JPH01317250A - 磁気光学記録担体を光学的に走査する装置 - Google Patents

磁気光学記録担体を光学的に走査する装置

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JPH01317250A
JPH01317250A JP1101821A JP10182189A JPH01317250A JP H01317250 A JPH01317250 A JP H01317250A JP 1101821 A JP1101821 A JP 1101821A JP 10182189 A JP10182189 A JP 10182189A JP H01317250 A JPH01317250 A JP H01317250A
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beams
sub
scanning
reflected
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JP1101821A
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Peter F Greve
ペテル・フェルディナンド・フレフェ
Albert Smid
アルベルト・スミド
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Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （技術分野） 本発明は磁気光学記録担体（ｍａｇｎｅｔｏ−ｏｐｔｉ
ｃａｌｒｅｃｏｒｄ　ｃａｒｒｉｒｅ）の放射−反射情
報面（ｒａｄ　ｉａｔ　ｉｏｎ−ｒｅｆｌｅｃｔｉｎｇ
　ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ　ｐｌａｎｅ）を光学的に走
査する装置であって、上記の装置が、 線形に偏光された走査ビームを供給する放射線源、 走査ビームを情報面の走査スポットに集束する対物系、 放射線源ユニットと、放射線源ユニットから発生する走
査ビームと情報面から反射された放射ビームとを分離す
る走査スポットとの間の放射径路（ｒａｃｌｉａｔｉｏ
ｎ　ｐａｔｈ）に配設されたビーム分離素子、反射され
た放射ビームを２つのサブビームに分割する手段、およ
び サブビームを電気信号に変換する放射感応検出系（ｒａ
ｄｉａｔｉｏｎ−ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ　ｃｌｅｔｅｃｔ
ｉｏｎ　ｓｅｙｓｔｅｍ）、を具えるものに関連してい
る。
（背景技術） このタイプの装置は欧州特許出願第ＢＰ−ＡＯ，２４４
，８２７号に記載されている。この特許出願から知られ
ている装置は走査ビームの放射径路に配設されている回
折格子の形をしたビーム分離素子を具えている。この格
子は投射された走査ビームと情報面で反射されたビーム
の双方を多数の回折次数（ｄｉｆｆｒａｃｔｉｏｎ　ｏ
ｒｄｅｒ）に分割する。零次の回折された走査ビームの
みが走査スポットに使用され、そして反射された放射の
検出に２つの一次ビームが使用される。反射されたビー
ムのこれらの一次ビームは２つの多重ホトダイオード（
ｍｕｌｔｉｐｌｅｐｈｏｔｏｄｉｏｄｅ）に入射され、
このホトダイオードはいわゆるサーボ情報である情報面
内での走査スポットの位置を決定し、かつ走査スポット
の区域（ａｒｅａ）における磁気光学記録担体の磁化を
検出する電気信号を供給する。磁化の状態は左あるいは
右にせいぜい０．３５°の偏光回転によって認識できる
。偏光の方向で　０，７°　（ピーク対ピーク）と言う
この小さい差が検出できるために、回折格子とホトダイ
オードとの間の２つのサブビームの放射径路の各々に偏
光フィルタが配設されている。
２つのフィルタの偏光の方向はお互いに対して垂直にな
っており、かつ情報面内で反射されたビームの平均偏光
方向に対して角度４５°で延在している。情報面内で反
射されたビームの偏光方向は２つのサブビームの強度の
差として検出される。
既知の装置は、回折格子と偏光フヘルクがお互いに対し
て、および走査ビームに対して正確に整列しなければな
らぬと言う欠点を有している。確かに、湾曲した格子ラ
インおよび／または放射ビームを補正する可変格子周期
を回折格子が有する場合には、極めて正確な整列が要求
される。さらに、既知の装置は製造の間に組み立てるべ
き大多数の構成要素を具えている。なかんずく、レンズ
は２つの放射感応検出器の間で最小の断面積を持つ走査
ビームを結像することを要求している。他の欠点は偏光
フィルタで放射のかなりの損失が起こることである。最
後に、走査装置の有効期間を通して構成要素の相互位置
を固定することは一つの問題である。
（発明の開示） 本発明の目的は、組み立てるべき少ない数の個別構成要
素を具える磁気光学記録担体を走査する装置を与え、同
時に構成要素の相互位置が数年間にわたって一定のまま
であり、かつこの装置が低価格で大量に生産できること
である。
このために、本発明による装置は、 ビーム分離素子が、 お互いにほぼ平行であり、かつその法線が入射放射ビー
ムの主射線（ｃｈｉｅｆ　ｒａｙ）に対して鋭角で延在
する第１および第２面を有する透明支持体、走査ビーム
と反射された放射ビームを分離するために第１面上に配
設される半透明ミラー、を具え、 上記のビーム分離素子が反射ビームを２つの直交的に偏
光されたサブビームに分割するようさらに適応されてい
ること、 を特徴としている。このようにサブビームを偏光する手
段はビーム分離素子に結合され、従って装置の組み立て
の間に１つの構成要素のみが配設されることを必要とし
ている。さらに、半透明ミラーはその中で層が−様な構
成を有するようなある表面区域をカバーし、従って正確
な集中（ｃｅｎｔｒａｌｉｓａｔｉｏｎ）は要求されず
、一方、整列公差（ａｌｉｇｎｍｅｎｔｔｏｌｅｒ、ａ
ｎｃｅ）は既知の装置よりも厳密さがずっと小さいであ
ろう。
そのような複合ビーム分離素子は、支持体材料の大きな
平板から出発して、この平板上に小片の反射材料を備え
ることにより、そして引き続いて各々がビーム分離素子
を構成する部分に平板を切断することにより相対的に低
価格で大量生産できる。
ビーム分離素子は例えばガラスのような平面平行平板（
ｐｌａｎｅ−ｐａｒａｌｌｅｌ　ｐｌａｔｅ）を具える
が、しかしそれはまた２つの表面がお互いに鋭角で延在
するクサビを具えることもできる。後者の場合、ある程
度の非点収差が走査ビームあるいは反射ビームに導入さ
れるか修正を受ける。
それ自身欧州特許出願第ＢＰ−へ〇、　２４１．３７２
号かｑ− ら知られていることであるが、走査ビームと情報面内で
反射されたビームの分離および２つの線形に偏光された
サビビームへの反射ビームの分離が単一素子に結合され
ている光学的に読み取り可能なディスクを走査する装置
にビーム分離素子を製造することに注意すべきである。
しかし、既知の装置は磁気光学記録担体の読み取りに適
合していない。２つのサブビームは同方向に偏光されて
いるから、従って情報面内の磁気配向による偏光回転は
２つの検出器上の放射強度の差として検出可能ではない
。
本発明による一実施例は、偏光方向に敏感な（ｓｅｎｓ
ｉｔｉｖｅ）反射層が反射ビームを２つの直交的に偏光
されたサブビームに分割するためにビーム分離素子の１
つの面上に備えられていることを特徴としている。偏光
感応反射層は第１面上あるいは第２面上に備えることが
できる。そのような層の使用は付加偏光フィルタによる
光の損失の無いと言う利点を有している。層が延在して
いる面が放射ビームの直径より大きく、かつ層が至ると
ころで−様な組成を有しているから、偏光感応反射層の
整列公差は非常に広いであろう。そのような層は例えば
平板を個別のビーム分離素子に切断する前に大きな平板
上の小片に備えることができる。
本発明によるこの実施例は、放射感応検出系が２つの直
交的に偏光されたサブビームを検出する２つのサブ系（
ｓｕｂ−ｓｙｓｔｅ＋ｒ＋）を具えること、および２つ
のサブ系が支持体の同じ側に配設されていること、 をさらに特徴としている。
偏光感応反射層の反対側に位置している１つのサブビー
ムの表面で反射した後、２つのサブビームはお互いにほ
ぼ平行にビーム分離素子から発出し、従って２つのサブ
ビームの放射感応検出器はお互いの近傍に配設できる。
本発明による別の実施例は、支持体が複屈折材料を具え
ることを特徴としている。例えばその光軸が適当に配向
している石英のような複屈折材料をビーム分離素子に組
み込むことにより、反射されたビームは別の偏光感応ビ
ーム分割層を備える必要無しに２つの直交的に偏光され
たサブビームに分割できる。さらに、この実施例はサブ
ビームの強度、あるいはそれから導かれた電気信号の強
度が、素子の表面に垂直な軸の周りにビーム分離素子を
回転することにより簡単なやり方で調整できるという利
点を有している。
本発明による装置は、少なくとも１つのプリズムが透明
支持体の表面に配設されていることを特徴としている。
偏光方向に敏感な反射層は、もし層が透明材料の２つの
平板の間に囲まれているならさらに容易に実現できる。
このように反射層はプリズムと支持体の間に備えられよ
う。さらに、放射ビームの放射径路の支持体の表面に配
設されたプリズムはその表面上で屈折と反射を低減して
いる。もしプリズムの出面（ｅｘｉｔ　ｆａｃｅ）が放
射ビームの主射線に垂直に配設されていないならビーム
方向の補正を得ることができる。
放射感応検出系が多重ホトダイオードを具える本発明に
よる装置の好ましい実施例は２つのサブー冊− ビームが多重ホトダイオードの異なる区域に入射される
ことを特徴としている。従って装置の組み立て中に、多
重であるにもかかわらず１つのホトダイオードのみを配
設しかつ接続することで十分である。
放射線源ユニットと放射感応検出系に対してビーム分離
素子がかなり広い公差をもって配設できるから、これら
３つの構成要素は強固かつ頑丈な組立体に固定的に接続
できる。光学的光径路の必要な整列は例えば平面平行平
板あるいは走査ビームとか反射ビーム中のクサビのよう
な整列素子によって実現できる。従って本発明による装
置の好ましい一実施例は、 放射線源ユニットと放射感応検出系が支持体に固定的に
接続され、かつ 走査ビームを整列する光学素子が放射線源とビーム分離
素子との間の放射径路に配設されていること、 を特徴としている。
しかし、本発明による他の実施例は、 −１３＝ 放射線源ユニットと放射感応検出系が支持体に固定的に
接続されており、かつ サブビームを整列する光学素子がビーム分離素子と放射
感応検出系との間のサブビームの放射径路に配設されて
いること、 を特徴としている。
本発明の実施例を添付の図面を参照し、実例によって説
明する。
（実施例） 第１図は本発明による走査装置の第１の形態を線図的に
示している。この図および第２．　３．　４図において
構成要素の相互位置は線図的にのみ示されているから、
ビーム分離素子における屈折は示されていない。第１図
において、参照記号１０は磁気光学記録担体を示し、そ
の上に磁化可能層１１が備えられている。隣接区域を層
の平面に垂直な２つの反対方向に偏光することにより層
１１に情報が書き込まれる。この区域はトラックの形に
配設されている。ディスク形状記録担体の場合には、こ
のトラックは螺旋形であるか、あいはそれは多数の同心
円サブトラックからなっている。情報は反対磁化の区域
の長さの差の形でトラックに蓄積されている。
情報は線形的に偏光された放射ビームにより磁化区域を
走査することにより読まれる。反射された放射の偏光方
向は入射ビームの偏光方向に対して小さい角度で回転し
ている。回転の方向は走査された区域の磁化の方向によ
り決定される。現在利用可能な磁気光学記録担体では、
異なる方向に磁化された２つの区域で反射された放射の
偏光方向の差は約０．７°である。走査装置では、反射
されたビームの偏光方向はこのビームを２つのサブビー
ムに分割し、引き続いて各サブビームにおいて反射ビー
ムの平均偏光方向に４５°の角度で延在する偏光方向の
成分の強度を測定することにより測られ、そしてここで
測定された成分は２つのサブビームの各々で相互に垂直
になっている。検出された２つの信号の強度の差は記録
担体の磁化された層の磁化方向、従って読むべき情報を
表示している。
第１図に線図的に示された装置は例えば線形的に偏光さ
れた放射ビーム２１を発生するレーザーダイオードのよ
うな放射線源ユニット２０を具えている。ビーム２１は
半透明ミラー２２によって記録担体１０の方向に反射さ
れ、かつ磁気光学記録担体１０の磁気層１１の走査スポ
ット２４にビームを集束する対物系２３を横切る。ミラ
ー２２は通常の半透明ミラーであってよいが、しかし代
案としてミラー２２は特定の１つの偏光方向に増大した
反射係数を有してもよい。
半透明ミラー２２は透明支持体３０の表面３１上に配設
され、この表面は記録担体１０に対面している。
表面３１は入射ビーム２１の主射線と対物系２３の光軸
に対して約４５°の角度で延在している。
放射スポット２４から反射したビームの部分２５は半透
明ミラー２２を通過し、かつ情報担体から遠い側の支持
体３０の表面３２上に備えられている偏光感応ビーム分
割層（ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ−ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ
　ｂｅａｍｓｐｌｉｔｔｉｎｇ　１ａｙｅｒ）　２６に
入射する。ビーム分割器（ｂｅａｍ　５ｐｌｉｔｔｅｒ
）　２６は入射ビーム２５を相互に垂直な偏光方向を有
する２つのサブビーム２７と２８に分割する。図面にお
いて、これは記号上と〃によって表示されている。２つ
のサブビームの偏光方向は走査スポット２４から入来す
るビーム２５の上記の偏光方向に対して４５°の角度で
延在している。
２つのサブビーム２７と２８はそれぞれ２つの放射感応
検出系４１と４２に入射される。検出系は光学的信号を
電気信号に変換し、この電気信号は差動増幅器４３の人
力に印加される。差動増幅器４３の出力信号は情報信号
Ｓ１であり、かつ記録担体の磁化可能層１１の磁化され
た区域の磁化に対応している。
第２図は異なる形態と放射径路の実例を示している。同
様な構成要素は第１図と同じ参照記号によって示され、
それについてはこれ以上説明しない。第２図において、
偏光方向に敏感であるビーム分割層２６が半透明ミラー
２２として支持体３０の同じ表面上３１に備えられてい
る。走査スポットから入来する放射ビーム２５はそれが
半透明ミラー２２を横切った後で支持体３０の表面３２
で反射される。ビーム分割器２６はビーム２５を相互に
垂直な偏光方向を有する２つのサブビーム２７と２８に
再び分割する。
ビーム２７は放射感応検出器４１に直接入射される。
ビーム２８は表面３２で反射され、かつ支持体３０に対
して放射線源ユニット２０と第１検出器４１と同じ側に
配設されている放射感応検出器４２に入射される。
検出器４１と４２の出力信号は差動増幅器４３でお互い
に減算され、差動増幅器４３の出力は情報信号Ｓｉを供
給する。
第３図と第４図は本発明による装置の形態と放射径路の
別の２つの実例を示している。これらの２つの図におい
て、同様な素子は前の２つの図と同じ参照記号によって
表示されている。２つの図において、放射線源ユニット
２０は記録担体１０とは反対の透明支持体３０の側に配
設されている。半透明ミラー２２は記録担体から遠い側
の支持体３０の表面３２上に配設されている。第３図に
おいて、偏光感応ビーム分割層２６は記録担体１０に対
面する透明支持体３０の表面３１に備えられている。第
４図において、偏光感応ビーム分割層は記録担体から遠
い側の表面３２上に備えられている。さらに、第３図の
実例の検出器４１と４２は支持体３０のいずれかの側に
配設され、そして第４図の実例では双方の検出器は放射
線源ユニット２０と同じ側に配設されている。第３図お
よび第４図の形態の走査ビーム２１が半透明ミラー２２
を通して透過されるから、この形態は第１図と第２図に
よる実例よりもミラー２２の表面エラーに余り敏感では
ない。
第５図は本発明による走査装置の別の形態を示している
。この図でもまた同様な素子は以前の図と同じ参照記号
によって示されている。
この形態において、透明支持体３３は例えば石英のよう
な複屈折材料からなっている。この材料の複屈折性のた
めに走査スポット２４から入来するビームは相互に垂直
な偏光方向を有する２つのサブビーム２７と２８に分割
される。図面では矢印３４によって示されている材料の
光軸の方向は、支持体内から見て、走査スポットから入
来するビームの平均偏光方向に４５°の角度で延在する
平面内になければならない。支持体３３の所与の厚さに
おける２つのサブビーム２７と２８の最大空間分離に対
して、光軸はこのビームの主射線に約４５°の角度で延
在しなければならない。使用された検出器の特性に依存
して、最大空間分離より少なくても十分であろう。さも
なければ、この形態は前の形態と比較でき、従ってこれ
以上説明されない。
第６図は本発明による走査装置の第１の実施例を示して
いる。この実施例の放射径路は第２図に示された放射径
路と比較できる。ハウジング１２０は線形に偏光された
走査ビーム２１を供給するレーザーダイオード２０を収
容している。ビーム２１は示されていない記録担体の方
向に半透明ミラー２２によって反射される。半透明ミラ
ー２２と（示されていない）集束対物系との間にコリメ
ータレンズ１２３が配設されている。半透明ミラー２２
は透明支持体３０の表面３１の上に配設されている。も
しプリズム１２２と一緒に支持体上に置かれるなら、こ
のミラー２２はもっと簡単かつ定性的に良好なやり方で
配設されよう。さらに、着脱プリズム（ｃｏｕｐｌｉｎ
ｇ−ｉｎ　ａｎｄ　ｃｏｕｐｌｉｎｇ−ｏｕｔ　ｐｒｉ
ｓｍ）　１２２は表面３１における放射ビームの所望し
ない反射や、屈折や、歪みを減少あるいは軽減する。プ
リズムの入り面（ｅｎｔｒａｎｃｅ　ｆａｃｅ）　１２
２’出面（ｅｘｉｔ　ｆａｃｅ）　１２２’は入射ビー
ム２１と出射ビーム２３の主射線に垂直である。これら
の面は反射防止コーティングを備えることが好ましい。
記録担体からのビーム２５は半透明ミラー２２を通過し
、そして偏光方向に敏感なビーム分割層２６の方向に支
持体３０の裏面３２によって反射される。この層は支持
体３０の表面３１０半透明ミラー２２の次に備えられて
いる。層２６はビーム２５を２つのサブビーム２７と２
８に分割する。サブビーム２７は直接支持体３０から外
に出、そしてサブビーム２８は裏面３２で反射した後で
外に出る。プリズム１２６は偏光感応ビーム分割層２６
の上にまたがって配設されている。
サブビーム２８はプリズム１２９を介して外に出る。
プリズムの出面１２６′と１２９′は反射防止コーティ
ングを備えることが好ましい。
ビーム２５と２８は全内部反射によって、あるいは、も
しも支持体３０が作成されている材料が低い屈折率を有
するならばミラーコーティングが裏面に備えられている
と言う理由から裏面３２で反射される。
２つのサブビーム２７と２８は複合ホトダイオード４４
に入射される。プリズム１２６と１２９は２つのサブビ
ームが多重ホトダイオードの異なる部分に入射されるよ
うなやり方で形成されている。出面１２６′　と１２９
′はサブビームの主射線に垂直でないから、従ってビー
ムはそれらが出面を通過する場合に屈折される。
ホトダイオード４４はサブビーム２７がホトダイオード
の表面上に集束スポット１２７を集束するようなやり方
で配設されている。円筒レンズ１５１は記録担体から入
来する放射ビームの放射径路に配設されている。従って
、記録担体上の磁化区域のトラックに対する走査スポッ
トの位置は形状および／または寸法と集束スポットの位
置から導くことができる。次にホトダイオードはセクタ
に分割されなければならない。このいわゆる集束の非点
収差法（ａｓｔｉｇｍａｔｉｃ　ｍｅｔｈｏｄ　ｏｆ　
ｆｏｃｕｓｉｎｇ）　は特に米国特許出第ＵＳ−Ａ　４
．０２３．０３３号に記載されている。
この方法において、焦点外しくｄｅｆｏｃｕｓｉｎｇ）
の場合には丸いスポットは楕円スポットに変化し、同時
に楕円の主軸の方向は集束エラーの符号（ｓｉｇｎ）を
表示する。
異なる集束方法において、クサビが要素１５１の場所に
配設され、そのクサビによってホトダイオード４４上の
集束スポット１２７の形状の変化は記録担体の情報面上
の走査スポットの集束に依存して生成される。円筒レン
ズあるいはクサビが代案として支持体３０上のプリズム
１２６と一体にできる。
レーザーダイオード２０のハウジング１２０とホトダイ
オード４４は共通支持体１５２上に固着され、かつお互
いに対してそこに固定的に接続できる。光学素子とホト
ダイオード４４に対して走査ビーム２１を整列するため
に、例えば平面平行平板のような別の整列素子１５３が
備えられ、それはダイオードレーザ−２０と支持体３０
の間で走査ビーム２１の放射径路に配設されている。光
学系はこの素子１５３を移動することにより調整される
。
代案として放射径路はサブビーム２７の放射径路の素子
１５１に光パワーを与え、かつビームの方向にそれを横
断方向に移動することにより整列することができる。
第７図は本発明による走査装置の第２の実施例を示して
いる。この実施例の放射径路は第１図を参照して説明さ
れた放射径路と比較できる。多数の素子は第６図に示さ
れた素子に対応している。
従ってすべての素子の詳細な説明を与える必要は無い。
透明支持体３０は、お互いに垂直に接続され、かつ支持
体３０と同じ材料あるいはそれと同じ機械的特性を有す
る材料からなる２つの平板１３３と１３５の間に固着さ
れている。ビーム２１（投射されたビーム）とビーム２
５（反射されたビーム）は平板１３３の開口１３４を通
過する。記録担体から入来するビーム２５は偏光方向に
敏感であるビーム分割層２６の２つの直交的に偏光され
たサブビーム２７と２８に分割される。サブビーム２７
は支持体１４１に配設されているホトダイオード４１に
よって検出される。
サブビーム２８は多重ホトダイオード４５に集束される
。素子１５１とプリズム１２９は走査スポットの集東エ
ラーに依存して集束スポット１２８の歪みを生起するよ
うサブビーム２８の放射径路に配設されている。ホトダ
イオード４５はこのように情報信号の獲得に寄与するの
みならず、また磁化区域が記録担体上に配設されている
トラック上の走査スポットを集束するサーボ信号を供給
している。
この走査装置の構造は大量生産に非常に適している。平
板３０．１３３および１３５の大部分は一緒に接着する
ことができる。平板３０には半透明ミラーコーティング
２２、偏光感応層２６およびプリズム１２２、１２６．
１２９が既に備えられている。接着剤が硬化した後、多
数の構造はそれがレーザーとホトダイオードとレンズを
備えることだけに必要な大きな部分から切断することが
できる。
そのような支持構造は磁気光学記録担体を走査する装置
に限定されない。偏光感応ビーム分割層が無い場合に全
反射は面３２で起こり、従って走査装置は「コンパクト
ディスク」および「レーザービジョン」と言う名称の下
で知られているいるような他の光学情報蓄積システムで
の使用に適合しでいる。
（要約） 本装置は半透明ミラー（２２）と偏光感応ビーム分割層
（２６）の双方が備えられている支持体（３０）を具え
る集積ビーム分離素子から形成されている。層（２６）
は磁気光学記録担体から入来するビーム（２５）を直交
的に偏光されている２つのサブビーム（２７と２８）に
分割する。２つのサブビーム（２７と２８）は単一の多
重ホトダイオード（４４）上に入射される。
支持体は複屈折材料からなり、かつその場合にビーム分
割層は無しで済ますことができる。
【図面の簡単な説明】
第１．　２．　３．　４図は放射線源、検出器等の種々
の構成要素の４つの形態の例を線図的に示し、第５図は
反射ビームを２つの直交的に偏光されたビームに分割す
る走査装置の別の形態を線図的に示し、 第６図は本発明による第１の実際の実施例を示し、 第７図は本発明による装置の第２の実施例を示している
。 １０・・・磁気光学記録担体 １１・・・磁化可能層あるいは磁気層 ２０・・・放射線源ユニットあるいはレーザーダイオー
ド ２１・・・線形偏光放射線ビームあるいは入射ビームあ
るいは走査ビーム ２２・・・半透明ミラー ２３・・・対物系 ２４・・・走査スポット ２５・・・反射ビーム ２６・・・偏光感応ビーム分割層あるいはビーム分割器
２７、２８・・・サブビーム ３０・・・透明支持体あるいは平板 ３１、　３２・・・（表）面 ３３・・・透明支持体 ３４・・・矢印 ４Ｌ　４２・・・放射感応検出（器）系あるいはホトダ
イオード ４３・・・差動増幅器 ４４、４５・・・（多重）ホトダイオード１２０・・・
ハウジング １２２・・・着脱プリズム １２２′・・・入り面 １２２’・・・出面 １２３・・・コリメータレンズ １２６、　１２９・・・プリズム １２６’　、　　１２９’・・・出面 １２７、１２８・・・集束スポット １３３、１３５・・・平板 １３４・・・開口 １４１・・・支持体 １５１・・・円筒レンズ素子 １５２・・・共通支持体 １５３・・・整列素子 特許出願人　　エヌ・ベー・フィリップス・フルーイラ
ンペンファブリケン 代理人弁理士　杉　　村　　暁　　秀 同　　　弁理士　　　杉　　　　村　　　　興　　　　
作Ｄ３　　　　　　　　１３４ １う３く １２０１５１／ ４５　　　　　〜 ７Ωｔｉハ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、磁気光学記録担体の放射−反射情報面を光学的に走
    査する装置であって、上記の装置が、線形に偏光された
    走査ビームを供給する放射線源、 走査ビームを情報面の走査スポットに集束する対物系、 放射線源ユニットと、放射線源ユニットから発生する走
    査ビームと情報面から反射された放射ビームとを分離す
    る走査スポットとの間の放射径路に配設されたビーム分
    離素子、反射された放射ビームを２つのサブビームに分
    割する手段、および サブビームを電気信号に変換する放射感応検出系、 を具えるものにおいて、 ビーム分離素子が、 お互いにほぼ平行であり、かつその法線が入射放射ビー
    ムの主射線に対して鋭角で延在する第１および第２面を
    有する透明支持体、走査ビームと反射された放射ビーム
    を分離 するために第１面上に配設される半透明ミラー、 を具え、 上記のビーム分離素子が反射ビームを２つの直交的に偏
    光されたサブビームに分割するようさらに適応されてい
    ること、 を特徴とする装置。 ２、偏光方向に敏感な反射層が情報面で反射されたビー
    ムを２つの直交的に偏光されたサブビームに分割するた
    めに第１面上に備えられていることを特徴とする請求項
    １記載の装置。 ３、偏光方向に敏感な反射層が情報面で反射されたビー
    ムを２つの直交的に偏光されたサブビームに分割するた
    めに支持体の第２面上に備えられていることを特徴とす
    る請求項１記載の装置。 ４、放射感応検出性が２つの直交的に偏光されたサブビ
    ームを検出する２つのサブ系を具えること、および ２つのサブ系が支持体の同じ側に配設されていること、 を特徴とする請求項２あるいは３記載の装置。 ５、支持体が複屈折材料を具えることを特徴とする請求
    項１記載の装置。 ６、少なくとも１つのプリズムが透明支持体の表面に配
    設されていることを特徴とする請求項１から５のいずれ
    か１つに記載の装置。 ７、放射感応検出系が多重ホトダイオードを具える請求
    項４あるいは５記載の装置において、２つのサブビーム
    が多重ホトダイオードの異なる区域に入射されることを
    特徴とする装置。 ８、放射線源ユニットと放射感応検出系が一緒に固定的
    に接続されている請求項１から７のいずれか１つに記載
    の装置において、 放射線源ユニットと放射感応検出系が支持体に固定的に
    接続され、かつ 走査ビームを整列する光学素子が放射線源とビーム分離
    素子との間の放射径路に配設されていること、 を特徴とする装置。 ９、放射線源ユニットと放射感応検出系が固定的にお互
    いに接続されている請求項１から７のいずれか１つに記
    載の装置において、 放射線源ユニットと放射感応検出系が支持体に固定的に
    接続されており、かつ サブビームを整列する光学素子がビーム分離素子と放射
    感応検出系との間のサブビームの放射径路に配設されて
    いること、 を特徴とする装置。
JP1101821A 1988-04-26 1989-04-24 磁気光学記録担体を光学的に走査する装置 Pending JPH01317250A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5301182A (en) * 1991-04-17 1994-04-05 Matsushita Electric Industrial, Co., Ltd. Optical pickup head

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69015376T2 (de) * 1989-01-20 1995-05-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optische Kopfanordnung zur Verwendung in einem optischen Scheibensystem.
JPH02265028A (ja) * 1989-04-06 1990-10-29 Mitsubishi Electric Corp 光記録再生装置
JPH0487042A (ja) * 1990-07-31 1992-03-19 Sony Corp 光学ピックアップ装置
US5331622A (en) * 1991-05-28 1994-07-19 Applied Magnetics Corporation Compact optical head
US5646778A (en) * 1991-05-28 1997-07-08 Discovision Associates Optical beamsplitter
US5309422A (en) * 1991-06-10 1994-05-03 Alps Electric Co., Ltd. Light separation element and light receiving optical device using same
US5200946A (en) * 1991-10-02 1993-04-06 Honeywell Inc. Simple magneto-optic rewritable head for roughedized environments
JP3246608B2 (ja) * 1991-11-18 2002-01-15 パイオニア株式会社 光学式情報再生装置
US5350917A (en) * 1991-12-27 1994-09-27 Sony Corporation Opto-magnetic recording polarization optical apparatus including a laser diode and a light absorbing film
EP0558249B1 (en) * 1992-02-28 1998-08-26 Canon Kabushiki Kaisha Optical information recording/reproducing apparatus
EP0559452A3 (en) * 1992-03-03 1993-12-08 Omron Tateisi Electronics Co Optical read/write head and optical device for use therewith
US5444677A (en) * 1992-03-03 1995-08-22 Omron Corporation Optical read/write head low angle beamsplitter and coplanar detectors
JPH05307844A (ja) * 1992-05-01 1993-11-19 Ricoh Co Ltd 速度検出装置および速度制御装置
JPH05307848A (ja) * 1992-05-01 1993-11-19 Ricoh Co Ltd 閉ループ制御システムおよび光ディスク装置のサーボ装置
NL9300774A (nl) * 1992-05-13 1993-12-01 Gold Star Co Optische opneeminrichting.
US5400306A (en) * 1993-06-02 1995-03-21 Hewlett-Packard Company Differential detection assembly for data retrieval from a data storage disk
US5640380A (en) * 1994-08-04 1997-06-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical head with a translucent plate to split a light beam
JP2806293B2 (ja) * 1994-10-06 1998-09-30 松下電器産業株式会社 光ピックアップ及びその製造方法
JPH08212612A (ja) * 1994-11-17 1996-08-20 Canon Inc 光学的情報記録再生装置及び該装置用光ヘッド
JP3029541B2 (ja) * 1994-12-19 2000-04-04 シャープ株式会社 光ピックアップ装置
JP3374573B2 (ja) * 1995-02-20 2003-02-04 松下電器産業株式会社 光ピックアップ及び光ガイド部材
US5796701A (en) * 1995-06-23 1998-08-18 Sony Corporation Optical pickup and opto-magnetic signal reproducing apparatus
JPH1166593A (ja) * 1997-08-19 1999-03-09 Kenwood Corp 記録媒体用光スポット生成装置
US5986995A (en) * 1998-07-06 1999-11-16 Read-Rite Corporation High NA catadioptric focusing device having flat diffractive surfaces
JP3781982B2 (ja) * 2000-12-06 2006-06-07 三菱電機株式会社 半導体レーザ装置
AU2002353277A1 (en) * 2001-12-06 2003-06-17 Koninklijke Philips Electronics N.V. Optical scanning device
DE20205081U1 (de) * 2002-03-30 2002-06-06 Leica Microsystems Mikroskop mit einer Vorrichtung zur Ermittlung der Lichtleistung eines Beleuchtungslichtstrahls
KR20230088372A (ko) 2020-09-21 2023-06-19 에이엠오 디벨롭먼트, 엘엘씨 안과용 레이저 시스템의 레이저 빔 전달 경로 내의 다목적 빔 샘플러
DE102022114792B3 (de) * 2022-06-13 2023-11-02 Sick Ag Lichtsenderanordnung und optoelektronische sensoranordnung

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL7907216A (nl) * 1979-09-28 1981-03-31 Philips Nv Optisch fokusfout-detektiestelsel.
US4544269A (en) * 1980-07-25 1985-10-01 Canon Kabushiki Kaisha Device for measuring light incident on an optical system
JPS59186149A (ja) * 1983-04-07 1984-10-22 Mitsubishi Electric Corp 光デイスクピツクアツプ装置
CA1258906A (en) * 1985-04-22 1989-08-29 Hiroshi Oinoue Semiconductor laser apparatus for optical head
JPS621131A (ja) * 1985-06-26 1987-01-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学ヘツド
JPS621141A (ja) * 1985-06-27 1987-01-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学ヘツド
JPS629537A (ja) * 1985-07-08 1987-01-17 Pioneer Electronic Corp 光学式ピツクアツプ装置
JPS62117150A (ja) * 1985-11-15 1987-05-28 Alps Electric Co Ltd 光学式ピツクアツプ
EP0226647B1 (en) * 1985-12-17 1991-05-29 Ibm Deutschland Gmbh Read/write head for optical disks
DE3776945D1 (de) * 1986-04-18 1992-04-09 Mitsubishi Electric Corp Optischer kopf.
NL8601974A (nl) * 1986-08-01 1988-03-01 Philips Nv Inrichting voor het met optische straling aftasten van een stralingsreflekterend informatievlak.
JPH0738260B2 (ja) * 1987-04-01 1995-04-26 日本電気株式会社 光磁気用光ヘツド装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5301182A (en) * 1991-04-17 1994-04-05 Matsushita Electric Industrial, Co., Ltd. Optical pickup head

Also Published As

Publication number Publication date
EP0339722A1 (en) 1989-11-02
DE68909663D1 (de) 1993-11-11
EP0339722B1 (en) 1993-10-06
US5095476A (en) 1992-03-10
DE68909663T2 (de) 1994-04-07
KR890016526A (ko) 1989-11-29

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