JPH076442A - 光磁気検出用光学ヘッド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 簡単な構成によって小型に構成されると共
に、高精度の反射光ビームの検出が行なわれ得るように
した、光磁気検出用光学ヘッドを提供すること。 【構成】 光ビームを射出する光源２１と、この光源か
らの光ビームを光ディスクの表面に照射し且つこの表面
で反射された戻り光ビームを受光する対物レンズ２４
と、この反射光ビームを分離光学系２３を介して受光す
るフォトディテクタ２８と、を含んでいる、光磁気検出
用光学ヘッド２０おいて、上記分離光学系により分離さ
れた光路中に、エンハンス素子２６が備えられている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光学ヘッドに係り、特に
光磁気記録媒体等の光記録媒体に記録及び／又は再生を
行うための光学ヘッドに関する。

【０００２】

【従来の技術】記録可能な光磁気ディスクに記録されて
いる情報信号を読み取る光学ヘッドは例えば図６のよう
に構成されている。図６において、光学ヘッド１は以下
のような光学素子から構成されている。２は光源として
の半導体レーザ素子である。半導体レーザ素子１より出
射された光ビームは対物レンズ３に導かれる。対物レン
ズ３は半導体レーザ素子より出射された光ビームを光磁
気ディスクＭＯの信号記録面上で焦点を結ばせる。４は
コリメータレンズで半導体レーザ素子１より出射された
発散光としての光ビームを平行な光ビームに変換する。

【０００３】５はビームスプリッタで、半導体レーザ素
子１より出射された光ビームと光磁気ディスクＭＯの信
号記録面によって反射された戻り光ビームを分離するも
のである。このビームスプリッタ５は光学プリズム（以
下、単にプリズム）５１と端面が互いに平行になってい
る光学素子５２を貼り合わせることによって形成されて
いる。プリズム５１と光学素子５２との境界面となる光
学素子５２の端面５ａとプリズム５１との間には、光ビ
ームのＰ偏光成分を透過、Ｓ偏光成分を反射するような
多層の誘電体層が設けられている。光学素子５２の他方
の端面５ｂには、光磁気ディスクＭＯの記録面からの戻
り光ビームを反射する全反射膜が設けられている。誘電
体層や全反射膜は蒸着等によって形成されている。

【０００４】６はウォラストンプリズムで上述した信号
記録面からの戻り光ビームに基づく複数のビームを出射
するものである。このウォラストンプリズム６として
は、例えば米国特許４７７１４１４に開示されているも
のを用いることが出来る。７は結像レンズでウォラスト
ンプリズム６から出射された複数のビームをフォトディ
テクタ９上に集光させるものである。

【０００５】８はマルチレンズで結像レンズ７によって
集光された光ビームにフォーカスエラー検出のための非
点収差を発生させるとともに、レンズの一方の面、出射
面側を凹レンズ形状としておくことによってビームスプ
リッタ５の出射端面からフォトディテクタまでの戻り光
路長を短縮することができる。フォトディテクタ９はデ
ィスクの信号記録面に記録された情報信号を読み取った
信号，並びにフォーカスエラー信号及びトラッキングエ
ラー信号の各エラー信号を生成するための複数の受光部
を有する。フォトディテクタ９からの検出信号に基づい
て光磁気ディスクＭＯの信号記録面に記録された情報信
号を読み取った信号が生成される。

【０００６】このように構成された光学ヘッド１によれ
ば、半導体レーザ素子１から出射されたＰ偏光の光ビー
ムはコリメータレンズ４によって発散した光ビームから
平行な光ビームに変換される。コリメータレンズ４から
出射された光ビームはビームスプリッタ５を介して対物
レンズ３によって光磁気ディスクＭＯの信号記録面上の
ある一点に集光される。

【０００７】光磁気ディスクＭＯの信号記録面によって
反射されたＳ偏光成分を含む光ビーム，即ち、戻り光ビ
ームは、再び対物レンズ３を介してビームスプリッタ５
に導かれる。この戻り光ビームは、ビームスプリッタ５
の境界面によって反射されるとともに９０度偏光され、
更に、光学素子５２の端面５ｂによって全反射されると
ともに再び９０度偏光される。ビームスプリッタ５から
出射された光ビームに基づいて、ウォラストンプリズム
６は複数の光ビームを出射し、これらの光ビームは集光
レンズ７、マルチレンズ８を介してフォトディテクタ９
の各受光面上に集光される。

【０００８】マルチレンズ８を透過した後の光ビームは
非点収差を含んだものとなっている。フォトディテクタ
９の各受光面からの検出信号に基づいて、光磁気ディス
クＭＯの読み取り信号及びフォーカスエラー信号、トラ
ッキングエラー信号等の信号が生成される。尚、光磁気
ディスクＭＯの読み取りは、光磁気ディスクＭＯの信号
記録面によってカー効果に基づいて光ビーム偏光面が回
転せられることを利用して行われる。

【０００９】また、所謂Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｋや光
学式Ｖｉｄｅｏ Ｄｉｓｃなどの再生専用の光ディスク
Ｄに記録されている情報信号を読み取る光学ヘッド１０
は例えば図７に示すように構成されている。１１は光源
としての半導体レーザ素子である。半導体レーザ素子１
から出射された光ビームは回折格子１５によってＯ次回
折光及びプラスマイナス１次回折光の少なくとも３本の
光ビームに分離される。回折格子１５によって発生され
たＯ次回折光及びプラスマイナス１次回折光は平行平板
状のビームスプリッタ１２によって９０度偏光されると
ともに反射されて対物レンズ１３に導かれる。ビームス
プリッタ１２は無偏光のビームスプリッタが用いられる
とともに、対物レンズ１３の光軸に対して通常４５度傾
いた状態で配されている。

【００１０】対物レンズ１３は回転駆動されている光デ
ィスクＤの信号記録面上の一点に集光される。正しく
は、信号記録面上のトラック上にＯ次回折光が、このＯ
次回折光を挟んでその前後の離間した位置に夫々＋１次
回折光及び−１次回折光が照射される。光ディスクＤの
信号記録面によって反射された光ビーム，即ち、戻り光
ビームは再び対物レンズ１３を介してビームスプリッタ
１２に導かれる。

【００１１】ビームスプリッタ１２を透過する際にフォ
ーカス検出用の非点収差が戻り光ビームに発生する。ビ
ームスプリッタ１２から出力された戻り光ビームは凹レ
ンズ１４を介してフォトディテクタ１６の受光面上に集
光される。凹レンズ１４によって倍率をかせぐことによ
ってビームスプリッタ１２の出射端面からフォトディテ
クタ１６至る戻り光路長を短くすることができるととも
に、凹レンズ１４を対物レンズ１３の光軸方向に移動調
整することによって、戻り光ビームを合焦状態でフォト
ディテクタ１６の受光面上に集光させることができる。
フォトディテクタ１６の受光面は、ディスクの信号記録
面に記録された情報信号を読み取った信号，フォーカス
エラー信号及びトラッキングエラー信号を得るために複
数の受光部より構成されている。

【００１２】このように構成された光学ヘッド１０にお
いて、半導体レーザ素子１１より出射された光ビームは
発散光のままで回折格子１５を介してビームスプリッタ
１２に導かれる。ビームスプリッタ１２によって９０度
偏光させられて反射された光ビームは対物レンズ１３に
よって光ディスクＤの信号記録面上に合焦するように照
射される。光ディスクＤの信号記録面からの戻り光ビー
ムは再び対物レンズ１３を介してビームスプリッタ１２
に導かれる。ビームスプリッタ１２を透過した光ビーム
は凹レンズ１４を介してフォトディテクタ１６の受光面
上に集光される。フォトディテクタ１６のＯ次回折光を
受光した複数の受光部の出力信号に基づいてフォーカス
エラー信号及び光ディスクＤに記録された情報信号を読
み取った信号が生成されるとともに、プラスマイナス１
次回折光を受光した複数の受光部からの出力信号に基づ
いてトラッキングエラー信号が生成される。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、図６及び図
７に示した光学ヘッドは以下のような問題を有する。図
６に示した光学ヘッド１において、ビームスプリッタ５
の境界面を構成する誘電体層に偏光特性を持たせること
によって、光磁気ディスクＭＯの信号記録面からの戻り
光ビーム中の偏光面の回転角のエンハンスを行ってい
る。すなわち、ビームスプリッタ５の境界面に設けられ
ている誘電体層はＰ偏光成分の透過率ＴＰ＝６５％、Ｐ
偏光成分の反射率ＲＰ＝３０％、Ｓ偏光成分の反射率≧
９５％となっている。これによって所定のエンハンス率
が得られるようになっている。

【００１４】ところが、上述したビームスプリッタ５の
境界面に設けられている偏光特性を有する誘電体層は角
度依存性が非常に大きいことから、図６に示すように平
行な光ビーム、すなわち、平行光束中に配されて使用さ
れる。このためすくなくともビームスプリッタ５を通る
光ビームは平行光束に光ビームを変換しなければならな
い。したがって、半導体レーザ素子を光源とした場合に
は半導体レーザ素子から出射された発散光を平行光束に
変換するための光学素子、図６中のコリメータレンズを
設ける必要がある。又、ビームスプリッタから出射され
た光ビームを集束させるためのレンズ等の光学系が必要
となる。従って、光学ヘッドを構成する光学部品の点数
が多くなり、光学ヘッドが大型になってしまう。

【００１５】図７に示す光学ヘッド１０は、構造は簡単
であるが無偏光ビームスプリッタを使用していることか
ら、戻り光の偏光面の回転角のエンハンスがない。従っ
て、光磁気ディスクに記録された情報信号の読み取り動
作をＣＮ比（Ｃａｒｒｉｅｒｔｏ Ｎｏｉｓｅ Ｒａｔ
ｉｏ）が小さく、高精度で行えなくなる。

【００１６】本発明は、以上の点に鑑み、簡単な構成に
よって小型に構成されると共に、高精度の反射光ビーム
の検出がおこなえるようにした、光磁気検出光学ヘッド
を提供することを目的とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、光ビームを出射する光源と、前記光源から出射さ
れた光ビームを光磁気記録媒体の記録面上に合焦するよ
うに照射する対物レンズと、前記光源から出射された光
ビームと前記対物レンズを介した光磁気記録媒体の記録
面からの戻り光ビームを分離する分離光学系と、前記分
離光学系によって分離された前記記録面からの戻り光ビ
ームを受光するフォトディテクタとを含んでいる光磁気
検出用光学ヘッドにおいて、前記分離光学系はエンハン
ス素子を有する光磁気検出光学ヘッドにより達成され
る。

【００１８】好ましくは、前記エンハンス素子は、前記
分離光学系の前記記録面からの戻り光ビームの前記フォ
トディテクタに到る光路中に配されている。

【００１９】好ましくは、前記分離光学系は、前記光源
から出射された光ビームと前記対物レンズを介した光磁
気記録媒体の記録面からの戻り光ビームを分離するビー
ムスプリッタを備えると共に、前記エンハンス素子は、
前記ビームスプリッタの境界面に設けられている。

【００２０】また、好ましくは、前記分離光学系は、前
記光源から出射された光ビームと前記対物レンズを介し
た光磁気記録媒体の記録面からの戻り光ビームを分離す
るビームスプリッタを備え、前記エンハンス素子は、前
記ビームスプリッタと前記フォトディテクタとの間の光
路中に配されている。

【００２１】好ましくは、前記エンハンス素子は、前記
対物レンズの光軸に対して所定の角度で傾斜して配され
る平行な板状の光学素子と、前記平行な板状の光学素子
の前記記録面からの戻り光ビームの入射面側に設けられ
たエンハンス層とから構成されている。

【００２２】また、好ましくは、前記エンハンス素子
は、前記対物レンズの光軸に対して所定の角度で傾斜し
て配される一対の平行な板状の光学素子と、前記一対の
平行な板状の光学素子の一方の光学素子の前記記録面か
らの戻り光ビームの出射面と他方の光学素子の上記記録
面からの戻り光ビームの入射面との間に設けられたエン
ハンス層とから構成されている。

【００２３】

【作用】上記構成によれば、分離光学系によって分離さ
れた反射光ビームが、エンハンス素子を通過する際に、
Ｐ偏光に関しては、殆ど透過させ、またＳ偏光に関して
は、一部のみ透過させる。したがって、カー回転角がみ
かけ上、大きくなる。これにより、Ｃ／Ｎ比が向上され
る。

【００２４】

【実施例】以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基
づいて詳細に説明する。尚、以下に述べる実施例は、本
発明の好適な具体例であるから、技術的に好ましい種々
の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明
において特に本発明を限定する旨の記載がない限り、こ
れらの態様に限られるものではない。

【００２５】また、、以下の実施例は、本発明に係る光
学ヘッドを光磁気ディスクのような光磁気記録媒体に適
用した場合について説明する。

【００２６】図１に本発明に係る光学ヘッドの第１の実
施例が示されている。図１に示す光学ヘッド２０は、以
下の構成要素から構成されている。２１は、光源として
の半導体レーザ素子である。半導体レーザ素子２１から
出射された光ビームは発散光のまま、回析格子２２を介
してビームスプリッタ２３に照射される。回析格子２２
は半導体レーザ素子２１から出射された光ビームから０
次回折光、及びプラスマイナス１次回折光の少なくとも
３本の回析ビームを発生させる。図面上では簡略化のた
めに１本の光ビームであらわしている。

【００２７】回析格子２２を介した回折ビームは、光ビ
ームスプリッタ２３によって９０度偏向されるとともに
反射される。このビームスプリッタ２３は無偏光のビー
ムスプリッタで、ガラス等の材料によって形成された平
行平板と、半導体レーザ素子２１からの光ビームの入射
面及び光磁気ディスクＭＯからの戻り光ビームの入射面
となる面２３ａに形成された偏光特性を有さない多層膜
とから構成されている。

【００２８】この実施例では、ビームスプリッタ２３は
対物レンズを通る光軸に対して４５度傾いた状態で配さ
れている。ビームスプリッタ２２によって反射、偏光さ
れた光ビームは対物レンズ２４によって光磁気ディスク
ＭＯの信号記録面上のある一点に集光される。正しくは
信号記録面上のトラック上にＯ次回折光が、このＯ次回
折光を挟んで前後に夫々＋１次回折光及び−１次回折光
が照射される。光磁気ディスクＭＯの信号記録面からの
反射光，即ち、戻り光ビームはカー効果に基づいてその
偏光面が回転せられている。

【００２９】戻り光ビームは再び対物レンズ２４を介し
てビームスプリッタ２３に入射する。戻り光ビームはビ
ームスプリッタ２３を通過する際に、ビームスプリッタ
２３によってフォーカスエラー検出のための非点収差が
発生させられる。２５は中間レンズとしての凹レンズで
あり、主としてビームスプリッタ２３の出射端面から後
述するフォトディテクタまでの戻り光路長を短縮する機
能を果たす。又、凹レンズ２５を対物レンズの光軸方向
に位置を微調整することによって戻り光ビームが合焦状
態、フォーカスエラー信号がゼロの状態でフォトディテ
クタの受光面上で合焦させることができる。

【００３０】２６はエンハンス素子である。エンハンス
素子２６は偏光特性かつＳ偏光成分の透過率ＴＳが約３
０％、Ｐ偏光成分の透過率ＴＰがほぼ１００％となるよ
うに多層の誘電体層が設けられている。この多層の誘電
体層はエンハンス素子２６を構成する一対の光学プリズ
ムの境界面となる位置に、いずれか一方のプリズムに蒸
着やスパッタリングによって設けられている。その後、
一対のプリズムが貼り合されることによってキュービッ
ク状のエンハンス素子２６が形成されている。このよう
に形成されたエンハンス素子２６を透過した光ビームの
カー回転角θ２は図２に示すようになり、次式で表すこ
とができる。 θ２＝（ＴＰ／ＴＳ）１／２・θ１ ここでθ１は入射光のカー回転角をあらわしている。

【００３１】２７はウォラストンプリズムである。エン
ハンス素子２６を通過した光ビームに基づいてこのウォ
ラストンプリズム２７は、更に複数の光ビームを出射す
る。

【００３２】２８はウォラストンプリズムから出射され
た複数の光ビームのうち、フォーカスエラー信号、トラ
ッキングエラー信号等のエラー信号生成もしくは光磁気
ディスクＭＯの読み取り信号を生成するために必要な光
ビームを少なくとも受光する複数の受光部を有するフォ
トディテクタである。このように構成された光学ヘッド
２０において、半導体レーザ素子２１より出射された光
ビームは回折格子２２を介してビームスプリッタ２３に
導かれる。

【００３３】ビームスプリッタ２３によって９０度偏光
されて反射された光ビームは対物レンズ２４を介して光
磁気ディスクＭＯの信号記録面上のある一点に集束され
る。光磁気ディスクＭＯの信号記録面によって反射され
た光ビーム、戻り光ビームは、偏光面の回転角がカー効
果に基づいて回転せられた状態で再び対物レンズ２４を
介してビームスプリッタ２３に導かれる。ビームスプリ
ッタ２３に照射された戻り光ビームは、ビームスプリッ
タ２３を透過して凹レンズ２５、エンハンス素子２６及
びウォラストンプリズム２７を介してフォトディテクタ
２８によって受光される。

【００３４】フォトディテクタ２８の複数の受光面中、
Ｏ次回折光を受光した受光面からの出力信号を用いてフ
ォーカスエラー信号を生成するとともにプラスマイナス
１次回折光を受光した各受光面の出力信号に基づいてト
ラッキングエラー信号が生成される。光磁気ディスクＭ
Ｏに記録された情報信号を読み取った信号は、Ｏ次回折
光に基づいて、ウォラストンプリズム２７によって発生
された３本の光ビームのうちの２本の光ビームを用いて
生成される。

【００３５】戻り光ビームがエントランス素子２６を通
過する際に見かけ上戻り光ビームのカー回転角が大きく
なる。よって、ウォラストンプリズム２７を透過する際
に、ウォラストンプリズム２７の複屈折効果に基づいて
０次回折光、プラスマイナス１次回折光の各々の光ビー
ムに基づいて各光ビームについてＰ偏光、Ｓ偏光及び
（Ｐ＋Ｓ）偏光の光ビームが出射される。このときの分
離角度がカー回転角に基づいて比較的大きな角度にな
る。都合、ウォラストンプリズム２７を通過した戻り光
ビームは９本になるが、そのうちの少なくとも５本（３
本の０次回折光と２本の１次回折光）を用いて、フォー
カスエラー信号、トラッキングエラー信号、光磁気ディ
スクＭＯの読み取り信号が高精度で検出生成される。

【００３６】エンハンス素子２６としては図３（Ａ）に
示すようなキュービック状のエンハンス素子２６Ａ以外
に図３（Ｂ）と５（Ｃ）に示すようなものを用いること
が出来る。図３（Ｂ）に示すエンハンス素子２６Ｂは、
ガラス等からなる平行平板上の一方の面、即ち戻り光ビ
ームの入射面であり、光源から出射される光ビームの入
射面に多層の誘電体層がＰ偏光成分の反射率ＴＰがＴＰ
＞９０％、Ｓ偏光成分の透過率ＴＳが３０％、Ｓ偏光成
分の反射率が６５％となるように蒸着もしくはスパッタ
リング等の手法により設けられている。

【００３７】図３（Ｃ）に示すエンハンス素子２６Ｃは
図３（Ａ）に示すエンハンス素子２６Ａが一対のプリズ
ムを貼り合わせたものであるのに対して、一対の平行平
板を貼り合わせることに構成されている。この一対の平
行平板の間には図３（Ａ）と同様に、多層の誘電体層が
Ｐ偏光成分の透過率ＴＰがＴＰ＞９５％で、Ｓ偏光成分
の透過率ＴＳが３０％、Ｓ偏光成分の反射率ＲＳが６５
％となるように蒸着もしくはスパッタリング等の手法に
よって設けられている。

【００３８】尚、キュービック状のエンハンス素子２６
Ａは通常の偏光ビームスプリッタの場合と違って、Ｐ偏
光成分及びＳ偏光成分間の位相差管理が不要となる。エ
ンハンス素子２６Ｃの場合、エンハンス素子２６Ａと同
様に透過光の十分な角度依存性が得られる、カー回転角
を大きくすることができるとともに、キュービック状の
エンハンス素子２６Ａに比べて製造コストを下げること
ができる。エンハンス素子２６Ｂの場合は透過光の角度
依存性は比較的低いものの、十分なＣＮ比がとれ、構成
が簡単なので製造コストはエンハンス素子２６Ｃよりも
下げることができる。

【００３９】次に、本発明の第２の実施例に係る光学ヘ
ッドを図４を用いて説明する。図４中、３１は光源とし
ての半導体レーザ素子で、この半導体レーザ素子から出
射された光ビームは対物レンズ３２によって光磁気ディ
スクＭＯの信号記録面上の一点に集光される。この対物
レンズ３２はアクチュエータ３２ａによってフォーカス
エラー信号及びトラッキングエラー信号に基づいてフォ
ーカス方向及びトラッキング方向に駆動される。これは
図示されていないものの第１の実施例及び以下に述べる
実施例も同様である。

【００４０】３３はコリメータレンズであり、半導体レ
ーザ素子３１より出射された発散光としての光ビームを
平行な光ビーム平行光束に変換するものである。３４は
回折格子で、コリメータレンズ３３を介した光ビームに
基づいて０次回折光及びプラスマイナス１次回折光の少
なくとも３本の光ビームを発生する。光ディスクの信号
記録面上では第１の実施例と同様にプラスマイナス１次
回折光が０次回折光を挟んで前後に位置する。図面上で
は簡略化の為に１本の光ビームで表している。

【００４１】３５はビームスプリッタで、半導体レーザ
素子３１から出射された光ビームと光磁気ディスクＭＯ
の信号記録面からの戻り光ビームとを分離する。この第
２の実施例では、ビームスプリッタ３５がエンハンス素
子として機能する。即ち、ビームスプリッタ３５は一対
の光学プリズムと、これら一対のプリズムとの間に蒸着
やスッパタリングによって設けられている多層の誘電体
層とによって構成されている。この多層の誘電体層は、
Ｐ偏光成分の透過率ＴＰが４５％、Ｐ偏光成分の反射率
ＲＰが４５％、Ｓ偏光成分の透過率ＴＳが数％、及びＳ
偏光成分の反射率ＲＳが９０％となるように設けられて
いる。

【００４２】３６はウォラストンプリズムで、戻り光ビ
ームに基づいて複数のビームを出射する。３７は結像レ
ンズで、ウォラストンプリズム３６からの戻り光ビーム
を後述するフォトディテクタの受光面上で合焦状態、即
ち、フォーカスエラー信号がゼロの状態で焦点を結ぶよ
うにするものである。３８はマルチレンズで、結像レン
ズ３７からの戻り光ビームにフォーカスエラー検出のた
めの非点収差を発生させるとともに、戻り光ビームの光
路長を短縮するためのものである。

【００４３】３９はフォトディテクタで、ウォラストン
プリズム３６によって複数の光ビームに分割された戻り
光ビームを受光するために、受光面は複数の受光部より
構成されている。第１実施例と同様にして、各受光部か
らの出力信号に基づいてフォーカスエラー信号、トラッ
キングエラー信号の各エラー信号及び光磁気ディスクＭ
Ｏに記録された情報信号を読み取った信号が生成され
る。

【００４４】このように構成された光学ヘッド３０にお
いて、半導体レーザ素子３１から出射されたＰ偏光の光
ビームはコリメータレンズ３３によって平行光束に変換
される。コリメータレンズ３３によって平行光束に変換
された光ビームは回折格子３４、ビームスプリッタ３５
を介して対物レンズ３２によって再び集束されて、光磁
気ディスクＭＯの信号記録画面上に集光される。

【００４５】この信号記録面によって反射された光ビー
ム、戻り光ビームは信号記録面の磁区の方向に従って偏
光面が回転せられている。その結果、戻り光ビームはＳ
偏光成分を含んだものとなる。この戻り光ビームは再び
対物レンズ３２を介してビームスプリッタ３５に導かれ
る。ビームスプリッタ３５に入射した戻り光ビームは９
０度偏光させられると同時にビームスプリッタ３５の多
層の誘電体層によってエンハンスされる。エンハンスさ
れた戻り光ビームは、ウォラストンプリズム３６、結像
レンズ３７、マルチレンズ３８を介してフォトディテク
タ３９によって受光される。フォトディテクタ３９から
の出力信号に基づいて前述した各信号が生成される。こ
の第２の実施例の場合、光磁気ディスクＭＯに入射する
光ビームは、ほぼＰ偏光光成分のみとなり、またエンハ
ンス率は１．４以上になる。その結果第２の実施例では
十分なＣＮ比を得ることができる。

【００４６】図５に本発明に係る第３の実施例の光学ヘ
ッドを示す。光学ヘッド４０は以下のように構成されて
いる。４１は光源としての半導体レーザ素子である。半
導体レーザ素子４１から出力された光ビームは対物レン
ズ４２によって光磁気ディスクＭＯの信号記録面のある
１点に集束される。対物レンズ４２はアクチュエータ４
２ａによってフォーカス方向及びトラッキング方向に駆
動される。アクチュエータ４２ａにはフォーカスエラー
信号及びトラッキングエラー信号に基づく、フォーカス
サーボ信号及びトラッキングサーボ信号が供給される。

【００４７】４３は回折格子で、半導体レーザ素子４１
から出射された発散光としての光ビームに基づいて、０
次回折光及びプラスマイナス１次回折光の少なくとも３
本の回折光を発生そる。光磁気ディスクＭＯの信号記録
面上では０次回折光を挟んでその前後にプラスマイナス
１次回折光が各々照射される。図５上では簡略化のため
に１本の光ビームで描いている。

【００４８】回折格子４３からの光ビームは発散光のま
ま、ビームスプリッタ４４に入射する。この第３の実施
例でも、ビームスプリッタ４４がエンハンス素子として
機能する。ビームスプリッタ４４は一対の光学プリズム
とこれら一対の光学プリズムとの間に蒸着やスパッタリ
ングによって設けられた多層誘電体層とによって構成さ
れている。この多層の誘電体層は、Ｐ偏光成分の透過率
ＴＰが４５％でＰ偏光成分の反射率ＲＰが４５％、Ｓ偏
光成分の透過率ＴＳが数％及びＳ偏光成分の反射率ＲＳ
が９０％となるように設けられている。

【００４９】４５はコリメータレンズで、発散光のまま
ビームスプリッタ４４を透過した半導体レーザ素子４１
からの光ビームを平行な光ビーム、平行光束に変換す
る。４６はマルチレンズで、ビームスプリッタ４４から
によって分離された信号記録面からの戻り光ビームにフ
ォーカスエラー検出のための非点収差を発生させるとと
もに、ビームスプリッタ４４の出射端面から後述するフ
ォトディテクタまでの戻り光ビームの光路長の短縮化を
図るものである。

【００５０】４７はウォラストンプリズムで戻り光ビー
ムを第１の実施例と同様に複数の光ビームを分割生成す
る。４８はフォトディテクタで、ウォラストンプリズム
４７が出射された複数の光ビームを受光する複数の受光
面を有する。フォトディテクタ４８からの出力信号に基
づいて、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信
号及び光磁気ディスクＭＯの信号記録面に記録された情
報信号を読み取った信号が生成される。

【００５１】このように構成された光学ヘッド４０にお
いて、半導体レーザ素子４１より出射されたＰ偏光の光
ビームは発散光のまま回析格子４３、ビームスプリッタ
４４を介をしてコリメータレンズ４５によって平行光束
に変換される。コリメータレンズ４５によって平行な光
ビームに変換された光ビームは対物レンズ４２によって
光磁気ディスクＭＯの信号記録面上のある一点に集光さ
れる。この光ビームは信号記録面の磁区の方向によって
カー効果にってその偏光面が回転されてＳ偏光成分を含
んだ光ビームとなる。光磁気ディスクＭＯの信号記録面
によって反射された光ビーム、戻り光ビームは再び対物
レンズ４２、コリメータレンズ４５を介してビームスプ
リッタ４４に入射される。ビームスプリッタ４４におい
て９０度偏向するとともにエンハンスされる。ビームス
プリッタ４４によってエンハンスされた戻り光ビームを
マルチレンズ４６、ウォラストンプリズム４７を介して
フォトディテクタ４８によって受光される。

【００５２】第３の実施例は第２の実施例と同様に、光
磁気ディスクＭＯの信号記録面から照射される光ビーム
はほぼＰ偏光成分のみとなり、エンハンス率は、１．４
以上になる。その結果、第３の実施例では十分なＣＮ比
を得ることができるとともに、ウォラストンプリズム４
７が収束光路中に配設されているために全体に小型に構
成することができる。第２及び第３の実施例のように、
エンハンス素子の機能を分離光学系を構成するビームス
プリッタに持たせている場合には、エンハンス素子とビ
ームスプリッタとを別々に設ける必要がないので部品点
数が少なくなり、構成も簡単になる。

【００５３】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、簡
単な構成によって小型に構成されると共に、高精度の反
射光ビームの検出が行なわれ得るようにした、光磁気検
出用光学ヘッドを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光学ヘッドの第一の実施例の構成
を示す概略図である。

【図２】図１のエンハンス素子の入射光及び出射光のカ
ー回転角を示す図である。

【図３】図１の光学ヘッドで使用されるエンハンス素子
の（Ａ）拡大図，（Ｂ）他の構成例を示す拡大図及び
（Ｃ）さらに他の構成例を示す拡大図である。

【図４】本発明による光学ヘッドの第二の実施例を示す
概略図である。

【図５】本発明による光学ヘッドの第三の実施例を示す
概略図である。

【図６】従来の光学ヘッドの一例の構成を示す概略図で
ある。

【図７】従来の光学ヘッドの他の例の構成を示す概略図
である。

【符号の説明】

２０ 光学ヘッド ２１ レーザー光源 ２２ 回折格子 ２３ ビームスプリッタ ２４ 対物レンズ ２５ 中間レンズ ２６ エンハンス素子 ２７ ウォラストンプリズム ２８ フォトディテクタ ３０ 光学ヘッド ３１ レーザー光源 ３２ 対物レンズ ３３ コリメータレンズ ３４ 回折格子 ３５ ビームスプリッタ ３６ ウォラストンプリズム ３７ 結像レンズ ３８ マルチレンズ ３９ フォトディテクタ ４０ 光学ヘッド ４１ レーザー光源 ４２ 対物レンズ ４３ 回折格子 ４４ ビームスプリッタ ４５ コリメータレンズ ４６ マルチレンズ ４７ ウォラストンプリズム ４８ フォトディテクタ

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ビームを出射する光源と、 前記光源から出射された光ビームを光磁気記録媒体の記
   録面上に合焦するように照射する対物レンズと、 前記光源から出射された光ビームと前記対物レンズを介
   した光磁気記録媒体の記録面からの戻り光ビームを分離
   する分離光学系と、 前記分離光学系によって分離された前記記録面からの戻
   り光ビームを受光するフォトディテクタとを含んでいる
   光磁気検出用光学ヘッドにおいて、 前記分離光学系はエンハンス素子を有することを特徴と
   する光磁気検出光学ヘッド。
2. 【請求項２】 前記エンハンス素子は、前記分離光学系
   の前記記録面からの戻り光ビームの前記フォトディテク
   タに到る光路中に配されていることを特徴とする請求項
   １に記載の光磁気検出用光学ヘッド。
3. 【請求項３】 前記分離光学系は、前記光源から出射さ
   れた光ビームと前記対物レンズを介した光磁気記録媒体
   の記録面からの戻り光ビームを分離するビームスプリッ
   タを備えると共に、前記エンハンス素子は、前記ビーム
   スプリッタの境界面に設けられていることを特徴とする
   請求項１に記載の光磁気検出用光学ヘッド。
4. 【請求項４】 前記分離光学系は、前記光源から出射さ
   れた光ビームと前記対物レンズを介した光磁気記録媒体
   の記録面からの戻り光ビームを分離するビームスプリッ
   タを備え、 前記エンハンス素子は、前記ビームスプリッタと前記フ
   ォトディテクタとの間の光路中に配されていることを特
   徴とする請求項１に記載の光磁気検出用光学ヘッド。
5. 【請求項５】 前記エンハンス素子は、前記対物レンズ
   の光軸に対して所定の角度で傾斜して配される平行な板
   状の光学素子と、前記平行な板状の光学素子の前記記録
   面からの戻り光ビームの入射面側に設けられたエンハン
   ス層とから構成されていることを特徴とする請求項１に
   記載の光磁気検出用光学ヘッド。
6. 【請求項６】 前記エンハンス素子は、前記対物レンズ
   の光軸に対して所定の角度で傾斜して配される一対の平
   行な板状の光学素子と、前記一対の平行な板状の光学素
   子の一方の光学素子の前記記録面からの戻り光ビームの
   出射面と他方の光学素子の上記記録面からの戻り光ビー
   ムの入射面との間に設けられたエンハンス層とから構成
   されていることを特徴とする光磁気検出用光学ヘッド。