JPH0210275A - 自動基盤比較差動テスター - Google Patents

自動基盤比較差動テスター

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JPH0210275A
JPH0210275A JP63163190A JP16319088A JPH0210275A JP H0210275 A JPH0210275 A JP H0210275A JP 63163190 A JP63163190 A JP 63163190A JP 16319088 A JP16319088 A JP 16319088A JP H0210275 A JPH0210275 A JP H0210275A
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JP
Japan
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point
voltage
board
circuit
comparing
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JP63163190A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiromichi Fujita
藤田 弘道
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 イ、必要性について 現在多種多様色々の基盤が製造され其の検査不良等を簡
単にある一部だけでも、l!I素かできれば、私ども製
造業にとってコストの問題又技術の向上につながり必要
性が充分有ると考えます。
口、発明の詳細な説明 (図面配線図の説明)此の電子
回路は入力電圧によって構成して居ます、入力A、B点
からそれぞれの電圧が入力する分けですが、ここでは、
A点を基本基盤(正常基盤)として、まづ説明を致しま
す、A点から人力した電圧は、B点のエミッターの(こ
こでは@流増幅)比較電圧を作ります、一方A点からの
電圧はA点側比較回路に入り8点側で作られた比較電圧
がエミッター人ります配線図を見て頂いて、お分かりか
と思いますが、A、F3.点からの入力電圧で互いに比
較しあって自動的に差動します0図面の簡単な説ツ1は
これで終わらせて頂きます。
ハ、実験の結果動作について この回路には、士電圧が加えていますがこれはOボルト
動作電圧入力ベース電圧(ここではトラジスタ−の関係
により10ボルトから0ボルトまで動作するよう設計し
て有りますが使用するトランジスターによりもっと高い
電圧を使用する事も可能です又は、IC,Fr”:T)
ランシスターで、設計することもできまず、)それでは
、此の回路での実験の結果を見まず。
A点の電圧がB点より高い時は、A点回路LED、点は
、II+、に、B点は、ROに成りまず、B点の電圧が
への電圧よりも高い時は、B点回路は111にAI回路
は、ROです、A、13.点が同じ電圧の場合は、両方
の回路はII +に成るよう&+1!I!をします、こ
の回路は、エミッター電圧&電流増幅〜比較回路〜電力
増幅へて一般的デイジタルU御に入れて検出します、此
の回路は特許とは関係がイfりませんので特に図面はあ
りません。
二、*測定結果 インプット電圧 0〜10ボルト(この図面では)イン
ブト fft流 10マイクロ以下(当社測定)八、B
1間の電圧の差+−0.1ネ゛痺ト以内R整自由図面に
使用したトランジスター、メカ−等は0許と関手続補正
書 昭和63年10月21.0差出 昭和63年IO月20日 補正の対象課D(4、明m書中に図面の簡単な説明)の
項目及びその欄を加入すること、

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 正常な基盤を基礎にテスト用の同じ基盤を¥比較電圧¥
    によって、テストして不良箇所、の発見をする事が出来
    る範囲を特許請求致します。
JP63163190A 1988-06-29 1988-06-29 自動基盤比較差動テスター Pending JPH0210275A (ja)

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JPH0210275A true JPH0210275A (ja) 1990-01-16

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009149377A (ja) * 2005-07-28 2009-07-09 Nippon Paper Crecia Co Ltd 廃棄し易いティシュペーパー容器

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009149377A (ja) * 2005-07-28 2009-07-09 Nippon Paper Crecia Co Ltd 廃棄し易いティシュペーパー容器

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