JP3533813B2 - 受発光素子及びこれを用いた光学ピックアップ - Google Patents

受発光素子及びこれを用いた光学ピックアップ

Info

Publication number
JP3533813B2
JP3533813B2 JP05678896A JP5678896A JP3533813B2 JP 3533813 B2 JP3533813 B2 JP 3533813B2 JP 05678896 A JP05678896 A JP 05678896A JP 5678896 A JP5678896 A JP 5678896A JP 3533813 B2 JP3533813 B2 JP 3533813B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
prism
receiving element
semi
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP05678896A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH09231601A (ja
Inventor
紀彰 西
公博 斉藤
忠司 森本
充紀 植田
毅 久保
憲雅 松尾
和由 堀江
由利子 佐藤
邦宣 篠
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP05678896A priority Critical patent/JP3533813B2/ja
Publication of JPH09231601A publication Critical patent/JPH09231601A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3533813B2 publication Critical patent/JP3533813B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、受発光素子とこれ
を用いた光学ピックアップ及び光ディスク装置に係り、
例えば、MO等の光磁気ディスク状記憶媒体に記憶情報
を読み書きするための受発光素子とこれを用いた光学ピ
ックアップ及び光ディスク装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、例えば光磁気ディスクを記録再生
するための光学ピックアップは、例えば、図8に示すよ
うに構成されている。図8において、光学ピックアップ
1は、半導体レーザ素子2、グレーティング3、ビーム
スプリッタ4、コリメータレンズ5、対物レンズ6、ウ
ォラストンプリズム7、マルチレンズ8及び光検出器9
を備えており、これらの各光学部品が個別にマウントさ
れている。
【0003】すなわち、この光学ピックアップ1は、半
導体レーザ素子2から出射される光ビームをグレーティ
ング3を通してビームスプリッタ4に入射し、ビームス
プリッタ4で、半導体レーザ素子2から出射された光ビ
ームと光磁気ディスクMOの信号記録面からの戻り光ビ
ームを分離する。ビームスプリッタ4は、一般に、一対
の光学プリズムとこれら一対の光学プリズムの間に蒸着
やスパッタリングによって形成された多層誘電体層とに
よって構成されている。
【0004】上記ビームスプリッタ4により分離されて
透過した半導体レーザ素子2からの例えばP偏光成分の
光ビームは、コリメータレンズ5に入射され、コリメー
タレンズ5で平行な光ビームに変換されて対物レンズ6
に入射される。対物レンズ6は、入射光を光磁気ディス
クMOの信号記録面のある一点に収束して、照射し、対
物レンズ6は、フォーカス方向及びトラッキング方向に
駆動される。光磁気ディスクMOの信号記録面に照射さ
れた上記光ビームは、信号記録面の軸の方向によってカ
ー効果によって、その偏光面が回転され、S偏光成分を
含んだ光ビームとなる。光磁気ディスクMOの信号記録
面からの戻り光ビームは、再び対物レンズ6及びコリメ
ータレンズ5を介してビームスプリッタ4に入射され、
ビームスプリッタ4でその反射率に応じた光量の光ビー
ムが反射,分離される。
【0005】このビームスプリッタ4によって分離され
た戻り光ビームは、ウォラストンプリズム7に入射さ
れ、ウォラストンプリズム7で、複数の光ビームに分割
されて、マルチレンズ8に入射される。マルチレンズ8
に入射された戻り光ビームは、フォーカスエラー検出の
ための非点収差が発生されるとともに、光検出器9まで
の戻り光ビームの光路長の短縮化が図られている。光検
出器9は、マルチレンズ8を介してウォラストンプリズ
ム7で複数の光ビームに分割された戻り光ビームを受光
するために、その受光面が、複数の受光部から構成され
ており、フォーカス信号、トラッキングエラー信号等の
エラー信号及び光磁気ディスクMOの読み取り信号を受
光する。このように、図8に示した光学ピックアップ1
は、個別にマウントされた複数の光学部品により、光磁
気ディスクMOに書き込まれている記録情報を読み取る
ようになっており、小型化や高信頼性化が困難であると
共に、部品点数が多く、各部品の製造工程,光学ピック
アップの組立工程や調整工程が複雑になり、コストが高
くなってしまうという問題があった。
【0006】これに対して、再生専用の光ディスク、例
えば、CD(Compact Disc)等の再生装置においては、
図9に示すような、一体型受発光素子方式のものが採用
されている。この一体型受発光素子方式の光学ピックア
ップ10は、対物レンズ11、光路折曲用ミラー12、
13及び受発光素子14を備えており、受発光素子14
から照射された光ビームを光路折曲用ミラー12、13
及び対物レンズ11を介して、光ディスクCDの信号記
録面に収束合焦させる。上記受発光素子14は、図10
に示すように構成され、発光素子と受光素子を一体の光
学ブロックとして、半導体パッケージに封入されたもの
である。受発光素子14は、第一の半導体基板15上に
第二の半導体基板16が載置され、第二の半導体基板1
6上にレーザダイオードチップ17が搭載されている。
【0007】レーザダイオードチップ17の前方の第一
の半導体基板15上には、レーザダイオードチップ17
側に傾斜面(光路分岐面)を有した台形形状のプリズム
18が配設されており、この光路分岐面には、ビームス
プリッタとしての無偏光半透過膜18aが形成されてい
る。また、プリズム18は、その上面に、全反射膜18
bが形成されており、その下面に、無偏光半透過膜18
cが形成されている。プリズム18は、レーザダイオー
ドチップ17から出射された光ビームを、その光路分岐
面により反射して、光ビームを外部に出射する。この受
発光素子14から出射された光ビームは、図9に示すよ
うに、光路折曲用ミラー13、12を介して対物レンズ
11に入射され、対物レンズ11により光ディスクCD
の信号記録面に収束合焦される。光ディスクCDにより
反射された光ビームは、対物レンズ11及び光路折曲用
ミラー12、13を介して受発光素子14のプリズム1
8内に入射し、プリズム18の底面及び上面で順次に反
射されることにより、このプリズム18の底面の二ヶ所
で、プリズム18の下方に出射するようになっている。
そして、第一の半導体基板15の上面には、プリズム1
8の底面の二ヶ所から出射した光を受光する位置に、光
検出器19a,19bが形成されている。
【0008】光検出器19a,19bは、通常、その中
央付近において平行に延びる三本の分割ラインによって
4分割されており、光ディスクCDで読み取った情報信
号を検出する。また、4分割されたセンサ素子のうち、
中央よりの二つのセンサ素子による検出信号の差を取る
ことにより、フォーカスエラー信号を検出する。このよ
うに、受発光素子14は、無偏光光学系を用いることに
より、小型化、高性能化が実現されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の光学ピックアップ10においては、光学系と
して、無偏光光学系が用いられた構成となっていたた
め、CD等の再生専用の光ディスクの再生装置には、適
用することができるが、光磁気ディスクの記録再生装置
の光学ピックアップとしては、そのままでは適用するこ
とがでない。このため、光磁気ディスクの記録再生用の
光学ピックアップに適用するには、例えば図11に示す
ように、プリズム18と無偏光半透過膜18cとの間
に、平行平板状の半波長板18dを設けると共に、ビー
ムスプリッタとしての無偏光半透過膜18aの代わり
に、検光子機能を有するPビームスプリッタ(ポラライ
ズド・ビームスプリッタ)18eを用いる等の必要があ
る。
【0010】ところが、従来の受発光素子に単に上述の
ようにビームスプリッタとしてPビームスプリッタを用
いると、Pビームスプリッタとなるところに入射する光
ビーム線の入射角の中心値が21度程度と小さな角度に
なり、多層膜によるビームスプリッタを使用することが
できず、またプリズム18の部品点数が多くなってしま
い、製造工程が複雑となり、製造コスト及び組立コスト
が高くなってしまうという問題があった。
【0011】本発明は、以上の点に鑑み、光磁気ディス
クに適用可能で、小型、軽量、かつ、信頼性の高い受発
光素子とこれを利用した光学ピックアップ及び光磁気デ
ィスク装置を提供することを目的としている。
【0012】
【課題を解決するための手段】上述したような技術課題
を解決するために提案される本発明に係る受発光素子
は、第一の半導体基板上に形成された受光素子と、前記
第一の半導体基板上に搭載された第二の半導体基板上に
形成された発光素子と、互いに平行な二面を有し、この
二面と斜めに交差するように設けられた光路分岐面を有
し、この光路分岐面には、前記発光素子から出射された
光ビームと光ディスクの信号記録面で反射された戻り光
ビームとを分離する光分離手段と、第一の半導体基板に
対向する面に形成された半透過膜とを有し、且つ全体が
複屈折性材料から成るプリズムとを備える。この受光素
子を構成する受光素子は、第一、第二、第三の光検出器
からなり、光ディスクからの戻り光は、光分離手段を透
過して半透過膜に入射し、その一部は半透過膜を透過し
て第一の光検出器に入射するとともに、その一部は半透
過膜で反射され、更にプリズムの上面で反射して第二及
び第三の光検出器に入射する。
【0013】上記構成によれば、第一の半導体基板上に
受光素子が形成され、この第一の半導体基板上に搭載さ
れた第二の半導体基板上に発光素子が形成されている。
第一の半導体基板上には、プリズムの半透過膜そして好
ましくは反射防止膜または光分離手段が形成された互い
に平行な二面のうちの一方の面が載置されている。そし
て、プリズムは、発光素子から出射された光ビームの光
路を分岐する光分離手段を備えた光路分岐面を有し、こ
の光路分岐面からプリズム内に入射された光ビームは、
半透過膜の形成された面から受光素子に照射される。
【0014】これにより、光路分岐面から直接に半透過
膜の形成された一方の面に入射する光ビームは、その一
部が透過して受光素子に入射すると共に、その一部が反
射されて、プリズムの反対側の平行な他方の面に入射す
る。ここで、この他方の面では、高反射層により、光ビ
ームが反射されて、再び光ビームは、上記一方の面に入
射し、半透過膜または好ましくは反射防止膜,偏光依存
性光分離膜を通って、受光素子に照射される。
【0015】従って、プリズムの一方の面で反射された
光ビームを他方の面で再び反射させるために、従来のよ
うに全反射膜を備える必要がないので、プリズムの製造
工程数が少なくて済み、コストが低減されることにな
る。
【0016】前記プリズムが、その平行な二面及び光路
反射面の必要な領域を残して、面取りされている場合に
は、プリズムに構成するために必要な複屈折性材料の量
が少なくて済み、製造コストが低減されると共に、面取
り部によりプリズム内の不要な迷光が低減される。
【0017】光磁気信号のエンハンス機能を備えている
場合には、光磁気信号のS/N比が向上して、より正確
な光磁気信号が検出される。
【0018】前記プリズムが、その第一の半導体基板に
対向する面と反対側の面に、高反射層を備えている場
合、あるいは半透過膜で反射された後反対側の面で反射
された光ビームが入射する部分に、反射防止膜または偏
光依存性光分離膜を備えている場合には、半透過膜で反
射された光ビームの損失が抑えられるので、受光素子へ
の入射光量が増大して、より正確な信号検出が行われ
る。
【0019】
【実施形態】以下、本発明の好適な実施形態を添付図面
に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述べる実施形
態は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に好ま
しい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以
下の説明において、特に本発明を限定する旨の記載がな
い限り、これらの態様に限られるものではない。
【0020】図7は、この発明の実施形態に係る受発光
素子及びこれを利用した光学ピックアップを組み込んだ
光ディスク装置の一実施形態を示している。図7におい
て、光ディスク装置110は、光ディスクMOを回転駆
動する駆動手段としてのスピンドルモータ112と、光
学ピックアップ113、その駆動手段としての送りモー
タ114、光ディスクに対して情報記録を行うための磁
気ヘッド115を備えている。ここで、スピンドルモー
タ112は、システムコントローラ116及びサーボ制
御回路118により駆動制御され、所定の回転数で回転
される。光ディスク111は、複数の種類の光ディスク
を選択して、それぞれ再生できるようになっている。し
たがって、例えば光磁気ディスクだけでなく、CD等の
再生専用光ディスクを再生することも可能である。
【0021】また、光学ピックアップ113は、この回
転する光ディスクMOの信号記録面に対して、光を照射
して、信号変復調器及びECC117からの信号に基づ
いて、記録磁気ヘッド115とともに、信号の記録を行
ない、またはこの信号記録面からの戻り光を検出するた
めに、信号変復調器及びECC117に対して戻り光に
基づく再生信号を出力する。
【0022】これにより、信号変復調器及びECC11
7の信号復調部にて復調された記録信号は、エラーコレ
クション部を介して誤り訂正され、コンピュータのデー
タストレージ用であればインターフェイス120を介し
て、外部コンピュータ等に送出される。これにより、外
部コンピュータ等は、光ディスクMOに記録された信号
を、再生信号として受け取ることができるようになって
いる。また、光ディスク装置がオーディオ用であれば、
D/A,A/D変換器121のD/A変換部でディジタ
ル/アナログ変換され、オーディオ信号を得る。
【0023】上記光学ピックアップ113には、例えば
光ディスクMO上の所定の記録トラックまで、移動させ
るための送りモータ114が接続されている。スピンド
ルモータ112の制御と、送りモータ114の制御と、
光学ピックアップ113の対物レンズを保持する二軸ア
クチュエータのフォーカシング方向及びトラッキング方
向の制御は、それぞれサーボ制御回路118により行わ
れる。
【0024】図1は、本発明の受発光素子及び光学ピッ
クアップの好適な実施形態を示す図である。図1におい
て、光学ピックアップ20は、受発光素子21と、この
受発光素子21から出射される光ビームを図7の光磁気
ディスクMOの表面に収束させる対物レンズ22と、受
発光素子21から出射された光ビームを対物レンズ22
に導く2個の光路折曲用ミラー23,24とを有してい
る。
【0025】光学ピックアップ20は、受発光素子21
から出射された光ビームを光路折曲用ミラー23、24
を介して対物レンズ21に導き、対物レンズ21により
光磁気ディスクMOの信号記録面に収束合焦させる。光
磁気ディスクMOの信号記録面で反射された光ビーム
は、対物レンズ21及び光路折曲用ミラー24,23を
介して、受発光素子21に入力される。
【0026】上記受発光素子21は、図2に示すよう
に、発光素子及び受光素子を一体の光学ブロックとし
て、半導体パッケージに封入されたものである。すなわ
ち、受発光素子21は、第一の半導体基板25上に光出
力用の第二の半導体基板26が載置され、この第二の半
導体基板26上にレーザダイオードチップ27が搭載さ
れている。
【0027】レーザダイオードチップ27の前方の第一
の半導体基板25上には、レーザダイオードチップ27
側に略45度の斜面として形成された光路分岐面28a
を有するプリズム28が設置されており、この光路分岐
面28aには、光分離手段としての例えば誘電体多層膜
29が形成されている。プリズム28は、例えば一軸性
結晶LN(LiNbO3 ),二軸性結晶KTP(KTi
OPO4 )または一軸性結晶YVO4 等の複屈折性材料
から構成されており、図示の場合、上面28b,及び下
面28cが互いに平行に形成されている。
【0028】この誘電体多層膜29は、レーザダイオー
ドチップ27からの光ビームを反射させると共に、光磁
気ディスクMOからの戻り光を透過させるように構成さ
れる。ここで、誘電体多層膜29が、P偏光に対する透
過率TpがS偏光に対する透過率Tsより大きく選定さ
れていると、光磁気信号のエンハンス機能を有すること
になり、光磁気信号のS/N比が向上し、より正確な光
磁気信号の検出が行われることになる。
【0029】そして、光磁気ディスクMOにより反射さ
れた戻り光ビームは、カー効果により偏光面が回転され
た光磁気信号成分を含んでおり、プリズム28の光路分
岐面28aから誘電体多層膜29を透過してプリズム2
8内に入射して、このプリズム28の下面に達する。こ
のプリズム28の光が入射する下面領域には、半透過膜
30が選択的に(第二,第三の光検出器にかさならない
ように)形成されていると共に、その下方の第一の半導
体基板25の上面部には、第一の光検出器31が形成さ
れている。
【0030】また、この半透過膜30により反射され、
さらにプリズム28の上面で反射された光ビームが、再
びプリズム28の底面に達する領域には、光ビームの透
過率を促進するために、後述のように、反射防止膜また
は偏光依存性光分離膜32(図4参照)が形成されてい
ると共に、その下方の第一の半導体基板25の上面部に
は、第二及び第三の光検出器33,34が形成されてい
る。
【0031】ここで、各光検出器31と33,34は、
詳細には、図3に示すように、実質的に発光点であるレ
ーザダイオードチップ27と共役な位置(即ち、図示の
場合、プリズム28の上面で反射される位置)の前後に
配設されている。この場合、プリズム28が複屈折性材
料から構成されていることから、光ビームがプリズム2
8内に入射すると、入射光は常光及び異常光の二つの光
線に、その光路が分岐されることになるので、プリズム
28の上面28bで反射された二つの光ビームは、それ
ぞれプリズム28の下面28cに達する。従って、これ
ら二つの光線をそれぞれ受光するように、第二及び第三
の光検出器33,34が設けられている。尚、第一の光
検出器31に入射する光ビームは、その分離が僅かであ
ることから、実質的に一つの光束として処理可能である
ことから、第一の光検出器31のみが設けられている。
【0032】ここで、半透過膜30で反射された光ビー
ムは、プリズム28の上面28bにて、プリズム28を
構成する複屈折性材料の屈折率と外側の空気の屈折率の
差に基づいて、反射される。つまり、プリズム28を構
成する複屈折材料に高い屈折率の材料を用いると、プリ
ズム28の上面28aを全反射のように作用させること
ができる。従って、従来のようにプリズム28の上面2
8bに全反射膜を設ける必要はないが、図4に示すよう
に、プリズム28の上面に、光ビームの光量低下を防止
するために、高反射層35が備えられていてもよい。こ
の高反射層35は、例えば反射率98%程度の誘電体高
反射膜から構成されるが、Al,Ag等の金属膜や金属
板から構成されていてもよい。
【0033】ここで、プリズム28は、第一の半導体基
板25に対して接着剤により固定されるが、一般に接着
剤の屈折率は例えば780nmの近赤外域では約1.5
であるので、プリズム28を構成する複屈折性材料と接
着剤の屈折率の差が大きい場合には、プリズム28と接
着剤との間に、反射防止膜32を設けることが望まし
い。さらに、プリズム28内には、誘電体多層膜29,
半透過膜31等の特性の角度分布や、プリズム28を構
成する複屈折性材料の結晶の固有偏光方向の光束内分布
等によって、入射する光ビームの光束内に光量分布が発
生してしまう。このような光量分布は、場合によって
は、光磁気再生信号に悪影響を及ぼすだけでなく、サー
ボ信号にも悪影響を与えることになる。このため、上述
した光量分布を補正するために、P偏光とS偏光に対す
る光学特性に差を有する誘電体多層膜等で形成した偏光
依存性光分離膜32が、プリズム28の下面に設けられ
ていてもよい。
【0034】上述した光検出器31,33,34は、そ
れぞれ光磁気ディスクMOの半径方向に関して、分割さ
れている。即ち、光検出器31は、図2に示すように、
四つの受光部a,b,c,dに分割され、また光検出器
33,34は、それぞれ両側と中央の三つの受光部x,
y,xとw,z,wに分割されている。そして、各受光
部a,b,c,dとx,y,w,zからの検出信号S
a,Sb,Sc,Sd及びSx,Sy,Sw,Szは、
それぞれ図示しないアンプにより電流−電圧変換された
後、例えば受発光素子21の基板25に形成された図示
しない演算回路もしくは、各受光部と接続された受発光
素子21の外部の演算回路により、以下のようにして、
光磁気再生信号(MO信号),ピット再生信号及びフォ
ーカスエラー信号FCSとトラッキングエラー信号TR
Kが演算される。
【0035】即ち、光磁気再生信号MO・RFは、
【数1】 により得られ、ピット再生信号PIT・RFは、
【数2】 により得られる。さらに、フォーカスエラー信号FCS
は、各検出部31,33,34の検出信号(Sa,S
b,Sc,Sd),(Sx,Sy)及び(Sw,Sz)
のうち、少なくとも一つの検出信号に基づいて得られ、
また、トラッキングエラー信号TRKは、上記各検出信
号(Sa,Sb,Sc,Sd),(Sx,Sy)及び
(Sw,Sz)のうち、何れか一組の検出信号を演算し
て得られる。
【0036】本実施形態による光学ピックアップ20は
以上のように構成されており、光学ピックアップ20に
おいては、受発光素子21のレーザダイオードチップ2
7から発射された光ビームが、プリズム28の光路分岐
面28aに形成された誘電体多層膜29により反射され
る。この光路分岐面28aでは、誘電体多層膜29によ
って、光ビームのうち、例えばS偏光成分が多く反射さ
れ、光路折曲用ミラー23,24を介して対物レンズ2
2に入り、この対物レンズ22により光磁気ディスクM
Oの信号記録面に収束照射される。
【0037】光磁気ディスクMOの信号記録面からの戻
り光である光ビームは、信号記録面にてカー効果により
回転され、記録信号を含んだ主としてP偏光となる。こ
のP偏光成分を含んだ戻り光は、対物レンズ22及び光
路折曲用ミラー23,24を介して、受発光素子21の
プリズム28の光路分岐面28aに入射し、誘電体多層
膜29を透過する。
【0038】この戻り光は、誘電体多層膜29の透過,
屈折時に固有偏光の異なる2群の光ビームに僅かに分離
し、この分離した光ビームは、半透過膜30に入射し、
一部が透過すると共に、一部が反射され、プリズム28
の上面に導かれる。
【0039】この2群の光ビームは、プリズム28の上
面に形成された高反射層35により、高い反射率にて反
射され、それぞれプリズム28の底面に達して、好まし
くはプリズム28の底面から反射防止膜または偏光依存
性光分離膜を介して、光検出器33,34に入射する。
【0040】このようにして、光検出器31,33及び
光検出器34は、それぞれ入射する光ビームの入射光量
に基づいて、それぞれ検出信号(Sa+Sb+Sc+S
d),(Sx+Sy)及び(Sw+Sz)を出力する。
そして、これらの検出信号がアンプにより増幅され、更
に演算回路によってそれぞれ加減算処理が行われて、上
述のように、光磁気再生信号MO信号,ピット再生信号
PITとフォーカスエラー信号FCS及びトラッキング
エラー信号TRKが得られる。
【0041】このように、本実施形態の受発光素子21
及びこれを用いた光学ピックアップ20によれば、プリ
ズム28が複屈折性材料によって一体に形成されている
ことにより、光磁気ディスクMOからの戻り光がプリズ
ム28内に入射して分離されると共に、その底面に形成
された半透過膜31により反射された光ビームが、プリ
ズム28の上面にて、プリズム28を構成する複屈折性
材料と外気の屈折率の差に基づいて反射され、再びプリ
ズム28の底面に導かれて、第二及び第三の光検出器に
入射することになる。
【0042】従って、プリズム28の上面に、全反射膜
を設ける必要がないことから、プリズム28の製造工程
が削減され、コストが低減されることになり、小型,軽
量で且つ信頼性の高い受発光素子21そして光学ピック
アップ20に適用することができる。さらに、上記受発
光素子21は、図9に示した従来のCD用受発光素子1
4と比較して、プリズム28の構成材料を複屈折性材料
に変更すると共に、第一の半導体基板25上に形成され
る光検出器31,33,34のパターンを変更するだけ
で、容易に構成される。従って、受発光素子21及び光
学ピックアップ20の製造設備は、従来のCD用のもの
と共通化することが可能であり、コストが低減されるこ
とになる。
【0043】さらに、上記実施形態においては、プリズ
ム28は、図2に示すように、その光路分岐面28a
は、プリズム28の上面から下面まで延びているが、こ
の場合、図5に示すように、レーザダイオードチップ2
7からの光ビームの一部が、光路分岐面28aに形成さ
れた誘電体多層膜29を透過して、迷光として直接に第
一の検出器31に入射してしまう場合がある。この場
合、第一の光検出器31の検出信号がこの迷光によって
変化してしまう。このため、例えば図6に示すように、
プリズム28の光路分岐面28aのうち、光磁気ディス
クMOからの戻り光が入射する際に、不要な部分28b
が面取りされることにより、上述した迷光の第一の光検
出器31への入射が排除される。
【0044】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、光
磁気ディスクに適用可能で、小型、軽量、かつ、信頼性
の高い、受発光素子と光学ピックアップ及び光磁気ディ
スク装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による受発光素子の一実施形態を組み込
んだ光学ピックアップの構成を示す概略図である。
【図2】図1の受発光素子の拡大断面図である。
【図3】図2の受発光素子における発光点と光検出器の
共役関係を示す概略図である。
【図4】図2の受発光素子におけるプリズムの構成を示
す概略図である。
【図5】図2の受発光素子におけるプリズム内の迷光を
示す図である。
【図6】図2の受発光素子におけるプリズムの変形例で
の迷光を示す図である。
【図7】図1の受発光素子を利用した光学ピックアップ
を含む光ディスク装置の構成を示す図である。
【図8】従来の光磁気ディスクの光学ピックアップの構
成を示す概略図である。
【図9】従来のCD用の光学ピックアップの構成を示す
概略図である。
【図10】図8の受発光素子の拡大断面図である。
【図11】図9の受発光素子の変形例を示す拡大断面図
である。
【符号の説明】
20・・・光学ピックアップ、21・・・受発光素子、
22・・・対物レンズ、23,24・・・光路折曲用ミ
ラー、25・・・第一の半導体基板、26・・・第二の
半導体基板、27・・・レーザダイオードチップ、28
・・・プリズム、28a・・・光路分岐面、29・・・
誘電体多層膜、30・・・半透過膜、31・・・第一の
光検出器、32・・・反射防止膜または偏光依存性光分
離膜、33・・・第二の光検出器、34・・・第三の光
検出器、35・・・高反射層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 植田 充紀 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソ ニー株式会社内 (72)発明者 久保 毅 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソ ニー株式会社内 (72)発明者 松尾 憲雅 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソ ニー株式会社内 (72)発明者 堀江 和由 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソ ニー株式会社内 (72)発明者 佐藤 由利子 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソ ニー株式会社内 (72)発明者 篠 邦宣 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソ ニー株式会社内 (56)参考文献 特開 平5−205339(JP,A) 特開 平7−294739(JP,A) 特開 平2−278779(JP,A) 特開 平7−169128(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G11B 7/13 G02B 5/04 G11B 7/135

Claims (8)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第一の半導体基板上に形成された受光素子
    と、 前記第一の半導体基板上に搭載された第二の半導体基板
    上に形成された発光素子と、 互いに平行な二面を有し、この二面と斜めに交差するよ
    うに設けられた光路分岐面を有し、この光路分岐面に
    は、前記発光素子から出射された光ビームと光ディスク
    の信号記録面で反射された戻り光ビームとを分離する光
    分離手段と、第一の半導体基板に対向する面に形成され
    た半透過膜とを有し、且つ全体が複屈折性材料から成る
    プリズムとを備え、前記受光素子は、第一、第二、第三の光検出器からな
    り、 前記光ディスクからの戻り光は、前記光分離手段を透過
    して前記半透過膜に入射し、その一部は前記半透過膜を
    透過して前記第一の光検出器に入射するとともに、その
    一部は前記半透過膜で反射し、更に前記プリズムの上面
    で反射して前記第二及び第三の光検出器に入射する こと
    を特徴とする受発光素子。
  2. 【請求項2】前記プリズム、前記平行な二面と光路反
    射面の必要な領域を残して面取りされていることを特徴
    とする請求項1記載の受発光素子。
  3. 【請求項3】前記光分離手段は、光磁気信号のエンハン
    ス機能を備えていることを特徴とする請求項1記載の受
    発光素子。
  4. 【請求項4】前記プリズム、その第一の半導体基板に
    対向する面と反対側の面に高反射層を備えていることを
    特徴とする請求項1記載の受発光素子。
  5. 【請求項5】前記プリズム、前記半透過膜で反射され
    た後、反対側の面で反射された光ビームが入射する部分
    に、反射防止膜が設けられていることを特徴とする請求
    項1記載の受発光素子。
  6. 【請求項6】前記プリズム、半透過膜で反射された
    後、反対側の面で反射された光ビームが入射する部分
    に、偏光依存性光分離膜が設けられていることを特徴と
    する請求項1に記載の受発光素子。
  7. 【請求項7】受発光素子と、 前記受発光素子から出射された光ビームを光ディスクの
    記録面上に合焦させて照射するとともに前記光ディスク
    の記録面からの戻り光を前記受発光素子に導入する光学
    系とを備えた光学ピックアップであって、 前記受発光素子は、 第一の半導体基板上に形成された受光素子と、 前記第一の半導体基板上に搭載された第二の半導体基板
    上に形成された発光素子と、 互いに平行な二面を有し、この二面と斜めに交差するよ
    うに設けられた光路分岐面を有し、この光路分岐面に
    は、前記発光素子から出射された光ビームと光ディスク
    の信号記録面で反射された戻り光ビームとを分離する光
    分離手段と、第一の半導体基板に対向する面に形成され
    た半透過膜とを有し、且つ全体が複屈折性材料から成る
    プリズムとを備え、前記受光素子が、第一、第二、第三の光検出器からな
    り、前記光ディスクからの戻り光は、前記光分離手段を
    透過して前記半透過膜に入射し、その一部は前記半透過
    膜を透過して前記第一の光検出器に入射するとともに、
    その一部は前記半透過膜で反射され、更に前記プリズム
    の上面で反射して前記第二及び第三の光検出器に入射す
    ことを特徴とする光学ピックアップ。
  8. 【請求項8】光ディスクを回転駆動する駆動手段と、 回転する光ディスクに対して対物レンズを介して光を照
    射し、光ディスクからの信号記録面からの戻り光を対物
    レンズを介して光検出器により検出する光学ピックアッ
    プと、 対物レンズを二軸方向に移動可能に支持する二軸アクチ
    ュエータと、 光検出器からの検出信号に基づいて再生信号を生成する
    信号処理回路と、 光検出器からの検出信号に基づいて光学ピックアップの
    対物レンズを二軸方向に移動させるサーボ回路とを備え
    る光ディスク装置であって、 前記光学ピックアップは、 受発光素子と、 前記受発光素子から出射された光ビームを光ディスクの
    記録面上に合焦させて照射するとともに前記光ディスク
    の記録面からの戻り光を前記受発光素子に導入する光学
    系とを備えた光学ピックアップであって、 前記受発光素子は、 第一の半導体基板上に形成された受光素子と、 前記第一の半導体基板上に搭載された第二の半導体基板
    上に形成された発光素子と、 互いに平行な二面を有し、この二面と斜めに交差するよ
    うに設けられた光路分岐面を有し、この光路分岐面に
    は、前記発光素子から出射された光ビームと光ディスク
    の信号記録面で反射された戻り光ビームとを分離する光
    分離手段と、第一の半導体基板に対向する面に形成され
    た半透過膜とを有し、且つ全体が複屈折性材料から成る
    プリズムとを備え、前記受光素子が、第一、第二、第三の光検出器からな
    り、前記光ディスクからの戻り光は、前記光分離手段を
    透過して前記半透過膜に入射し、その一部は前記半透過
    膜を透過して前記第一の光検出器に入射するとともに、
    その一部は前記半透過膜で反射され、更に前記プリズム
    の上面で反射して前記第二及び第三の光検出器に入射す
    ことを特徴とする光ディスク装置。
JP05678896A 1996-02-20 1996-02-20 受発光素子及びこれを用いた光学ピックアップ Expired - Fee Related JP3533813B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP05678896A JP3533813B2 (ja) 1996-02-20 1996-02-20 受発光素子及びこれを用いた光学ピックアップ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP05678896A JP3533813B2 (ja) 1996-02-20 1996-02-20 受発光素子及びこれを用いた光学ピックアップ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH09231601A JPH09231601A (ja) 1997-09-05
JP3533813B2 true JP3533813B2 (ja) 2004-05-31

Family

ID=13037163

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP05678896A Expired - Fee Related JP3533813B2 (ja) 1996-02-20 1996-02-20 受発光素子及びこれを用いた光学ピックアップ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3533813B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4651731B2 (ja) * 2009-07-29 2011-03-16 西進商事株式会社 レーザースクライブ加工方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH09231601A (ja) 1997-09-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100613737B1 (ko) 집적 광학 소자 및 광학 픽업 및 광 디스크 장치
JPS63161541A (ja) 光学ピツクアツプ装置
US5579291A (en) Compact-size magneto-optical head apparatus
JP3533813B2 (ja) 受発光素子及びこれを用いた光学ピックアップ
JPH07105084B2 (ja) 光磁気デイスク装置
JP3439903B2 (ja) 光ディスク装置用光学ヘッド
JPH09138967A (ja) 光ピックアップ装置
JPS6220149A (ja) 光学ヘツド
JPH10149560A (ja) 光学ピックアップ及び光ディスク装置
JP4123217B2 (ja) 光学ピックアップ装置、光ディスク装置及びフォーカスエラー信号検出方法
JP3740777B2 (ja) 受発光素子、光学ピックアップ装置及び光ディスク装置
JP3777730B2 (ja) 集積光学素子及び光学ピックアップ装置並びに記録再生装置
JP2581779B2 (ja) 光磁気記録媒体からの信号検出装置
JPH10340494A (ja) 偏光成分分離光学素子、光磁気信号検出器、光磁気ピックアップおよび光磁気信号記録再生装置
JPS60129943A (ja) 光学ピツクアツプ装置
JP3451663B2 (ja) 光ピックアップ装置
JPH0684226A (ja) 光学ピックアップ装置
JP2001110082A (ja) 光学ピックアップ及び光ディスク装置
JP2795271B2 (ja) 光ディスク装置
JPH10186135A (ja) 偏光素子及びこれを利用した光学ピックアップ
JPH1114828A (ja) 光ビーム偏光成分分離手段、集積素子、光ピックアップおよび光ディスク装置
JPH0836781A (ja) 光学ヘッド
JPH0845127A (ja) 光ヘッド
JPS63292432A (ja) 光学ピックアップ装置
JPH04177623A (ja) 光学式情報記録再生装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040105

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040217

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040301

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080319

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090319

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100319

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees