JPH02269351A - ポジ型レジスト組成物 - Google Patents
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- 235000013904 zinc acetate Nutrition 0.000 description 1
- 239000011592 zinc chloride Substances 0.000 description 1
- 235000005074 zinc chloride Nutrition 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/022—Quinonediazides
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、紫外線(例えばG線、H線、■線など)、遠
紫外線(例えばエキシマ−等)、電子線X線等の放射線
に感応するレジスト組成物に関するものである。
紫外線(例えばエキシマ−等)、電子線X線等の放射線
に感応するレジスト組成物に関するものである。
〈従来の技術及び発明の課題〉
感放射線性成分であるキノンジアジド基を有する化合物
とアルカリ可溶性樹脂からなる組成物は紫外線の光照射
によりキノンジアジド基が分解してカルボキシル基を生
ずることにより、アルカリ不溶の状態からアルカリ可溶
性になることを利用してポジ型レジストとして用いられ
る。従来、その感放射線性成分として、トリヒドロキシ
ベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン等の
フェノール化合物とキノンジアジド化合物との縮合物が
用いられている。しかしながら、近年集積回路について
は高集積化に伴う微細化が進み、今やサブミクロンのパ
ターン1成が要求され、より優れた解像度(高いγ値)
が求められるようになった。その結果従来からある組合
せではγ値の向上には限界が生じた。例えば、γ値を向
上させるには、キノンジアジド化合物の量を増やすこと
が考えられる。
とアルカリ可溶性樹脂からなる組成物は紫外線の光照射
によりキノンジアジド基が分解してカルボキシル基を生
ずることにより、アルカリ不溶の状態からアルカリ可溶
性になることを利用してポジ型レジストとして用いられ
る。従来、その感放射線性成分として、トリヒドロキシ
ベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン等の
フェノール化合物とキノンジアジド化合物との縮合物が
用いられている。しかしながら、近年集積回路について
は高集積化に伴う微細化が進み、今やサブミクロンのパ
ターン1成が要求され、より優れた解像度(高いγ値)
が求められるようになった。その結果従来からある組合
せではγ値の向上には限界が生じた。例えば、γ値を向
上させるには、キノンジアジド化合物の量を増やすこと
が考えられる。
ところが、キノンジアジド化合物の量を増やすことは、
感度の低下や現像残渣の増加といった重大な欠点がある
。
感度の低下や現像残渣の増加といった重大な欠点がある
。
本発明の目的は、上述の問題のな°いγ値の高いポジ型
レジスト組成物を提供することである。
レジスト組成物を提供することである。
本発明者は、特定の構造を有する多価フェノール化合物
のキノンジアジドスルホン酸エステルを用いれば著しく
γ値が向上することを見出し本発明を完成した。
のキノンジアジドスルホン酸エステルを用いれば著しく
γ値が向上することを見出し本発明を完成した。
く課題を解決するための手段〉
本発明は、アルカリ可溶性樹脂、および下記一般式(I
)で表されるフェノール化合物のキノンジアジドスルホ
ン酸エステルを、1種又は2種以上含有するポジ型レジ
スト組成物を提供するものである。
)で表されるフェノール化合物のキノンジアジドスルホ
ン酸エステルを、1種又は2種以上含有するポジ型レジ
スト組成物を提供するものである。
上記一般式で表わされるフェノール化合物においては、
Rt −R2は各々水素原子、アルキル基、アルケニル
基、シクロアルキル基、アルコキシ基またはアリール基
である。その中でもRISR2がともに炭素数1〜4の
アルキル基であるものが好ましく、Rt、R2がともに
メチル基であるものは更に好ましい。
Rt −R2は各々水素原子、アルキル基、アルケニル
基、シクロアルキル基、アルコキシ基またはアリール基
である。その中でもRISR2がともに炭素数1〜4の
アルキル基であるものが好ましく、Rt、R2がともに
メチル基であるものは更に好ましい。
R,%R2の一方又は双方が水素原子である場合は、X
に対してオルソ位(すなわちY+ 、Yl、Ys 、
Ys )にある−OH基に対してさらにオルソ位(すな
わち例えばY、が−OH基である場合はZ3.Y3 が
−OH基である場合はZ、 )は、アルキル基又はアリ
ール基でなければならない。その中でも、Xに対してオ
ルソ位にある一〇H基に対してさらにオルソ位が、炭素
数1〜4のアルキル基であるものが好ましい。
に対してオルソ位(すなわちY+ 、Yl、Ys 、
Ys )にある−OH基に対してさらにオルソ位(すな
わち例えばY、が−OH基である場合はZ3.Y3 が
−OH基である場合はZ、 )は、アルキル基又はアリ
ール基でなければならない。その中でも、Xに対してオ
ルソ位にある一〇H基に対してさらにオルソ位が、炭素
数1〜4のアルキル基であるものが好ましい。
ZI Z2 Zs ZI 、Zs 、Zs は各
々水素原子、アルキル基、アリール−基、ハロゲン又は
−OH基であり、かつ少なくとも一つは一〇H基でなけ
ればならない。アルキル基としては炭素数1〜4のアル
キル基が好ましい。
々水素原子、アルキル基、アリール−基、ハロゲン又は
−OH基であり、かつ少なくとも一つは一〇H基でなけ
ればならない。アルキル基としては炭素数1〜4のアル
キル基が好ましい。
ZI Z2、Zi 、Z< 、Zs ZI
のうち少なくとも一つが一〇H基で他は水素原子である
ものは更に好ましい。
のうち少なくとも一つが一〇H基で他は水素原子である
ものは更に好ましい。
ZI、Zz Z3、ZI 25 2g 中の
−OH基の数としては2つが好ましい。
−OH基の数としては2つが好ましい。
又−OH基が2つ以上ある場合は、ZI、Z2Z、のう
ち少なくとも1つが一〇H基で、Z。
ち少なくとも1つが一〇H基で、Z。
Zs SZJ のうち少なくとも1つが一〇H基である
ものが好ましい。
ものが好ましい。
Y+ 、Yl 、Ys 、Yl は各々水素原子、アル
キル基、ハロゲンまたは一〇H基であり、かつ少なくと
も1つは一〇H基である。中でも、−OH基の数が1又
は2個であるものが好ましい。
キル基、ハロゲンまたは一〇H基であり、かつ少なくと
も1つは一〇H基である。中でも、−OH基の数が1又
は2個であるものが好ましい。
以上述べた各態様の中でも、ZI 、Z2 、Zsのう
ち1つが一〇H基で他は水素原子であり、ZI、Zi
、Zlのうち1つが一〇H基で他は水素原子であり、か
つYISY2、Yl、Y、の1つまたは2つが一〇H基
であり、Rt 、Rtがメチル基であるものが更に好ま
しい。
ち1つが一〇H基で他は水素原子であり、ZI、Zi
、Zlのうち1つが一〇H基で他は水素原子であり、か
つYISY2、Yl、Y、の1つまたは2つが一〇H基
であり、Rt 、Rtがメチル基であるものが更に好ま
しい。
上記一般式で表わされるフェノール化合物としでは、
CH3
L
C2L
等が例示されるが、
式(n)
または式
わされる化合物は好適である。
式(II)で表される化合物は酸触媒存在下、極性溶媒
中でメチルハイドロキノンを2−(3−ヒ式(III)
で表される化合物は酸触媒存在下、極性溶媒中でハイド
ロキノン又はレゾルシンを2=(3−ヒドロキシフェニ
ル)−フロペン又は2−(4−ヒドロキシフェニル)−
プロはンと反応させることにより合成できる。
中でメチルハイドロキノンを2−(3−ヒ式(III)
で表される化合物は酸触媒存在下、極性溶媒中でハイド
ロキノン又はレゾルシンを2=(3−ヒドロキシフェニ
ル)−フロペン又は2−(4−ヒドロキシフェニル)−
プロはンと反応させることにより合成できる。
酸触媒としては、塩化アルミニウム、三フッ化ホウ素の
各種錯体、塩化第二スズ、塩化亜鉛、硫酸などが挙げら
れる。
各種錯体、塩化第二スズ、塩化亜鉛、硫酸などが挙げら
れる。
極性溶媒としては、ジオキサン、ニトロベンゼン、モノ
クロロベンゼン、水、酢酸などが挙げられる。
クロロベンゼン、水、酢酸などが挙げられる。
式(II)で表される化合物の具体的な製法としては、
ジオキサン溶媒中、塩化アルミニウム触媒存在下で行う
ことが好ましい。更に、反応温度は、触媒の量に応じて
、20℃から、ジオキサンの沸点まで、選ぶことができ
るが、2−(3−ヒドロキシフェニル)−プロペンを用
いる場合は50〜100℃が2−(4−ヒドロキシフェ
ニル)−プロペンを用いる場合には、50〜80℃が好
ましい。反応モル比は、2− (3−ヒドロキシフェニ
ル)−フロペン又は2− (4−ヒドロキシフェニル)
−プロペンに対して、メチルハイドロキノンは1.2以
上好ましくは2.5〜4.0、塩化アルミニウムは0.
05〜2.0まで可能であるが、好ましくは0.2〜0
.5である。
ジオキサン溶媒中、塩化アルミニウム触媒存在下で行う
ことが好ましい。更に、反応温度は、触媒の量に応じて
、20℃から、ジオキサンの沸点まで、選ぶことができ
るが、2−(3−ヒドロキシフェニル)−プロペンを用
いる場合は50〜100℃が2−(4−ヒドロキシフェ
ニル)−プロペンを用いる場合には、50〜80℃が好
ましい。反応モル比は、2− (3−ヒドロキシフェニ
ル)−フロペン又は2− (4−ヒドロキシフェニル)
−プロペンに対して、メチルハイドロキノンは1.2以
上好ましくは2.5〜4.0、塩化アルミニウムは0.
05〜2.0まで可能であるが、好ましくは0.2〜0
.5である。
式(nl)の化合物のうち2−(3−ヒドロキシフェニ
ル)−2−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−プロパ
ンの具体的な製法としては、酢酸溶媒中、硫酸触媒存在
下で行うことが好ましい。更に、反応温度は触媒の量に
応じて10℃から酢酸の沸点まで選ぶことができるが、
15〜40℃が好ましい。反応モル比は2−(3−ヒド
ロキシフェニル)−フロペン1モルに対シて、レゾルシ
ンは、1.2以上、硫酸は0.01以上必要であるが、
それぞれ2.5〜4.0.0.5〜1.5が好ましい。
ル)−2−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−プロパ
ンの具体的な製法としては、酢酸溶媒中、硫酸触媒存在
下で行うことが好ましい。更に、反応温度は触媒の量に
応じて10℃から酢酸の沸点まで選ぶことができるが、
15〜40℃が好ましい。反応モル比は2−(3−ヒド
ロキシフェニル)−フロペン1モルに対シて、レゾルシ
ンは、1.2以上、硫酸は0.01以上必要であるが、
それぞれ2.5〜4.0.0.5〜1.5が好ましい。
式([[) の化合物のうち2−(4−ヒドロキシフ
ェニル)−2−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−プ
ロパンの具体的な製法としては、ジオキサン溶媒中、塩
化アルミニウム触媒存在下で行うことが好ましい。更に
反応温度は触媒の量に応じて10℃からジオキサンの沸
点まで選ぶことができるが、15〜40℃が好ましい。
ェニル)−2−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−プ
ロパンの具体的な製法としては、ジオキサン溶媒中、塩
化アルミニウム触媒存在下で行うことが好ましい。更に
反応温度は触媒の量に応じて10℃からジオキサンの沸
点まで選ぶことができるが、15〜40℃が好ましい。
反応モル比は、2− (4−ヒドロキシフェニル)−フ
ロペン1モルに対シてレゾルシンは1.2以上、塩化ア
ルミニウムは0.05〜2.0まで可能であるが、それ
ぞれ2.5〜4.0.0.3〜0.5が好ましい。
ロペン1モルに対シてレゾルシンは1.2以上、塩化ア
ルミニウムは0.05〜2.0まで可能であるが、それ
ぞれ2.5〜4.0.0.3〜0.5が好ましい。
式(III) の化合物のうち2−(3−ヒドロキシ
フェニル)−2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−
プロパンの具体的な製法としては、ジオキサン溶媒中、
塩化アルミニウム触媒存在下で行うことが好ましい。更
に、反応温度は触媒の量に応じて10℃からジオキサン
の沸点まで選ぶことができるが、80〜100℃が好ま
しい。
フェニル)−2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−
プロパンの具体的な製法としては、ジオキサン溶媒中、
塩化アルミニウム触媒存在下で行うことが好ましい。更
に、反応温度は触媒の量に応じて10℃からジオキサン
の沸点まで選ぶことができるが、80〜100℃が好ま
しい。
反応モル比は2−(3−ヒドロキシフェニル)−プロペ
ン1モルに対してハイドロキノンは1.2−プロペン1
モルに対してハイドロキノンは1.2以上、塩化アルミ
ニウムは0.05〜2.0まで可能であるが、それぞれ
2.5〜4,0.0.2〜0,4が好ましい。
ン1モルに対してハイドロキノンは1.2−プロペン1
モルに対してハイドロキノンは1.2以上、塩化アルミ
ニウムは0.05〜2.0まで可能であるが、それぞれ
2.5〜4,0.0.2〜0,4が好ましい。
式(III)の化合物のうち2−(4−ヒドロキシフェ
ニル)−2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−プロ
パンの具体的な製法としては、ジオキサン溶媒中、塩化
アルミニウム触媒存在下で行うことが好ましい。更に、
反応温度は触媒の量に応じて10℃からジオキサンの沸
点まで選ぶことができるが、60〜80℃が好ましい。
ニル)−2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−プロ
パンの具体的な製法としては、ジオキサン溶媒中、塩化
アルミニウム触媒存在下で行うことが好ましい。更に、
反応温度は触媒の量に応じて10℃からジオキサンの沸
点まで選ぶことができるが、60〜80℃が好ましい。
反応モル比は、2−<4−ヒドロキシフェニル)−プロ
ペン1モルに対してハイドロキノンは1.2以上、塩化
アルミニウムは0.05〜2.0まで可能であるが、そ
れぞれ2.5〜4.0.0.3〜0.5 が好ましい。
ペン1モルに対してハイドロキノンは1.2以上、塩化
アルミニウムは0.05〜2.0まで可能であるが、そ
れぞれ2.5〜4.0.0.3〜0.5 が好ましい。
上記のフェノール化合物のキノンジアジドスルホン酸エ
ステルの製造法としては公知の方法が用いられる。例え
ばナフトキノンジアジドスルホン酸ハロゲン化物や、ベ
ンゾキノンジアジドスルホン酸ハロゲン化物と上記のフ
ェノール化合物を、とにより得られる。ジエステル体の
含量がこの反応により得られるエステル中の50重量%
以上となるような条件で反応することが好ましい。
ステルの製造法としては公知の方法が用いられる。例え
ばナフトキノンジアジドスルホン酸ハロゲン化物や、ベ
ンゾキノンジアジドスルホン酸ハロゲン化物と上記のフ
ェノール化合物を、とにより得られる。ジエステル体の
含量がこの反応により得られるエステル中の50重量%
以上となるような条件で反応することが好ましい。
本発明において、上述のキノンジアジドスルホン酸エス
テルは1種類を用いてもよいし、2種類以上を用いても
よい。
テルは1種類を用いてもよいし、2種類以上を用いても
よい。
本発明の組成物には、他の多価フェノール化合物や、そ
のキノンジアジドスルホン酸エステルを加えてもよい。
のキノンジアジドスルホン酸エステルを加えてもよい。
他の多価フェノール化合物としては、ハイドロキノン、
レゾルシン、フロログリシン、2.4−ジヒドロキシベ
ンゾフェノン、23.4−)ジヒドロキシベンゾフェノ
ン、2.33′、4−テトラヒドロキシベンゾフェノン
、2.3.4.4’ −テトラヒドロキシベンゾフェノ
ン、2.2’、4.4′−テトラヒドロキシベンゾフェ
ノンなどのテトラヒドロキシベンゾフェノン類、2.2
’、3.3’、4’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン
、2.3.3’ 4.5’−ペンタヒドロキシベン
ゾフェノンなどのペンタヒドロキシベンゾフェノン類、
没食子酸アル−1−/l/エステル等が例示される。
レゾルシン、フロログリシン、2.4−ジヒドロキシベ
ンゾフェノン、23.4−)ジヒドロキシベンゾフェノ
ン、2.33′、4−テトラヒドロキシベンゾフェノン
、2.3.4.4’ −テトラヒドロキシベンゾフェノ
ン、2.2’、4.4′−テトラヒドロキシベンゾフェ
ノンなどのテトラヒドロキシベンゾフェノン類、2.2
’、3.3’、4’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン
、2.3.3’ 4.5’−ペンタヒドロキシベン
ゾフェノンなどのペンタヒドロキシベンゾフェノン類、
没食子酸アル−1−/l/エステル等が例示される。
本発明に用いられるアルカリ可溶性樹脂としてはノボラ
ック樹脂が挙げられる。ノボラック樹脂は、フェノール
類とホルムアルデヒドを付加縮合反応して得られるもの
である。
ック樹脂が挙げられる。ノボラック樹脂は、フェノール
類とホルムアルデヒドを付加縮合反応して得られるもの
である。
ノボラック樹脂の製造に用いられるフェノール類の具体
例としては、フェノール、クレゾール、キシレノール、
エチルフェノール、トリメチルフェノール、プロピルフ
ェノール、ブチルフェノール、ジヒドロキシベンゼン、
ナフトール類等を挙げることができる。これらフェノー
ル類は単独で、又は混合して使用することができる。フ
ェノール類と付加縮合反応させるホルムアルデヒドとし
てはホルムアルデヒド水溶液(ホルマリン)やパラホル
ムアルデヒドが用いられる。特に37%のホルマリンは
工業的に量産されており好都合である。フェノール類と
ホルムアルデヒドとの付加縮合反応は常法に従って行わ
れる。反応は通常60〜120℃、2〜30時間で行な
われる。触媒としては有機酸或いは無機酸や二価金属塩
等が用いられる。具体例としては蓚酸、塩酸、硫酸、過
塩素酸、p−)ルエンスルホン酸、トリクロル酢酸、リ
ン酸、蟻酸、酢酸亜鉛、酢酸マグネシウム等があげられ
る。
例としては、フェノール、クレゾール、キシレノール、
エチルフェノール、トリメチルフェノール、プロピルフ
ェノール、ブチルフェノール、ジヒドロキシベンゼン、
ナフトール類等を挙げることができる。これらフェノー
ル類は単独で、又は混合して使用することができる。フ
ェノール類と付加縮合反応させるホルムアルデヒドとし
てはホルムアルデヒド水溶液(ホルマリン)やパラホル
ムアルデヒドが用いられる。特に37%のホルマリンは
工業的に量産されており好都合である。フェノール類と
ホルムアルデヒドとの付加縮合反応は常法に従って行わ
れる。反応は通常60〜120℃、2〜30時間で行な
われる。触媒としては有機酸或いは無機酸や二価金属塩
等が用いられる。具体例としては蓚酸、塩酸、硫酸、過
塩素酸、p−)ルエンスルホン酸、トリクロル酢酸、リ
ン酸、蟻酸、酢酸亜鉛、酢酸マグネシウム等があげられ
る。
また反応はバルクで行なっても適当な溶剤を用いてもよ
い。
い。
本発明にふいてキノンジアジドスルホン酸エステル成分
の添加量は、レジスト組成物中の全固形分中に占める割
合が15〜50重量%の範囲であることが好ましい。
の添加量は、レジスト組成物中の全固形分中に占める割
合が15〜50重量%の範囲であることが好ましい。
レジスト液の調整は、キノンジアジドスルホン酸エステ
ルとノボラック樹脂を溶剤に混合溶解することにより行
なう。
ルとノボラック樹脂を溶剤に混合溶解することにより行
なう。
用いる溶剤は、適当な乾燥速度を有し、溶剤が蒸発して
均一で平滑な塗膜を与えるものがよい。
均一で平滑な塗膜を与えるものがよい。
このような溶剤としては、エチルセロソルブアセテート
、メチルセロソルブアセテート、エチル(以下余白) セロソルブ、メチルセロソルブ、プロピレングリコール
くモノメチルエーテルアセテート、酢酸ブチル、メチル
インブチルケトン、キシレン等があげられる。以上の方
法で得られたレジスト組成物は、さらに必要に応じて付
加物として少量の樹脂や染料等が添加されていてもよい
。
、メチルセロソルブアセテート、エチル(以下余白) セロソルブ、メチルセロソルブ、プロピレングリコール
くモノメチルエーテルアセテート、酢酸ブチル、メチル
インブチルケトン、キシレン等があげられる。以上の方
法で得られたレジスト組成物は、さらに必要に応じて付
加物として少量の樹脂や染料等が添加されていてもよい
。
〈発明の効果〉
本発明のポジ型レジスト組成物はγ値の高いレジスト組
成物である。そして現像残渣の増加等の問題点もない。
成物である。そして現像残渣の増加等の問題点もない。
〈実施例〉
次に実施例をあげて、本発明をさらに具体的に説明する
が、本発明はこれらの実施例によって何ら限定されるも
のではない。
が、本発明はこれらの実施例によって何ら限定されるも
のではない。
合成例1
ジオキサン54gに塩化アルミニウム1.9g。
メチルハイドロキノン17.8 gを加え、攪拌下50
〜55℃に昇温し均一溶液にした。ここに、2(3−ヒ
ドロキシフェニル)−プロペン6、Ogをジオキサン1
8gに溶かした溶液を1時間かけて滴下し、さらに1.
5時間攪拌した。反応中、温度は50〜55℃に保った
。反応終了後反応溶液に酢酸エチル400 g 、水8
00gを加えて抽出を行い、酢酸エチル層を水800g
で3回洗浄した。これをai11シて得られたオイル状
物質22.4 gに、酢酸エチル5g1クロロホルム5
0gを加えて、氷冷すると9.5gの結晶が得られた。
〜55℃に昇温し均一溶液にした。ここに、2(3−ヒ
ドロキシフェニル)−プロペン6、Ogをジオキサン1
8gに溶かした溶液を1時間かけて滴下し、さらに1.
5時間攪拌した。反応中、温度は50〜55℃に保った
。反応終了後反応溶液に酢酸エチル400 g 、水8
00gを加えて抽出を行い、酢酸エチル層を水800g
で3回洗浄した。これをai11シて得られたオイル状
物質22.4 gに、酢酸エチル5g1クロロホルム5
0gを加えて、氷冷すると9.5gの結晶が得られた。
これに9.5%の塩酸1000 gを加え、室温で1時
間攪拌後、濾過した。得られた結晶5.9gに酢酸エチ
ル9g1クロロホルム90gを加えて氷冷し再結晶を行
った。
間攪拌後、濾過した。得られた結晶5.9gに酢酸エチ
ル9g1クロロホルム90gを加えて氷冷し再結晶を行
った。
濾過後、得られた結晶は、60℃で乾燥後、2.9gで
ありこれが式(1)の構造をもつ化合物であることをI
H核磁気共鳴スペクトル、マススペクトル、赤外吸収ス
ペクトル、および、融点により確認した。
ありこれが式(1)の構造をもつ化合物であることをI
H核磁気共鳴スペクトル、マススペクトル、赤外吸収ス
ペクトル、および、融点により確認した。
1H核磁気共鳴スペク
トル
(溶媒:
アセ
トンd6
TMS)化学シフト値
δ(ppm) :l、 60(s、 6N) 、2.
IHs、 3H) 、 6.47 (s、 IH)6.
58(m、1)I) 、6.61(s、 IH) 、
6.66(t、 IH) 、6.74(m、 IH)
、6.85(s、 IH) 、?、04(t、 IH
> 、7.44(S。
IHs、 3H) 、 6.47 (s、 IH)6.
58(m、1)I) 、6.61(s、 IH) 、
6.66(t、 IH) 、6.74(m、 IH)
、6.85(s、 IH) 、?、04(t、 IH
> 、7.44(S。
IH)、7.99 (s、 1)1)
マススペクトル
m/ e 258(M=)
赤外吸収スペクトル
シ=3100〜3600 (am−’) (OH)融
点 158〜159 ℃ 合成例2 ジオキサン167.0gに塩化アルミニウム7.50g
を加え、攪拌下50〜55℃に昇温し均一溶液にした。
点 158〜159 ℃ 合成例2 ジオキサン167.0gに塩化アルミニウム7.50g
を加え、攪拌下50〜55℃に昇温し均一溶液にした。
ここにメチルハイドロキノン55.5gを加えた後に7
3℃まで昇温した。ここに、2− (4−ヒドロキシフ
ェニル)−プロペン15.0gをジオキサン45.0g
に溶かした溶液を1.5時間かけて滴下し、さらに1時
間攪拌した。反、窓中、温度は73±2℃に保った。
3℃まで昇温した。ここに、2− (4−ヒドロキシフ
ェニル)−プロペン15.0gをジオキサン45.0g
に溶かした溶液を1.5時間かけて滴下し、さらに1時
間攪拌した。反、窓中、温度は73±2℃に保った。
反応終了後、溶液に酢酸エチル400 g 、水100
0gを加えて抽出を行い、酢酸エチル層を800gの水
で3回&浄した。これをaFflして得られたオイル状
物質を46.9gに1,2−ジクロロエタン95gを加
えると7.2gのウェットケーキが得られた。これを1
0gの酢酸エチルに溶かし、クロロホルム90gを加え
て氷冷し再結晶を行った。得られた結晶は、60℃で乾
燥後4.3gであり、これが式(2)の構造をもつ化合
物であることを’H核磁気共鳴スペクトル、マススペク
トル、赤外吸収スペクトルおよび融点により確認した。
0gを加えて抽出を行い、酢酸エチル層を800gの水
で3回&浄した。これをaFflして得られたオイル状
物質を46.9gに1,2−ジクロロエタン95gを加
えると7.2gのウェットケーキが得られた。これを1
0gの酢酸エチルに溶かし、クロロホルム90gを加え
て氷冷し再結晶を行った。得られた結晶は、60℃で乾
燥後4.3gであり、これが式(2)の構造をもつ化合
物であることを’H核磁気共鳴スペクトル、マススペク
トル、赤外吸収スペクトルおよび融点により確認した。
t H1磁気共鳴スペクトル(溶媒:アセトンd6TM
S)化学シフト値 δ(ppm) :8.04(s、 1)1) 、?、
42(s、 1)1) 、7.06(d、 2H)6.
80(s、 1)1) 、6.69(d、2H) 、6
.47(s、 1tl) 、6.47(s、 1)I)
、2.10 (s、3H) 、1.61 (s、 6
)1)マススペクトル m/ e 258(M”) 赤外吸収スペクトル v 〜3000〜3600 cm−’ (OH)融点
185〜186 ℃ 合成例3 ジオキサン735gに塩化アルミニウム19.5gを加
え、攪拌下50〜55℃に昇温し均一溶液にした。ここ
にハイドロキノン245gを加えた後に97℃まで昇温
した。ここに、2− (3−ヒドロキシフェニル)−プ
ロペンIQ2gヲシオキサン300 gに溶かした溶液
を2.5時間かけて滴下し、さらに1.5時間攪拌した
。反応中、温度は97±2℃に保った。反応終了後、室
温まで冷却し、トルエン735gを加え0.5時間攪拌
した。濾過後、濾液に酢酸エチル3000 g 、水1
500 gを加えて抽出を行い、酢酸エチル層を150
0 gの水で5回洗浄した。これをallして得られた
オイル状物質240gに酢酸エチル100 g 1クロ
ロホルム650gを加え再結晶を行った。5℃以下に保
つと結晶が析出した。濾過後、得られた結晶を150g
のクロロホルムで洗浄し、40℃で乾燥させた。得られ
た結晶は、74.2gであり、これが下式(3]の構造
をもつ化合物であることを1H核磁気共鳴スペクトル、
マススペクトル、赤外吸収スペクトルおよび融点により
確認した。
S)化学シフト値 δ(ppm) :8.04(s、 1)1) 、?、
42(s、 1)1) 、7.06(d、 2H)6.
80(s、 1)1) 、6.69(d、2H) 、6
.47(s、 1tl) 、6.47(s、 1)I)
、2.10 (s、3H) 、1.61 (s、 6
)1)マススペクトル m/ e 258(M”) 赤外吸収スペクトル v 〜3000〜3600 cm−’ (OH)融点
185〜186 ℃ 合成例3 ジオキサン735gに塩化アルミニウム19.5gを加
え、攪拌下50〜55℃に昇温し均一溶液にした。ここ
にハイドロキノン245gを加えた後に97℃まで昇温
した。ここに、2− (3−ヒドロキシフェニル)−プ
ロペンIQ2gヲシオキサン300 gに溶かした溶液
を2.5時間かけて滴下し、さらに1.5時間攪拌した
。反応中、温度は97±2℃に保った。反応終了後、室
温まで冷却し、トルエン735gを加え0.5時間攪拌
した。濾過後、濾液に酢酸エチル3000 g 、水1
500 gを加えて抽出を行い、酢酸エチル層を150
0 gの水で5回洗浄した。これをallして得られた
オイル状物質240gに酢酸エチル100 g 1クロ
ロホルム650gを加え再結晶を行った。5℃以下に保
つと結晶が析出した。濾過後、得られた結晶を150g
のクロロホルムで洗浄し、40℃で乾燥させた。得られ
た結晶は、74.2gであり、これが下式(3]の構造
をもつ化合物であることを1H核磁気共鳴スペクトル、
マススペクトル、赤外吸収スペクトルおよび融点により
確認した。
1H核磁気共鳴スペクトル(溶媒:アセトンd。
TMS)化学シフト値
δ(ppm) : 1.63 (s、 6H) 、6.
55 (d、 211)、6゜59(a、 LH) 、
6.68(t、 IH) 、6.73(m、 IH)
、6.74(s、 IH)、6.89(t、IH) 、
7.04(t、IH) 、7.63(s、IH) 、7
.98(s、IH) マススペクトル m/ e 244 (M”) 赤外吸収スペクトル シ=3200〜3500c++−’ 融点 151℃ (OH) 合成例4 ジオキサン158 gに塩化アルミニウム8.0gを加
え、攪拌下50〜55℃に昇温し均一溶液にした。ここ
にハイドロキノン52.5gを加えた後に73℃まで昇
温した。ここに、2− (4−ヒドロキシフェニル)−
フロベン16gをジオキサン48gに溶かした溶液を2
.5時間かけて滴下し、さらに1時間攪拌もだ。反応中
、温度は7′3±2℃に保った。
55 (d、 211)、6゜59(a、 LH) 、
6.68(t、 IH) 、6.73(m、 IH)
、6.74(s、 IH)、6.89(t、IH) 、
7.04(t、IH) 、7.63(s、IH) 、7
.98(s、IH) マススペクトル m/ e 244 (M”) 赤外吸収スペクトル シ=3200〜3500c++−’ 融点 151℃ (OH) 合成例4 ジオキサン158 gに塩化アルミニウム8.0gを加
え、攪拌下50〜55℃に昇温し均一溶液にした。ここ
にハイドロキノン52.5gを加えた後に73℃まで昇
温した。ここに、2− (4−ヒドロキシフェニル)−
フロベン16gをジオキサン48gに溶かした溶液を2
.5時間かけて滴下し、さらに1時間攪拌もだ。反応中
、温度は7′3±2℃に保った。
反応終了後、室温まで冷却し、11時間静置後濾過した
。得られた濾液227gを123gまで濃縮した溶液に
、酢酸エチル500 g 、水1000 gを加えて抽
出を行い、酢酸エチル層1000 gの水を5回洗浄し
た。これを濃縮して得られたオイル状物質3.5gに、
1.2ジクロロ工タン50gを加え、氷冷したところ1
1.2gのウェットケーキを得た。
。得られた濾液227gを123gまで濃縮した溶液に
、酢酸エチル500 g 、水1000 gを加えて抽
出を行い、酢酸エチル層1000 gの水を5回洗浄し
た。これを濃縮して得られたオイル状物質3.5gに、
1.2ジクロロ工タン50gを加え、氷冷したところ1
1.2gのウェットケーキを得た。
これを酢酸エチル32gに溶かし、クロロホルム190
gを加え、氷冷して再結晶させた。得られたウエット
コーキ7.0gに再度、酢酸エチル27gに溶かした後
にクロロホルム120gを加え、水冷して再結晶を行っ
た。得られた結晶は60tで乾燥後3.8gであり、こ
れが式下(4)の構造をもつ加合物を’Ht[気共鳴ス
ペクトル、マススペクトル、赤外吸収スペクトルおよび
融点により、確認した。
gを加え、氷冷して再結晶させた。得られたウエット
コーキ7.0gに再度、酢酸エチル27gに溶かした後
にクロロホルム120gを加え、水冷して再結晶を行っ
た。得られた結晶は60tで乾燥後3.8gであり、こ
れが式下(4)の構造をもつ加合物を’Ht[気共鳴ス
ペクトル、マススペクトル、赤外吸収スペクトルおよび
融点により、確認した。
1)(核磁気共鳴スペクトル(溶媒:アセトンd6TM
S)化学シフト値 δ(ppm) :l、 63(s、 6H) 、6.5
4(6,2H) 、6.61(s、 1)1)、6.7
0(d、2H) 、6.85(t、 LH) 、7.0
6(d、2H) 、7.63(s、 IH) 、8.0
4(s、 IH)マススペクトル m/ e 244 CM”) 赤外吸収スペクトル ν =3100〜3600 (cm−’) (O
H)融点 179〜180 ℃ − 合成例5 19〜20℃で酢酸132 gに硫酸6.0g、レゾル
シン33.0gを加えて攪拌し均一溶液にした。ここに
、2−<3−ヒドロキシフェニル)−プロペン8.1g
をジオキサン20gに溶かした溶液を1時間かけて滴下
し、さらに1時間攪拌した。この間温度は20〜23℃
であった。反応終了後、反応溶液に酢酸イソアミル20
0g、水500gを加えて抽出後、酢酸イソアミル層を
500gの水で10回洗浄した。これを濃縮して得られ
たオイル状物質13.6 gに、クロロホルム42gを
加え氷冷すると結晶が析出した。得られた結晶は乾燥後
、8.3gであり、これが下式(5)の構造をもつ化合
物であることを1H核磁気共鳴スペクトル、マススペク
トル、赤外吸収スペクトル、および融点により確認した
。
S)化学シフト値 δ(ppm) :l、 63(s、 6H) 、6.5
4(6,2H) 、6.61(s、 1)1)、6.7
0(d、2H) 、6.85(t、 LH) 、7.0
6(d、2H) 、7.63(s、 IH) 、8.0
4(s、 IH)マススペクトル m/ e 244 CM”) 赤外吸収スペクトル ν =3100〜3600 (cm−’) (O
H)融点 179〜180 ℃ − 合成例5 19〜20℃で酢酸132 gに硫酸6.0g、レゾル
シン33.0gを加えて攪拌し均一溶液にした。ここに
、2−<3−ヒドロキシフェニル)−プロペン8.1g
をジオキサン20gに溶かした溶液を1時間かけて滴下
し、さらに1時間攪拌した。この間温度は20〜23℃
であった。反応終了後、反応溶液に酢酸イソアミル20
0g、水500gを加えて抽出後、酢酸イソアミル層を
500gの水で10回洗浄した。これを濃縮して得られ
たオイル状物質13.6 gに、クロロホルム42gを
加え氷冷すると結晶が析出した。得られた結晶は乾燥後
、8.3gであり、これが下式(5)の構造をもつ化合
物であることを1H核磁気共鳴スペクトル、マススペク
トル、赤外吸収スペクトル、および融点により確認した
。
C1l。
1H核磁気共鳴スペク
トル
(溶媒:アセ
ト
ンd6、
TMS)化学シフト値
δ (ppm):1.61(s、68) 、 6.2
8(d、LH) 、 6.34(dd、18)6、5
7 (a+、 IH) 、6゜66(t、 IH) 、
6.72(m、 1)l) 、7.02(t、IHL
7.15(d、LH)、7.42(S、1N)、7.9
8(s、LH)8、04 (s、 1)1) マススペクトル m/ e 244 (M”) 赤外吸収スペクトル シ=32QO〜3600(cm−’) (OH>融点
121−122 ℃ 合成例6 19〜20℃で、ジオキサン120gに塩化アルミニウ
ム6.0g、レゾルシン39.4 gを加えて攪拌し、
均一溶液にした。ここに、2−(4−ヒドロキシフェニ
ル)プロペン12.0 gをジオキサン36gに溶かし
た溶液を2時間かけて滴下し、さらに1時間攪拌した。
8(d、LH) 、 6.34(dd、18)6、5
7 (a+、 IH) 、6゜66(t、 IH) 、
6.72(m、 1)l) 、7.02(t、IHL
7.15(d、LH)、7.42(S、1N)、7.9
8(s、LH)8、04 (s、 1)1) マススペクトル m/ e 244 (M”) 赤外吸収スペクトル シ=32QO〜3600(cm−’) (OH>融点
121−122 ℃ 合成例6 19〜20℃で、ジオキサン120gに塩化アルミニウ
ム6.0g、レゾルシン39.4 gを加えて攪拌し、
均一溶液にした。ここに、2−(4−ヒドロキシフェニ
ル)プロペン12.0 gをジオキサン36gに溶かし
た溶液を2時間かけて滴下し、さらに1時間攪拌した。
この間温度は20〜23℃であった。反応終了後、26
5gの溶液を98gにまで濃縮しζ酢酸イソアミル3″
50g1水1000 gより抽出後、酢酸イソアミル層
を1000 gの水で5回洗浄した。これを濃縮して得
られたオイル状物質5.7gに、四塩化炭素320gを
加えて氷冷したところ35、4 gのウェットケーキを
得た。これを酢酸エチル40gに溶かし、四塩化炭素2
00gを加え氷冷して再結晶させた。得られた結晶は、
60℃で乾燥後、lO,9gであり、これが、下式(6
)の構造をもつ化合物であることを1H核磁気共鳴スペ
クトル、マススペクトル、赤外吸収スペクトル、ふよび
融点により確認した。
5gの溶液を98gにまで濃縮しζ酢酸イソアミル3″
50g1水1000 gより抽出後、酢酸イソアミル層
を1000 gの水で5回洗浄した。これを濃縮して得
られたオイル状物質5.7gに、四塩化炭素320gを
加えて氷冷したところ35、4 gのウェットケーキを
得た。これを酢酸エチル40gに溶かし、四塩化炭素2
00gを加え氷冷して再結晶させた。得られた結晶は、
60℃で乾燥後、lO,9gであり、これが、下式(6
)の構造をもつ化合物であることを1H核磁気共鳴スペ
クトル、マススペクトル、赤外吸収スペクトル、ふよび
融点により確認した。
1)(核磁気共鳴スペクトル(溶媒:アセトンdいTM
S)化学シフト値 δ(ppm) :1.62(s、6H) 、6.27
(d、1)1)、6J2(dd。
S)化学シフト値 δ(ppm) :1.62(s、6H) 、6.27
(d、1)1)、6J2(dd。
IH) 、 6.68(d、21() 、 ?、
θ5(d、2)1) 、 7.13(6,1)1)
、7.22(d、 IH) 、7.98(s、 I
H) 、7.99(s、 IH)。
θ5(d、2)1) 、 7.13(6,1)1)
、7.22(d、 IH) 、7.98(s、 I
H) 、7.99(s、 IH)。
マススペクトル
m/ e 244 (M=)
赤外吸収スペクトル
シ=3200〜3600 (cm−’) (OH)融
点 188〜189 ℃ 参考例1 内容積300 rnlの三ツロフラスコに、合成例1で
得られた化合物を7.43 g 、ナフトキノン−(1
2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリドを1
5、25 g 、 (反応モル比1 : 2) 、ジ
オキサンを227g仕込んだのち、攪拌して完溶させた
。そののち、攪拌しながら、フラスコを水浴に浸して、
反応温度を20〜25℃にコントロールし、トリエチル
アミン6、32 gを滴下ロートを用いて30分間で滴
下させた。そののち、反応温度を20〜25℃に保ちな
がら4時間攪拌を続けた。反応後、イオン交換水にチャ
ージしたのち、濾過、乾燥させることによって、感放射
線性成分へを得た。
点 188〜189 ℃ 参考例1 内容積300 rnlの三ツロフラスコに、合成例1で
得られた化合物を7.43 g 、ナフトキノン−(1
2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリドを1
5、25 g 、 (反応モル比1 : 2) 、ジ
オキサンを227g仕込んだのち、攪拌して完溶させた
。そののち、攪拌しながら、フラスコを水浴に浸して、
反応温度を20〜25℃にコントロールし、トリエチル
アミン6、32 gを滴下ロートを用いて30分間で滴
下させた。そののち、反応温度を20〜25℃に保ちな
がら4時間攪拌を続けた。反応後、イオン交換水にチャ
ージしたのち、濾過、乾燥させることによって、感放射
線性成分へを得た。
参考例2
式(1)で表わされる化合物のたわりに合成例2で得ら
れた化合物を用いた以外は参考例1と同様にして感放射
線性成分を得た。得られた感放射線性成分をBとする。
れた化合物を用いた以外は参考例1と同様にして感放射
線性成分を得た。得られた感放射線性成分をBとする。
参考例3
式(1)で表される化合物のかわりに2.3.4−トリ
ヒドロキシベンゾフェノンを用いた以外は参考例1と同
様にして感放射線性成分を得た。得られた感放射線性成
分をCとする。
ヒドロキシベンゾフェノンを用いた以外は参考例1と同
様にして感放射線性成分を得た。得られた感放射線性成
分をCとする。
参考例4
式(1)で表わされる化合物のかわりに、2,3゜4.
4′−テトラヒドロキシベンゾフェノンをナフトキノン
(1,2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリ
ドとのモル比が1対3となるように用いた以外は、参考
例1と同様にして感放射線性成分りを得た。
4′−テトラヒドロキシベンゾフェノンをナフトキノン
(1,2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリ
ドとのモル比が1対3となるように用いた以外は、参考
例1と同様にして感放射線性成分りを得た。
参考例5
内容積300 !nlの三ツロフラスコに、合成例3で
得られた化合物を7.43 g 、ナフトキノン−(1
゜2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリドを
16、12 g、(反応モル比1:2)、ジオキサンを
236g仕込んだのち、攪拌して完溶させた。そののち
、攪拌しながら、フラスコを水浴に浸して、反応温度を
20〜25℃にコントロールし、トリエチルアミン6.
68gを滴下ロートを用いて30分間で滴下させた。そ
ののち、反応温度を20〜25℃に保ちながら4時間攪
拌を続けた。反応後、イオン交換水にチャージしたのち
、濾過、乾燥させることによって、感放射線性成分Eを
得た。
得られた化合物を7.43 g 、ナフトキノン−(1
゜2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリドを
16、12 g、(反応モル比1:2)、ジオキサンを
236g仕込んだのち、攪拌して完溶させた。そののち
、攪拌しながら、フラスコを水浴に浸して、反応温度を
20〜25℃にコントロールし、トリエチルアミン6.
68gを滴下ロートを用いて30分間で滴下させた。そ
ののち、反応温度を20〜25℃に保ちながら4時間攪
拌を続けた。反応後、イオン交換水にチャージしたのち
、濾過、乾燥させることによって、感放射線性成分Eを
得た。
参考例6
式(3)で表わされる化合物のかわりに合成例4で得ら
れた化合物を用いた以外は参考例5と同様にして感放射
線性成分を得た。得られた感放射線性成分をFとする。
れた化合物を用いた以外は参考例5と同様にして感放射
線性成分を得た。得られた感放射線性成分をFとする。
参考例7
式(3)で表される化合物のかわりに合成例5で得られ
た化合物を用いた以外は参考例5と同様にして感放射線
性成分を得た。得られた感放射線性成分をGとする。
た化合物を用いた以外は参考例5と同様にして感放射線
性成分を得た。得られた感放射線性成分をGとする。
参考例8
式(3)で表される化合物のかわりに合成例6で得られ
た化合物を用いた以外は参考例5と同様にして感放射線
性成分を得た。得られた感放射線性成分をHとする。
た化合物を用いた以外は参考例5と同様にして感放射線
性成分を得た。得られた感放射線性成分をHとする。
参考例9
式(3)で表される化合物のかわりに2.3.4−トリ
ヒドロキシベンゾフェノンを用いた以外は参考例5と同
様にして感放射線性成分を得た。得られた感放射線性成
分を夏とする。
ヒドロキシベンゾフェノンを用いた以外は参考例5と同
様にして感放射線性成分を得た。得られた感放射線性成
分を夏とする。
参考例10
式(3)で表される化合物のかわりに2.3,4゜4′
−テトラヒドロキシベンゾフェノンをナフトキノン−(
1,2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリド
とのモル比が1対3となるように用いた以外は参考例5
と同様にして感放射線性成分を得た。得られた感放射線
成分をJとする。
−テトラヒドロキシベンゾフェノンをナフトキノン−(
1,2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリド
とのモル比が1対3となるように用いた以外は参考例5
と同様にして感放射線性成分を得た。得られた感放射線
成分をJとする。
参考例11
内容積300 rnlの三ツロフラスコに、下式(7)
で表わされる化合物を7.57 g 、ナフトキノン−
(1゜2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリ
ドを15、65 g 、 (反応モル比1:2)、ジ
オキサンを232g仕込んだのち、攪拌して完溶させた
。そののち、攪拌しながら、フラスコを水浴に浸して、
反応温度を20〜25℃にコントロールし、トリエチル
アミン6、48 gを滴下ロートを用いて30分間で滴
下させた。そののち、反応温度を20〜25℃に保ちな
がら4時間攪拌を続けた。反応後、イオン交換水にチャ
ージしたのち、濾過、乾燥させることによって、感放射
線性成分Kを得た。
で表わされる化合物を7.57 g 、ナフトキノン−
(1゜2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリ
ドを15、65 g 、 (反応モル比1:2)、ジ
オキサンを232g仕込んだのち、攪拌して完溶させた
。そののち、攪拌しながら、フラスコを水浴に浸して、
反応温度を20〜25℃にコントロールし、トリエチル
アミン6、48 gを滴下ロートを用いて30分間で滴
下させた。そののち、反応温度を20〜25℃に保ちな
がら4時間攪拌を続けた。反応後、イオン交換水にチャ
ージしたのち、濾過、乾燥させることによって、感放射
線性成分Kを得た。
参考例12
式(7)で表わされる化合物のかわりに2.3..4−
トリヒドロキシベンゾフェノンを用いた以外は参考例1
1と同様にして感放射線性成分りを得た参考例13 式(7)で表わされる化合物のかわりに、2.34.4
1−テトラヒドロキシベンゾフェノンヲナフトキノン−
(1,2)−ジアジド−(2) −5−スルホン酸クロ
リドとのモル比が1対3となるように用いた以外は、参
考例11と同様にして感放射線成分Mを得た。
トリヒドロキシベンゾフェノンを用いた以外は参考例1
1と同様にして感放射線性成分りを得た参考例13 式(7)で表わされる化合物のかわりに、2.34.4
1−テトラヒドロキシベンゾフェノンヲナフトキノン−
(1,2)−ジアジド−(2) −5−スルホン酸クロ
リドとのモル比が1対3となるように用いた以外は、参
考例11と同様にして感放射線成分Mを得た。
参考例14
内容積3001n1の三ツロフラスコに、下式(8)で
表わされる化合物を4.60g、ナフトキノン−(12
)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリドを10
.75 g 、 (反応モル比l:2)、ジオキサン
を168 g仕込んだのち、攪拌して完溶させた。その
のち、攪拌しながら、フラスコを水溶に浸して、反応温
度を20〜25℃にコントロールし、トリエチルアミン
4.45gを滴下ロートを用いて30分間で滴下させた
。そののち、反応温度を20〜25℃に保ちながら4時
間攪拌を続けた。反応後、イオン交換水にチャージした
のち、濾過、乾燥させることによって、感放射線性成分
Nを得た。
表わされる化合物を4.60g、ナフトキノン−(12
)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロリドを10
.75 g 、 (反応モル比l:2)、ジオキサン
を168 g仕込んだのち、攪拌して完溶させた。その
のち、攪拌しながら、フラスコを水溶に浸して、反応温
度を20〜25℃にコントロールし、トリエチルアミン
4.45gを滴下ロートを用いて30分間で滴下させた
。そののち、反応温度を20〜25℃に保ちながら4時
間攪拌を続けた。反応後、イオン交換水にチャージした
のち、濾過、乾燥させることによって、感放射線性成分
Nを得た。
参考例15゜
16゜
17゜
18゜
式(8)で表わされる化合物のかわりに、下式(9)。
αQで表わされる化合物、2,4.4’ −)!Iヒド
ロキシベンゾフェノン、2.2’、4.4’ −テトラ
ヒドロキシベンゾフェノン又は2,3.4−トリヒドロ
キシベンゾフェノンを用いた以外は参考例14と同様に
して感放射線性成分を得た。得られた感放射線性成分を
それぞれO,P、Q、R3とする。
ロキシベンゾフェノン、2.2’、4.4’ −テトラ
ヒドロキシベンゾフェノン又は2,3.4−トリヒドロ
キシベンゾフェノンを用いた以外は参考例14と同様に
して感放射線性成分を得た。得られた感放射線性成分を
それぞれO,P、Q、R3とする。
JS
実施例1〜2及び比較例1〜2
参考例1〜4で得られた感放射線性成分をノボラック樹
脂とともに、表1に示す組成で、エチルセロソルブアセ
テート48部に溶かし、レジスト液を調合した。調合し
たレジスト液は0.2μmのテフロン製フィルターで濾
過することにより、レジスト液を調整した。これを常法
によって洗浄したシリコンウェハーに回転塗布機を用い
て1.3μ厚に塗布した。ついでこのシリコンウェハー
をべ1 100℃のホットプレートで60秒間イークした。
脂とともに、表1に示す組成で、エチルセロソルブアセ
テート48部に溶かし、レジスト液を調合した。調合し
たレジスト液は0.2μmのテフロン製フィルターで濾
過することにより、レジスト液を調整した。これを常法
によって洗浄したシリコンウェハーに回転塗布機を用い
て1.3μ厚に塗布した。ついでこのシリコンウェハー
をべ1 100℃のホットプレートで60秒間イークした。
ついでこのウェハーに436nm(g線)の露光波長を
有する縮小投影露光機(GCA社D S WA80ON
S =0.42) を用いて露光量を段階的に変化さ
せて露光した。これを住友化学製現像液5OPDで1分
間現像することにより、ポジ型パターンを得た。
有する縮小投影露光機(GCA社D S WA80ON
S =0.42) を用いて露光量を段階的に変化さ
せて露光した。これを住友化学製現像液5OPDで1分
間現像することにより、ポジ型パターンを得た。
ついで露光量の対数に対する、規格化膜厚(=残膜厚/
初期膜厚)をプロットし、その傾きθを求めtanθを
T値とした。同時に求めた解像度とともに結果を表1に
示す。
初期膜厚)をプロットし、その傾きθを求めtanθを
T値とした。同時に求めた解像度とともに結果を表1に
示す。
(以下余白)
表
*ノボラック樹脂
メタクレゾール/パラクレゾール;7/3クレゾール/
ホルマリン=110.8のモル比で、シ二つ酸触媒を用
い還流下に反応させることに実施例3〜6及び比収例3
〜4 参考例5〜10で得られた感放射線性成分を7ポラフク
樹脂とともに、表2に示す組成で、エチルセロソルブア
セテート48部に溶カシ、レジスト液を調合した以外は
実施例1と同様にして、ポジ型パターンを得た。
ホルマリン=110.8のモル比で、シ二つ酸触媒を用
い還流下に反応させることに実施例3〜6及び比収例3
〜4 参考例5〜10で得られた感放射線性成分を7ポラフク
樹脂とともに、表2に示す組成で、エチルセロソルブア
セテート48部に溶カシ、レジスト液を調合した以外は
実施例1と同様にして、ポジ型パターンを得た。
γ値を同時に求めた解像度とともに結果を表2に示す。
表 −2
*ノボラック樹脂
メタクレゾール/バラクレゾール=7/3クレゾール/
ホルマリン=110.8のモル比で、シュウ酸触媒を用
いた還流下に反応させること実施例7及び比較例5〜6 参考例11〜13で得られた感放射線性成分をノボラッ
ク樹脂とともに、表3に示す組成で、エチルセロソルブ
アセテート48615に溶かし、レジスト液を調合した
。以後、縮小投影露光機(GCA社D S W4800
N A =0.28) を用いた以外は実施例1と同
様にして、ポジ型パターンを得た。
ホルマリン=110.8のモル比で、シュウ酸触媒を用
いた還流下に反応させること実施例7及び比較例5〜6 参考例11〜13で得られた感放射線性成分をノボラッ
ク樹脂とともに、表3に示す組成で、エチルセロソルブ
アセテート48615に溶かし、レジスト液を調合した
。以後、縮小投影露光機(GCA社D S W4800
N A =0.28) を用いた以外は実施例1と同
様にして、ポジ型パターンを得た。
γ値の結果を表3に示す。
表 −3
*ノボラック樹脂
二メタクレゾール/パラクレゾール=7/3゜クレゾー
ル/ホルマリン−110,80モル比で、シニウ酸触を
用いた還流下に反応させることに実施例8〜10及び比
較例7〜9 参考例14〜19で得られた感放射線性成分を7ポラツ
ク樹脂とともに、表4に示す組成でエチルセロソルブア
セテート48部に溶かし、レジスト液を調合した以外は
、実施例7と同様にしてポジ型パターンを得た。
ル/ホルマリン−110,80モル比で、シニウ酸触を
用いた還流下に反応させることに実施例8〜10及び比
較例7〜9 参考例14〜19で得られた感放射線性成分を7ポラツ
ク樹脂とともに、表4に示す組成でエチルセロソルブア
セテート48部に溶かし、レジスト液を調合した以外は
、実施例7と同様にしてポジ型パターンを得た。
γ値の結果を表4に示す。
表 −4
*ノボラック樹脂
:メタクレゾール/パラクレゾール=7/3゜クレゾー
ル/ホルマリン=110.8 のモル比で、シ二つ酸触
を用いた還流下に反応させることにより得られた重量平
均分子量9800(GPC,ポリスチレン換算) の7
ボラツク樹脂。
ル/ホルマリン=110.8 のモル比で、シ二つ酸触
を用いた還流下に反応させることにより得られた重量平
均分子量9800(GPC,ポリスチレン換算) の7
ボラツク樹脂。
第1図は、合成例102−(3−ヒドロキシフェニル)
−2−(2,5−ジヒドロキシ−4−メチルフェニル)
−プロパンのIH核磁気共鳴スペクトルである。 第2図は、合成例1の2−(3−ヒドロキシフェニル)
−2−(2,5−ジヒドロキシ−4−メチルフェニル
)プロパンの赤外吸収スペクトルである。 第3図は、合成例2の2−(4−ヒドロキシフェニル)
−2−(2,5−ジヒドロキシ−4−メチルフェニル)
−プロパンの’H41磁’A共Qf4スペクトルである
。 jKd図は、合成例2の2−(4−ヒドロキシフェニル
)−2−(’2.5−ジヒドロキシー4−メチルフェニ
ル)−プロパンの赤外吸収スペクトルである。 第5図は合成例3の2−(3−ヒドロキシフェニル)−
2−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−プロパンの1
H核磁気共鳴スペクトルである。 第6図は合成例3の2−(3−ヒドロキシフェニル)−
2−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−プロパンの赤
外吸収スペクトルである。 第7図は合成例4の2−(4−ヒドロキシフェニル)−
2−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−プロパンの1
H核m気共鳴スペクトルである。 第8図は合成例4の2−(4−ヒドロキシフェニル)
2 <2. 5−ジヒドロキシフェニル)−プ
ロパンの赤外吸収スペクトルである。 第9図は合成例5の2−(3−ヒドロキシフェニル)−
2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−プロパンのI
H核磁気共鳴スペクトルである。 第10図は合成例5の2−(3−ヒドロキシフェニル)
−2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−プロパンの
赤外吸収スペクトルである。 第11図は合成例6の2−(4−ヒドロキシフェ二J’
) 2 (2,4−ジヒドロキシフェニル)−
プロパンのIH核磁気共鳴スペクトルである。 第12図は合成例6の2−(4−ヒドロキシフェニル)
−2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−プロパンの
赤外吸収スペクトルである。 (以下余白)
−2−(2,5−ジヒドロキシ−4−メチルフェニル)
−プロパンのIH核磁気共鳴スペクトルである。 第2図は、合成例1の2−(3−ヒドロキシフェニル)
−2−(2,5−ジヒドロキシ−4−メチルフェニル
)プロパンの赤外吸収スペクトルである。 第3図は、合成例2の2−(4−ヒドロキシフェニル)
−2−(2,5−ジヒドロキシ−4−メチルフェニル)
−プロパンの’H41磁’A共Qf4スペクトルである
。 jKd図は、合成例2の2−(4−ヒドロキシフェニル
)−2−(’2.5−ジヒドロキシー4−メチルフェニ
ル)−プロパンの赤外吸収スペクトルである。 第5図は合成例3の2−(3−ヒドロキシフェニル)−
2−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−プロパンの1
H核磁気共鳴スペクトルである。 第6図は合成例3の2−(3−ヒドロキシフェニル)−
2−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−プロパンの赤
外吸収スペクトルである。 第7図は合成例4の2−(4−ヒドロキシフェニル)−
2−(2,5−ジヒドロキシフェニル)−プロパンの1
H核m気共鳴スペクトルである。 第8図は合成例4の2−(4−ヒドロキシフェニル)
2 <2. 5−ジヒドロキシフェニル)−プ
ロパンの赤外吸収スペクトルである。 第9図は合成例5の2−(3−ヒドロキシフェニル)−
2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−プロパンのI
H核磁気共鳴スペクトルである。 第10図は合成例5の2−(3−ヒドロキシフェニル)
−2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−プロパンの
赤外吸収スペクトルである。 第11図は合成例6の2−(4−ヒドロキシフェ二J’
) 2 (2,4−ジヒドロキシフェニル)−
プロパンのIH核磁気共鳴スペクトルである。 第12図は合成例6の2−(4−ヒドロキシフェニル)
−2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−プロパンの
赤外吸収スペクトルである。 (以下余白)
Claims (12)
- (1)アルカリ可溶性樹脂、および下記一般式( I )
で表されるフェノール化合物のキノンジアジドスルホン
酸エステルを、1種又は2種以上含有するポジ型レジス
ト組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼( I ) 式中、Y_1、Y_2、Y_3、Y_4は各々水素原子
、アルキル基、ハロゲンまたは−OH基を表し、かつ少
なくとも1つは−OH基である。 Z_1、Z_2、Z_3、Z_4、Z_5、Z_6は各
々水素原子、アルキル基、アリール基、ハロゲンまたは
−OH基を表し、かつ少なくとも1つは−OH基である
。Xは▲数式、化学式、表等があります▼を表し、R_
1またはアリール基を表す。但し、R_1、R_2の一
方又は双方が水素原子である場合は、Xに対してオルソ
位の−OH基に対してさらにオルソ位がアルキル基また
はアリール基である。 - (2)R_1、R_2がともに炭素数1〜4のアルキル
基である請求項1に記載のポジ型レジスト組成物。 - (3)R_1、R_2がともにメチル基である請求項1
に記載のポジ型レジスト組成物。 - (4)R_1、R_2がともに水素原子であり、又は一
方が水素原子で他方がアルキル基であり、Xに対しオル
ソ位の−OH基に対してさらにオルソ位が炭素数1〜4
のアルキル基である請求項1に記載のポジ型レジスト組
成物。 - (5)Z_1、Z_2、Z_3、Z_4、Z_5、Z_
6が各々水素原子、炭素数1〜4のアルキル基または−
OH基であり、かつ少なくとも1つは−OH基である請
求項1に記載のポジ型レジスト組成物。 - (6)Z_1、Z_2、Z_3、Z_4、Z_5、Z_
6が各々水素原子、または−OH基でありかつ少なくと
も1つは−OH基である請求項1に記載のポジ型レジス
ト組成物。 - (7)Z_1、Z_2、Z_3、Z_4、Z_5、Z_
6のうち2つが−OH基である請求項1に記載のポジ型
レジスト組成物。 - (8)Z_1、Z_2、Z_3の少なくとも1つは−O
H基であり、Z_4、Z_5、Z_6の少なくとも1つ
は−OH基である請求項1に記載のポジ型レジスト組成
物。 - (9)Y_1、Y_2、Y_3、Y_4の1つまたは2
つがOH基である請求項1に記載のポジ型レジスト組成
物。 - (10)Z_1、Z_2、Z_3、Z_4、Z_5、Z
_6が各々水素原子、又は−OH基でありかつZ_1、
Z_2、Z_3のいずれか1つがOH基であり、Z_4
、Z_5Z_6のいずれか1つが−OH基であり、かつ
Y_1Y_2、Y_3、Y_4の1つまたは2つが−O
H基であり、R_1、R_2がメチル基である請求項1
に記載のポジ型レジスト組成物。 - (11)下式(II)で表されるフェノール化合物のキノ
ンジアジドスルホン酸エステルを含有するポジ型レジス
ト組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼(II) 式中Lは▲数式、化学式、表等があります▼または▲数
式、化学式、表等があります▼を表わ す。 - (12)下式(III)で表されるフェノール化合物のキ
ノンジアジドスルホン酸エステルを含有するポジ型レジ
スト組成物。 ▲数式、化学式、表等があります▼(III) 式中Mは▲数式、化学式、表等があります▼または▲数
式、化学式、表等があります▼を、N は▲数式、化学式、表等があります▼または▲数式、化
学式、表等があります▼を表わす。
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---|---|---|---|
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JP63-111179 | 1988-05-07 | ||
JP19557288 | 1988-08-04 | ||
JP63-195572 | 1988-08-04 | ||
JP25893688 | 1988-10-13 | ||
JP63-258936 | 1988-10-13 | ||
JP33050488 | 1988-12-26 | ||
JP63-330503 | 1988-12-26 | ||
JP33050388 | 1988-12-26 | ||
JP63-330504 | 1988-12-26 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02269351A true JPH02269351A (ja) | 1990-11-02 |
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---|---|---|---|
JP1113333A Expired - Fee Related JP2706978B2 (ja) | 1988-05-07 | 1989-05-02 | ポジ型レジスト組成物 |
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Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0341608B1 (ja) |
JP (1) | JP2706978B2 (ja) |
KR (1) | KR0147069B1 (ja) |
DE (1) | DE68927129T2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02254451A (ja) * | 1989-03-29 | 1990-10-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | 微細パターン形成材料及び微細パターン形成方法 |
EP0695740A1 (en) | 1994-08-05 | 1996-02-07 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Quinonediazine sulfonic acid esters and positive photoresist compositions comprising the same |
EP0703498A1 (en) | 1994-09-07 | 1996-03-27 | Mitsubishi Chemical Corporation | Photosensitive resin composition and method for forming a photoresist pattern |
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---|---|---|---|---|
JP3064595B2 (ja) | 1991-04-26 | 2000-07-12 | 住友化学工業株式会社 | ポジ型レジスト組成物 |
US5362599A (en) * | 1991-11-14 | 1994-11-08 | International Business Machines Corporations | Fast diazoquinone positive resists comprising mixed esters of 4-sulfonate and 5-sulfonate compounds |
WO1993018438A1 (en) * | 1992-03-06 | 1993-09-16 | Hoechst Celanese Corporation | Positive photoresist composition |
Citations (5)
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---|---|---|---|---|
JPS5463818A (en) * | 1977-09-22 | 1979-05-23 | Hoechst Ag | Photosensitive copying composition |
JPS57135947A (en) * | 1981-01-03 | 1982-08-21 | Hoechst Ag | Manufacture of photosensitive mixture and naphthoquinone deazidosulfonic ester |
JPS60121445A (ja) * | 1983-12-06 | 1985-06-28 | Japan Synthetic Rubber Co Ltd | 集積回路作製用ポジ型感光性樹脂組成物 |
JPS62269946A (ja) * | 1986-05-19 | 1987-11-24 | Oki Electric Ind Co Ltd | レジストパタ−ン形成方法 |
JPS6446747A (en) * | 1987-08-14 | 1989-02-21 | Fuji Photo Film Co Ltd | Photoresist composition |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS595243A (ja) * | 1982-07-02 | 1984-01-12 | Hitachi Ltd | 放射線感応性組成物及びパタ−ン形成方法 |
-
1989
- 1989-05-02 JP JP1113333A patent/JP2706978B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1989-05-05 DE DE68927129T patent/DE68927129T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-05-05 EP EP89108161A patent/EP0341608B1/en not_active Revoked
- 1989-05-06 KR KR1019890006064A patent/KR0147069B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
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JPS5463818A (en) * | 1977-09-22 | 1979-05-23 | Hoechst Ag | Photosensitive copying composition |
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JPH02254451A (ja) * | 1989-03-29 | 1990-10-15 | Fuji Photo Film Co Ltd | 微細パターン形成材料及び微細パターン形成方法 |
EP0695740A1 (en) | 1994-08-05 | 1996-02-07 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Quinonediazine sulfonic acid esters and positive photoresist compositions comprising the same |
EP0703498A1 (en) | 1994-09-07 | 1996-03-27 | Mitsubishi Chemical Corporation | Photosensitive resin composition and method for forming a photoresist pattern |
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Publication number | Publication date |
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KR890017574A (ko) | 1989-12-16 |
EP0341608B1 (en) | 1996-09-11 |
KR0147069B1 (ko) | 1998-08-01 |
EP0341608A2 (en) | 1989-11-15 |
EP0341608A3 (en) | 1991-03-27 |
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DE68927129T2 (de) | 1997-04-30 |
JP2706978B2 (ja) | 1998-01-28 |
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