JP2904419B2 - 光磁気ピックアップ - Google Patents
光磁気ピックアップInfo
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- light
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光学系にホログラム（本発明でいう「ホロ
グラム」とは光束を収束させたり発散させたりするレン
ズ作用としての機能の他に例えば１つの光束を複数の光
束に分割するビームスプリッタ的な機能や光束を所望の
方向に差し向ける偏向機能といった光学的機能が少なく
とも一つ更に付加された複合光学的機能保有素子をい
う）を用いた光磁気ピックアップの改良に関する。
グラム」とは光束を収束させたり発散させたりするレン
ズ作用としての機能の他に例えば１つの光束を複数の光
束に分割するビームスプリッタ的な機能や光束を所望の
方向に差し向ける偏向機能といった光学的機能が少なく
とも一つ更に付加された複合光学的機能保有素子をい
う）を用いた光磁気ピックアップの改良に関する。
近年、書き換え可能な記録再生装置として、記録媒体
に磁化の向き（上向きと下向き）によって情報を記録
し、カー効果等の磁気光学効果を利用して情報を再生す
る光磁気方式が注目されている。この光磁気方式を採用
した光磁気ピックアップにおいて、小形化、低価格化を
実現するために、ホログラムを組み込んだ光磁気ピック
アップが提案されている。
に磁化の向き（上向きと下向き）によって情報を記録
し、カー効果等の磁気光学効果を利用して情報を再生す
る光磁気方式が注目されている。この光磁気方式を採用
した光磁気ピックアップにおいて、小形化、低価格化を
実現するために、ホログラムを組み込んだ光磁気ピック
アップが提案されている。
例えば、光技術コンタクト、Vol.25.No.12（1987）第
698〜708の第12図に、ホログラムを組み込んだ光磁気ピ
ックアップが説明されている。この文献に開示されてい
る光磁気ピックアップは光磁気ディスクからの反射光を
ホログラムに入射させ、当該ホログラムで４本の光束に
分割され、そのうちの１本の光束を検光子（光束中の偏
光面の回転変位の有無を実質的に検出する光学素子をい
う）である偏光プリズムに入射させる構成になってい
る。しかしながら、かかる構成では、偏光プリズムに入
射する光量は小さなものとなり、結果として偏光プリズ
ムにおける偏光面の角変位の検出はノイズを受けやすい
ものとなり、高精度な情報の検出が期待できない欠点が
ある。
698〜708の第12図に、ホログラムを組み込んだ光磁気ピ
ックアップが説明されている。この文献に開示されてい
る光磁気ピックアップは光磁気ディスクからの反射光を
ホログラムに入射させ、当該ホログラムで４本の光束に
分割され、そのうちの１本の光束を検光子（光束中の偏
光面の回転変位の有無を実質的に検出する光学素子をい
う）である偏光プリズムに入射させる構成になってい
る。しかしながら、かかる構成では、偏光プリズムに入
射する光量は小さなものとなり、結果として偏光プリズ
ムにおける偏光面の角変位の検出はノイズを受けやすい
ものとなり、高精度な情報の検出が期待できない欠点が
ある。
また、特開昭63-74149号公報には、ホログラムを組み
込んだ光磁気ピックアップが説明されているが、当該装
置はフォーカシングエラー信号をどの様に検出するのか
の説明がない。
込んだ光磁気ピックアップが説明されているが、当該装
置はフォーカシングエラー信号をどの様に検出するのか
の説明がない。
本発明は、上記欠点を解決した光磁気ピックアップを
提供することを目的とする。
提供することを目的とする。
本発明の光磁気ピックアップは、光磁気記録媒体から
情報を得る光磁気ピックアップにおいて、前記光磁気記
録媒体からの戻り光をＰ偏光とＳ偏光との透過率が異な
るビームスプリッタにより第１の光束と第２の光束とに
分割し、前記第１の光束を検光子へ入射させた後第１の
光検出器に入射させて情報信号を得ると共に、前記第２
の光束をホログラムへ入射させて前記第２の光束を複数
のホログラム出射光束に分割させ、前記ホログラム出射
光束を第２の光検出器に入射させ、該第２の光検出器の
出力信号に基づきフォーカシング誤差信号を得るもので
あり、前記ビームスプリッタと前記ホログラムとは透明
ブロックに配置されており、前記第１の光検出器と前記
第２の光検出器とは共通の基板上に配置されており、前
記第２の光検出器の受光領域を含む仮想平面を想定した
とき前記ホログラムの面と前記仮想平面とはほぼ平行に
配置されており、前記複数のホログラム出射光束のうち
一方の光束は前記受光領域の手前で焦点を結び、他方の
光束は前記受光領域の後方で焦点を結び、前記透明ブロ
ックは前記光磁気記録媒体と前記仮想平面との間の光路
中に配置されており、前記ビームスプリッタは前記光磁
気記録媒体に近い方の側に、前記ホログラムは前記仮想
平面に近い方の側に配置されていることを特徴とするも
のである。
情報を得る光磁気ピックアップにおいて、前記光磁気記
録媒体からの戻り光をＰ偏光とＳ偏光との透過率が異な
るビームスプリッタにより第１の光束と第２の光束とに
分割し、前記第１の光束を検光子へ入射させた後第１の
光検出器に入射させて情報信号を得ると共に、前記第２
の光束をホログラムへ入射させて前記第２の光束を複数
のホログラム出射光束に分割させ、前記ホログラム出射
光束を第２の光検出器に入射させ、該第２の光検出器の
出力信号に基づきフォーカシング誤差信号を得るもので
あり、前記ビームスプリッタと前記ホログラムとは透明
ブロックに配置されており、前記第１の光検出器と前記
第２の光検出器とは共通の基板上に配置されており、前
記第２の光検出器の受光領域を含む仮想平面を想定した
とき前記ホログラムの面と前記仮想平面とはほぼ平行に
配置されており、前記複数のホログラム出射光束のうち
一方の光束は前記受光領域の手前で焦点を結び、他方の
光束は前記受光領域の後方で焦点を結び、前記透明ブロ
ックは前記光磁気記録媒体と前記仮想平面との間の光路
中に配置されており、前記ビームスプリッタは前記光磁
気記録媒体に近い方の側に、前記ホログラムは前記仮想
平面に近い方の側に配置されていることを特徴とするも
のである。
以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。
第１図ないし第５図は本発明の第１実施例に係り、第
１図は光磁気ピックアップの構成を示す説明図、第２図
は複合ホログラムレンズ及び光検出器を示す側面図、第
３図は情報信号及びフォーカス，トラッキングエラー信
号検出用の回路を示す回路図、第４図は第１ホログラム
の作製方法を示す説明図、第５図は第３ホログラムの作
製方法を示す説明図である。
１図は光磁気ピックアップの構成を示す説明図、第２図
は複合ホログラムレンズ及び光検出器を示す側面図、第
３図は情報信号及びフォーカス，トラッキングエラー信
号検出用の回路を示す回路図、第４図は第１ホログラム
の作製方法を示す説明図、第５図は第３ホログラムの作
製方法を示す説明図である。
第１図に示すように、光磁気記録媒体３に対して、情
報の記録，再生，消去を行う光磁気ピックアップ１は、
光源としての半導体レーザ２を備え、この半導体レーザ
２と記録媒体３との間に、半導体レーザ２側より順に、
コリメータレンズ4,ハーフプリズム5,対物レンズ６が配
設されている。そして、前記半導体レーザ２から出射さ
れた直線偏光（Ｐ偏光）の光ビームは、コリメータレン
ズ４で平行光束され、ハーフプリズム５を通過して、対
物レンズ６により、記録媒体３上に集束される。この記
録媒体３には、上向き磁化と下向き磁化とによって情報
が記録されている。従って、前記記録媒体３に入射した
Ｐ偏光の光は、記録媒体３の磁化方向に応じて磁気光学
効果（カー効果）によって偏光面が回転する。例えば、
上向き磁化に対して偏光面がθ度回転するものとすれ
ば、下向き磁化に対しては偏光面が−θ度回転する。
報の記録，再生，消去を行う光磁気ピックアップ１は、
光源としての半導体レーザ２を備え、この半導体レーザ
２と記録媒体３との間に、半導体レーザ２側より順に、
コリメータレンズ4,ハーフプリズム5,対物レンズ６が配
設されている。そして、前記半導体レーザ２から出射さ
れた直線偏光（Ｐ偏光）の光ビームは、コリメータレン
ズ４で平行光束され、ハーフプリズム５を通過して、対
物レンズ６により、記録媒体３上に集束される。この記
録媒体３には、上向き磁化と下向き磁化とによって情報
が記録されている。従って、前記記録媒体３に入射した
Ｐ偏光の光は、記録媒体３の磁化方向に応じて磁気光学
効果（カー効果）によって偏光面が回転する。例えば、
上向き磁化に対して偏光面がθ度回転するものとすれ
ば、下向き磁化に対しては偏光面が−θ度回転する。
このように偏光面が回転してＳ偏光成分を持った反射
光は、前記対物レンズ６により再び平行光となり、ハー
フプリズム５で一部が反射されて複合ホログラムレンズ
10に入射するようになっている。そして、複合ホログラ
ムレンズ10によって分割された各光束が、光検出器群20
で受光され、この光検出器群20の出力は、検出回路30に
入力され、この検出回路30によって情報信号及びフォー
カス，トラッキングエラー信号が生成されるようになっ
ている。
光は、前記対物レンズ６により再び平行光となり、ハー
フプリズム５で一部が反射されて複合ホログラムレンズ
10に入射するようになっている。そして、複合ホログラ
ムレンズ10によって分割された各光束が、光検出器群20
で受光され、この光検出器群20の出力は、検出回路30に
入力され、この検出回路30によって情報信号及びフォー
カス，トラッキングエラー信号が生成されるようになっ
ている。
尚、前記ハーフプリズム５の代わりに、Ｐ偏光とＳ偏
光の透過，反射率を適当に設定できるビームスプリッタ
を用いても良い。
光の透過，反射率を適当に設定できるビームスプリッタ
を用いても良い。
前記複合ホログラムレンズ10及び光検出器群20は、第
２図に示すように構成されている。
２図に示すように構成されている。
すなわち、この複合ホログラムレンズ10は、ハーフプ
リズム５側から順に、1/2波長板14,第１ホログラム11,
第２ホログラム12,ガラスまたはプラスチック等からな
る透明基板15,及び第３ホログラム13を有し、前記透明
基板15のハーフプリズム５側の面に、第２ホログラム12
が接合され、他方の面に、第３ホログラム13が接合され
ている。また、前記第２ホログラム12上に、第１ホログ
ラム11が接合され、必要に応じて、この第１ホログラム
11上に1/2波長板14が接合されている。
リズム５側から順に、1/2波長板14,第１ホログラム11,
第２ホログラム12,ガラスまたはプラスチック等からな
る透明基板15,及び第３ホログラム13を有し、前記透明
基板15のハーフプリズム５側の面に、第２ホログラム12
が接合され、他方の面に、第３ホログラム13が接合され
ている。また、前記第２ホログラム12上に、第１ホログ
ラム11が接合され、必要に応じて、この第１ホログラム
11上に1/2波長板14が接合されている。
前記1/2波長板14は、入射光の偏光方向を45°回転さ
せるために、方位角が22.5°に設定されている。
せるために、方位角が22.5°に設定されている。
前記第１ホログラム11は、平行光で入射した光を、第
２ホログラム12に対して最適な偏光回析効率になるよう
に偏向方向を変換するように回析するようになってい
る。
２ホログラム12に対して最適な偏光回析効率になるよう
に偏向方向を変換するように回析するようになってい
る。
前記第２ホログラム12は、偏光特性を有する例えば表
面レリーフ型ホログラムを用い、前記第１ホログラム11
からの光を、透過光と回析光とに分離するようになって
いる。尚、この第２ホログラム12は、例えば、Ｓ偏光に
対しては、回析効率を85〜80％とし、透過率を15〜20％
とし、Ｐ偏光に対しては100％回析するようになってい
る。
面レリーフ型ホログラムを用い、前記第１ホログラム11
からの光を、透過光と回析光とに分離するようになって
いる。尚、この第２ホログラム12は、例えば、Ｓ偏光に
対しては、回析効率を85〜80％とし、透過率を15〜20％
とし、Ｐ偏光に対しては100％回析するようになってい
る。
前記第３ホログラム13は、前記第２ホログラム12の透
過光を２つの半円ビームに２分割し、且つ、各半円ビー
ムを異なる焦点に集束させるように回析するようになっ
ている。各半円ビームを受光する位置には、光検出器
S1,S2が配設されている。尚、一方の光検出器S1に入射
する半円ビームの焦点は、光検出器S1よりも遠い位置に
あり、他方の光検出器S2に入射する半円ビームの焦点
は、光検出器S2よりも近い位置にあり、また、合焦時に
は、両光検出器S1,S2に投影される半円ビームの面積が
相等しくなるようになっている。
過光を２つの半円ビームに２分割し、且つ、各半円ビー
ムを異なる焦点に集束させるように回析するようになっ
ている。各半円ビームを受光する位置には、光検出器
S1,S2が配設されている。尚、一方の光検出器S1に入射
する半円ビームの焦点は、光検出器S1よりも遠い位置に
あり、他方の光検出器S2に入射する半円ビームの焦点
は、光検出器S2よりも近い位置にあり、また、合焦時に
は、両光検出器S1,S2に投影される半円ビームの面積が
相等しくなるようになっている。
また、前記第３ホログラム13は、前記第２ホログラム
12の回析光を収束するように回析するようになってい
る。この回析光の光路上には、偏光プリズム21が配設さ
れている。この偏光プリズム21は、偏光膜面22で、Ｐ偏
光を透過しＳ偏光を反射し、この反射されたＳ偏光を、
斜面23で反射して、Ｐ偏光とＳ偏光とを分離し、且つ、
Ｐ偏光とＳ偏光とを略同方向に出射するようになってい
る。
12の回析光を収束するように回析するようになってい
る。この回析光の光路上には、偏光プリズム21が配設さ
れている。この偏光プリズム21は、偏光膜面22で、Ｐ偏
光を透過しＳ偏光を反射し、この反射されたＳ偏光を、
斜面23で反射して、Ｐ偏光とＳ偏光とを分離し、且つ、
Ｐ偏光とＳ偏光とを略同方向に出射するようになってい
る。
前記偏光プリズム21で分離されたＰ偏光とＳ偏光を、
それぞれ、受光する位置には、光検出器S3,S4が配設さ
れている。
それぞれ、受光する位置には、光検出器S3,S4が配設さ
れている。
また、前記S1,S2,S3,S4からになる光検出器群20は、
同一の基板25上に設けられて一体化されている。
同一の基板25上に設けられて一体化されている。
尚、このように一体化された光検出器群20と複合ホロ
グラムレンズ10とを一体化しても良い。
グラムレンズ10とを一体化しても良い。
このような構成により、記憶媒体３からの戻り光は、
1/2波長板14により偏光方向が45°回転され、第１ホロ
グラム11により第２ホログラム12に対して最適な偏光回
析効率になるように偏向方向が変換され、第２ホログラ
ム12に入射する。この第２ホログラム12の透過光は、２
つの半円ビームに分割され、各半円ビームは、光検出器
S1,S2に入射する。そして、この光検出器S1,S2の出力信
号によりフォーカス，トラッキングの各エラー信号が生
成される。また、前記第２ホログラム12の回析光は、偏
光プリズム21によってＰ偏光とＳ偏光が分離され、Ｐ偏
光は光検出器S3で受光され、Ｓ偏光は光検出器S4で受光
される。そして、この光検出器S3,S4の出力信号により
情報信号が生成される。
1/2波長板14により偏光方向が45°回転され、第１ホロ
グラム11により第２ホログラム12に対して最適な偏光回
析効率になるように偏向方向が変換され、第２ホログラ
ム12に入射する。この第２ホログラム12の透過光は、２
つの半円ビームに分割され、各半円ビームは、光検出器
S1,S2に入射する。そして、この光検出器S1,S2の出力信
号によりフォーカス，トラッキングの各エラー信号が生
成される。また、前記第２ホログラム12の回析光は、偏
光プリズム21によってＰ偏光とＳ偏光が分離され、Ｐ偏
光は光検出器S3で受光され、Ｓ偏光は光検出器S4で受光
される。そして、この光検出器S3,S4の出力信号により
情報信号が生成される。
前記フォーカス，トラッキングエラー信号と情報信号
は、次のようにして検出されるようになっている。
は、次のようにして検出されるようになっている。
第３図に示すように、光検出器S1とS2は、それぞれ、
２分割の光検出器S11,S12とS21とS22からなり、フォー
カスエラー信号検出は、ダブルナイフエッジにより、減
算器34によって、（S11＋S21）−（S12＋S22）を演算す
ることにより得られる。
２分割の光検出器S11,S12とS21とS22からなり、フォー
カスエラー信号検出は、ダブルナイフエッジにより、減
算器34によって、（S11＋S21）−（S12＋S22）を演算す
ることにより得られる。
また、トラッキングエラー信号検出は、プッシュプル
法を用い、トラックに対して光ビームを動かすと、２つ
の半円が同方向に動くので、加算器31で光検出器S11,S
12の出力を加算し、加算器32で光検出器のS21,S22の出
力を加算し、減算器33で加算器31,32の出力の差を演算
することによって得られる。
法を用い、トラックに対して光ビームを動かすと、２つ
の半円が同方向に動くので、加算器31で光検出器S11,S
12の出力を加算し、加算器32で光検出器のS21,S22の出
力を加算し、減算器33で加算器31,32の出力の差を演算
することによって得られる。
また、データ部の情報信号は、減算器35で、光検出器
S3とS4の出力の差を演算することにより得られ、プレピ
ット部の情報信号は、加算器36で、光検出器S3とS4の出
力の和を演算することにより得られる。
S3とS4の出力の差を演算することにより得られ、プレピ
ット部の情報信号は、加算器36で、光検出器S3とS4の出
力の和を演算することにより得られる。
ところで、前記第１ホログラム11は、第４図に示すよ
うにして作成される。すなわち、第１ホログラム11とな
る乾版11aに対し、平面波L1を垂直入射させ、一方、発
生源が同じ別の平面波L2を所定の角度を持って入射さ
せ、二重露光法によって、第１ホログラム11が作成され
る。
うにして作成される。すなわち、第１ホログラム11とな
る乾版11aに対し、平面波L1を垂直入射させ、一方、発
生源が同じ別の平面波L2を所定の角度を持って入射さ
せ、二重露光法によって、第１ホログラム11が作成され
る。
また、第３ホログラム13は、第５図に示すようにして
作成される。この第３ホログラム13の作成においては、
収差を少なくする点が重要である。第３ホログラム13と
なる乾版13aに対し、所定の傾きを持つ２つの平面波O1,
O2を入射させる。また、前記乾板13aの反対側より、前
記O1,O2と同一光源から発光された平面波O3を、それぞ
れf1,f2,f3の焦点を持つマイクロレンズ41,42,43からな
るマイクロレンズ群40に入射させる。そして、平面波O1
とレンズ43からの球面波、平面波O2とレンズ41からの球
面波、平面波O2とレンズ42からの球面波の各二重露光に
より、第３ホログラム13が作成される。尚、各マイクロ
レンズ41,42,43の焦点は、f2＞f3＞f1の関係になってい
る。また、各マイクロレンズ41,42,43の焦点位置に、ピ
ンホール45を配置し、高次回析による収差の影響を除去
するようにしている。
作成される。この第３ホログラム13の作成においては、
収差を少なくする点が重要である。第３ホログラム13と
なる乾版13aに対し、所定の傾きを持つ２つの平面波O1,
O2を入射させる。また、前記乾板13aの反対側より、前
記O1,O2と同一光源から発光された平面波O3を、それぞ
れf1,f2,f3の焦点を持つマイクロレンズ41,42,43からな
るマイクロレンズ群40に入射させる。そして、平面波O1
とレンズ43からの球面波、平面波O2とレンズ41からの球
面波、平面波O2とレンズ42からの球面波の各二重露光に
より、第３ホログラム13が作成される。尚、各マイクロ
レンズ41,42,43の焦点は、f2＞f3＞f1の関係になってい
る。また、各マイクロレンズ41,42,43の焦点位置に、ピ
ンホール45を配置し、高次回析による収差の影響を除去
するようにしている。
このようなホログラムレンズは、回析を利用でき、光
検出器の配置に合わせて決定できる点が良く、光磁気の
複雑な差動光学系には特に有効である。
検出器の配置に合わせて決定できる点が良く、光磁気の
複雑な差動光学系には特に有効である。
次に、本実施例で重要な偏光特性を有する第２ホログ
ラム12について説明する。一般的に、格子ピッチが光の
波長に依存し、特にλ/d（λ：波長,d:格子ピッチ）が
小さくなると複屈折が生じ、また、その複屈折は波長が
小さくなると大きくなる傾向にある。更に、入射角とし
て適当な非ブラッグ角を選択することによって、格子溝
に垂直な偏光と格子溝に平行な偏光の回析効率が共に大
きく、且つ回析効率が相等しくなるようにすることがで
きる。
ラム12について説明する。一般的に、格子ピッチが光の
波長に依存し、特にλ/d（λ：波長,d:格子ピッチ）が
小さくなると複屈折が生じ、また、その複屈折は波長が
小さくなると大きくなる傾向にある。更に、入射角とし
て適当な非ブラッグ角を選択することによって、格子溝
に垂直な偏光と格子溝に平行な偏光の回析効率が共に大
きく、且つ回析効率が相等しくなるようにすることがで
きる。
尚、1/2波長板14により偏光面を45°回転させる代わ
りに、1/2波長板14を除き、カー回転によるＳ偏光成分
に対し、第２ホログラム12の格子溝を45°回転して配置
し、更に、第２ホログラム12に対し、入射角を非ブラッ
グ角に設定することにより、格子溝に垂直な偏光と格子
溝に平行な偏光の回析効率を同じにすることができる。
りに、1/2波長板14を除き、カー回転によるＳ偏光成分
に対し、第２ホログラム12の格子溝を45°回転して配置
し、更に、第２ホログラム12に対し、入射角を非ブラッ
グ角に設定することにより、格子溝に垂直な偏光と格子
溝に平行な偏光の回析効率を同じにすることができる。
このように、本実施例によれば、偏光特性を有する第
２ホログラム12と、エラー信号検出用の第３ホログラム
13とを、透明基板15の各端面に設けることにより一体化
したので、構成が簡単で、小型化でき、また、両ホログ
ラム12,13の位置調整が不要になる。また、ホルダの形
状が単に円筒形状となり、小型で大量生産に適したコス
トの安いピックアップが得られる。
２ホログラム12と、エラー信号検出用の第３ホログラム
13とを、透明基板15の各端面に設けることにより一体化
したので、構成が簡単で、小型化でき、また、両ホログ
ラム12,13の位置調整が不要になる。また、ホルダの形
状が単に円筒形状となり、小型で大量生産に適したコス
トの安いピックアップが得られる。
また、第２ホログラム12,第３ホログラム13と共に、1
/2波長板14,第１ホログラム11も一体化することによ
り、より構成が簡単で小型にできる。
/2波長板14,第１ホログラム11も一体化することによ
り、より構成が簡単で小型にできる。
また、本実施例の複合ホログラムレンズ10を用いるこ
とにより、光検出器群20を一体にでき、且つ、回転調整
が不要になる。
とにより、光検出器群20を一体にでき、且つ、回転調整
が不要になる。
更に、複合ホログラムレンズ10と光検出器群20とを一
体化することにより、両者の位置調整が不要になる。
体化することにより、両者の位置調整が不要になる。
また、第１ホログラム11によって第２ホログラム12へ
の入射角を最適の偏光回析効率が得られるように合わせ
ることにより、回析効率の良い差動光学系が得られる。
の入射角を最適の偏光回析効率が得られるように合わせ
ることにより、回析効率の良い差動光学系が得られる。
第６図は本発明の第２実施例の光磁気ピックアップの
構成を示す説明図である。
構成を示す説明図である。
本実施例は、２波長半導体レーザを用い、記録，再生
及び消去が可能なピックアップの例である。
及び消去が可能なピックアップの例である。
半導体レーザ51から出射された光ビームは、コリメー
タレンズ52により平行光となり、ハーフプリズム53を透
過し、ダイクロックミラー54で反射され、再びハーフプ
リズム53に戻り、一部が反射され、対物レンズ６によっ
て、光磁気記録媒体３面上に集束されるようになってい
る。この記録媒体３からの戻り光は、対物レンズ６を通
過し、ハーフプリズム53を通過し、ダイクロクミラー56
でカットされ、光検出器に入射しないようになってい
る。
タレンズ52により平行光となり、ハーフプリズム53を透
過し、ダイクロックミラー54で反射され、再びハーフプ
リズム53に戻り、一部が反射され、対物レンズ６によっ
て、光磁気記録媒体３面上に集束されるようになってい
る。この記録媒体３からの戻り光は、対物レンズ６を通
過し、ハーフプリズム53を通過し、ダイクロクミラー56
でカットされ、光検出器に入射しないようになってい
る。
一方、記録／再生用半導体レーザ57から出射された光
ビームは、コリメータレンズ58によって平行光となり、
整形プリズム59によって円形ビームにされ、ダイクロッ
クミラー54を通過し、ハーフプリズム53で一部が反射さ
れ、この反射された光は、対物レンズ６により記録媒体
３面上に集束されるようになっている。この記録媒体３
からの戻り光は、対物レンズ6,ハーフプリズム53,ダイ
クロックミラー56を通過し、第１実施例と同様の複合ホ
ログラムレンズ10を通過して、光検出器群20によって受
光され、フォーカス，トラッキングの各エラー信号及び
情報信号が得られるようになっている。
ビームは、コリメータレンズ58によって平行光となり、
整形プリズム59によって円形ビームにされ、ダイクロッ
クミラー54を通過し、ハーフプリズム53で一部が反射さ
れ、この反射された光は、対物レンズ６により記録媒体
３面上に集束されるようになっている。この記録媒体３
からの戻り光は、対物レンズ6,ハーフプリズム53,ダイ
クロックミラー56を通過し、第１実施例と同様の複合ホ
ログラムレンズ10を通過して、光検出器群20によって受
光され、フォーカス，トラッキングの各エラー信号及び
情報信号が得られるようになっている。
その後の構成，作用及び効果は、第１実施例と同様で
ある。
ある。
第７図及び第８図は本発明の第３実施例に係り、第８
図は複合ホログラムレンズ及び光検出器を示す側面図、
第８図は情報信号及びフォーカス，トラッキングエラー
信号検出用の回路を示す回路図である。
図は複合ホログラムレンズ及び光検出器を示す側面図、
第８図は情報信号及びフォーカス，トラッキングエラー
信号検出用の回路を示す回路図である。
本実施例では、第２ホログラム12は、第１ホログラム
11からの光を、透過光と回析光とに分離するが、Ｓ偏光
に対しては、回析効率を15〜20％とし、透過率を85〜80
％とし、Ｐ偏光に対しては100％透過するようになって
いる。
11からの光を、透過光と回析光とに分離するが、Ｓ偏光
に対しては、回析効率を15〜20％とし、透過率を85〜80
％とし、Ｐ偏光に対しては100％透過するようになって
いる。
前記第２ホログラム12の透過光は、第３ホログラム13
で回析され、偏光プリズム21に入射して、Ｐ偏光とＳ偏
光が分離され、Ｐ偏光は光検出器S3で受光され、Ｓ偏光
は光検出器S4で受光される。そして、第８図に示すよう
に、第１実施例と同様にして、光検出器S3,S4の出力信
号によりデータ部及びプレピット部の情報信号が生成さ
れる。
で回析され、偏光プリズム21に入射して、Ｐ偏光とＳ偏
光が分離され、Ｐ偏光は光検出器S3で受光され、Ｓ偏光
は光検出器S4で受光される。そして、第８図に示すよう
に、第１実施例と同様にして、光検出器S3,S4の出力信
号によりデータ部及びプレピット部の情報信号が生成さ
れる。
また、前記第２ホログラム12の回析光は、第３ホログ
ラム13によって、２つの半円ビームに分割され、各半円
ビームは、第１実施例と同様に、光検出器S1,S2に入射
する。そして、この光検出器S1,S2の出力信号によりフ
ォーカス，トラッキングの各エラー信号が生成される。
ラム13によって、２つの半円ビームに分割され、各半円
ビームは、第１実施例と同様に、光検出器S1,S2に入射
する。そして、この光検出器S1,S2の出力信号によりフ
ォーカス，トラッキングの各エラー信号が生成される。
その他の構成，作用及び効果は、第１実施例と同様で
ある。
ある。
尚、本発明は、上記各実施例に限定されず、例えば、
偏光性を有するホログラムは、表面レリーフ型とホログ
ラムに限らず、回析格子の空間周波数と使用波長の積に
よってＰ偏光とＳ偏光との回析効率に大きな変化が生じ
ることを利用した位相格子ホログラムを用いても良い。
偏光性を有するホログラムは、表面レリーフ型とホログ
ラムに限らず、回析格子の空間周波数と使用波長の積に
よってＰ偏光とＳ偏光との回析効率に大きな変化が生じ
ることを利用した位相格子ホログラムを用いても良い。
本発明の光磁気ピックアップは、光磁気記録媒体から
情報を得る光磁気ピックアップにおいて、前記光磁気記
録媒体からの戻り光をＰ偏光とＳ偏光との透過率が異な
るビームスプリッタ（例えば前記実施例の第２のホログ
ラム12）により第１の光束と第２の光束とに分割し、前
記第１の光束を検光子（例えば前記実施例の偏光のプリ
ズム21）へ入射させた後第１の光検出器に入射させて情
報信号を得ると共に、前記第２の光束をホログラム（例
えば前記実施例の第３のホログラム13）へ入射させて前
記第２の光束を複数のホログラム出射光束に分割させ、
前記ホログラム出射光束を第２の光検出器に入射させ、
該第２の光検出器の出力信号に基づきフォーカシング誤
差信号を得るものであり、前記ビームスプリッタと前記
ホログラムとは透明ブロック（例えば前記実施例の透明
基板15）に配置されており、前記第１の光検出器と前記
第２の光検出器とは共通の基板上に配置されており、前
記第２の光検出器の受光領域を含む仮想平面を想定した
とき前記ホログラムの面と前記仮想平面とはほぼ平行に
配置されており、前記複数のホログラム出射光束のうち
一方の光束は前記受光領域の手前で焦点を結び、他方の
光束は前記受光領域の後方で焦点を結び、前記透明ブロ
ックは前記光磁気記録媒体と前記仮想平面との間の光路
中に配置されており、前記ビームスプリッタは前記光磁
気記録媒体に近い方の側に、前記ホログラムは前記仮想
平面に近い方の側に配置されていることを特徴とするか
ら、本発明は以下の効果がある。
情報を得る光磁気ピックアップにおいて、前記光磁気記
録媒体からの戻り光をＰ偏光とＳ偏光との透過率が異な
るビームスプリッタ（例えば前記実施例の第２のホログ
ラム12）により第１の光束と第２の光束とに分割し、前
記第１の光束を検光子（例えば前記実施例の偏光のプリ
ズム21）へ入射させた後第１の光検出器に入射させて情
報信号を得ると共に、前記第２の光束をホログラム（例
えば前記実施例の第３のホログラム13）へ入射させて前
記第２の光束を複数のホログラム出射光束に分割させ、
前記ホログラム出射光束を第２の光検出器に入射させ、
該第２の光検出器の出力信号に基づきフォーカシング誤
差信号を得るものであり、前記ビームスプリッタと前記
ホログラムとは透明ブロック（例えば前記実施例の透明
基板15）に配置されており、前記第１の光検出器と前記
第２の光検出器とは共通の基板上に配置されており、前
記第２の光検出器の受光領域を含む仮想平面を想定した
とき前記ホログラムの面と前記仮想平面とはほぼ平行に
配置されており、前記複数のホログラム出射光束のうち
一方の光束は前記受光領域の手前で焦点を結び、他方の
光束は前記受光領域の後方で焦点を結び、前記透明ブロ
ックは前記光磁気記録媒体と前記仮想平面との間の光路
中に配置されており、前記ビームスプリッタは前記光磁
気記録媒体に近い方の側に、前記ホログラムは前記仮想
平面に近い方の側に配置されていることを特徴とするか
ら、本発明は以下の効果がある。
前記光技術コンタクト Vol.25.No.12（1987）第698
〜708頁の第12図に開示の構成に比較して、十分大きな
光量を検光子へ入射することができるので高精度な情報
信号が検出できると同時に、特開昭63-74149号公報開示
の構成と異なり、フォーカシング誤差信号を検出できる
利点がある。
〜708頁の第12図に開示の構成に比較して、十分大きな
光量を検光子へ入射することができるので高精度な情報
信号が検出できると同時に、特開昭63-74149号公報開示
の構成と異なり、フォーカシング誤差信号を検出できる
利点がある。
第１図ないし第５図は本発明の第１実施例に係り、第１
図は光磁気ピックアップの構成を示す説明図、第２図は
複合ホログラムレンズ及び光検出器を示す側面図、第３
図は情報信号及びフォーカス，トラッキングエラー信号
検出用の回路を示す回路図、第４図は第１ホログラムの
作製方法を示す説明図、第５図は第３ホログラムの作製
方法を示す説明図、第６図は本発明の第２実施例の光磁
気ピックアップの構成を示す説明図、第７図及び第８図
の本発明の第３実施例に係り、第７図は複合ホログラム
レンズ及び光検出器を示す側面図、第８図は情報信号及
びフォーカス，トラッキングエラー信号検出用の回路を
示す回路図である。 １……光磁気ピックアップ ２……光磁気記録媒体 10……複合ホログラムレンズ 11……第１ホログラム 12……第２ホログラム 13……第３ホログラム 15……透明基板、20……光検出器群 30……検出回路
図は光磁気ピックアップの構成を示す説明図、第２図は
複合ホログラムレンズ及び光検出器を示す側面図、第３
図は情報信号及びフォーカス，トラッキングエラー信号
検出用の回路を示す回路図、第４図は第１ホログラムの
作製方法を示す説明図、第５図は第３ホログラムの作製
方法を示す説明図、第６図は本発明の第２実施例の光磁
気ピックアップの構成を示す説明図、第７図及び第８図
の本発明の第３実施例に係り、第７図は複合ホログラム
レンズ及び光検出器を示す側面図、第８図は情報信号及
びフォーカス，トラッキングエラー信号検出用の回路を
示す回路図である。 １……光磁気ピックアップ ２……光磁気記録媒体 10……複合ホログラムレンズ 11……第１ホログラム 12……第２ホログラム 13……第３ホログラム 15……透明基板、20……光検出器群 30……検出回路
Claims (1)
- 【請求項１】光磁気記録媒体から情報を得る光磁気ピッ
クアップにおいて、前記光磁気記録媒体からの戻り光を
Ｐ偏光とＳ偏光との透過率が異なるビームスプリッタに
より第１の光束と第２の光束とに分割し、前記第１の光
束を検光子へ入射させた後第１の光検出器に入射させて
情報信号を得ると共に、前記第２の光束をホログラムへ
入射させて前記第２の光束を複数のホログラム出射光束
に分割させ、前記ホログラム出射光束を第２の光検出器
に入射させ、該第２の光検出器の出力信号に基づきフォ
ーカシング誤差信号を得るものであり、前記ビームスプ
リッタと前記ホログラムとは透明ブロックに配置されて
おり、前記第１の光検出器と前記第２の光検出器とは共
通の基板上に配置されており、前記第２の光検出器の受
光領域を含む仮想平面を想定したとき前記ホログラムの
面と前記仮想平面とはほぼ平行に配置されており、前記
複数のホログラム出射光束のうち一方の光束は前記受光
領域の手前で焦点を結び、他方の光束は前記受光領域の
後方で焦点を結び、前記透明ブロックは前記光磁気記録
媒体と前記仮想平面との間の光路中に配置されており、
前記ビームスプリッタは前記光磁気記録媒体に近い方の
側に、前記ホログラムは前記仮想平面に近い方の側に配
置されていることを特徴とする光磁気ピックアップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63273829A JP2904419B2 (ja) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | 光磁気ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63273829A JP2904419B2 (ja) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | 光磁気ピックアップ |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7278686A Division JPH08212613A (ja) | 1995-10-26 | 1995-10-26 | 光磁気ピックアップ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02121139A JPH02121139A (ja) | 1990-05-09 |
| JP2904419B2 true JP2904419B2 (ja) | 1999-06-14 |
Family
ID=17533128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63273829A Expired - Fee Related JP2904419B2 (ja) | 1988-10-28 | 1988-10-28 | 光磁気ピックアップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2904419B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3155287B2 (ja) * | 1990-05-30 | 2001-04-09 | 株式会社リコー | 光情報記録再生装置 |
| CA2079620A1 (en) * | 1991-10-25 | 1993-04-26 | Roeland M. T. Hekker | Holographic elements for an optical recording system |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3623246A1 (de) * | 1986-07-10 | 1988-01-14 | Huels Chemische Werke Ag | Verfahren zur herstellung von butyloligoglycosiden |
| JPS63231746A (ja) * | 1987-03-20 | 1988-09-27 | Fujitsu Ltd | 光ピツクアツプ装置 |
-
1988
- 1988-10-28 JP JP63273829A patent/JP2904419B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02121139A (ja) | 1990-05-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |