JPH09245369A - 光ディスク装置用光学ヘッド - Google Patents

光ディスク装置用光学ヘッド

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JPH09245369A
JPH09245369A JP8052972A JP5297296A JPH09245369A JP H09245369 A JPH09245369 A JP H09245369A JP 8052972 A JP8052972 A JP 8052972A JP 5297296 A JP5297296 A JP 5297296A JP H09245369 A JPH09245369 A JP H09245369A
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prism
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明の課題は、大幅な部品と調整工数の削
減を図ることができ、更に小型軽量化を図ることのでき
る光磁気ディスク装置用光学ヘッドを提供することであ
る。 【解決手段】 光磁気ディスク装置用光学ヘッドであっ
て、ステム上に搭載されたレーザダイオードと、光磁気
信号を検出する光検知器ユニットと、フォーカス誤差信
号及びトラッキング誤差信号の検出を行う光検知器ユニ
ットとを含んでいる。ステム上にはレーザダイオード及
び光検知器ユニットを包囲するようにキャップが取り付
けられている。このキャップ上には、偏光ビームスプリ
ッタと光ディスクからの反射ビームの一部の偏光面を4
5度回転する旋光膜とロションプリズムとを含んだビー
ムスプリッタユニットが搭載されている。キャップ上に
は反射ビームの一部を誤差信号検出用の光検知器ユニッ
トに向けて回折するホログラムが搭載されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光磁気ディスク装置
用光学ヘッド(光ピックアップ)に関する。光磁気ディ
スクを含む光ディスクは近年急速に発展するマルチメデ
ィア化の中で中核となるメモリ媒体として脚光を浴びて
おり、通常カートリッジの中に収容された状態で使用さ
れる。
【0002】光ディスクカートリッジが光ディスク装置
内にローディングされ、光学ヘッドにより光ディスクへ
のデータのライト/リードが行われる。
【0003】
【従来の技術】光ディスク、光磁気ディスク等の記録媒
体は記録媒体を取り替えて使用するものであり、またこ
れらの記録媒体は成型時の歪みによって反りやうねりが
生じている。
【0004】そのため、記録媒体には偏心や傾きが生じ
やすい。従って、記録された情報を読みだすためにはフ
ォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を行わ
なくてはならない。
【0005】従来の光磁気ディスク用光学ヘッドでは、
光磁気ディスクに書き込まれた情報の検出に加えて、フ
ォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う
ために、複数のレンズ及び複数の偏光ビームスプリッタ
を含む多くの光学部品を用いて光学ヘッドを構成してい
た。
【0006】他の従来技術として、光ディスク装置の光
学ヘッドにホログラムを用いたものがいくつか提案され
ている。ホログラムはレーザダイオード、光検知器(フ
ォトディテクタ)と共に一体化され、サーボ制御のため
のレーザビームの誤差検出を行う。
【0007】しかし、ホログラムを用いた従来の光学ヘ
ッドはCDドライバ或いはCD−ROMドライバでは有
効であるが、光磁気信号検出に必要な偏光分離機能がな
いため、光磁気ディスク装置の光学ヘッドにそのまま適
用することはできない。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】このように従来の光磁
気ディスク装置用光学ヘッドは、数多くの光学部品を必
要とし、その構造が複雑であり、組み立て工数もかかる
という問題があった。また、ホログラムを用いた光学ヘ
ッドでは、光磁気信号検出を行う光磁気ディスク装置に
はそのまま適用できないという問題があった。
【0009】よって本発明の目的は、複数の光学部品を
一体化した光学ユニットを使用することにより、光学部
品と調整工数の削減及び小型軽量化を図ることのできる
光磁気ディスク装置用光学ヘッドを提供することであ
る。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明によると、光磁気
ディスクに対して情報を読み書きする光磁気ディスク装
置用光学ヘッドであって、ステムと;前記ステムに固定
されたレーザダイオードと;前記レーザダイオードから
のレーザビームを前記光磁気ディスク上に集光する対物
レンズと;前記光磁気ディスクで反射された反射ビーム
から光磁気信号を検出する、前記ステムに固定された光
磁気信号検出用光検知器と;前記反射ビームから前記光
磁気ディスク上に集光されたレーザビームのフォーカス
誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う、前記ステム
に固定された誤差信号検出用光検知器と;前記レーザダ
イオード、前記光磁気信号検出用光検知器及び前記誤差
信号検出用光検知器を包囲するように前記ステムに取り
付けられたキャップと;前記キャップ上に搭載された、
前記反射ビームの一部を前記誤差信号検出用光検知器に
向けて回折するホログラムと;前記キャップ上に搭載さ
れた、偏光ビームスプリッタと前記反射ビームの一部の
偏光面を45度回転する旋光手段と複屈折結晶から形成
されたビーム分離手段とを含んだ、ビームスプリッタユ
ニットと;を具備したことを特徴とする光磁気ディスク
装置用光学ヘッドが提供される。
【0011】好ましくは、複屈折結晶から形成されたビ
ーム分離手段はロションプリズム、ウォラストンプリズ
ム等の偏光プリズムから形成される。また、偏光ビーム
スプリッタ及び偏光面を45度回転する旋光手段は、そ
れぞれ誘電体多層膜から形成される。
【0012】本発明によれば、複数の光学部品を一体化
したビームスプリッタユニットをレーザダイオード及び
光検知器を包囲するキャップ上に搭載したため、光学部
品及び調整工数の削減を図ることができ、小型の光磁気
ディスク用光学ヘッドを実現することができる。
【0013】
【発明の実施の形態】図1〜図4を参照して、本発明第
1実施形態の光磁気ディスク装置用光学ヘッドについて
説明する。図1に示すように、光学ヘッド1は光磁気デ
ィスク48に対して情報を読み書きする。
【0014】図2に示すように、ステム2上にはレーザ
ダイオード4、光磁気信号検出用光検知器ユニット(フ
ォトダイオードユニット)6及びフォーカシング誤差信
号及びトラッキング誤差信号検出用の光検知器ユニット
8がダイボンディング等により搭載されている。ステム
2の裏面には複数の端子3が突出している。
【0015】光検知器ユニット6はP偏光成分を検出す
る光検知器6aと、S偏光成分を検出する光検知器6b
とを含んでいる。この2つの光検知器6a,6bで検出
された信号を従来よく知られた方法で差動検出すること
により、光磁気信号が検出される。
【0016】光検知器ユニット8はフォーカシング誤差
検知用の光検知器8a,8bと、トラッキング誤差検知
用の光検知器8c,8dとを含んでいる。光検知器8a
は分割線10により2つの領域に分割されており、同様
に光検知器8bも分割線12により2つの領域に分割さ
れている。
【0017】ステム2にはレーザダイオード4,光検知
器ユニット6及び光検知器ユニット8を包囲するキャッ
プ14が搭載されている。キャップ14はその上面に図
示しない開口を有しており、この開口を覆うようにガラ
ス基板16が搭載されている。
【0018】ガラス基板16上にはホログラム回折格子
18が形成されている。ホログラム18は4つの異なる
干渉縞領域18a〜18dを有している。ホログラム1
8の各領域18a〜18dに入射したビームはそれぞれ
異なる方向に回折される。
【0019】ホログラム18の領域18a,18bがフ
ォーカス誤差信号(FES)検出用であり、領域18
c,18dがトラッキング誤差信号(TES)検出用で
ある。これらの各領域の大きさは、それぞれの光磁気デ
ィスク装置で要求される光量の分配に応じて決定され
る。
【0020】領域18a,18bで回折されたビームは
フォーカス誤差信号検知用の光検知器8a,8bにそれ
ぞれ入射される。一方、領域18c,18dで回折され
たビームはトラッキング誤差信号検知用の光検知器8
c,8dにそれぞれ入射する。
【0021】フォーカス誤差信号(FES)は、光検知
器8aの分割線10の右側領域に入射する光量をA、左
側領域に入射する光量をBとし、光検知器8bの分割線
12の左側領域に入射する光量をC、右側領域に入射す
る光量をDとすると、 FES=(A+C)−(B+D) で検出することができる。
【0022】また、トラック誤差信号(TES)は、光
検知器8c,8dに入射する光量をE,Fとすると、 TES=(C−E) で検出することができる。
【0023】ホログラムの作成は、例えば電子ビームや
レーザビームの直接描画により行う。直接描画では、ホ
ログラムの干渉縞断面に傾斜を付け、高効率化を図る必
要が生じるが、多重描画により作成が可能である。
【0024】これ以外のホログラムの作成方法として
は、あらかじめホログラムパターンを大きく直接描画
し、ステッパーにより縮小しマスクを作成し、フォトリ
ソグラフィによりパターンを転写する方法がある。
【0025】この場合には、フォトレジスト等をマスク
とし、イオンビームによるエッチングで干渉縞パターン
を作成する。また、ホログラムを補助露光系として、ホ
ログラフィック露光により作成することも可能である。
【0026】図1に示すように、キャップ14上にはコ
リメータレンズ20及びビームスプリッタユニット22
がホルダ24で一体化されて搭載されている。コリメー
タレンズ20はレーザダイオード4から出射されたレー
ザビームをコリメートビームにするものである。
【0027】図3に最もよく示されるように、ビームス
プリッタユニット22は直角プリズム26と、直角プリ
ズム26の斜面26aに接着された四角形プリズム28
と、直角プリズム26の底面に接着されたロションプリ
ズム38とを含んでいる。
【0028】直角プリズム26の斜面26a上には誘電
体多層膜から形成された偏光ビームスプリッタ30が蒸
着されており、偏光ビームスプリッタ30上には誘電体
多層膜から形成された旋光膜32が積層されている。
【0029】この偏光ビームスプリッタ30は、例えば
P偏光に対して100%の透過率、S偏光に対して75
%の反射率を有している。旋光膜32は光磁気ディスク
48で反射された反射ビームの一部の偏光面を45度回
転する性質を有している。
【0030】直角プリズム26の斜面26a上に偏光ビ
ームスプリッタ30,旋光膜32を蒸着する代わりに、
四角形プリズム28の底面28a上に旋光膜32及び偏
光ビームスプリッタ30を蒸着するようにしてもよい。
【0031】四角形プリズム28は底面28aに対して
鋭角をなす側面28b,28cを有している。各側面2
8b,28cには反射膜34,36がそれぞれ形成され
ている。これらの反射膜34,36は反射されるビーム
に位相差が生じないような性質を有している。
【0032】図4に示すように、ロションプリズム38
は光学軸40a,42aが互いに直交するように切り出
された複屈折結晶からなる2つの直角プリズム40,4
2をバルサムで接合して形成される。直角プリズム4
0,42の光学軸40a,42aはS偏光の偏光面に対
して直交している。
【0033】複屈折結晶としては方解石、水晶及びリチ
ウムナイオベート(LiNbO3 )等が採用可能であ
る。ロションプリズム38に代えて、ウォラストンプリ
ズム等の他の偏光プリズムも採用可能である。
【0034】再び図1を参照すると、ビームスプリッタ
ユニット22からのレーザビームはミラー4で反射さ
れ、対物レンズ46で光磁気ディスク48上にフォーカ
スされる。
【0035】しかして、レーザダイオード4からは直線
偏光のレーザビームが出射され、偏光ビームスプリッタ
30に対してS偏光でビームスプリッタユニット22に
レーザビームが入射するように、ビームスプリッタユニ
ット22に対してレーザダイオード4が配置されてい
る。
【0036】レーザダイオード4から出射されたレーザ
ビームはホログラム18を透過し、コリメータレンズ2
0でコリメートビームに変換される。このコリメートビ
ームは実質上直角関係でロションプリズム38に入射す
るため、ロションプリズム38を直進して直角プリズム
26に入射する。
【0037】次いで、直角プリズム26と四角形プリズ
ム28の界面に形成された偏光ビームスプリッタ30で
約75%の反射率で反射される。このビームが破線50
で示されている。
【0038】偏光ビームスプリッタ30で反射されたレ
ーザビームは図1に示すようにミラー44で反射され、
対物レンズ46により光磁気ディスク48上にフォーカ
スされる。
【0039】光磁気ディスク48からの反射ビームは、
情報が光磁気ディスク48に記録されているときにはカ
ー効果により偏光が少量回転する。よって、光磁気ディ
スク48からの反射ビーム52は主にS偏光であるが、
少量のP偏光成分を含んでいる。
【0040】この反射ビーム52は、図3に示すように
偏光ビームスプリッタ30に入射し、S偏光成分の25
%、P偏光成分の100%が偏光ビームスプリッタ30
を透過する。これにより、微弱なP偏光の信号が相対的
に増幅される。
【0041】偏光ビームスプリッタ30を透過した反射
ビームは点53の位置で旋光膜32に入射し、その偏光
面が45度回転される。次いで、このビームは四角形プ
リズム28の側面28b,28cに形成した反射膜3
4,36でそれぞれ反射されて、再び旋光膜32に点5
5の位置で入射する。
【0042】この場合には、旋光膜32でビームの偏光
面が回転されることなく、P偏光とS偏光の位相差を補
償する性質を旋光膜32は有している。旋光膜32を透
過したビームは再び偏光ビームスプリッタ30に入射す
る。
【0043】S偏光の25%、P偏光の100%が偏光
ビームスプリッタを透過するため、総合すると、反射ビ
ームのうちS偏光は6.25%、P偏光は100%で偏
光ビームスプリッタ30を透過することになる。
【0044】偏光ビームスプリッタ30を再度透過した
反射ビームは入射角θでロションプリズム38に入射す
る。即ち、レーザダイオード4からのレーザビーム50
の光路に対してθ傾いて光磁気ディスク48からの反射
ビームの一部がロションプリズム38に入射する。
【0045】この角度θは四角形プリズム28の頂角
(側面28bと28cとのなす角)により決定される。
望ましくはθは約3度〜約10度の範囲内であり、本実
施形態ではθ=5度を採用した。θ=0度の場合には、
光磁気信号検出用の光検知器6a,6bをレーザダイオ
ード4の両サイドに配置する必要がある。
【0046】図4に示すように、ロションプリズム38
に斜めに入射したS偏光はそのまま直進してロションプ
リズム38から出射される。一方、P偏光はロションプ
リズム38の複屈折の性質により、入射ビームに対して
斜めに屈折されて出射される。
【0047】ロションプリズム38から出射した2つの
ビームはコリメータレンズ20により集束されながらホ
ログラム18を透過し、光磁気信号検出用の光検知器6
a,6bに入射する。この2つの光検知器6a,6bに
入射するビームの光量差を検出することにより、光磁気
信号が検出される。
【0048】フォーカス誤差信号及びトラッキング誤差
信号の検出については、反射ビーム52のS偏光成分の
約75%が偏光ビームスプリッタ30で反射されるの
で、出射ビームと同一光路を逆方向に進むこの反射され
たビームを利用する。
【0049】このビームはホログラム18に入射して、
ホログラム18の各領域18a〜18dでそれぞれ異な
る方向に回折されて、誤差信号検出用光検知器8a〜8
dに入射される。これにより、フォーカス誤差信号の検
出及びトラッキング誤差検出信号の検出を行うことがで
きる。
【0050】図5を参照すると、本発明第2実施形態の
ビームスプリッタユニット56の正面図が示されてい
る。ビームスプリッタユニット56は直角プリズム58
と、直角プリズム58の一面58aに接着された平行四
辺形プリズム60と、直角プリズム58の他の一面58
bに接着された四角形プリズム62と、四角形プリズム
62の底面に接着されたロションプリズム38を含んで
いる。
【0051】直角プリズム58の面58a,58b上に
は偏光ビームスプリッタ64,66がそれぞれ形成され
ている。また、平行四辺形プリズム60と四角形プリズ
ム62との界面には1/2波長板68が挿入されてい
る。偏光ビームスプリッタ64,66はそれぞれP偏光
を75%透過し、S偏光を99%反射する性質を有して
いる。
【0052】平行四辺形プリズム60の2つの頂角の角
度θ1,θ2は45度である。一方、四角形プリズム6
2の一方の頂角の角度θ3は45度であるが、他方の頂
角の角度θ4は45度よりもわずかばかり小さい角度に
なっている。
【0053】これは、四角形プリズム62の頂角の角度
θ4を45度よりも小さくすることにより、光磁気ディ
スクで反射されたビームを破線で示すようにロションプ
リズム38に斜めに入射させるためである。
【0054】本実施形態においては、偏光ビームスプリ
ッタ64,66に対してP偏光のレーザビームをビーム
スプリッタユニット56に入射する。このレーザビーム
の約75%が偏光ビームスプリッタ66,64を透過
し、対物レンズにより光磁気ディスク上にフォーカスさ
れる。
【0055】光磁気ディスクでの反射ビームは、情報が
記録されている時にはカー効果により偏光が少量回転す
る。よって、反射ビームは主にP偏光であるが、少量の
S偏光成分を含むことになる。
【0056】この反射ビームが偏光ビームスプリッタ6
4に入射し、この偏光ビームスプリッタ64によりP偏
光が25%反射され、S偏光が99%反射される。これ
により、微弱なS偏光の信号を相対的に増幅できる。
【0057】このビームは次いで、1/2波長板68に
よりその偏光面が45度回転され、四角形プリズム62
により破線で示すようにやや上向きに反射される。次い
で、偏光ビームスプリッタ66によりP偏光の25%が
反射され、S偏光の99%が反射されて、破線で示すよ
うに約5度の入射角でロションプリズム38に入射す
る。
【0058】このビームはロションプリズム38で第1
実施形態と同様にP偏光ビームとS偏光ビームに分離さ
れ、それぞれのビームが図2に示した光検知器6a,6
bにより検出される。
【0059】フォーカス誤差信号及びトラッキング誤差
信号検出については、反射ビームのうち偏光ビームスプ
リッタ64,66を透過したビームを利用する。このビ
ームが図2に示したホログラム18で4つの異なる方向
に回折され、フォーカス誤差信号用光検知器8a,8b
及びトラッキング誤差信号用光検知器8c,8dでそれ
ぞれ検出される。
【0060】図6を参照すると、本発明第3実施形態の
ビームスプリッタユニット70の正面図が示されてい
る。ビームスプリッタユニット70は図示したような形
状のプリズム72と、2つの直角プリズム74,76
と、ロションプリズム38を含んでいる。
【0061】プリズム72と直角プリズム74との界面
には偏光ビームスプリッタ78が形成され、プリズム7
2と直角プリズム74との界面には偏光ビームスプリッ
タ80が形成されている。
【0062】偏光ビームスプリッタ78はP偏光の75
%を透過し、S偏光の99%を反射する性質を有してい
る。一方、偏光ビームスプリッタ80はP偏光の75%
を反射し、S偏光の99%を透過する性質を有してい
る。プリズム72と直角プリズム76との間には1/2
波長板82が挿入されている。
【0063】プリズム72の各頂角の角度θ1,θ2,
θ3は45度であり、θ4は45度よりもわずかばかり
小さい角度になっている。これは、光磁気ディスクで反
射された反射ビームをロションプリズム38にわずかば
かり傾いた角度で入射させるためである。
【0064】本実施形態においても、図5に示した第2
実施形態と同様に偏光ビームスプリッタ78に対しての
P偏光がビームスプリッタユニット70に入射するよう
に、レーザダイオード4をビームスプリッタユニット7
0に対して配置する。
【0065】しかして、レーザダイオード4から出射さ
れたレーザビームの75%が偏光ビームスプリッタ78
を透過し、そのうちの75%が偏光ビームスプリッタ8
0で反射されて、対物レンズにより光磁気ディスク上に
フォーカスされる。
【0066】光磁気ディスクの反射ビームは情報が記録
されているときにはカー効果により偏光が少量回転す
る。よって、反射ビームは主にP偏光であるが少量のS
偏光成分を含んでいることになる。
【0067】反射ビームのP偏光成分の25%が偏光ビ
ームスプリッタ80を透過し、S偏光成分の99%が偏
光ビームスプリッタ80を透過する。この透過ビームは
1/2波長板82によりその偏光面が45度回転され、
破線で示すようにやや上向きにプリズム72で全反射さ
れて偏光ビームスプリッタ78に入射する。
【0068】偏光ビームスプリッタ78ではP偏光成分
の25%が反射され、S偏光成分の99%が反射され
る。偏光ビームスプリッタ78で反射されたビームは約
5度の入射角でロションプリズム38に入射する。
【0069】そして、ロションプリズム38でP偏光ビ
ームと、S偏光ビームに分離され、これらのビームを光
磁気信号検知用の光検知器ユニット6で差動検出するこ
とにより、光磁気信号が検出される。
【0070】一方、フォーカス誤差信号及びトラッキン
グ誤差信号検出については、光磁気ディスクで反射され
た反射ビームのうち、偏光ビームスプリッタ80で反射
され偏光ビームスプリッタ78を透過するビームを利用
する。
【0071】このビームは図2に示したホログラム18
により4つの異なる方向に回折され、それぞれフォーカ
ス誤差信号検出用の光検知器8a,8b及びトラッキン
グ誤差信号検出用の光検知器8c,8dに入射する。
【0072】
【発明の効果】本発明は以上詳述したように、偏光ビー
ムスプリッタに偏光プリズムが一体化したビームスプリ
ッタユニットを採用し、このビームスプリッタユニット
とホログラムを組み合わせて光学ヘッドを構成したた
め、小型、低価格で、且つ信頼性の高い光磁気ディスク
装置用光学ヘッドを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明第1実施形態の全体斜視図である。
【図2】第1実施形態の拡大斜視図である。
【図3】第1実施形態のビームスプリッタユニット正面
図である。
【図4】図3のロションプリズムの右側面図である。
【図5】第2実施形態のビームスプリッタユニット正面
図である。
【図6】第3実施形態のビームスプリッタユニット正面
図である。
【符号の説明】
4 レーザダイオード 6 光磁気信号検出用光検知器ユニット 8 誤差信号検出用光検知器ユニット 18 ホログラム 20 コリメータレンズ 22 ビームスプリッタユニット 30 偏光ビームスプリッタ 32 旋光膜 38 ロションプリズム 46 対物レンズ 48 光磁気ディスク

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ディスクに対して情報を読み書きする
    光ディスク装置用光学ヘッドであって、 レーザダイオードと;前記レーザダイオードからのレー
    ザビームを前記光ディスク上に集光する対物レンズと;
    前記光ディスクで反射された反射ビームから光信号を検
    出する光信号検出用光検知器と;前記反射ビームから前
    記光ディスク上に集光されたレーザビームのフォーカス
    誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う誤差信号検出
    用光検知器と;前記反射ビームの一部を前記誤差信号検
    出用光検知器に向けて回折するホログラムと;偏光ビー
    ムスプリッタと前記反射ビームの一部の偏光面を45度
    回転する旋光手段と複屈折結晶から形成されたビーム分
    離手段とを含んだ、ビームスプリッタユニットと;を具
    備したことを特徴とする光磁気ディスク装置用光学ヘッ
    ド。
  2. 【請求項2】 前記ビームスプリッタユニットは斜面を
    有する直角プリズムと、底面と該底面に対して鋭角に傾
    斜した第1及び第2側面を有し該底面で前記直角プリズ
    ムの斜面に接着された多角形プリズムとを含んでおり;
    前記直角プリズムと前記多角形プリズムとの界面に前記
    偏光ビームスプリッタ及び前記旋光手段が前記直角プリ
    ズム側からこの順に形成されている請求項1記載の光デ
    ィスク装置用光学ヘッド。
  3. 【請求項3】 前記偏光ビームスプリッタ及び前記旋光
    手段はそれぞれ誘電体多層膜から構成される請求項2記
    載の光ディスク装置用光学ヘッド。
  4. 【請求項4】 前記多角形プリズムの前記第1及び第2
    側面上にはそれぞれ反射されるビームに位相差を起こさ
    ない反射膜が形成されている請求項3記載の光ディスク
    装置用光学ヘッド。
  5. 【請求項5】 前記反射ビームの一部は前記偏光ビーム
    スプリッタ及び前記旋光手段を斜めに透過し、前記多角
    形プリズムの第1及び第2側面で反射された後、前記旋
    光手段及び前記偏光ビームスプリッタを再び透過して、
    前記レーザダイオードから前記ビームスプリッタユニッ
    トに入射されるレーザビームの光路に対して所定角度傾
    いて、複屈折結晶から形成された前記ビーム分離手段に
    入射される請求項3記載の光ディスク装置用光学ヘッ
    ド。
  6. 【請求項6】 前記ビームスプリッタに対するS偏光の
    偏光面を有するレーザビームが前記ビームスプリッタユ
    ニットに入射されるように、前記レーザダイオードに対
    して前記ビームスプリッタユニットが配置される請求項
    1記載の光ディスク装置用光学ヘッド。
  7. 【請求項7】 前記レーザダイオードから出射されたレ
    ーザビームをコリメートビームにするコリメータレンズ
    を更に含んでおり;前記ビームスプリッタユニットは前
    記コリメータレンズと前記対物レンズとの間に配置され
    ている請求項6記載の光ディスク装置用光学ヘッド。
  8. 【請求項8】 前記ビームスプリッタユニットは直角プ
    リズムと、該直角プリズムの直角を挟む2辺のうちの1
    辺に接着された底面を有する平行四辺形プリズムと、前
    記直角プリズムの前記2辺の他方と前記平行四辺形プリ
    ズムの前記底面に接着された四角形プリズムとを含んで
    おり、 前記偏光ビームスプリッタは第1偏光ビームスプリッタ
    と第2偏光ビームスプリッタとを含んでおり、前記直角
    プリズムと前記平行四辺形プリズムとの界面に前記第1
    偏光ビームスプリッタが挿入され、前記直角プリズムと
    前記四角形プリズムとの界面に前記第2偏光ビームスプ
    リッタが挿入されており、 前記旋光手段は前記平行四辺形プリズムと前記四角形プ
    リズムとの界面に形成された1/2波長板から構成され
    る請求項1記載の光ディスク装置用光学ヘッド。
  9. 【請求項9】 前記反射ビームの一部は前記第1偏光ビ
    ームスプリッタで反射され、前記1/2波長板を透過
    し、前記第2偏光ビームスプリッタで反射された後、前
    記レーザダイオードから出射されたレーザビームが前記
    ビームスプリッタユニットを透過する光路に対して所定
    角度傾いて、複屈折結晶から形成された前記ビーム分離
    手段に入射される請求項8記載の光ディスク装置用光学
    ヘッド。
  10. 【請求項10】 前記レーザダイオードから出射された
    レーザビームをコリメートビームにするコリメータレン
    ズを更に含んでおり;前記ビームスプリッタユニットは
    前記コリメータレンズと前記対物レンズとの間に配置さ
    れている請求項8記載の光ディスク装置用光学ヘッド。
  11. 【請求項11】 光磁気ディスクに対して情報を読み書
    きする光磁気ディスク装置用光学ヘッドであって、 ステムと;前記ステムに固定されたレーザダイオード
    と;前記レーザダイオードからのレーザビームを前記光
    磁気ディスク上に集光する対物レンズと;前記光磁気デ
    ィスクで反射された反射ビームから光磁気信号を検出す
    る、前記ステムに固定された光磁気信号検出用光検知器
    と;前記反射ビームから前記光磁気ディスク上に集光さ
    れたレーザビームのフォーカス誤差検出及びトラッキン
    グ誤差検出を行う、前記ステムに固定された誤差信号検
    出用光検知器と;前記レーザダイオード、前記光磁気信
    号検出用光検知器及び前記誤差信号検出用光検知器を包
    囲するように前記ステムに取り付けられたキャップと;
    前記キャップ上に搭載された、前記反射ビームの一部を
    前記誤差信号検出用光検知器に向けて回折するホログラ
    ムと;前記キャップ上に搭載された、偏光ビームスプリ
    ッタと前記反射ビームの一部の偏光面を45度回転する
    旋光手段と複屈折結晶から形成されたビーム分離手段と
    を含んだ、ビームスプリッタユニットと;を具備したこ
    とを特徴とする光磁気ディスク装置用光学ヘッド。
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