JPH0259943A - 塗潰しパターン発生装置 - Google Patents

塗潰しパターン発生装置

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JPH0259943A
JPH0259943A JP63211843A JP21184388A JPH0259943A JP H0259943 A JPH0259943 A JP H0259943A JP 63211843 A JP63211843 A JP 63211843A JP 21184388 A JP21184388 A JP 21184388A JP H0259943 A JPH0259943 A JP H0259943A
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Tsutomu Minagawa
勉 皆川
Masahide Ohashi
大橋 正秀
Naoyuki Kai
直行 甲斐
Yukimasa Uchida
内田 幸正
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    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) この発明は演算機能を備えたメモリ装置に係り、特に大
量のデータを高速に演算処理する必要があるグラフィッ
ク処理等で使用される演算機能付メモリ装置に関する。
(従来の技術) 例えばグラフィックのような、画素演算等の演算処理を
行なう場合、処理装置はメモリ装置内のデータを大量に
かつ高速に処理する必要がある。
グラフィックに使用されるメモリ装置は画像メモリとし
ての機能の他に、各画素間の演算も行なえることが必須
となっている。この画素間演算には画像データの重ね合
せだけではなく、隣どうしの画素間の演算や複数画素間
の演算等がある。
しかしながら、画素間の演算機能を有する従来の処理装
置は、第11図のブロック図に示すように演算処理装置
91.システムメモリ92及び画像メモリ93がデータ
バス94を介して相互に接続されて構成されており、画
像データを格納している画像メモリ93が演算処理装置
91とは切り離された場所に存在している。このため、
演算処理装置91は、データバス94を通して画像メモ
リ93のデータを読み出し、処理後に再びデータバス9
4を通して画像メモリ93に書き込むという処理を実行
することになる。このため、演算処理装置91の処理能
力が潜在的に非常に高い場合でも、画像メモリ93にお
けるデータの読み書きに費やされる時間や1回のアクセ
スで取り扱えるデータ量で全体の性能が決められてしま
う。演算処理装置91を効率良く動作させるには、画像
メモリ93におけるデータの読み書きに費やされる時間
をできるだけ短縮し、かつ演算処理袋f91が1回のア
クセスで取り扱えるデータ量を1回のメモリアクセスで
行なえる必要がある。画像メモリ93との読み書きの時
間については、年々、性能は向上しているものの、特殊
な用途向けの高速で小容量のものはあるが、価格が高価
であり、かつ大容量には向かない。1回のアクセスで読
み書きできるデータ幅については、メモリの種類にもよ
るが、1ビット幅、4ビット幅、8ビット幅等にとどま
っており、データ幅を広げるためにメモリを多数個使用
することになり、コスト的にも物理的にもやはり限界が
ある。
以上の理由から画像メモリ93との読み書きの時間をで
きるだけ速くシ、かつデータバス94の幅をできるだけ
広くし、さらに演算処理装置91の処理能力を高め、結
果的にバンド幅を上げ、全体の性能を向上させているの
が現状である。
(発明が解決しようとする課題) このように従来では画素演算等の演算処理を行なう場合
、演算処理装置とメモリ装置とが分離されているため、
大量の画素データの演算処理を高速に行なうことができ
ないという欠点がある。
この発明は上記のような事情を考慮してなされたもので
あり、その目的は、大量の画素データの演算処理を高速
に実行することができる演算機能付メモリ装置を提供す
ることにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) この発明の演算機能付メモリ装置は、メモリセルがm行
n列に配列された第1のメモリセルアレイと、上記第1
のメモリセルアレイの1行を選択してnビットのデータ
を読み出す第1の読み出し制御手段と、上記第1のメモ
リセルアレイの1行を選択してnビットのデータを書き
込む第1の書き込み制御手段と、上記第1のメモリセル
アレイとは独立に設けられnビットのデータを記憶する
レジスタと、上記第1の読み出し制御手段により上記第
1のメモリセルアレイから読み出されたnビットのデー
タと上記レジスタで記憶されているnビットのデータの
対応するビットの内容を変数として論理演算を行ない各
ビット毎の論理演算結果を得る論理演算回路とが同一集
積回路内に構成され、上記第1の書き込み制御手段は上
記論理演算回路で得られた論理演算結果を構成ビットと
するnビットのデータを上記第1のメモリセルアレイの
所望する1行に書き込むように構成したことを特徴とす
る。
(作用) メモリセルがm行n列のメモリセルアレイは、1行nビ
ット単位でデータの読み書きが行なわれる。また、上記
メモリセルアレイの1行分に相当するnビット幅のレジ
スタが設けら札ている。上記メモリセルアレイの1行分
のデータが読み出され、この読み出されたデータと上記
レジスタの記憶データとが論理演算回路によって演算さ
れ、この演算結果が上記メモリセルアレイの任意の1行
に書き込まれる。そして、上記メモリセルアレイ、レジ
スタ、論理演算回路等が同一集積回路内に構成されてお
り、外部データバスを介さずに内部だけで画素演算等の
演算処理を行なうことができる。
この結果、大量の画素データの演算処理を高速に行なう
ことができる。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明を実施6例により説明す
る。
第1図はこの発明に係る演算機能付メモリ装置の基本的
な構成を示すブロック図である。図において、11は、
記憶要素としてのメモリセルがm行n列に配置されたメ
モリである。このメモリー1は1行nビット単位でデー
タの読み書きが行なえるようになっている。12はMA
+  aO+”I+ ・・・a の引数を持った関数f
 (MA 、  aQ 、  al・・・a J )の
論理演算を実行する演算器である。そして、引数aO,
a1.・・・a、eは引数MAと同様にそれぞれnビッ
ト幅を持つデータであり、これらはそれぞれnビット幅
のラッチで構成されたレジスタの出力データであったり
、あるいは上記メモリ11もしくは図示しない他のメモ
リから読み出されるnビット幅のデータである。
このような構成において、演算器12では、メモリ11
から読み出された1行分のデータMAと、他の引数であ
るaQ、al、・・・apとの間で演算が行なわれ、そ
の結果がメモリ11の任意の行に書き込まれる。
第2図は上記第1図の構成を具体的な装置を用いて実現
した、この発明の第1の実施例による構成を示すブロッ
ク図である。図において、21は第1図中のメモリ11
に対応したメモリセルアレイであり、記憶要素としての
メモリセルがm行n 列に配置されている。22は読み
出し制御回路である。
この読み出し制御回路22は上記メモリセルアレイ21
の任意の1行を選択し、その1行nビット分のメモリセ
ルの記憶データを読み出す。23は書き込み制御回路で
ある。この書き込み制御回路23は上記メモリセルアレ
イ21の任意の1行を選択し、その1行nビット分のメ
モリセルにデータを書き込む。24は第1図中の演算器
12に対応した論理演算回路であり、n個の排他的論理
和回路25で構成されている。28はnビットのデータ
からなる引数aoを記憶するn個のラッチからなるレジ
スタであり、27はこのレジスタ26のn個の各ラッチ
にデータを書き込む書き込み制御回路である。なお、上
記メモリセルアレイ21、読み出し制御回路22、書き
込み制御回路23、論理演算回路24、レジスタ26及
び書き込み制御回路27は同一集積回路内に構成され、
全体が1チツプ化されている。
このような構成において、読み出し制御回路22により
上記メモリセルアレイ2Iから任意の1行分のnビット
の記憶データMAが読み出され、レジスタ26で記憶さ
れているnビットのデータaOと共に論理演算回路24
に供給される。論理演算回路24はn個の排他的論理和
回路25を用いてこれらのデータM^及びa、)の同一
ビット毎の排他的論理演算を実行する。そして、この演
算結果は書き込み制御回路23により上記メモリセルア
レイ21の元の1行分のnビットのメモリセルに書き込
まれると共に、書き込み制御回路27によりレジスタ2
6にも書き込まれる。
次に第3図を用いて上記第2図の実施例装置の具体的な
動作を説明する。なお、この場合には、前記メモリセル
アレイ21が10行×8列(m−10,n−8)のメモ
リセルで構成されているとする。第3図(a)は演算処
理前のメモリセルアレイ21°における画素データの記
憶状態を示し、第3図(b)は演算処理後の画素データ
の記憶状態を示している。
まず、最初にメモリセルアレイ21の0行目の8ビツト
のデータが読み出され、論理演算回路24に供給される
。これと並行してレジスタ2Bにおける8ビツトの記憶
データも論理演算回路24に供給される。なお、予め上
記レジスタ26の内容はクリアされており、8ビツトの
記憶データは全て“0”レベルにされている。次に論理
演算回路24の各排他的論理和回路25で、メモリセル
アレイ21からの8ビツトの各データとレジスタ26の
対応するビットのデータとの間で論理演算が行なわれ、
その結果が再びメモリセルアレイ21の0行目に書き込
まれると共にレジスタ26に書き込まれる。すなわち、
論理演算が行なわれる前のメモリセルアレイ21の0行
目の8ビツトのデータは図示するように全て′O”レベ
ルであり、レジスタ26の8ビツトの記憶データも全て
“0“レベルにされているので、上記論理演算が行なわ
れ、データの書き込みが行なわれた後に、メモリセルア
レイ21の0行目における8ビツトのデータは図示する
ように全て“0”レベルとなる。
次に、メモリセルアレイ21の1行目の8ビツトのデー
タとレジスタ26の8ビツトの記憶データとの間で論理
演算が行なわれ、その結果が再びメモリセルアレイ2I
の1行目に書き込まれると共にレジスタ26に書き込ま
れる。この場合、論理演算が行なわれる前のメモリセル
アレイ21の1行目における8ビツトのデータは図示す
るように全て“0“レベルであり、レジスタ2Bの8ビ
ツトの記憶データも全て“0“レベルにされているので
、上記論理演算が行なわれた後のメモリセルアレイ21
の1行目の8ビツトのデータも図示するように全て“0
°レベルとなる。以下、同様にこのような動作がメモリ
セルアレイ21の各行毎に実行されることにより、メモ
リセルアレイ21には第3図(b)に示すように元の画
素データに論理演算が施された後の画素データが記憶さ
れる。
ところで、第2図の実施例装置は全ての回路が同一集積
回路内に構成されており、メモリセルアレイ21におけ
る1回のアクセスで取り扱えるデータ量を1行単位とす
ることができるため、論理演算回路24を効率良く動作
させることができ、大量の画素データの演算処理を高速
に行なうことができる。
第4図は上記第1図の構成を具体的な装置を用いて実現
した、この発明の第2の実施例による構成を示すブロッ
ク図である。この実施例は、第1図中のメモリ11に対
応したメモリセルアレイが2個設けられている場合であ
る。すなわち、第4図において、31.34はそれぞれ
第1図中のメモリ11に対応したメモリセルアレイであ
り、それぞれ記憶要素としてのメモリセルがm行n列に
配置されている。32.35は上記メモリセルアレイ3
1.34それぞれの任意の1行を選択し、その1行nビ
ット分のメモリセルの記憶データを読み出す読み出し制
御回路であり、33は上記メモリセルアレイ31の任意
の1行を選択し、その1行nビット分のメモリセルにデ
ータを書き込む書き込み制御回路である。また、36は
第1図中の演算器12に対応した論理演算回路であり、
この論理演算回路36はn個の排他的論理和回路37と
n個の論理和回路38とから構成されている。39はn
ビットのデータからなる引数aQを記憶するn個のラッ
チからなるレジスタであり、40はこのレジスタ39の
n個の各ラッチにデータを書き込む書き込み制御回路で
ある。なお、この場合にも、上記メモリセルアレイ31
.34、読み出し制御回路32.35、書き込み制御回
路33、論理演算回路36、レジスタ39及び書き込み
制御回路40は全て同一集積回路内に構成され、全体が
1チツプ化されている。
このような11■成において、読み出し制御回路32゜
25により上記各メモリセルアレイ31.34それぞれ
の任意の1行分のnビットの記憶データMA。
M(、か読み出され、レジスタ39に記憶されているn
ビットのデータa□と共に論理演算回路36に供給され
る。ここで、論理演算回路36内のn個の各排他的論理
和回路37にはメモリセルアレイ31の記憶データMA
の各ビットデータとレジスタ39からの対応するビット
データとが供給され、n個の各論理和回路38には対応
するビットの排他的論理和回路37の出力とメモリセル
アレイ34の記憶データM[lの対応するビットのデー
タが供給される。そして、各排他的論理和回路37の出
力がメモリセルアレイ31の書き込み制御回路33に供
給され、各論理和回路38の出力がレジスタ39の書き
込み制御回路40に供給される。すなわち、論理演算回
路37はそれぞれn個の排他的論理和回路38及び論理
回路39を用いてこれらのデータMA、M3及びa。の
同一ビット毎の論理演算を実行する。そして、この演算
結果は書き込み制御回路33により上記メモリセルアレ
イ31の元の1行分のnビットのメモリセルに書き込ま
れると共にレジスタ39にも書き込まれる。
次に第5図を用いて上記第4図の実施例装置の具体的な
動作を説明する。なお、この場合にも、メモリセルアレ
イ31.34それぞれが10行×8列(m−10、n−
8)のメモリセルで構成されているとする。第5図(a
)は演算処理前のメモリセルアレイ31における画素デ
ータの記憶状態を、第5図(b)は演算処理前のメモリ
セルアレイ34における画素データの記憶状態をそれぞ
れ示し、第5図(C)は演算処理後のメモリセルアレイ
31における画素データの記憶状態を示している。
まず、最初にメモリセルアレイ31と34それぞれのO
行目の8ビツトのデータが読み出され、論理演算回路3
6に供給される。これと並行してレジスタ39における
8ビツトの記憶データが論理演算回路3Gに供給される
。なお、予め上記レジスタ39の内容はクリアされてお
り、8ビツトの記憶データは全て″0°レベルにされて
いる。次に論理演算回路36の各排他的論理和回路37
で、メモリセルアレイ31からの8ビツトの各データと
レジスタ39の対応するビットのデータとの間で論理演
算が行なわれ、さらに各論理和回路37でこの結果とメ
モリセルアレイ34からの8ビツトの各データとの間で
論理演算が行なわれ、それぞれの結果が再びメモリセル
アレイ31の0行目に書き込まれると共にレジスタ39
に書き込まれる。すなわち、論理演算が行なわれる前の
メモリセルアレイ31及び34それぞれのO行目の8ビ
ツトのデータは図示するように全て“0“レベルであり
、レジスタ39の8ビツトの始めの記憶データも全て“
0“レベルにされているので、上記論理演算が行なわれ
、データの書き込みが行なわれた後、メモリセルアレイ
31の0行目における8ビツトのデータは図示するよう
に全て“0“レベルとなる。以下同様に、このような動
作がメモリセルアレイ31.34の各行毎に実行される
ことにより、メモリセルアレイ31には第5図(C)に
示すように元の画素データに論理演算が施された画素デ
ータが記憶される。
この実施例装置でも、全ての回路が同一集積回路内に構
成されており、メモリセルアレイ31.34における1
回のアクセスで取り扱えるデータ量を1行単位とするこ
とができるため、論理演算回路3Gを効率良く動作させ
ることができ、大量の画素データの演算処理を高速に行
なうことができる。
なお、上記各実施例では、レジスタ26.39はデ−タ
の記憶/読み出しを行なうためのLliなるワークレジ
スタとして用いているが、これらの代りにシフト機能を
有するレジスタを用いて、演算結果を外部にシフトして
出力するような構成にしてもよい。
第6図は上記第4図の実施例装置を用いたこの発明の応
用例回路の構成を示すプロ・ツク図である。
この応用例回路は、アウトライン・フォントブタに基づ
き、塗潰しが行なわれた文字ノくターンを発生するワー
ドプロセッサ等における文字ノくターン発生回路である
図において、外部データバス51、インターフェース回
路52及び内部データバス53を介してアウトライン・
フォントデータがdx、dy発生回路54に供給される
。このdx、dy発生回路54ではアウトラインードツ
ト変換が行なわれ、直線や曲線に近似された量子化デー
タ(d x、  d y)が発生される。この量子化デ
ータ(d x、  d y)はそれぞれ+1.−1.0
のいずれか一つの値をとり、この量子化データに基づい
て2つのメモリセルアレイ55及び56に描画が行なわ
れる。この描画の際、アウトライン内を塗潰すためにメ
モリセルアレイ56の描画は単純描画ではなく、特異点
処理が施された描画が行なわれる。上記両メモリセルア
レイ55、56への描画は、描画塗潰し制御回路57の
制御の下にXカウンタ58、Yカウンタ59、メモリセ
ルアレイ55の行デコーダ60.メモリセルアレイ56
の行デコーダGl、メモリセルアレイ55に対するI1
0バッファ回路[i2、メモリセルアレイ56に対する
I10バッファ回路63、メモリセルアレイ55の書き
込み/センスアン1回路64、メモリセルアレイ56の
書き込み/センスアンプ回路65を用いて行なわれる。
両メモリセルアレイ55.5[iに対する描画が行なわ
れた後は、一方のメモリセルアレイ55に描画されたア
ウトライン内を塗潰すために、メモリセルアレイ55.
56に記憶されたデータが1行単位で読み出され、塗潰
し回路6Bに供給される。°この塗潰し回路66は前記
第4図中のレジスタ39及び書き込み制御回路40を含
み、前記論理演算回路36に相当する論理演算を実行す
るものであり、論理演算後のデータは行デコーダ80、
列デコーダ67及び書き込み/センスアン1回路64を
用いてメモリセルアレイ55の下の1行に書き込まれる
。なお、第6図において、68.69は内部dxババス
び内部dyババス70は外部dx、dyバスであり、さ
らに71はメモリ制御回路である。
ここで、上記メモリセルアレイ55.56は前記第4図
中のメモリセルアレイ31.34に相当しており、行デ
コーダ60.書き込み/センスアン1回路64及び列デ
コーダ67は前記第4図中の読み出し制御回路32と書
き込み制御回路33とを含む回路に相当しており、さら
に行デコーダ61.書き込み/センスアンプ回路65は
前記第4図中の読み出し制御回路35に相当している。
第7図は上記第6図の応用例回路における塗潰し回路6
6の詳細な構成を示す回路図である。この回路は、各ビ
ットが排他的論理和回路37と論理和回路38とから構
成された前記第4図中の論理演算回路36において、各
排他的論理和回路37と論理和回路38の経路の途中に
、前記レジスタ39の各ビットデータを記憶する1ビツ
トラツチ39aをそれぞれ挿入して構成されている。な
お、上記各1ビツトラツチ39aはクリア信号によって
クリアが可能にされている。
第8図は上記第6図の応用例回路における塗潰し回路6
Gの他の詳細な構成を示す回路図である。
この塗潰し回路は、上記第7図の塗潰し回路中の1ビツ
トラツチ39aと論理和回路38との間に、論理和回路
8112個の論理積回路82.83及びインバータ84
からなり2ビツトのモード選択信号MO。
Mlに基づき1ビツトラツチ39の出力及び前記メモリ
セルアレイ5Gからの読み出しデータASOR〜AS 
(n−1)Hのいずれかを選択する選択回路85を追加
するようにしたものである。
このような構成において、2ビツトのモード選択信号M
O,Mlを共に“0“レベルに設定したときは各選択回
路85内の2個の論理積回路82.83の出力が共に“
02レベルにされ、このときメモリセルアレイ55にデ
ータの書き込みを行なうとメモリセルアレイ55がクリ
アされる。また2ビツトのモード選択信号のうちMOを
“0“レベル、Mlを“1ルベルに設定したときにメモ
リセルアレイ55にデータの書き込みを行なうと、メモ
リセルアレイ55には境界を含まない文字パターンの書
き込みが行なわれる。さらに、2ビツトのモード選択信
号のうちMOを“1“レベルに設定したときにメモリセ
ルアレイ55にデータの書き込みを行なうと、メモリセ
ルアレイ55には境界を含む文字パターンの書き込みが
行なわれる。
次に、上記第6図の応用例回路を用いて実際に塗潰し処
理を行なった例について説明する。第9図(a)はこの
塗潰し処理が行なわれる前のメモリセルアレイ56にお
けるデータの記憶状態を、第9図(b)は塗潰し処理が
行なわれる前のメモリセルアレイ55におけるデータの
記憶状態をそれぞれ示し、第9図(C)は処理後のメモ
リセルアレイ55におけるデータの記憶状態を示してい
る。なお、第10図は第9図(C)の場合と比べ、ドツ
ト数を増加させて演算を実行したときに得られる高精細
度文字パターンの一例を示すものである。
[発明の効果] 以上説明したようにこの発明の演算機能付メモリ装置に
よれば、大量の画素データの演算処理を高速に実行する
ことができ、アウトライン・フォントのような高精細度
文字パターンの発生を短時間で行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明に係る演算機能付メモリ装置の基本的
な構成を示すブロック図、第2図はこの発明の第1の実
施例による構成を示すブロック図、第3図は上記第1の
実施例装置の動作を説明するための図、第4図はこの発
明の第2の実施例による構成を示すブロック図、第5図
は上記第2の実施例装置の動作を説明するための図、第
6図は上11第4図の実施例装置を用いたこの発明の応
用例回路の構成を示すブロック図、第7図は上記第6図
の応用例回路における塗潰し回路の詳細な構成を示す回
路図、第8図は上記第6図の応用例回路における塗潰し
回路の他の詳細な構成を示す回路図、第9図は上記第6
図の応用例回路におけるメモリセルアレイのデータ記憶
状態を示す図、第10図は上記第6図の応用例回路で得
られる高精細度文字パターンの一例を示す図、第11図
は従来の処理装置のプロブ゛り図である。 11・・・メモリ、12・・・演算器、21.31.3
4・・・メモリセルアレイ、22 32.35・・・読
み出し制御回路、23゜27、33.40・・・書き込
み制御回路、24.36・・・論理演算回路、25.3
7・・・排他的論理和回路、26.39・・・レジスタ
、38・・・論理和回路。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第2図 (b) 第 図 クリア第 図 第 図 第 図 第 図 手 続 補 正 書 平成元年 8.31 月 日

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)メモリセルがm行n列に配列された第1のメモリ
    セルアレイと、 上記第1のメモリセルアレイの1行を選択してnビット
    のデータを読み出す第1の読み出し制御手段と、 上記第1のメモリセルアレイの1行を選択してnビット
    のデータを書き込む第1の書き込み制御手段と、 上記第1のメモリセルアレイとは独立に設けられnビッ
    トのデータを記憶するレジスタと、上記第1の読み出し
    制御手段により上記第1のメモリセルアレイから読み出
    されたnビットのデータと上記レジスタで記憶されてい
    るnビットのデータの対応するビットの内容を変数とし
    て論理演算を行ない各ビット毎の論理演算結果を得る論
    理演算回路とを同一集積回路内に構成し、 上記第1の書き込み制御手段は上記論理演算回路で得ら
    れた論理演算結果を構成ビットとするnビットのデータ
    を上記第1のメモリセルアレイの所望する1行に書き込
    むように構成したことを特徴とする演算機能付メモリ装
    置。
  2. (2)前記レジスタにデータを書き込む第2の書き込み
    制御手段が前記集積回路内に設けられ、この第2の書き
    込み制御手段は前記論理演算回路で得られた論理演算結
    果を構成ビットとするnビットのデータを前記レジスタ
    に書き込むように構成したことを特徴とする請求項1記
    載の演算機能付メモリ装置。
  3. (3)前記第1のメモリセルアレイとは独立した第2の
    メモリセルアレイ及びこの第2のメモリセルアレイの1
    行を選択してnビットのデータを読み出す第2の読み出
    し制御手段が前記集積回路内に設けられ、 前記論理演算回路は上記第2の読み出し制御手段により
    上記第2のメモリセルアレイから読み出されたnビット
    のデータを変数として論理演算を行なうように構成した
    ことを特徴とする請求項1記載の演算機能付メモリ装置
  4. (4)前記第1のメモリセルアレイとは独立した第2の
    メモリセルアレイ及びこの第2のメモリセルアレイの1
    行を選択してnビットのデータを書き込む第3の書き込
    み制御手段が前記集積回路内に設けられ、 上記第3の書き込み制御手段は前記論理演算回路で得ら
    れた論理演算結果を構成ビットとするnビットのデータ
    を上記第2のメモリセルアレイの1行を選択して書き込
    むように構成したことを特徴とする請求項1記載の演算
    機能付メモリ装置。
  5. (5)前記第2のメモリセルアレイにデータを書き込む
    第3の書き込み制御手段が前記集積回路内に設けられ、 上記第3の書き込み制御手段は前記論理演算回路で得ら
    れた論理演算結果を構成ビットとするnビットのデータ
    を前記第2のメモリセルアレイに書き込むように構成し
    たことを特徴とする請求項3記載の演算機能付メモリ装
    置。
  6. (6)前記論理演算回路は、前記第1の読み出し制御手
    段により前記第1のメモリセルアレイから読み出された
    データと前記レジスタで記憶されているデータの各対応
    するビット間の排他的論理和演算を行なうように構成さ
    れていることを特徴とする請求項1記載の演算機能付メ
    モリ装置。
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