JPH0792940B2 - 光学ピックアップ装置 - Google Patents
光学ピックアップ装置Info
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- JPH0792940B2 JPH0792940B2 JP5007871A JP787193A JPH0792940B2 JP H0792940 B2 JPH0792940 B2 JP H0792940B2 JP 5007871 A JP5007871 A JP 5007871A JP 787193 A JP787193 A JP 787193A JP H0792940 B2 JPH0792940 B2 JP H0792940B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ビームを対物レンズ
を通じて記録媒体に入射させるとともに記録媒体からの
反射光ビームを光検出部に導いて、光検出部から、記録
媒体に記録された情報の読取出力を得る光学ピックアッ
プ装置に関する。
を通じて記録媒体に入射させるとともに記録媒体からの
反射光ビームを光検出部に導いて、光検出部から、記録
媒体に記録された情報の読取出力を得る光学ピックアッ
プ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、光ビームを用いて情報の書込み、
消去及び読取りを行うことのできるいわゆる書込み可能
型の光ディスクとして、円板状に形成された基板の面上
に記録層を形成する垂直磁化膜が設けられ、さらに、そ
の垂直磁化膜が保護層によって覆われた構造を有する光
磁気ディスクが知られている。
消去及び読取りを行うことのできるいわゆる書込み可能
型の光ディスクとして、円板状に形成された基板の面上
に記録層を形成する垂直磁化膜が設けられ、さらに、そ
の垂直磁化膜が保護層によって覆われた構造を有する光
磁気ディスクが知られている。
【0003】この種の光磁気ディスクに対する情報の書
込みは、例えば、その中央部を取り囲む多数の同心円状
又は螺旋状の記録トラックのそれぞれの位置における垂
直磁化膜に対して所定の外部磁界を作用せしめた状態
で、情報に応じて変調されたレーザ光ビームにて記録ト
ラックを走査して、所定のパターンの磁化方向反転領域
を形成することにより行う。なお、各記録トラックに
は、トラッキング・サーボコントロール用のピット等が
所定のパターンをもって配列されている。
込みは、例えば、その中央部を取り囲む多数の同心円状
又は螺旋状の記録トラックのそれぞれの位置における垂
直磁化膜に対して所定の外部磁界を作用せしめた状態
で、情報に応じて変調されたレーザ光ビームにて記録ト
ラックを走査して、所定のパターンの磁化方向反転領域
を形成することにより行う。なお、各記録トラックに
は、トラッキング・サーボコントロール用のピット等が
所定のパターンをもって配列されている。
【0004】また、光磁気ディスクに対する情報の読取
りは、情報の書込み時よりも小さなパワーのレーザ光ビ
ームにて記録トラックを走査し、記録トラック上の垂直
磁化膜による反射レーザ光ビームを光検出部にて検出す
ることにより行われ、上記光検出部による検出出力に基
づいて、上記光磁気ディスクに書き込まれていた情報に
応じた読み取り信号やトラッキングエラー信号、フォー
カスエラー信号等を得るようになされる。この光磁気デ
ィスクの垂直磁化膜からの反射レーザ光ビームは、カー
効果により、書き込まれた情報に対応する垂直磁化膜に
おける磁化方向反転パターンに応じた偏光面の回転を生
じたものとなっている。そして、例えば、上記反射レー
ザ光ビームの直交偏光成分、すなわち、P偏光成分とS
偏光成分とをそれぞれれ個別に検出して比較することに
より上記偏光面の回転を検知するようにして、その比較
出力に基づいて読み取り信号が形成される。また、上記
トラッキング・サーボコントロール用に配列されたピッ
トによる反射レーザ光ビームの変化を検出し、その検出
出力に基づいてトラッキングエラー信号が形成される。
さらに、光検出部における反射レーザ光ビームの位置や
スポット形状に基づいてフォーカスエラー信号が形成さ
れる。
りは、情報の書込み時よりも小さなパワーのレーザ光ビ
ームにて記録トラックを走査し、記録トラック上の垂直
磁化膜による反射レーザ光ビームを光検出部にて検出す
ることにより行われ、上記光検出部による検出出力に基
づいて、上記光磁気ディスクに書き込まれていた情報に
応じた読み取り信号やトラッキングエラー信号、フォー
カスエラー信号等を得るようになされる。この光磁気デ
ィスクの垂直磁化膜からの反射レーザ光ビームは、カー
効果により、書き込まれた情報に対応する垂直磁化膜に
おける磁化方向反転パターンに応じた偏光面の回転を生
じたものとなっている。そして、例えば、上記反射レー
ザ光ビームの直交偏光成分、すなわち、P偏光成分とS
偏光成分とをそれぞれれ個別に検出して比較することに
より上記偏光面の回転を検知するようにして、その比較
出力に基づいて読み取り信号が形成される。また、上記
トラッキング・サーボコントロール用に配列されたピッ
トによる反射レーザ光ビームの変化を検出し、その検出
出力に基づいてトラッキングエラー信号が形成される。
さらに、光検出部における反射レーザ光ビームの位置や
スポット形状に基づいてフォーカスエラー信号が形成さ
れる。
【0005】そして、この光磁気ディスクに対する情報
の記録再生を行うための光学ピックアップ装置として、
各種構成のものが提案されているが、その代表的な構成
である反射レーザ光ビームをビームスプリッタにてサー
ボ用の読み取りサーボ用の読み取り光学系と光磁気情報
用の読み取光学系とに分配する構成のものでは、サーボ
用の読み取り光学系と光磁気情報用の読み取光学系とに
個別に光検出器を設ける必要があり、アライメントの工
数が多く、また、光学部品点数や調整箇所も多く、光学
ピックアップ装置の小型化が困難であるという問題点が
あった。
の記録再生を行うための光学ピックアップ装置として、
各種構成のものが提案されているが、その代表的な構成
である反射レーザ光ビームをビームスプリッタにてサー
ボ用の読み取りサーボ用の読み取り光学系と光磁気情報
用の読み取光学系とに分配する構成のものでは、サーボ
用の読み取り光学系と光磁気情報用の読み取光学系とに
個別に光検出器を設ける必要があり、アライメントの工
数が多く、また、光学部品点数や調整箇所も多く、光学
ピックアップ装置の小型化が困難であるという問題点が
あった。
【0006】そこで、 本件出願人は、上述の如き問題
点を解決するために、特開昭63−127436号公報
に開示されているように、光ビーム発生源からの光ビー
ムを対物レンズを介して記録媒体に入射させ、上記記録
媒体による反射光ビームをビームプリッタを介して検光
子に導き、上記反射光ビームを上記検光子にて3本の光
ビームに分離するようにした光学ピックアップ装置を先
に提案している。
点を解決するために、特開昭63−127436号公報
に開示されているように、光ビーム発生源からの光ビー
ムを対物レンズを介して記録媒体に入射させ、上記記録
媒体による反射光ビームをビームプリッタを介して検光
子に導き、上記反射光ビームを上記検光子にて3本の光
ビームに分離するようにした光学ピックアップ装置を先
に提案している。
【0007】この光学ピックアップ装置は、図6に示す
ように構成されてなるものであって、光ビーム発生源6
1からのレーザ光ビームは、コリメータレンズ62を介
して平行光としてビームスプリッタ63に入射され、こ
のビームスプリッタ63から対物レンズ64を介して光
磁気ディスク65に集束状態で入射される。この光磁気
ディスク65からの反射レーザ光ビームは、対物レンズ
64を介してビームスプリッタ63に入射され、そのP
偏光成分が上記ビームスプリッタ63から位相補償板6
6を介して検光子67に入射される。
ように構成されてなるものであって、光ビーム発生源6
1からのレーザ光ビームは、コリメータレンズ62を介
して平行光としてビームスプリッタ63に入射され、こ
のビームスプリッタ63から対物レンズ64を介して光
磁気ディスク65に集束状態で入射される。この光磁気
ディスク65からの反射レーザ光ビームは、対物レンズ
64を介してビームスプリッタ63に入射され、そのP
偏光成分が上記ビームスプリッタ63から位相補償板6
6を介して検光子67に入射される。
【0008】上記検光子67は、それぞれ水晶で形成さ
れた第1のプリズム68と第2のプリズム69とが貼り
合わされて構成され、入射する反射レーザ光ビームにつ
いて、P偏光成分の第1の光ビームL1 と、S偏光成分
の第2の光ビームL2 と、P偏光成分とS偏光成分との
合成成分の第3の光ビームL3 の3本の光ビームL1,
L2 ,L3 に分離するようになっている。
れた第1のプリズム68と第2のプリズム69とが貼り
合わされて構成され、入射する反射レーザ光ビームにつ
いて、P偏光成分の第1の光ビームL1 と、S偏光成分
の第2の光ビームL2 と、P偏光成分とS偏光成分との
合成成分の第3の光ビームL3 の3本の光ビームL1,
L2 ,L3 に分離するようになっている。
【0009】上記検光子67は、ビームスプリッタ63
からの反射光ビームが第1のプリズム68から入射して
第2のプリズム69に至る位置に配され、第1のプリズ
ム68における光学軸が入射する反射光ビームの光軸に
実質的に直交する面内にあり、かつ、上記入射する反射
光ビームの偏光面に対して所定の角度だけ傾いたものと
されるとともに、第2のプリズム69における光学軸が
上記入射する反射光ビームの光軸に実質的に直交する面
内にあり、かつ、第1のプリズム68における光学軸と
所定の角度をなすものとされている。
からの反射光ビームが第1のプリズム68から入射して
第2のプリズム69に至る位置に配され、第1のプリズ
ム68における光学軸が入射する反射光ビームの光軸に
実質的に直交する面内にあり、かつ、上記入射する反射
光ビームの偏光面に対して所定の角度だけ傾いたものと
されるとともに、第2のプリズム69における光学軸が
上記入射する反射光ビームの光軸に実質的に直交する面
内にあり、かつ、第1のプリズム68における光学軸と
所定の角度をなすものとされている。
【0010】そして、上記検光子67にて得られる3本
の光ビームL1 ,L2 ,L3 は、共通の集光レンズ70
を介して光検出ユニット72に入射される。なお、P偏
光成分とS偏光成分との合成成分である第3の光ビーム
L3 は、さらにシリンドリカルレンズ71を介して光検
出ユニット72に入射されている。
の光ビームL1 ,L2 ,L3 は、共通の集光レンズ70
を介して光検出ユニット72に入射される。なお、P偏
光成分とS偏光成分との合成成分である第3の光ビーム
L3 は、さらにシリンドリカルレンズ71を介して光検
出ユニット72に入射されている。
【0011】上記光検出ユニット72は、検光子67に
て得られる3本の光ビームL1 ,L 2 ,L3 を個別に検
出する光検出素子にて構成されており、上記3本の光ビ
ームL1 ,L2 ,L3 に対する各検出出力信号を信号処
理部73に供給する。
て得られる3本の光ビームL1 ,L 2 ,L3 を個別に検
出する光検出素子にて構成されており、上記3本の光ビ
ームL1 ,L2 ,L3 に対する各検出出力信号を信号処
理部73に供給する。
【0012】上記信号処理部73では、第1の光ビーム
L1 の検出出力信号と第2の光ビームL2 の検出出力信
号、すなわち反射レーザ光ビームのP偏光成分とS偏光
成分とを相互比較して、その比較出力に基づいて読み取
り情報信号Si を形成する。また、上記信号処理部73
においては、第3の光ビームL3 の検出出力信号からト
ラッキングエラー信号St やフォーカスエラー信号Sf
を形成する。
L1 の検出出力信号と第2の光ビームL2 の検出出力信
号、すなわち反射レーザ光ビームのP偏光成分とS偏光
成分とを相互比較して、その比較出力に基づいて読み取
り情報信号Si を形成する。また、上記信号処理部73
においては、第3の光ビームL3 の検出出力信号からト
ラッキングエラー信号St やフォーカスエラー信号Sf
を形成する。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】ところで、本件出願人
が先に提案している光学ピックアップ装置では、光磁気
ディスクからの反射光ビームを3本の光ビームに分離す
る検光子を用いることによって従来のものより小型化す
ることができたのであるが、光磁気ディスク記録再生装
置における小型化の要望は極めて大きく、この光学ピッ
クアップ装置よりもさらに小型の装置が要求されてい
る。
が先に提案している光学ピックアップ装置では、光磁気
ディスクからの反射光ビームを3本の光ビームに分離す
る検光子を用いることによって従来のものより小型化す
ることができたのであるが、光磁気ディスク記録再生装
置における小型化の要望は極めて大きく、この光学ピッ
クアップ装置よりもさらに小型の装置が要求されてい
る。
【0014】そこで、本発明は、上述の如き従来の実情
に鑑み、本件出願人が先に提案している光学ピックアッ
プ装置を改良して、より一層小型化を可能にした新規な
構成の光学ピックアップ装置を提供することを目的とす
る。
に鑑み、本件出願人が先に提案している光学ピックアッ
プ装置を改良して、より一層小型化を可能にした新規な
構成の光学ピックアップ装置を提供することを目的とす
る。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光学ピック
アップ装置は、上述の目的を達成するために、光ビーム
発生源と、該光ビーム発生源からの光ビームを記録媒体
に集束状態をもって入射させるとともに上記記録媒体か
らの反射光ビームを受ける対物レンズと、上記光ビーム
発生源から上記対物レンズに入射する光ビームと上記対
物レンズを経た反射光ビームとを分離するビームスプリ
ッタと、それぞれ水晶で形成された第1のプリズムと第
2のプリズムとが貼り合わされて構成されて、上記ビー
ムスプリッタからの反射光ビームが上記第1のプリズム
から入射して上記第2のプリズムに至る位置に配され、
上記第1のプリズムにおける光学軸が入射する反射光ビ
ームの光軸に実質的に直交する面内にあり、かつ、上記
入射する反射光ビームの偏光面に対して所定の角度だけ
傾いたものとされるとともに、上記第2のプリズムにお
ける光学軸が上記入射する反射光ビームの光軸に実質的
に直交する面内にあり、かつ、上記第1のプリズムにお
ける光学軸と所定の角度をなすものとされて、上記入射
する反射光ビームに基づく少なくとも3本の光ビームを
出射させる検光子と、該検光子から出射する上記3本の
光ビームを個々に検出する複数の光検出素子が内蔵され
た光検出ユニットとを備えて成るものにおいて、上記検
光子を構成している第1のプリズムの上記記録媒体によ
る反射光ビームの入射面に誘電体多層膜を被着して、こ
の誘電体多層膜にて上記ビームスプリッタを形成してい
る。
アップ装置は、上述の目的を達成するために、光ビーム
発生源と、該光ビーム発生源からの光ビームを記録媒体
に集束状態をもって入射させるとともに上記記録媒体か
らの反射光ビームを受ける対物レンズと、上記光ビーム
発生源から上記対物レンズに入射する光ビームと上記対
物レンズを経た反射光ビームとを分離するビームスプリ
ッタと、それぞれ水晶で形成された第1のプリズムと第
2のプリズムとが貼り合わされて構成されて、上記ビー
ムスプリッタからの反射光ビームが上記第1のプリズム
から入射して上記第2のプリズムに至る位置に配され、
上記第1のプリズムにおける光学軸が入射する反射光ビ
ームの光軸に実質的に直交する面内にあり、かつ、上記
入射する反射光ビームの偏光面に対して所定の角度だけ
傾いたものとされるとともに、上記第2のプリズムにお
ける光学軸が上記入射する反射光ビームの光軸に実質的
に直交する面内にあり、かつ、上記第1のプリズムにお
ける光学軸と所定の角度をなすものとされて、上記入射
する反射光ビームに基づく少なくとも3本の光ビームを
出射させる検光子と、該検光子から出射する上記3本の
光ビームを個々に検出する複数の光検出素子が内蔵され
た光検出ユニットとを備えて成るものにおいて、上記検
光子を構成している第1のプリズムの上記記録媒体によ
る反射光ビームの入射面に誘電体多層膜を被着して、こ
の誘電体多層膜にて上記ビームスプリッタを形成してい
る。
【0016】
【作用】本発明に係る光学ピックアップ装置では、第1
のプリズムに入射される光ビームに基づく少なくとも3
本の光ビームを第2のプリズムを介して出射させるよう
に構成した検光子の上記第1のプリズムの入射面に被着
せしめた誘電体多層膜が、光ビーム発生源からの光ビー
ムを記録媒体に集束状態をもって入射させるとともに上
記記録媒体からの反射光ビームを受ける対物レンズに上
記光ビーム発生源から入射する光ビームと上記記録媒体
から上記対物レンズを経た反射光ビームとを分離するビ
ームスプリッタとして働く。
のプリズムに入射される光ビームに基づく少なくとも3
本の光ビームを第2のプリズムを介して出射させるよう
に構成した検光子の上記第1のプリズムの入射面に被着
せしめた誘電体多層膜が、光ビーム発生源からの光ビー
ムを記録媒体に集束状態をもって入射させるとともに上
記記録媒体からの反射光ビームを受ける対物レンズに上
記光ビーム発生源から入射する光ビームと上記記録媒体
から上記対物レンズを経た反射光ビームとを分離するビ
ームスプリッタとして働く。
【0017】
【実施例】以下、本発明に係る光学ピックアップ装置の
具体的な実施例を図面を参照して説明する。
具体的な実施例を図面を参照して説明する。
【0018】図1は、本発明に係る光学ピックアップ装
置の第1の実施例を示すものであって、この図1に示す
ものは、半導体レーザを用いた光ビーム発生源1から回
折格子板2を介して出射されるレーザ光ビームが、コリ
メータレンズ3を介して平行光として、ビームスプリッ
タの機能と検光子の機能とを備えた光学素子4に入射さ
れるようになっている。
置の第1の実施例を示すものであって、この図1に示す
ものは、半導体レーザを用いた光ビーム発生源1から回
折格子板2を介して出射されるレーザ光ビームが、コリ
メータレンズ3を介して平行光として、ビームスプリッ
タの機能と検光子の機能とを備えた光学素子4に入射さ
れるようになっている。
【0019】上記光学素子4は、例えば、図2に示すよ
うに、それぞれ水晶で形成された第1のプリズム41と
第2のプリズム42とを貼り合わせるとともに、上記第
1のプリズム41の入射面部分に誘電体多層膜43を被
着して成る。
うに、それぞれ水晶で形成された第1のプリズム41と
第2のプリズム42とを貼り合わせるとともに、上記第
1のプリズム41の入射面部分に誘電体多層膜43を被
着して成る。
【0020】ここで、上記第1のプリズム41と第2の
プリズム42とは、所定角度θ傾いた面で貼り合わされ
ている。また、第1のプリズム41の光軸A1 と第2の
プリズム42の光軸A2 とは、入射偏光面と同一平面内
で所定角度φ傾いている。さらに、第2のプリズム42
の光軸A2 は、入射光の偏光面に対して直交または平行
になっている。
プリズム42とは、所定角度θ傾いた面で貼り合わされ
ている。また、第1のプリズム41の光軸A1 と第2の
プリズム42の光軸A2 とは、入射偏光面と同一平面内
で所定角度φ傾いている。さらに、第2のプリズム42
の光軸A2 は、入射光の偏光面に対して直交または平行
になっている。
【0021】上記光学素子4は、コリメータレンズ3を
介して誘電体多層膜43に入射されるレーザ光ビームL
i を上記誘電体多層膜43のP偏光成分に対する反射率
RPとS偏光成分に対する反射率RS の比率で反射し
て、対物レンズ5を介して光磁気ディスク6に集束状態
で入射させる。
介して誘電体多層膜43に入射されるレーザ光ビームL
i を上記誘電体多層膜43のP偏光成分に対する反射率
RPとS偏光成分に対する反射率RS の比率で反射し
て、対物レンズ5を介して光磁気ディスク6に集束状態
で入射させる。
【0022】上記光磁気ディスク6にて反射された反射
レーザ光ビームLj は、対物レンズ5を介して光学素子
4の誘電体多層膜43に再度入射される。なお、光ビー
ム発生源1から光学素子4の誘電体多層膜43に入射さ
れるレーザ光ビームLi は、その一部が誘電体多層膜4
3を透過し、この透過光ビームL k がフォトディテクタ
20に入射されており、このフォトディテクタ20によ
る検出出力にて光ビーム発生源1のいわゆるAPCによ
る出力制御が行われている。
レーザ光ビームLj は、対物レンズ5を介して光学素子
4の誘電体多層膜43に再度入射される。なお、光ビー
ム発生源1から光学素子4の誘電体多層膜43に入射さ
れるレーザ光ビームLi は、その一部が誘電体多層膜4
3を透過し、この透過光ビームL k がフォトディテクタ
20に入射されており、このフォトディテクタ20によ
る検出出力にて光ビーム発生源1のいわゆるAPCによ
る出力制御が行われている。
【0023】上記対物レンズ5を介して入射される反射
レーザ光ビームLj は、誘電体多層膜43のP偏光成分
に対する透過率TP とS偏光成分に対する透過率TS の
比率で上記誘電体多層膜43透過して、光学素子4を構
成している第1のプリズム41に入射される。
レーザ光ビームLj は、誘電体多層膜43のP偏光成分
に対する透過率TP とS偏光成分に対する透過率TS の
比率で上記誘電体多層膜43透過して、光学素子4を構
成している第1のプリズム41に入射される。
【0024】上記第1のプリズム41に入射された反射
レーザ光ビームLj は、光学素子4を構成している第1
及び第2のプリズム41、42の常光線成分と異常光線
成分の屈折率の違いにより、P偏光成分の第1の光ビー
ムL1 と、S偏光成分の第2の光ビームL2 と、P偏光
成分とS偏光成分との合成成分の第3の光ビームL3の
3本の光ビームL1 ,L2 ,L3 に分離して第2のプリ
ズム42から出射される。
レーザ光ビームLj は、光学素子4を構成している第1
及び第2のプリズム41、42の常光線成分と異常光線
成分の屈折率の違いにより、P偏光成分の第1の光ビー
ムL1 と、S偏光成分の第2の光ビームL2 と、P偏光
成分とS偏光成分との合成成分の第3の光ビームL3の
3本の光ビームL1 ,L2 ,L3 に分離して第2のプリ
ズム42から出射される。
【0025】そして、光学素子4にて得られる3本の光
ビームL1 ,L2 ,L3 は、集光レンズ7、凹レンズ8
及びシリンドリカルレンズ9を介して光検出ユニット1
0に入射される。すなわち、光学素子4は、第1のプリ
ズム41の入射面部分に被着形成した誘電体多層膜43
が光ビーム発生源1から対物レンズ5を介して光磁気デ
ィスク6に入射するレーザ光ビームLi と光磁気ディス
ク6から対物レンズ5を介して戻ってくる反射レーザ光
ビームLj とを分離するビームスプリッタとして機能す
るとともに、第1及び第2のプリズム41、42が反射
レーザ光ビームLj をP偏光成分の第1の光ビームL1
と、S偏光成分の第2の光ビームL2 と、P偏光成分と
S偏光成分との合成成分の第3の光ビームL3 3本の光
ビームL1 ,L2 ,L3 に分離して出力射する検光子と
して機能するようになっている。
ビームL1 ,L2 ,L3 は、集光レンズ7、凹レンズ8
及びシリンドリカルレンズ9を介して光検出ユニット1
0に入射される。すなわち、光学素子4は、第1のプリ
ズム41の入射面部分に被着形成した誘電体多層膜43
が光ビーム発生源1から対物レンズ5を介して光磁気デ
ィスク6に入射するレーザ光ビームLi と光磁気ディス
ク6から対物レンズ5を介して戻ってくる反射レーザ光
ビームLj とを分離するビームスプリッタとして機能す
るとともに、第1及び第2のプリズム41、42が反射
レーザ光ビームLj をP偏光成分の第1の光ビームL1
と、S偏光成分の第2の光ビームL2 と、P偏光成分と
S偏光成分との合成成分の第3の光ビームL3 3本の光
ビームL1 ,L2 ,L3 に分離して出力射する検光子と
して機能するようになっている。
【0026】上記光検出ユニット10は、図3に示すよ
うに、光学素子4にて反射レーザ光ビームLj を分離せ
しめた3本の光ビームL1 ,L2 ,L3 のうち、第1の
光ビームL1 によるP偏光成分のビームスポットBS1
を検出するフォトディテクタ11と、第2の光ビームL
2 によるS偏光成分のビームスポットBS2 を検出する
フォトディテクタ12と、第3の光ビームL3 によるP
偏光成分とS偏光成分との合成成分のビームスポットB
S3 を検出するいわゆる4分割フォトディテクタ13
が、この4分割フォトディテクタ13を中央に位置させ
て配列されているとともに、いわゆる3スポット法によ
るトラッキングエラー検出用にサイドスポットBSS1,
BSS2を検出する一対のフォトディテクタ14、15が
4分割フォトディテクタ13を中央に位置させて配列さ
れた構成となっている。上記4分割フォトディテクタ1
3は、各光検出素子13A、13B、13C、13Dに
て構成されている。
うに、光学素子4にて反射レーザ光ビームLj を分離せ
しめた3本の光ビームL1 ,L2 ,L3 のうち、第1の
光ビームL1 によるP偏光成分のビームスポットBS1
を検出するフォトディテクタ11と、第2の光ビームL
2 によるS偏光成分のビームスポットBS2 を検出する
フォトディテクタ12と、第3の光ビームL3 によるP
偏光成分とS偏光成分との合成成分のビームスポットB
S3 を検出するいわゆる4分割フォトディテクタ13
が、この4分割フォトディテクタ13を中央に位置させ
て配列されているとともに、いわゆる3スポット法によ
るトラッキングエラー検出用にサイドスポットBSS1,
BSS2を検出する一対のフォトディテクタ14、15が
4分割フォトディテクタ13を中央に位置させて配列さ
れた構成となっている。上記4分割フォトディテクタ1
3は、各光検出素子13A、13B、13C、13Dに
て構成されている。
【0027】そして、この実施例の光学ピックアップ装
置では、第3の光ビームL3 によるビームスポットBS
3 にシリンドリカルレンズ8にて与えられる非点収差に
基づく非点収差法により、光検出ユニット10の4分割
フォトディテクタ13の各光検出素子13A、13B、
13C、13Dにて得られる各検出出力信号SA ,
S B ,SC ,SD から、 FE=(SA +SC )− (SB +SD ) なる演算処理にてフォーカスエラー信号FEを得ること
ができる。また、光検出ユニット10の各フォトディテ
クタ11、12にて得られるP偏光成分のビームスポッ
トBS1 の検出出力信号SI とS偏光成分のビームスポ
ットBS2 の検出出力信号SJ から、 RFMO=S1 − SJ なる演算処理にて光磁気記録情報の検出出力信号RFMO
を得ることができる。さらに、光検出ユニット10の各
フォトディテクタ14、15にて得られる各サイドスポ
ットBSS1,BSS2の各検出出力信号SE ,SF から、 TE=SE −SF なる演算処理にてトラッキングエラー信号力TEを得る
ことができる。
置では、第3の光ビームL3 によるビームスポットBS
3 にシリンドリカルレンズ8にて与えられる非点収差に
基づく非点収差法により、光検出ユニット10の4分割
フォトディテクタ13の各光検出素子13A、13B、
13C、13Dにて得られる各検出出力信号SA ,
S B ,SC ,SD から、 FE=(SA +SC )− (SB +SD ) なる演算処理にてフォーカスエラー信号FEを得ること
ができる。また、光検出ユニット10の各フォトディテ
クタ11、12にて得られるP偏光成分のビームスポッ
トBS1 の検出出力信号SI とS偏光成分のビームスポ
ットBS2 の検出出力信号SJ から、 RFMO=S1 − SJ なる演算処理にて光磁気記録情報の検出出力信号RFMO
を得ることができる。さらに、光検出ユニット10の各
フォトディテクタ14、15にて得られる各サイドスポ
ットBSS1,BSS2の各検出出力信号SE ,SF から、 TE=SE −SF なる演算処理にてトラッキングエラー信号力TEを得る
ことができる。
【0028】なお、上記光学ピックアップ装置では、光
検出ユニット10の各フォトディテクタ11、12にて
得られる各検出出力信号SI ,SJ について、 RFCD=SI +SJ なる演算処理を行うことにより、予めピットとして記録
された情報信号の再生のみに用いられる光ディスクであ
るコンパクトディスクに対する情報信号の検出出力信号
RFCDを得ることもできる。
検出ユニット10の各フォトディテクタ11、12にて
得られる各検出出力信号SI ,SJ について、 RFCD=SI +SJ なる演算処理を行うことにより、予めピットとして記録
された情報信号の再生のみに用いられる光ディスクであ
るコンパクトディスクに対する情報信号の検出出力信号
RFCDを得ることもできる。
【0029】この第1の実施例の光学ピックアップ装置
のように、ビームスプリッタの機能と検光子の機能とを
備えた光学素子4を用いることにより、光学系を小型化
することができる。
のように、ビームスプリッタの機能と検光子の機能とを
備えた光学素子4を用いることにより、光学系を小型化
することができる。
【0030】ここで、上述の第1の実施例では光ビーム
発生源1から回折格子板2を介して出射されるレーザ光
ビームをコリメータレンズ3にて平行光とした平行光路
中に光学素子4を配置したが、図4に示す第2の実施例
のようにビームスプリッタの機能と検光子の機能とを備
えた光学素子4を収束光路中に設置するようにすること
もできる。
発生源1から回折格子板2を介して出射されるレーザ光
ビームをコリメータレンズ3にて平行光とした平行光路
中に光学素子4を配置したが、図4に示す第2の実施例
のようにビームスプリッタの機能と検光子の機能とを備
えた光学素子4を収束光路中に設置するようにすること
もできる。
【0031】なお、この第2の実施例では、上述の第1
の実施例と同じ構成要素について同一符号を図4中に付
して詳細な説明を省略し、相違点についてのみ詳細に説
明する。すなわち、この第2の実施例では、光ビーム発
生源1から回折格子板2を介して出射されるレーザ光ビ
ームLi が、光学素子4の第1のプリズム41の入射面
部分に被着形成した誘電体多層膜43にて反射されてコ
リメータレンズ3に入射され、このコリメータレンズ3
にて平行光にしてから対物レンズ5を介して光磁気ディ
スク6に集束状態で入射させる。
の実施例と同じ構成要素について同一符号を図4中に付
して詳細な説明を省略し、相違点についてのみ詳細に説
明する。すなわち、この第2の実施例では、光ビーム発
生源1から回折格子板2を介して出射されるレーザ光ビ
ームLi が、光学素子4の第1のプリズム41の入射面
部分に被着形成した誘電体多層膜43にて反射されてコ
リメータレンズ3に入射され、このコリメータレンズ3
にて平行光にしてから対物レンズ5を介して光磁気ディ
スク6に集束状態で入射させる。
【0032】上記光磁気ディスク6にて反射された反射
レーザ光ビームLj は、対物レンズ5からコリメータレ
ンズ3を介して光学素子4の誘電体多層膜43に再度入
射され、光学素子4を構成している第1及び第2のプリ
ズム41、42にてP偏光成分の第1の光ビームL1
と、S偏光成分の第2の光ビームL2 と、P偏光成分と
S偏光成分との合成成分の第3の光ビームL3 の3本の
光ビームL1 ,L2 ,L 3 に分離して第2のプリズム4
2から出射される。
レーザ光ビームLj は、対物レンズ5からコリメータレ
ンズ3を介して光学素子4の誘電体多層膜43に再度入
射され、光学素子4を構成している第1及び第2のプリ
ズム41、42にてP偏光成分の第1の光ビームL1
と、S偏光成分の第2の光ビームL2 と、P偏光成分と
S偏光成分との合成成分の第3の光ビームL3 の3本の
光ビームL1 ,L2 ,L 3 に分離して第2のプリズム4
2から出射される。
【0033】そして、光学素子4にて得られる3本の光
ビームL1 ,L2 ,L3 は、凹レンズ8と補正板30を
介して光検出ユニット110に入射される。
ビームL1 ,L2 ,L3 は、凹レンズ8と補正板30を
介して光検出ユニット110に入射される。
【0034】この第2の実施例では、光学素子4を収束
光路中に設置したことにより、上述の第1の実施例と比
較して、集束レンズ7が不要となるばかりでなく、光学
素子4と補正板30にて非点収差を与えることができシ
リンドリカルレンズ9も不要となり、極めて小型の光学
ピックアップ装置を実現することができる。
光路中に設置したことにより、上述の第1の実施例と比
較して、集束レンズ7が不要となるばかりでなく、光学
素子4と補正板30にて非点収差を与えることができシ
リンドリカルレンズ9も不要となり、極めて小型の光学
ピックアップ装置を実現することができる。
【0035】なお、この第2の実施例における光検出ユ
ニット110は、図5に示すように、フォーカスエラー
検出用の4分割フォトディテクタ113を90°回転さ
せたものが用いられる。また、光検出ユニット110の
トラッキングエラー検出用の各フォトディテクタ14,
15は、図5中に破線にて示すサイドスポットB
SS1 1 ,BSS21 又は一点鎖線にて示すサイドスポット
BSS12 ,BSS22 を検出するようにしても良い。
ニット110は、図5に示すように、フォーカスエラー
検出用の4分割フォトディテクタ113を90°回転さ
せたものが用いられる。また、光検出ユニット110の
トラッキングエラー検出用の各フォトディテクタ14,
15は、図5中に破線にて示すサイドスポットB
SS1 1 ,BSS21 又は一点鎖線にて示すサイドスポット
BSS12 ,BSS22 を検出するようにしても良い。
【0036】
【発明の効果】本発明に係る光学ピックアップ装置で
は、第1のプリズムに入射される光ビームに基づく少な
くとも3本の光ビームを第2のプリズムを介して出射さ
せるように構成した検光子の上記第1のプリズムの入射
面に被着せしめた誘電体多層膜が、光ビーム発生源から
の光ビームを記録媒体に集束状態をもって入射させると
ともに記録媒体からの反射光ビームを受ける対物レンズ
に光ビーム発生源から入射する光ビームと記録媒体から
対物レンズを経た反射光ビームとを分離するビームスプ
リッタとして働くので、ビームスプリッタの機能と検光
子の機能を1つの光学素子により実現することができ、
装置構成の簡素化及び小型化を図ることができる。
は、第1のプリズムに入射される光ビームに基づく少な
くとも3本の光ビームを第2のプリズムを介して出射さ
せるように構成した検光子の上記第1のプリズムの入射
面に被着せしめた誘電体多層膜が、光ビーム発生源から
の光ビームを記録媒体に集束状態をもって入射させると
ともに記録媒体からの反射光ビームを受ける対物レンズ
に光ビーム発生源から入射する光ビームと記録媒体から
対物レンズを経た反射光ビームとを分離するビームスプ
リッタとして働くので、ビームスプリッタの機能と検光
子の機能を1つの光学素子により実現することができ、
装置構成の簡素化及び小型化を図ることができる。
【図1】本発明に係る光学ピックアップ装置の第1の実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図2】本発明に係る光学ピックアップ装置に用いられ
る光学素子の構成例を示す模式図である。
る光学素子の構成例を示す模式図である。
【図3】図1に示す光学ピックアップ装置に適用される
光検出ユニットの具体的な構成例を示す模式図である。
光検出ユニットの具体的な構成例を示す模式図である。
【図4】本発明に係る光学ピックアップ装置の第2の実
施例を示す構成図である。
施例を示す構成図である。
【図5】図4に示す光学ピックアップ装置に適用される
光検出ユニットの具体的な構成例を示す模式図である。
光検出ユニットの具体的な構成例を示す模式図である。
【図6】従来の光学ピックアップ装置を示す構成図であ
る。
る。
1 光ビーム発生源 4 光学素子 5 対物レンズ 6 光磁気ディスク 10,110 光検出ユニット 41,42プリズム 43 誘電体多層膜
Claims (1)
- 【請求項1】 光ビーム発生源と、該光ビーム発生源か
らの光ビームを記録媒体に集束状態をもって入射させる
とともに上記記録媒体からの反射光ビームを受ける対物
レンズと、上記光ビーム発生源から上記対物レンズに入
射する光ビームと上記対物レンズを経た反射光ビームと
を分離するビームスプリッタと、それぞれ水晶で形成さ
れた第1のプリズムと第2のプリズムとが貼り合わされ
て構成されて、上記ビームスプリッタからの反射光ビー
ムが上記第1のプリズムから入射して上記第2のプリズ
ムに至る位置に配され、上記第1のプリズムにおける光
学軸が入射する反射光ビームの光軸に実質的に直交する
面内にあり、かつ、上記入射する反射光ビームの偏光面
に対して所定の角度だけ傾いたものとされるとともに、
上記第2のプリズムにおける光学軸が上記入射する反射
光ビームの光軸に実質的に直交する面内にあり、かつ、
上記第1のプリズムにおける光学軸と所定の角度をなす
ものとされて、上記入射する反射光ビームに基づく少な
くとも3本の光ビームを出射させる検光子と、該検光子
から出射する上記3本の光ビームを個々に検出する複数
の光検出素子が内蔵された光検出ユニットとを備えて成
る光学ピックアップ装置において、 上記検光子を構成している第1のプリズムの上記記録媒
体による反射光ビームの入射面に誘電体多層膜を被着し
て、この誘電体多層膜にて上記ビームスプリッタを形成
したことを特徴とする光学ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5007871A JPH0792940B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 光学ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5007871A JPH0792940B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 光学ピックアップ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0684226A JPH0684226A (ja) | 1994-03-25 |
JPH0792940B2 true JPH0792940B2 (ja) | 1995-10-09 |
Family
ID=11677700
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5007871A Expired - Fee Related JPH0792940B2 (ja) | 1993-01-20 | 1993-01-20 | 光学ピックアップ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0792940B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3626003B2 (ja) * | 1997-10-06 | 2005-03-02 | 富士通株式会社 | 光学的情報記憶装置 |
-
1993
- 1993-01-20 JP JP5007871A patent/JPH0792940B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0684226A (ja) | 1994-03-25 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |