JP3600375B2 - ポジ型ホトレジスト組成物 - Google Patents
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Description
【産業上の利用分野】
本発明は、ポジ型ホトレジスト組成物、さらに詳しくは耐熱性、残膜率及び感度に優れるとともに安価なポジ型ホトレジスト組成物に関する。
【0002】
【従来技術】
従来、ICやLSIなどの半導体デバイスや液晶デバイスなどの製造にホトリソグラフィーによる基板上のパターンの形成方法が採用されている。前記ホトリソグラフィーは、シリコンウエーハやガラス等の基板上にホトレジスト組成物をスピンナー等を用いて塗布、乾燥し、次いでマスクを介して活性光線や粒子線を照射又は描画して潜像を形成し、それを現像してパターンを基板上に形成する方法である。
【0003】
近年、ICやLSIが高集積化するとともに薄膜トランジスタ(TFT)型液晶素子の需要が増大するに伴い、耐熱性、残膜率及び感度に優れたポジ型ホトレジストが要望されるようになってきた。前記要望に応えるポジ型ホトレジストとして特公平6−90441号公報には樹脂成分をキシレノール変性クレゾールノボラック樹脂とするポジ型ホトレジストが提案されている。しかしながら、前記キシレノール変性クレゾールノボラック樹脂はクレゾールノボラック樹脂に比べて高価であるという欠点を有する。そこで、クレゾールノボラック樹脂においてメタクレゾールに対するパラクレゾールの割合を変えることで耐熱性、残膜率の向上を図ることが検討されたが、パラクレゾール成分が多くなるとアルカリ現像液に対する溶解性が低下し、感度が低くなるという欠点がある。そこで、感度を良くするため樹脂の低分子化を行ったところ、耐熱性や残膜率に劣る欠点が生じた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
こうした現状に鑑み、本発明者等は鋭意研究を重ねた結果、クレゾールノボラック樹脂製造時のメタクレゾールとパラクレゾールの配合割合を反応の初期と後期で変えることで高分子量のクレゾールノボラック樹脂が低価格で得られ、それを使用することで耐熱性、残膜率及び感度がバランスよく優れたポジ型ホトレジスト組成物が得られることを見出し、本発明を完成したものである。
【0005】
すなわち、本発明は、耐熱性、残膜率、感度などがバランスよく優れ、かつ低価格のポジ型ホトレジスト組成物を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成する本発明は、(A)アルカリ可溶性クレゾールノボラック樹脂及び(B)キノンジアジド基含有化合物を含むポジ型ホトレジスト組成物において、前記(A)成分が、メタクレゾール、パラクレゾール及びアルデヒド類を酸触媒下にて1次反応して得られるクレゾールノボラック樹脂低分子量縮合物に、さらにパラクレゾール又はパラクレゾールとアルデヒド類を加え、さらに反応(2次反応)させて得られるクレゾールノボラック樹脂であって、メタクレゾールとパラクレゾールのモル比が1次反応時に8/2〜4/6の範囲にあり、2次反応時のメタクレゾールとパラクレゾールのモル比が1次反応後のクレゾールノボラック樹脂をも含めた全モル比で8/2〜2/8の範囲内にあり、かつ前記クレゾールノボラック樹脂の重量平均分子量が1次反応終了時に3,000以下であり、最終生成物で3,500〜20,000であることを特徴とするポジ型ホトレジスト組成物に係る。
【0007】
本発明の(A)成分は、メタクレゾールとパラクレゾールからなるクレゾール類とアルデヒド類とを酸触媒の存在下で反応して得られたアルカリ可溶性クレゾールノボラック樹脂であって、反応の初期の第1次反応で重量平均分子量3,000以下、好ましくは1,000以下のクレゾールノボラック樹脂低分子量縮合物を得、反応の後期の第2次反応でメタクレゾール及びパラクレゾールから選ばれる少なくとも1種、又はメタクレゾール及びパラクレゾールから選ばれる少なくとも1種とアルデヒド類を加え、クレゾール成分の割合を変えることで得た重量平均分子量3,500〜20,000、好ましくは4,000〜17,000の高分子量のクレゾールノボラック樹脂である。前記クレゾールノボラック樹脂の重量平均分子量が3,500未満ではポジ型ホトレジスト組成物の耐熱性が劣り、また重量平均分子量が20,000を超えると感度が低下する。さらに第1次反応で得られたクレゾールノボラック樹脂低分子量縮合物の重量平均分子量が3,000を超えると第2次反応により超高分子量のクレゾールノボラック樹脂が生成し、感度を極端に低下させる。前記重量平均分子量は、昭和電工(株)製GPCカラム(KF−802 1本、KF−803 1本、KF−805 1本)を用い流量1.0ml/分、溶出溶媒テトラヒドロフラン、カラム温度40℃の分析条件で、単分散ポリスチレンを標準とするゲルパーミエーションクロマトグラフ(GPC)法により求めたポリスチレン換算分子量である。
【0008】
上記クレゾール類と反応するアルデヒド類としては、ホルムアルデヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、ベンズアルデヒド、ヒドロキシベンズアルデヒド、テレフタルアルデヒド、サリチルアルデヒドが挙げられる。前記アルデヒド類は1種または2種以上を混合して用いても良い。
【0009】
また、縮合反応に使用する酸触媒としては、塩酸、硫酸、リン酸などの無機酸類、ギ酸、シュウ酸、酢酸、p−トルエンスルホン酸などの有機酸類が用いられ、それらの単独または2種以上の組み合わせが使用される。
【0010】
上記クレゾールノボラック樹脂の製造において、クレゾール類、アルデヒド類は同時に混合しても、またクレゾール類を最初に反応系に仕込み、ついでアルデヒド類を添加する方法によってもよいが、第1次反応ではクレゾール類中のメタクレゾールとパラクレゾールのモル比は8/2〜4/6、第2次反応ではパラクレゾール又はパラクレゾールとアルデヒド類を加え、メタクレゾールとパラクレゾールのモル比が1次反応後のクレゾールノボラック樹脂をも含めた全モル比で8/2〜2/8、好ましくは6/4〜2/8で用いられる。前記範囲のメタクレゾールを含有することで得られたクレゾールノボラック樹脂は高分子量となるとともに、クレゾールノボラック樹脂骨格の中心部にアルカリ現像液に対する溶解速度の早いメタクレゾール分が多くなり、耐熱性がよくなるとともに、アルカリ現像液に対する溶解速度の低下がなく、ポジ型ホトレジスト組成物の感度を高い状態に維持できる。前記第1次反応でメタクレゾールとパラクレゾールのモル比が4/6未満では樹脂のアルカリ現像液に対する溶解速度の低下が起こり、ポジ型ホトレジスト組成物の感度が低下する。また、第2次反応でメタクレゾールとパラクレゾールのモル比が2/8未満でも感度の低下が起こり、メタクレゾールとパラクレゾールのモル比が8/2を超えると残膜率の低下が起こる。
【0011】
上記クレゾールノボラック樹脂はクレゾール類、アルデヒド類及び酸触媒を溶媒に溶解し縮合反応させても、また溶媒を用いず縮合反応させても得ることができる。使用溶媒としては、アルコール類、エーテル類、エステル類及びエチレングリコールモノアルキルエーテル類が挙げられる。
【0012】
本発明の(B)成分であるキノンジアジド基含有化合物としては、ヒドロキシ化合物とキノンジアジドスルホン酸との完全又は部分エステル化物が用いられる。前記ヒドロキシ化合物としては、ポリヒドロキシベンゾフェノン類、ヒドロキシアリール類、ビス(ヒドロキシフェニル)アルカン類及びフェノール類が挙げられ、(i)ポリヒドロキシベンゾフェノン類としては、具体的に2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,4,4’−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,4,6−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、2,3’,4,4’,6−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,3,4,4’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,2’,3,4,5’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン、2,3’,4,5,5’−ペンタヒドロキシベンゾフェノン及び2,3,3’,4,4’,5’−ヘキサヒドロキシベンゾフェノンなどが、(ii)ヒドロキシアリール類としては、一般式化3で表わされる化合物
【0013】
【化3】
(式中、R12〜R14は水素原子又は低級アルキル基、R15〜R20は水素原子、ハロゲン原子、低級アルキル基、低級アルコキシ基、低級アルケニル基又はシクロアルキル基、R21、R22は水素原子、ハロゲン原子又は低級アルキル基、X、Y及びZは1〜3の整数、n’は0又は1である。)
が挙げられ、具体的にはトリス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−3−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−3−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−2,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−2,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシフェニル)−3−メトキシ−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−4−ヒドロキシフェニル)−3−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−4−ヒドロキシフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−4−ヒドロキシフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−4−ヒドロキシ−2−メチルフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−4−ヒドロキシ−2−メチルフェニル)−3−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−4−ヒドロキシ−2−メチルフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−4−ヒドロキシ−2−メチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−6−ヒドロキシフェニル)−3−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−6−ヒドロキシフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−6−ヒドロキシフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−2−ヒドロキシ−4−メチルフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−2−ヒドロキシ−4−メチルフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−2−ヒドロキシ−4−メチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、1−[1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、1−[1−(3−メチル−4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(3−メチル−4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼンなどが、(iii)ビス(ヒドロキシフェニル)アルカン類としては、一般式化4で表わされる化合物
【0014】
【化4】
(式中、R23、R24は水素原子又は低級アルキル基、X’及びY’は1〜3の整数である。)
が挙げられ、具体的には2−(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)−2−(2’,3’,4’−トリヒドロキシフェニル)プロパン、2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−2−(2’,4’−ジヒドロキシフェニル)プロパン、2−(4−ヒドロキシフェニル)−2−(4’−ヒドロキシフェニル)プロパン、ビス(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)メタン、ビス(2,4−ジヒドロキシフェニル)メタンなどが、(iv)フェノール類としては、フェノール、p−メトキシフェノール、ジメチルフェノール、ヒドロキノン、ナフトール、ピロカテコール、ピロガロールモノメチルエーテル、ピロガロール−1,3−ジメチルエーテル、没食子酸、部分エステル化又は部分エーテル化没食子酸などがある。
【0015】
(B)成分のキノンジアジド基含有化合物は、上記ヒドロキシ化合物のキノンジアジドスルホン酸エステルであり、前記キノンジアジドスルホン酸エステルとしてはエステル部分で表わして、ベンゾキノン−1,2−ジアジド−4−スルホン酸エステル、ナフトキノン−1,2−ジアジド−4−スルホン酸エステル、ナフトキノン−1,2−ジアジド−5−スルホン酸エステル、その他キノンジアジド誘導体のスルホン酸エステルなどが挙げられる。特にナフトキノン−1,2−ジアジド−4(又は5)−スルホン酸エステルが好適である。前記キノンジアジド基含有化合物は、上記ポリヒドロキシ化合物と例えば1,2−ナフトキノンジアジド−4(又は5)−スルホン酸ハライドなどを有機溶媒、例えばジオキサン、N−メチルピロリドン、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、テトラヒドロフランなどの有機溶媒に所定量溶解し、ここにトリエタノールアミン、トリエチルアミン、ピリジン、炭酸アルカリ又は炭酸水素アルカリなどの塩基性触媒の存在下でエステル化反応を行うことにより合成される。前記エステル化反応に基づくエステル化率はヒドロキシ化合物の水酸基の全モル数の50モル%以上、好ましくは60モル%以上が良い。エステル化率が前記範囲未満では高解像性を得ることができない。
【0016】
上記(B)成分は、(A)成分に対して15〜40重量%、好ましくは20〜30重量%の範囲で含有される。(B)成分の含有量が15重量%未満ではパターンに忠実な画像が得られず、転写性が低下し、また40重量部を超えると感度及び形成されるレジスト膜の均一性が低下し、解像性が劣ることになり好ましくない。
【0017】
本発明のポジ型ホトレジスト組成物は、上記(A)成分、(B)成分に加えてポジ型ホトレジスト組成物の感度を向上させるためさらに(C)成分の重量平均分子量100〜800のフェノール性化合物を含有することができる。前記フェノール性化合物は重量平均分子量が100〜800の範囲にあれば、特に限定するものではないが、中でも一般式化5で表されるヒドロキシアリール化合物が好ましい。
【0018】
【化5】
(式中、R1〜R9、Q、R10、R11、a,b,c,d及びnは前記定義と同 じ。)
上記一般式化5で表されるヒドロキシアリール化合物としては具体的には
【0019】
(イ)一般式化5におけるnが0、Qがヒドロキシアリール基の場合
トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−3−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−3−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−2,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシフェニル)−3−メトキシ−4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−4−ヒドロキシ−2−メチルフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−4−ヒドロキシ−2−メチルフェニル)−3−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−4−ヒドロキシ−2−メチルフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−4−ヒドロキシ−2−メチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−6−ヒドロキシフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−6−ヒドロキシフェニル)−3−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−6−ヒドロキシフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−2−ヒドロキシ−4−メチルフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−2−ヒドロキシ−4−メチルフェニル)−3−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−2−ヒドロキシ−4−メチルフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(5−シクロヘキシル−2−ヒドロキシ−4−メチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタンなど。
【0020】
(ロ)一般式化5におけるnが1、Qがヒドロキシアリール基の場合
1−[1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、1−[1−(3−メチル−4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(3−メチル−4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼンなど。
【0021】
(ハ)一般式化5におけるnが0、Qが水素原子又は低級アルキル基の場合
2−(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)−2−(2’,3’,4’−トリヒドロキシフェニル)プロパン、2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−2−(2’,4’−ジヒドロキシフェニル)プロパン、2−(4−ヒドロキシフェニル)−2−(4’−ヒドロキシフェニル)プロパン、2−(3−フルオロ−4−ヒドロキシフェニル)−2−(3’−フルオロ−4’−ヒドロキシフェニル)プロパン、2−(2,4−ジヒドロキシフェニル)−2−(4’−ヒドロキシフェニル)プロパン、2−(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)−2−(4’−ヒドロキシフェニル)プロパン、2−(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)−2−(4’−ヒドロキシ−3’,5’−ジメチルフェニル)プロパン、ビス(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)メタン、ビス(2,4−ジヒドロキシフェニル)メタン、2,3,4−トリヒドロキシフェニル−4’−ヒドロキシフェニルメタンなど。
【0022】
(ニ)一般式化5におけるnが1、Qが水素原子又は低級アルキル基の場合
4,6−ビス(4−ヒドロキシフェニル)レゾルシン、4,6−ビス[1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]レゾルシン、1,4−ビス[1−(3,4,5−トリヒドロキシフェニル)イソプロピル]ベンゼン、1,4−ビス[1−(3−メチル−4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]ベンゼン、1,4−ビス[1−(3,4−ジヒドロキシフェニル)イソプロピル]ベンゼン、4,5−ビス(4−ヒドロキシフェニルメチル)カテコール、4,6−ビス(3,5−ジメトキシ−4−ヒドロキシフェニルメチル)ピロガロール、4,6−ビス(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニルメチル)ピロガロール、2,6−ビス[1−(2,4−ジヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−メチルフェノール、2,6−ビス(2,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニルメチル)−4−メチルフェノール、2,6−ビス(2,4−ジヒドロキシフェニルメチル)−4−メチルフェノール、2,6−ビス(4−メチル−2−ヒドロキシフェニルメチル)−4−メチルフェノール、2,6−ビス(2,3,4−トリヒドロキシフェニルメチル)−4−メチルフェノールなどが挙げられる。前記(C)成分は目的とするレジスト特性に応じて1種または2種以上組み合わせて用いてもよい。
【0023】
上記(C)成分は(A)成分に対して5〜50重量%、好ましくは10〜35重量%の範囲で選ばれれる。(C)成分が5重量部未満では感度向上効果がみれず、また50重量%を超えるとスカムが発生したり、解像性が劣化するため好ましくない。
【0024】
上記に加えて、本発明のポジ型ホトレジスト組成物には、相溶性のある添加物、ハレーション防止のための紫外線吸収剤、例えば2,2’,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、4−ジメチルアミノ−2’,4’−ジヒドロキシベンゾフェノン、5−アミノ−3−メチル−1−フェニル−4−(4−ヒドロキシフェニルアゾ)ピラゾール、4−ジメチルアミノ−4’−ヒドロキシアゾベンゼン、4−ジエチルアミノ−4’−エトキシアゾベンゼン、4−ジエチルアミノアゾベンゼン、クルクミンなど、またストリエーション防止のための界面活性剤、たとえばフロラードFC−430、FC−431(商品名、スリーエム社製)、エフトップEF122A、EF122B、EF122C、EF126(商品名、トーケムプロヅクツ社製)などのフッ素系界面活性剤などを本発明の目的に支障のない範囲で添加含有させることができる。さらに必要に応じて付加的樹脂、可塑剤、安定剤、着色剤、増感剤及びコントラスト向上剤などの慣用の添加物を組成物の性能を損なわない範囲で配合できる。
【0025】
本発明のポジ型ホトレジスト組成物の使用に当たっては、従来のホトレジスト技術のレジストパターン形成方法と同様に有機溶剤に溶解した塗布液として用いるのが好ましい。前記有機溶剤としては、例えばアセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサン、メチルイソアミルケトン、2−ヘプタノンなどのケトン類;エチレングリコール、プロピレングリコール、ジエチレングリコール、エチレングリコールモノアセテート、プロピレングリコールモノアセテート、ジエチレングリコールモノアセテート或はこれらのモノメチルエーテル、モノエチルエーテル、モノプロピルエーテル、モノブチルエーテル又はモノフェニルエーテルなどのアルコール類及びその誘導体;ジオキサンのような環式エーテル類;及び乳酸メチル、乳酸エチル、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、エトキシプロピオン酸エチルなどのエステル類等を挙げることができる。これらの有機溶剤の1種又は2種以上を混合して使用できる。これらの溶剤に溶解し調製した塗布液を、シリコンウエーハやガラスのような基板上にスピンナーなど任意の塗布方法で塗布し、それを乾燥して感光層を形成し、次いで、マスクパターンを介して、遠紫外線、エキシマレーザー、X線などの電磁波を照射するか、あるいは電子線などの粒子線を走査しながら照射し、それを現像液、例えば1〜10重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液のようなアルカリ性水溶液に浸漬し、露光部を選択的に溶解除去し、マスクパターンに忠実な画像を造る。
【0026】
上記パターン形成方法は、半導体デバイスや液晶表示デバイスの加工にとどまらず、リソグラフィーを用いて加工する分野、例えばLCD、TAB、PCB、ケミカルミーリング、印刷などにも利用できる。
【0027】
【発明の実施の形態】
次に実施例に基づいて本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの例によって何ら限定されるものではない。
【0028】
〈製造例〉
製造例1
攪拌機、熱交換機、温度計のついた1リットルの四つ口フラスコにメタクレゾール160g、パラクレゾール107g、37%ホルマリン170g、シュウ酸4.0gを仕込み反応温度70℃で2時間反応を行った。得られた縮合物の重量平均分子量は500であった。次に前記反応物にパラクレゾール133gを添加し、反応温度95〜100℃で6時間の反応を行った。その後、液温が150℃になるまで常圧蒸留で脱水を行い、さらに真空度が40Torrで液温が200℃になるまで減圧蒸留をして未反応のクレゾールを除去し、重量平均分子量5,000のクレゾールノボラック樹脂を得た。
【0029】
製造例2
製造例1と同様な反応装置にメタクレゾール160g、パラクレゾール107g、80%パラホルムアルデヒド80g、シュウ酸4.0gを仕込み反応温度70℃で2時間反応を行った。得られた縮合物の重量平均分子量は1,000であった。次に前記反応物にパラクレゾール133gを添加し、反応温度95〜100℃で6時間の反応を行った。その後、液温が150℃になるまで常圧蒸留で脱水を行い、さらに真空度が40Torrで液温が200℃になるまで減圧蒸留をして未反応のクレゾールを除去し、重量平均分子量7,500のクレゾールノボラック樹脂を得た。
【0030】
製造例3
製造例1と同様な反応装置にメタクレゾール240g、パラクレゾール103g、37%ホルマリン216g、シュウ酸2.0gを仕込み反応温度80℃で1時間反応を行った。得られた縮合物の重量平均分子量は3,000であった。次に前記反応物にパラクレゾール57gを添加し、反応温度95〜100℃で5時間の反応を行った。その後、液温が150℃になるまで常圧蒸留で脱水を行い、さらに真空度が40Torrで液温が200℃になるまで減圧蒸留をして未反応のクレゾールを除去し、重量平均分子量15,700のクレゾールノボラック樹脂を得た。
【0031】
比較製造例1
製造例1と同様な反応装置にメタクレゾール100g、37%ホルマリン100g、シュウ酸4.0gを仕込み反応温度60℃で3時間反応を行った。得られた縮合物の重量平均分子量は500であった。次に前記反応物にパラクレゾール280g、メタクレゾール20g、37%ホルマリン65gを添加し、反応温度95〜100℃で8時間の反応を行った。その後、液温が150℃になるまで常圧蒸留で脱水を行い、さらに真空度が40Torrで液温が200℃になるまで減圧蒸留をして未反応のクレゾールを除去し、重量平均分子量5,500のクレゾールノボラック樹脂を得た。
【0032】
比較製造例2
製造例1と同様な反応装置にメタクレゾール160g、パラクレゾール240g、37%ホルマリン175g、シュウ酸4.0gを仕込み反応温度95〜100℃で6時間還流反応を行った。その後、液温が150℃になるまで常圧蒸留で脱水を行い、さらに真空度が40Torrで液温が200℃になるまで減圧蒸留をして未反応のクレゾールを除去し、重量平均分子量4,500のクレゾールノボラック樹脂を得た。
【0033】
比較製造例3
製造例1と同様な反応装置にメタクレゾール103g、パラクレゾール240g、80%パラホルムアルデヒド82g、シュウ酸4.0gを仕込み反応温度80℃で2時間反応を行った。得られた縮合物の重量平均分子量は1,000であった。次に前記反応物にメタクレゾール57gを添加し、反応温度95〜100℃で6時間の反応を行った。その後、液温が150℃になるまで常圧蒸留で脱水を行い、さらに真空度が40Torrで液温が200℃になるまで減圧蒸留をして未反応のクレゾールを除去し、重量平均分子量7,000のクレゾールノボラック樹脂を得た。
【0034】
比較製造例4
製造例1と同様な反応装置にメタクレゾール240g、パラクレゾール103g、37%ホルマリン218g、シュウ酸2.0gを仕込み反応温度85℃で4時間反応を行った。得られた縮合物の重量平均分子量は7,000であった。次に前記反応物にパラクレゾール57gを添加し、反応温度95〜100℃で5時間の反応を行った。その後、液温が150℃になるまで常圧蒸留で脱水を行い、さらに真空度が40Torrで液温が200℃になるまで減圧蒸留をして未反応のクレゾールを除去し、重量平均分子量15,000のクレゾールノボラック樹脂を得た。
【0035】
比較製造例5
製造例1と同様な反応装置にメタクレゾール120g、パラクレゾール280g、37%ホルマリン168g、シュウ酸4.0gを仕込み反応温度95〜100℃で8時間反応を行った。その後、液温が150℃になるまで常圧蒸留で脱水を行い、さらに真空度が40Torrで液温が200℃になるまで減圧蒸留をして未反応のクレゾールを除去し、重量平均分子量5,000のクレゾールノボラック樹脂を得た。
【0036】
上記製造例1〜4、比較製造例1〜4の第1次及び第2次反応時のメタクレゾール(m)とパラクレゾール(p)との割合、第1次反応物の重量平均分子量Mw及びクレゾールノボラック樹脂の重量平均分子量を表1に示す。
【0037】
【表1】
【0038】
【実施例】
実施例1〜3、比較例1〜5
表1に示す製造方法で得られたクレゾールノボラック樹脂(A)、キノンジアジド基含有化合物(B)及び重量平均分子量100〜800のフェノール性化合物を表2に示す割合でプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートに溶解し、それを孔径0.2μmのメンンブランフィルターでろ過し、ポジ型ホトレジスト組成物を調製した。
【0039】
上記ポジ型ホトレジスト組成物をスピンナーを用いてシリコンウエーハ上に塗布し、ホットプレート上で110℃、90秒間乾燥して膜厚1.5μmのレジスト膜を得た。前記膜に縮小投影露光装置NSR−1505G4D(ニコン社製、NA=0.45)を用いて、0.1秒から0.01秒間隔で露光した後、2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で23℃で65秒間現像し、30秒間水洗し乾燥した。その際の露光部の膜厚が0となる露光量を感度としてmsとして評価した。
【0040】
また、未露光部の現像前の膜厚に対する現像後の膜厚の割合を残膜率として評価した。さらに、5μmのレジストパターンをホットプレート上に置きレジストパターンがフローし始める温度を耐熱性として評価した。その結果を表2に示す。
【0041】
【表2】
【0042】
上記表1にみるように、本発明のポジ型ホトレジスト組成物は感度、残膜率及び耐熱性に優れていることが窺える。
【0043】
【発明の効果】
本発明のポジ型ホトレジスト組成物は、感度、残膜率及び耐熱性が優れ、半導体デバイスや液晶表示デバイス等の製造に好適である。
Claims (3)
- (A)アルカリ可溶性クレゾールノボラック樹脂及び(B)キノンジアジド基含有化合物を含むポジ型ホトレジスト組成物において、前記(A)成分が、メタクレゾール、パラクレゾール及びアルデヒド類を酸触媒下にて1次反応して得られるクレゾールノボラック樹脂低分子量縮合物に、さらにパラクレゾール又はパラクレゾールとアルデヒド類を加え、さらに反応(2次反応)させて得られるクレゾールノボラック樹脂であって、メタクレゾールとパラクレゾールのモル比が1次反応時に8/2〜4/6の範囲にあり、2次反応時のメタクレゾールとパラクレゾールのモル比が1次反応後のクレゾールノボラック樹脂をも含めた全モル比で8/2〜2/8の範囲内にあり、かつ前記クレゾールノボラック樹脂の重量平均分子量が1次反応終了時に3,000以下であり、最終生成物で3,500〜20,000であることを特徴とするポジ型ホトレジスト組成物。
- (A)成分、(B)成分に加えてさらに(C)重量平均分子量100〜800のフェノール性化合物を含有することを特徴とする請求項1記載のポジ型ホトレジスト組成物。
- (C)成分が一般式化1で表されるヒドロキシアリール化合物であることを特徴とする請求項2記載のポジ型ホトレジスト組成物。
ル基又はシクロアルキル基を、R7〜R9は水素原子又は低級アルキル基を、Q
は水素原子、低級アルキル基又は化2で表される残基
キシル基又はシクロアルキル基を、またcは1〜3の整数を示す。)を、a、
bは1〜3の整数を、dは0〜3の整数を、nは0又は1を表わす。]
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