JPH06314449A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 レーザダイオード２から出射されたレーザビ
ームを偏光ビームスプリッタ４で反射し、光軸を境に右
側のレーザビームを旋光板５の右旋光板５Ｒで所定の角
度だけ旋光し、左側のレーザビームを左旋光板５Ｌで所
定の角度だけ旋光して光磁気ディスク１に照射する。上
記右旋光板５Ｒを介したレーザビームに係る反射光は、
上記左旋光板５Ｌに入射されさらに右方向に所定の角度
だけ旋光され、上記左旋光板５Ｌを介したレーザビーム
に係る反射光は、上記右旋光板５Ｒに入射されさらに左
方向に所定の角度だけ旋光され偏光ビームスプリッタ４
を透過して臨界角プリズム７で反射されフォトディテク
タ８に照射される。上記フォトディテクタ８は、上記反
射光を受光して、フォーカスエラー，トラッキングエラ
ー，光磁気記録信号等を検出する。 【効果】 簡単な構成で高品位な光磁気記録信号を取り
出すことができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば光磁気ディスク
に所望の記録情報の記録再生を行う光磁気ディスク記録
再生装置等の光学系として用いて好適な光ピックアップ
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】今日において、記憶容量が大きいこと，
記録データの保存性が良いこと，簡単に書き換え可能で
あること等から、記録データの記録再生には、光磁気デ
ィスクが多く用いられるようになってきた。

【０００３】上記光磁気ディスクに記録データを記録再
生する光磁気ディスク記録再生装置に設けられている光
ピックアップ装置は、例えば半導体レーザと、この半導
体レーザからの出射光を平行光にするコリメータレンズ
と、このコリメータレンズで平行光にされた出射光を集
光して光磁気ディスクの記録面に照射する対物レンズ
と、上記半導体レーザ及び対物レンズ間に設けられ、上
記光磁気ディスクの記録面で反射された反射光の一部を
分離する第１の偏光ビームスプリッタと、この第１の偏
光ビームスプリッタで分離された反射光の一部を検波す
る検光子と、この検光子を透過した光のレベルを検出す
るフォトディテクタ等から構成されている。

【０００４】このような構成を有する光ピックアップ装
置は、上記半導体レーザから出射されるレーザビームを
集光して上記光磁気ディスクの記録面に照射し、この記
録面で反射された反射光の一部を上記第１の偏光ビーム
スプリッタで分離し、この分離された反射光の一部のう
ち、所定の偏光面、すなわち、所定の光振動面を有する
成分のレベルを上記フォトディテクタで検出することに
より、上記光磁気ディスクに記録されている記録データ
を再生するようになっている。

【０００５】上述の検光子としては、「シートアナライ
ザ」が一般的に用いられるが、このシートアナライザ
は、「消光比」が低いため、Ｓ／Ｎ比が低いという問題
がある。このため、現在主流となっている光ピックアッ
プ装置には上記検光子の代わりに１／２波長板が設けら
れている。

【０００６】この１／２波長板が設けられた光ピックア
ップ装置は、上記第１の偏光ビームスプリッタで分離さ
れた反射光を、上記１／２波長板及び第２の偏光ビーム
スプリッタで、さらにＰ波成分及びＳ波成分に分離し、
該Ｐ波成分及びＳ波成分のレベルをそれぞれ２つのフォ
トディテクタで検出し、これらのレベル差を差動増幅器
で検出することにより、上記光磁気ディスクに記録され
ている記録データを再生するようになっている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記１／２波
長板が設けられた光ピックアップ装置は、第１，第２の
偏光ビームスプリッタの計２つの偏光ビームスプリッタ
を設けなければならないため、部品点数が多くなり、製
作費が高くなる問題があった。

【０００８】また、上記第１の偏光ビームスプリッタで
分離された反射光を、上記第２の偏光ビームスプリッタ
でさらに２つの成分に分離する構成のため、その光路を
確立する必要があり、各部品の位置合わせが面倒である
うえ、装置自体が大型化する問題があった。

【０００９】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
ものであり、部品点数を削減して小型且つ安価に作製で
きるうえ、面倒な位置合わせを軽減することができるよ
うな光ピックアップ装置に関する。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光ピックア
ップ装置は、光磁気ディスクに照射するための第１の偏
光方向を有するレーザビームを出射するレーザビーム出
射手段と、上記レーザビーム出射手段からのレーザビー
ムを平行光として出射するコリメータレンズと、上記第
１の偏光方向を有するレーザビームは反射し、上記第１
の偏光方向と直交する第２の偏光方向を有する反射光は
透過させる偏光ビームスプリッタと、入射されるレーザ
ビーム及び反射光を所定の角度だけ旋光して出射する第
１の旋光部と、入射されるレーザビーム及び反射光を、
上記第１の旋光部とは逆に所定の角度だけ旋光して出射
する第２の旋光部とが、上記レーザビーム及び反射光の
光軸を境にして設けられている旋光手段と、上記旋光手
段からのレーザビームを収束して上記光磁気ディスクに
照射するとともに、上記反射光を平行光として出射する
対物レンズと、上記旋光手段を介して上記偏光ビームス
プリッタを透過した反射光が平行光として入射されたと
きに臨界角となるように設けられ、上記反射光が平行光
の場合のみ反射する臨界角プリズムと、上記臨界角プリ
ズムにより反射された反射光を受光し、この受光レベル
に基づいてフォーカスエラー信号，トラッキングエラー
信号，光磁気記録信号を形成する光検出手段とを有する
ことを特徴として上述の課題を解決する。

【００１１】

【作用】本発明に係る光ピックアップ装置は、例えばＳ
偏光成分のレーザビームが、レーザビーム出射手段から
出射される。このＳ偏光成分のレーザビームは、コリメ
ータレンズに入射され平行光として出射される。この平
行光とされたＳ偏光成分のレーザビームは、偏光ビーム
スプリッタに入射される。

【００１２】上記偏光ビームスプリッタは、上記Ｓ偏光
成分のレーザビームは反射し、該Ｓ偏光成分と直交する
偏光成分であるＰ偏光成分のレーザビームは透過させる
特性となっている。このため、上記レーザビーム出射手
段からのＳ偏光成分のレーザビームは、上記偏光ビーム
スプリッタにより反射されることとなる。この偏光ビー
ムスプリッタにより反射されたレーザビームは、旋光手
段に入射される。

【００１３】上記旋光手段は、例えば上記レーザビーム
の光軸を境に右側が第１の旋光部である右旋光板、左側
が第２の旋光部である左旋光板で形成されており、上記
偏光ビームスプリッタからのレーザビームのうち、光軸
を境に右側のレーザビームを、上記右旋光板により所定
の角度だけ旋光して出射し、上記光軸を境に左側のレー
ザビームを、上記左旋光板により、上記右旋光板とは逆
に所定の角度だけ旋光して出射する。

【００１４】これにより、見かけ上は一本のレーザビー
ムであるが、光軸を境に右側及び左側でそれぞれ旋光角
の異なるレーザビームが形成されることとなる。このレ
ーザビームは、対物レンズにより収束され光磁気ディス
クに照射される。

【００１５】次に、上記レーザビームを対物レンズを介
して光磁気ディスクに照射することにより反射光が生ず
る。この反射光のうち、上記旋光手段内の右旋光板を介
して出射されたレーザビームに係る反射光は、上記旋光
手段内の左旋光板に入射され、上記旋光手段内の左旋光
板を介して出射されたレーザビームに係る反射光は、上
記旋光手段内の右旋光板に入射される。

【００１６】上記旋光手段に入射される反射光の進行方
向は、上記レーザビーム出射手段から出射されるレーザ
ビームの進行方向とは逆となる。このため、上記左旋光
板に入射された反射光は、さらに所定の角度だけ旋光さ
れ、殆どＰ偏光成分の反射光として出射され、上記右旋
光板に入射された反射光は、上記左旋光板に入射された
反射光とは逆にさらに所定の角度だけ旋光され、殆どＰ
偏光成分の反射光として出射されることとなる。

【００１７】なお、上記左旋光板から出射される反射光
と、上記右旋光板から出射される反射光とは、それぞれ
殆どＰ偏光成分の反射光となっているが、それぞれ右方
向の旋光角を有する反射光，左方向の旋光角を有する反
射光となっている。上記旋光手段を介した上記反射光
は、上記偏光ビームスプリッタに入射される。

【００１８】上述のように、上記旋光手段からは、例え
ば殆どＰ偏光成分の反射光が出射される。また、上記偏
光ビームスプリッタは、Ｓ偏光成分を反射しＰ偏光成分
を透過させる特性となっている。このため、上記偏光ビ
ームスプリッタに入射された反射光は殆ど偏光ビームス
プリッタを透過し臨界角プリズムに入射される。

【００１９】上記臨界角プリズムは、上記偏光ビームス
プリッタを透過した反射光が平行光として入射されたと
きに臨界角となるように設けられている。このため、上
記反射光が平行光の場合のみ該平行光を反射する。この
臨界角プリズムにより反射された反射光は光検出手段に
照射される。

【００２０】上記光検出手段は、例えば受光部が４分割
されており、上記臨界角プリズムから照射された反射光
を受光してそのレベルをそれぞれ検出し、この検出した
各レベルに基づいて、フォーカスエラー信号，トラッキ
ングエラー信号，光磁気記録信号及びＲＦ信号を形成し
て出力する。

【００２１】

【実施例】以下、本発明に係る光ピックアップ装置の実
施例について図面を参照しながら説明する。

【００２２】本発明に係る光ピックアップ装置は、例え
ば図１に示すように光磁気ディスク１に所望の記録デー
タを記録し再生する光磁気ディスク記録再生装置の光学
系として適用することができる。

【００２３】上記図１において、本実施例に係る光ピッ
クアップ装置は、記録時には記録用のレベルの強いＳ偏
光成分のレーザビームを出射し、再生時には再生用の弱
いレベルのＳ偏光成分のレーザビームを出射するレーザ
ダイオード（レーザビーム出射手段）２と、上記レーザ
ダイオード２からのレーザビームを平行光として出射す
るコリメータレンズ３と、Ｓ偏光成分の光は反射し、該
Ｓ偏光成分と直交するＰ偏光成分の光は透過させる偏光
ビームスプリッタ４とを有している。

【００２４】また、上記光ピックアップ装置は、図２に
示すように上記偏光ビームスプリッタ４により反射され
たレーザビームの光軸を境にして、入射されるレーザビ
ーム及び反射光を所定の角度だけ右方向に旋回して出射
する右旋光板５Ｒ（第１の旋光部）、及び、入射される
レーザビーム及び反射光を所定の角度だけ左方向に旋回
して出射する左旋光板５Ｌ（第２の旋光部）からなる旋
光板（旋光手段）５を有している。

【００２５】また、上記光ピックアップ装置は、上記旋
光板５を介して入射される上記レービームを収束して上
記光磁気ディスク１に照射するとともに、上記レーザビ
ームが光磁気ディスク１に照射されることにより生ずる
反射光を平行光として出射する対物レンズ６と、上記旋
光板５を介して上記偏光ビームスプリッタ４を透過した
反射光が、平行光として入射されたときに臨界角となる
ように設けられ、上記反射光が平行光の場合のみ反射す
る臨界角プリズム７と、上記臨界角プリズム７により反
射された反射光を受光し、この受光レベルを検出するフ
ォトディテクタ８とを有している。

【００２６】また、上記光ピックアップ装置は、図４に
示すように上記フォトディテクタ８に接続された第１，
第２の差動増幅回路９，１０を有しており、上記フォト
ディテクタ８及び第１，第２の差動増幅回路９，１０
で、フォーカスエラー信号，トラッキングエラー信号，
光磁気記録信号及びＲＦ信号を形成する光検出手段を構
成している。

【００２７】また、上記レーザダイオード２は、箱型形
状のレーザユニット１１内に設けられている。このレー
ザユニット１１には、上記レーザダイオード２から出射
されるレーザビームを遮らないように孔部１１ａが設け
られており、この孔部１１ａ以外は全て遮光されるよう
な構成となっている。

【００２８】次に、このような構成を有する本実施例に
係る光ピックアップ装置の動作説明をする。

【００２９】まず、記録時或いは再生時となると、上記
レーザダイオード２から図３（ａ）に示すようなＳ偏光
成分のレーザビームが出射される。このＳ偏光成分のレ
ーザビームは、コリメータレンズ３により平行光とされ
偏光ビームスプリッタ４に入射される。上記偏光ビーム
スプリッタ４は、例えばＳ偏光成分の光は反射し、Ｐ偏
光成分の光は透過させる特性となっている。このため、
上記コリメータレンズ３からのレーザビームは、上記偏
光ビームスプリッタ４により反射され旋光板５に入射さ
れる。

【００３０】上記旋光板５は、上述のように上記レーザ
ビームの光軸を境に右側が右旋光板５Ｒ、左側が左旋光
板５Ｌで形成されている（図２参照）。このため、上記
旋光板５は、入射されたレーザビームのうち、光軸を境
にして右側のレーザビームを上記右旋光板５Ｒにより図
３（ｂ）に示すように所定分（＋α）右方向に回転させ
て出射し（＋α＋θｋ：θｋ＝カー回転角）、また、上
記光軸を境に左側のレーザビームを上記左旋光板５Ｌに
より同図（ｃ）に示すように所定分（−α）左方向に回
転させて出射する（−α＋θｋ：θｋ＝カー回転角）。

【００３１】これにより、見かけ上は一本のレーザビー
ムであるが、光軸を境に右側及び左側でそれぞれ偏光方
向の異なるレーザビームが形成されることとなる。この
レーザビームは、対物レンズ６により収束され上記光磁
気ディスク１に照射される。

【００３２】次に、上記レーザビームを上記対物レンズ
６を介して上記光磁気ディスク１に照射することにより
反射光が生ずる。この反射光は、上記対物レンズ６によ
り平行光とされ出射される。この対物レンズ６から出射
された反射光のうち、上記旋光板５内の右旋光板５Ｒを
介して出射されたレーザビームに係る反射光（＋α＋θ
ｋ）は、上記旋光板５内の左旋光板５Ｌに入射され、上
記旋光板５内の左旋光板５Ｌを介して出射されたレーザ
ビームに係る反射光（−α＋θｋ）は、上記旋光板５内
の右旋光板５Ｒに入射される。

【００３３】上記旋光板５に入射される反射光の進行方
向は、上記レーザダイオード２から出射されるレーザビ
ームの進行方向とは逆となる。このため、上記左旋光板
５Ｌに入射された反射光は、図３（ｄ）に示すようにさ
らに所定分（＋α）右方向に回転されて出射され（＋２
α＋θｋ）、上記右旋光板５Ｒに入射された反射光は、
同図（ｅ）に示すようにさらに所定分（−α）左方向に
回転されて出射されることとなる（−２α＋θｋ）。

【００３４】従って、上記旋光板５を介した上記反射光
は、上記２回の旋光により略々Ｐ偏光成分となる。な
お、上記反射光は、同じＰ偏光成分ではあるが、光軸を
境にして右側の反射光と左側の反射光とでは、その旋光
角が逆になっている。このような反射光は、次に上記偏
光ビームスプリッタ４に入射される。

【００３５】上述のように、上記偏光ビームスプリッタ
４は、Ｐ偏光成分の光は透過させる。このため、上記２
回の旋光により略々Ｐ偏光成分とされ上記偏光ビームス
プリッタ４に入射された反射光のうち、上記左旋光板５
Ｌを介した反射光（＋２α＋θｋ）が、図３（ｆ）に示
すようなｓｉｎ（＋２α＋θｋ）の偏光角を有するＰ偏
光成分の反射光として該偏光ビームスプリッタ４を透過
し、また、上記右旋光板５Ｒを介した反射光（−２α＋
θｋ）が、同図（ｇ）に示すようなｓｉｎ（−２α＋θ
ｋ）の偏光角を有するＰ偏光成分の反射光として該偏光
ビームスプリッタ４を透過する。この偏光ビームスプリ
ッタ４を透過した上記反射光は、次に臨界角プリズム７
に入射される。

【００３６】上記臨界角プリズム７は、上記旋光板５を
介して上記偏光ビームスプリッタ４を透過した反射光が
平行光として入射されたときに臨界角となるように設け
られている。このため、上記反射光が平行光の場合のみ
反射し、これをフォトディテクタ８に照射する。

【００３７】上記フォトディテクタ８の内部は、例えば
図４に示したように第１〜第４の受光部８ａ〜８ｃに４
分割されており、この各受光部８ａ〜８ｃで上記臨界角
プリズム７からの反射光を受光する。そして、上記各受
光部８ａ〜８ｃで受光した反射光のレベルに基づいて、
例えばいわゆる非点収差法により第１の差動増幅回路９
でフォーカスエラーを検出し、ラジアルプッシュプル法
でトラッキングエラーを検出する。そして、このフォー
カスエラー信号及びトラッキングエラー信号を出力端子
１３を介して、例えば図示しないシステムコントローラ
に供給する。

【００３８】上記システムコントローラは、上記フォー
カスエラー信号に基づいて、上記光磁気ディスク１に照
射されるレーザビームの焦点が合うように例えば上記対
物レンズ６を上下に駆動制御し、また、上記トラッキン
グエラー信号に基づいて上記光磁気ディスク１を走査す
るレーザビームがオントラックするように上記対物レン
ズ６を左右に駆動制御する。

【００３９】これにより、正確なフォーカシング及びト
ラッキングで記録再生を行うことができる。

【００４０】また、上記フォトディテクタ８は、上記各
受光部８ａ〜８ｃで受光した反射光のレベルに基づい
て、第２の差動増幅回路１０により、トランジェンタル
プッシュプル法（差動検出法）で光磁気記録信号を検出
し、上記４つの受光部８ａ〜８ｃで受光した反射光のレ
ベルの和を検出してＲＦ信号を検出する。そして、この
光磁気記録信号及びＲＦ信号を出力端子１４を介して、
例えば図示しない光磁気記録信号処理回路に供給する。

【００４１】このように、受光面積のレベルの差分を検
出する、いわゆる差動検出法は、同相除去比の性能を決
める、消光比の高い光学系でなければ実現は困難であ
る。しかし、本実施例に係る光ピックアップ装置は、上
記偏光ビームスプリッタ４を用いて上記レーザビームの
反射光の検波を行うため、上記偏光ビームスプリッタ４
の特性で決まる消光比まで同相除去を行うことができ
る。このため、同相除去比の高い高品位な光磁気光学系
を達成することができる。

【００４２】また、通常のビームスプリッタの反射膜
は、光学的位相特性（リターデーション）を考慮して量
産する必要があるためコスト高となるが、本実施例に係
る光ピックアップ装置は、上記偏光ビームスプリッタ４
を用いているため、リターデーションは発生しない。こ
のため、上記リターデーションを考慮して量産しなくて
よい分ローコスト化に貢献することができる。

【００４３】また、上記偏光ビームスプリッタ４を用い
て、反射光の光量のみ検波しており、往路の光量は１０
０％透過させるため、カップリング効率の向上を図るこ
とができる。

【００４４】また、往路のカップリング効率に影響を与
えることなく、上記右旋光板５Ｒ，左旋光板５Ｌの回転
角を任意に設定して、上記フォトディテクタ８に照射す
る反射光の光量を任意に設定することができる。

【００４５】具体的には、上記右旋光板５Ｒ，左旋光板
５Ｌの回転角をそれぞれ０度〜４５度まで変化させるこ
とにより、上記フォトディテクタ８に照射される反射光
の光量を０％〜１００％に可変することができる。

【００４６】このため、上記光磁気記録信号，フォーカ
スエラー信号，トラッキングエラー信号の増幅回路等の
後段の増幅回路の設計に自由度を増すことができる。従
って、信号に応じた適正な増幅度となるように上記後段
の増幅回路の増幅率を設定することができ、Ｓ／Ｎ比の
向上を図ることができる。

【００４７】また、上記光磁気記録信号の形成に上記偏
光ビームスプリッタ４を用いることができ、集束光中で
も光磁気記録信号の品質劣化を生じずに取り扱うことを
可能とすることができる。このため、光磁気レーザカプ
ラを実現することができる。

【００４８】また、上記旋光板５は、回転角を変化させ
るだけで、波長板のように位相差は変化させない。この
ため、上記レーザダイオード２の発振波長のバラツキの
影響を受けることがない。従って、２波長以上のレーザ
ビームを同一の光学系内において取り扱うことを可能と
することができる。

【００４９】また、上記旋光板５において、上記右旋光
板５Ｒと左旋光板５Ｌとの旋光角度が異なっていても、
上記２つの反射光は、上記レーザビームが右旋光板５Ｒ
及び左旋光板５Ｌを順に介して形成され、また、上記レ
ーザビームが左旋光板５Ｌ及び右旋光板５Ｒを順に介し
て形成されるため、該２つの反射光のレベルは等しくす
ることができる。このため、当該光ピックアップ装置に
用いる各素子の仕様の自由度を増すことができる。

【００５０】また、上記偏光ビームスプリッタ４は、通
常の光ピックアップ装置に設けられる光磁気用ビームス
プリッタと比較して安価に作製することができる。ま
た、本実施例に係る光ピックアップ装置では、偏光ビー
ムスプリッタを１つだけしか用いていない。また、偏光
ビームスプリッタを１つだけしか用いていないため、光
路を大幅に縮めることができる。さらに、上記旋光板５
も、ウォーラストンプリズムよりも安価に作製すること
ができる。

【００５１】このため、当該光ピックアップ装置自体を
小型化しローコスト化を達成することができるうえ、面
倒な位置合わせの作業の軽減を図ることができる。

【００５２】なお、上述の実施例の説明では、旋光手段
として右旋光板５Ｒ及び左旋光板５Ｌを組み合わせた旋
光板５を用いることとしたが、これは、１／２波長板の
光学軸を変えたものを２枚組み合わせたものを用いるよ
うにしてもよい。

【００５３】

【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明に
係る光ピックアップ装置は、レーザビーム出射手段から
の第１の偏光成分のレーザビームを偏光ビームスプリッ
タにより反射して旋光手段に入射し、この旋光手段で光
軸を境に右側と左側で異なる旋光角を有するように旋光
して光磁気ディスクに照射する。そして、反射光を上記
旋光手段で、光軸を境に右側と左側でさらに異なる旋光
角を有するように旋光し上記偏光ビームスプリッタを透
過させ臨界角プリズムにより反射して例えば４分割され
た受光部を有するフォトディテクタに照射する。

【００５４】これにより、上記フォトディテクタは、各
受光部に照射される反射光のレベルに基づいて、例えば
非点収差法でフォーカスエラーを検出し、ラジアルプッ
シュプル法でトラッキングエラーを検出し、差動検出法
で光磁気記録信号を検出し、各受光部で検出された反射
光のレベルの和でＲＦ信号を検出することができる。

【００５５】また、上記反射光を略々１００％利用する
ことができるため、カップリング効率を良くして高品位
な光磁気記録信号を形成して出力することができる。

【００５６】しかも、上記偏光ビームスプリッタを１つ
しか用いないため、部品点数を削減することができるう
え、光路を大幅に縮めることができ、当該光ピックアッ
プ装置の小型化及びローコスト化を達成することができ
る。また、光路を大幅に縮めることができるため、上記
フォトディテクタの位置合わせ等を軽減することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ピックアップ装置を光磁気ディ
スク記録再生装置の光学系に適用した場合の実施例のブ
ロック図である。

【図２】上記実施例に係る光ピックアップ装置に設けら
れている旋光板の概略図である。

【図３】上記実施例に係る光ピックアップ装置の各部を
介したレーザビーム及び反射光の旋光角を説明するため
の模式図である。

【図４】上記実施例に係る光ピックアップ装置に設けら
れているフォトディテクタの概略図である。

【符号の説明】

１・・・・・・・・・・光磁気ディスク ２・・・・・・・・・・レーザダイオード ３・・・・・・・・・・コリメータレンズ ４・・・・・・・・・・偏光ビームスプリッタ ５・・・・・・・・・・旋光板 ５Ｒ・・・・・・・・・右旋光板 ５Ｌ・・・・・・・・・左旋光板 ６・・・・・・・・・・対物レンズ ７・・・・・・・・・・臨界角プリズム ８・・・・・・・・・・フォトディテクタ ８ａ〜８ｄ・・・・・・フォトディテクタの第１〜第４
の受光部 ９，１０・・・・・・・第１，第２の差動増幅回路 １１・・・・・・・・・レーザユニット １１ａ・・・・・・・・レーザユニットの孔部 １３，１４・・・・・・出力端子

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成６年４月６日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１６

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１６】 上記旋光手段に入射される反射光の偏光
方向は、上記レーザビーム出射手段から出射されるレー
ザビームの偏光方向とは逆となる。このため、上記左旋
光板に入射された反射光は、さらに所定の角度だけ旋光
され、Ｐ偏光成分を有する反射光として出射され、上記
右旋光板に入射された反射光は、上記左旋光板に入射さ
れた反射光とは逆にさらに所定の角度だけ旋光され、Ｐ
偏光成分を有する反射光として出射されることとなる。

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１７

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１７】 なお、上記左旋光板から出射される反射
光と、上記右旋光板から出射される反射光とは、それぞ
れＰ偏光成分を有する反射光となっているが、それぞれ
右方向の旋光角を有する反射光、左方向の旋光角を有す
る反射光となっている。上記旋光手段を介した上記反射
光は、上記偏光ビームスプリッタに入射される。

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１８

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１８】 上述のように、上記旋光手段からは、例
えばＰ偏光成分を有する反射光が出射される。また、上
記偏光ビームスプリッタは、Ｓ偏光成分を反射しＰ偏光
成分を透過させる特性となっている。このため、上記偏
光ビームスプリッタに入射された反射光のＰ偏光成分
は、偏光ビームスプリッタを透過し臨界角プリズムに入
射される。

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００３０

【補正方法】変更

【補正内容】

【００３０】 上記旋光板５は、上述のように上記レー
ザビームの光軸を境に右側が右旋光板５Ｒ、左側が左旋
光板５Ｌで形成されている（図２参照）。このため、上
記旋光板５は、入射されたレーザビームのうち、光軸を
境にして右側のレーザビームを上記右旋光板５Ｒにより
図３（ｂ）に示すように所定分（＋α）右方向に回転さ
せて出射し、また、上記光軸を境に左側のレーザビーム
を上記左旋光板５Ｌにより同図（ｃ）に示すように所定
分（−α）左方向に回転させて出射する。

【手続補正５】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００３２

【補正方法】変更

【補正内容】

【００３２】 次に、上記レーザビームを上記対物レン
ズ６を介して上記光磁気ディスク１に照射することによ
り反射光が生ずる。この反射光の偏光面は、磁化の向き
に従って回転する現象、所謂カー効果によりθｋ（＝カ
ー回転角）回転する。そして、偏光面がθｋ回転した上
記反射光は、上記対物レンズ６により平行光とされ出射
される。この対物レンズ６から出射された反射光のう
ち、上記旋光板５内の右旋光板５Ｒを介して出射された
レーザビームに係る反射光（＋α＋θｋ）は、上記旋光
板５内の左旋光板５Ｌに入射され、上記旋光板５内の左
旋光板５Ｌを介して出射されたレーザビームに係る反射
光（−α＋θｋ）は、上記旋光板５内の右旋光板５Ｒに
入射される。

【手続補正６】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００３４

【補正方法】変更

【補正内容】

【００３４】 従って、上記旋光板５を介した上記反射
光は、上記２回の旋光によりＰ偏光成分を有する。な
お、上記反射光は、同じＰ偏光成分ではあるが、光軸を
境にして右側の反射光と左側の反射光とでは、その旋光
角が逆になっている。このような反射光は、次に上記偏
光ビームスプリッタ４に入射される。

【手続補正７】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００３５

【補正方法】変更

【補正内容】

【００３５】 上述のように、上記偏光ビームスプリッ
タ４は、Ｐ偏光成分の光は透過させる。このため、上記
２回の旋光によりＰ偏光成分を有し上記偏光ビームスプ
リッタ４に入射された反射光のうち、上記左旋光板５Ｌ
を介した反射光（＋２α＋θｋ）が、図３（ｆ）に示す
ようなｓｉｎ（＋２α＋θｋ）の偏光角を有するＰ偏光
成分の反射光として該偏光ビームスプリッタ４を透過
し、また、上記右旋光板５Ｒを介した反射光（−２α＋
θｋ）が、同図（ｇ）に示すようなｓｉｎ（−２α＋θ
ｋ）の偏光角を有するＰ偏光成分の反射光として該偏光
ビームスプリッタ４を透過する。この偏光ビームスプリ
ッタ４を透過した上記反射光は、次に臨界角プリズム７
に入射される。

【手続補正８】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００３７

【補正方法】変更

【補正内容】

【００３７】 上記フォトディテクタ８の内部は、例え
ば図４に示したように第１〜第４の受光部８ａ〜８ｃに
４分割されており、この各受光部８ａ〜８ｃで上記臨界
角プリズム７からの反射光を受光する。そして、上記各
受光部８ａ〜８ｃで受光した反射光のレベルに基いて、
例えばいわゆる臨界角法により第１の差動増幅回路９で
フォーカスエラーを検出し、和信号でサンプルドサーボ
のトラッキングエラーを検出する。具体的には、上記フ
ォトディテクタ８の第１の受光部８ａで受光した反射光
の受光レベルを“ａ”、第２の受光部８ｂで受光した反
射光の受光レベルを“ｂ”、第３の受光部８ｃで受光し
た反射光の受光レベルを“ｃ”、第４の受光部８ｄで受
光した反射光の受光レベルを“ｄ”とすると、上記第１
の差動増幅回路９は、以下の式１に示す演算を行ってフ
ォーカスエラーを検出する。 フォーカスエラー＝（ａ＋ｂ）−（ｅ＋ｄ）・・・・式
１ このように、上記第１の差動増幅回路９で検出されたフ
ォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号は、そ
れぞれ出力端子１３を介して、例えば図示しないシステ
ムコントローラに供給される。

【手続補正９】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００４０

【補正方法】変更

【補正内容】

【００４０】 また、上記第２の差動増幅回路１０は、
上記フォトディテクタ８の各受光部８ａ〜８ｃで受光さ
れた反射光の受光レベルに基づいて、以下の式２に示す
演算を行って光磁気記録信号（ＭＯ信号）を検出し、以
下の式３に示す演算を行ってＲＦ信号を検出する。 ＭＯ信号＝（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）・・・・式２ ＲＦ信号＝ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ ・・・・式３ このように上記第２の差動増幅回路１０で検出された光
磁気記録信号及びＲＦ信号は、それぞれ出力端子１４を
介して、例えば図示しない光磁気記録信号処理回路に供
給される。

【手続補正１０】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００４７

【補正方法】削除

【手続補正１１】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図１

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１】

【手続補正１２】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図３

【補正方法】変更

【補正内容】

【図３】

【手続補正１３】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図４

【補正方法】変更

【補正内容】

【図４】

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光磁気ディスクに照射するための第１の
   偏光方向を有するレーザビームを出射するレーザビーム
   出射手段と、 上記レーザビーム出射手段からのレーザビームを平行光
   として出射するコリメータレンズと、 上記第１の偏光方向を有するレーザビームは反射し、上
   記第１の偏光方向と直交する第２の偏光方向を有する反
   射光は透過させる偏光ビームスプリッタと、 入射されるレーザビーム及び反射光を所定の角度だけ旋
   光して出射する第１の旋光部と、入射されるレーザビー
   ム及び反射光を、上記第１の旋光部とは逆に所定の角度
   だけ旋光して出射する第２の旋光部とが、上記レーザビ
   ーム及び反射光の光軸を境にして設けられている旋光手
   段と、 上記旋光手段からのレーザビームを収束して上記光磁気
   ディスクに照射するとともに、上記反射光を平行光とし
   て出射する対物レンズと、 上記旋光手段を介して上記偏光ビームスプリッタを透過
   した反射光が平行光として入射されたときに臨界角とな
   るように設けられ、上記反射光が平行光の場合のみ反射
   する臨界角プリズムと、 上記臨界角プリズムにより反射された反射光を受光し、
   この受光レベルに基づいてフォーカスエラー信号，トラ
   ッキングエラー信号，光磁気記録信号を形成する光検出
   手段とを有することを特徴とする光ピックアップ装置。