内部論理回路1
02とを有している。内部論理回路102に供給するク
ロック信号の位相同期をとるPLL回路100の入力端
は信号源30より基準クロック信号が入力される入力端
子110に接続され、出力端はオープンドレイン出力型
ゲートを構成するNMOSトランジスタ104のゲート
に接続されている。NMOSトランジスタ104のソー
ス及び基板は共通接続され接地されている。またNMO
Sトランジスタ104のドレインはロック信号端子11
4に接続されている。
【0011】またPLL回路100から内部論理回路1
02にはクロック信号122が供給され内部論理回路1
02からPLL回路100に帰還クロック信号124が
出力されるようになっている。更にNMOSトランジス
タ104のドレインは内部論理回路102の論理リセッ
ト端子120に接続されている。また112は内部論理
回路102の入力端が接続される入力端子、116は内
部論理回路102の出力端が接続される出力端子であ
る。
02にはクロック信号122が供給され内部論理回路1
02からPLL回路100に帰還クロック信号124が
出力されるようになっている。更にNMOSトランジス
タ104のドレインは内部論理回路102の論理リセッ
ト端子120に接続されている。また112は内部論理
回路102の入力端が接続される入力端子、116は内
部論理回路102の出力端が接続される出力端子であ
る。
【0012】集積回路20は、PLL回路200と、内
部論理回路202とを有している。内部論理回路202
に供給するクロック信号の位相同期をとるPLL回路2
00の入力端は信号源30より基準クロック信号が入力
される入力端子210に接続され、出力端はオープンド
レイン出力型ゲートを構成するNMOSトランジスタ2
04のゲートに接続されている。NMOSトランジスタ
204のソース及び基板は共通接続され接地されてい
る。またNMOSトランジスタ204のドレインはロッ
ク信号端子214に接続されている。
部論理回路202とを有している。内部論理回路202
に供給するクロック信号の位相同期をとるPLL回路2
00の入力端は信号源30より基準クロック信号が入力
される入力端子210に接続され、出力端はオープンド
レイン出力型ゲートを構成するNMOSトランジスタ2
04のゲートに接続されている。NMOSトランジスタ
204のソース及び基板は共通接続され接地されてい
る。またNMOSトランジスタ204のドレインはロッ
ク信号端子214に接続されている。
【0013】またPLL回路200から内部論理回路2
02にはクロック信号222が供給され内部論理回路2
02からPLL回路200に帰還クロック信号224が
出力されるようになっている。更にNMOSトランジス
タ204のドレインは内部論理回路202の論理リセッ
ト端子220に接続されている。また212は内部論理
回路202の入力端が接続される入力端子、216は内
部論理回路202の出力端が接続される出力端子であ
る。
02にはクロック信号222が供給され内部論理回路2
02からPLL回路200に帰還クロック信号224が
出力されるようになっている。更にNMOSトランジス
タ204のドレインは内部論理回路202の論理リセッ
ト端子220に接続されている。また212は内部論理
回路202の入力端が接続される入力端子、216は内
部論理回路202の出力端が接続される出力端子であ
る。
【0014】ロック信号端子114及び214は共通接
続され、負荷抵抗50を介して電源40に接続されてい
る。図1では内部論理回路102、202の入力ピンと
して入力端子112、212、出力ピンとして出力端子
116、216が、またPLL回路100、200の入
力ピンとして入力端子110、210、出力ピンとして
ロック信号端子114、214を図示しているが、集積
回路100、200の入力ピン、出力ピンは複数あり、
相互接続されるピンも有るが、説明の便宜上、省略して
ある。尚、内部論理回路102、202は本発明の論理
回路に相当する。
続され、負荷抵抗50を介して電源40に接続されてい
る。図1では内部論理回路102、202の入力ピンと
して入力端子112、212、出力ピンとして出力端子
116、216が、またPLL回路100、200の入
力ピンとして入力端子110、210、出力ピンとして
ロック信号端子114、214を図示しているが、集積
回路100、200の入力ピン、出力ピンは複数あり、
相互接続されるピンも有るが、説明の便宜上、省略して
ある。尚、内部論理回路102、202は本発明の論理
回路に相当する。
【0015】上記構成からなる集積回路のリセット回路
の動作について説明する。図1において、電源が投入さ
れると、信号源30より基準クロック信号が入力端子1
10、210を介してPLL回路100、200に入力
され、PLL回路100、200より内部論理回路10
2、202にそれぞれクロック信号122、222が供
給される。
の動作について説明する。図1において、電源が投入さ
れると、信号源30より基準クロック信号が入力端子1
10、210を介してPLL回路100、200に入力
され、PLL回路100、200より内部論理回路10
2、202にそれぞれクロック信号122、222が供
給される。
【0016】PLL回路100は外部の信号源30から
入力される基準クロック信号122と、内部論理回路1
02から出力される帰還クロック信号124との位相差
を零にする、すなわち位相同期化するように制御する。
同様にPLL回路200は信号源30から入力される基
準クロック信号222と、内部論理回路202から出力
される帰還クロック信号224との位相差を零にするよ
うに制御する。
入力される基準クロック信号122と、内部論理回路1
02から出力される帰還クロック信号124との位相差
を零にする、すなわち位相同期化するように制御する。
同様にPLL回路200は信号源30から入力される基
準クロック信号222と、内部論理回路202から出力
される帰還クロック信号224との位相差を零にするよ
うに制御する。
【0017】電源投入時には、PLL回路100、20
0は、帰還クロック信号を基準クロック信号に位相同期
化させる動作を開始し、位相同期化が完了したら位相同
期が取れたことを示す状態信号であるロック信号をアサ
ート、すなわちハイレベルにする。一方、複数の集積回
路を有する回路装置の全ての集積回路10、20のPL
L回路100、200の位相同期化が完了する以前のタ
イミングで内部論理回路100、200のいずれか一
方、もしくは双方が動作を開始すると、誤動作を生ずる
恐れがある。これは、基準クロック信号に対して各内部
論理回路102、202に供給されているクロック信号
が位相同期化されてない状態で内部論理回路102、2
02が動作を開始すると、複数の集積回路10、20間
の信号が、セットアップ時間やホールド時間の規格を満
足できない場合があるためである。従って、電源投入
後、各集積回路内の全てのPLL回路100、200が
位相同期化するまで、内部論理回路はリセット状態に設
定されている。
0は、帰還クロック信号を基準クロック信号に位相同期
化させる動作を開始し、位相同期化が完了したら位相同
期が取れたことを示す状態信号であるロック信号をアサ
ート、すなわちハイレベルにする。一方、複数の集積回
路を有する回路装置の全ての集積回路10、20のPL
L回路100、200の位相同期化が完了する以前のタ
イミングで内部論理回路100、200のいずれか一
方、もしくは双方が動作を開始すると、誤動作を生ずる
恐れがある。これは、基準クロック信号に対して各内部
論理回路102、202に供給されているクロック信号
が位相同期化されてない状態で内部論理回路102、2
02が動作を開始すると、複数の集積回路10、20間
の信号が、セットアップ時間やホールド時間の規格を満
足できない場合があるためである。従って、電源投入
後、各集積回路内の全てのPLL回路100、200が
位相同期化するまで、内部論理回路はリセット状態に設
定されている。
【0018】図2は本発明の実施の形態に係る集積回路
のリセット回路の動作を示すタイムチャートである。同
図において、集積回路10、20におけるPLL回路1
00、200から出力される位相同期化されたことを示
す状態信号であるロック信号118、218は電源投入
時点t1から位相同期化する時点(t2,t3)までハ
イレベル状態にある(図(a),(b))。従って時刻
t1から時刻t3までの期間ではオープンドレイン出力
型ゲートであるNMOSトランジスタ104、204の
うち少なくとも一方はオン状態にあるので、ロック信号
端子114、214における電圧レベルはローレベルで
ある。このロック信号端子114、214は、各集積回
路10、20の内部論理回路102及び202の論理リ
セット端子120及び220に接続されているので、内
部論理回路102及び202はリセットされた状態にあ
る(図2(c))。
のリセット回路の動作を示すタイムチャートである。同
図において、集積回路10、20におけるPLL回路1
00、200から出力される位相同期化されたことを示
す状態信号であるロック信号118、218は電源投入
時点t1から位相同期化する時点(t2,t3)までハ
イレベル状態にある(図(a),(b))。従って時刻
t1から時刻t3までの期間ではオープンドレイン出力
型ゲートであるNMOSトランジスタ104、204の
うち少なくとも一方はオン状態にあるので、ロック信号
端子114、214における電圧レベルはローレベルで
ある。このロック信号端子114、214は、各集積回
路10、20の内部論理回路102及び202の論理リ
セット端子120及び220に接続されているので、内
部論理回路102及び202はリセットされた状態にあ
る(図2(c))。
【0019】PLL回路100、200が共に位相同期
化した時点t3では、ロック信号118、218が共に
ローレベル状態にあるので、NMOSトランジスタ10
4、204はオフ状態となり、ロック信号端子114及
び214における電圧レベルは負荷抵抗50を介して電
源40の電源電圧までプルアップされ、ハイレベルにな
る。従って時刻t3で内部論理回路102、202のリ
セット状態は同時に解除される。この時点で全てのPL
L回路100、200は位相同期化されており、内部論
理回路102、202におけるセットアップ時間やホー
ルド時間の不足による誤動作の恐れはない。
化した時点t3では、ロック信号118、218が共に
ローレベル状態にあるので、NMOSトランジスタ10
4、204はオフ状態となり、ロック信号端子114及
び214における電圧レベルは負荷抵抗50を介して電
源40の電源電圧までプルアップされ、ハイレベルにな
る。従って時刻t3で内部論理回路102、202のリ
セット状態は同時に解除される。この時点で全てのPL
L回路100、200は位相同期化されており、内部論
理回路102、202におけるセットアップ時間やホー
ルド時間の不足による誤動作の恐れはない。
【0020】尚、図1に示した回路装置では集積回路内
のPLL回路から出力されるロック信号を出力するゲー
トをオープンドレイン出力型のゲートとしたが、これに
限らずオープンコレクタ出力型のゲートとしてもよい。
のPLL回路から出力されるロック信号を出力するゲー
トをオープンドレイン出力型のゲートとしたが、これに
限らずオープンコレクタ出力型のゲートとしてもよい。
【0021】本実施の形態に係る集積回路のリセット回
路によれば、複数の集積回路を有する回路装置におい
て、各集積回路は内部論理回路に供給されるクロック信
号が位相同期化されたことを示す位相同期回路から出力
される状態信号を取り込み、外部に出力するオープンコ
レクタ出力型またはオープンドレイン出力型のゲートを
有し、これらのゲート出力を集積回路の外部で共通接続
し、負荷抵抗を介して電源に接続すると共に、複数の各
集積回路において、ゲートを介して出力される前記状態
信号が前記論理回路のリセット端子に入力されるように
前記状態信号を外部に出力するための出力端子と前記論
理回路のリセット端子とを接続するようにしたので、入
力ピンを増やすことなく、PLLが位相同期化すると速
やかに論理回路のリセット状態を解除することができ
る。
路によれば、複数の集積回路を有する回路装置におい
て、各集積回路は内部論理回路に供給されるクロック信
号が位相同期化されたことを示す位相同期回路から出力
される状態信号を取り込み、外部に出力するオープンコ
レクタ出力型またはオープンドレイン出力型のゲートを
有し、これらのゲート出力を集積回路の外部で共通接続
し、負荷抵抗を介して電源に接続すると共に、複数の各
集積回路において、ゲートを介して出力される前記状態
信号が前記論理回路のリセット端子に入力されるように
前記状態信号を外部に出力するための出力端子と前記論
理回路のリセット端子とを接続するようにしたので、入
力ピンを増やすことなく、PLLが位相同期化すると速
やかに論理回路のリセット状態を解除することができ
る。
【0022】上述した構成をとることにより、本実施の
形態に係る集積回路のリセット回路では、同一の集積回
路を異なる数の集積回路からなる装置に使用するとき
も、図3に示した従来例のようなPLL回路のロック信
号の論理積をとるAND回路の入力数を越えると適用で
きないという問題が起きないことを意味する。また、従
来例として、PLL回路全てが位相同期化するよりも十
分長い時間、内部論理回路をリセットすることもある
が、全てのPLLが位相同期化してからリセットが解除
されるまでが、無駄時間となる。
形態に係る集積回路のリセット回路では、同一の集積回
路を異なる数の集積回路からなる装置に使用するとき
も、図3に示した従来例のようなPLL回路のロック信
号の論理積をとるAND回路の入力数を越えると適用で
きないという問題が起きないことを意味する。また、従
来例として、PLL回路全てが位相同期化するよりも十
分長い時間、内部論理回路をリセットすることもある
が、全てのPLLが位相同期化してからリセットが解除
されるまでが、無駄時間となる。
【0023】
【発明の効果】以上に説明したように本発明によれば、
複数の集積回路を有する回路装置において、各集積回路
は内部論理回路に供給されるクロック信号が位相同期化
されたことを示す位相同期回路から出力される状態信号
を取り込み、外部に出力するオープンコレクタ出力型ま
たはオープンドレイン出力型のゲートを有し、これらの
ゲート出力を集積回路の外部で共通接続し、負荷抵抗を
介して電源に接続すると共に、複数の各集積回路におい
て、ゲートを介して出力される前記状態信号が前記論理
回路のリセット端子に入力されるように前記状態信号を
外部に出力するための出力端子と前記論理回路のリセッ
ト端子とを接続するようにしたので、入力ピンを増やす
ことなく、PLLが位相同期化すると速やかに論理回路
のリセット状態を解除することができる。
複数の集積回路を有する回路装置において、各集積回路
は内部論理回路に供給されるクロック信号が位相同期化
されたことを示す位相同期回路から出力される状態信号
を取り込み、外部に出力するオープンコレクタ出力型ま
たはオープンドレイン出力型のゲートを有し、これらの
ゲート出力を集積回路の外部で共通接続し、負荷抵抗を
介して電源に接続すると共に、複数の各集積回路におい
て、ゲートを介して出力される前記状態信号が前記論理
回路のリセット端子に入力されるように前記状態信号を
外部に出力するための出力端子と前記論理回路のリセッ
ト端子とを接続するようにしたので、入力ピンを増やす
ことなく、PLLが位相同期化すると速やかに論理回路
のリセット状態を解除することができる。
【図1】 本発明の実施の形態に係る集積回路のリセッ
ト回路の構成を示すブロック図。
ト回路の構成を示すブロック図。
【図2】 図1に示した本発明の実施の形態に係る集積
回路のリセット回路の動作を説明するためのタイミング
チャート。
回路のリセット回路の動作を説明するためのタイミング
チャート。
【図3】 従来の集積回路のリセット回路の構成を示す
ブロック図。
ブロック図。
10、20 集積回路 30 信号源 40 電源 50 負荷抵抗 100、200 PLL回路 102、202 内部論理回路 104、204 NMOSトランジスタ
Claims (1)
- 【請求項1】 論理回路と、該論理回路に供給するクロ
ック信号の位相同期をとる位相同期回路とを内蔵する集
積回路を複数、有する回路装置において、 前記集積回路は、前記論理回路に供給されるクロック信
号が位相同期化されたことを示す前記位相同期回路から
出力される状態信号を取り込み、外部に出力するオープ
ンコレクタ出力型またはオープンドレイン出力型のゲー
トを有し、これらのゲート出力を集積回路の外部で共通
接続し、負荷抵抗を介して電源に接続すると共に、複数
の各集積回路において、ゲートを介して出力される前記
状態信号が前記論理回路のリセット端子に入力されるよ
うに前記状態信号を外部に出力するための出力端子と前
記論理回路のリセット端子とを接続したことを特徴とす
る集積回路のリセット回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06085799A JP3324547B2 (ja) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | 集積回路のリセット回路 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP06085799A JP3324547B2 (ja) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | 集積回路のリセット回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2000261299A JP2000261299A (ja) | 2000-09-22 |
JP3324547B2 true JP3324547B2 (ja) | 2002-09-17 |
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ID=13154483
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP06085799A Expired - Lifetime JP3324547B2 (ja) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | 集積回路のリセット回路 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP3324547B2 (ja) |
-
1999
- 1999-03-08 JP JP06085799A patent/JP3324547B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000261299A (ja) | 2000-09-22 |
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