JP3451663B2 - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば光ディスクの再
生装置，記録装置及び記録再生装置の光学系として用い
て好適な光ピックアップ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】今日において、記憶容量が大きいこと，
記録データの保存性が良いこと，簡単に書き換え可能で
あること等から、記録データの記録再生には、光磁気デ
ィスクが多く用いられるようになってきた。

【０００３】上記光磁気ディスクに記録データを記録再
生する光磁気ディスク記録再生装置に設けられている光
ピックアップ装置は、例えば半導体レーザと、この半導
体レーザからの出射光を平行光にするコリメータレンズ
と、このコリメータレンズで平行光にされた出射光を集
光して光磁気ディスクの記録面に照射する対物レンズ
と、上記半導体レーザ及び対物レンズ間に設けられ、上
記光磁気ディスクの記録面で反射された戻り光の一部を
分離する第１の偏光ビームスプリッタと、この第１の偏
光ビームスプリッタで分離された戻り光の一部を検波す
る検光子と、この検光子を透過した光のレベルを検出す
るフォトディテクタ等から構成されている。

【０００４】このような構成を有する光ピックアップ装
置は、上記半導体レーザから出射されるレーザビームを
集光して上記光磁気ディスクの記録面に照射し、この記
録面で反射された戻り光の一部を上記第１の偏光ビーム
スプリッタで分離し、この分離された戻り光の一部のう
ち、所定の偏光面、すなわち、所定の光振動面を有する
成分のレベルを上記フォトディテクタで検出することに
より、上記光磁気ディスクに記録されている記録データ
を再生するようになっている。

【０００５】上述の検光子としては、シートアナライザ
が一般的に用いられるが、このシートアナライザは消光
比が低いためＳ／Ｎ比が低いという問題がある。このた
め、現在主流となっている光ピックアップ装置には上記
検光子の代わりに１／２波長板が設けられている。

【０００６】この１／２波長板が設けられた光ピックア
ップ装置は、上記第１の偏光ビームスプリッタで分離さ
れた戻り光を、上記１／２波長板及び第２の偏光ビーム
スプリッタで、さらにＰ波成分及びＳ波成分に分離し、
該Ｐ波成分及びＳ波成分のレベルをそれぞれ２つのフォ
トディテクタで検出し、これらのレベル差を差動増幅器
で検出することにより、上記光磁気ディスクに記録され
ている記録データを再生するようになっている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の光ピッ
クアップ装置は、光磁気ディスクに記録されている記録
データ，プッシュプル信号，フォーカスエラー信号，Ｒ
Ｆ信号を検出するために、それぞれ専用のフォトディテ
クタを設ける必要があるため、部品点数が多くなり構成
が複雑化するうえ、コスト高となる問題を生じていた。

【０００８】また、従来の光ピックアップ装置は、レー
ザビームを光磁気ディスクに収束する対物レンズの正常
位置を基準として±５μｍの狭い範囲内においてフォー
カス制御を行うようになっている。このため、上記対物
レンズが±５μｍの範囲外になっても光磁気ディスク等
にぶつからないようにする必要があり、該光磁気ディス
ク等と対物レンズとの間（ワーキングディスタンス）を
１．３ｍｍ〜１．４ｍｍとる必要があった。従って、ピ
ックアップ自体が大型化してしまう問題があった。

【０００９】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
ものであり、１つのフォトディテクタにより、光ディス
クに記録されている記録データ，プッシュプル信号，フ
ォーカスエラー信号，ＲＦ信号を検出することができ、
部品点数の削減、構成の簡略化を通じてローコスト化を
図ることができるうえ、ワーキングディスタンスを短く
して小型化を図ることができるような光ピックアップ装
置の提供を目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光ピックア
ップ装置は、光ディスクに照射するためのレーザビーム
を出射するレーザ光源と、第１の偏光方向を有する光及
び該第１の偏光方向と直交する第２の偏光方向を有する
光を分離して出射する偏光ビームスプリッタと、入射さ
れるレーザビーム及び該レーザビームが上記光ディスク
に照射されることにより生ずる反射光を所定の角度だけ
旋光して出射する第１の旋光部と、上記第１の旋光部に
隣接して設けられ入射されるレーザビーム及び反射光を
上記第１の旋光部とは逆に所定の角度だけ旋光して出射
する第２の旋光部と、上記第２の旋光部に隣接して設け
られ入射されるレーザビーム及び反射光を上記第１の旋
光部と同じ方向に所定の角度だけ旋光して出射する第３
の旋光部と、上記第３の旋光部に隣接して設けられ入射
されるレーザビーム及び反射光を上記第２の旋光部と同
じ方向に所定の角度だけ旋光して出射する第４の旋光部
とからなり、上記第２，第３の旋光部の境目が、上記偏
光ビームスプリッタを介して出射されるレーザビーム及
び反射光の光軸と一致するように設けられる旋光手段
と、上記旋光手段からのレーザビームを収束して上記光
ディスクに照射する対物レンズと、上記偏光ビームスプ
リッタからの反射光を受光し該受光した反射光の光量に
応じた受光信号を出力する第１の受光部，第２の受光
部，第３の受光部及び第４の受光部が一方向に並列的に
配列されており、上記第２，第３の受光部の境目が上記
反射光の光軸と一致するように設けられる受光手段とを
有することを特徴として上述の課題を解決する。

【００１１】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記受光手段の第１の受光部の受光信号と第２の受
光部の受光信号とを加算した加算信号から、第３の受光
部の受光信号と第４の受光部の受光信号とを加算した加
算信号を減算処理することにより、プッシュプル信号を
検出して出力するプッシュプル検出手段を有することを
特徴として上述の課題を解決する。

【００１２】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記受光手段の第２の受光部の受光信号から第１の
受光部の受光信号を減算処理した減算信号と、第３の受
光部の受光信号から第４の受光部の受光信号を減算処理
した減算信号とを加算処理することにより、フォーカス
エラー信号を検出して出力するフォーカスエラー検出手
段を有することを特徴として上述の課題を解決する。

【００１３】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記受光手段の第１の受光部の受光信号と第２の受
光部の受光信号とを加算した加算信号から、第３の受光
部の受光信号と第４の受光部の受光信号とを加算した加
算信号を減算処理することにより、プッシュプル信号を
検出して出力するプッシュプル検出手段と、上記受光手
段の第２の受光部の受光信号から第１の受光部の受光信
号を減算処理した減算信号と、第３の受光部の受光信号
から第４の受光部の受光信号を減算処理した減算信号と
を加算処理することにより、フォーカスエラー信号を検
出して出力するフォーカスエラー検出手段とを有するこ
とを特徴として上述の課題を解決する。

【００１４】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記受光手段の第１の受光部の受光信号と第３の受
光部の受光信号とを加算処理した加算信号から、第２の
受光部の受光信号と第４の受光部の受光信号とを加算処
理した加算信号を減算処理することにより、上記光ディ
スクに記録されている記録情報を検出して出力する記録
情報検出手段を有することを特徴として上述の課題を解
決する。

【００１５】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記受光手段の各受光部からの受光信号をそれぞれ
加算処理することによりＲＦ信号を検出して出力するＲ
Ｆ検出手段を有することを特徴として上述の課題を解決
する。

【００１６】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記受光手段の第１の受光部の受光信号と第３の受
光部の受光信号とを加算処理した加算信号から、第２の
受光部の受光信号と第４の受光部の受光信号とを加算処
理した加算信号を減算処理することにより、上記光ディ
スクに記録されている記録情報を検出して出力する記録
情報検出手段と、上記受光手段の各受光部からの受光信
号をそれぞれ加算処理することによりＲＦ信号を検出し
て出力するＲＦ検出手段とを有することを特徴として上
述の課題を解決する。

【００１７】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記フォーカスエラー検出手段からのフォーカスエ
ラー信号に基づいて、フォーカス制御を行うフォーカス
制御手段を有することを特徴として上述の課題を解決す
る。

【００１８】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記レーザ光源からのレーザビーム及び上記偏光ビ
ームスプリッタを介して照射される反射光を分割するビ
ームスプリッタと、上記ビームスプリッタからの反射光
の光軸を中心として放射状に設けられた等領域の第１，
第２，第３，第４の受光部からなり、上記ビームスプリ
ッタにより反射された反射光を受光して、上記各受光部
からその受光光量に応じた受光信号をそれぞれ出力する
第２の受光手段と、上記第２の受光手段の第１の受光部
の受光信号及び該第１の受光部に対して対角線上に設け
られた第４の受光部の受光信号を加算処理した加算信号
から、上記第１の受光部に隣接して設けられた第２の受
光部の受光信号及び該第２の受光部に対して対角線上に
設けられた第３の受光部の受光信号を加算処理した加算
信号を減算処理することによりフォーカスエラー信号を
検出して出力する第２のフォーカスエラー検出手段とを
有し、上記フォーカス制御手段は、上記フォーカスエラ
ー検出手段からのフォーカスエラー信号、及び、上記第
２のフォーカスエラー検出手段からのフォーカスエラー
信号に基づいてフォーカス制御を行うことを特徴として
上述の課題を解決する。

【００１９】

【作用】本発明に係る光ピックアップ装置は、レーザ光
源から出射された第１の偏光方向（例えば、Ｐ偏光方
向）を有するレーザビームが偏光ビームスプリッタに入
射される。この偏光ビームスプリッタは、例えばＰ偏光
方向の光を透過させ、該Ｐ偏光方向と直交する第２の偏
光方向であるＳ偏光方向の光を反射する特性を有してい
る。このため、上記偏光ビームスプリッタに入射された
レーザビームは、該偏光ビームスプリッタを透過して旋
光手段に入射される。

【００２０】上記旋光手段は、入射されるレーザビーム
及び該レーザビームが上記光ディスクに照射されること
により生ずる反射光を所定の角度だけ旋光して出射する
第１の旋光部と、上記第１の旋光部に隣接して設けられ
入射されるレーザビーム及び反射光を上記第１の旋光部
とは逆に所定の角度だけ旋光して出射する第２の旋光部
と、上記第２の旋光部に隣接して設けられ入射されるレ
ーザビーム及び反射光を上記第１の旋光部と同じ方向に
所定の角度だけ旋光して出射する第３の旋光部と、上記
第３の旋光部に隣接して設けられ入射されるレーザビー
ム及び反射光を上記第２の旋光部と同じ方向に所定の角
度だけ旋光して出射する第４の旋光部とからなり、上記
第２，第３の旋光部の境目が、上記偏光ビームスプリッ
タを介して出射されるレーザビーム及び反射光の光軸と
一致するように設けられている。

【００２１】従って、上記旋光手段の第１の旋光部を介
したレーザビームは、所定の角度だけ例えば右方向に旋
光され、また、第２の旋光部を介したレーザビームは、
所定の角度だけ左方向に旋光され、また、第３の旋光部
を介したレーザビームは、所定の角度だけ例えば右方向
に旋光され、また、第４の旋光部を介したレーザビーム
は、所定の角度だけ左方向に旋光されて出射される。

【００２２】この旋光手段を介したレーザビームは、対
物レンズにより収束され、光ディスクに照射される。

【００２３】次に、上記光ディスクにレーザビームが照
射されることにより反射光が生ずる。この反射光は、上
記対物レンズを介して上記旋光手段に入射される。

【００２４】具体的には、上記第１の旋光部を介して光
ディスクに照射されたレーザビームの反射光は第４の旋
光部に入射され、第２の旋光部を介して光ディスクに照
射されたレーザビームの反射光は第３の旋光部に入射さ
れ、第３の旋光部を介して光ディスクに照射されたレー
ザビームの反射光は第２の旋光部に入射され、第４の旋
光部を介して光ディスクに照射されたレーザビームの反
射光は第１の旋光部に入射される。

【００２５】上記反射光の偏光方向は、上記レーザビー
ムの偏光方向に対して逆の偏光方向である。このため、
上記第１の旋光部に入射された反射光はさらに左方向に
所定の角度だけ旋光され、第２の旋光部に入射された反
射光はさらに右方向に所定の角度だけ旋光され、第３の
旋光部に入射された反射光はさらに左方向に所定の角度
だけ旋光され、第４の旋光部に入射された反射光はさら
に右方向に所定の角度だけ旋光されて出射される。

【００２６】従って、上記旋光手段の各旋光部を介した
反射光は、それぞれＳ偏光成分とＰ偏光成分との中間成
分を有する光となり出射されることとなる。この旋光手
段を介した反射光は、上記偏光ビームスプリッタに入射
される。

【００２７】上述のように、上記偏光ビームスプリッタ
は、Ｐ偏光成分の光を透過させ、Ｓ偏光成分の光を反射
する特性を有している。このため、上記偏光ビームスプ
リッタに入射された反射光のうち、例えば半分は透過さ
れ、半分は反射されることとなる。上記偏光ビームスプ
リッタにより反射された反射光は、受光手段に照射され
る。

【００２８】上記受光手段は、上記偏光ビームスプリッ
タにより反射された反射光のうち、上記旋光手段の第１
の旋光部を介した反射光を受光する第１の受光部，第２
の旋光部を介した反射光を受光する第２の受光部，第３
の旋光部を介した反射光を受光する第３の受光部、及
び、第４の旋光部を介した反射光を受光する第４の受光
部を、一方向に並列的に配列してなっており、上記第
２，第３の受光部の境目が上記反射光の光軸と一致する
ように設けられている。

【００２９】上記受光手段は、上記各受光部で上記反射
光を受光し、この受光光量に応じた受光信号を出力す
る。

【００３０】記録情報検出手段は、上記受光手段の第１
の受光部の受光信号と第３の受光部の受光信号とを加算
処理した加算信号から、第２の受光部の受光信号と第４
の受光部の受光信号とを加算処理した加算信号を減算処
理することにより、上記光ディスクに記録されている記
録情報を検出して出力する。

【００３１】また、プッシュプル検出手段は、上記受光
手段の第１の受光部の受光信号と第２の受光部の受光信
号とを加算した加算信号から、第３の受光部の受光信号
と第４の受光部の受光信号とを加算した加算信号を減算
処理することにより、プッシュプル信号を検出して出力
する。これにより、上記プッシュプル信号に基づいてト
ラッキング制御を行うことができる。

【００３２】また、ＲＦ検出手段は、上記受光手段の各
受光部からの受光信号をそれぞれ加算処理することによ
りＲＦ信号を検出して出力する。

【００３３】ここで、上記レーザビームを光ディスクに
収束して照射する対物レンズの位置が例えばジャストフ
ォーカス時の位置に対して光ディスク側にずれたとする
と、上記反射光の直径が広がり、上記旋光手段の第２の
旋光部を介したレーザビームの反射光が第３の旋光部及
び第４の旋光部に股がって入射され、第３の旋光部を介
したレーザビームの反射光が第２の旋光部及び第１の旋
光部に股がって入射されることとなる。

【００３４】このようになると、レーザビームの段階で
第２の旋光部により右方向に旋光された光の一部が、反
射光の段階で第４の旋光部により左方向に旋光され、元
のレーザビームの偏光方向であるＰ偏光成分とされ、ま
た、レーザビームの段階で第３の旋光部により左方向に
旋光された光の一部が、反射光の段階で第１の旋光部に
より右方向に旋光され、元のレーザビームの偏光方向で
あるＰ偏光成分とされる。

【００３５】このため、この元の偏光方向とされた一部
の反射光は、上記偏光ビームスプリッタを透過してしま
い、上記受光手段には照射されなくなる。従って、上記
対物レンズの位置が光ディスク側にずれた場合には、受
光手段の第１の受光部及び第４の受光部に照射される反
射光の一部に光量不足が生ずるようになる。

【００３６】同じように、上記対物レンズの位置が逆に
旋光手段側にずれたとすると、上記反射光の直径が狭ま
り、上記旋光手段の第１の旋光部を介したレーザビーム
の反射光が第３の旋光部及び第４の旋光部に股がって入
射され、第４の旋光部を介したレーザビームの反射光が
第２の旋光部及び第１の旋光部に股がって入射されるこ
ととなる。

【００３７】このようになると、レーザビームの段階で
第１の旋光部により左方向に旋光された光の一部が、反
射光の段階で第３の旋光部により右方向に旋光され、元
のレーザビームの偏光方向であるＰ偏光成分とされ、ま
た、レーザビームの段階で第４の旋光部により右方向に
旋光された光の一部が、反射光の段階で第２の旋光部に
より左方向に旋光され、元のレーザビームの偏光方向で
あるＰ偏光成分とされる。

【００３８】このため、この元の偏光方向とされた一部
の反射光は、上記偏光ビームスプリッタを透過してしま
い、上記受光手段には照射されなくなる。従って、上記
対物レンズの位置が光ディスク側にずれた場合には、受
光手段の第２の受光部及び第３の受光部に照射される反
射光の一部に光量不足が生ずるようになる。

【００３９】このように、本発明に係る光ピックアップ
装置においては、フォーカスエラーの方向（対物レンズ
のずれた方向）により、光量不足の現れかたが異なる。

【００４０】フォーカスエラー検出手段は、上記受光手
段の第２の受光部の受光信号から第１の受光部の受光信
号を減算処理した減算信号と、第３の受光部の受光信号
から第４の受光部の受光信号を減算処理した減算信号と
を加算処理することにより、フォーカスエラー信号を検
出し、これをフォーカス制御手段に供給する。

【００４１】上記フォーカスエラー検出手段からのフォ
ーカスエラー信号は、例えば対物レンズを大まかに位置
制御するためのものとなっており、上記フォーカス制御
手段は、上記フォーカスエラー信号に基づいて、上記対
物レンズが所定範囲内に位置するように大まかな位置抑
制を行う。

【００４２】次に、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記偏光ビームスプリッタとレーザ光源との間に、
レーザ光源からのレーザビーム及び上記偏光ビームスプ
リッタを介して照射される反射光をそれぞれ所定の割合
で透過し反射することにより分割するビームスプリッタ
を設けるとともに、上記ビームスプリッタからの反射光
の光軸を中心として放射状に設けられた等領域の第１，
第２，第３，第４の受光部からなり、上記ビームスプリ
ッタにより反射された反射光を受光して、上記各受光部
からその受光光量に応じた受光信号をそれぞれ出力する
第２の受光手段を設けている。

【００４３】これにより、上記偏光ビームスプリッタを
透過した反射光は、上記ビームスプリッタにより反射さ
れ上記第２の受光手段に照射される。上記第２の受光手
段は、上記第１〜第４の受光部で受光した反射光の受光
光量に応じた受光信号を形成して出力する。

【００４４】第２のフォーカスエラー検出手段は、第２
の受光手段の第１の受光部の受光信号及び該第１の受光
部に対して対角線上に設けられた第４の受光部の受光信
号を加算処理した加算信号から、上記第１の受光部に隣
接して設けられた第２の受光部の受光信号及び該第２の
受光部に対して対角線上に設けられた第３の受光部の受
光信号を加算処理した加算信号を減算処理することによ
りフォーカスエラー信号を検出して出力する。

【００４５】上述のようにフォーカスエラーが生じた場
合、上記反射光の一部に光量不足が生ずる。また、上記
第２のフォーカスエラー検出手段は、照射される反射光
の光軸を中心として放射状に４つの受光部が設けられる
構成となっている。このため、対角線上の位置にある受
光部の受光信号を加算処理して２つの加算信号を形成
し、この加算信号の差分を検出することにより、フォー
カスエラーの程度を詳細に検出することができる。この
フォーカスエラー信号は、上記フォーカス制御手段に供
給される。

【００４６】上記フォーカス制御手段は、上記第２のフ
ォーカスエラー検出手段からのフォーカスエラー信号に
基づいて対物レンズの位置制御を行うが、上述のように
上記フォーカス制御手段は、上記フォーカスエラー検出
手段からのフォーカスエラー信号に基づいて上記対物レ
ンズを所定範囲内に大まかに位置制御している。このた
め、第２のフォーカスエラー検出手段からのフォーカス
エラー信号に基づいて、上記対物レンズを即座に位置制
御することができる。

【００４７】また、上記フォーカスエラー検出手段から
のフォーカスエラー信号に基づいて上記対物レンズを所
定範囲内に大まかに位置制御しているため、フォーカス
の引き込み範囲を広くすることができる。このため、対
物レンズと光ディスク等との間であるワーキングディス
タンスを短くすることができ、当該光ピックアップ装置
の小型化を図ることができる。

【００４８】

【実施例】以下、本発明に係る光ピックアップ装置の実
施例について図面を参照しながら説明する。

【００４９】本発明に係る光ピックアップ装置は、例え
ば図１に示すように光ディスクである光磁気ディスク１
に所望の記録データを記録し再生する光磁気ディスク記
録再生装置の光学系に適用することができる。

【００５０】上記図１において、本実施例に係る光ピッ
クアップ装置は、上記光磁気ディスク１及び該光磁気デ
ィスク１に照射するレーザビームを出射するレーザーダ
イオード２（レーザ光源）の間に、上記レーザビームを
平行光とするレンズ３，ビームスプリッタ４，偏光ビー
ムスプリッタ５，旋光板６（旋光手段），対物レンズ７
が、レーザビーム及びレーザビームが上記光磁気ディス
ク１に照射されることにより生ずる反射光の光軸がそれ
ぞれ一致するように直線上に設けられている。

【００５１】上記ビームスプリッタ４には、上記レーザ
ビーム及び反射光を所定の割合で分割する光分割膜４ａ
が設けられている。

【００５２】上記偏光ビームスプリッタ５には、例えば
第１の偏光方向であるＰ偏光成分を有する上記レーザビ
ームを透過し、上記第１の偏光方向と直交する第２の偏
光方向であるＳ偏光成分を有する反射光を反射する偏光
膜５ａが設けられている。

【００５３】上記旋光板６は、入射されるレーザビーム
及び反射光を所定の角度だけ例えば右方向に旋光して出
射する第１の右旋光部６ａ（第１の旋光部）と、入射さ
れるレーザビーム及び反射光を上記第１の右旋光部６ａ
と反対の左方向に所定の角度だけ旋光して出射する第１
の左旋光部６ｂ（第２の旋光部）と、入射されるレーザ
ビーム及び反射光を所定の角度だけ右方向に旋光して出
射する第２の右旋光部６ｃ（第３の旋光部）と、入射さ
れるレーザビーム及び反射光を左方向に所定の角度だけ
旋光して出射する第２の左旋光部６ｄ（第４の旋光部）
とから構成されている。上記各旋光部６ａ〜６ｄは、一
方向に並列的に配列されている。また、上記第１の左旋
光部６ｂ及び第２の右旋光部６ｃの境目が、レーザビー
ム及び反射光の光軸となるように設けられている。

【００５４】また、上記光ピックアップ装置は、上記偏
光ビームスプリッタ５により反射された反射光を第１〜
第４の受光部８Ａ〜８Ｄで受光し、この受光光量に応じ
た受光信号を出力する第１のフォトディテクタ８（受光
手段）を有している。

【００５５】この第１のフォトディテクタ８の各受光部
８Ａ〜８Ｄは、それぞれ加算器１９（ＲＦ検出手段）に
接続されている。また、第１の受光部８Ａは、加算器１
０，加算器１４及び減算器１７に接続されている。ま
た、第２の受光部８Ｂは、加算器９，加算器１４及び減
算器１７に接続されている。また、第３の受光部８Ｃ
は、加算器１０，加算器１３及び減算器１６に接続され
ている。また、第４の受光部８Ｄは、加算器９，加算器
１３及び減算器１６に接続されている。

【００５６】上記加算器９の出力端は、光磁気（ＭＯ）
信号検出回路１１（記録情報検出手段）の反転入力端子
１１ｂに接続されており、上記加算器１０の出力端は、
該ＭＯ信号検出回路１１の非反転入力端子１１ａに接続
されている。

【００５７】上記加算器１３の出力端は、プッシュプル
検出回路１５（プッシュプル検出手段）の反転入力端子
１５ｂに接続されており、上記加算器１４の出力端は、
該プッシュプル検出回路１５の非反転入力端子１５ａに
接続されている。また、このプッシュプル検出回路１５
の出力端子１５ｃは、システムコントローラ２１に接続
されている。

【００５８】上記減算器１６の出力端及び減算器１７の
出力端は加算器１８にそれぞれ接続されており、該加算
器１８（フォーカスエラー検出手段）の出力端は上記シ
ステムコントローラ２１に接続されている。

【００５９】また、上記光ピックアップ装置は、上記ビ
ームスプリッタ４で反射された反射光を収束する対物レ
ンズ２２と、上記対物レンズ２２により収束された反射
光を受光する第２のフォトディテクタ２３（第２の受光
手段）とを有している。

【００６０】上記第２のフォトディテクタ２３は、図４
に示すように反射光の光軸が中心軸Ｏと一致するように
設けられており、この中心軸Ｏを中心として放射状に第
１〜第４の受光部２３Ｅ〜２３Ｈが設けられている。

【００６１】上記第２のフォトディテクタ２３の第１の
受光部２３Ｅ及び第４の受光部２３Ｈはそれぞれ加算器
２５に接続されており、第２の受光部２３Ｆ及び第３の
受光部２３Ｇはそれぞれ加算器２４に接続されている。

【００６２】上記加算器２４の出力端はファインフォー
カスエラー検出回路２６（第２のフォーカスエラー検出
手段）の反転入力端子２６ｂに接続されており、上記加
算器２５の出力端は該ファインフォーカスエラー検出回
路２６の非反転入力端子２６ａに接続されている。ま
た、上記ファインフォーカスエラー検出回路２６の出力
端子２６ｃは上記システムコントローラ２１に接続され
ている。

【００６３】上記システムコントローラ２１は、以下に
説明するように上記プッシュプル検出回路１５からのプ
ッシュプル信号に基づいてトラッキング制御を行い、上
記加算器１８からのラフフォーカスエラー信号に基づい
て、大まかなフォーカス制御を行い、上記ファインフォ
ーカスエラー検出回路２６からのファインフォーカスエ
ラー信号に基づいて、細かなフォーカス制御を行う。

【００６４】すなわち、このシステムコントローラは、
フォーカス制御手段を兼ねていることとなる。

【００６５】次に、このような構成を有する本実施例に
係る光ピックアップ装置の動作説明をする。

【００６６】まず、図１において、上記レーザダイオー
ド２から図５（ａ）に示すようなＰ偏光成分のレーザビ
ームが出射される。このレーザビームは、上記ビームス
プリッタ４を介して偏光ビームスプリッタ５に入射され
る。

【００６７】上記偏光ビームスプリッタ５の偏光膜５ａ
は、Ｐ偏光成分の光は透過し、Ｓ偏光成分の光は反射す
るようになっている。このため、上記ビームスプリッタ
５に入射されたレーザビームはそのまま透過し旋光板６
に入射される。

【００６８】図５（ｂ）に示すように、上記旋光板６に
入射されたレーザビームのうち、第１の右旋光部６ａに
入射されたレーザビームは所定の角度（＋α）だけ右方
向に旋光されて出射され、第１の左旋光部６ｂに入射さ
れたレーザビームは所定の角度（−α）だけ左方向に旋
光されて出射され、第２の右旋光部６ｃに入射されたレ
ーザビームは所定の角度だけ右方向に旋光されて出射さ
れ、第２の左旋光部６ｄに入射されたレーザビームは所
定の角度だけ左方向に旋光されて出射される。この旋光
板６により、各方向に旋光されたレーザビームは、対物
レンズ７により収束され光磁気ディスク１に照射され
る。

【００６９】次に、上記レーザビームを上記光磁気ディ
スク１に照射することにより、各方向に旋光されたレー
ザビームに、該光磁気ディスクに記録されているＭＯ信
号に応じていわゆるカー回転角（＋θｋ）が加算された
旋光角を有する反射光（＋α＋θｋ及び−α＋θｋ）が
生ずる。この反射光のうち、上記第１の右旋光部６ａに
より旋光されたレーザビームの反射光は第２の左旋光部
６ｄに入射され、上記第１の左旋光部６ｂにより旋光さ
れたレーザビームの反射光は第２の右旋光部６ｃに入射
され、上記第２の右旋光部６ｃにより旋光されたレーザ
ビームの反射光は第１の左旋光部６ｄに入射され、上記
第２の左旋光部６ｄにより旋光されたレーザビームの反
射光は第１の右旋光部６ａに入射される。

【００７０】上記レーザビームと反射光とは偏光方向が
逆である。このため、第１の右旋光部６ａに入射された
反射光は、その旋光角がさらに所定の角度だけ左方向に
旋光されて（−２α＋θｋ）出射され、第１の左旋光部
６ｂに入射された反射光は、その旋光角がさらに所定の
角度だけ右方向に旋光されて（＋２α＋θｋ）出射さ
れ、第２の右旋光部６ｃに入射された反射光は、その旋
光角がさらに所定の角度だけ左方向に旋光されて出射さ
れ、第２の左旋光部６ｄに入射された反射光は、その旋
光角がさらに所定の角度だけ右方向に旋光されて出射さ
れる。

【００７１】このような旋光により、上記反射光は図５
（ｃ）に示すようにＰ偏光成分と同図（ｄ）に示すよう
にＳ偏光成分の両方の成分を有するようになる。

【００７２】なお、実際には、上記レーザビームが光磁
気ディスク１に反射されることにより、０次光，＋１次
光，−１次光の反射光が生ずる。このため、上記旋光板
６を介しては、図５（ｅ），（ｆ）に示すようなＰ偏光
成分，Ｓ偏光成分の０次光，＋１次光，−１次光の反射
光が出射されることとなる。

【００７３】また、上記旋光板６を介した反射光は、図
５（ｇ），（ｈ）に示すようにその旋光のされかたによ
り、図中上方向の旋光方向のＰ偏光成分及び図中右方向
のＳ偏光成分の反射光と、図中下方向の旋光方向のＰ偏
光成分及び図中左方向のＳ偏光成分の反射光とが生ずる
こととなる。この反射光は、偏光ビームスプリッタ５に
入射される。

【００７４】上述のように、偏光ビームスプリッタ５の
偏光膜５ａはＰ偏光成分の光を透過しＳ偏光成分の光を
反射する。このため、上記偏光ビームスプリッタ５に入
射された反射光のうち、Ｐ偏光成分の光は透過してビー
ムスプリッタ４に入射され、上記図５（ｇ），（ｈ）に
示したような上方向及び下方向のＰ偏光成分に係るＳ偏
光成分の反射光である、同図（ｉ），（ｊ）に示すよう
なＳ偏光成分の反射光はそれぞれ加算され同図（ｋ）に
示すようなＳ偏光成分の反射光として上記偏光膜５ａに
より反射され、図３（ａ）に示すように第１のフォトデ
ィテクタ８に照射される。

【００７５】上記第１のフォトディテクタ８は、第１〜
第４の受光部８Ａ〜８Ｄで反射光を受光する。上記各受
光部８Ａ〜８Ｄで受光される反射光は、図３（ｂ）に示
すように中心部から両周辺部にかけて徐々にレベルが劣
化する特性となっている。上記各受光部８Ａ〜８Ｄは、
それぞれ受光した反射光のレベルに対応した受光信号を
形成して出力する。

【００７６】加算器１９は、上記各受光部８Ａ〜８Ｄか
らの受光信号をそれぞれ加算処理することによりＲＦ信
号を形成し、これを出力端子２０を介して出力する。

【００７７】加算器１０は、第１の受光部８Ａからの右
方向に旋光された反射光の受光信号と、第３の受光部８
Ｃからの同じく右方向に旋光された反射光の受光信号と
を加算処理し、この加算信号をＭＯ信号検出回路１１の
非反転入力端子１１ａに供給する。

【００７８】また、加算器９は、第２の受光部８Ｂから
の左方向に旋光された反射光の受光信号と、第４の受光
部８Ｄからの同じく左方向に旋光された反射光の受光信
号とを加算処理し、この加算信号をＭＯ信号検出回路１
１の反転入力端子１１ｂに供給する。

【００７９】上記ＭＯ信号検出回路１１は、上記右方向
に旋光された反射光に係る受光信号と、左方向に旋光さ
れた反射光に係る受光信号との差分を検出することによ
り、光磁気ディスク１に記録されているＭＯ信号を検出
し、これを出力端子１２を介して出力する。

【００８０】加算器１４は、第１の受光部８Ａからの右
方向に旋光された反射光の受光信号と、第２の受光部８
Ｂからの左方向に旋光された反射光の受光信号とを加算
処理し、この加算信号をプッシュプル信号検出回路１５
の非反転入力端子１５ａに供給する。

【００８１】また、加算器１３は、第３の受光部８Ｃか
らの右方向に旋光された反射光の受光信号と、第４の受
光部８Ｄからの左方向に旋光された反射光の受光信号と
を加算処理し、この加算信号をプッシュプル信号検出回
路１５の反転入力端子１５ｂに供給する。

【００８２】上記プッシュプル信号検出回路１５は、上
記各加算器１３，１４からの加算信号の差分を検出す
る。上述のように、上記第２，第３の検出部８Ｂ，８Ｃ
の境目は光軸と一致するように設けられているため、第
１，第２の検出部８Ａ，８Ｂからの受光信号を加算処理
した加算信号と、第３，第４の検出部８Ｃ，８Ｄからの
受光信号を加算処理した加算信号との差分を検出するこ
とにより、トラッキングエラーを示すプッシュプル信号
を形成することができる。このプッシュプル信号は、シ
ステムコントローラ２１に供給される。

【００８３】上記システムコントローラ２１は、上記プ
ッシュプル信号で示されるトラッキングエラーの度合い
に応じて対物レンズの位置制御を行う。

【００８４】次に、減算器１７は、上記第２の受光部８
Ｂの受光信号から第１の受光部８Ａの受光信号を減算処
理し、この減算信号を加算器１８に供給する。

【００８５】また、減算器１６は、上記第３の受光部８
Ｄからの受光信号から第４の受光部８Ｄの受光信号を減
算処理し、この減算信号を加算器１８に供給する。

【００８６】上記加算器１８は、上記各減算信号を加算
処理する。

【００８７】ここで、上記光磁気ディスク１に照射され
るレーザビームが正常なフォーカス状態である場合は、
上述のように上記第１の旋光部６ａを介したレーザビー
ムの反射光は第４の旋光部６ｄに入射され、第２の旋光
部６ｂを介したレーザビームの反射光は第３の旋光部６
ｃに入射され、第３の旋光部６ｃを介したレーザビーム
の反射光は第２の旋光部６ｂに入射され、第４の旋光部
６ｄを介したレーザビームの反射光は第１の旋光部６ａ
に入射されるため、反射光は、以下に説明する光量不足
を生ずることなく、図６（ａ）にＪｕｓｔフォーカスの
状態を示すように第１のフォトディテクタ８に照射され
る。

【００８８】そして、本実施例に係る光ピックアップ装
置におけるフォーカスエラーは、上記対物レンズ７が光
磁気ディスク１側にずれたＮｅａｒフォーカスの状態
と、旋光板６側にずれたＦａｒフォーカスの状態とで異
なる方向性を有し、上記第１，第２の受光部８Ａ，８Ｂ
の受光信号を減算処理して形成した減算信号と、第３，
第４の受光部８Ｃ，８Ｄの受光信号を減算処理して形成
した減算信号とを上記加算器１８で加算処理することに
より、フォーカスがどの方向（光磁気ディスク１側か旋
光板６側か）にずれているかを示すラフフォーカスエラ
ー信号を形成することができる。上記対物レンズ７が光
磁気ディスク１側にずれた場合すなわち図６（ｂ）に示
すＮｅａｒフォーカスの状態では、上記反射光の幅が広
がってしまうため、第２の旋光部６ｂを介したレーザビ
ームの反射光が第３の旋光部６ｃ及び第４の旋光部６ｄ
に股がって入射され、また、第３の旋光部６ｃを介した
レーザビームの反射光が第２の旋光部６ｂ及び第１の旋
光部６ａに股がって入射される。

【００８９】このようなＮｅａｒフォーカスの状態で
は、レーザビームの段階で第２の旋光部６ｂにより左方
向に旋光された光が、反射光の段階で一部が上記第４の
旋光部６ｄにより右方向に旋光されてしまうため、旋光
された分戻されてＰ偏光方向の成分のみを有するように
なり、上記偏光ビームスプリッタ５の偏光膜５ａを透過
してしまう。このように、反射光の一部が上記偏光ビー
ムスプリッタ５の偏光膜５ａを透過してしまうと、図６
（ｂ）に斜線で示すように第４の受光部８Ｄに、上記偏
光膜５ａを透過した反射光分の光量不足（暗線）を生ず
る。

【００９０】また、レーザビームの段階で第３の旋光部
６ｂにより右方向に旋光された光が、反射光の段階で一
部が上記第１の旋光部６ａにより左方向に旋光されてし
まうため、旋光された分戻されてＰ偏光方向の成分のみ
を有するようになり、上記偏光ビームスプリッタ５の偏
光膜５ａを透過してしまう。そして、図６（ｂ）に斜線
で示すように第１の受光部８Ａに、上記偏光膜５ａを透
過した反射光分の暗線を生ずる。したがって、Ｎｅａｒ
フォーカスの状態では、暗線部分が増加することによ
り、 ラフフォーカスエラー信号＝（８Ｂ−８Ａ）−（８Ｃ−
８Ｄ）＞０ すなわち、ラフフォーカスエラー信号は正符号となる。

【００９１】逆に、上記対物レンズ７が旋光板６側にず
れた場合すなわち図６（ｃ）に示すＦａｒフォーカスの
状態では、上記反射光の幅が狭まってしまうため、第１
の旋光部６ａを介したレーザビームの反射光が第３の旋
光部６ｃ及び第４の旋光部６ｄに股がって入射され、ま
た、第４の旋光部６ｄを介したレーザビームの反射光が
第２の旋光部６ｂ及び第１の旋光部６ａに股がって入射
される。

【００９２】このようなＦａｒフォーカスの状態では、
レーザビームの段階で第１の旋光部６ａにより右方向に
旋光された光が、反射光の段階で一部が上記第３の旋光
部６ｃにより左方向に旋光されてしまうため、旋光され
た分戻されてＰ偏光方向の成分のみを有するようにな
り、上記偏光ビームスプリッタ５の偏光膜５ａを透過し
てしまう。そして、図６（ｃ）に斜線で示すように第３
の受光部８Ｃに、上記偏光膜５ａを透過した反射光分の
暗線を生ずる。

【００９３】また、レーザビームの段階で第４の旋光部
６ｄにより左方向に旋光された光が、反射光の段階で一
部が上記第２の旋光部６ｂにより右方向に旋光されてし
まうため、旋光された分戻されてＰ偏光方向の成分のみ
を有するようになり、上記偏光ビームスプリッタ５の偏
光膜５ａを透過してしまう。そして、図６（ｃ）に斜線
で示すように第２の受光部８Ｂに、上記偏光膜５ａを透
過した反射光分の暗線を生ずる。したがって、Ｆａｒフ
ォーカスの状態では、暗線部分が増加することにより、 ラフフォーカスエラー信号＝（８Ｂ−８Ａ）−（８Ｃ−
８Ｄ）＜０ すなわち、ラフフォーカスエラー信号は負符号となる。

【００９４】本実施例に係る光ピックアップ装置におい
て、上記第１，第２の受光部８Ａ，８Ｂの受光信号を減
算処理して形成した減算信号と、第３，第４の受光部８
Ｃ，８Ｄの受光信号を減算処理して形成した減算信号と
を上記加算器１８で加算処理することにより形成される
ラフフォーカスエラー信号は、システムコントローラ２
１に供給される。これにより、上記システムコントロー
ラ２１は、上記ラフフォーカスエラー信号に基づいて大
まかなフォーカス制御を行い、Ｊｕｓｔフォーカス状態
に引き込み、上記ファインフォーカスエラー検出回路２
６からのファインフォーカスエラー信号に基づいて細か
なフォーカス制御を行い、図６（ａ）に示すＪｕｓｔフ
ォーカス状態を維持する。

【００９５】上記システムコントローラ２１は、上記ラ
フフォーカスエラー信号に基づいて上記対物レンズ７を
正常位置を基準として例えば±３００μｍの広範囲内に
位置制御する。

【００９６】一方、上記偏光ビームスプリッタ５を透過
したＰ偏光成分の反射光は、ビームスプリッタ４により
反射され対物レンズ２２を介して第２のフォトディテク
タ２３に照射される。

【００９７】上記第２のフォトディテクタ２３は、図４
に示す第１〜第４の受光部２３Ｅ〜２３Ｈで反射光を受
光し、この各受光部２３Ｅ〜２３Ｈで受光された反射光
の受光光量に応じた受光信号をそれぞれ形成して出力す
る。

【００９８】加算器２５は、第１の受光部２３Ｅの受光
信号と、該第１の受光部２３Ｅに対して対角線上に位置
する第４の受光部２３Ｈの受光信号とを加算処理し、こ
の加算信号を非反転入力端子２６ａを介してファインフ
ォーカスエラー検出回路２６に供給する。

【００９９】また、加算器２４は、第２の受光部２３Ｆ
の受光信号と、該第２の受光部２３Ｆに対して対角線上
に位置する第３の受光部２３Ｇの受光信号とを加算処理
し、この加算信号を反転入力端子２６ｂを介してファイ
ンフォーカスエラー検出回路２６に供給する。

【０１００】上記ファインフォーカスエラー検出回路２
６は、上記第２のフォトディテクタ２３の対角線上に位
置する受光部の受光信号を加算処理した各加算信号の差
分を検出することによりフォーカスのずれ量を詳細に検
出し、これをファインフォーカスエラー信号としてシス
テムコントローラ２１に供給する。

【０１０１】上記システムコントローラ２１は、上記フ
ァインフォーカスエラー信号に基づいて、位置ずれの量
が零となるように上記対物レンズ７を位置制御するが、
上記システムコントローラ２１は、上述のように上記ラ
フフォーカスエラー信号に基づいて±３００μｍの広範
囲内に対物レンズ７を位置制御している。このため、上
記ファインフォーカスエラー信号に基づいて即座に対物
レンズ７を位置制御することができる。

【０１０２】また、±３００μｍという広範囲で対物レ
ンズ７を位置制御することができるため、対物レンズ７
と光磁気ディスク１との間等であるワーキングディスタ
ンスを短くすることができ、当該光ピックアップ装置を
小型化することができる。

【０１０３】以上の説明から明らかなように、本実施例
に係る光ピックアップ装置は、１つのフォトディテクタ
（第１のフォトディテクタ８）を用いて、ＭＯ信号，Ｒ
Ｆ信号，プッシュプル信号，フォーカスエラー信号（ラ
フフォーカスエラー信号）を検出することができる。

【０１０４】このため、上記各信号を検出するために、
それぞれ別々にフォトディテクタを設ける必要がなく、
部品点数の削減及び構成の簡略化を図ることができ、こ
れを通じてローコスト化を達成することができる。

【０１０５】また、フォーカス引き込み範囲を大きくし
てワーキングディスタンスを短くすることができる。こ
のため、当該光ピックアップ装置を小型化することがで
きる。

【０１０６】なお、上述の実施例の説明では、旋光手段
として右旋光部６ａ，６ｃ及び左旋光部６ｂ，６ｄを組
み合わせた旋光板６を用いることとしたが、これは、１
／２波長板の光学軸を変えたものを４枚組み合わせたも
のを用いるようにしてもよい。

【０１０７】

【発明の効果】本発明に係る光ピックアップ装置は、１
つの受光手段を用いて、光ディスクに記録されている記
録情報，プッシュプル信号，フォーカスエラー信号，Ｒ
Ｆ信号を検出することができる。

【０１０８】このため、記録情報，プッシュプル信号，
フォーカスエラー信号，ＲＦ信号を検出するための受光
手段を別に設ける必要がなく、部品点数の削減、構成の
簡略化を通じてローコスト化を図ることができる。

【０１０９】また、対物レンズと光ディスクとの間等で
あるワーキングディスタンスを短くすることができる。
このため、当該光ピックアップ装置を小型化することが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ピックアップ装置を光磁気ディ
スク記録再生装置の光学系に適用した場合における実施
例の構成図である。

【図２】上記実施例に係る光ピックアップ装置に設けら
れている旋光板の構成図である。

【図３】上記実施例に係る光ピックアップ装置に設けら
れている第１のフォトディテクタの構成及び受光状態を
説明するための図である。

【図４】上記実施例に係る光ピックアップ装置に設けら
れている第２のフォトディテクタの構成図である。

【図５】上記実施例に係る光ピックアップ装置の各部に
おけるレーザビーム及び反射光の偏光方向を説明するた
めの概略図である。

【図６】フォーカスエラーによって異なって上記第１の
フォトディテクタに照射される反射光の状態を示す該第
１のフォトディテクタの模式図である。

【符号の説明】

１・・・・・・・・・・光磁気ディスク ２・・・・・・・・・・レーザーダイオード ３・・・・・・・・・・レンズ ４・・・・・・・・・・ビームスプリッタ ４ａ・・・・・・・・・ビームスプリッタ膜 ５・・・・・・・・・・偏光ビームスプリッタ ５ａ・・・・・・・・・偏光ビームスプリッタの偏光膜 ６・・・・・・・・・・旋光板 ６ａ・・・・・・・・・第１の右旋光部 ６ｂ・・・・・・・・・第１の左旋光部 ６ｃ・・・・・・・・・第２の右旋光部 ６ｄ・・・・・・・・・第２の左旋光部 ７・・・・・・・・・・対物レンズ ８・・・・・・・・・・第１のフォトディテクタ ８Ａ・・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第１
の受光部 ８Ｂ・・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第２
の受光部 ８Ｃ・・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第３
の受光部 ８Ｄ・・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第４
の受光部 ９，１０，１３・・・・加算器 １４，１８，１９・・・加算器 １６，１７・・・・・・減算器 １１・・・・・・・・・ＭＯ信号検出回路 １１ａ・・・・・・・・ＭＯ信号検出回路の非反転入力
端子 １１ｂ・・・・・・・・ＭＯ信号検出回路の反転入力端
子 １２・・・・・・・・・ＭＯ信号の出力端子 １５・・・・・・・・・プッシュプル信号検出回路 １５ａ・・・・・・・・プッシュプル信号検出回路の非
反転入力端子 １５ｂ・・・・・・・・プッシュプル信号検出回路の反
転入力端子 １５ｃ・・・・・・・・プッシュプル信号検出回路の出
力端子 ２０・・・・・・・・・ＲＦ信号の出力端子 ２１・・・・・・・・・システムコントローラ ２２・・・・・・・・・対物レンズ ２３・・・・・・・・・第２のフォトディテクタ ２３Ｅ・・・・・・・・第２のフォトディテクタの第１
の受光部 ２３Ｆ・・・・・・・・第２のフォトディテクタの第２
の受光部 ２３Ｇ・・・・・・・・第２のフォトディテクタの第３
の受光部 ２３Ｈ・・・・・・・・第２のフォトディテクタの第４
の受光部 ２４，２５・・・・・・加算器 ２６・・・・・・・・・ファインフォーカスエラー検出
回路

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ Ｇ１１Ｂ 7/09 Ｇ１１Ｂ 7/09 Ｂ 7/135 7/135 Ｚ

Claims (9)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクに照射するためのレーザビー
   ムを出射するレーザ光源と、 第１の偏光方向を有する光及び該第１の偏光方向と直交
   する第２の偏光方向を有する光を分離して出射する偏光
   ビームスプリッタと、 入射されるレーザビーム及び該レーザビームが上記光デ
   ィスクに照射されることにより生ずる反射光を所定の角
   度だけ旋光して出射する第１の旋光部と、 上記第１の旋光部に隣接して設けられ入射されるレーザ
   ビーム及び反射光を上記第１の旋光部とは逆に所定の角
   度だけ旋光して出射する第２の旋光部と、 上記第２の旋光部に隣接して設けられ入射されるレーザ
   ビーム及び反射光を上記第１の旋光部と同じ方向に所定
   の角度だけ旋光して出射する第３の旋光部と、 上記第３の旋光部に隣接して設けられ入射されるレーザ
   ビーム及び反射光を上記第２の旋光部と同じ方向に所定
   の角度だけ旋光して出射する第４の旋光部とからなり、
   上記第２，第３の旋光部の境目が、上記偏光ビームスプ
   リッタを介して出射されるレーザビーム及び反射光の光
   軸と一致するように設けられる旋光手段と、 上記旋光手段からのレーザビームを収束して上記光ディ
   スクに照射する対物レンズと、 上記偏光ビームスプリッタからの反射光を受光し該受光
   した反射光の光量に応じた受光信号を出力する第１の受
   光部，第２の受光部，第３の受光部及び第４の受光部が
   一方向に並列的に配列されており、上記第２，第３の受
   光部の境目が上記反射光の光軸と一致するように設けら
   れる受光手段とを有することを特徴とする光ピックアッ
   プ装置。
2. 【請求項２】 上記受光手段の第１の受光部の受光信号
   と第２の受光部の受光信号とを加算した加算信号から、
   第３の受光部の受光信号と第４の受光部の受光信号とを
   加算した加算信号を減算処理することにより、プッシュ
   プル信号を検出して出力するプッシュプル検出手段を有
   することを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装
   置。
3. 【請求項３】 上記受光手段の第２の受光部の受光信号
   から第１の受光部の受光信号を減算処理した減算信号
   と、第３の受光部の受光信号から第４の受光部の受光信
   号を減算処理した減算信号とを加算処理することによ
   り、フォーカスエラー信号を検出して出力するフォーカ
   スエラー検出手段を有することを特徴とする請求項１記
   載の光ピックアップ装置。
4. 【請求項４】 上記受光手段の第１の受光部の受光信号
   と第２の受光部の受光信号とを加算した加算信号から、
   第３の受光部の受光信号と第４の受光部の受光信号とを
   加算した加算信号を減算処理することにより、プッシュ
   プル信号を検出して出力するプッシュプル検出手段と、
   上記受光手段の第２の受光部の受光信号から第１の受光
   部の受光信号を減算処理した減算信号と、第３の受光部
   の受光信号から第４の受光部の受光信号を減算処理した
   減算信号とを加算処理することにより、フォーカスエラ
   ー信号を検出して出力するフォーカスエラー検出手段と
   を有することを特徴とする請求項１記載の光ピックアッ
   プ装置。
5. 【請求項５】 上記受光手段の第１の受光部の受光信号
   と第３の受光部の受光信号とを加算処理した加算信号か
   ら、第２の受光部の受光信号と第４の受光部の受光信号
   とを加算処理した加算信号を減算処理することにより、
   上記光ディスクに記録されている記録情報を検出して出
   力する記録情報検出手段を有することを特徴とする請求
   項１，請求項２，請求項３又は請求項４記載の光ピック
   アップ装置。
6. 【請求項６】 上記受光手段の各受光部からの受光信号
   をそれぞれ加算処理することによりＲＦ信号を検出して
   出力するＲＦ検出手段を有することを特徴とする請求項
   １，請求項２，請求項３又は請求項４記載の光ピックア
   ップ装置。
7. 【請求項７】 上記受光手段の第１の受光部の受光信号
   と第３の受光部の受光信号とを加算処理した加算信号か
   ら、第２の受光部の受光信号と第４の受光部の受光信号
   とを加算処理した加算信号を減算処理することにより、
   上記光ディスクに記録されている記録情報を検出して出
   力する記録情報検出手段と、上記受光手段の各受光部か
   らの受光信号をそれぞれ加算処理することによりＲＦ信
   号を検出して出力するＲＦ検出手段とを有することを特
   徴とする請求項１，請求項２，請求項３又は請求項４記
   載の光ピックアップ装置。
8. 【請求項８】 上記フォーカスエラー検出手段からのフ
   ォーカスエラー信号に基づいてフォーカス制御を行うフ
   ォーカス制御手段を有することを特徴とする請求項３記
   載の光ピックアップ装置。
9. 【請求項９】 上記レーザ光源からのレーザビーム及び
   上記偏光ビームスプリッタを介して照射される反射光を
   分割するビームスプリッタと、上記ビームスプリッタか
   らの反射光の光軸を中心として放射状に設けられた等領
   域の第１，第２，第３，第４の受光部からなり、上記ビ
   ームスプリッタにより反射された反射光を受光して、上
   記各受光部からその受光光量に応じた受光信号をそれぞ
   れ出力する第２の受光手段と、上記第２の受光手段の第
   １の受光部の受光信号及び該第１の受光部に対して対角
   線上に設けられた第４の受光部の受光信号を加算処理し
   た加算信号から、上記第１の受光部に隣接して設けられ
   た第２の受光部の受光信号及び該第２の受光部に対して
   対角線上に設けられた第３の受光部の受光信号を加算処
   理した加算信号を減算処理することによりフォーカスエ
   ラー信号を検出して出力する第２のフォーカスエラー検
   出手段とを有し、上記フォーカス制御手段は、上記フォ
   ーカスエラー検出手段からのフォーカスエラー信号、及
   び、上記第２のフォーカスエラー検出手段からのフォー
   カスエラー信号に基づいてフォーカス制御を行うことを
   特徴とする請求項８記載の光ピックアップ装置。