JPH06314449A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
- Publication number
- JPH06314449A JPH06314449A JP5127870A JP12787093A JPH06314449A JP H06314449 A JPH06314449 A JP H06314449A JP 5127870 A JP5127870 A JP 5127870A JP 12787093 A JP12787093 A JP 12787093A JP H06314449 A JPH06314449 A JP H06314449A
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- Japan
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- optical
- laser beam
- reflected light
- light
- plate
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 レーザダイオード2から出射されたレーザビ
ームを偏光ビームスプリッタ4で反射し、光軸を境に右
側のレーザビームを旋光板5の右旋光板5Rで所定の角
度だけ旋光し、左側のレーザビームを左旋光板5Lで所
定の角度だけ旋光して光磁気ディスク1に照射する。上
記右旋光板5Rを介したレーザビームに係る反射光は、
上記左旋光板5Lに入射されさらに右方向に所定の角度
だけ旋光され、上記左旋光板5Lを介したレーザビーム
に係る反射光は、上記右旋光板5Rに入射されさらに左
方向に所定の角度だけ旋光され偏光ビームスプリッタ4
を透過して臨界角プリズム7で反射されフォトディテク
タ8に照射される。上記フォトディテクタ8は、上記反
射光を受光して、フォーカスエラー,トラッキングエラ
ー,光磁気記録信号等を検出する。 【効果】 簡単な構成で高品位な光磁気記録信号を取り
出すことができる。
ームを偏光ビームスプリッタ4で反射し、光軸を境に右
側のレーザビームを旋光板5の右旋光板5Rで所定の角
度だけ旋光し、左側のレーザビームを左旋光板5Lで所
定の角度だけ旋光して光磁気ディスク1に照射する。上
記右旋光板5Rを介したレーザビームに係る反射光は、
上記左旋光板5Lに入射されさらに右方向に所定の角度
だけ旋光され、上記左旋光板5Lを介したレーザビーム
に係る反射光は、上記右旋光板5Rに入射されさらに左
方向に所定の角度だけ旋光され偏光ビームスプリッタ4
を透過して臨界角プリズム7で反射されフォトディテク
タ8に照射される。上記フォトディテクタ8は、上記反
射光を受光して、フォーカスエラー,トラッキングエラ
ー,光磁気記録信号等を検出する。 【効果】 簡単な構成で高品位な光磁気記録信号を取り
出すことができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば光磁気ディスク
に所望の記録情報の記録再生を行う光磁気ディスク記録
再生装置等の光学系として用いて好適な光ピックアップ
装置に関する。
に所望の記録情報の記録再生を行う光磁気ディスク記録
再生装置等の光学系として用いて好適な光ピックアップ
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】今日において、記憶容量が大きいこと,
記録データの保存性が良いこと,簡単に書き換え可能で
あること等から、記録データの記録再生には、光磁気デ
ィスクが多く用いられるようになってきた。
記録データの保存性が良いこと,簡単に書き換え可能で
あること等から、記録データの記録再生には、光磁気デ
ィスクが多く用いられるようになってきた。
【0003】上記光磁気ディスクに記録データを記録再
生する光磁気ディスク記録再生装置に設けられている光
ピックアップ装置は、例えば半導体レーザと、この半導
体レーザからの出射光を平行光にするコリメータレンズ
と、このコリメータレンズで平行光にされた出射光を集
光して光磁気ディスクの記録面に照射する対物レンズ
と、上記半導体レーザ及び対物レンズ間に設けられ、上
記光磁気ディスクの記録面で反射された反射光の一部を
分離する第1の偏光ビームスプリッタと、この第1の偏
光ビームスプリッタで分離された反射光の一部を検波す
る検光子と、この検光子を透過した光のレベルを検出す
るフォトディテクタ等から構成されている。
生する光磁気ディスク記録再生装置に設けられている光
ピックアップ装置は、例えば半導体レーザと、この半導
体レーザからの出射光を平行光にするコリメータレンズ
と、このコリメータレンズで平行光にされた出射光を集
光して光磁気ディスクの記録面に照射する対物レンズ
と、上記半導体レーザ及び対物レンズ間に設けられ、上
記光磁気ディスクの記録面で反射された反射光の一部を
分離する第1の偏光ビームスプリッタと、この第1の偏
光ビームスプリッタで分離された反射光の一部を検波す
る検光子と、この検光子を透過した光のレベルを検出す
るフォトディテクタ等から構成されている。
【0004】このような構成を有する光ピックアップ装
置は、上記半導体レーザから出射されるレーザビームを
集光して上記光磁気ディスクの記録面に照射し、この記
録面で反射された反射光の一部を上記第1の偏光ビーム
スプリッタで分離し、この分離された反射光の一部のう
ち、所定の偏光面、すなわち、所定の光振動面を有する
成分のレベルを上記フォトディテクタで検出することに
より、上記光磁気ディスクに記録されている記録データ
を再生するようになっている。
置は、上記半導体レーザから出射されるレーザビームを
集光して上記光磁気ディスクの記録面に照射し、この記
録面で反射された反射光の一部を上記第1の偏光ビーム
スプリッタで分離し、この分離された反射光の一部のう
ち、所定の偏光面、すなわち、所定の光振動面を有する
成分のレベルを上記フォトディテクタで検出することに
より、上記光磁気ディスクに記録されている記録データ
を再生するようになっている。
【0005】上述の検光子としては、「シートアナライ
ザ」が一般的に用いられるが、このシートアナライザ
は、「消光比」が低いため、S/N比が低いという問題
がある。このため、現在主流となっている光ピックアッ
プ装置には上記検光子の代わりに1/2波長板が設けら
れている。
ザ」が一般的に用いられるが、このシートアナライザ
は、「消光比」が低いため、S/N比が低いという問題
がある。このため、現在主流となっている光ピックアッ
プ装置には上記検光子の代わりに1/2波長板が設けら
れている。
【0006】この1/2波長板が設けられた光ピックア
ップ装置は、上記第1の偏光ビームスプリッタで分離さ
れた反射光を、上記1/2波長板及び第2の偏光ビーム
スプリッタで、さらにP波成分及びS波成分に分離し、
該P波成分及びS波成分のレベルをそれぞれ2つのフォ
トディテクタで検出し、これらのレベル差を差動増幅器
で検出することにより、上記光磁気ディスクに記録され
ている記録データを再生するようになっている。
ップ装置は、上記第1の偏光ビームスプリッタで分離さ
れた反射光を、上記1/2波長板及び第2の偏光ビーム
スプリッタで、さらにP波成分及びS波成分に分離し、
該P波成分及びS波成分のレベルをそれぞれ2つのフォ
トディテクタで検出し、これらのレベル差を差動増幅器
で検出することにより、上記光磁気ディスクに記録され
ている記録データを再生するようになっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記1/2波
長板が設けられた光ピックアップ装置は、第1,第2の
偏光ビームスプリッタの計2つの偏光ビームスプリッタ
を設けなければならないため、部品点数が多くなり、製
作費が高くなる問題があった。
長板が設けられた光ピックアップ装置は、第1,第2の
偏光ビームスプリッタの計2つの偏光ビームスプリッタ
を設けなければならないため、部品点数が多くなり、製
作費が高くなる問題があった。
【0008】また、上記第1の偏光ビームスプリッタで
分離された反射光を、上記第2の偏光ビームスプリッタ
でさらに2つの成分に分離する構成のため、その光路を
確立する必要があり、各部品の位置合わせが面倒である
うえ、装置自体が大型化する問題があった。
分離された反射光を、上記第2の偏光ビームスプリッタ
でさらに2つの成分に分離する構成のため、その光路を
確立する必要があり、各部品の位置合わせが面倒である
うえ、装置自体が大型化する問題があった。
【0009】本発明は、上述の問題点に鑑みてなされた
ものであり、部品点数を削減して小型且つ安価に作製で
きるうえ、面倒な位置合わせを軽減することができるよ
うな光ピックアップ装置に関する。
ものであり、部品点数を削減して小型且つ安価に作製で
きるうえ、面倒な位置合わせを軽減することができるよ
うな光ピックアップ装置に関する。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光ピックア
ップ装置は、光磁気ディスクに照射するための第1の偏
光方向を有するレーザビームを出射するレーザビーム出
射手段と、上記レーザビーム出射手段からのレーザビー
ムを平行光として出射するコリメータレンズと、上記第
1の偏光方向を有するレーザビームは反射し、上記第1
の偏光方向と直交する第2の偏光方向を有する反射光は
透過させる偏光ビームスプリッタと、入射されるレーザ
ビーム及び反射光を所定の角度だけ旋光して出射する第
1の旋光部と、入射されるレーザビーム及び反射光を、
上記第1の旋光部とは逆に所定の角度だけ旋光して出射
する第2の旋光部とが、上記レーザビーム及び反射光の
光軸を境にして設けられている旋光手段と、上記旋光手
段からのレーザビームを収束して上記光磁気ディスクに
照射するとともに、上記反射光を平行光として出射する
対物レンズと、上記旋光手段を介して上記偏光ビームス
プリッタを透過した反射光が平行光として入射されたと
きに臨界角となるように設けられ、上記反射光が平行光
の場合のみ反射する臨界角プリズムと、上記臨界角プリ
ズムにより反射された反射光を受光し、この受光レベル
に基づいてフォーカスエラー信号,トラッキングエラー
信号,光磁気記録信号を形成する光検出手段とを有する
ことを特徴として上述の課題を解決する。
ップ装置は、光磁気ディスクに照射するための第1の偏
光方向を有するレーザビームを出射するレーザビーム出
射手段と、上記レーザビーム出射手段からのレーザビー
ムを平行光として出射するコリメータレンズと、上記第
1の偏光方向を有するレーザビームは反射し、上記第1
の偏光方向と直交する第2の偏光方向を有する反射光は
透過させる偏光ビームスプリッタと、入射されるレーザ
ビーム及び反射光を所定の角度だけ旋光して出射する第
1の旋光部と、入射されるレーザビーム及び反射光を、
上記第1の旋光部とは逆に所定の角度だけ旋光して出射
する第2の旋光部とが、上記レーザビーム及び反射光の
光軸を境にして設けられている旋光手段と、上記旋光手
段からのレーザビームを収束して上記光磁気ディスクに
照射するとともに、上記反射光を平行光として出射する
対物レンズと、上記旋光手段を介して上記偏光ビームス
プリッタを透過した反射光が平行光として入射されたと
きに臨界角となるように設けられ、上記反射光が平行光
の場合のみ反射する臨界角プリズムと、上記臨界角プリ
ズムにより反射された反射光を受光し、この受光レベル
に基づいてフォーカスエラー信号,トラッキングエラー
信号,光磁気記録信号を形成する光検出手段とを有する
ことを特徴として上述の課題を解決する。
【0011】
【作用】本発明に係る光ピックアップ装置は、例えばS
偏光成分のレーザビームが、レーザビーム出射手段から
出射される。このS偏光成分のレーザビームは、コリメ
ータレンズに入射され平行光として出射される。この平
行光とされたS偏光成分のレーザビームは、偏光ビーム
スプリッタに入射される。
偏光成分のレーザビームが、レーザビーム出射手段から
出射される。このS偏光成分のレーザビームは、コリメ
ータレンズに入射され平行光として出射される。この平
行光とされたS偏光成分のレーザビームは、偏光ビーム
スプリッタに入射される。
【0012】上記偏光ビームスプリッタは、上記S偏光
成分のレーザビームは反射し、該S偏光成分と直交する
偏光成分であるP偏光成分のレーザビームは透過させる
特性となっている。このため、上記レーザビーム出射手
段からのS偏光成分のレーザビームは、上記偏光ビーム
スプリッタにより反射されることとなる。この偏光ビー
ムスプリッタにより反射されたレーザビームは、旋光手
段に入射される。
成分のレーザビームは反射し、該S偏光成分と直交する
偏光成分であるP偏光成分のレーザビームは透過させる
特性となっている。このため、上記レーザビーム出射手
段からのS偏光成分のレーザビームは、上記偏光ビーム
スプリッタにより反射されることとなる。この偏光ビー
ムスプリッタにより反射されたレーザビームは、旋光手
段に入射される。
【0013】上記旋光手段は、例えば上記レーザビーム
の光軸を境に右側が第1の旋光部である右旋光板、左側
が第2の旋光部である左旋光板で形成されており、上記
偏光ビームスプリッタからのレーザビームのうち、光軸
を境に右側のレーザビームを、上記右旋光板により所定
の角度だけ旋光して出射し、上記光軸を境に左側のレー
ザビームを、上記左旋光板により、上記右旋光板とは逆
に所定の角度だけ旋光して出射する。
の光軸を境に右側が第1の旋光部である右旋光板、左側
が第2の旋光部である左旋光板で形成されており、上記
偏光ビームスプリッタからのレーザビームのうち、光軸
を境に右側のレーザビームを、上記右旋光板により所定
の角度だけ旋光して出射し、上記光軸を境に左側のレー
ザビームを、上記左旋光板により、上記右旋光板とは逆
に所定の角度だけ旋光して出射する。
【0014】これにより、見かけ上は一本のレーザビー
ムであるが、光軸を境に右側及び左側でそれぞれ旋光角
の異なるレーザビームが形成されることとなる。このレ
ーザビームは、対物レンズにより収束され光磁気ディス
クに照射される。
ムであるが、光軸を境に右側及び左側でそれぞれ旋光角
の異なるレーザビームが形成されることとなる。このレ
ーザビームは、対物レンズにより収束され光磁気ディス
クに照射される。
【0015】次に、上記レーザビームを対物レンズを介
して光磁気ディスクに照射することにより反射光が生ず
る。この反射光のうち、上記旋光手段内の右旋光板を介
して出射されたレーザビームに係る反射光は、上記旋光
手段内の左旋光板に入射され、上記旋光手段内の左旋光
板を介して出射されたレーザビームに係る反射光は、上
記旋光手段内の右旋光板に入射される。
して光磁気ディスクに照射することにより反射光が生ず
る。この反射光のうち、上記旋光手段内の右旋光板を介
して出射されたレーザビームに係る反射光は、上記旋光
手段内の左旋光板に入射され、上記旋光手段内の左旋光
板を介して出射されたレーザビームに係る反射光は、上
記旋光手段内の右旋光板に入射される。
【0016】上記旋光手段に入射される反射光の進行方
向は、上記レーザビーム出射手段から出射されるレーザ
ビームの進行方向とは逆となる。このため、上記左旋光
板に入射された反射光は、さらに所定の角度だけ旋光さ
れ、殆どP偏光成分の反射光として出射され、上記右旋
光板に入射された反射光は、上記左旋光板に入射された
反射光とは逆にさらに所定の角度だけ旋光され、殆どP
偏光成分の反射光として出射されることとなる。
向は、上記レーザビーム出射手段から出射されるレーザ
ビームの進行方向とは逆となる。このため、上記左旋光
板に入射された反射光は、さらに所定の角度だけ旋光さ
れ、殆どP偏光成分の反射光として出射され、上記右旋
光板に入射された反射光は、上記左旋光板に入射された
反射光とは逆にさらに所定の角度だけ旋光され、殆どP
偏光成分の反射光として出射されることとなる。
【0017】なお、上記左旋光板から出射される反射光
と、上記右旋光板から出射される反射光とは、それぞれ
殆どP偏光成分の反射光となっているが、それぞれ右方
向の旋光角を有する反射光,左方向の旋光角を有する反
射光となっている。上記旋光手段を介した上記反射光
は、上記偏光ビームスプリッタに入射される。
と、上記右旋光板から出射される反射光とは、それぞれ
殆どP偏光成分の反射光となっているが、それぞれ右方
向の旋光角を有する反射光,左方向の旋光角を有する反
射光となっている。上記旋光手段を介した上記反射光
は、上記偏光ビームスプリッタに入射される。
【0018】上述のように、上記旋光手段からは、例え
ば殆どP偏光成分の反射光が出射される。また、上記偏
光ビームスプリッタは、S偏光成分を反射しP偏光成分
を透過させる特性となっている。このため、上記偏光ビ
ームスプリッタに入射された反射光は殆ど偏光ビームス
プリッタを透過し臨界角プリズムに入射される。
ば殆どP偏光成分の反射光が出射される。また、上記偏
光ビームスプリッタは、S偏光成分を反射しP偏光成分
を透過させる特性となっている。このため、上記偏光ビ
ームスプリッタに入射された反射光は殆ど偏光ビームス
プリッタを透過し臨界角プリズムに入射される。
【0019】上記臨界角プリズムは、上記偏光ビームス
プリッタを透過した反射光が平行光として入射されたと
きに臨界角となるように設けられている。このため、上
記反射光が平行光の場合のみ該平行光を反射する。この
臨界角プリズムにより反射された反射光は光検出手段に
照射される。
プリッタを透過した反射光が平行光として入射されたと
きに臨界角となるように設けられている。このため、上
記反射光が平行光の場合のみ該平行光を反射する。この
臨界角プリズムにより反射された反射光は光検出手段に
照射される。
【0020】上記光検出手段は、例えば受光部が4分割
されており、上記臨界角プリズムから照射された反射光
を受光してそのレベルをそれぞれ検出し、この検出した
各レベルに基づいて、フォーカスエラー信号,トラッキ
ングエラー信号,光磁気記録信号及びRF信号を形成し
て出力する。
されており、上記臨界角プリズムから照射された反射光
を受光してそのレベルをそれぞれ検出し、この検出した
各レベルに基づいて、フォーカスエラー信号,トラッキ
ングエラー信号,光磁気記録信号及びRF信号を形成し
て出力する。
【0021】
【実施例】以下、本発明に係る光ピックアップ装置の実
施例について図面を参照しながら説明する。
施例について図面を参照しながら説明する。
【0022】本発明に係る光ピックアップ装置は、例え
ば図1に示すように光磁気ディスク1に所望の記録デー
タを記録し再生する光磁気ディスク記録再生装置の光学
系として適用することができる。
ば図1に示すように光磁気ディスク1に所望の記録デー
タを記録し再生する光磁気ディスク記録再生装置の光学
系として適用することができる。
【0023】上記図1において、本実施例に係る光ピッ
クアップ装置は、記録時には記録用のレベルの強いS偏
光成分のレーザビームを出射し、再生時には再生用の弱
いレベルのS偏光成分のレーザビームを出射するレーザ
ダイオード(レーザビーム出射手段)2と、上記レーザ
ダイオード2からのレーザビームを平行光として出射す
るコリメータレンズ3と、S偏光成分の光は反射し、該
S偏光成分と直交するP偏光成分の光は透過させる偏光
ビームスプリッタ4とを有している。
クアップ装置は、記録時には記録用のレベルの強いS偏
光成分のレーザビームを出射し、再生時には再生用の弱
いレベルのS偏光成分のレーザビームを出射するレーザ
ダイオード(レーザビーム出射手段)2と、上記レーザ
ダイオード2からのレーザビームを平行光として出射す
るコリメータレンズ3と、S偏光成分の光は反射し、該
S偏光成分と直交するP偏光成分の光は透過させる偏光
ビームスプリッタ4とを有している。
【0024】また、上記光ピックアップ装置は、図2に
示すように上記偏光ビームスプリッタ4により反射され
たレーザビームの光軸を境にして、入射されるレーザビ
ーム及び反射光を所定の角度だけ右方向に旋回して出射
する右旋光板5R(第1の旋光部)、及び、入射される
レーザビーム及び反射光を所定の角度だけ左方向に旋回
して出射する左旋光板5L(第2の旋光部)からなる旋
光板(旋光手段)5を有している。
示すように上記偏光ビームスプリッタ4により反射され
たレーザビームの光軸を境にして、入射されるレーザビ
ーム及び反射光を所定の角度だけ右方向に旋回して出射
する右旋光板5R(第1の旋光部)、及び、入射される
レーザビーム及び反射光を所定の角度だけ左方向に旋回
して出射する左旋光板5L(第2の旋光部)からなる旋
光板(旋光手段)5を有している。
【0025】また、上記光ピックアップ装置は、上記旋
光板5を介して入射される上記レービームを収束して上
記光磁気ディスク1に照射するとともに、上記レーザビ
ームが光磁気ディスク1に照射されることにより生ずる
反射光を平行光として出射する対物レンズ6と、上記旋
光板5を介して上記偏光ビームスプリッタ4を透過した
反射光が、平行光として入射されたときに臨界角となる
ように設けられ、上記反射光が平行光の場合のみ反射す
る臨界角プリズム7と、上記臨界角プリズム7により反
射された反射光を受光し、この受光レベルを検出するフ
ォトディテクタ8とを有している。
光板5を介して入射される上記レービームを収束して上
記光磁気ディスク1に照射するとともに、上記レーザビ
ームが光磁気ディスク1に照射されることにより生ずる
反射光を平行光として出射する対物レンズ6と、上記旋
光板5を介して上記偏光ビームスプリッタ4を透過した
反射光が、平行光として入射されたときに臨界角となる
ように設けられ、上記反射光が平行光の場合のみ反射す
る臨界角プリズム7と、上記臨界角プリズム7により反
射された反射光を受光し、この受光レベルを検出するフ
ォトディテクタ8とを有している。
【0026】また、上記光ピックアップ装置は、図4に
示すように上記フォトディテクタ8に接続された第1,
第2の差動増幅回路9,10を有しており、上記フォト
ディテクタ8及び第1,第2の差動増幅回路9,10
で、フォーカスエラー信号,トラッキングエラー信号,
光磁気記録信号及びRF信号を形成する光検出手段を構
成している。
示すように上記フォトディテクタ8に接続された第1,
第2の差動増幅回路9,10を有しており、上記フォト
ディテクタ8及び第1,第2の差動増幅回路9,10
で、フォーカスエラー信号,トラッキングエラー信号,
光磁気記録信号及びRF信号を形成する光検出手段を構
成している。
【0027】また、上記レーザダイオード2は、箱型形
状のレーザユニット11内に設けられている。このレー
ザユニット11には、上記レーザダイオード2から出射
されるレーザビームを遮らないように孔部11aが設け
られており、この孔部11a以外は全て遮光されるよう
な構成となっている。
状のレーザユニット11内に設けられている。このレー
ザユニット11には、上記レーザダイオード2から出射
されるレーザビームを遮らないように孔部11aが設け
られており、この孔部11a以外は全て遮光されるよう
な構成となっている。
【0028】次に、このような構成を有する本実施例に
係る光ピックアップ装置の動作説明をする。
係る光ピックアップ装置の動作説明をする。
【0029】まず、記録時或いは再生時となると、上記
レーザダイオード2から図3(a)に示すようなS偏光
成分のレーザビームが出射される。このS偏光成分のレ
ーザビームは、コリメータレンズ3により平行光とされ
偏光ビームスプリッタ4に入射される。上記偏光ビーム
スプリッタ4は、例えばS偏光成分の光は反射し、P偏
光成分の光は透過させる特性となっている。このため、
上記コリメータレンズ3からのレーザビームは、上記偏
光ビームスプリッタ4により反射され旋光板5に入射さ
れる。
レーザダイオード2から図3(a)に示すようなS偏光
成分のレーザビームが出射される。このS偏光成分のレ
ーザビームは、コリメータレンズ3により平行光とされ
偏光ビームスプリッタ4に入射される。上記偏光ビーム
スプリッタ4は、例えばS偏光成分の光は反射し、P偏
光成分の光は透過させる特性となっている。このため、
上記コリメータレンズ3からのレーザビームは、上記偏
光ビームスプリッタ4により反射され旋光板5に入射さ
れる。
【0030】上記旋光板5は、上述のように上記レーザ
ビームの光軸を境に右側が右旋光板5R、左側が左旋光
板5Lで形成されている(図2参照)。このため、上記
旋光板5は、入射されたレーザビームのうち、光軸を境
にして右側のレーザビームを上記右旋光板5Rにより図
3(b)に示すように所定分(+α)右方向に回転させ
て出射し(+α+θk:θk=カー回転角)、また、上
記光軸を境に左側のレーザビームを上記左旋光板5Lに
より同図(c)に示すように所定分(−α)左方向に回
転させて出射する(−α+θk:θk=カー回転角)。
ビームの光軸を境に右側が右旋光板5R、左側が左旋光
板5Lで形成されている(図2参照)。このため、上記
旋光板5は、入射されたレーザビームのうち、光軸を境
にして右側のレーザビームを上記右旋光板5Rにより図
3(b)に示すように所定分(+α)右方向に回転させ
て出射し(+α+θk:θk=カー回転角)、また、上
記光軸を境に左側のレーザビームを上記左旋光板5Lに
より同図(c)に示すように所定分(−α)左方向に回
転させて出射する(−α+θk:θk=カー回転角)。
【0031】これにより、見かけ上は一本のレーザビー
ムであるが、光軸を境に右側及び左側でそれぞれ偏光方
向の異なるレーザビームが形成されることとなる。この
レーザビームは、対物レンズ6により収束され上記光磁
気ディスク1に照射される。
ムであるが、光軸を境に右側及び左側でそれぞれ偏光方
向の異なるレーザビームが形成されることとなる。この
レーザビームは、対物レンズ6により収束され上記光磁
気ディスク1に照射される。
【0032】次に、上記レーザビームを上記対物レンズ
6を介して上記光磁気ディスク1に照射することにより
反射光が生ずる。この反射光は、上記対物レンズ6によ
り平行光とされ出射される。この対物レンズ6から出射
された反射光のうち、上記旋光板5内の右旋光板5Rを
介して出射されたレーザビームに係る反射光(+α+θ
k)は、上記旋光板5内の左旋光板5Lに入射され、上
記旋光板5内の左旋光板5Lを介して出射されたレーザ
ビームに係る反射光(−α+θk)は、上記旋光板5内
の右旋光板5Rに入射される。
6を介して上記光磁気ディスク1に照射することにより
反射光が生ずる。この反射光は、上記対物レンズ6によ
り平行光とされ出射される。この対物レンズ6から出射
された反射光のうち、上記旋光板5内の右旋光板5Rを
介して出射されたレーザビームに係る反射光(+α+θ
k)は、上記旋光板5内の左旋光板5Lに入射され、上
記旋光板5内の左旋光板5Lを介して出射されたレーザ
ビームに係る反射光(−α+θk)は、上記旋光板5内
の右旋光板5Rに入射される。
【0033】上記旋光板5に入射される反射光の進行方
向は、上記レーザダイオード2から出射されるレーザビ
ームの進行方向とは逆となる。このため、上記左旋光板
5Lに入射された反射光は、図3(d)に示すようにさ
らに所定分(+α)右方向に回転されて出射され(+2
α+θk)、上記右旋光板5Rに入射された反射光は、
同図(e)に示すようにさらに所定分(−α)左方向に
回転されて出射されることとなる(−2α+θk)。
向は、上記レーザダイオード2から出射されるレーザビ
ームの進行方向とは逆となる。このため、上記左旋光板
5Lに入射された反射光は、図3(d)に示すようにさ
らに所定分(+α)右方向に回転されて出射され(+2
α+θk)、上記右旋光板5Rに入射された反射光は、
同図(e)に示すようにさらに所定分(−α)左方向に
回転されて出射されることとなる(−2α+θk)。
【0034】従って、上記旋光板5を介した上記反射光
は、上記2回の旋光により略々P偏光成分となる。な
お、上記反射光は、同じP偏光成分ではあるが、光軸を
境にして右側の反射光と左側の反射光とでは、その旋光
角が逆になっている。このような反射光は、次に上記偏
光ビームスプリッタ4に入射される。
は、上記2回の旋光により略々P偏光成分となる。な
お、上記反射光は、同じP偏光成分ではあるが、光軸を
境にして右側の反射光と左側の反射光とでは、その旋光
角が逆になっている。このような反射光は、次に上記偏
光ビームスプリッタ4に入射される。
【0035】上述のように、上記偏光ビームスプリッタ
4は、P偏光成分の光は透過させる。このため、上記2
回の旋光により略々P偏光成分とされ上記偏光ビームス
プリッタ4に入射された反射光のうち、上記左旋光板5
Lを介した反射光(+2α+θk)が、図3(f)に示
すようなsin(+2α+θk)の偏光角を有するP偏
光成分の反射光として該偏光ビームスプリッタ4を透過
し、また、上記右旋光板5Rを介した反射光(−2α+
θk)が、同図(g)に示すようなsin(−2α+θ
k)の偏光角を有するP偏光成分の反射光として該偏光
ビームスプリッタ4を透過する。この偏光ビームスプリ
ッタ4を透過した上記反射光は、次に臨界角プリズム7
に入射される。
4は、P偏光成分の光は透過させる。このため、上記2
回の旋光により略々P偏光成分とされ上記偏光ビームス
プリッタ4に入射された反射光のうち、上記左旋光板5
Lを介した反射光(+2α+θk)が、図3(f)に示
すようなsin(+2α+θk)の偏光角を有するP偏
光成分の反射光として該偏光ビームスプリッタ4を透過
し、また、上記右旋光板5Rを介した反射光(−2α+
θk)が、同図(g)に示すようなsin(−2α+θ
k)の偏光角を有するP偏光成分の反射光として該偏光
ビームスプリッタ4を透過する。この偏光ビームスプリ
ッタ4を透過した上記反射光は、次に臨界角プリズム7
に入射される。
【0036】上記臨界角プリズム7は、上記旋光板5を
介して上記偏光ビームスプリッタ4を透過した反射光が
平行光として入射されたときに臨界角となるように設け
られている。このため、上記反射光が平行光の場合のみ
反射し、これをフォトディテクタ8に照射する。
介して上記偏光ビームスプリッタ4を透過した反射光が
平行光として入射されたときに臨界角となるように設け
られている。このため、上記反射光が平行光の場合のみ
反射し、これをフォトディテクタ8に照射する。
【0037】上記フォトディテクタ8の内部は、例えば
図4に示したように第1〜第4の受光部8a〜8cに4
分割されており、この各受光部8a〜8cで上記臨界角
プリズム7からの反射光を受光する。そして、上記各受
光部8a〜8cで受光した反射光のレベルに基づいて、
例えばいわゆる非点収差法により第1の差動増幅回路9
でフォーカスエラーを検出し、ラジアルプッシュプル法
でトラッキングエラーを検出する。そして、このフォー
カスエラー信号及びトラッキングエラー信号を出力端子
13を介して、例えば図示しないシステムコントローラ
に供給する。
図4に示したように第1〜第4の受光部8a〜8cに4
分割されており、この各受光部8a〜8cで上記臨界角
プリズム7からの反射光を受光する。そして、上記各受
光部8a〜8cで受光した反射光のレベルに基づいて、
例えばいわゆる非点収差法により第1の差動増幅回路9
でフォーカスエラーを検出し、ラジアルプッシュプル法
でトラッキングエラーを検出する。そして、このフォー
カスエラー信号及びトラッキングエラー信号を出力端子
13を介して、例えば図示しないシステムコントローラ
に供給する。
【0038】上記システムコントローラは、上記フォー
カスエラー信号に基づいて、上記光磁気ディスク1に照
射されるレーザビームの焦点が合うように例えば上記対
物レンズ6を上下に駆動制御し、また、上記トラッキン
グエラー信号に基づいて上記光磁気ディスク1を走査す
るレーザビームがオントラックするように上記対物レン
ズ6を左右に駆動制御する。
カスエラー信号に基づいて、上記光磁気ディスク1に照
射されるレーザビームの焦点が合うように例えば上記対
物レンズ6を上下に駆動制御し、また、上記トラッキン
グエラー信号に基づいて上記光磁気ディスク1を走査す
るレーザビームがオントラックするように上記対物レン
ズ6を左右に駆動制御する。
【0039】これにより、正確なフォーカシング及びト
ラッキングで記録再生を行うことができる。
ラッキングで記録再生を行うことができる。
【0040】また、上記フォトディテクタ8は、上記各
受光部8a〜8cで受光した反射光のレベルに基づい
て、第2の差動増幅回路10により、トランジェンタル
プッシュプル法(差動検出法)で光磁気記録信号を検出
し、上記4つの受光部8a〜8cで受光した反射光のレ
ベルの和を検出してRF信号を検出する。そして、この
光磁気記録信号及びRF信号を出力端子14を介して、
例えば図示しない光磁気記録信号処理回路に供給する。
受光部8a〜8cで受光した反射光のレベルに基づい
て、第2の差動増幅回路10により、トランジェンタル
プッシュプル法(差動検出法)で光磁気記録信号を検出
し、上記4つの受光部8a〜8cで受光した反射光のレ
ベルの和を検出してRF信号を検出する。そして、この
光磁気記録信号及びRF信号を出力端子14を介して、
例えば図示しない光磁気記録信号処理回路に供給する。
【0041】このように、受光面積のレベルの差分を検
出する、いわゆる差動検出法は、同相除去比の性能を決
める、消光比の高い光学系でなければ実現は困難であ
る。しかし、本実施例に係る光ピックアップ装置は、上
記偏光ビームスプリッタ4を用いて上記レーザビームの
反射光の検波を行うため、上記偏光ビームスプリッタ4
の特性で決まる消光比まで同相除去を行うことができ
る。このため、同相除去比の高い高品位な光磁気光学系
を達成することができる。
出する、いわゆる差動検出法は、同相除去比の性能を決
める、消光比の高い光学系でなければ実現は困難であ
る。しかし、本実施例に係る光ピックアップ装置は、上
記偏光ビームスプリッタ4を用いて上記レーザビームの
反射光の検波を行うため、上記偏光ビームスプリッタ4
の特性で決まる消光比まで同相除去を行うことができ
る。このため、同相除去比の高い高品位な光磁気光学系
を達成することができる。
【0042】また、通常のビームスプリッタの反射膜
は、光学的位相特性(リターデーション)を考慮して量
産する必要があるためコスト高となるが、本実施例に係
る光ピックアップ装置は、上記偏光ビームスプリッタ4
を用いているため、リターデーションは発生しない。こ
のため、上記リターデーションを考慮して量産しなくて
よい分ローコスト化に貢献することができる。
は、光学的位相特性(リターデーション)を考慮して量
産する必要があるためコスト高となるが、本実施例に係
る光ピックアップ装置は、上記偏光ビームスプリッタ4
を用いているため、リターデーションは発生しない。こ
のため、上記リターデーションを考慮して量産しなくて
よい分ローコスト化に貢献することができる。
【0043】また、上記偏光ビームスプリッタ4を用い
て、反射光の光量のみ検波しており、往路の光量は10
0%透過させるため、カップリング効率の向上を図るこ
とができる。
て、反射光の光量のみ検波しており、往路の光量は10
0%透過させるため、カップリング効率の向上を図るこ
とができる。
【0044】また、往路のカップリング効率に影響を与
えることなく、上記右旋光板5R,左旋光板5Lの回転
角を任意に設定して、上記フォトディテクタ8に照射す
る反射光の光量を任意に設定することができる。
えることなく、上記右旋光板5R,左旋光板5Lの回転
角を任意に設定して、上記フォトディテクタ8に照射す
る反射光の光量を任意に設定することができる。
【0045】具体的には、上記右旋光板5R,左旋光板
5Lの回転角をそれぞれ0度〜45度まで変化させるこ
とにより、上記フォトディテクタ8に照射される反射光
の光量を0%〜100%に可変することができる。
5Lの回転角をそれぞれ0度〜45度まで変化させるこ
とにより、上記フォトディテクタ8に照射される反射光
の光量を0%〜100%に可変することができる。
【0046】このため、上記光磁気記録信号,フォーカ
スエラー信号,トラッキングエラー信号の増幅回路等の
後段の増幅回路の設計に自由度を増すことができる。従
って、信号に応じた適正な増幅度となるように上記後段
の増幅回路の増幅率を設定することができ、S/N比の
向上を図ることができる。
スエラー信号,トラッキングエラー信号の増幅回路等の
後段の増幅回路の設計に自由度を増すことができる。従
って、信号に応じた適正な増幅度となるように上記後段
の増幅回路の増幅率を設定することができ、S/N比の
向上を図ることができる。
【0047】また、上記光磁気記録信号の形成に上記偏
光ビームスプリッタ4を用いることができ、集束光中で
も光磁気記録信号の品質劣化を生じずに取り扱うことを
可能とすることができる。このため、光磁気レーザカプ
ラを実現することができる。
光ビームスプリッタ4を用いることができ、集束光中で
も光磁気記録信号の品質劣化を生じずに取り扱うことを
可能とすることができる。このため、光磁気レーザカプ
ラを実現することができる。
【0048】また、上記旋光板5は、回転角を変化させ
るだけで、波長板のように位相差は変化させない。この
ため、上記レーザダイオード2の発振波長のバラツキの
影響を受けることがない。従って、2波長以上のレーザ
ビームを同一の光学系内において取り扱うことを可能と
することができる。
るだけで、波長板のように位相差は変化させない。この
ため、上記レーザダイオード2の発振波長のバラツキの
影響を受けることがない。従って、2波長以上のレーザ
ビームを同一の光学系内において取り扱うことを可能と
することができる。
【0049】また、上記旋光板5において、上記右旋光
板5Rと左旋光板5Lとの旋光角度が異なっていても、
上記2つの反射光は、上記レーザビームが右旋光板5R
及び左旋光板5Lを順に介して形成され、また、上記レ
ーザビームが左旋光板5L及び右旋光板5Rを順に介し
て形成されるため、該2つの反射光のレベルは等しくす
ることができる。このため、当該光ピックアップ装置に
用いる各素子の仕様の自由度を増すことができる。
板5Rと左旋光板5Lとの旋光角度が異なっていても、
上記2つの反射光は、上記レーザビームが右旋光板5R
及び左旋光板5Lを順に介して形成され、また、上記レ
ーザビームが左旋光板5L及び右旋光板5Rを順に介し
て形成されるため、該2つの反射光のレベルは等しくす
ることができる。このため、当該光ピックアップ装置に
用いる各素子の仕様の自由度を増すことができる。
【0050】また、上記偏光ビームスプリッタ4は、通
常の光ピックアップ装置に設けられる光磁気用ビームス
プリッタと比較して安価に作製することができる。ま
た、本実施例に係る光ピックアップ装置では、偏光ビー
ムスプリッタを1つだけしか用いていない。また、偏光
ビームスプリッタを1つだけしか用いていないため、光
路を大幅に縮めることができる。さらに、上記旋光板5
も、ウォーラストンプリズムよりも安価に作製すること
ができる。
常の光ピックアップ装置に設けられる光磁気用ビームス
プリッタと比較して安価に作製することができる。ま
た、本実施例に係る光ピックアップ装置では、偏光ビー
ムスプリッタを1つだけしか用いていない。また、偏光
ビームスプリッタを1つだけしか用いていないため、光
路を大幅に縮めることができる。さらに、上記旋光板5
も、ウォーラストンプリズムよりも安価に作製すること
ができる。
【0051】このため、当該光ピックアップ装置自体を
小型化しローコスト化を達成することができるうえ、面
倒な位置合わせの作業の軽減を図ることができる。
小型化しローコスト化を達成することができるうえ、面
倒な位置合わせの作業の軽減を図ることができる。
【0052】なお、上述の実施例の説明では、旋光手段
として右旋光板5R及び左旋光板5Lを組み合わせた旋
光板5を用いることとしたが、これは、1/2波長板の
光学軸を変えたものを2枚組み合わせたものを用いるよ
うにしてもよい。
として右旋光板5R及び左旋光板5Lを組み合わせた旋
光板5を用いることとしたが、これは、1/2波長板の
光学軸を変えたものを2枚組み合わせたものを用いるよ
うにしてもよい。
【0053】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明に
係る光ピックアップ装置は、レーザビーム出射手段から
の第1の偏光成分のレーザビームを偏光ビームスプリッ
タにより反射して旋光手段に入射し、この旋光手段で光
軸を境に右側と左側で異なる旋光角を有するように旋光
して光磁気ディスクに照射する。そして、反射光を上記
旋光手段で、光軸を境に右側と左側でさらに異なる旋光
角を有するように旋光し上記偏光ビームスプリッタを透
過させ臨界角プリズムにより反射して例えば4分割され
た受光部を有するフォトディテクタに照射する。
係る光ピックアップ装置は、レーザビーム出射手段から
の第1の偏光成分のレーザビームを偏光ビームスプリッ
タにより反射して旋光手段に入射し、この旋光手段で光
軸を境に右側と左側で異なる旋光角を有するように旋光
して光磁気ディスクに照射する。そして、反射光を上記
旋光手段で、光軸を境に右側と左側でさらに異なる旋光
角を有するように旋光し上記偏光ビームスプリッタを透
過させ臨界角プリズムにより反射して例えば4分割され
た受光部を有するフォトディテクタに照射する。
【0054】これにより、上記フォトディテクタは、各
受光部に照射される反射光のレベルに基づいて、例えば
非点収差法でフォーカスエラーを検出し、ラジアルプッ
シュプル法でトラッキングエラーを検出し、差動検出法
で光磁気記録信号を検出し、各受光部で検出された反射
光のレベルの和でRF信号を検出することができる。
受光部に照射される反射光のレベルに基づいて、例えば
非点収差法でフォーカスエラーを検出し、ラジアルプッ
シュプル法でトラッキングエラーを検出し、差動検出法
で光磁気記録信号を検出し、各受光部で検出された反射
光のレベルの和でRF信号を検出することができる。
【0055】また、上記反射光を略々100%利用する
ことができるため、カップリング効率を良くして高品位
な光磁気記録信号を形成して出力することができる。
ことができるため、カップリング効率を良くして高品位
な光磁気記録信号を形成して出力することができる。
【0056】しかも、上記偏光ビームスプリッタを1つ
しか用いないため、部品点数を削減することができるう
え、光路を大幅に縮めることができ、当該光ピックアッ
プ装置の小型化及びローコスト化を達成することができ
る。また、光路を大幅に縮めることができるため、上記
フォトディテクタの位置合わせ等を軽減することができ
る。
しか用いないため、部品点数を削減することができるう
え、光路を大幅に縮めることができ、当該光ピックアッ
プ装置の小型化及びローコスト化を達成することができ
る。また、光路を大幅に縮めることができるため、上記
フォトディテクタの位置合わせ等を軽減することができ
る。
【図1】本発明に係る光ピックアップ装置を光磁気ディ
スク記録再生装置の光学系に適用した場合の実施例のブ
ロック図である。
スク記録再生装置の光学系に適用した場合の実施例のブ
ロック図である。
【図2】上記実施例に係る光ピックアップ装置に設けら
れている旋光板の概略図である。
れている旋光板の概略図である。
【図3】上記実施例に係る光ピックアップ装置の各部を
介したレーザビーム及び反射光の旋光角を説明するため
の模式図である。
介したレーザビーム及び反射光の旋光角を説明するため
の模式図である。
【図4】上記実施例に係る光ピックアップ装置に設けら
れているフォトディテクタの概略図である。
れているフォトディテクタの概略図である。
1・・・・・・・・・・光磁気ディスク 2・・・・・・・・・・レーザダイオード 3・・・・・・・・・・コリメータレンズ 4・・・・・・・・・・偏光ビームスプリッタ 5・・・・・・・・・・旋光板 5R・・・・・・・・・右旋光板 5L・・・・・・・・・左旋光板 6・・・・・・・・・・対物レンズ 7・・・・・・・・・・臨界角プリズム 8・・・・・・・・・・フォトディテクタ 8a〜8d・・・・・・フォトディテクタの第1〜第4
の受光部 9,10・・・・・・・第1,第2の差動増幅回路 11・・・・・・・・・レーザユニット 11a・・・・・・・・レーザユニットの孔部 13,14・・・・・・出力端子
の受光部 9,10・・・・・・・第1,第2の差動増幅回路 11・・・・・・・・・レーザユニット 11a・・・・・・・・レーザユニットの孔部 13,14・・・・・・出力端子
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成6年4月6日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0016
【補正方法】変更
【補正内容】
【0016】 上記旋光手段に入射される反射光の偏光
方向は、上記レーザビーム出射手段から出射されるレー
ザビームの偏光方向とは逆となる。このため、上記左旋
光板に入射された反射光は、さらに所定の角度だけ旋光
され、P偏光成分を有する反射光として出射され、上記
右旋光板に入射された反射光は、上記左旋光板に入射さ
れた反射光とは逆にさらに所定の角度だけ旋光され、P
偏光成分を有する反射光として出射されることとなる。
方向は、上記レーザビーム出射手段から出射されるレー
ザビームの偏光方向とは逆となる。このため、上記左旋
光板に入射された反射光は、さらに所定の角度だけ旋光
され、P偏光成分を有する反射光として出射され、上記
右旋光板に入射された反射光は、上記左旋光板に入射さ
れた反射光とは逆にさらに所定の角度だけ旋光され、P
偏光成分を有する反射光として出射されることとなる。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0017
【補正方法】変更
【補正内容】
【0017】 なお、上記左旋光板から出射される反射
光と、上記右旋光板から出射される反射光とは、それぞ
れP偏光成分を有する反射光となっているが、それぞれ
右方向の旋光角を有する反射光、左方向の旋光角を有す
る反射光となっている。上記旋光手段を介した上記反射
光は、上記偏光ビームスプリッタに入射される。
光と、上記右旋光板から出射される反射光とは、それぞ
れP偏光成分を有する反射光となっているが、それぞれ
右方向の旋光角を有する反射光、左方向の旋光角を有す
る反射光となっている。上記旋光手段を介した上記反射
光は、上記偏光ビームスプリッタに入射される。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0018
【補正方法】変更
【補正内容】
【0018】 上述のように、上記旋光手段からは、例
えばP偏光成分を有する反射光が出射される。また、上
記偏光ビームスプリッタは、S偏光成分を反射しP偏光
成分を透過させる特性となっている。このため、上記偏
光ビームスプリッタに入射された反射光のP偏光成分
は、偏光ビームスプリッタを透過し臨界角プリズムに入
射される。
えばP偏光成分を有する反射光が出射される。また、上
記偏光ビームスプリッタは、S偏光成分を反射しP偏光
成分を透過させる特性となっている。このため、上記偏
光ビームスプリッタに入射された反射光のP偏光成分
は、偏光ビームスプリッタを透過し臨界角プリズムに入
射される。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0030
【補正方法】変更
【補正内容】
【0030】 上記旋光板5は、上述のように上記レー
ザビームの光軸を境に右側が右旋光板5R、左側が左旋
光板5Lで形成されている(図2参照)。このため、上
記旋光板5は、入射されたレーザビームのうち、光軸を
境にして右側のレーザビームを上記右旋光板5Rにより
図3(b)に示すように所定分(+α)右方向に回転さ
せて出射し、また、上記光軸を境に左側のレーザビーム
を上記左旋光板5Lにより同図(c)に示すように所定
分(−α)左方向に回転させて出射する。
ザビームの光軸を境に右側が右旋光板5R、左側が左旋
光板5Lで形成されている(図2参照)。このため、上
記旋光板5は、入射されたレーザビームのうち、光軸を
境にして右側のレーザビームを上記右旋光板5Rにより
図3(b)に示すように所定分(+α)右方向に回転さ
せて出射し、また、上記光軸を境に左側のレーザビーム
を上記左旋光板5Lにより同図(c)に示すように所定
分(−α)左方向に回転させて出射する。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0032
【補正方法】変更
【補正内容】
【0032】 次に、上記レーザビームを上記対物レン
ズ6を介して上記光磁気ディスク1に照射することによ
り反射光が生ずる。この反射光の偏光面は、磁化の向き
に従って回転する現象、所謂カー効果によりθk(=カ
ー回転角)回転する。そして、偏光面がθk回転した上
記反射光は、上記対物レンズ6により平行光とされ出射
される。この対物レンズ6から出射された反射光のう
ち、上記旋光板5内の右旋光板5Rを介して出射された
レーザビームに係る反射光(+α+θk)は、上記旋光
板5内の左旋光板5Lに入射され、上記旋光板5内の左
旋光板5Lを介して出射されたレーザビームに係る反射
光(−α+θk)は、上記旋光板5内の右旋光板5Rに
入射される。
ズ6を介して上記光磁気ディスク1に照射することによ
り反射光が生ずる。この反射光の偏光面は、磁化の向き
に従って回転する現象、所謂カー効果によりθk(=カ
ー回転角)回転する。そして、偏光面がθk回転した上
記反射光は、上記対物レンズ6により平行光とされ出射
される。この対物レンズ6から出射された反射光のう
ち、上記旋光板5内の右旋光板5Rを介して出射された
レーザビームに係る反射光(+α+θk)は、上記旋光
板5内の左旋光板5Lに入射され、上記旋光板5内の左
旋光板5Lを介して出射されたレーザビームに係る反射
光(−α+θk)は、上記旋光板5内の右旋光板5Rに
入射される。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0034
【補正方法】変更
【補正内容】
【0034】 従って、上記旋光板5を介した上記反射
光は、上記2回の旋光によりP偏光成分を有する。な
お、上記反射光は、同じP偏光成分ではあるが、光軸を
境にして右側の反射光と左側の反射光とでは、その旋光
角が逆になっている。このような反射光は、次に上記偏
光ビームスプリッタ4に入射される。
光は、上記2回の旋光によりP偏光成分を有する。な
お、上記反射光は、同じP偏光成分ではあるが、光軸を
境にして右側の反射光と左側の反射光とでは、その旋光
角が逆になっている。このような反射光は、次に上記偏
光ビームスプリッタ4に入射される。
【手続補正7】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0035
【補正方法】変更
【補正内容】
【0035】 上述のように、上記偏光ビームスプリッ
タ4は、P偏光成分の光は透過させる。このため、上記
2回の旋光によりP偏光成分を有し上記偏光ビームスプ
リッタ4に入射された反射光のうち、上記左旋光板5L
を介した反射光(+2α+θk)が、図3(f)に示す
ようなsin(+2α+θk)の偏光角を有するP偏光
成分の反射光として該偏光ビームスプリッタ4を透過
し、また、上記右旋光板5Rを介した反射光(−2α+
θk)が、同図(g)に示すようなsin(−2α+θ
k)の偏光角を有するP偏光成分の反射光として該偏光
ビームスプリッタ4を透過する。この偏光ビームスプリ
ッタ4を透過した上記反射光は、次に臨界角プリズム7
に入射される。
タ4は、P偏光成分の光は透過させる。このため、上記
2回の旋光によりP偏光成分を有し上記偏光ビームスプ
リッタ4に入射された反射光のうち、上記左旋光板5L
を介した反射光(+2α+θk)が、図3(f)に示す
ようなsin(+2α+θk)の偏光角を有するP偏光
成分の反射光として該偏光ビームスプリッタ4を透過
し、また、上記右旋光板5Rを介した反射光(−2α+
θk)が、同図(g)に示すようなsin(−2α+θ
k)の偏光角を有するP偏光成分の反射光として該偏光
ビームスプリッタ4を透過する。この偏光ビームスプリ
ッタ4を透過した上記反射光は、次に臨界角プリズム7
に入射される。
【手続補正8】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0037
【補正方法】変更
【補正内容】
【0037】 上記フォトディテクタ8の内部は、例え
ば図4に示したように第1〜第4の受光部8a〜8cに
4分割されており、この各受光部8a〜8cで上記臨界
角プリズム7からの反射光を受光する。そして、上記各
受光部8a〜8cで受光した反射光のレベルに基いて、
例えばいわゆる臨界角法により第1の差動増幅回路9で
フォーカスエラーを検出し、和信号でサンプルドサーボ
のトラッキングエラーを検出する。具体的には、上記フ
ォトディテクタ8の第1の受光部8aで受光した反射光
の受光レベルを“a”、第2の受光部8bで受光した反
射光の受光レベルを“b”、第3の受光部8cで受光し
た反射光の受光レベルを“c”、第4の受光部8dで受
光した反射光の受光レベルを“d”とすると、上記第1
の差動増幅回路9は、以下の式1に示す演算を行ってフ
ォーカスエラーを検出する。 フォーカスエラー=(a+b)−(e+d)・・・・式
1 このように、上記第1の差動増幅回路9で検出されたフ
ォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号は、そ
れぞれ出力端子13を介して、例えば図示しないシステ
ムコントローラに供給される。
ば図4に示したように第1〜第4の受光部8a〜8cに
4分割されており、この各受光部8a〜8cで上記臨界
角プリズム7からの反射光を受光する。そして、上記各
受光部8a〜8cで受光した反射光のレベルに基いて、
例えばいわゆる臨界角法により第1の差動増幅回路9で
フォーカスエラーを検出し、和信号でサンプルドサーボ
のトラッキングエラーを検出する。具体的には、上記フ
ォトディテクタ8の第1の受光部8aで受光した反射光
の受光レベルを“a”、第2の受光部8bで受光した反
射光の受光レベルを“b”、第3の受光部8cで受光し
た反射光の受光レベルを“c”、第4の受光部8dで受
光した反射光の受光レベルを“d”とすると、上記第1
の差動増幅回路9は、以下の式1に示す演算を行ってフ
ォーカスエラーを検出する。 フォーカスエラー=(a+b)−(e+d)・・・・式
1 このように、上記第1の差動増幅回路9で検出されたフ
ォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号は、そ
れぞれ出力端子13を介して、例えば図示しないシステ
ムコントローラに供給される。
【手続補正9】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0040
【補正方法】変更
【補正内容】
【0040】 また、上記第2の差動増幅回路10は、
上記フォトディテクタ8の各受光部8a〜8cで受光さ
れた反射光の受光レベルに基づいて、以下の式2に示す
演算を行って光磁気記録信号(MO信号)を検出し、以
下の式3に示す演算を行ってRF信号を検出する。 MO信号=(a+c)−(b+d)・・・・式2 RF信号=a+b+c+d ・・・・式3 このように上記第2の差動増幅回路10で検出された光
磁気記録信号及びRF信号は、それぞれ出力端子14を
介して、例えば図示しない光磁気記録信号処理回路に供
給される。
上記フォトディテクタ8の各受光部8a〜8cで受光さ
れた反射光の受光レベルに基づいて、以下の式2に示す
演算を行って光磁気記録信号(MO信号)を検出し、以
下の式3に示す演算を行ってRF信号を検出する。 MO信号=(a+c)−(b+d)・・・・式2 RF信号=a+b+c+d ・・・・式3 このように上記第2の差動増幅回路10で検出された光
磁気記録信号及びRF信号は、それぞれ出力端子14を
介して、例えば図示しない光磁気記録信号処理回路に供
給される。
【手続補正10】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0047
【補正方法】削除
【手続補正11】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【手続補正12】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】
【手続補正13】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図4
【補正方法】変更
【補正内容】
【図4】
Claims (1)
- 【請求項1】 光磁気ディスクに照射するための第1の
偏光方向を有するレーザビームを出射するレーザビーム
出射手段と、 上記レーザビーム出射手段からのレーザビームを平行光
として出射するコリメータレンズと、 上記第1の偏光方向を有するレーザビームは反射し、上
記第1の偏光方向と直交する第2の偏光方向を有する反
射光は透過させる偏光ビームスプリッタと、 入射されるレーザビーム及び反射光を所定の角度だけ旋
光して出射する第1の旋光部と、入射されるレーザビー
ム及び反射光を、上記第1の旋光部とは逆に所定の角度
だけ旋光して出射する第2の旋光部とが、上記レーザビ
ーム及び反射光の光軸を境にして設けられている旋光手
段と、 上記旋光手段からのレーザビームを収束して上記光磁気
ディスクに照射するとともに、上記反射光を平行光とし
て出射する対物レンズと、 上記旋光手段を介して上記偏光ビームスプリッタを透過
した反射光が平行光として入射されたときに臨界角とな
るように設けられ、上記反射光が平行光の場合のみ反射
する臨界角プリズムと、 上記臨界角プリズムにより反射された反射光を受光し、
この受光レベルに基づいてフォーカスエラー信号,トラ
ッキングエラー信号,光磁気記録信号を形成する光検出
手段とを有することを特徴とする光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5127870A JPH06314449A (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5127870A JPH06314449A (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06314449A true JPH06314449A (ja) | 1994-11-08 |
Family
ID=14970688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5127870A Withdrawn JPH06314449A (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06314449A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000022892A (ko) * | 1998-09-04 | 2000-04-25 | 이데이 노부유끼 | 광학 헤드, 기록 및/또는 재생 장치, 및 광학 디스크드라이브 |
JP2002040253A (ja) * | 2000-07-28 | 2002-02-06 | Asahi Glass Co Ltd | 旋光子および光ヘッド装置 |
CN109827137A (zh) * | 2018-08-16 | 2019-05-31 | 华域视觉科技(上海)有限公司 | 一种激光大灯及其照明系统、激光安全防护方法 |
-
1993
- 1993-04-30 JP JP5127870A patent/JPH06314449A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000022892A (ko) * | 1998-09-04 | 2000-04-25 | 이데이 노부유끼 | 광학 헤드, 기록 및/또는 재생 장치, 및 광학 디스크드라이브 |
JP2002040253A (ja) * | 2000-07-28 | 2002-02-06 | Asahi Glass Co Ltd | 旋光子および光ヘッド装置 |
JP4626026B2 (ja) * | 2000-07-28 | 2011-02-02 | 旭硝子株式会社 | 光ヘッド装置 |
CN109827137A (zh) * | 2018-08-16 | 2019-05-31 | 华域视觉科技(上海)有限公司 | 一种激光大灯及其照明系统、激光安全防护方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000704 |