JP3211507B2 - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば光ディスクの再
生装置及び記録再生装置の光学系として用いて好適な光
ピックアップ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】今日において、記憶容量が大きいこと，
記録データの保存性が良いこと，簡単に書き換え可能で
あること等から、記録データの記録再生には、光磁気デ
ィスクが多く用いられるようになってきた。

【０００３】上記光磁気ディスクに記録データを記録再
生する光磁気ディスク記録再生装置に設けられている光
ピックアップ装置は、例えば半導体レーザと、この半導
体レーザからの出射光を平行光にするコリメータレンズ
と、このコリメータレンズで平行光にされた出射光を集
光して光磁気ディスクの記録面に照射する対物レンズ
と、上記半導体レーザ及び対物レンズ間に設けられ、上
記光磁気ディスクの記録面で反射された戻り光の一部を
分離する第１の偏光ビームスプリッタと、この第１の偏
光ビームスプリッタで分離された戻り光の一部を検波す
る検光子と、この検光子を透過した光のレベルを検出す
るフォトディテクタ等から構成されている。

【０００４】このような構成を有する光ピックアップ装
置は、上記半導体レーザから出射されるレーザビームを
集光して上記光磁気ディスクの記録面に照射し、この記
録面で反射された戻り光の一部を上記第１の偏光ビーム
スプリッタで分離し、この分離された戻り光の一部のう
ち、所定の偏光面、すなわち、所定の光振動面を有する
成分のレベルを上記フォトディテクタで検出することに
より、上記光磁気ディスクに記録されている記録データ
を再生するようになっている。

【０００５】上述の検光子としては、シートアナライザ
が一般的に用いられるが、このシートアナライザは消光
比が低いためＳ／Ｎ比が低いという問題がある。このた
め、現在主流となっている光ピックアップ装置には上記
検光子の代わりに１／２波長板が設けられている。

【０００６】この１／２波長板が設けられた光ピックア
ップ装置は、上記第１の偏光ビームスプリッタで分離さ
れた戻り光を、上記１／２波長板及び第２の偏光ビーム
スプリッタで、さらにＰ波成分及びＳ波成分に分離し、
該Ｐ波成分及びＳ波成分のレベルをそれぞれ２つのフォ
トディテクタで検出し、これらのレベル差を差動増幅器
で検出することにより、上記光磁気ディスクに記録され
ている記録データを再生するようになっている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述の光ピッ
クアップ装置は、上記光磁気ディスクに記録されている
記録データを検出するためのフォトディテクタからの検
出信号を用いて、光磁気ディスクの傾き補正、及び、該
光磁気ディスクにレーザビームを照射する対物レンズの
位置を補正するためのオフセット分を検出することがで
きなかった。このオフセット分を検出するためには、該
オフセット分の検出用のフォトディテクタ等を別に設け
ればよいが、部品点数が多くなり構成が複雑化するう
え、コスト高となる問題が生ずる。

【０００８】また、いわゆる２軸デバイスの光ピックア
ップ装置の場合、上記対物レンズは対物レンズ保持部内
にバネ部材で保持されて設けられており、シーク時には
上記対物レンズ保持部自体を高速に移動させてアクセス
を行うが、このシークを行うと、該シークにより移動さ
れた反対方向の対物レンズ保持部の側面部に該対物レン
ズが張り付いてしまい、上記光磁気ディスクに照射され
るレーザビームにずれが生じ、反射光を正確に検出でき
ずアドレス検出に支障をきたす不都合を生ずる問題があ
った。このため、極度に高速なシークを行えずアクセス
速度の高速化に支障をきたしていた。

【０００９】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
ものであり、上記光磁気ディスクに記録されている記録
データを検出するためのフォトディテクタを用いて、オ
フセット分を検出し、光磁気ディスクの傾き補正、及
び、該光磁気ディスクにレーザビームを照射する対物レ
ンズの位置補正を行うことができ、部品点数の削減、構
成の簡略化を通じてローコスト化を図ることができるう
え、シーク時における上記対物レンズの張り付きを防止
し、反射光の正確な検出を通じて高速アクセスを達成す
ることができるような光ピックアップ装置の提供を目的
とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光ピックア
ップ装置は、光ディスクに照射するためのレーザビーム
を出射するレーザ光源と、第１の偏光方向を有する光を
透過させ、該第１の偏光方向と直交する第２の偏光方向
を有する光を反射する偏光ビームスプリッタと、入射さ
れるレーザビーム及び反射光を所定の角度だけ旋光して
出射する第１の旋光部と、入射されるレーザビーム及び
反射光を上記第１の旋光部とは逆に所定の角度だけ旋光
して出射する第２の旋光部とからなり、上記第１，第２
の旋光部の境目が、上記偏光ビームスプリッタを介して
出射されるレーザビーム及び該レーザビームが上記光デ
ィスクに照射されることにより生ずる反射光の光軸と一
致するように設けられる旋光手段と、上記旋光手段から
のレーザビームを収束して上記光ディスクに照射する対
物レンズと、上記偏光ビームスプリッタにより反射され
る上記反射光を受光し該受光した反射光の光量に応じた
受光信号を出力する第１の受光部及び第２の受光部が一
方向に並列的に配列されており、上記第１，第２の受光
部の境目が上記反射光の光軸と一致するように設けられ
る第１の受光手段と、上記第１の受光手段の各受光部か
らの受光信号の差分を検出することによりオフセット分
を検出してオフセット信号を出力する第１の差分検出手
段とを有することを特徴として上述の課題を解決する。

【００１１】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、光ディスクに照射するためのレーザビームを出射す
るレーザ光源と、第１の偏光方向を有する光を透過さ
せ、該第１の偏光方向と直交する第２の偏光方向を有す
る光を反射する偏光ビームスプリッタと、入射されるレ
ーザビーム及び反射光を所定の角度だけ旋光して出射す
る第１の旋光部と、入射されるレーザビーム及び反射光
を上記第１の旋光部とは逆に所定の角度だけ旋光して出
射する第２の旋光部とからなり、上記第１，第２の旋光
部の境目が、上記偏光ビームスプリッタを介して出射さ
れるレーザビーム及び該レーザビームが上記光ディスク
に照射されることにより生ずる反射光の光軸と一致する
ように設けられる旋光手段と、上記旋光手段からのレー
ザビームを収束して上記光ディスクに照射する対物レン
ズと、上記偏光ビームスプリッタにより反射される上記
反射光を受光し該受光した反射光の光量に応じた受光信
号を出力する第１の受光部，第２の受光部，第３の受光
部及び第４の受光部が一方向に並列的に配列されてお
り、上記第２，第３の受光部の境目が、上記反射光の光
軸と一致するように設けられる第１の受光手段と、上記
第１の受光手段の第１の受光部からの受光信号と第３の
受光部から受光信号とを加算処理することにより第１の
加算信号を形成するとともに、第２の受光部からの受光
信号と第４の受光部から受光信号とを加算処理すること
により第２の加算信号を形成し、上記第１の加算信号及
び第２の加算信号の差分を検出することによりオフセッ
ト分を検出してオフセット信号を出力する第１の差分検
出手段とを有することを特徴として上述の課題を解決す
る。

【００１２】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記第１の受光手段の第１の受光部から得られる受
光信号及び第２の受光部から得られる受光信号のレベル
は同レベルであり、また、第３の受光部から得られる受
光信号及び第４の受光部から得られる受光信号のレベル
は同レベルであることを特徴として上述の課題を解決す
る。

【００１３】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記第１の受光手段は、上記第１の受光部の受光光
量と第２の受光部の受光光量とが等しくなるように、ま
た、上記第３の受光部の受光光量と第４の受光部の受光
光量とが等しくなるように各受光部の受光面積の比率が
決められていることを特徴として上述の課題を解決す
る。

【００１４】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記第１の受光手段の第１の受光部からの受光信号
のレベルと第２の受光部からの受光信号のレベルがそれ
ぞれ等しくなるように、また、第３の受光部からの受光
信号のレベルと第４の受光部からの受光信号のレベルが
それぞれ等しくなるように各受光部からの受光信号のレ
ベル調整を行うレベル調整手段を有することを特徴とし
て上述の課題を解決する。

【００１５】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記第１の差分検出手段からのオフセット信号に応
じて、上記光ディスクに照射されるレーザビームが所定
の角度を持って照射されるように、該光ディスクの傾き
を制御するスキュー制御手段を有することを特徴として
上述の課題を解決する。

【００１６】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記対物レンズを保持する対物レンズ保持部を移動
させてシークを行う場合に、上記第１の差分検出手段か
らのオフセット信号に応じて、上記保持部内の対物レン
ズの位置を定位置に制御する位置制御手段を有すること
を特徴として上述の課題を解決する。

【００１７】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上記レーザ光源からのレーザビーム及び上記偏光ビ
ームスプリッタを介して照射される反射光をそれぞれ所
定の割合で透過し反射することにより分光するビームス
プリッタと、少なくとも２分割された等領域の受光部か
らなり、上記ビームスプリッタにより反射された反射光
を受光して、その受光光量に応じた受光信号をそれぞれ
出力する、該各受光部の境目が上記反射光の光軸と一致
するように設けられる第２の受光手段と、上記第２の受
光手段からの各受光信号の差分を検出し、この差分信号
を出力する第２の差分検出手段と、上記第１の差分検出
手段からのオフセット信号及び上記第２の差分検出手段
からの差分信号の差分を検出することによりプッシュプ
ル信号を形成して出力する第３の差分検出手段を有する
ことを特徴として上述の課題を解決する。

【００１８】

【作用】本発明に係る光ピックアップ装置は、レーザ光
源から出射された第１の偏光方向（例えば、Ｐ偏光方
向）を有するレーザビームがビームスプリッタを介して
偏光ビームスプリッタに入射される。この偏光ビームス
プリッタは、Ｐ偏光方向の光を透過させ、該Ｐ偏光方向
と直交する第２の偏光方向であるＳ偏光方向の光を反射
する特性を有している。このため、上記偏光ビームスプ
リッタに入射されたレーザビームは、該偏光ビームスプ
リッタを透過して旋光手段に入射される。

【００１９】上記旋光手段は、入射されるレーザビーム
及び反射光を例えは右方向に所定の角度だけ旋光して出
射する第１の旋光部（右旋光板）と、入射されるレーザ
ビーム及び反射光を左方向に所定の角度だけ旋光して出
射する第２の旋光部（左旋光板）とで構成されており、
上記右旋光板及び左旋光板の境目が、上記レーザビーム
及び反射光の光軸と一致するように設けられている。

【００２０】このため、上記旋光手段に入射されたレー
ザビームは、その光軸を境に右方向或いは左方向に所定
の角度だけ旋光されて出射される。この旋光手段を介し
たレーザビームは、対物レンズにより収束され光ディス
クに照射される。

【００２１】次に、上記光ディスクにレーザビームが照
射されると反射光が生ずる。この反射光は、上記対物レ
ンズを介して旋光手段に入射される。具体的には、上記
旋光手段の右旋光板を介して上記光ディスクに照射され
たレーザビームの反射光は、該旋光手段の左旋光板に入
射され、上記旋光手段の左旋光板を介して上記光ディス
クに照射されたレーザビームの反射光は、該旋光手段の
右旋光板に入射される。この反射光の偏光方向は、上記
レーザビームの偏光方向に対して逆の偏光方向である。
このため、上記左旋光板に照射された反射光は、さらに
右方向に所定の角度だけ旋光され、上記右旋光板に照射
された反射光は、さらに左方向に所定の角度だけ旋光さ
れる。

【００２２】従って、上記反射光は、例えばＳ偏光成分
とＰ偏光成分との中間成分を有する光となり出射される
こととなる。この旋光手段を介した反射光は、上記偏光
ビームスプリッタに入射される。

【００２３】上述のように、上記偏光ビームスプリッタ
は、Ｐ偏光成分の光を透過させ、Ｓ偏光成分の光を反射
する特性を有している。このため、上記偏光ビームスプ
リッタに入射された反射光のうち、半分は透過し、半分
は反射されることとなる。上記偏光ビームスプリッタに
より反射された反射光は、第１の受光手段に照射され
る。また、上記偏光ビームスプリッタを透過した反射光
は上記ビームスプリッタに入射される。

【００２４】上記第１の受光手段は、第１の受光部及び
第２の受光部が一方向に並列的に配列されて構成されて
おり、この第１の受光部及び第２の受光部の境目が上記
反射光の光軸を境に設けられている。上記第１の受光手
段は、上記反射光を各受光部で受光する。そして、上記
第１の受光部及び第２の受光部で受光した反射光の光量
に応じてそれぞれ受光信号を形成し、これらを第１の差
分検出手段に供給する。

【００２５】上記第１の差分検出手段は、上記各受光信
号の差分を検出する。

【００２６】ここで、上述のように上記旋光手段の右旋
光板を介して上記光ディスクに照射されたレーザビーム
の反射光は、該旋光手段の左旋光板に入射され、上記旋
光手段の左旋光板を介して上記光ディスクに照射された
レーザビームの反射光は、該旋光手段の右旋光板に入射
されるため、上記左旋光板に照射された反射光は、さら
に右方向に所定の角度だけ旋光されて出射され、上記右
旋光板に照射された反射光は、さらに左方向に所定の角
度だけ旋光されて出射される。

【００２７】しかし、上記光ディスクが傾いていたり、
シーク時に対物レンズ保持部内の定位置から対物レンズ
が動くと、上記光ディスクに照射されたレーザビームの
反射光の光路がずれ、上記旋光手段の右旋光板を介して
上記光ディスクに照射されたレーザビームの反射光が左
旋光板ではなく再び右旋光板に入射されたり、逆に、左
旋光板を介して上記光ディスクに照射されたレーザビー
ムの反射光が右旋光板ではなく、再び左旋光板に入射さ
れたりする不都合が生ずる。

【００２８】このような不都合が生ずると、レーザビー
ムの段階で上記右方向に所定の角度だけ旋光されたレー
ザビームが、反射光の段階で上記右旋光板に入射される
ため、該右旋光板により左方向に所定の角度だけ旋光さ
れる。或いは、レーザビームの段階で上記左方向に所定
の角度だけ旋光されたレーザビームが、反射光の段階で
上記左旋光板に入射されるため、該左旋光板により右方
向に所定の角度だけ旋光される。

【００２９】すなわち、レーザビームの段階で旋光され
た角度分、反射光の段階で戻されてしまうこととなり、
該反射光がレーザビームと同じＰ偏光成分を有するよう
になる。

【００３０】上記反射光がレーザビームと同じ偏光成分
を有するようになると、該反射光が上記偏光ビームスプ
リッタを透過してしまうため、第１の受光手段の第１の
受光部或いは第２の受光部に、上記光ディスクの傾きの
分、或いは、上記対物レンズの位置ずれの分だけ反射光
が照射されなくなる。

【００３１】従って、上記第１の差分検出手段で、上記
第１の受光手段の第１の受光部からの受光信号と、第２
の受光部からの受光信号の差分を検出することにより、
上記光ディスクの傾き具合、或いは、上記対物レンズの
位置のずれ具合であるオフセット分を検出することがで
きる。このオフセット信号は、後に説明する第３の差分
検出手段に供給されるとともに、スキュー制御手段及び
位置制御手段に供給される。

【００３２】上記スキュー制御手段は、上記オフセット
信号から光ディスクの傾きを知ることができるため、こ
の傾きを補正するように上記光ディスクが載置されてい
るターンテーブル等の傾きを制御する。

【００３３】また、上記位置制御手段は、上記オフセッ
ト信号から対物レンズのずれ具合を知ることができるた
め、このずれ具合を補正するように上記対物レンズを保
持している対物レンズ保持部を制御する。

【００３４】なお、この対物レンズの位置補正は、シー
ク時のみ行うようにしてもよい。すなわち、シークを行
うと、上記対物レンズ保持部が高速で移動制御されるた
め、該対物レンズ保持部のシークにより移動された反対
方向の側面部に該対物レンズが張り付いてしまい、上記
光ディスクに照射されるレーザビームにずれが生じ、反
射光を正確に検出できず所望のアドレス検出に支障をき
たす不都合を生ずるが、このように、オフセット分（対
物レンズの位置ずれの分）に応じて上記対物レンズの位
置を補正することにより、上記反射光を正確に検出して
所望のアドレスにアクセスすることができ、正確且つ高
速なシークを行うことができる。

【００３５】また、上記レーザビームが光ディスクに反
射して生ずる反射光は、上記旋光手段により与えられる
旋光角と、該光ディスクに記録されている記録データに
応じて変わる反射角とが足し合わされたものとなる。こ
のため、上記第１の受光手段の第１の受光部及び第２の
受光部に照射される反射光の光量は、上記記録データに
応じて変わることとなる。従って、上記第１の受光部か
らの受光信号と第２の受光部からの受光信号との差分を
検出することにより、上記光ディスクに記録されている
記録データを検出することができる。

【００３６】一方、偏光ビームスプリッタを透過した反
射光は、ビームスプリッタにより反射され第２の受光手
段に照射される。

【００３７】上記第２の受光手段は、少なくとも２分割
された等領域の受光部を有しており、この受光部と受光
部との境目が上記反射光の光軸と一致するように設けら
れている。上記第２の受光手段は、上記各受光部で受光
した反射光の光量に応じた受光信号をそれぞれ形成して
出力する。この各受光信号は、第２の差分検出手段に供
給される。

【００３８】上記第２の差分検出手段は、上記各受光信
号の差分を検出し、この差分信号を上記第３の差分検出
手段に供給する。上述のように、上記第２の受光手段の
各受光部は、その境目が上記反射光の光軸と一致するよ
うに設けられている。このため、上記第２の差分検出手
段において検出される差分信号は、オフセット分が重畳
したプッシュプル信号ということとなる。

【００３９】上記第３の差分検出手段には、上記第２の
差分検出手段からのオフセット分が重畳したプッシュプ
ル信号の他、上記第１の差分検出手段からのオフセット
信号が供給されている。上記第３の差分検出手段は、上
記第１の差分検出手段からのオフセット信号及び第２の
差分検出手段からのオフセット分が重畳したプッシュプ
ル信号の差分を検出することにより、上記オフセット分
が重畳したプッシュプル信号からオフセット分を除去
し、このプッシュプル信号をトラッキング制御回路に供
給する。

【００４０】上記トラッキング制御回路は、上記プッシ
ュプル信号に応じてトラッキング制御を行う。

【００４１】次に、本発明に係る光ピックアップ装置
は、レーザ光源から出射された第１の偏光方向（例え
ば、Ｐ偏光方向）を有するレーザビームがビームスプリ
ッタを介して偏光ビームスプリッタに入射される。この
偏光ビームスプリッタは、Ｐ偏光方向の光を透過させ、
該Ｐ偏光方向と直交する第２の偏光方向であるＳ偏光方
向の光を反射する特性を有している。このため、上記偏
光ビームスプリッタに入射されたレーザビームは、該偏
光ビームスプリッタを透過して旋光手段に入射される。

【００４２】上記旋光手段は、入射されるレーザビーム
及び反射光を例えは右方向に所定の角度だけ旋光して出
射する第１の旋光部（右旋光板）と、入射されるレーザ
ビーム及び反射光を左方向に所定の角度だけ旋光して出
射する第２の旋光部（左旋光板）とで構成されており、
上記右旋光板及び左旋光板の境目が、上記レーザビーム
及び反射光の光軸と一致するように設けられている。

【００４３】このため、上記旋光手段に照射されたレー
ザビームは、その光軸を境に右方向或いは左方向に所定
の角度だけ旋光されて出射される。この旋光手段を介し
たレーザビームは、対物レンズにより収束され光磁気デ
ィスクに照射される。

【００４４】上記光磁気ディスクにレーザビームが照射
されると反射光が生ずる。この反射光は、上記対物レン
ズを介して旋光手段に入射される。具体的には、上記旋
光手段の右旋光板を介して上記光磁気ディスクに照射さ
れたレーザビームの反射光は、該旋光手段の左旋光板に
入射され、上記旋光手段の左旋光板を介して上記光磁気
ディスクに照射されたレーザビームの反射光は、該旋光
手段の右旋光板に入射される。この反射光の偏光方向
は、上記レーザビームの偏光方向に対して逆の偏光方向
である。このため、上記左旋光板に照射された反射光
は、さらに右方向に所定の角度だけ旋光され、上記右旋
光板に照射された反射光は、さらに左方向に所定の角度
だけ旋光される。

【００４５】従って、上記反射光は、例えばＳ偏光成分
とＰ偏光成分との中間成分を有する光となり出射される
こととなる。この旋光手段を介した反射光は、上記偏光
ビームスプリッタに入射される。

【００４６】上述のように、上記偏光ビームスプリッタ
は、Ｐ偏光成分の光を透過させ、Ｓ偏光成分の光を反射
する特性を有している。このため、上記偏光ビームスプ
リッタに入射された反射光のうち、半分は透過し、半分
は反射されることとなる。上記偏光ビームスプリッタに
より反射された反射光は、第１の受光手段に照射され
る。また、上記偏光ビームスプリッタを透過した反射光
は上記ビームスプリッタに入射される。

【００４７】上記第１の受光手段は、上記偏光ビームス
プリッタにより反射される上記反射光を受光し該受光し
た反射光の光量に応じた受光信号を出力する第１の受光
部，第２の受光部，第３の受光部及び第４の受光部が一
方向に並列的に配列されており、上記第２，第３の受光
部の境目が、上記反射光の光軸と一致するように設けら
れている。

【００４８】ここで、この第１の受光手段は、上記光学
ブロックの反射光出射面を介して照射される反射光を受
光するが、この反射光は、外観が略々円形状を有してい
る。このため、上述のように受光部を４分割した受光手
段の中央部に上記反射光が照射されるように受光する
と、例えば該第２の受光部で受光される反射光の受光光
量と第１の受光部で受光される反射光の受光光量とに差
異が生じ、また、第３の受光部で受光される反射光の受
光光量と第４の受光部で受光される反射光の受光光量と
に差異が生じ、後の信号処理に支障をきたす。

【００４９】このため、当該光ピックアップ装置では、
上記第１の受光手段の第１の受光部から得られる受光信
号及び第２の受光部から得られる受光信号のレベルがそ
れぞれ等しくなるように、また、上記第３の受光部から
得られる受光信号及び第４の受光部から得られる受光信
号のレベルがそれぞれ等しくなるようにしている。

【００５０】具体的には、例えば上記第１の受光手段
は、上記第１の受光部の受光光量と第２の受光部の受光
光量とが等しくなるように、また、上記第３の受光部の
受光光量と第４の受光部の受光光量とが等しくなるよう
に各受光部の受光面積の比率が決められている。

【００５１】或いは、上記第１の受光手段の第１の受光
部からの受光信号のレベルと第２の受光部からの受光信
号のレベルがそれぞれ等しくなるように、また、第３の
受光部からの受光信号のレベルと第４の受光部からの受
光信号のレベルがそれぞれ等しくなるように各受光部か
らの受光信号のレベル調整を行うレベル調整手段が設け
られている。

【００５２】これにより、上記反射光を正確に受光した
場合、各受光部から得られる各受光信号のレベルをそれ
ぞれ等しくすることができる。

【００５３】上記第１の受光手段は、このように各受光
部で上記反射光を受光することにより、それぞれ受光信
号を形成し、これらを第１の差分検出手段に供給する。

【００５４】上記第１の差分検出手段は、上記第１の受
光手段の第１の受光部で形成された受光信号及び上記第
３の受光部で形成された受光信号を加算処理して第１の
加算信号を形成し、上記第２の受光部で形成された受光
信号及び上記第４の受光部で形成された受光信号を加算
処理して第２の加算信号を形成するとともに、上記第１
の加算信号及び第２の加算信号の差分を検出することに
より、記録データの成分を除去したオフセット信号を形
成する。

【００５５】ここで、上述のように上記旋光手段の右旋
光板を介して上記光磁気ディスクに照射されたレーザビ
ームの反射光は、該旋光手段の左旋光板に入射され、上
記旋光手段の左旋光板を介して上記光磁気ディスクに照
射されたレーザビームの反射光は、該旋光手段の右旋光
板に入射されるため、上記左旋光板に照射された反射光
は、さらに右方向に所定の角度だけ旋光されて出射さ
れ、上記右旋光板に照射された反射光は、さらに左方向
に所定の角度だけ旋光されて出射される。

【００５６】しかし、上記光磁気ディスクが傾いていた
り、シーク時に対物レンズ保持部内の定位置から対物レ
ンズが動くと、上記光磁気ディスクに照射されたレーザ
ビームの反射光の光路がずれ、上記旋光手段の右旋光板
を介して上記光磁気ディスクに照射されたレーザビーム
の反射光が左旋光板ではなく再び右旋光板に入射された
り、逆に、左旋光板を介して上記光磁気ディスクに照射
されたレーザビームの反射光が右旋光板ではなく、再び
左旋光板に入射されたりする不都合が生ずる。

【００５７】このような不都合が生ずると、レーザビー
ムの段階で上記右方向に所定の角度だけ旋光されたレー
ザビームが、反射光の段階で上記右旋光板に入射される
ため、該右旋光板により左方向に所定の角度だけ旋光さ
れる。或いは、レーザビームの段階で上記左方向に所定
の角度だけ旋光されたレーザビームが、反射光の段階で
上記左旋光板に入射されるため、該左旋光板により右方
向に所定の角度だけ旋光される。

【００５８】すなわち、レーザビームの段階で旋光され
た角度分、反射光の段階で戻されてしまうこととなり、
該反射光がレーザビームと同じＰ偏光成分を有するよう
になる。

【００５９】上記反射光がレーザビームと同じ偏光成分
を有するようになると、該反射光が上記光学ブロックの
反射光出射面ではなく他の面を透過してしまうため、上
記第１の受光手段の第１〜第４の受光部に、上記光磁気
ディスクの傾きの分、或いは、上記対物レンズの位置ず
れの分だけ反射光が照射されなくなる。

【００６０】従って、上記第１の差分検出手段で、上記
第１の加算信号と第２の加算信号との差分を検出するこ
とにより、上記光磁気ディスクの傾き具合、或いは、上
記対物レンズの位置のずれ具合であるオフセット分を検
出することができる。このオフセット信号は、後に説明
する第３の差分検出手段に供給されるとともに、スキュ
ー制御手段及び位置制御手段に供給される。

【００６１】上記スキュー制御手段は、上記オフセット
信号から光磁気ディスクの傾きを知ることができるた
め、この傾きを補正するように上記光磁気ディスクが載
置されているターンテーブル等の傾きを制御する。

【００６２】また、上記位置制御手段は、上記オフセッ
ト信号から対物レンズのずれ具合を知ることができるた
め、このずれ具合を補正するように上記対物レンズを保
持している対物レンズ保持部を制御する。

【００６３】なお、この対物レンズの位置補正は、シー
ク時のみ行うようにしてもよい。すなわち、シークを行
うと、上記対物レンズ保持部が高速で移動制御されるた
め、該対物レンズ保持部のシークにより移動された反対
方向の側面部に該対物レンズが張り付いてしまい、上記
光磁気ディスクに照射されるレーザビームにずれが生
じ、反射光を正確に検出できず所望のアドレス検出に支
障をきたす不都合を生ずるが、このように、オフセット
分（対物レンズの位置ずれの分）に応じて上記対物レン
ズの位置を補正することにより、上記反射光を正確に検
出して所望のアドレスにアクセスすることができ、正確
且つ高速なシークを行うことができる。

【００６４】また、上記レーザビームが光ディスクに反
射して生ずる反射光は、上記旋光手段により与えられる
旋光角と、該光ディスクに記録されている記録データに
応じて変わる反射角とが足し合わされたものとなる。こ
のため、上記第１の受光手段の第１の受光部及び第２の
受光部に照射される反射光の光量は、上記記録データに
応じて変わることとなる。従って、上記第１の受光部か
らの受光信号及び第２の受光部からの受光信号を加算処
理した受光信号と、上記第３の受光部からの受光信号及
び第４の受光部からの受光信号を加算処理した受光信号
との差分を検出することにより、上記オフセット分の除
去された記録データを検出することができる。

【００６５】一方、偏光ビームスプリッタを透過した反
射光は、ビームスプリッタにより反射され第２の受光手
段に照射される。

【００６６】上記第２の受光手段は、少なくとも２分割
された等領域の受光部からなり、上記ビームスプリッタ
により反射された反射光を受光して、その受光光量に応
じた受光信号をそれぞれ出力する、該各受光部の境目が
上記反射光の光軸と一致するように設けられている。上
記第２の受光手段は、上記各受光部で受光した反射光の
光量に応じた受光信号をそれぞれ形成して出力する。こ
の各受光信号は、第２の差分検出手段に供給される。

【００６７】上記第２の差分検出手段は、上記各受光信
号の差分を検出して出力する。上述のように、上記第２
の受光手段の各受光部は、その境目が上記反射光の光軸
と一致するように設けられている。このため、上記第２
の差分検出手段において検出される差分信号は、オフセ
ット分が重畳したプッシュプル信号ということとなる。

【００６８】上記第３の差分検出手段には、上記第２の
差分検出手段からのオフセット分が重畳したプッシュプ
ル信号の他、上記第１の差分検出手段からのオフセット
信号が供給されている。上記第３の差分検出手段は、上
記第１の差分検出手段からのオフセット信号及び第２の
差分検出手段からのオフセット分が重畳したプッシュプ
ル信号の差分を検出することにより、上記オフセット分
が重畳したプッシュプル信号からオフセット分を除去
し、このプッシュプル信号をトラッキング制御回路に供
給する。

【００６９】上記トラッキング制御回路は、上記プッシ
ュプル信号に応じてトラッキング制御を行う。

【００７０】

【実施例】以下、本発明に係る光ピックアップ装置の実
施例について図面を参照しながら説明する。

【００７１】本発明に係る光ピックアップ装置は、例え
ば図１に示すように光ディスクである光磁気ディスク１
に所望の記録データを記録し再生する光磁気ディスク記
録再生装置の光学系に適用することができる。

【００７２】上記図１において、本実施例に係る光ピッ
クアップ装置は、上記光磁気ディスク１と、上記光磁気
ディスク１に照射するレーザビームを出射するレーザー
ダイオード２（レーザ光源）との間に、上記レーザビー
ムを平行光とするレンズ３，ビームスプリッタ４，偏光
ビームスプリッタ５，旋光板６（旋光手段），対物レン
ズ７ａを有する対物レンズ保持部７が、レーザビーム及
びレーザビームが上記光磁気ディスク１に照射されるこ
とにより生ずる反射光の光軸がそれぞれ一致するように
直線上に設けられている。

【００７３】上記ビームスプリッタ４には、上記レーザ
ビーム及び反射光を所定の割合で分光する分光膜４ａが
設けられている。

【００７４】上記偏光ビームスプリッタ５には、例えば
第１の偏光方向であるＰ偏光成分を有する上記レーザビ
ームを透過し、上記第１の偏光方向と直交する第２の偏
光方向であるＳ偏光成分を有する反射光を反射する偏光
膜５ａが設けられている。

【００７５】上記旋光板６は、入射されるレーザビーム
及び反射光を所定の角度だけ例えば右方向に旋光して出
射する右旋光板６Ｒ（第１の旋光部）と、入射されるレ
ーザビーム及び反射光を上記右旋光板６Ｒと反対の左方
向に所定の角度だけ旋光して出射する左旋光板６Ｌ（第
２の旋光部）とから構成されており、上記右旋光板６Ｒ
と左旋光板６Ｌとの境目が上記レーザビーム及び反射光
の光軸と一致するように設けられている。

【００７６】上記対物レンズ保持部７は、対物レンズ７
ａを対物レンズ保持用バネ７ｃにより該対物レンズ保持
部７内に保持しており、該対物レンズ保持用バネ７ｃに
より外部からの振動等をある程度吸収して該対物レンズ
を定位置に保持するようになっている。

【００７７】また、上記光ピックアップ装置は、上記偏
光ビームスプリッタ５により反射された反射光を第１〜
第４の受光部８Ａ〜８Ｄで受光する第１のフォトディテ
クタ８（第１の受光手段）と、上記第１のフォトディテ
クタ８の第２，第３の受光部８Ｂ，８Ｃからの受光信号
のレベルをそれぞれ調整するレベル調整回路２２，２３
（レベル調整手段）と、上記第１のフォトディテクタ８
の第１の受光部８Ａからの受光信号及び上記レベル調整
回路２３によりレベル調整された第３の受光部８Ｃから
の受光信号を加算処理して第１の加算信号を出力する加
算器１８と、上記レベル調整回路２２によりレベル調整
された上記第１のフォトディテクタ８の第２の受光部８
Ｂからの受光信号及び上記第４の受光部８Ｄからの受光
信号を加算処理して第２の加算信号を出力する加算器１
９とを有している。

【００７８】上記第１のフォトディテクタ８は、第１〜
第４の受光部８Ａ〜Ｄがそれぞれ同じ受光面積を有して
おり、これらが一方向に並列的に配列されて構成されて
いる。また、上記第１のフォトディテクタ８は、上記第
２の受光部８Ｂと第３の受光部８Ｃとの境目が上記反射
光の光軸と一致するように設けられている。

【００７９】また、上記光ピックアップ装置は、上記加
算器１８からの第１の加算信号及び上記加算器１９から
の第２の加算信号の差分を検出することによりオフセッ
ト分を示すオフセット信号を検出する第１の差分検出回
路２４（第１の差分検出手段）と、ローパスフィルタ９
（ＬＰＦ）とを有している。

【００８０】また、上記光ピックアップ装置は、上記第
１のフォトディテクタ８の第１の受光部８Ａからの受光
信号及びレベル調整回路２２を介した第２の受光部８Ｂ
からの受光信号を加算処理して加算信号を出力する加算
器２０と、上記レベル調整回路２３を介した第３の受光
部８Ｃからの受光信号及び第４の受光部８Ｄからの受光
信号を加算処理して加算信号を出力する加算器２１と、
上記加算器２０からの加算信号及び加算器２１からの加
算信号の差分を検出することにより、上記光磁気ディス
ク１に記録されている記録データ（ＭＯ信号）を検出し
て出力するＭＯ信号検出回路２５とを有している。

【００８１】また、上記光ピックアップ装置は、上記ビ
ームスプリッタ４により反射された反射光を収束するレ
ンズ１４と、上記レンズ１４を介した反射光を受光する
第２のフォトディテクタ１５（第２の受光手段）とを有
している。

【００８２】上記第２のフォトディテクタ１５は、図２
に示すようにその中心部が上記反射光の光軸と一致する
ように設けられており、上記光軸を中心に第１〜第４の
受光部１５Ｅ〜１５Ｈが放射状に配列されて構成されて
いる。

【００８３】また、上記光ピックアップ装置は、上記第
２のフォトディテクタの第１，第２の受光部１５Ｅ，１
５Ｆからの受光信号を加算処理して加算信号を出力する
加算器２７と、上記第３，第４の受光部１５Ｇ，１５Ｈ
からの受光信号を加算処理して加算信号を出力する加算
器２８と、上記加算器２７からの加算信号及び上記加算
器２８からの加算信号の差分を検出することによりオフ
セット分の重畳したプッシュプル信号を形成して出力す
る第２のフォトディテクタ１６（第２の差分検出手段）
とを有している。

【００８４】また、上記光ピックアップ装置は、上記Ｌ
ＰＦ９を介した第１のフォトディテクタ２４からのオフ
セット信号及び上記第２のフォトディテクタ１６からの
オフセット分の重畳したプッシュプル信号の差分を検出
することにより、オフセット分を除去したプッシュプル
信号を形成して出力する第３の差分検出回路１０（第３
の差分検出手段）と、上記ＬＰＦ９を介した第１のフォ
トディテクタ２４からのオフセット信号と、上記第３の
差分検出回路１０からのプッシュプル信号とを切り換え
て出力する切り換えスイッチ１１と、上記切り換えスイ
ッチ１１の切り換え制御を行うコントローラ１７とを有
している。

【００８５】また、上記光ピックアップ装置は、上記切
り換えスイッチ１１を介して供給されるオフセット信号
又はプッシュプル信号に応じて対物レンズ７ａの位置補
正を行うドライバ１２（位置制御手段）と、上記ＬＰＦ
９を介した第１の差分検出回路２４からのオフセット信
号に応じて上記光磁気ディスク１の傾きを補正するよう
に該光磁気ディスク１の載置されたターンテーブルを制
御するスキュー制御回路１３（スキュー制御手段）とを
有している。

【００８６】次に、このような構成を有する本実施例に
係る光ピックアップ装置の動作説明をする。

【００８７】まず、図１において、上記レーザダイオー
ド２から図３（ａ）に示すようなＰ偏光成分のレーザビ
ームが出射される。このレーザビームは、上記ビームス
プリッタ４を介して偏光ビームスプリッタ５に入射され
る。

【００８８】上記偏光ビームスプリッタ５の偏光膜５ａ
は、Ｐ偏光成分の光は透過し、Ｓ偏光成分の光は反射す
るようになっている。このため、上記ビームスプリッタ
５に入射されたレーザビームはそのまま透過し旋光板６
に入射される。

【００８９】上記旋光板６は、上記レーザビーム及び反
射光の光軸を境にして設けられる右旋光板６Ｒ及び左旋
光板６Ｌから構成されている。このため、上記旋光板６
に入射されたレーザビームは、図３（ｂ）に示すように
所定の角度（＋α：例えば＋２２．５度）だけ右方向に
旋光されて出射され、上記左旋光板６Ｌに入射されたレ
ーザビームは、同図（ｃ）に示すように所定の角度（−
α：例えば−２２．５度）だけ左方向に旋光されて出射
される。

【００９０】これにより、見かけ上は一本のレーザビー
ムであるが、光軸を境に右側及び左側でそれぞれ偏光方
向の異なるレーザビームが形成されることとなる。この
レーザビームは、対物レンズ７ａを介して光磁気ディス
ク１に照射される。

【００９１】次に、上記レーザビームを上記光磁気ディ
スク１に照射することにより、反射光が生ずる。この反
射光は上記レーザビームと偏光方向が逆であるため、光
軸を境に右側のレーザビームは左側の反射光となり、該
光軸を境に左側のレーザビームは右側の反射光となる。
また、この反射光の旋光角には、上記光磁気ディスク１
に記録されたＭＯ信号に応じていわゆるカー回転角（＋
θｋ）が加算される。従って、光軸を境に左側の反射光
は＋α＋θｋの旋光角を有し、該光軸を境に右側の反射
光は−α＋θｋの旋光角を有するようになる。

【００９２】この反射光は、上記旋光板６に入射され
る。

【００９３】上述のように、上記反射光は上記レーザビ
ームとその偏光方向が逆となる。このため、上記光軸を
境に右側のレーザビームの反射光（＋α＋θｋ）は、上
記旋光板６の左旋光板６Ｌに入射され、上記光軸を境に
左側のレーザビームの反射光（−α＋θｋ）は、上記旋
光板６の右旋光板６Ｒに入射される。このため、上記左
旋光板６Ｌに入射された反射光は、図３（ｄ）に示すよ
うにその旋光角がさらに右方向に所定の角度（＋α）分
回転されて＋２α＋θｋ（＋４５度＋θｋ）の旋光角を
有するようになり、上記左旋光板６Ｒに入射された反射
光は、図３（ｅ）に示すようにその旋光角がさらに左方
向に所定の角度（−α）分回転されて−２α＋θｋ（−
４５度＋θｋ）の旋光角を有するようになる。このよう
に旋光された反射光は、上記偏光ビームスプリッタ５に
入射される。

【００９４】上述のように、上記旋光板６の左旋光板６
Ｌを介した反射光は＋４５度＋θｋの旋光角を有してお
り、また、上記右旋光板６Ｒを介した反射光は−４５度
＋θｋの旋光角を有している。このため、上記反射光
は、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分との中間成分を有すること
となる。従って、上記偏光ビームスプリッタ５に入射さ
れる反射光の略々半分であるＳ偏光成分を有する反射光
が反射し、残りの略々半分であるＰ偏光成分を有する反
射光が透過する。

【００９５】なお、上記偏光ビームスプリッタ５で反射
された反射光のうち、光軸を境に右半分は図３（ｆ）に
示すようにｓｉｎ（＋２α＋θｋ）の旋光角を有し、光
軸を境に左半分は図３（ｇ）に示すようにｓｉｎ（−２
α＋θｋ）の旋光角を有している。この反射光は、第１
のフォトディテクタ８に照射される。

【００９６】また、上記偏光ビームスプリッタ５を透過
した反射光はビームスプリッタ４により反射されレンズ
１４を介して第２のフォトディテクタ１５に照射され
る。

【００９７】上記第１のフォトディテクタ８は、上記反
射光を正確に受光した場合（正常時）には、図４（ａ）
に示すように略々中央部で上記反射光を受光し、第１〜
第４の受光部８Ａ〜８Ｄ毎に受光信号を形成して出力す
る。上記第１の受光部８Ａからの受光信号は加算器１８
及び加算器２０に供給され、第２の受光部８Ｂからの受
光信号はレベル調整回路２２に供給され、第３の受光部
８ｃからの受光信号はレベル調整回路２３に供給され、
第４の受光部８Ｄからの受光信号は加算器１９及び加算
器２１に供給される。

【００９８】上記反射光の光量は、図４（ｂ）に示すよ
うに光軸をピークとして該光軸から周辺部にかけて徐々
に少なくなるようになっているため、上記正常時におけ
る上記第１の受光部８Ａからの受光信号のレベルは、第
２の受光部８Ｂからの受光信号のレベルの例えば１／２
程度となり、また、上記第４の受光部８Ｄからの受光信
号のレベルは、第３の受光部８Ｃからの受光信号の例え
ば１／２程度となる。

【００９９】このため、上記レベル調整回路２２は、上
記第２の受光部８Ｂからの受光信号のレベルを１／２に
減衰させることにより、上記第１，第２の受光部８Ａ，
８Ｂからの受光信号のレベルがそれぞれ同レベルとなる
ように調整する。そして、このレベル調整した上記第２
の受光部８Ｂからの受光信号を上記加算器１９及び加算
器２０に供給する。また、上記レベル調整回路２３は、
上記第３の受光部８Ｃからの受光信号のレベルを１／２
に減衰させることにより、上記第３，第４の受光部８
Ｃ，８Ｄからの受光信号のレベルがそれぞれ同レベルと
なるように調整する。そして、このレベル調整した上記
第３の受光部８Ｃからの受光信号を上記加算器１８及び
加算器２１に供給する。

【０１００】なお、上記レベル調整回路２２，２３の代
わりに、信号レベルを２倍に増幅するレベル調整回路
を、第１の受光部８Ａの出力側及び第４の受光部８Ｄの
出力側に設け、各受光部８Ａ〜８Ｄからの受光信号のレ
ベルを同レベルとする調整を行うようにしてもよい。

【０１０１】上記加算器２０は、上記第１の受光部８Ａ
からの受光信号及び上記レベル調整回路２２でレベル調
整された第２の受光部８Ｂからの受光信号を加算処理
し、この加算信号を非反転入力端子２５ａを介してＭＯ
信号検出回路２５に供給する。また、上記加算器２１
は、上記第４の受光部８Ｄからの受光信号及び上記レベ
ル調整回路２３によりレベル調整された第３の受光部８
Ｃからの受光信号を加算処理し、この加算信号を反転入
力端子２５ｂを介してＭＯ信号検出回路２５に供給す
る。

【０１０２】上記第１のフォトディテクタ８は、上記第
２，第３の受光部８Ｂ，８Ｃの境目が上記反射光の光軸
と一致するように設けられている。このため、上記第
１，第２の受光部８Ａ，８Ｂには例えば上記右方向に旋
光された反射光が照射され、上記第３，第４の受光部８
Ｃ，８Ｄには例えば上記左方向に旋光された反射光が照
射されることとなる。従って、上記第１，第２の受光部
８Ａ，８Ｂで形成された受光信号を加算した加算信号、
及び、上記第３，第４の受光部８Ｃ，８Ｄで形成された
受光信号を加算した加算信号の差分を上記ＭＯ信号検出
回路２５で検出することにより、オフセット分を除去し
たかたちで上記光磁気ディスク１に記録されているＭＯ
信号を得ることができる。

【０１０３】ＭＯ信号＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ） なお、Ａ〜Ｄは、第１〜第４の受光部８Ａ〜８Ｄからの
受光信号のレベル。

【０１０４】このＭＯ信号検出回路２５からのＭＯ信号
は、出力端子２６を介して例えば図示しない信号処理回
路等に供給される。

【０１０５】次に、上記加算器１８は、上記第１の受光
部８Ａからの受光信号と、上記レベル調整回路２３によ
りレベル調整された第３の受光部８Ｄからの受光信号と
を加算処理し、この加算信号を非反転入力端子２４ａを
介して第１の差分検出回路２４に供給する。また、上記
加算器１９は、上記第４の受光部８Ｄからの受光信号
と、上記レベル調整回路２２によりレベル調整された第
２の受光部８Ｂからの受光信号とを加算処理し、この加
算信号を反転入力端子２４ｂを介して上記第１の差分検
出回路２４に供給する。

【０１０６】上記第１の差分検出回路２４は、上記加算
器１８からの加算信号と加算器１９からの加算信号とを
加算処理することにより、ＭＯ信号成分を除去したオフ
セット信号を形成する。

【０１０７】すなわち、図５に示すようにターンテーブ
ルに載置された光磁気ディスク１が、例えば図中右下方
向に傾くと、反射光の光軸がずれるうえ、旋光板６の左
旋光板６Ｌを透過したレーザビームが上記光磁気ディス
ク１に反射され、右旋光板６Ｒに入射されるはずが、再
度左旋光板６Ｌに入射されてしまう。上記レーザビーム
と反射光の偏光方向は逆方向であるため、上記左旋光板
６Ｌを透過したレーザビームの反射光が再度左旋光板６
Ｌに入射されると、レーザビームの段階で左方向に旋光
された角度分、反射光の段階で戻されてしまい、一部の
反射光がレーザビームと同じくＰ偏光成分のみを有する
ようになり、この反射光の一部が偏光ビームスプリッタ
５を透過してしまうこととなる。

【０１０８】このように反射光の一部が偏光ビームスプ
リッタ５を透過してしまうと、図６（ａ）に示すように
上記反射光のビームスポットが楕円状となり上記光磁気
ディスク１が傾いた方向とは逆の方向にずれ、同図
（ｂ）に斜線で示すように、上記一部の反射光が偏光ビ
ームスプリッタ５を透過した分、第２の受光部８Ｂに照
射される反射光の受光光量が減少する。

【０１０９】同じく、図７に示すように光磁気ディスク
１が例えば図中左下方向に傾くと、反射光の光軸がずれ
るうえ、旋光板６の右旋光板６Ｒを透過したレーザビー
ムが上記光磁気ディスク１に反射され、左旋光板６Ｌに
入射されるはずが、再度右旋光板６Ｒに入射されてしま
う。上記レーザビームと反射光の偏光方向は逆方向であ
るため、上記右旋光板６Ｒを透過したレーザビームの反
射光が再度右旋光板６Ｒに入射されると、レーザビーム
の段階で右方向に旋光された角度分、反射光の段階で戻
されてしまい、一部の反射光がレーザビームと同じくＰ
偏光成分のみを有するようになり、この反射光の一部が
偏光ビームスプリッタ５を透過してしまうこととなる。

【０１１０】このように反射光の一部が偏光ビームスプ
リッタ５を透過してしまうと、図８（ａ）に示すように
上記反射光のビームスポットが楕円状となり上記光磁気
ディスク１が傾いた方向とは逆の方向にずれ、同図
（ｂ）に斜線で示すように、上記一部の反射光が偏光ビ
ームスプリッタ５を透過した分、第３の受光部８Ｂに照
射される反射光の受光光量が減少する。

【０１１１】従って、上記第１の差分検出回路２４で、
上述のような差分検出を行うことにより、上記光磁気デ
ィスク１の傾き分，すなわち、オフセット分を検出する
ことができる。このオフセット信号は、ＬＰＦ９を介し
てスキュー制御回路１３，切り換えスイッチ１１の被選
択端子１１ｃ及び非反転入力端子１０ａを介して第３の
差分検出回路１０に供給される。

【０１１２】上記スキュー制御回路１３は、上記オフセ
ット信号に基づいて、例えばターンテーブルの傾きを制
御する。これにより、上記ターンテーブルに載置された
光磁気ディスク１の傾きを補正することができる。

【０１１３】このように本実施例に係る光ピックアップ
装置は、ＭＯ信号を検出する第１のフォトディテクタ８
を用いてオフセット信号を検出することができ、上記光
磁気ディスク１の傾き制御をすることができる。このた
め、オフセット信号検出用のフォトディテクタを設ける
必要がなく、部品点数の削減，構成の簡略化を通じて当
該光ピックアップ装置のローコスト化を図ることができ
る。

【０１１４】一方、上記偏光ビームスプリッタ５を透過
したＰ偏光成分の反射光は、ビームスプリッタ４により
反射されレンズ１４を介して第２のフォトディテクタ１
５に供給される。上記第２のフォトディテクタ１５は、
図２に示したようにその中心部が上記反射光の光軸と一
致するように設けられており、上記光軸を中心に第１〜
第４の受光部１５Ｅ〜１５Ｈが放射状に配列されてお
り、この各受光部で上記反射光を受光して受光信号を出
力する。上記第１，第２の受光部１５Ｅ，１５Ｆからの
受光信号は加算器２７に供給され、第３，第４の受光部
１５Ｇ，１５Ｈからの受光信号は加算器２８に供給され
る。

【０１１５】上記加算器２７は、上記第１，第２の受光
部１５Ｅ，１５Ｆからの受光信号を加算処理し、この加
算信号を非反転入力端子１６ａを介して第３の差分検出
回路１６に供給する。また、上記加算器２８は、上記第
３，第４の受光部１５Ｇ，１５Ｈからの受光信号を加算
処理し、この加算信号を反転入力端子１６ｂを介して上
記第２の差分検出回路１６に供給する。

【０１１６】上記第２の差分検出回路１６は上記各加算
信号の差分を検出するが、この各加算信号の差分を検出
することは、右方向に旋光された光軸から右半分の反射
光と、左方向に旋光された光軸から左半分の反射光との
差分を検出することである。上記光磁気ディスク１に照
射されるレーザビームがオフトラックした場合、上記右
方向に旋光された反射光と左方向に旋光された反射光と
に差分が生ずる。従って、この第２の差分検出回路１６
からの差分信号は、トラッキングエラーを示すプッシュ
プル信号ということとなる。

【０１１７】なお、上述のように、光磁気ディスク１に
傾きが生ずると上記偏光ビームスプリッタ５を透過する
反射光の光量が増える。このため、上記第２の差分検出
回路１６で検出されるプッシュプル信号は、オフセット
分を含んだプッシュプル信号となる。このオフセット分
を含んだプッシュプル信号は、反転入力端子１０ｂを介
して上記第３の差分検出回路１０に供給される。

【０１１８】上記第３の差分検出回路１０は、上記第２
の差分検出回路１６から供給されるオフセット分を含ん
だプッシュプル信号、及び、上記ＬＰＦ９を介して第１
の差分検出回路２４から供給されるオフセット信号の差
分を検出することにより、プッシュプル信号のみを抽出
し、これを上記切り換えスイッチ１１の被選択端子１１
ｂに供給する。

【０１１９】コントローラ１７は、通常の記録再生時に
は、選択端子１１ａで被選択端子１１ｂを選択するよう
に上記切り換えスイッチ１１を切り換え制御する。これ
により、切り換えスイッチ１１を介して上記プッシュプ
ル信号がドライバ１２に供給される。上記ドライバ１２
は、上記プッシュプル信号に基づいてレーザビームがオ
ントラックして走査されるように対物レンズ７ａを制御
する。このため、正確なトラッキング状態で記録再生を
行うことができる。

【０１２０】また、上記コントローラ１７は、シーク時
となるとこれを検出し、選択端子１１ａで被選択端子１
１ｃを選択するように上記切り換えスイッチ１１を切り
換え制御する。これにより、切り換えスイッチ１１を介
して上記オフセット信号がドライバ１２に供給される。

【０１２１】上記シーク時には、例えば図９に示すよう
に対物レンズ保持部７が右方向（図中、Ｎ方向）に高速
に移動されるため、対物レンズ７ａが該対物レンズ保持
部７の左側面部７ｃに張り付いてしまうような位置ずれ
を生ずる。この対物レンズ７ａの位置ずれが生ずると、
左旋光板６Ｌを透過したレーザビームの反射光が再度左
旋光板６Ｌを透過することとなり、上記光磁気ディスク
１に傾きが生じたときと同じように一部の反射光が偏光
ビームスプリッタ５を透過する。このため、図１０
（ａ）に示すように上記第１のフォトディテクタ８に照
射される反射光のビームスポットがシーク方向とは反対
の左方向にずれて照射されるうえ、同図（ｂ）に斜線で
示すように一部の受光光量が減少する。

【０１２２】同じく、例えば図１１に示すように対物レ
ンズ保持部７が左方向（図中、Ｌ方向）に高速に移動さ
れると、対物レンズ７ａが該対物レンズ保持部７の右側
面部７ｄに張り付いてしまうような位置ずれを生ずる。
この対物レンズ７ａの位置ずれが生ずると、右旋光板６
Ｒを透過したレーザビームの反射光が再度右旋光板６Ｒ
を透過することとなり、上記光磁気ディスク１に傾きが
生じたときと同じように一部の反射光が偏光ビームスプ
リッタ５を透過する。このため、図１２（ａ）に示すよ
うに上記第１のフォトディテクタ８に照射される反射光
のビームスポットがシーク方向とは反対の右方向にずれ
て照射されるうえ、同図（ｂ）に斜線で示すように一部
の受光光量が減少する。

【０１２３】従って、上記第１の差分検出回路２４で、
上記対物レンズ７ａのずれ具合を示すオフセット信号が
形成されることとなる。

【０１２４】上記ドライバ１２は、上記オフセット信号
に基づいて対物レンズ７ａの位置制御を行う。これによ
り、シーク中において、上記対物レンズ７ａを対物レン
ズ保持部７内の定位置に固定することができる。このた
め、上記シーク時において、上記光磁気ディスク１に照
射されるレーザビームにずれが生ずるのを防止すること
ができ、反射光を正確に検出して正確なアドレス検出を
行うことができる。従って、シーク速度（アクセス速
度）の高速化に貢献することができる。

【０１２５】なお、上述の実施例の説明では、第１のフ
ォトディテクタ８の受光部を４つに等分割し、レベル調
整回路２２，２３を用いて各受光部８Ａ〜８Ｄの受光信
号レベルを等しく調整するようにしたが、これは、図１
３に示すように第１，第２の受光部６０Ａ，６０Ｂの受
光光量が等しくなるように、また、第３，第４の受光部
６０Ｃ，６０Ｄの受光光量が等しくなるように、受光面
積が分割されたフォトディテクタ６０を設けて受光信号
レベルの調整を行うようにしてもよい。

【０１２６】また、４つの受光部８Ａ〜８Ｄを有する上
記第１のフォトディテクタ８を設けることとしたが、こ
れは、図１４に示すように一方向に並列的に配列された
２つの受光部７０Ａ，７０Ｂを中央部に有するフォトデ
ィテクタ７０を設けるようにしてもよい。この場合、上
記２つの受光部７０Ａ，７０Ｂが中央部に一方向に並列
的に配列されているため受光光量は同じであり、図１５
に示すように各受光部７０Ａ，７０Ｂからの受光信号を
直接上記第１差分検出回路２４に供給してオフセット信
号を得ることができる。従って、上述の実施例に係る光
ピックアップ装置のようにレベル調整回路２２，２３を
設ける必要がなく、該実施例に係る光ピックアップ装置
よりもさらにローコスト化を図ることができる。

【０１２７】また、上記オフセットは、対物レンズ７ａ
の位置ずれによっても発生するため、上記オフセット信
号をシーク時のみならず通常の記録再生時にもドライバ
１２に供給するようにして常時、対物レンズ７ａの位置
制御を行うようにしてもよい。

【０１２８】また、旋光手段として右旋光板６Ｒ及び左
旋光板６Ｌを組み合わせた旋光板６を用いることとした
が、これは、１／２波長板の光学軸を変えたものを２枚
組み合わせたものを用いるようにしてもよい。

【０１２９】

【発明の効果】本発明に係る光ピックアップ装置は、光
磁気ディスクに記録されている記録データを検出するた
めの第１の受光手段を用いて、オフセット分を検出し、
光磁気ディスクの傾き補正、及び、該光磁気ディスクに
レーザビームを照射する対物レンズの位置補正を行うこ
とができる。

【０１３０】また、上記第１の受光手段を用いて、記録
データの他、オフセット分をも検出することができるた
め、該オフセット分を検出するためのフォトディテクタ
を設ける必要がなく、部品点数の削減、構成の簡略化を
通じてローコスト化を図ることができる。

【０１３１】また、上記オフセット分を検出して対物レ
ンズの位置補正を行うことができるため、シーク時に対
物レンズ保持部が高速で移動制御され、シークにより移
動された反対方向の対物レンズ保持部の側面部に該対物
レンズが張り付かないように該対物レンズを定位置に制
御することができる。このため、上記シーク時におい
て、上記光磁気ディスクに照射されるレーザビームにず
れが生ずるのを防止することができ、反射光を正確に検
出して正確なアドレス検出を行うことができる。従っ
て、シーク速度（アクセス速度）の高速化に貢献するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ピックアップ装置を光磁気ディ
スク記録再生装置の光学系に適用した場合における実施
例の構成図である。

【図２】上記実施例に係る光磁気ディスク記録再生装置
の光学系に設けられている第２のフォトディテクタの受
光領域の構成を説明するための構成図である。

【図３】上記実施例に係る光磁気ディスク記録再生装置
の光学系における、レーザビーム及び反射光の偏光角を
説明するための模式図である。

【図４】上記実施例に係る光磁気ディスク記録再生装置
の光学系に設けられている第１のフォトディテクタに正
常に反射光が照射された場合の受光状態及び光量分布を
示す図である。

【図５】上記実施例に係る光磁気ディスク記録再生装置
に載置された光磁気ディスクが右下方向に傾いた様子を
示す概略図である。

【図６】上記光磁気ディスクが右下方向に傾いた場合に
おいて、第１のフォトディテクタで受光される反射光の
受光状態及び光量分布を示す図である。

【図７】上記実施例に係る光磁気ディスク記録再生装置
に載置された光磁気ディスクが左下方向に傾いた様子を
示す概略図である。

【図８】上記光磁気ディスクが左下方向に傾いた場合に
おいて、第１のフォトディテクタで受光される反射光の
受光状態及び光量分布を示す図である。

【図９】上記実施例に係る光磁気ディスク記録再生装置
の光学系に設けられている対物レンズが左方向にずれた
様子を示す概略図である。

【図１０】上記対物レンズが左方向にずれた場合におい
て、第１のフォトディテクタで受光される反射光の受光
状態及び光量分布を示す図である。

【図１１】上記実施例に係る光磁気ディスク記録再生装
置の光学系に設けられている対物レンズが右方向にずれ
た様子を示す概略図である。

【図１２】上記対物レンズが右方向にずれた場合におい
て、第１のフォトディテクタで受光される反射光の受光
状態及び光量分布を示す図である。

【図１３】上記実施例に係る光磁気ディスク記録再生装
置の光学系において、４つの受光部から得られる受光信
号のレベルを均等化するために、反射光の受光光量に応
じて受光面積を分割した場合の第１のフォトディテクタ
を示す模式図である。

【図１４】上記実施例に係る光磁気ディスク記録再生装
置の光学系に設けられる、２つの受光部からなるフォト
ディテクタを示す模式図である。

【図１５】上記２つの受光部を有するフォトディテクタ
及びオフセット分を検出するための第１の差分検出回路
を示す構成図である。

【符号の説明】

１・・・・・・・・・・光磁気ディスク ２・・・・・・・・・・レーザーダイオード ３・・・・・・・・・・レンズ ４・・・・・・・・・・ビームスプリッタ ４ａ・・・・・・・・・ビームスプリッタ分離膜 ５・・・・・・・・・・偏向ビームスプリッタ ５ａ・・・・・・・・・偏向ビームスプリッタの偏向膜 ６・・・・・・・・・・旋光板 ６Ｒ・・・・・・・・・右旋光板 ６Ｌ・・・・・・・・・左旋光板 ７・・・・・・・・・・対物レンズ保持部 ７ａ・・・・・・・・・対物レンズ ７ｂ・・・・・・・・・対物レンズ保持用バネ ７ｃ・・・・・・・・・対物レンズ保持部の左側面部 ７ｄ・・・・・・・・・対物レンズ保持部の右側面部 ８・・・・・・・・・・第１のフォトディテクタ ８Ａ・・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第１
の受光部 ８Ｂ・・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第２
の受光部 ８Ｃ・・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第３
の受光部 ８Ｄ・・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第４
の受光部 ９・・・・・・・・・・ローパスフィルタ（ＬＰＦ） １０・・・・・・・・・第３の差分検出回路 １０ａ・・・・・・・・第３の差分検出回路の非反転入
力端子 １０ｂ・・・・・・・・第３の差分検出回路の反転入力
端子 １１・・・・・・・・・切り換えスイッチ １１ａ・・・・・・・・切り換えスイッチの選択端子 １１ｂ・・・・・・・・切り換えスイッチの被選択端子 １１ｃ・・・・・・・・切り換えスイッチの被選択端子 １２・・・・・・・・・ドライバ １３・・・・・・・・・スキュー制御回路 １４・・・・・・・・・レンズ １５・・・・・・・・・第２のフォトディテクタ １５Ｅ・・・・・・・・第２のフォトディテクタの第１
の受光部 １５Ｆ・・・・・・・・第２のフォトディテクタの第２
の受光部 １５Ｇ・・・・・・・・第２のフォトディテクタの第３
の受光部 １５Ｈ・・・・・・・・第２のフォトディテクタの第４
の受光部 １６・・・・・・・・・第２の差分検出回路 １７・・・・・・・・・コントローラ １８〜２１・・・・・・加算器 ２２，２３・・・・・・レベル調整回路 ２４・・・・・・・・・第１の差分検出回路 ２４ａ・・・・・・・・第１の差分検出回路の非反転入
力端子 ２４ｂ・・・・・・・・第１の差分検出回路の反転入力
端子 ２５・・・・・・・・・光磁気（ＭＯ）信号検出回路 ２５ａ・・・・・・・・ＭＯ検出回路の非反転入力端子 ２５ｂ・・・・・・・・ＭＯ検出回路の反転入力端子 ２６・・・・・・・・・ＭＯ信号の出力端子 ６０・・・・・・・・・第１のフォトディテクタ ６０Ａ・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第１
の受光部 ６０Ｂ・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第２
の受光部 ６０Ｃ・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第３
の受光部 ６０Ｄ・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第４
の受光部 ７０・・・・・・・・・第１のフォトディテクタ ７０Ａ・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第１
の受光部 ７０Ｂ・・・・・・・・第１のフォトディテクタの第２
の受光部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 11/00 - 13/04 G11B 7/12 - 7/22

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクに照射するためのレーザビー
   ムを出射するレーザ光源と、第１の偏光方向を有する光
   を透過させ、該第１の偏光方向と直交する第２の偏光方
   向を有する光を反射する偏光ビームスプリッタと、入射
   されるレーザビーム及び反射光を所定の角度だけ旋光し
   て出射する第１の旋光部と、入射されるレーザビーム及
   び反射光を上記第１の旋光部とは逆に所定の角度だけ旋
   光して出射する第２の旋光部とからなり、上記第１，第
   ２の旋光部の境目が、上記偏光ビームスプリッタを介し
   て出射されるレーザビーム及び該レーザビームが上記光
   ディスクに照射されることにより生ずる反射光の光軸と
   一致するように設けられる旋光手段と、上記旋光手段か
   らのレーザビームを収束して上記光ディスクに照射する
   対物レンズと、上記偏光ビームスプリッタにより反射さ
   れる上記反射光を受光し該受光した反射光の光量に応じ
   た受光信号を出力する第１の受光部及び第２の受光部が
   一方向に並列的に配列されており、上記第１，第２の受
   光部の境目が上記反射光の光軸と一致するように設けら
   れる第１の受光手段と、上記第１の受光手段の各受光部
   からの受光信号の差分を検出することによりオフセット
   分を検出してオフセット信号を出力する第１の差分検出
   手段とを有することを特徴とする光ピックアップ装置。
2. 【請求項２】 光ディスクに照射するためのレーザビー
   ムを出射するレーザ光源と、第１の偏光方向を有する光
   を透過させ、該第１の偏光方向と直交する第２の偏光方
   向を有する光を反射する偏光ビームスプリッタと、入射
   されるレーザビーム及び反射光を所定の角度だけ旋光し
   て出射する第１の旋光部と、入射されるレーザビーム及
   び反射光を上記第１の旋光部とは逆に所定の角度だけ旋
   光して出射する第２の旋光部とからなり、上記第１，第
   ２の旋光部の境目が、上記偏光ビームスプリッタを介し
   て出射されるレーザビーム及び該レーザビームが上記光
   ディスクに照射されることにより生ずる反射光の光軸と
   一致するように設けられる旋光手段と、上記旋光手段か
   らのレーザビームを収束して上記光ディスクに照射する
   対物レンズと、上記偏光ビームスプリッタにより反射さ
   れる上記反射光を受光し該受光した反射光の光量に応じ
   た受光信号を出力する第１の受光部，第２の受光部，第
   ３の受光部及び第４の受光部が一方向に並列的に配列さ
   れており、上記第２，第３の受光部の境目が、上記反射
   光の光軸と一致するように設けられる第１の受光手段
   と、上記第１の受光手段の第１の受光部からの受光信号
   と第３の受光部から受光信号とを加算処理することによ
   り第１の加算信号を形成するとともに、第２の受光部か
   らの受光信号と第４の受光部から受光信号とを加算処理
   することにより第２の加算信号を形成し、上記第１の加
   算信号及び第２の加算信号の差分を検出することにより
   オフセット分を検出してオフセット信号を出力する第１
   の差分検出手段とを有することを特徴とする光ピックア
   ップ装置。
3. 【請求項３】 上記第１の受光手段の第１の受光部から
   得られる受光信号及び第２の受光部から得られる受光信
   号のレベルは同レベルであり、また、第３の受光部から
   得られる受光信号及び第４の受光部から得られる受光信
   号のレベルは同レベルであることを特徴とする請求項２
   記載の光ピックアップ装置。
4. 【請求項４】 上記第１の受光手段は、上記第１の受光
   部の受光光量と第２の受光部の受光光量とが等しくなる
   ように、また、上記第３の受光部の受光光量と第４の受
   光部の受光光量とが等しくなるように各受光部の受光面
   積の比率が決められていることを特徴とする請求項３記
   載の光ピックアップ装置。
5. 【請求項５】 上記第１の受光手段の第１の受光部から
   の受光信号のレベルと第２の受光部からの受光信号のレ
   ベルがそれぞれ等しくなるように、また、第３の受光部
   からの受光信号のレベルと第４の受光部からの受光信号
   のレベルがそれぞれ等しくなるように各受光部からの受
   光信号のレベル調整を行うレベル調整手段を有すること
   を特徴とする請求項３記載の光ピックアップ装置。
6. 【請求項６】 上記第１の差分検出手段からのオフセッ
   ト信号に応じて、上記光ディスクに照射されるレーザビ
   ームが所定の角度を持って照射されるように、該光ディ
   スクの傾きを制御するスキュー制御手段を有することを
   特徴とする請求項１，請求項２，請求項３，請求項４又
   は請求項５記載の光ピックアップ装置。
7. 【請求項７】 上記対物レンズを保持する対物レンズ保
   持部を移動させてシークを行う場合に、上記第１の差分
   検出手段からのオフセット信号に応じて、上記保持部内
   の対物レンズの位置を定位置に制御する位置制御手段を
   有することを特徴とする請求項１，請求項２，請求項
   ３，請求項４，請求項５又は請求項６記載の光ピックア
   ップ装置。
8. 【請求項８】 上記レーザ光源からのレーザビーム及び
   上記偏光ビームスプリッタを介して照射される反射光を
   それぞれ所定の割合で透過し反射することにより分光す
   るビームスプリッタと、少なくとも２分割された等領域
   の受光部からなり、上記ビームスプリッタにより反射さ
   れた反射光を受光して、その受光光量に応じた受光信号
   をそれぞれ出力する、該各受光部の境目が上記反射光の
   光軸と一致するように設けられる第２の受光手段と、上
   記第２の受光手段からの各受光信号の差分を検出し、こ
   の差分信号を出力する第２の差分検出手段と、上記第１
   の差分検出手段からのオフセット信号及び上記第２の差
   分検出手段からの差分信号の差分を検出することにより
   プッシュプル信号を形成して出力する第３の差分検出手
   段を有することを特徴とする請求項１，請求項２，請求
   項３，請求項４，請求項５，請求項６又は請求項７記載
   の光ピックアップ装置。