JPH06236030A - ポジ型レジスト組成物 - Google Patents
ポジ型レジスト組成物Info
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- JPH06236030A JPH06236030A JP2277293A JP2277293A JPH06236030A JP H06236030 A JPH06236030 A JP H06236030A JP 2277293 A JP2277293 A JP 2277293A JP 2277293 A JP2277293 A JP 2277293A JP H06236030 A JPH06236030 A JP H06236030A
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- Japan
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- group
- resist composition
- alkali
- type resist
- positive type
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 感度、解像度、プロファイル等の諸性能のバ
ランスに優れ、且つスカムのないポジ型レジスト組成物
を提供する。 【構成】 アルカリ可溶性樹脂、及び下記一般式(I)
で示されるフェノール化合物のキノンジアジドスルホン
酸エステルの1種又は2種以上を含有するポジ型レジス
ト組成物。 【化1】 〔式中、Y1 、Y2 、Z1 、Z2 、Z3 、Z4 、Z5 、
Z6 、及びZ7 はそれぞれハロゲン原子で置換されてい
てもよいC1 〜C4 のアルキル基、水素原子又は−OH
基を表し、Y1 、Y2 のうち少なくとも1つは−OH基
であり、Z1 、Z 2 、Z3 、Z4 、Z5 、Z6 、Z7 の
うち少なくとも2つは−OH基である。また、R1 、R
2 、R3 、R4 、R5 およびR6 は水素原子、C1 〜C
10のアルキル基、C2 〜C4 のアルケニル基、シクロア
ルキル基又はアリール基を表す。〕
ランスに優れ、且つスカムのないポジ型レジスト組成物
を提供する。 【構成】 アルカリ可溶性樹脂、及び下記一般式(I)
で示されるフェノール化合物のキノンジアジドスルホン
酸エステルの1種又は2種以上を含有するポジ型レジス
ト組成物。 【化1】 〔式中、Y1 、Y2 、Z1 、Z2 、Z3 、Z4 、Z5 、
Z6 、及びZ7 はそれぞれハロゲン原子で置換されてい
てもよいC1 〜C4 のアルキル基、水素原子又は−OH
基を表し、Y1 、Y2 のうち少なくとも1つは−OH基
であり、Z1 、Z 2 、Z3 、Z4 、Z5 、Z6 、Z7 の
うち少なくとも2つは−OH基である。また、R1 、R
2 、R3 、R4 、R5 およびR6 は水素原子、C1 〜C
10のアルキル基、C2 〜C4 のアルケニル基、シクロア
ルキル基又はアリール基を表す。〕
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、IC又はLSI 等の集積回
路の作製に用いられるポジ型レジスト組成物に関する。
路の作製に用いられるポジ型レジスト組成物に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、集積回路の高集積化に伴い、サブ
ミクロンのパターン形成が要求されている。解像度を向
上させるには、キノンジアジドスルホン酸エステルの量
を増やすことが考えられる。しかしながら、キノンジア
ジドスルホン酸エステルの量を増やすことは、感度の低
下やスカム(現像残さ)の増加といった不都合が生じや
すい。
ミクロンのパターン形成が要求されている。解像度を向
上させるには、キノンジアジドスルホン酸エステルの量
を増やすことが考えられる。しかしながら、キノンジア
ジドスルホン酸エステルの量を増やすことは、感度の低
下やスカム(現像残さ)の増加といった不都合が生じや
すい。
【0003】解像度と感度を両立させるために、例えば
特開平3-185447号公報には、下式
特開平3-185447号公報には、下式
【0004】
【化2】
【0005】〔式中、Y1 、Y2 、Z1 、Z2 、Z3 、
Z4 、Z5 、Z6 及びZ7 はそれぞれハロゲン原子で置
換されていてもよいC1 〜C4 のアルキル基、水素原子
又は−OH基を表し、Y1 、Y2 のうち少なくとも1つ
は−OH基であり、Z1 、Z2、Z3 、Z4 、Z5 、Z
6 、Z7 のうち少なくとも2つは−OH基である。
R1、R2 、R3 、R4 、R5 及びR6 は水素原子、C
1 〜C10のアルキル基、C2〜C4 のアルケニル基、シ
クロアルキル基又はアリール基を表わす。)で示される
フェノール化合物のキノンジアジドスルホン酸エステル
の1種又は2種以上、並びにアルカリ可溶性樹脂を含有
するポジ型レジスト組成物が記載されている。しかしな
がら、上記ポジ型レジスト組成物においても、解像度と
感度との性能バランスが必ずしも充分なものではなかっ
た。
Z4 、Z5 、Z6 及びZ7 はそれぞれハロゲン原子で置
換されていてもよいC1 〜C4 のアルキル基、水素原子
又は−OH基を表し、Y1 、Y2 のうち少なくとも1つ
は−OH基であり、Z1 、Z2、Z3 、Z4 、Z5 、Z
6 、Z7 のうち少なくとも2つは−OH基である。
R1、R2 、R3 、R4 、R5 及びR6 は水素原子、C
1 〜C10のアルキル基、C2〜C4 のアルケニル基、シ
クロアルキル基又はアリール基を表わす。)で示される
フェノール化合物のキノンジアジドスルホン酸エステル
の1種又は2種以上、並びにアルカリ可溶性樹脂を含有
するポジ型レジスト組成物が記載されている。しかしな
がら、上記ポジ型レジスト組成物においても、解像度と
感度との性能バランスが必ずしも充分なものではなかっ
た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した従
来技術の問題点を解決して、諸性能のバランスに優れた
ポジ型レジスト組成物を提供する。
来技術の問題点を解決して、諸性能のバランスに優れた
ポジ型レジスト組成物を提供する。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、アルカリ可溶
性樹脂、及び一般式(I)
性樹脂、及び一般式(I)
【0008】
【化3】
【0009】〔式中、Y1 、Y2 、Z1 、Z2 、Z3 、
Z4 、Z5 、Z6 及びZ7 はそれぞれハロゲン原子で置
換されていてもよいC1 〜C4 のアルキル基、水素原子
又は−OH基を表し、Y1 、Y2 のうち少なくとも1つ
は−OH基であり、Z1 、Z2、Z3 、Z4 、Z5 、Z
6 、Z7 のうち少なくとも2つは−OH基である。
R1、R2 、R3 、R4 、R5 及びR6 はそれぞれ水素
原子、C1 〜C10のアルキル基、C2 〜C4 のアルケニ
ル基、シクロアルキル基又はアリール基を表す。)で示
されるフェノール化合物のキノンジアジドスルホン酸エ
ステルの1種又は2種以上を含有することを特徴とする
ポジ型レジスト組成物である。
Z4 、Z5 、Z6 及びZ7 はそれぞれハロゲン原子で置
換されていてもよいC1 〜C4 のアルキル基、水素原子
又は−OH基を表し、Y1 、Y2 のうち少なくとも1つ
は−OH基であり、Z1 、Z2、Z3 、Z4 、Z5 、Z
6 、Z7 のうち少なくとも2つは−OH基である。
R1、R2 、R3 、R4 、R5 及びR6 はそれぞれ水素
原子、C1 〜C10のアルキル基、C2 〜C4 のアルケニ
ル基、シクロアルキル基又はアリール基を表す。)で示
されるフェノール化合物のキノンジアジドスルホン酸エ
ステルの1種又は2種以上を含有することを特徴とする
ポジ型レジスト組成物である。
【0010】一般式(I)において、Z1 、Z2 、
Z3 、Z4 、Z5 、Z6 及びZ7 のうち、2つのみが−
OH基であるフェノール化合物がレジストの解像度が高
く、好ましい。又、Z1 、Z2 、Z3 、Z4 のうち少な
くとも1つが−OH基であり、且つZ5 、Z6 、Z7 の
うち少なくとも1つが−OH基であるフェノール化合物
が好ましい。R1 〜R6 で表わされるアルキル基として
は、メチル、エチル等のC1 〜C4のアルキル基が好ま
しい。同じくシクロアルキル基としてはC5 〜C7 のも
のが好ましく、アリール基としてはフェニル基が好まし
い。一般式(I)で示されるフェノール化合物として
は、下式
Z3 、Z4 、Z5 、Z6 及びZ7 のうち、2つのみが−
OH基であるフェノール化合物がレジストの解像度が高
く、好ましい。又、Z1 、Z2 、Z3 、Z4 のうち少な
くとも1つが−OH基であり、且つZ5 、Z6 、Z7 の
うち少なくとも1つが−OH基であるフェノール化合物
が好ましい。R1 〜R6 で表わされるアルキル基として
は、メチル、エチル等のC1 〜C4のアルキル基が好ま
しい。同じくシクロアルキル基としてはC5 〜C7 のも
のが好ましく、アリール基としてはフェニル基が好まし
い。一般式(I)で示されるフェノール化合物として
は、下式
【0011】
【化4】
【0012】で示される化合物等が例示される。一般式
(I)で示されるフェノール化合物のキノンジアジドス
ルホン酸エステルは、例えばナフトキノンジアジドスル
ホン酸ハロゲン化物又はベンゾキノンジアジドスルホン
酸ハロゲン化物と、上記のフェノール化合物とを、炭酸
ソーダ等の弱アルカリの存在下に縮合させることにより
製造される。上述のキノンジアジドスルホン酸エステル
は単独で、或いは2種類以上の混合物として用いられ
る。本発明のポジ型レジスト組成物には、他の多価フェ
ノール化合物のキノンジアジドスルホン酸エステルを加
えてもよい。他の多価フェノール化合物としては、ハイ
ドロキノン、レゾルシン、フロログルシン、2,4−ジ
ヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4−トリヒドロキ
シベンゾフェノン、2,2’,3−トリヒドロキシベン
ゾフェノン、2,2’,4−トリヒドロキシベンゾフェ
ノン、2,2’,5−トリヒドロキシベンゾフェノン、
2,3,3’−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,
3,4’−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3’,
4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3’,5−ト
リヒドロキシベンゾフェノン、2,4,4’−トリヒド
ロキシベンゾフェノン、2,4’,5−トリヒドロキシ
ベンゾフェノン、2’,3,4−トリヒドロキシベンゾ
フェノン、3,3’,4−トリヒドロキシベンゾフェノ
ン、3,4,4’−トリヒドロキシベンゾフェノンなど
のトリヒドロキシベンゾフェノン類、2,3,3’,4
−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’
−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,4,
4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,
3,4−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,
3,4−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,
3,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,
2’,5,5’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、
2,3’,4,5−テトラヒドロキシベンゾフェノン、
2,3’,5,5’−テトラヒドロキシベンゾフェノン
などのテトラヒドロキシベンゾフェノン類、2,2’,
3,4,4’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,
2’,3,4,5’−ペンタヒドロキシベンゾフェノ
ン、2,2’,3,3’,4−ペンタヒドロキシベンゾ
フェノン、2,3,3’,4,5’−ペンタヒドロキシ
ベンゾフェノンなどのペンタヒドロキシベンゾフェノン
類、2,3,3’,4,4’,5’−ヘキサヒドロキシ
ベンゾフェノン、2,2’,3,3’,4,5’−ヘキ
サヒドロキシベンゾフェノンなどのヘキサヒドロキシベ
ンゾフェノン類、没食子酸アルキルエステル等が例示さ
れる。本発明に用いられるアルカリ可溶性樹脂として
は、ノボラック樹脂が好ましい。ノボラック樹脂として
は、フェノール類とホルムアルデヒドとを付加縮合反応
させて得られるものが挙げられる。フェノール類の具体
例としては、フェノール、クレゾール、キシレノール、
エチルフェノール、トリメチルフェノール、プロピルフ
ェノール、メチルブチルフェノール、ブチルフェノー
ル、ジヒドロキシベンゼン、ナフトール類等が挙げられ
る。これらのフェノール類は単独で、又は混合物として
使用される。フェノール類と付加縮合反応させるホルム
アルデヒドとしてはホルムアルデヒド水溶液(ホルマリ
ン)やパラホルムアルデヒドが用いられる。特に37%
ホルマリンは工業的に量産されており、好都合である。
フェノール類とホルムアルデヒドとの付加縮合反応は常
法に従って行われ、付加縮合温度は通常60〜120
℃、付加縮合時間は通常2〜30時間である。触媒とし
ては有機酸もしくは無機酸或いは二価金属塩等が用いら
れる。触媒の具体例としては硫酸、過塩素酸、リン酸、
p−トルエンスルホン酸、トリクロル酢酸、蓚酸、蟻
酸、酢酸亜鉛もしくは酢酸マグネシウム等があげられ
る。付加縮合反応はバルクで、或いは適当な溶剤中で行
われる。アルカリ可溶性樹脂の好ましい重量平均分子量
は2000〜20000 であり、より好ましくは5000〜15000 で
ある。本発明のポジ型レジスト組成物において、好まし
いキノンジアジドスルホン酸エステル量は上記レジスト
組成物の全固形分中、15〜50重量%である。又、好
ましいアルカリ可溶性樹脂量は上記全固型分中、50〜
85重量%である。レジスト液の調製は、キノンジアジ
ドスルホン酸エステル及びアルカリ可溶性樹脂を溶剤と
混合することにより行われる。溶剤としては、適当な乾
燥速度を有し、蒸発後、均一且つ平滑な塗膜を与えるも
のがよい。溶剤の具体例としては、エチルセロソルブア
セテート、メチルセロソルブアセテート、エチルセロソ
ルブ、メチルセロソルブ、プロピレングリコールモノメ
チルエーテルアセテート、酢酸ブチル、メチルイソブチ
ルケトン、2−ヘプタノン、3−オクタノンもしくはキ
シレン等が挙げられる。溶剤量はその種類等により若干
異なるが、例えばエチルセロソルブアセテートを溶剤と
して用いた場合には、レジスト液中、50〜80重量%
である。以上の方法で得られたレジスト液には、必要に
応じて添加物として少量の樹脂や染料等を添加してもよ
い。さらに、レジスト液には、例えば分子量900未満
のアルカリ可溶性化合物を添加してもよい。分子量90
0未満のアルカリ可溶性化合物としては、フェノール性
水酸基を少なくとも2個以上有する化合物が好ましい。
より好ましいアルカリ可溶性化合物としては特開平2-27
5955号公報に一般式(I)で記載されている化合物、特
開平4-50851 号公報に一般式(I)で記載されている化
合物又は特開平3-179353号公報に一般式(I)で記載さ
れている化合物等が挙げられる。分子量900未満のア
ルカリ可溶性化合物の好ましい使用量はポジ型レジスト
組成物の全固形分中、3〜40重量%である。
(I)で示されるフェノール化合物のキノンジアジドス
ルホン酸エステルは、例えばナフトキノンジアジドスル
ホン酸ハロゲン化物又はベンゾキノンジアジドスルホン
酸ハロゲン化物と、上記のフェノール化合物とを、炭酸
ソーダ等の弱アルカリの存在下に縮合させることにより
製造される。上述のキノンジアジドスルホン酸エステル
は単独で、或いは2種類以上の混合物として用いられ
る。本発明のポジ型レジスト組成物には、他の多価フェ
ノール化合物のキノンジアジドスルホン酸エステルを加
えてもよい。他の多価フェノール化合物としては、ハイ
ドロキノン、レゾルシン、フロログルシン、2,4−ジ
ヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4−トリヒドロキ
シベンゾフェノン、2,2’,3−トリヒドロキシベン
ゾフェノン、2,2’,4−トリヒドロキシベンゾフェ
ノン、2,2’,5−トリヒドロキシベンゾフェノン、
2,3,3’−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,
3,4’−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3’,
4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3’,5−ト
リヒドロキシベンゾフェノン、2,4,4’−トリヒド
ロキシベンゾフェノン、2,4’,5−トリヒドロキシ
ベンゾフェノン、2’,3,4−トリヒドロキシベンゾ
フェノン、3,3’,4−トリヒドロキシベンゾフェノ
ン、3,4,4’−トリヒドロキシベンゾフェノンなど
のトリヒドロキシベンゾフェノン類、2,3,3’,4
−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’
−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,4,
4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,
3,4−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,
3,4−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,
3,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,
2’,5,5’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、
2,3’,4,5−テトラヒドロキシベンゾフェノン、
2,3’,5,5’−テトラヒドロキシベンゾフェノン
などのテトラヒドロキシベンゾフェノン類、2,2’,
3,4,4’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,
2’,3,4,5’−ペンタヒドロキシベンゾフェノ
ン、2,2’,3,3’,4−ペンタヒドロキシベンゾ
フェノン、2,3,3’,4,5’−ペンタヒドロキシ
ベンゾフェノンなどのペンタヒドロキシベンゾフェノン
類、2,3,3’,4,4’,5’−ヘキサヒドロキシ
ベンゾフェノン、2,2’,3,3’,4,5’−ヘキ
サヒドロキシベンゾフェノンなどのヘキサヒドロキシベ
ンゾフェノン類、没食子酸アルキルエステル等が例示さ
れる。本発明に用いられるアルカリ可溶性樹脂として
は、ノボラック樹脂が好ましい。ノボラック樹脂として
は、フェノール類とホルムアルデヒドとを付加縮合反応
させて得られるものが挙げられる。フェノール類の具体
例としては、フェノール、クレゾール、キシレノール、
エチルフェノール、トリメチルフェノール、プロピルフ
ェノール、メチルブチルフェノール、ブチルフェノー
ル、ジヒドロキシベンゼン、ナフトール類等が挙げられ
る。これらのフェノール類は単独で、又は混合物として
使用される。フェノール類と付加縮合反応させるホルム
アルデヒドとしてはホルムアルデヒド水溶液(ホルマリ
ン)やパラホルムアルデヒドが用いられる。特に37%
ホルマリンは工業的に量産されており、好都合である。
フェノール類とホルムアルデヒドとの付加縮合反応は常
法に従って行われ、付加縮合温度は通常60〜120
℃、付加縮合時間は通常2〜30時間である。触媒とし
ては有機酸もしくは無機酸或いは二価金属塩等が用いら
れる。触媒の具体例としては硫酸、過塩素酸、リン酸、
p−トルエンスルホン酸、トリクロル酢酸、蓚酸、蟻
酸、酢酸亜鉛もしくは酢酸マグネシウム等があげられ
る。付加縮合反応はバルクで、或いは適当な溶剤中で行
われる。アルカリ可溶性樹脂の好ましい重量平均分子量
は2000〜20000 であり、より好ましくは5000〜15000 で
ある。本発明のポジ型レジスト組成物において、好まし
いキノンジアジドスルホン酸エステル量は上記レジスト
組成物の全固形分中、15〜50重量%である。又、好
ましいアルカリ可溶性樹脂量は上記全固型分中、50〜
85重量%である。レジスト液の調製は、キノンジアジ
ドスルホン酸エステル及びアルカリ可溶性樹脂を溶剤と
混合することにより行われる。溶剤としては、適当な乾
燥速度を有し、蒸発後、均一且つ平滑な塗膜を与えるも
のがよい。溶剤の具体例としては、エチルセロソルブア
セテート、メチルセロソルブアセテート、エチルセロソ
ルブ、メチルセロソルブ、プロピレングリコールモノメ
チルエーテルアセテート、酢酸ブチル、メチルイソブチ
ルケトン、2−ヘプタノン、3−オクタノンもしくはキ
シレン等が挙げられる。溶剤量はその種類等により若干
異なるが、例えばエチルセロソルブアセテートを溶剤と
して用いた場合には、レジスト液中、50〜80重量%
である。以上の方法で得られたレジスト液には、必要に
応じて添加物として少量の樹脂や染料等を添加してもよ
い。さらに、レジスト液には、例えば分子量900未満
のアルカリ可溶性化合物を添加してもよい。分子量90
0未満のアルカリ可溶性化合物としては、フェノール性
水酸基を少なくとも2個以上有する化合物が好ましい。
より好ましいアルカリ可溶性化合物としては特開平2-27
5955号公報に一般式(I)で記載されている化合物、特
開平4-50851 号公報に一般式(I)で記載されている化
合物又は特開平3-179353号公報に一般式(I)で記載さ
れている化合物等が挙げられる。分子量900未満のア
ルカリ可溶性化合物の好ましい使用量はポジ型レジスト
組成物の全固形分中、3〜40重量%である。
【0013】
【実施例】次に実施例をあげて、本発明をさらに具体的
に説明するが、本発明はこれらの実施例によって何ら限
定されるものではない。 合成例1 レゾルシン121g、水242g及び36%塩酸56g
の混合物中に、室温でシクロペンタノン42gを60分
かけて滴下した。滴下終了後、同温度で6時間反応させ
た。反応混合物を水600gに注ぎ、析出した結晶を濾
別し、これを50℃で水100gと混合した。得られた
油状物をn−ヘキサン中で結晶化させた。得られた結晶
を酢酸エチル/トルエンから再結晶後、乾燥して下式
(II)で示される化合物を得た。
に説明するが、本発明はこれらの実施例によって何ら限
定されるものではない。 合成例1 レゾルシン121g、水242g及び36%塩酸56g
の混合物中に、室温でシクロペンタノン42gを60分
かけて滴下した。滴下終了後、同温度で6時間反応させ
た。反応混合物を水600gに注ぎ、析出した結晶を濾
別し、これを50℃で水100gと混合した。得られた
油状物をn−ヘキサン中で結晶化させた。得られた結晶
を酢酸エチル/トルエンから再結晶後、乾燥して下式
(II)で示される化合物を得た。
【0014】
【化5】
【0015】FDMS 352 融 点 201〜202℃1 H−NMRスペクトルを図1に示す。
【0016】参考例1 合成例1で得られた化合物(II)5.56g、ナフトキノン
−(1,2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロ
リド 10.19g及びジオキサン84gの混合物中に、20
〜25℃で、トリエチルアミン5gを30分間で滴下し
た。滴下終了後、同温度で4時間反応〔化合物(II)
と上記スルホン酸クロリドとの反応モル比は1:2.4〕
させた。反応混合物をイオン交換水中に注加後、生じた
結晶を濾過し、次いで乾燥させて感放射線性成分Aを得
た。 参考例2及び3 式(II)で示される化合物の代わりに2,3,4,4’
−テトラヒドロキシベンゾフェノン及び下式(III)で示
される化合物を用いる以外は参考例1と同様(但し、反
応モル比は各々1:3.8及び1:2.4)にして感放射線
性成分を得た。得られた感放射線性成分をそれぞれB及
びCとする。
−(1,2)−ジアジド−(2)−5−スルホン酸クロ
リド 10.19g及びジオキサン84gの混合物中に、20
〜25℃で、トリエチルアミン5gを30分間で滴下し
た。滴下終了後、同温度で4時間反応〔化合物(II)
と上記スルホン酸クロリドとの反応モル比は1:2.4〕
させた。反応混合物をイオン交換水中に注加後、生じた
結晶を濾過し、次いで乾燥させて感放射線性成分Aを得
た。 参考例2及び3 式(II)で示される化合物の代わりに2,3,4,4’
−テトラヒドロキシベンゾフェノン及び下式(III)で示
される化合物を用いる以外は参考例1と同様(但し、反
応モル比は各々1:3.8及び1:2.4)にして感放射線
性成分を得た。得られた感放射線性成分をそれぞれB及
びCとする。
【0017】
【化6】
【0018】実施例および比較例 参考例1〜3で得られた各感放射線性成分を、ノボラッ
ク樹脂及び添化剤とともに、下表に示す組成で、エチル
セロソルブアセテート48重量部に溶かした。これを0.
2μmのテフロン製フィルターで濾過することにより、
レジスト液を調製した。これを常法により洗浄したシリ
コンウエハーに回転塗布機を用いて1.3μm厚に塗布し
た。ついで、このシリコンウエハーを100℃のホット
プレートで60秒間ベークした。ついで、このウエハー
に436nm(g線)の露光波長を有する縮小投影露光
機〔ニコン社製、NSR1505G3C(NA=0.42)〕を
用いてラインアンドスペースパターンの露光量を段階的
に変化させて露光した。次いで、ウエハーを110℃の
ホットプレートで1分ベークした。これを住友化学工業
(株)製現像液SOPDで1分間現像することにより、
ポジ型パターンを得た。実効感度は0.8μmのラインア
ンドスペースパターンが1対1になる露光量を走査型電
子顕微鏡(SEM)で測定した。解像度は、実効感度に
おいて膜減りなく分離する最小のラインアンドスペース
パターンの線幅で表わした。プロファイルは、実効感度
における0.8μmラインアンドスペースパターンの断面
形状で表わした。スカムの有無については、実効感度に
おけるラインアンドスペースパターンの線間を観察し
た。
ク樹脂及び添化剤とともに、下表に示す組成で、エチル
セロソルブアセテート48重量部に溶かした。これを0.
2μmのテフロン製フィルターで濾過することにより、
レジスト液を調製した。これを常法により洗浄したシリ
コンウエハーに回転塗布機を用いて1.3μm厚に塗布し
た。ついで、このシリコンウエハーを100℃のホット
プレートで60秒間ベークした。ついで、このウエハー
に436nm(g線)の露光波長を有する縮小投影露光
機〔ニコン社製、NSR1505G3C(NA=0.42)〕を
用いてラインアンドスペースパターンの露光量を段階的
に変化させて露光した。次いで、ウエハーを110℃の
ホットプレートで1分ベークした。これを住友化学工業
(株)製現像液SOPDで1分間現像することにより、
ポジ型パターンを得た。実効感度は0.8μmのラインア
ンドスペースパターンが1対1になる露光量を走査型電
子顕微鏡(SEM)で測定した。解像度は、実効感度に
おいて膜減りなく分離する最小のラインアンドスペース
パターンの線幅で表わした。プロファイルは、実効感度
における0.8μmラインアンドスペースパターンの断面
形状で表わした。スカムの有無については、実効感度に
おけるラインアンドスペースパターンの線間を観察し
た。
【0019】
【表1】
【0020】 ノボラック樹脂 メタクレゾール/パラクレゾール=7/3,クレゾール
/ホルマリン=1/0.8のモル比で、シュウ酸触媒を用
い還流下に反応させることにより得られた重量平均分子
量8000(ポリスチレン換算)のノボラック樹脂。但し、
GPC パターンにおける分子量6000以下及び分子量1000以
下の面積比が、未反応フェノール類のパターン面積を除
いた全パターン面積に対して、各々34%及び15%である
(uv 254nmで検出)。 添加剤
/ホルマリン=1/0.8のモル比で、シュウ酸触媒を用
い還流下に反応させることにより得られた重量平均分子
量8000(ポリスチレン換算)のノボラック樹脂。但し、
GPC パターンにおける分子量6000以下及び分子量1000以
下の面積比が、未反応フェノール類のパターン面積を除
いた全パターン面積に対して、各々34%及び15%である
(uv 254nmで検出)。 添加剤
【0021】
【化7】
【0022】
【発明の効果】本発明のポジ型レジスト組成物は、感
度、解像度、プロファイル等の諸性能のバランスに優
れ、且つスカムがない。
度、解像度、プロファイル等の諸性能のバランスに優
れ、且つスカムがない。
【図1】合成例1で得られた式(II)で示される化合
物の 1H−NMRスペクトルである。
物の 1H−NMRスペクトルである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 桑名 耕治 大阪府大阪市此花区春日出中3丁目1番98 号 住友化学工業株式会社内
Claims (3)
- 【請求項1】アルカリ可溶性樹脂、及び下記一般式
(I) 【化1】 〔式中、Y1 、Y2 、Z1 、Z2 、Z3 、Z4 、Z5 、
Z6 及びZ7 はそれぞれハロゲン原子で置換されていて
もよいC1 〜C4 のアルキル基、水素原子又は−OH基
を表し、Y1 、Y2 のうち少なくとも1つは−OH基で
あり、Z1 、Z2、Z3 、Z4 、Z5 、Z6 、Z7 のう
ち少なくとも2つは−OH基である。R1、R2 、
R3 、R4 、R5 およびR6 はそれぞれ水素原子、C1
〜C10のアルキル基、C2 〜C4 のアルケニル基、シク
ロアルキル基又はアリール基を表す。)で示されるフェ
ノール化合物のキノンジアジドスルホン酸エステルの1
種又は2種以上を含有することを特徴とするポジ型レジ
スト組成物。 - 【請求項2】Z1 、Z2 、Z3 、Z4 、Z5 、Z6 及び
Z7 のうち2つが−OH基である請求項1のポジ型レジ
スト組成物。 - 【請求項3】Z1 、Z2 、Z3 およびZ4 のうち少なく
とも1つが−OH基であり、且つZ 5 、Z6 およびZ7
のうち少なくとも1つが−OH基である請求項1のポジ
型レジスト組成物。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2277293A JPH06236030A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | ポジ型レジスト組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2277293A JPH06236030A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | ポジ型レジスト組成物 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06236030A true JPH06236030A (ja) | 1994-08-23 |
Family
ID=12091964
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2277293A Pending JPH06236030A (ja) | 1993-02-10 | 1993-02-10 | ポジ型レジスト組成物 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06236030A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11643355B2 (en) | 2016-01-12 | 2023-05-09 | Corning Incorporated | Thin thermally and chemically strengthened glass-based articles |
US11697617B2 (en) | 2019-08-06 | 2023-07-11 | Corning Incorporated | Glass laminate with buried stress spikes to arrest cracks and methods of making the same |
US11891324B2 (en) | 2014-07-31 | 2024-02-06 | Corning Incorporated | Thermally strengthened consumer electronic glass and related systems and methods |
-
1993
- 1993-02-10 JP JP2277293A patent/JPH06236030A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11891324B2 (en) | 2014-07-31 | 2024-02-06 | Corning Incorporated | Thermally strengthened consumer electronic glass and related systems and methods |
US11643355B2 (en) | 2016-01-12 | 2023-05-09 | Corning Incorporated | Thin thermally and chemically strengthened glass-based articles |
US11697617B2 (en) | 2019-08-06 | 2023-07-11 | Corning Incorporated | Glass laminate with buried stress spikes to arrest cracks and methods of making the same |
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