JPH0210275A - 自動基盤比較差動テスター - Google Patents
自動基盤比較差動テスターInfo
- Publication number
- JPH0210275A JPH0210275A JP63163190A JP16319088A JPH0210275A JP H0210275 A JPH0210275 A JP H0210275A JP 63163190 A JP63163190 A JP 63163190A JP 16319088 A JP16319088 A JP 16319088A JP H0210275 A JPH0210275 A JP H0210275A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- point
- voltage
- board
- circuit
- comparing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract 1
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Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、必要性について
現在多種多様色々の基盤が製造され其の検査不良等を簡
単にある一部だけでも、l!I素かできれば、私ども製
造業にとってコストの問題又技術の向上につながり必要
性が充分有ると考えます。
単にある一部だけでも、l!I素かできれば、私ども製
造業にとってコストの問題又技術の向上につながり必要
性が充分有ると考えます。
口、発明の詳細な説明 (図面配線図の説明)此の電子
回路は入力電圧によって構成して居ます、入力A、B点
からそれぞれの電圧が入力する分けですが、ここでは、
A点を基本基盤(正常基盤)として、まづ説明を致しま
す、A点から人力した電圧は、B点のエミッターの(こ
こでは@流増幅)比較電圧を作ります、一方A点からの
電圧はA点側比較回路に入り8点側で作られた比較電圧
がエミッター人ります配線図を見て頂いて、お分かりか
と思いますが、A、F3.点からの入力電圧で互いに比
較しあって自動的に差動します0図面の簡単な説ツ1は
これで終わらせて頂きます。
回路は入力電圧によって構成して居ます、入力A、B点
からそれぞれの電圧が入力する分けですが、ここでは、
A点を基本基盤(正常基盤)として、まづ説明を致しま
す、A点から人力した電圧は、B点のエミッターの(こ
こでは@流増幅)比較電圧を作ります、一方A点からの
電圧はA点側比較回路に入り8点側で作られた比較電圧
がエミッター人ります配線図を見て頂いて、お分かりか
と思いますが、A、F3.点からの入力電圧で互いに比
較しあって自動的に差動します0図面の簡単な説ツ1は
これで終わらせて頂きます。
ハ、実験の結果動作について
この回路には、士電圧が加えていますがこれはOボルト
動作電圧入力ベース電圧(ここではトラジスタ−の関係
により10ボルトから0ボルトまで動作するよう設計し
て有りますが使用するトランジスターによりもっと高い
電圧を使用する事も可能です又は、IC,Fr”:T)
ランシスターで、設計することもできまず、)それでは
、此の回路での実験の結果を見まず。
動作電圧入力ベース電圧(ここではトラジスタ−の関係
により10ボルトから0ボルトまで動作するよう設計し
て有りますが使用するトランジスターによりもっと高い
電圧を使用する事も可能です又は、IC,Fr”:T)
ランシスターで、設計することもできまず、)それでは
、此の回路での実験の結果を見まず。
A点の電圧がB点より高い時は、A点回路LED、点は
、II+、に、B点は、ROに成りまず、B点の電圧が
への電圧よりも高い時は、B点回路は111にAI回路
は、ROです、A、13.点が同じ電圧の場合は、両方
の回路はII +に成るよう&+1!I!をします、こ
の回路は、エミッター電圧&電流増幅〜比較回路〜電力
増幅へて一般的デイジタルU御に入れて検出します、此
の回路は特許とは関係がイfりませんので特に図面はあ
りません。
、II+、に、B点は、ROに成りまず、B点の電圧が
への電圧よりも高い時は、B点回路は111にAI回路
は、ROです、A、13.点が同じ電圧の場合は、両方
の回路はII +に成るよう&+1!I!をします、こ
の回路は、エミッター電圧&電流増幅〜比較回路〜電力
増幅へて一般的デイジタルU御に入れて検出します、此
の回路は特許とは関係がイfりませんので特に図面はあ
りません。
二、*測定結果
インプット電圧 0〜10ボルト(この図面では)イン
ブト fft流 10マイクロ以下(当社測定)八、B
1間の電圧の差+−0.1ネ゛痺ト以内R整自由図面に
使用したトランジスター、メカ−等は0許と関手続補正
書 昭和63年10月21.0差出 昭和63年IO月20日 補正の対象課D(4、明m書中に図面の簡単な説明)の
項目及びその欄を加入すること、
ブト fft流 10マイクロ以下(当社測定)八、B
1間の電圧の差+−0.1ネ゛痺ト以内R整自由図面に
使用したトランジスター、メカ−等は0許と関手続補正
書 昭和63年10月21.0差出 昭和63年IO月20日 補正の対象課D(4、明m書中に図面の簡単な説明)の
項目及びその欄を加入すること、
Claims (1)
- 正常な基盤を基礎にテスト用の同じ基盤を¥比較電圧¥
によって、テストして不良箇所、の発見をする事が出来
る範囲を特許請求致します。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63163190A JPH0210275A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 自動基盤比較差動テスター |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63163190A JPH0210275A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 自動基盤比較差動テスター |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0210275A true JPH0210275A (ja) | 1990-01-16 |
Family
ID=15768979
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63163190A Pending JPH0210275A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 自動基盤比較差動テスター |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0210275A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009149377A (ja) * | 2005-07-28 | 2009-07-09 | Nippon Paper Crecia Co Ltd | 廃棄し易いティシュペーパー容器 |
-
1988
- 1988-06-29 JP JP63163190A patent/JPH0210275A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009149377A (ja) * | 2005-07-28 | 2009-07-09 | Nippon Paper Crecia Co Ltd | 廃棄し易いティシュペーパー容器 |
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