JPH09245369A - 光ディスク装置用光学ヘッド - Google Patents
光ディスク装置用光学ヘッドInfo
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- JPH09245369A JPH09245369A JP8052972A JP5297296A JPH09245369A JP H09245369 A JPH09245369 A JP H09245369A JP 8052972 A JP8052972 A JP 8052972A JP 5297296 A JP5297296 A JP 5297296A JP H09245369 A JPH09245369 A JP H09245369A
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- beam splitter
- prism
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1356—Double or multiple prisms, i.e. having two or more prisms in cooperation
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
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- G—PHYSICS
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/123—Integrated head arrangements, e.g. with source and detectors mounted on the same substrate
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明の課題は、大幅な部品と調整工数の削
減を図ることができ、更に小型軽量化を図ることのでき
る光磁気ディスク装置用光学ヘッドを提供することであ
る。 【解決手段】 光磁気ディスク装置用光学ヘッドであっ
て、ステム上に搭載されたレーザダイオードと、光磁気
信号を検出する光検知器ユニットと、フォーカス誤差信
号及びトラッキング誤差信号の検出を行う光検知器ユニ
ットとを含んでいる。ステム上にはレーザダイオード及
び光検知器ユニットを包囲するようにキャップが取り付
けられている。このキャップ上には、偏光ビームスプリ
ッタと光ディスクからの反射ビームの一部の偏光面を４
５度回転する旋光膜とロションプリズムとを含んだビー
ムスプリッタユニットが搭載されている。キャップ上に
は反射ビームの一部を誤差信号検出用の光検知器ユニッ
トに向けて回折するホログラムが搭載されている。
減を図ることができ、更に小型軽量化を図ることのでき
る光磁気ディスク装置用光学ヘッドを提供することであ
る。 【解決手段】 光磁気ディスク装置用光学ヘッドであっ
て、ステム上に搭載されたレーザダイオードと、光磁気
信号を検出する光検知器ユニットと、フォーカス誤差信
号及びトラッキング誤差信号の検出を行う光検知器ユニ
ットとを含んでいる。ステム上にはレーザダイオード及
び光検知器ユニットを包囲するようにキャップが取り付
けられている。このキャップ上には、偏光ビームスプリ
ッタと光ディスクからの反射ビームの一部の偏光面を４
５度回転する旋光膜とロションプリズムとを含んだビー
ムスプリッタユニットが搭載されている。キャップ上に
は反射ビームの一部を誤差信号検出用の光検知器ユニッ
トに向けて回折するホログラムが搭載されている。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光磁気ディスク装置
用光学ヘッド（光ピックアップ）に関する。光磁気ディ
スクを含む光ディスクは近年急速に発展するマルチメデ
ィア化の中で中核となるメモリ媒体として脚光を浴びて
おり、通常カートリッジの中に収容された状態で使用さ
れる。
用光学ヘッド（光ピックアップ）に関する。光磁気ディ
スクを含む光ディスクは近年急速に発展するマルチメデ
ィア化の中で中核となるメモリ媒体として脚光を浴びて
おり、通常カートリッジの中に収容された状態で使用さ
れる。
【０００２】光ディスクカートリッジが光ディスク装置
内にローディングされ、光学ヘッドにより光ディスクへ
のデータのライト／リードが行われる。
内にローディングされ、光学ヘッドにより光ディスクへ
のデータのライト／リードが行われる。
【０００３】
【従来の技術】光ディスク、光磁気ディスク等の記録媒
体は記録媒体を取り替えて使用するものであり、またこ
れらの記録媒体は成型時の歪みによって反りやうねりが
生じている。
体は記録媒体を取り替えて使用するものであり、またこ
れらの記録媒体は成型時の歪みによって反りやうねりが
生じている。
【０００４】そのため、記録媒体には偏心や傾きが生じ
やすい。従って、記録された情報を読みだすためにはフ
ォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を行わ
なくてはならない。
やすい。従って、記録された情報を読みだすためにはフ
ォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を行わ
なくてはならない。
【０００５】従来の光磁気ディスク用光学ヘッドでは、
光磁気ディスクに書き込まれた情報の検出に加えて、フ
ォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う
ために、複数のレンズ及び複数の偏光ビームスプリッタ
を含む多くの光学部品を用いて光学ヘッドを構成してい
た。
光磁気ディスクに書き込まれた情報の検出に加えて、フ
ォーカシング誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う
ために、複数のレンズ及び複数の偏光ビームスプリッタ
を含む多くの光学部品を用いて光学ヘッドを構成してい
た。
【０００６】他の従来技術として、光ディスク装置の光
学ヘッドにホログラムを用いたものがいくつか提案され
ている。ホログラムはレーザダイオード、光検知器（フ
ォトディテクタ）と共に一体化され、サーボ制御のため
のレーザビームの誤差検出を行う。
学ヘッドにホログラムを用いたものがいくつか提案され
ている。ホログラムはレーザダイオード、光検知器（フ
ォトディテクタ）と共に一体化され、サーボ制御のため
のレーザビームの誤差検出を行う。
【０００７】しかし、ホログラムを用いた従来の光学ヘ
ッドはＣＤドライバ或いはＣＤ−ＲＯＭドライバでは有
効であるが、光磁気信号検出に必要な偏光分離機能がな
いため、光磁気ディスク装置の光学ヘッドにそのまま適
用することはできない。
ッドはＣＤドライバ或いはＣＤ−ＲＯＭドライバでは有
効であるが、光磁気信号検出に必要な偏光分離機能がな
いため、光磁気ディスク装置の光学ヘッドにそのまま適
用することはできない。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】このように従来の光磁
気ディスク装置用光学ヘッドは、数多くの光学部品を必
要とし、その構造が複雑であり、組み立て工数もかかる
という問題があった。また、ホログラムを用いた光学ヘ
ッドでは、光磁気信号検出を行う光磁気ディスク装置に
はそのまま適用できないという問題があった。
気ディスク装置用光学ヘッドは、数多くの光学部品を必
要とし、その構造が複雑であり、組み立て工数もかかる
という問題があった。また、ホログラムを用いた光学ヘ
ッドでは、光磁気信号検出を行う光磁気ディスク装置に
はそのまま適用できないという問題があった。
【０００９】よって本発明の目的は、複数の光学部品を
一体化した光学ユニットを使用することにより、光学部
品と調整工数の削減及び小型軽量化を図ることのできる
光磁気ディスク装置用光学ヘッドを提供することであ
る。
一体化した光学ユニットを使用することにより、光学部
品と調整工数の削減及び小型軽量化を図ることのできる
光磁気ディスク装置用光学ヘッドを提供することであ
る。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明によると、光磁気
ディスクに対して情報を読み書きする光磁気ディスク装
置用光学ヘッドであって、ステムと；前記ステムに固定
されたレーザダイオードと；前記レーザダイオードから
のレーザビームを前記光磁気ディスク上に集光する対物
レンズと；前記光磁気ディスクで反射された反射ビーム
から光磁気信号を検出する、前記ステムに固定された光
磁気信号検出用光検知器と；前記反射ビームから前記光
磁気ディスク上に集光されたレーザビームのフォーカス
誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う、前記ステム
に固定された誤差信号検出用光検知器と；前記レーザダ
イオード、前記光磁気信号検出用光検知器及び前記誤差
信号検出用光検知器を包囲するように前記ステムに取り
付けられたキャップと；前記キャップ上に搭載された、
前記反射ビームの一部を前記誤差信号検出用光検知器に
向けて回折するホログラムと；前記キャップ上に搭載さ
れた、偏光ビームスプリッタと前記反射ビームの一部の
偏光面を４５度回転する旋光手段と複屈折結晶から形成
されたビーム分離手段とを含んだ、ビームスプリッタユ
ニットと；を具備したことを特徴とする光磁気ディスク
装置用光学ヘッドが提供される。
ディスクに対して情報を読み書きする光磁気ディスク装
置用光学ヘッドであって、ステムと；前記ステムに固定
されたレーザダイオードと；前記レーザダイオードから
のレーザビームを前記光磁気ディスク上に集光する対物
レンズと；前記光磁気ディスクで反射された反射ビーム
から光磁気信号を検出する、前記ステムに固定された光
磁気信号検出用光検知器と；前記反射ビームから前記光
磁気ディスク上に集光されたレーザビームのフォーカス
誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う、前記ステム
に固定された誤差信号検出用光検知器と；前記レーザダ
イオード、前記光磁気信号検出用光検知器及び前記誤差
信号検出用光検知器を包囲するように前記ステムに取り
付けられたキャップと；前記キャップ上に搭載された、
前記反射ビームの一部を前記誤差信号検出用光検知器に
向けて回折するホログラムと；前記キャップ上に搭載さ
れた、偏光ビームスプリッタと前記反射ビームの一部の
偏光面を４５度回転する旋光手段と複屈折結晶から形成
されたビーム分離手段とを含んだ、ビームスプリッタユ
ニットと；を具備したことを特徴とする光磁気ディスク
装置用光学ヘッドが提供される。
【００１１】好ましくは、複屈折結晶から形成されたビ
ーム分離手段はロションプリズム、ウォラストンプリズ
ム等の偏光プリズムから形成される。また、偏光ビーム
スプリッタ及び偏光面を４５度回転する旋光手段は、そ
れぞれ誘電体多層膜から形成される。
ーム分離手段はロションプリズム、ウォラストンプリズ
ム等の偏光プリズムから形成される。また、偏光ビーム
スプリッタ及び偏光面を４５度回転する旋光手段は、そ
れぞれ誘電体多層膜から形成される。
【００１２】本発明によれば、複数の光学部品を一体化
したビームスプリッタユニットをレーザダイオード及び
光検知器を包囲するキャップ上に搭載したため、光学部
品及び調整工数の削減を図ることができ、小型の光磁気
ディスク用光学ヘッドを実現することができる。
したビームスプリッタユニットをレーザダイオード及び
光検知器を包囲するキャップ上に搭載したため、光学部
品及び調整工数の削減を図ることができ、小型の光磁気
ディスク用光学ヘッドを実現することができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１〜図４を参照して、本発明第
１実施形態の光磁気ディスク装置用光学ヘッドについて
説明する。図１に示すように、光学ヘッド１は光磁気デ
ィスク４８に対して情報を読み書きする。
１実施形態の光磁気ディスク装置用光学ヘッドについて
説明する。図１に示すように、光学ヘッド１は光磁気デ
ィスク４８に対して情報を読み書きする。
【００１４】図２に示すように、ステム２上にはレーザ
ダイオード４、光磁気信号検出用光検知器ユニット（フ
ォトダイオードユニット）６及びフォーカシング誤差信
号及びトラッキング誤差信号検出用の光検知器ユニット
８がダイボンディング等により搭載されている。ステム
２の裏面には複数の端子３が突出している。
ダイオード４、光磁気信号検出用光検知器ユニット（フ
ォトダイオードユニット）６及びフォーカシング誤差信
号及びトラッキング誤差信号検出用の光検知器ユニット
８がダイボンディング等により搭載されている。ステム
２の裏面には複数の端子３が突出している。
【００１５】光検知器ユニット６はＰ偏光成分を検出す
る光検知器６ａと、Ｓ偏光成分を検出する光検知器６ｂ
とを含んでいる。この２つの光検知器６ａ，６ｂで検出
された信号を従来よく知られた方法で差動検出すること
により、光磁気信号が検出される。
る光検知器６ａと、Ｓ偏光成分を検出する光検知器６ｂ
とを含んでいる。この２つの光検知器６ａ，６ｂで検出
された信号を従来よく知られた方法で差動検出すること
により、光磁気信号が検出される。
【００１６】光検知器ユニット８はフォーカシング誤差
検知用の光検知器８ａ，８ｂと、トラッキング誤差検知
用の光検知器８ｃ，８ｄとを含んでいる。光検知器８ａ
は分割線１０により２つの領域に分割されており、同様
に光検知器８ｂも分割線１２により２つの領域に分割さ
れている。
検知用の光検知器８ａ，８ｂと、トラッキング誤差検知
用の光検知器８ｃ，８ｄとを含んでいる。光検知器８ａ
は分割線１０により２つの領域に分割されており、同様
に光検知器８ｂも分割線１２により２つの領域に分割さ
れている。
【００１７】ステム２にはレーザダイオード４，光検知
器ユニット６及び光検知器ユニット８を包囲するキャッ
プ１４が搭載されている。キャップ１４はその上面に図
示しない開口を有しており、この開口を覆うようにガラ
ス基板１６が搭載されている。
器ユニット６及び光検知器ユニット８を包囲するキャッ
プ１４が搭載されている。キャップ１４はその上面に図
示しない開口を有しており、この開口を覆うようにガラ
ス基板１６が搭載されている。
【００１８】ガラス基板１６上にはホログラム回折格子
１８が形成されている。ホログラム１８は４つの異なる
干渉縞領域１８ａ〜１８ｄを有している。ホログラム１
８の各領域１８ａ〜１８ｄに入射したビームはそれぞれ
異なる方向に回折される。
１８が形成されている。ホログラム１８は４つの異なる
干渉縞領域１８ａ〜１８ｄを有している。ホログラム１
８の各領域１８ａ〜１８ｄに入射したビームはそれぞれ
異なる方向に回折される。
【００１９】ホログラム１８の領域１８ａ，１８ｂがフ
ォーカス誤差信号（ＦＥＳ）検出用であり、領域１８
ｃ，１８ｄがトラッキング誤差信号（ＴＥＳ）検出用で
ある。これらの各領域の大きさは、それぞれの光磁気デ
ィスク装置で要求される光量の分配に応じて決定され
る。
ォーカス誤差信号（ＦＥＳ）検出用であり、領域１８
ｃ，１８ｄがトラッキング誤差信号（ＴＥＳ）検出用で
ある。これらの各領域の大きさは、それぞれの光磁気デ
ィスク装置で要求される光量の分配に応じて決定され
る。
【００２０】領域１８ａ，１８ｂで回折されたビームは
フォーカス誤差信号検知用の光検知器８ａ，８ｂにそれ
ぞれ入射される。一方、領域１８ｃ，１８ｄで回折され
たビームはトラッキング誤差信号検知用の光検知器８
ｃ，８ｄにそれぞれ入射する。
フォーカス誤差信号検知用の光検知器８ａ，８ｂにそれ
ぞれ入射される。一方、領域１８ｃ，１８ｄで回折され
たビームはトラッキング誤差信号検知用の光検知器８
ｃ，８ｄにそれぞれ入射する。
【００２１】フォーカス誤差信号（ＦＥＳ）は、光検知
器８ａの分割線１０の右側領域に入射する光量をＡ、左
側領域に入射する光量をＢとし、光検知器８ｂの分割線
１２の左側領域に入射する光量をＣ、右側領域に入射す
る光量をＤとすると、 ＦＥＳ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ） で検出することができる。
器８ａの分割線１０の右側領域に入射する光量をＡ、左
側領域に入射する光量をＢとし、光検知器８ｂの分割線
１２の左側領域に入射する光量をＣ、右側領域に入射す
る光量をＤとすると、 ＦＥＳ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ） で検出することができる。
【００２２】また、トラック誤差信号（ＴＥＳ）は、光
検知器８ｃ，８ｄに入射する光量をＥ，Ｆとすると、 ＴＥＳ＝（Ｃ−Ｅ） で検出することができる。
検知器８ｃ，８ｄに入射する光量をＥ，Ｆとすると、 ＴＥＳ＝（Ｃ−Ｅ） で検出することができる。
【００２３】ホログラムの作成は、例えば電子ビームや
レーザビームの直接描画により行う。直接描画では、ホ
ログラムの干渉縞断面に傾斜を付け、高効率化を図る必
要が生じるが、多重描画により作成が可能である。
レーザビームの直接描画により行う。直接描画では、ホ
ログラムの干渉縞断面に傾斜を付け、高効率化を図る必
要が生じるが、多重描画により作成が可能である。
【００２４】これ以外のホログラムの作成方法として
は、あらかじめホログラムパターンを大きく直接描画
し、ステッパーにより縮小しマスクを作成し、フォトリ
ソグラフィによりパターンを転写する方法がある。
は、あらかじめホログラムパターンを大きく直接描画
し、ステッパーにより縮小しマスクを作成し、フォトリ
ソグラフィによりパターンを転写する方法がある。
【００２５】この場合には、フォトレジスト等をマスク
とし、イオンビームによるエッチングで干渉縞パターン
を作成する。また、ホログラムを補助露光系として、ホ
ログラフィック露光により作成することも可能である。
とし、イオンビームによるエッチングで干渉縞パターン
を作成する。また、ホログラムを補助露光系として、ホ
ログラフィック露光により作成することも可能である。
【００２６】図１に示すように、キャップ１４上にはコ
リメータレンズ２０及びビームスプリッタユニット２２
がホルダ２４で一体化されて搭載されている。コリメー
タレンズ２０はレーザダイオード４から出射されたレー
ザビームをコリメートビームにするものである。
リメータレンズ２０及びビームスプリッタユニット２２
がホルダ２４で一体化されて搭載されている。コリメー
タレンズ２０はレーザダイオード４から出射されたレー
ザビームをコリメートビームにするものである。
【００２７】図３に最もよく示されるように、ビームス
プリッタユニット２２は直角プリズム２６と、直角プリ
ズム２６の斜面２６ａに接着された四角形プリズム２８
と、直角プリズム２６の底面に接着されたロションプリ
ズム３８とを含んでいる。
プリッタユニット２２は直角プリズム２６と、直角プリ
ズム２６の斜面２６ａに接着された四角形プリズム２８
と、直角プリズム２６の底面に接着されたロションプリ
ズム３８とを含んでいる。
【００２８】直角プリズム２６の斜面２６ａ上には誘電
体多層膜から形成された偏光ビームスプリッタ３０が蒸
着されており、偏光ビームスプリッタ３０上には誘電体
多層膜から形成された旋光膜３２が積層されている。
体多層膜から形成された偏光ビームスプリッタ３０が蒸
着されており、偏光ビームスプリッタ３０上には誘電体
多層膜から形成された旋光膜３２が積層されている。
【００２９】この偏光ビームスプリッタ３０は、例えば
Ｐ偏光に対して１００％の透過率、Ｓ偏光に対して７５
％の反射率を有している。旋光膜３２は光磁気ディスク
４８で反射された反射ビームの一部の偏光面を４５度回
転する性質を有している。
Ｐ偏光に対して１００％の透過率、Ｓ偏光に対して７５
％の反射率を有している。旋光膜３２は光磁気ディスク
４８で反射された反射ビームの一部の偏光面を４５度回
転する性質を有している。
【００３０】直角プリズム２６の斜面２６ａ上に偏光ビ
ームスプリッタ３０，旋光膜３２を蒸着する代わりに、
四角形プリズム２８の底面２８ａ上に旋光膜３２及び偏
光ビームスプリッタ３０を蒸着するようにしてもよい。
ームスプリッタ３０，旋光膜３２を蒸着する代わりに、
四角形プリズム２８の底面２８ａ上に旋光膜３２及び偏
光ビームスプリッタ３０を蒸着するようにしてもよい。
【００３１】四角形プリズム２８は底面２８ａに対して
鋭角をなす側面２８ｂ，２８ｃを有している。各側面２
８ｂ，２８ｃには反射膜３４，３６がそれぞれ形成され
ている。これらの反射膜３４，３６は反射されるビーム
に位相差が生じないような性質を有している。
鋭角をなす側面２８ｂ，２８ｃを有している。各側面２
８ｂ，２８ｃには反射膜３４，３６がそれぞれ形成され
ている。これらの反射膜３４，３６は反射されるビーム
に位相差が生じないような性質を有している。
【００３２】図４に示すように、ロションプリズム３８
は光学軸４０ａ，４２ａが互いに直交するように切り出
された複屈折結晶からなる２つの直角プリズム４０，４
２をバルサムで接合して形成される。直角プリズム４
０，４２の光学軸４０ａ，４２ａはＳ偏光の偏光面に対
して直交している。
は光学軸４０ａ，４２ａが互いに直交するように切り出
された複屈折結晶からなる２つの直角プリズム４０，４
２をバルサムで接合して形成される。直角プリズム４
０，４２の光学軸４０ａ，４２ａはＳ偏光の偏光面に対
して直交している。
【００３３】複屈折結晶としては方解石、水晶及びリチ
ウムナイオベート（ＬｉＮｂＯ3 ）等が採用可能であ
る。ロションプリズム３８に代えて、ウォラストンプリ
ズム等の他の偏光プリズムも採用可能である。
ウムナイオベート（ＬｉＮｂＯ3 ）等が採用可能であ
る。ロションプリズム３８に代えて、ウォラストンプリ
ズム等の他の偏光プリズムも採用可能である。
【００３４】再び図１を参照すると、ビームスプリッタ
ユニット２２からのレーザビームはミラー４で反射さ
れ、対物レンズ４６で光磁気ディスク４８上にフォーカ
スされる。
ユニット２２からのレーザビームはミラー４で反射さ
れ、対物レンズ４６で光磁気ディスク４８上にフォーカ
スされる。
【００３５】しかして、レーザダイオード４からは直線
偏光のレーザビームが出射され、偏光ビームスプリッタ
３０に対してＳ偏光でビームスプリッタユニット２２に
レーザビームが入射するように、ビームスプリッタユニ
ット２２に対してレーザダイオード４が配置されてい
る。
偏光のレーザビームが出射され、偏光ビームスプリッタ
３０に対してＳ偏光でビームスプリッタユニット２２に
レーザビームが入射するように、ビームスプリッタユニ
ット２２に対してレーザダイオード４が配置されてい
る。
【００３６】レーザダイオード４から出射されたレーザ
ビームはホログラム１８を透過し、コリメータレンズ２
０でコリメートビームに変換される。このコリメートビ
ームは実質上直角関係でロションプリズム３８に入射す
るため、ロションプリズム３８を直進して直角プリズム
２６に入射する。
ビームはホログラム１８を透過し、コリメータレンズ２
０でコリメートビームに変換される。このコリメートビ
ームは実質上直角関係でロションプリズム３８に入射す
るため、ロションプリズム３８を直進して直角プリズム
２６に入射する。
【００３７】次いで、直角プリズム２６と四角形プリズ
ム２８の界面に形成された偏光ビームスプリッタ３０で
約７５％の反射率で反射される。このビームが破線５０
で示されている。
ム２８の界面に形成された偏光ビームスプリッタ３０で
約７５％の反射率で反射される。このビームが破線５０
で示されている。
【００３８】偏光ビームスプリッタ３０で反射されたレ
ーザビームは図１に示すようにミラー４４で反射され、
対物レンズ４６により光磁気ディスク４８上にフォーカ
スされる。
ーザビームは図１に示すようにミラー４４で反射され、
対物レンズ４６により光磁気ディスク４８上にフォーカ
スされる。
【００３９】光磁気ディスク４８からの反射ビームは、
情報が光磁気ディスク４８に記録されているときにはカ
ー効果により偏光が少量回転する。よって、光磁気ディ
スク４８からの反射ビーム５２は主にＳ偏光であるが、
少量のＰ偏光成分を含んでいる。
情報が光磁気ディスク４８に記録されているときにはカ
ー効果により偏光が少量回転する。よって、光磁気ディ
スク４８からの反射ビーム５２は主にＳ偏光であるが、
少量のＰ偏光成分を含んでいる。
【００４０】この反射ビーム５２は、図３に示すように
偏光ビームスプリッタ３０に入射し、Ｓ偏光成分の２５
％、Ｐ偏光成分の１００％が偏光ビームスプリッタ３０
を透過する。これにより、微弱なＰ偏光の信号が相対的
に増幅される。
偏光ビームスプリッタ３０に入射し、Ｓ偏光成分の２５
％、Ｐ偏光成分の１００％が偏光ビームスプリッタ３０
を透過する。これにより、微弱なＰ偏光の信号が相対的
に増幅される。
【００４１】偏光ビームスプリッタ３０を透過した反射
ビームは点５３の位置で旋光膜３２に入射し、その偏光
面が４５度回転される。次いで、このビームは四角形プ
リズム２８の側面２８ｂ，２８ｃに形成した反射膜３
４，３６でそれぞれ反射されて、再び旋光膜３２に点５
５の位置で入射する。
ビームは点５３の位置で旋光膜３２に入射し、その偏光
面が４５度回転される。次いで、このビームは四角形プ
リズム２８の側面２８ｂ，２８ｃに形成した反射膜３
４，３６でそれぞれ反射されて、再び旋光膜３２に点５
５の位置で入射する。
【００４２】この場合には、旋光膜３２でビームの偏光
面が回転されることなく、Ｐ偏光とＳ偏光の位相差を補
償する性質を旋光膜３２は有している。旋光膜３２を透
過したビームは再び偏光ビームスプリッタ３０に入射す
る。
面が回転されることなく、Ｐ偏光とＳ偏光の位相差を補
償する性質を旋光膜３２は有している。旋光膜３２を透
過したビームは再び偏光ビームスプリッタ３０に入射す
る。
【００４３】Ｓ偏光の２５％、Ｐ偏光の１００％が偏光
ビームスプリッタを透過するため、総合すると、反射ビ
ームのうちＳ偏光は６．２５％、Ｐ偏光は１００％で偏
光ビームスプリッタ３０を透過することになる。
ビームスプリッタを透過するため、総合すると、反射ビ
ームのうちＳ偏光は６．２５％、Ｐ偏光は１００％で偏
光ビームスプリッタ３０を透過することになる。
【００４４】偏光ビームスプリッタ３０を再度透過した
反射ビームは入射角θでロションプリズム３８に入射す
る。即ち、レーザダイオード４からのレーザビーム５０
の光路に対してθ傾いて光磁気ディスク４８からの反射
ビームの一部がロションプリズム３８に入射する。
反射ビームは入射角θでロションプリズム３８に入射す
る。即ち、レーザダイオード４からのレーザビーム５０
の光路に対してθ傾いて光磁気ディスク４８からの反射
ビームの一部がロションプリズム３８に入射する。
【００４５】この角度θは四角形プリズム２８の頂角
（側面２８ｂと２８ｃとのなす角）により決定される。
望ましくはθは約３度〜約１０度の範囲内であり、本実
施形態ではθ＝５度を採用した。θ＝０度の場合には、
光磁気信号検出用の光検知器６ａ，６ｂをレーザダイオ
ード４の両サイドに配置する必要がある。
（側面２８ｂと２８ｃとのなす角）により決定される。
望ましくはθは約３度〜約１０度の範囲内であり、本実
施形態ではθ＝５度を採用した。θ＝０度の場合には、
光磁気信号検出用の光検知器６ａ，６ｂをレーザダイオ
ード４の両サイドに配置する必要がある。
【００４６】図４に示すように、ロションプリズム３８
に斜めに入射したＳ偏光はそのまま直進してロションプ
リズム３８から出射される。一方、Ｐ偏光はロションプ
リズム３８の複屈折の性質により、入射ビームに対して
斜めに屈折されて出射される。
に斜めに入射したＳ偏光はそのまま直進してロションプ
リズム３８から出射される。一方、Ｐ偏光はロションプ
リズム３８の複屈折の性質により、入射ビームに対して
斜めに屈折されて出射される。
【００４７】ロションプリズム３８から出射した２つの
ビームはコリメータレンズ２０により集束されながらホ
ログラム１８を透過し、光磁気信号検出用の光検知器６
ａ，６ｂに入射する。この２つの光検知器６ａ，６ｂに
入射するビームの光量差を検出することにより、光磁気
信号が検出される。
ビームはコリメータレンズ２０により集束されながらホ
ログラム１８を透過し、光磁気信号検出用の光検知器６
ａ，６ｂに入射する。この２つの光検知器６ａ，６ｂに
入射するビームの光量差を検出することにより、光磁気
信号が検出される。
【００４８】フォーカス誤差信号及びトラッキング誤差
信号の検出については、反射ビーム５２のＳ偏光成分の
約７５％が偏光ビームスプリッタ３０で反射されるの
で、出射ビームと同一光路を逆方向に進むこの反射され
たビームを利用する。
信号の検出については、反射ビーム５２のＳ偏光成分の
約７５％が偏光ビームスプリッタ３０で反射されるの
で、出射ビームと同一光路を逆方向に進むこの反射され
たビームを利用する。
【００４９】このビームはホログラム１８に入射して、
ホログラム１８の各領域１８ａ〜１８ｄでそれぞれ異な
る方向に回折されて、誤差信号検出用光検知器８ａ〜８
ｄに入射される。これにより、フォーカス誤差信号の検
出及びトラッキング誤差検出信号の検出を行うことがで
きる。
ホログラム１８の各領域１８ａ〜１８ｄでそれぞれ異な
る方向に回折されて、誤差信号検出用光検知器８ａ〜８
ｄに入射される。これにより、フォーカス誤差信号の検
出及びトラッキング誤差検出信号の検出を行うことがで
きる。
【００５０】図５を参照すると、本発明第２実施形態の
ビームスプリッタユニット５６の正面図が示されてい
る。ビームスプリッタユニット５６は直角プリズム５８
と、直角プリズム５８の一面５８ａに接着された平行四
辺形プリズム６０と、直角プリズム５８の他の一面５８
ｂに接着された四角形プリズム６２と、四角形プリズム
６２の底面に接着されたロションプリズム３８を含んで
いる。
ビームスプリッタユニット５６の正面図が示されてい
る。ビームスプリッタユニット５６は直角プリズム５８
と、直角プリズム５８の一面５８ａに接着された平行四
辺形プリズム６０と、直角プリズム５８の他の一面５８
ｂに接着された四角形プリズム６２と、四角形プリズム
６２の底面に接着されたロションプリズム３８を含んで
いる。
【００５１】直角プリズム５８の面５８ａ，５８ｂ上に
は偏光ビームスプリッタ６４，６６がそれぞれ形成され
ている。また、平行四辺形プリズム６０と四角形プリズ
ム６２との界面には１／２波長板６８が挿入されてい
る。偏光ビームスプリッタ６４，６６はそれぞれＰ偏光
を７５％透過し、Ｓ偏光を９９％反射する性質を有して
いる。
は偏光ビームスプリッタ６４，６６がそれぞれ形成され
ている。また、平行四辺形プリズム６０と四角形プリズ
ム６２との界面には１／２波長板６８が挿入されてい
る。偏光ビームスプリッタ６４，６６はそれぞれＰ偏光
を７５％透過し、Ｓ偏光を９９％反射する性質を有して
いる。
【００５２】平行四辺形プリズム６０の２つの頂角の角
度θ１，θ２は４５度である。一方、四角形プリズム６
２の一方の頂角の角度θ３は４５度であるが、他方の頂
角の角度θ４は４５度よりもわずかばかり小さい角度に
なっている。
度θ１，θ２は４５度である。一方、四角形プリズム６
２の一方の頂角の角度θ３は４５度であるが、他方の頂
角の角度θ４は４５度よりもわずかばかり小さい角度に
なっている。
【００５３】これは、四角形プリズム６２の頂角の角度
θ４を４５度よりも小さくすることにより、光磁気ディ
スクで反射されたビームを破線で示すようにロションプ
リズム３８に斜めに入射させるためである。
θ４を４５度よりも小さくすることにより、光磁気ディ
スクで反射されたビームを破線で示すようにロションプ
リズム３８に斜めに入射させるためである。
【００５４】本実施形態においては、偏光ビームスプリ
ッタ６４，６６に対してＰ偏光のレーザビームをビーム
スプリッタユニット５６に入射する。このレーザビーム
の約７５％が偏光ビームスプリッタ６６，６４を透過
し、対物レンズにより光磁気ディスク上にフォーカスさ
れる。
ッタ６４，６６に対してＰ偏光のレーザビームをビーム
スプリッタユニット５６に入射する。このレーザビーム
の約７５％が偏光ビームスプリッタ６６，６４を透過
し、対物レンズにより光磁気ディスク上にフォーカスさ
れる。
【００５５】光磁気ディスクでの反射ビームは、情報が
記録されている時にはカー効果により偏光が少量回転す
る。よって、反射ビームは主にＰ偏光であるが、少量の
Ｓ偏光成分を含むことになる。
記録されている時にはカー効果により偏光が少量回転す
る。よって、反射ビームは主にＰ偏光であるが、少量の
Ｓ偏光成分を含むことになる。
【００５６】この反射ビームが偏光ビームスプリッタ６
４に入射し、この偏光ビームスプリッタ６４によりＰ偏
光が２５％反射され、Ｓ偏光が９９％反射される。これ
により、微弱なＳ偏光の信号を相対的に増幅できる。
４に入射し、この偏光ビームスプリッタ６４によりＰ偏
光が２５％反射され、Ｓ偏光が９９％反射される。これ
により、微弱なＳ偏光の信号を相対的に増幅できる。
【００５７】このビームは次いで、１／２波長板６８に
よりその偏光面が４５度回転され、四角形プリズム６２
により破線で示すようにやや上向きに反射される。次い
で、偏光ビームスプリッタ６６によりＰ偏光の２５％が
反射され、Ｓ偏光の９９％が反射されて、破線で示すよ
うに約５度の入射角でロションプリズム３８に入射す
る。
よりその偏光面が４５度回転され、四角形プリズム６２
により破線で示すようにやや上向きに反射される。次い
で、偏光ビームスプリッタ６６によりＰ偏光の２５％が
反射され、Ｓ偏光の９９％が反射されて、破線で示すよ
うに約５度の入射角でロションプリズム３８に入射す
る。
【００５８】このビームはロションプリズム３８で第１
実施形態と同様にＰ偏光ビームとＳ偏光ビームに分離さ
れ、それぞれのビームが図２に示した光検知器６ａ，６
ｂにより検出される。
実施形態と同様にＰ偏光ビームとＳ偏光ビームに分離さ
れ、それぞれのビームが図２に示した光検知器６ａ，６
ｂにより検出される。
【００５９】フォーカス誤差信号及びトラッキング誤差
信号検出については、反射ビームのうち偏光ビームスプ
リッタ６４，６６を透過したビームを利用する。このビ
ームが図２に示したホログラム１８で４つの異なる方向
に回折され、フォーカス誤差信号用光検知器８ａ，８ｂ
及びトラッキング誤差信号用光検知器８ｃ，８ｄでそれ
ぞれ検出される。
信号検出については、反射ビームのうち偏光ビームスプ
リッタ６４，６６を透過したビームを利用する。このビ
ームが図２に示したホログラム１８で４つの異なる方向
に回折され、フォーカス誤差信号用光検知器８ａ，８ｂ
及びトラッキング誤差信号用光検知器８ｃ，８ｄでそれ
ぞれ検出される。
【００６０】図６を参照すると、本発明第３実施形態の
ビームスプリッタユニット７０の正面図が示されてい
る。ビームスプリッタユニット７０は図示したような形
状のプリズム７２と、２つの直角プリズム７４，７６
と、ロションプリズム３８を含んでいる。
ビームスプリッタユニット７０の正面図が示されてい
る。ビームスプリッタユニット７０は図示したような形
状のプリズム７２と、２つの直角プリズム７４，７６
と、ロションプリズム３８を含んでいる。
【００６１】プリズム７２と直角プリズム７４との界面
には偏光ビームスプリッタ７８が形成され、プリズム７
２と直角プリズム７４との界面には偏光ビームスプリッ
タ８０が形成されている。
には偏光ビームスプリッタ７８が形成され、プリズム７
２と直角プリズム７４との界面には偏光ビームスプリッ
タ８０が形成されている。
【００６２】偏光ビームスプリッタ７８はＰ偏光の７５
％を透過し、Ｓ偏光の９９％を反射する性質を有してい
る。一方、偏光ビームスプリッタ８０はＰ偏光の７５％
を反射し、Ｓ偏光の９９％を透過する性質を有してい
る。プリズム７２と直角プリズム７６との間には１／２
波長板８２が挿入されている。
％を透過し、Ｓ偏光の９９％を反射する性質を有してい
る。一方、偏光ビームスプリッタ８０はＰ偏光の７５％
を反射し、Ｓ偏光の９９％を透過する性質を有してい
る。プリズム７２と直角プリズム７６との間には１／２
波長板８２が挿入されている。
【００６３】プリズム７２の各頂角の角度θ１，θ２，
θ３は４５度であり、θ４は４５度よりもわずかばかり
小さい角度になっている。これは、光磁気ディスクで反
射された反射ビームをロションプリズム３８にわずかば
かり傾いた角度で入射させるためである。
θ３は４５度であり、θ４は４５度よりもわずかばかり
小さい角度になっている。これは、光磁気ディスクで反
射された反射ビームをロションプリズム３８にわずかば
かり傾いた角度で入射させるためである。
【００６４】本実施形態においても、図５に示した第２
実施形態と同様に偏光ビームスプリッタ７８に対しての
Ｐ偏光がビームスプリッタユニット７０に入射するよう
に、レーザダイオード４をビームスプリッタユニット７
０に対して配置する。
実施形態と同様に偏光ビームスプリッタ７８に対しての
Ｐ偏光がビームスプリッタユニット７０に入射するよう
に、レーザダイオード４をビームスプリッタユニット７
０に対して配置する。
【００６５】しかして、レーザダイオード４から出射さ
れたレーザビームの７５％が偏光ビームスプリッタ７８
を透過し、そのうちの７５％が偏光ビームスプリッタ８
０で反射されて、対物レンズにより光磁気ディスク上に
フォーカスされる。
れたレーザビームの７５％が偏光ビームスプリッタ７８
を透過し、そのうちの７５％が偏光ビームスプリッタ８
０で反射されて、対物レンズにより光磁気ディスク上に
フォーカスされる。
【００６６】光磁気ディスクの反射ビームは情報が記録
されているときにはカー効果により偏光が少量回転す
る。よって、反射ビームは主にＰ偏光であるが少量のＳ
偏光成分を含んでいることになる。
されているときにはカー効果により偏光が少量回転す
る。よって、反射ビームは主にＰ偏光であるが少量のＳ
偏光成分を含んでいることになる。
【００６７】反射ビームのＰ偏光成分の２５％が偏光ビ
ームスプリッタ８０を透過し、Ｓ偏光成分の９９％が偏
光ビームスプリッタ８０を透過する。この透過ビームは
１／２波長板８２によりその偏光面が４５度回転され、
破線で示すようにやや上向きにプリズム７２で全反射さ
れて偏光ビームスプリッタ７８に入射する。
ームスプリッタ８０を透過し、Ｓ偏光成分の９９％が偏
光ビームスプリッタ８０を透過する。この透過ビームは
１／２波長板８２によりその偏光面が４５度回転され、
破線で示すようにやや上向きにプリズム７２で全反射さ
れて偏光ビームスプリッタ７８に入射する。
【００６８】偏光ビームスプリッタ７８ではＰ偏光成分
の２５％が反射され、Ｓ偏光成分の９９％が反射され
る。偏光ビームスプリッタ７８で反射されたビームは約
５度の入射角でロションプリズム３８に入射する。
の２５％が反射され、Ｓ偏光成分の９９％が反射され
る。偏光ビームスプリッタ７８で反射されたビームは約
５度の入射角でロションプリズム３８に入射する。
【００６９】そして、ロションプリズム３８でＰ偏光ビ
ームと、Ｓ偏光ビームに分離され、これらのビームを光
磁気信号検知用の光検知器ユニット６で差動検出するこ
とにより、光磁気信号が検出される。
ームと、Ｓ偏光ビームに分離され、これらのビームを光
磁気信号検知用の光検知器ユニット６で差動検出するこ
とにより、光磁気信号が検出される。
【００７０】一方、フォーカス誤差信号及びトラッキン
グ誤差信号検出については、光磁気ディスクで反射され
た反射ビームのうち、偏光ビームスプリッタ８０で反射
され偏光ビームスプリッタ７８を透過するビームを利用
する。
グ誤差信号検出については、光磁気ディスクで反射され
た反射ビームのうち、偏光ビームスプリッタ８０で反射
され偏光ビームスプリッタ７８を透過するビームを利用
する。
【００７１】このビームは図２に示したホログラム１８
により４つの異なる方向に回折され、それぞれフォーカ
ス誤差信号検出用の光検知器８ａ，８ｂ及びトラッキン
グ誤差信号検出用の光検知器８ｃ，８ｄに入射する。
により４つの異なる方向に回折され、それぞれフォーカ
ス誤差信号検出用の光検知器８ａ，８ｂ及びトラッキン
グ誤差信号検出用の光検知器８ｃ，８ｄに入射する。
【００７２】
【発明の効果】本発明は以上詳述したように、偏光ビー
ムスプリッタに偏光プリズムが一体化したビームスプリ
ッタユニットを採用し、このビームスプリッタユニット
とホログラムを組み合わせて光学ヘッドを構成したた
め、小型、低価格で、且つ信頼性の高い光磁気ディスク
装置用光学ヘッドを提供できる。
ムスプリッタに偏光プリズムが一体化したビームスプリ
ッタユニットを採用し、このビームスプリッタユニット
とホログラムを組み合わせて光学ヘッドを構成したた
め、小型、低価格で、且つ信頼性の高い光磁気ディスク
装置用光学ヘッドを提供できる。
【図１】本発明第１実施形態の全体斜視図である。
【図２】第１実施形態の拡大斜視図である。
【図３】第１実施形態のビームスプリッタユニット正面
図である。
図である。
【図４】図３のロションプリズムの右側面図である。
【図５】第２実施形態のビームスプリッタユニット正面
図である。
図である。
【図６】第３実施形態のビームスプリッタユニット正面
図である。
図である。
４ レーザダイオード ６ 光磁気信号検出用光検知器ユニット ８ 誤差信号検出用光検知器ユニット １８ ホログラム ２０ コリメータレンズ ２２ ビームスプリッタユニット ３０ 偏光ビームスプリッタ ３２ 旋光膜 ３８ ロションプリズム ４６ 対物レンズ ４８ 光磁気ディスク
Claims (11)
- 【請求項１】 光ディスクに対して情報を読み書きする
光ディスク装置用光学ヘッドであって、 レーザダイオードと；前記レーザダイオードからのレー
ザビームを前記光ディスク上に集光する対物レンズと；
前記光ディスクで反射された反射ビームから光信号を検
出する光信号検出用光検知器と；前記反射ビームから前
記光ディスク上に集光されたレーザビームのフォーカス
誤差検出及びトラッキング誤差検出を行う誤差信号検出
用光検知器と；前記反射ビームの一部を前記誤差信号検
出用光検知器に向けて回折するホログラムと；偏光ビー
ムスプリッタと前記反射ビームの一部の偏光面を４５度
回転する旋光手段と複屈折結晶から形成されたビーム分
離手段とを含んだ、ビームスプリッタユニットと；を具
備したことを特徴とする光磁気ディスク装置用光学ヘッ
ド。 - 【請求項２】 前記ビームスプリッタユニットは斜面を
有する直角プリズムと、底面と該底面に対して鋭角に傾
斜した第１及び第２側面を有し該底面で前記直角プリズ
ムの斜面に接着された多角形プリズムとを含んでおり；
前記直角プリズムと前記多角形プリズムとの界面に前記
偏光ビームスプリッタ及び前記旋光手段が前記直角プリ
ズム側からこの順に形成されている請求項１記載の光デ
ィスク装置用光学ヘッド。 - 【請求項３】 前記偏光ビームスプリッタ及び前記旋光
手段はそれぞれ誘電体多層膜から構成される請求項２記
載の光ディスク装置用光学ヘッド。 - 【請求項４】 前記多角形プリズムの前記第１及び第２
側面上にはそれぞれ反射されるビームに位相差を起こさ
ない反射膜が形成されている請求項３記載の光ディスク
装置用光学ヘッド。 - 【請求項５】 前記反射ビームの一部は前記偏光ビーム
スプリッタ及び前記旋光手段を斜めに透過し、前記多角
形プリズムの第１及び第２側面で反射された後、前記旋
光手段及び前記偏光ビームスプリッタを再び透過して、
前記レーザダイオードから前記ビームスプリッタユニッ
トに入射されるレーザビームの光路に対して所定角度傾
いて、複屈折結晶から形成された前記ビーム分離手段に
入射される請求項３記載の光ディスク装置用光学ヘッ
ド。 - 【請求項６】 前記ビームスプリッタに対するＳ偏光の
偏光面を有するレーザビームが前記ビームスプリッタユ
ニットに入射されるように、前記レーザダイオードに対
して前記ビームスプリッタユニットが配置される請求項
１記載の光ディスク装置用光学ヘッド。 - 【請求項７】 前記レーザダイオードから出射されたレ
ーザビームをコリメートビームにするコリメータレンズ
を更に含んでおり；前記ビームスプリッタユニットは前
記コリメータレンズと前記対物レンズとの間に配置され
ている請求項６記載の光ディスク装置用光学ヘッド。 - 【請求項８】 前記ビームスプリッタユニットは直角プ
リズムと、該直角プリズムの直角を挟む２辺のうちの１
辺に接着された底面を有する平行四辺形プリズムと、前
記直角プリズムの前記２辺の他方と前記平行四辺形プリ
ズムの前記底面に接着された四角形プリズムとを含んで
おり、 前記偏光ビームスプリッタは第１偏光ビームスプリッタ
と第２偏光ビームスプリッタとを含んでおり、前記直角
プリズムと前記平行四辺形プリズムとの界面に前記第１
偏光ビームスプリッタが挿入され、前記直角プリズムと
前記四角形プリズムとの界面に前記第２偏光ビームスプ
リッタが挿入されており、 前記旋光手段は前記平行四辺形プリズムと前記四角形プ
リズムとの界面に形成された１／２波長板から構成され
る請求項１記載の光ディスク装置用光学ヘッド。 - 【請求項９】 前記反射ビームの一部は前記第１偏光ビ
ームスプリッタで反射され、前記１／２波長板を透過
し、前記第２偏光ビームスプリッタで反射された後、前
記レーザダイオードから出射されたレーザビームが前記
ビームスプリッタユニットを透過する光路に対して所定
角度傾いて、複屈折結晶から形成された前記ビーム分離
手段に入射される請求項８記載の光ディスク装置用光学
ヘッド。 - 【請求項１０】 前記レーザダイオードから出射された
レーザビームをコリメートビームにするコリメータレン
ズを更に含んでおり；前記ビームスプリッタユニットは
前記コリメータレンズと前記対物レンズとの間に配置さ
れている請求項８記載の光ディスク装置用光学ヘッド。 - 【請求項１１】 光磁気ディスクに対して情報を読み書
きする光磁気ディスク装置用光学ヘッドであって、 ステムと；前記ステムに固定されたレーザダイオード
と；前記レーザダイオードからのレーザビームを前記光
磁気ディスク上に集光する対物レンズと；前記光磁気デ
ィスクで反射された反射ビームから光磁気信号を検出す
る、前記ステムに固定された光磁気信号検出用光検知器
と；前記反射ビームから前記光磁気ディスク上に集光さ
れたレーザビームのフォーカス誤差検出及びトラッキン
グ誤差検出を行う、前記ステムに固定された誤差信号検
出用光検知器と；前記レーザダイオード、前記光磁気信
号検出用光検知器及び前記誤差信号検出用光検知器を包
囲するように前記ステムに取り付けられたキャップと；
前記キャップ上に搭載された、前記反射ビームの一部を
前記誤差信号検出用光検知器に向けて回折するホログラ
ムと；前記キャップ上に搭載された、偏光ビームスプリ
ッタと前記反射ビームの一部の偏光面を４５度回転する
旋光手段と複屈折結晶から形成されたビーム分離手段と
を含んだ、ビームスプリッタユニットと；を具備したこ
とを特徴とする光磁気ディスク装置用光学ヘッド。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05297296A JP3439903B2 (ja) | 1996-03-11 | 1996-03-11 | 光ディスク装置用光学ヘッド |
| US08/727,752 US5751682A (en) | 1996-03-11 | 1996-10-08 | Compact size magneto-optical head with a hologram and a beam splitting means |
| DE19643505A DE19643505C2 (de) | 1996-03-11 | 1996-10-21 | Optischer Kopf für ein optisches Plattenlaufwerk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05297296A JP3439903B2 (ja) | 1996-03-11 | 1996-03-11 | 光ディスク装置用光学ヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09245369A true JPH09245369A (ja) | 1997-09-19 |
| JP3439903B2 JP3439903B2 (ja) | 2003-08-25 |
Family
ID=12929816
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05297296A Expired - Fee Related JP3439903B2 (ja) | 1996-03-11 | 1996-03-11 | 光ディスク装置用光学ヘッド |
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| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5751682A (ja) |
| JP (1) | JP3439903B2 (ja) |
| DE (1) | DE19643505C2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005119669A1 (ja) * | 2004-06-03 | 2005-12-15 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 光記録再生装置用光ヘッド |
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