JPH0273663A - 混成集積回路装置 - Google Patents
混成集積回路装置Info
- Publication number
- JPH0273663A JPH0273663A JP63226142A JP22614288A JPH0273663A JP H0273663 A JPH0273663 A JP H0273663A JP 63226142 A JP63226142 A JP 63226142A JP 22614288 A JP22614288 A JP 22614288A JP H0273663 A JPH0273663 A JP H0273663A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- resin
- integrated circuit
- hybrid integrated
- wiring board
- sealed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract description 28
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000007789 sealing Methods 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract description 2
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 abstract description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 2
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000008188 pellet Substances 0.000 description 1
- 238000004382 potting Methods 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
- H01L2224/45138—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
- H01L2224/45144—Gold (Au) as principal constituent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49171—Fan-out arrangements
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は混成集積回路装置に関し、特にトランスファー
モールド樹脂で成形された混成集積回路装置に関する。
モールド樹脂で成形された混成集積回路装置に関する。
従来、この種の樹脂封止層混成集積回路装置は例えば、
特開昭61−170217号公報従来技術に説明されて
いる。即ち、配線基板上に配置された能動素子及び受動
素子は所望の回路機能を得る為に、能動素子及び受動素
子と配線基板間、更には配線基板とリードフレーム間を
金属細線等で結線し、能動素子、受動素子、配線基板、
金属細線を物理的機械的に保護する為に黒色の樹脂で全
面に封止されている。
特開昭61−170217号公報従来技術に説明されて
いる。即ち、配線基板上に配置された能動素子及び受動
素子は所望の回路機能を得る為に、能動素子及び受動素
子と配線基板間、更には配線基板とリードフレーム間を
金属細線等で結線し、能動素子、受動素子、配線基板、
金属細線を物理的機械的に保護する為に黒色の樹脂で全
面に封止されている。
上述した従来の樹脂封止層混成集積回路装置は搭載され
る能動素子の特性を制約している。例えば紫外線消去プ
ログラマブルROM (以下UVEPROMと呼ぶ)が
このタイプの混成集積回路装置に搭載された場合、黒色
の樹脂に封止されている為、光が遮断され、既に書き込
まれたメモリは消去が不可となる。従ってこの場合、U
VE P ROMをワンタイムFROM ICとして
使用できるが、UVEPROMとしての幅広い応用が不
可となる為、適用分野が限られ販売量としても限定され
るのが現状であった。受光素子内蔵混成集積回路の応用
分野についても、前例と同様に黒色のモールド樹脂の為
、光がしゃ断され、この分野に参入が難しかった。しか
し、この問題点を打開すべく、透明の樹脂を全面に封止
する方法もあるが、この場合混成集積回路に搭載されて
いる他の能動素子の先約安定化を考えると充分な方策と
いえない。
る能動素子の特性を制約している。例えば紫外線消去プ
ログラマブルROM (以下UVEPROMと呼ぶ)が
このタイプの混成集積回路装置に搭載された場合、黒色
の樹脂に封止されている為、光が遮断され、既に書き込
まれたメモリは消去が不可となる。従ってこの場合、U
VE P ROMをワンタイムFROM ICとして
使用できるが、UVEPROMとしての幅広い応用が不
可となる為、適用分野が限られ販売量としても限定され
るのが現状であった。受光素子内蔵混成集積回路の応用
分野についても、前例と同様に黒色のモールド樹脂の為
、光がしゃ断され、この分野に参入が難しかった。しか
し、この問題点を打開すべく、透明の樹脂を全面に封止
する方法もあるが、この場合混成集積回路に搭載されて
いる他の能動素子の先約安定化を考えると充分な方策と
いえない。
本発明の樹脂封止型混成集積回路装置は、配線基板上に
少なくとも複数個からなる能動素子及び受動素子が取付
けられ、前記配線基板を該配線基板の取付は予定部を取
り囲むように配列され多数の内部リードを有するリード
フレームに搭載して樹脂封止してなる樹脂封止型混成集
積回路装置において、前記能動素子及び受動素子の内特
定の能動素子のみを選択的に透明な樹脂で封止したこと
を特徴とする。
少なくとも複数個からなる能動素子及び受動素子が取付
けられ、前記配線基板を該配線基板の取付は予定部を取
り囲むように配列され多数の内部リードを有するリード
フレームに搭載して樹脂封止してなる樹脂封止型混成集
積回路装置において、前記能動素子及び受動素子の内特
定の能動素子のみを選択的に透明な樹脂で封止したこと
を特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の構造を示す平面図、第2図
は第1図のX−Y線断面図である。図において1は金属
製リードフレームであり、この上に配線基板2が接着剤
をもちいて取り付けられている。この配線基板2上に能
動素子3,3A及び3Bが搭載される。能動素子3はU
VEPROMチップ(例えばμPD27C256AC(
日本電気部)、3Aはゲートアレイ、3Bはマイクロコ
ンピュータである。各素子はワイヤポンディング法によ
りAu線5により配線基板2の配線導体と結線される。
は第1図のX−Y線断面図である。図において1は金属
製リードフレームであり、この上に配線基板2が接着剤
をもちいて取り付けられている。この配線基板2上に能
動素子3,3A及び3Bが搭載される。能動素子3はU
VEPROMチップ(例えばμPD27C256AC(
日本電気部)、3Aはゲートアレイ、3Bはマイクロコ
ンピュータである。各素子はワイヤポンディング法によ
りAu線5により配線基板2の配線導体と結線される。
配線基板2と金属製リードフレーム1とは同様にワイヤ
ポンディング法によりALt線4により結線される。樹
脂封止はトランスファーモールド法を用い能動素子3A
、3B部は不透明例えば黒色樹脂7で、能動素子3部は
透明樹脂6で選択的に封止する。選択的な封止方法とし
ては例えば、黒色樹脂7を全面に封止した後、能動素子
3の所要部の樹脂を選択的に除去し、10φ順の開口部
を設ける。除去は加温された発煙硝酸を用いる。開口部
には透明なシリコーン樹脂をボ。
ポンディング法によりALt線4により結線される。樹
脂封止はトランスファーモールド法を用い能動素子3A
、3B部は不透明例えば黒色樹脂7で、能動素子3部は
透明樹脂6で選択的に封止する。選択的な封止方法とし
ては例えば、黒色樹脂7を全面に封止した後、能動素子
3の所要部の樹脂を選択的に除去し、10φ順の開口部
を設ける。除去は加温された発煙硝酸を用いる。開口部
には透明なシリコーン樹脂をボ。
ティングし封止する。また、他の方法として能動素子3
の所要部が樹脂封止されないような樹脂封止彫金型を用
いて10’mmの開口部を設け、開口部には透明なシリ
コーン樹脂をポツティングし封止してもよい。
の所要部が樹脂封止されないような樹脂封止彫金型を用
いて10’mmの開口部を設け、開口部には透明なシリ
コーン樹脂をポツティングし封止してもよい。
以上説明したように本発明は、少なくとも1つ以上の能
動素子部の所要部を選択的に透明な樹脂で封止すること
により、能動素子の光学的授受を可能に出来る効果があ
る。更に光学的授受を必要としない素子は不透明な樹脂
で封止されている為、電気的な安定性は維持できる。具
体的な効果の一例としてはUVEPROM、マイクロコ
ンピュータ−、メモリICを含む混成集積回路をワンパ
ッケージ内に設けた場合、従来の構造では樹脂封止は不
透明例えば黒色の樹脂を全面に用いていた。
動素子部の所要部を選択的に透明な樹脂で封止すること
により、能動素子の光学的授受を可能に出来る効果があ
る。更に光学的授受を必要としない素子は不透明な樹脂
で封止されている為、電気的な安定性は維持できる。具
体的な効果の一例としてはUVEPROM、マイクロコ
ンピュータ−、メモリICを含む混成集積回路をワンパ
ッケージ内に設けた場合、従来の構造では樹脂封止は不
透明例えば黒色の樹脂を全面に用いていた。
この為ROMライターでUVEPROMにプログラムを
書き込んだ後修正又は変更したい場合、紫外線を照射し
てプログラムを消去しようとしてもUVEPROMは不
透明な樹脂にさえぎられて消去できなく結果的にこの混
成集積回路は廃棄されていた。本発明の構造を用いれば
UVEPROMの上方所要部は透明な樹脂で封止されて
いる為、容易にプログラムの消去は可能になり、繰り返
し使用が可能となる。
書き込んだ後修正又は変更したい場合、紫外線を照射し
てプログラムを消去しようとしてもUVEPROMは不
透明な樹脂にさえぎられて消去できなく結果的にこの混
成集積回路は廃棄されていた。本発明の構造を用いれば
UVEPROMの上方所要部は透明な樹脂で封止されて
いる為、容易にプログラムの消去は可能になり、繰り返
し使用が可能となる。
第1図は本発明の一実施例の構造を示す平面図、第2図
は第1図のX−Y線断面図である。 1・・・・・・金属製リードフレーム、2・・・・・・
配線基板、3・・・・・・μPD27C258AC用ペ
レット、34・・・・・・ゲート・アレイ、3B・・・
・・・マイクロコンピュータ、4,5・・・・・・Au
線、6・・・・・・透明樹脂部、7・・・・・・黒色樹
脂。 代理人 弁理士 内 原 晋
は第1図のX−Y線断面図である。 1・・・・・・金属製リードフレーム、2・・・・・・
配線基板、3・・・・・・μPD27C258AC用ペ
レット、34・・・・・・ゲート・アレイ、3B・・・
・・・マイクロコンピュータ、4,5・・・・・・Au
線、6・・・・・・透明樹脂部、7・・・・・・黒色樹
脂。 代理人 弁理士 内 原 晋
Claims (1)
- 配線基板上に少なくとも複数個からなる能動素子及び受
動素子が取付けられ前記配線基板を該配線基板の取付け
予定部を取り囲むように配列された多数の内部リード部
を有するリードフレームに搭載して樹脂封止してなる樹
脂封止型混成集積回路装置において、前記能動素子及び
受動素子の内特定の能動素子のみを選択適に透明な樹脂
で封止したことを特徴とする樹脂封止型混成集積回路装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63226142A JPH0273663A (ja) | 1988-09-08 | 1988-09-08 | 混成集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63226142A JPH0273663A (ja) | 1988-09-08 | 1988-09-08 | 混成集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0273663A true JPH0273663A (ja) | 1990-03-13 |
Family
ID=16840515
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63226142A Pending JPH0273663A (ja) | 1988-09-08 | 1988-09-08 | 混成集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0273663A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04255264A (ja) * | 1991-02-07 | 1992-09-10 | Nec Corp | 混成集積回路 |
JPH04107844U (ja) * | 1991-03-05 | 1992-09-17 | 日本電気株式会社 | 混成集積回路装置 |
-
1988
- 1988-09-08 JP JP63226142A patent/JPH0273663A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04255264A (ja) * | 1991-02-07 | 1992-09-10 | Nec Corp | 混成集積回路 |
JPH04107844U (ja) * | 1991-03-05 | 1992-09-17 | 日本電気株式会社 | 混成集積回路装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5665651A (en) | Process for encapsulating a semiconductor device and lead frame | |
US5939778A (en) | Integrated circuit chip package | |
JPH09129780A (ja) | Icパッケージ、光センサicパッケージおよびこれらの組立方法 | |
US6291263B1 (en) | Method of fabricating an integrated circuit package having a core-hollowed encapsulation body | |
US4635165A (en) | Printed-circuit construction with EPROM IC chip mounted thereon | |
KR100282290B1 (ko) | 칩규모패키지및그제조방법 | |
JPH0273663A (ja) | 混成集積回路装置 | |
JPS59107551A (ja) | 半導体装置 | |
JPS62241358A (ja) | ワンタイムプログラム型半導体装置 | |
JP3054929B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP3431993B2 (ja) | Icパッケージの組立方法 | |
JP3197847B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JPH0653266A (ja) | 半導体装置 | |
JP3073467B2 (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
JP3340455B2 (ja) | Oリングパッケージ | |
KR19980027872A (ko) | 칩 카드 | |
JPH05211247A (ja) | 半導体装置 | |
KR0163214B1 (ko) | 세라믹 기판을 이용한 집적회로 패키지 및 그의 제조방법 | |
JPH04324963A (ja) | 混成集積回路装置 | |
JPH0758161A (ja) | フィルムキャリヤ及びこのフィルムキャリヤを用いた半導体装置 | |
JP2724191B2 (ja) | 光半導体装置及びその製造方法 | |
JPH10308479A (ja) | 樹脂封止型半導体装置 | |
KR19980019661A (ko) | 홈이 형성된 인쇄회로기판을 이용한 COB(Chip On Board)패키지 | |
KR100244509B1 (ko) | 반도체 패키지의 제조방법 | |
JPH06291221A (ja) | 半導体装置及びその製造方法 |