JPH03141104A - 複合酸化物超電導薄膜の作製方法 - Google Patents

複合酸化物超電導薄膜の作製方法

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JPH03141104A
JPH03141104A JP1276709A JP27670989A JPH03141104A JP H03141104 A JPH03141104 A JP H03141104A JP 1276709 A JP1276709 A JP 1276709A JP 27670989 A JP27670989 A JP 27670989A JP H03141104 A JPH03141104 A JP H03141104A
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JP
Japan
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superconductive
thin film
film
substrate
compound oxide
Prior art date
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Pending
Application number
JP1276709A
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English (en)
Inventor
Kenjiro Higaki
檜垣 賢次郎
Shusuke Nakanishi
秀典 中西
Keizo Harada
敬三 原田
Hideo Itozaki
糸崎 秀夫
Shuji Yatsu
矢津 修示
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication of JPH03141104A publication Critical patent/JPH03141104A/ja
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
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    • Y02E40/60Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment

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  • Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
  • Oxygen, Ozone, And Oxides In General (AREA)
  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、複合酸化物超電導薄膜の作製方法に関する。
より詳細には、本発明は、複合酸化物超電導薄膜を、よ
り少ない工程でより高品質に作製するための新規な方法
に関する。
従来の技術 電子の相転移であるといわれる超電導現象は、長い間、
液体ヘリウムによる冷却を必要とする極低温下において
のみ観測される現象であるとされていた。しかしながら
、1986年にベドノーツ、ミューラー等によって、3
0にで超電導状態を示す(La、 Ba) 2CU 0
4が発見され、更に、1987年は、チュー等によって
、90に台の超電導臨界温度Tcを有するY8azCu
s O,発見され、続いて、1988年には前出等によ
って100 K以上の臨界温度を示す所謂Bi系の複合
酸化物系超電導材料が発見された。
これらの複合酸化物系超電導材料は、廉価な液体窒素に
よる冷却でも超電導現象を実現することができるので、
超電導技術の実用的な応用の可能性が俄に取り沙汰され
るようになった。
上述のような高い臨界温度を示す複合酸化物系超電導材
料は、当初粉末冶金法により焼結体として得られていた
が、焼結体材料では特に臨界電流密度等の特性について
好ましい特性が得られず、最近では薄膜として作製する
方法が広く研究されるようになった。通常、複合酸化物
系超電導薄膜は、5rTi○、単結晶基板、〜+gO単
結晶基板等の上に、真空蒸着法、スパッタリング法等の
各種蒸着法によって成膜される。
発明が解決しようとする課題 従来から知られている各種の蒸着法によって作製された
複合酸化物薄膜は一般にはそのままでは十分な超電導特
性を示さず、有効な超電導特性を発揮する複合酸化物薄
膜を得るには、形成された複合酸化物薄膜に対してボス
トアニール処理を行う必要がある。
しかしながら、基板上に形成された薄膜にアニール処理
を実施すると、基板材料が薄膜中に拡散するために、基
板近傍の領域では薄膜の品質が大幅に低下することが知
られている。従って、このような処理を受けた薄膜は、
その表面付近を実験に使用することはできても、これを
利用して各種デバイスを形成する等実用的な用途には使
用することができない。
そこで本発明は、上記従来技術の問題点を解決し、ボス
トアニール処理なしに、成膜したままの状態で高い超電
導特性が実現されるような新規な超電導薄膜の作製方法
を提供することをその目的としている。
課題を解決するための手段 即ち、本発明に従うと、スパッタリング法によって基板
上に複合酸化物超電導薄膜を作製する方法であって、該
基板上の成膜面に、03ガスを吹きつけながら複合酸化
物超電導材料層の成膜を行うことを特徴とする複合酸化
物超電導薄膜の作製方法が提供される。
作用 本発明に係る方法は、スパッタリング法による複合酸化
物超電導材料層の成膜を、成膜面に03ガスを吹きつけ
ながら行うことをその主要な特徴としている。
複合酸化物超電導材料は、一般に大きな酸素不定比性を
示すことが知られており、また、一般に非化学量論性が
低い程高い超電導特性を発揮することが知られている。
従来法による超電導薄膜の作製においては、この酸素不
定比性による酸素の不足を補う目的でボストアニール処
理を実施していたものである。
これに対して、本発明に係る方法では、成膜処理を03
ガスを吹きつけながら行う。即ち、03は、0□に活性
酸素が作用したものであり、高い酸化性を示す。従って
、成膜処理中に成膜面に作用して超電導材料層の酸化を
促進し、延いてはボストアニール処理の省略を可能とし
ている。
尚、本発明に係る方法において、03と複合酸化物との
反応を十分に行うためには、吹きつける03ガスの純度
が高い程有利である。また、成膜速度は低い方が有利で
ある。更に、基板上に形成される薄膜の酸化を促進する
と共に、薄膜の品質を均一にするために、03ガスの吹
きつけは、基板の周囲から複数のノズルによって行うこ
とが好ましい。具体的には、基板の径よりも大きい内径
を有するリング状のパイプに複数のノズル孔を形成した
複合ノズルを使用することが有利である。
また、最終的に得られる複合酸化物超電導薄膜の特性は
、複合酸化物層の平滑性にも依存し、具体的には表面粗
さR14AXが0.02μm以下であることが好ましい
。従らて、使用する下地基板の成膜面は十分に平滑であ
ることが好ましく、この点からも複合酸化物薄膜の成膜
速度は遅い方が有利である。
本発明に係る方法において有利に使用できる基板材料と
しては、SrTiO3単結晶、MgO単結晶等が挙げら
れる。また、本発明が好ましく適用できる複合酸化物系
超電導材料としては、La系、Y系、Bl系、TI系な
どの高温超電導酸化物があげられる。
以下に実施例を挙げて、本発明をより具体的に説明する
が、以下の開示は本発明の一実施例に過ぎず、本発明の
技術的範囲を何ら限定するものではない。
実施例1 第1図は、本発明に係る複合酸化物超電導薄膜の作製方
法を実施することができる装置の構成を模式的に示す図
である。
同図に示すように、この装置は、成膜室1と、下地基板
2を成膜室1内で保持する基板ホルダ3と、成膜室1内
で基板ホルダ3に保持された下地基板2に03ガスを吹
きつけるリング状ノズル7とを備えている。また、基板
ホルダ3には、下地基板2の温度を制御するためのヒー
タ4が備えられている。一方、下地基板2に対向して載
置されたターゲット5に、高周波電力を印加することが
できるように、成膜室の外には高周波電源6が接続され
ている。
このように構成された装置では、成膜室1内を一旦排気
した後后ガスを導入し、ターゲット5に高周波電力を印
加することにより、下地基板2の表面に、ターゲットの
組成に対応した組成の薄膜を形成することができる。ま
た、この成膜操作中に、ノズル7より0.ガスを吹きつ
けることができる。
下地基板として直径15mmφの5rTiO,単結晶基
板を使用し、その(100)面を成膜面として、第1図
に示すような装置で、下記の第1表に示すような成膜条
件で複合酸化物超電導材料層を形成した。
第1表 尚、0.ガスの吹きつけは、下地基板近傍に配置したリ
ング状ノズルによって行い、03ガスの併置は、5cc
/分とした。また、吹きつけた0゜ガスは、液体窒素に
よって冷却した液体オゾンを気化させたもので、実質的
に純粋な0.ガスである。
また、比較例として、上記実施例と同じ成膜条件で、0
3ガスの代わりに02ガスを吹きつけながら超電導薄膜
を作製した。
実施例と比較例の各試料について、それぞれ超電導臨界
温度Tcと臨界電流密度Jcとを測定した。評価結果を
第2表に併せて示す。
第2表 た超電導薄膜は、ボストアニールなしに高い臨界温度と
高い臨界電流密度とを達成していることが確S忍された
尚、比較例の試料に対して、02気流中で、3℃/分の
昇温速度で920℃まで加熱した後、この温度を1時間
保持した後、3℃/分の降温速度で室温まで冷却するボ
ストアニール処理を行ったところ、下記の第3表に示す
ように、実施例に匹敵する超電導特性を示すようになっ
た。
第3表 *:試料の電気抵抗が低下し始める温度木本:試料の電
気抵抗が測定できなくなった温度本本本ニア7Kにおけ
る臨界電流密度 第2表に示すように、本発明に従って作製され*:試料
の電気抵抗が低下し始める温度木本:試料の電気抵抗が
測定できなくなった温度本本本ニア7Kにおける臨界電
流密度 更に、前述の実施例に係る試料と、上述のボストアニー
ル処理後の比較例試料とを、それぞれ表面から1000
人までエツチングした後に、改めて超電導特性を測定し
たところ、第4表に併せて示すように、比較例では特性
が著しく劣化した。
第3表 発明の詳細 な説明したように、本発明に係る複合酸化物超電導薄膜
の製造方法では、03雰囲気下で超電導材料層の成膜を
行うことによって、成膜後のボストアニール処理なしに
高い超電導特性を実現している。従って、複合酸化物超
電導薄膜の製造工程を減少することができる。
また、この方法によって作製された超電導薄膜は、下地
基板材料の超電導材料層への熱拡散がないので、超電導
現象を利用した各種素子の作製基材として好ましい構成
となっており、一連の薄膜素子や超電導量子干渉計(S
QUID)等の作製に有利に利用することができる。
*二試料の電気抵抗が低下し始める温度木本:試料の電
気抵抗が測定できなくなった温度本本本ニア7Kにおけ
る臨界電流密度
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に係る複合酸化物超電導薄膜の作製方
法を実施することができる装置の構成を模式的に示す図
である。 〔主な参照番号〕 1・・・成膜室、    2・・・下地基板、3・・・
基板ホルダ、  4・・・ヒータ、5・・・ターゲット
、 6・・・高周波電源、7・・・リング状ノズル、 8・・・Arガス導入口 第1図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  スパッタリング法によって基板上に複合酸化物超電導
    薄膜を作製する方法であって、 該基板上の成膜面に、O_3ガスを吹きつけながら複合
    酸化物超電導材料層の成膜を行うことを特徴とする複合
    酸化物超電導薄膜の作製方法。
JP1276709A 1989-10-24 1989-10-24 複合酸化物超電導薄膜の作製方法 Pending JPH03141104A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103003466A (zh) * 2010-07-12 2013-03-27 三斯特根股份有限公司 通过电弧涂布基材的方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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