JP2657413B2 - 光ヘッド - Google Patents
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- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 4
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
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- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
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- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
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- G11B7/1378—Separate aberration correction lenses; Cylindrical lenses to generate astigmatism; Beam expanders
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、レーザ光を用いて情報の記録再生を行う光
ヘッドに係わり、特に光磁気記録媒体について情報の記
録再生を行うのに適した光ヘッドに関する。
ヘッドに係わり、特に光磁気記録媒体について情報の記
録再生を行うのに適した光ヘッドに関する。
従来、この種の光ヘッドとして第８図に示すものがあ
る。
る。
図において、１は光源系、２は検出系、３は光磁気記
録媒体としての光磁気ディスクである。
録媒体としての光磁気ディスクである。
光源系１において、11はレーザ光源としての半導体レ
ーザ、12はコリメートレンズ、13は例えばＰ偏光反射率
Rpが20％、Ｓ偏光反射率Rsが100％のビームスプリッ
タ、１は対物レンズである。
ーザ、12はコリメートレンズ、13は例えばＰ偏光反射率
Rpが20％、Ｓ偏光反射率Rsが100％のビームスプリッ
タ、１は対物レンズである。
検出系２において、21はビームスプリッタ13からの反
射光をP,S両偏光に分離するPBS（偏光ビームスプリッ
タ）、22は検出レンズ、23はシリンドリカルレンズや傾
斜した平行平板あるいは変形プリズム（特公昭63−1313
5）等の非点収差発生素子、24は４分割フォトディテク
タ、25は２分割フォトディテクタである。
射光をP,S両偏光に分離するPBS（偏光ビームスプリッ
タ）、22は検出レンズ、23はシリンドリカルレンズや傾
斜した平行平板あるいは変形プリズム（特公昭63−1313
5）等の非点収差発生素子、24は４分割フォトディテク
タ、25は２分割フォトディテクタである。
なお、図では省略してあるが、PBS21によるP,S両偏光
の分離が両方のフォトディテクタ24,25に対して同等に
なるように、検出系２は、直線偏光に対して45゜傾いて
いる。また、このように検出系２を傾けないで、検出系
２とビームスプリッタ13との間に1/2波長板をその光学
軸をビームスプリッタ13の入射面に対して22.5゜傾けて
配設しても同様の効果が得られる。
の分離が両方のフォトディテクタ24,25に対して同等に
なるように、検出系２は、直線偏光に対して45゜傾いて
いる。また、このように検出系２を傾けないで、検出系
２とビームスプリッタ13との間に1/2波長板をその光学
軸をビームスプリッタ13の入射面に対して22.5゜傾けて
配設しても同様の効果が得られる。
半導体レーザ11からのレーザ光はコリメートレンズ12
で平行光束にされ、ビームスプリッタ13を透過して対物
レンズ14で光磁気ディスク３に向けて偏光される。光磁
気ディスク３に集光されたレーザ光は基板3aを介して垂
直磁性膜3bで反射され、この反射光は対物レンズ14で平
行光束にされてビームスプリッタ13を介して検出系２の
PBS21に向けられる。
で平行光束にされ、ビームスプリッタ13を透過して対物
レンズ14で光磁気ディスク３に向けて偏光される。光磁
気ディスク３に集光されたレーザ光は基板3aを介して垂
直磁性膜3bで反射され、この反射光は対物レンズ14で平
行光束にされてビームスプリッタ13を介して検出系２の
PBS21に向けられる。
PBS21は、ビームスプリッタ13からの光をP,S両偏光に
分離し、PBS21を透過したＰ偏光は検出レンズ22で集光
されて非点収差発生素子23を介して４分割フォトディテ
クタ24の受光面にスポットを形成し、PBS21で反射され
たＳ偏光は２分割フォトディテクタ25の受光面にスポッ
トを形成する。
分離し、PBS21を透過したＰ偏光は検出レンズ22で集光
されて非点収差発生素子23を介して４分割フォトディテ
クタ24の受光面にスポットを形成し、PBS21で反射され
たＳ偏光は２分割フォトディテクタ25の受光面にスポッ
トを形成する。
４分割フォトディテクタ24におけるスポットの形状
は、光磁気ディスク３に焦点が合ったときは円になり、
焦点が外たときは非点収差により４分割の対角位置の方
向にのびた楕円状になる。また、２分割フォトディテク
タ25の分割線は光学的にディスクのトラック方向に一致
されており、レーザ光がトラックに乗っているときは２
つの領域の光量が同じになり、トラックから外れている
ときは２つの領域の光量に差が生じる。
は、光磁気ディスク３に焦点が合ったときは円になり、
焦点が外たときは非点収差により４分割の対角位置の方
向にのびた楕円状になる。また、２分割フォトディテク
タ25の分割線は光学的にディスクのトラック方向に一致
されており、レーザ光がトラックに乗っているときは２
つの領域の光量が同じになり、トラックから外れている
ときは２つの領域の光量に差が生じる。
また、光磁気ディスク３に照射されるレーザ光は半導
体レーザ11の特性によって直線偏光にされており、この
直線偏光は垂直磁性膜3bの磁化方向（記録情報）に応じ
て左右いずれかの方向に回転される。そして、この回転
方向は４分割フォトディテクタ24と２分割フォトディテ
クタ25における受光量の差となって現れ、その受光量の
差から光磁気再生信号が得られる。
体レーザ11の特性によって直線偏光にされており、この
直線偏光は垂直磁性膜3bの磁化方向（記録情報）に応じ
て左右いずれかの方向に回転される。そして、この回転
方向は４分割フォトディテクタ24と２分割フォトディテ
クタ25における受光量の差となって現れ、その受光量の
差から光磁気再生信号が得られる。
第９図は上記検出系２における回路図であり、４分割
フォトディテクタ24の４つの領域24a〜24dによる各受光
出力は、２対の対角位置のそれぞれ２つの領域（24aと2
4c,24bと24d）ごとに加算され、この加算出力どうしの
差がフォーカスエラー信号として取り出される。また、
２分割フォトディテクタ25の２つの領域25a,25bの各受
光出力の差がトラッキングエラー信号として取り出され
る。さらに、４分割フォトディテクタ24の総受光出力と
２分割フォトディテクタ25の総受光出力との差は光磁気
再生信号として取り出され、これによって同相のノイズ
成分が除去されるとともに、直線偏光の回転方向すなわ
ち光磁気ディスク３に記録された情報が差動検出され
る。
フォトディテクタ24の４つの領域24a〜24dによる各受光
出力は、２対の対角位置のそれぞれ２つの領域（24aと2
4c,24bと24d）ごとに加算され、この加算出力どうしの
差がフォーカスエラー信号として取り出される。また、
２分割フォトディテクタ25の２つの領域25a,25bの各受
光出力の差がトラッキングエラー信号として取り出され
る。さらに、４分割フォトディテクタ24の総受光出力と
２分割フォトディテクタ25の総受光出力との差は光磁気
再生信号として取り出され、これによって同相のノイズ
成分が除去されるとともに、直線偏光の回転方向すなわ
ち光磁気ディスク３に記録された情報が差動検出され
る。
ところで、光磁気ディスク用の透明基板としては光学
的均一性に優れたガラス基板が適しているが、量産性や
コストの面からプラスチック化が望まれており、コンパ
クトディスクなどに使用されているポリカーボネート基
板が有力となっている。しかしながら、このポリカーボ
ネートは複屈折が大きいため次のような現象が生じる。
的均一性に優れたガラス基板が適しているが、量産性や
コストの面からプラスチック化が望まれており、コンパ
クトディスクなどに使用されているポリカーボネート基
板が有力となっている。しかしながら、このポリカーボ
ネートは複屈折が大きいため次のような現象が生じる。
ディスクに集光されるレーザ光は円錐状に絞り込まれ
るので、その光線は光束の中心部では基板に対して垂直
になるが、周辺部になるに従って基板に対する入射角が
大きくなる。このため、周辺部分の光は基板の複屈折に
よるリターディションを受け、検出系２に導かれる光束
の周辺部分は第５図に示したように楕円偏光にされる。
るので、その光線は光束の中心部では基板に対して垂直
になるが、周辺部になるに従って基板に対する入射角が
大きくなる。このため、周辺部分の光は基板の複屈折に
よるリターディションを受け、検出系２に導かれる光束
の周辺部分は第５図に示したように楕円偏光にされる。
第５図において矢印は磁化によって回転されていない
場合の直線偏光の方向を示しており、PBS21で分離され
るＰ偏光とＳ偏光の各強度は、楕円偏光と直線偏光の直
線Ｐ方向および直線Ｓ方向の各成分に相当する。したが
って、楕円偏光成分によりフォトディテクタ24,25の受
光面における強度分布が不均一になり、第６図に示した
ように４分割フォトディテクタ24の４つの領域のうち一
方の対角対（24b,24d）の受光量が他方の対角対（24a,2
4c）の受光量より多くなり、フォーカスエラー信号にオ
フセットが生じたり、フォトディテクタ上でのトラック
横切り成分がアンバランスとなる。
場合の直線偏光の方向を示しており、PBS21で分離され
るＰ偏光とＳ偏光の各強度は、楕円偏光と直線偏光の直
線Ｐ方向および直線Ｓ方向の各成分に相当する。したが
って、楕円偏光成分によりフォトディテクタ24,25の受
光面における強度分布が不均一になり、第６図に示した
ように４分割フォトディテクタ24の４つの領域のうち一
方の対角対（24b,24d）の受光量が他方の対角対（24a,2
4c）の受光量より多くなり、フォーカスエラー信号にオ
フセットが生じたり、フォトディテクタ上でのトラック
横切り成分がアンバランスとなる。
このため、例えば検出系２の光学的な位置関係などの
調整時に、複屈折が小さいかもしくは複屈折が殆どない
ガラスやPMMA等を基板にした光磁気ディスクを用いた場
合など、ポリカーボネートのように複屈折の大きな光磁
気ディスクの記録再生を行うと、ベストフォーカス位置
がずれたりフォーカスエラー信号へのトラック横切りノ
イズが増加するという問題がある。
調整時に、複屈折が小さいかもしくは複屈折が殆どない
ガラスやPMMA等を基板にした光磁気ディスクを用いた場
合など、ポリカーボネートのように複屈折の大きな光磁
気ディスクの記録再生を行うと、ベストフォーカス位置
がずれたりフォーカスエラー信号へのトラック横切りノ
イズが増加するという問題がある。
本発明は、PBSを用いた光ヘッドにおいてディスク基
板の複屈折による影響をなくし、基板の材質が異なるデ
ィスクに対してもベストフォーカス位置のずれやトラッ
ク横切りノイズを低減した光ヘッドを提供することを目
的とする。
板の複屈折による影響をなくし、基板の材質が異なるデ
ィスクに対してもベストフォーカス位置のずれやトラッ
ク横切りノイズを低減した光ヘッドを提供することを目
的とする。
本発明は、検出系にPBSを用いた光ヘッドにおいて、
P,S両偏光成分をそれぞれ２つの４分割フォトディテク
タで受光し、両方の４分割フォトディテクタにおける強
度分布の不均一性を互いに相殺するようにフォーカスエ
ラー信号を生成し、基板の複屈折による影響がフォーカ
スエラー信号に現れないようにした。
P,S両偏光成分をそれぞれ２つの４分割フォトディテク
タで受光し、両方の４分割フォトディテクタにおける強
度分布の不均一性を互いに相殺するようにフォーカスエ
ラー信号を生成し、基板の複屈折による影響がフォーカ
スエラー信号に現れないようにした。
第１図は本発明実施例の光ヘッドの光学系を示す図で
ある。なお、前記第８図と同符号のものは同じ要素を示
し、その説明は省略する。
ある。なお、前記第８図と同符号のものは同じ要素を示
し、その説明は省略する。
図において４は検出系であり、41は検出レンズ、42は
シリンドリカルレンズや傾斜した平行平板あるいは変形
プリズム等の非点収差発生素子、43はPBS、44は第１の
４分割フォトディテクタ、45は第２の４分割フォトディ
テクタである。なお、この第１、第２の４分割フォトデ
ィテクタ44,45は、両方の受光面がPBS43に対して鏡像位
置になるようにそれぞれ配設されている。また、この検
出系４は前記第８図について説明した検出系２と同様に
光源系１に対して45゜傾けられている。なお、この実施
例においても前記同様に1/2波長板を用いることができ
る。
シリンドリカルレンズや傾斜した平行平板あるいは変形
プリズム等の非点収差発生素子、43はPBS、44は第１の
４分割フォトディテクタ、45は第２の４分割フォトディ
テクタである。なお、この第１、第２の４分割フォトデ
ィテクタ44,45は、両方の受光面がPBS43に対して鏡像位
置になるようにそれぞれ配設されている。また、この検
出系４は前記第８図について説明した検出系２と同様に
光源系１に対して45゜傾けられている。なお、この実施
例においても前記同様に1/2波長板を用いることができ
る。
光磁気ディスク３からの反射光は対物レンズ14で集光
されてビームスプリッタ13に受けられる。このビームス
プリッタ13からの光束は検出レンズ41で収束されて非点
収差発生素子42を介してPBS43に入射され、このPBS43を
透過したＰ偏光は第１の４分割フォトディテクタ44の受
光面にスポットを形成し、PBS43で反射されたＳ偏光は
第２の４分割フォトディテクタ45の受光面にスポットを
形成する。
されてビームスプリッタ13に受けられる。このビームス
プリッタ13からの光束は検出レンズ41で収束されて非点
収差発生素子42を介してPBS43に入射され、このPBS43を
透過したＰ偏光は第１の４分割フォトディテクタ44の受
光面にスポットを形成し、PBS43で反射されたＳ偏光は
第２の４分割フォトディテクタ45の受光面にスポットを
形成する。
第４図はビームスプリッタ13、PBS43、第１および第
２の４分割フォトディテクタ44,45の位置関係を概略的
に示す図である。
２の４分割フォトディテクタ44,45の位置関係を概略的
に示す図である。
第１および第２の４分割フォトディテクタ44,45の受
光面における分割線は、光学的にディスクのトラック方
向およびそれと直交する方向に一致されている。また、
非点収差発生素子42による非点収差時の楕円状のスポッ
トは、図示のように４つの領域の対角位置の方向にのび
るように形成される。
光面における分割線は、光学的にディスクのトラック方
向およびそれと直交する方向に一致されている。また、
非点収差発生素子42による非点収差時の楕円状のスポッ
トは、図示のように４つの領域の対角位置の方向にのび
るように形成される。
第３図は第１、第２の４分割フォトディテクタ44,45
の受光面に形成されるスポットを示す図であり、同図
（ａ）は第１の４分割フォトディテクタを、同図（ｂ）
は第２の４分割フォトディテクタをそれぞれ示す。
の受光面に形成されるスポットを示す図であり、同図
（ａ）は第１の４分割フォトディテクタを、同図（ｂ）
は第２の４分割フォトディテクタをそれぞれ示す。
光磁気ディスク３に焦点が合っているときは、正円の
スポットS0が形成される。遠点または近点のいずれか一
方に焦点がずれているときは楕円状のスポットS1が形成
され、他方に焦点がずれているときはスポットS1と直角
な方向に楕円状のスポットS2が形成される。また、前記
のように楕円偏光が生じると、例えば正円のスポットS0
に斜線で示したように光束周辺で光量が強くなる部分が
生じる。
スポットS0が形成される。遠点または近点のいずれか一
方に焦点がずれているときは楕円状のスポットS1が形成
され、他方に焦点がずれているときはスポットS1と直角
な方向に楕円状のスポットS2が形成される。また、前記
のように楕円偏光が生じると、例えば正円のスポットS0
に斜線で示したように光束周辺で光量が強くなる部分が
生じる。
このとき、第１の４分割フォトディテクタ44において
は、スポットS2方向の対角位置にある領域44b,44dの光
量が強くなり、スポットS1方向の対角位置にある領域44
a,44cの光量が弱くなる。また、第２の４分割フォトデ
ィテクタ45においては、スポットS1方向の対角位置にあ
る領域45a,45cの光量が強くなり、スポットS2方向の対
角位置にある領域45b,45dの光量が弱くなる。
は、スポットS2方向の対角位置にある領域44b,44dの光
量が強くなり、スポットS1方向の対角位置にある領域44
a,44cの光量が弱くなる。また、第２の４分割フォトデ
ィテクタ45においては、スポットS1方向の対角位置にあ
る領域45a,45cの光量が強くなり、スポットS2方向の対
角位置にある領域45b,45dの光量が弱くなる。
第２図は実施例における回路図であり、図示のよう
に、第１の４分割フォトディテクタ44において、一方の
対角位置にある領域44b,44dの各受光出力の加算出力か
ら、他の対角位置の領域44a,44cの各受光出力の加算出
力が減算され、また、第２の４分割フォトディテクタ45
において、一方の対角位置にある領域45b,45dの各受光
出力の加算出力から、他の対角位置の領域45a,45cの各
受光出力の加算出力が減算される。そして、第１の４分
割フォトディテクタ44における減算出力と第２の４分割
フォトディテクタ45における減算出力とが加算されてフ
ォーカスエラー信号が生成される。なお、検出系２は、
光磁気ディスク３の照射したビームの径が最小になった
ときに上記フォーカスエラー信号が零になるように調整
されている。
に、第１の４分割フォトディテクタ44において、一方の
対角位置にある領域44b,44dの各受光出力の加算出力か
ら、他の対角位置の領域44a,44cの各受光出力の加算出
力が減算され、また、第２の４分割フォトディテクタ45
において、一方の対角位置にある領域45b,45dの各受光
出力の加算出力から、他の対角位置の領域45a,45cの各
受光出力の加算出力が減算される。そして、第１の４分
割フォトディテクタ44における減算出力と第２の４分割
フォトディテクタ45における減算出力とが加算されてフ
ォーカスエラー信号が生成される。なお、検出系２は、
光磁気ディスク３の照射したビームの径が最小になった
ときに上記フォーカスエラー信号が零になるように調整
されている。
このように、第１の４分割フォトディテクタ44におけ
る減算出力と第２の４分割フォトディテクタ45における
減算出力とが極性を合わせて加算されているので、各４
分割フォトディテクタ44,45における強度分布の不均一
性が互いに相殺され、この加算出力すなわちフォーカス
エラー信号には基板の複屈折による影響が現れなくな
る。また、上記のフォーカスエラー信号は、２つの４分
割フォトディテクタに基づいて生成されるため、前記第
８図および第９図のような従来のものに比べて出力が倍
になり、フォーカスサーボがより安定するという利点が
ある。
る減算出力と第２の４分割フォトディテクタ45における
減算出力とが極性を合わせて加算されているので、各４
分割フォトディテクタ44,45における強度分布の不均一
性が互いに相殺され、この加算出力すなわちフォーカス
エラー信号には基板の複屈折による影響が現れなくな
る。また、上記のフォーカスエラー信号は、２つの４分
割フォトディテクタに基づいて生成されるため、前記第
８図および第９図のような従来のものに比べて出力が倍
になり、フォーカスサーボがより安定するという利点が
ある。
なお、第２の４分割フォトディテクタ45の隣接する領
域45b,45cの受光出力の加算出力から、他の隣接する領
域45a,45dの受光出力の加算出力が減算され、トラッキ
ングエラー信号が生成される。さらに、第１の４分割フ
ォトディテクタ44の各領域44a〜44dの受光出力の総出力
から、第２の４分割フォトディテクタ45の各領域45a〜4
5dの受光出力の総出力が減算され、光磁気再生信号が差
動検出される。
域45b,45cの受光出力の加算出力から、他の隣接する領
域45a,45dの受光出力の加算出力が減算され、トラッキ
ングエラー信号が生成される。さらに、第１の４分割フ
ォトディテクタ44の各領域44a〜44dの受光出力の総出力
から、第２の４分割フォトディテクタ45の各領域45a〜4
5dの受光出力の総出力が減算され、光磁気再生信号が差
動検出される。
上記の実施例では、第1,第２の４分割フォトディテク
タ44,45について先に対角位置どうしの受光出力を減算
し、この減算出力を加算してフォーカスエラー信号を生
成するようにしているが、例えば第７図に示したように
回路を構成しても同様の効果が得られる。
タ44,45について先に対角位置どうしの受光出力を減算
し、この減算出力を加算してフォーカスエラー信号を生
成するようにしているが、例えば第７図に示したように
回路を構成しても同様の効果が得られる。
すなわち、第１および第２の４分割フォトディテクタ
44,45の各４分割された領域の受光出力について、スポ
ットS1（第３図）に対して出力が大となる４つの領域
（44a,44c,45aおよび45c）について出力を加算し、スポ
ットS2に対して出力が大となる４つの領域（44b,44d,45
bおよび45d）について出力を加算し、各加算出力の差に
基づいてフォーカスエラー信号を生成するようにしても
よい。
44,45の各４分割された領域の受光出力について、スポ
ットS1（第３図）に対して出力が大となる４つの領域
（44a,44c,45aおよび45c）について出力を加算し、スポ
ットS2に対して出力が大となる４つの領域（44b,44d,45
bおよび45d）について出力を加算し、各加算出力の差に
基づいてフォーカスエラー信号を生成するようにしても
よい。
なお、上記各実施例は情報の再生時について説明した
が、情報の記録時あるいは消去時にも同様の構成で適正
なフォーカスエラー信号を生成することができることは
いうまでもない。また、光磁気ディスクについての記録
再生を行う光ヘッドでなくても、検出系にPBSを用いる
ものであれば同様の効果が得られる。
が、情報の記録時あるいは消去時にも同様の構成で適正
なフォーカスエラー信号を生成することができることは
いうまでもない。また、光磁気ディスクについての記録
再生を行う光ヘッドでなくても、検出系にPBSを用いる
ものであれば同様の効果が得られる。
また、上記実施例によれば非点収差発生素子22はPBS4
3の前段に配設されているので、部品点数を従来どうり
にすることができる利点があるが、P,S両偏光の強度分
布の不均一性を相殺するためには、各光検出器とPBSの
間で、PBSの反射面に対して鏡像関係になるように２個
の非点収差発生素子をそれぞれ配設するようにしてもよ
い。
3の前段に配設されているので、部品点数を従来どうり
にすることができる利点があるが、P,S両偏光の強度分
布の不均一性を相殺するためには、各光検出器とPBSの
間で、PBSの反射面に対して鏡像関係になるように２個
の非点収差発生素子をそれぞれ配設するようにしてもよ
い。
さらに、検出系が直線偏光に対し45゜からずれた場合
や、偏光膜特性の不均一、或いは受光素子の感度・分布
にムラがある場合等に、各受光領域の出力が不均衡とな
り、フォーカスエラーにオフセット成分が生じることが
ある。このため各受光領域の出力を演算する際に、少な
くとも１つの可変抵抗手段によってオフセット成分を除
去するようにしてもよい。この可変抵抗手段は例えば第
２図の実施例では加算器の１入力側に、第７図の実施例
では減算器の１入力側に配置しているが、これに特定さ
れるものではなく、要するに各受光領域から得られる出
力から最終的にフォーカスエラーを得る出力に至るまで
の間において適宜配置して、オフセット成分を除去すれ
ば良い。
や、偏光膜特性の不均一、或いは受光素子の感度・分布
にムラがある場合等に、各受光領域の出力が不均衡とな
り、フォーカスエラーにオフセット成分が生じることが
ある。このため各受光領域の出力を演算する際に、少な
くとも１つの可変抵抗手段によってオフセット成分を除
去するようにしてもよい。この可変抵抗手段は例えば第
２図の実施例では加算器の１入力側に、第７図の実施例
では減算器の１入力側に配置しているが、これに特定さ
れるものではなく、要するに各受光領域から得られる出
力から最終的にフォーカスエラーを得る出力に至るまで
の間において適宜配置して、オフセット成分を除去すれ
ば良い。
以上説明したように本発明の光ヘッドによれば、検出
系に偏光ビームスプリッタを要いた光ヘッドにおいて、
P,S両偏光成分をそれぞれ４分割の光検出器で受光し、
第１の光検出器における強度分布と第２の光検出器にお
ける強度分布の不均一性を互いに相殺してフォーカスエ
ラー信号を生成し、ディスクの複屈折の大小によるフォ
ーカスエラー信号への影響をなくすようにしたので、ガ
ラス基板のディスクやポリカーボネート基板のディスク
等のように基板材料の複屈折の大小に係わらず、ベスト
フォーカス位置のずれをなくすとともにトラック横切り
ノイズをなくすことができる。また、従来に比べてフォ
ーカスエラー信号を生成する受光出力が倍になり、フォ
ーカスサーボが安定する。
系に偏光ビームスプリッタを要いた光ヘッドにおいて、
P,S両偏光成分をそれぞれ４分割の光検出器で受光し、
第１の光検出器における強度分布と第２の光検出器にお
ける強度分布の不均一性を互いに相殺してフォーカスエ
ラー信号を生成し、ディスクの複屈折の大小によるフォ
ーカスエラー信号への影響をなくすようにしたので、ガ
ラス基板のディスクやポリカーボネート基板のディスク
等のように基板材料の複屈折の大小に係わらず、ベスト
フォーカス位置のずれをなくすとともにトラック横切り
ノイズをなくすことができる。また、従来に比べてフォ
ーカスエラー信号を生成する受光出力が倍になり、フォ
ーカスサーボが安定する。
第１図は本発明実施例の光ヘッドの光学系を示す図、 第２図は実施例における回路図、 第３図は実施例におけるスポットの状態を示す図、 第４図は実施例の光学径における位置関係を概念的に示
す図、 第５図は偏光ビームスプリッターに入射される光束の偏
光状態を示す図、 第６図は複屈折によるスポットの強度分布の不均一を説
明する図、 第７図は他の実施例における回路図、 第８図は従来の光ヘッドの光学系を示す図、 第９図は従来の光ヘッドの回路図である。 42……非点収差発生素子、43……PBS、44……第１の４
分割フォトディテクタ、45……第２の４分割フォトディ
テクタ。
す図、 第５図は偏光ビームスプリッターに入射される光束の偏
光状態を示す図、 第６図は複屈折によるスポットの強度分布の不均一を説
明する図、 第７図は他の実施例における回路図、 第８図は従来の光ヘッドの光学系を示す図、 第９図は従来の光ヘッドの回路図である。 42……非点収差発生素子、43……PBS、44……第１の４
分割フォトディテクタ、45……第２の４分割フォトディ
テクタ。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−261837（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−306539（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−22242（ＪＰ，Ａ) 実開 昭61−86819（ＪＰ，Ｕ)
Claims (4)
- 【請求項１】記録媒体にレーザ光を照射して情報の記録
再生を行う光ヘッドにおいて、前記記録媒体からのレー
ザ反射光に非点収差を発生させる非点収差発生手段と、
該非点収差発生手段により非点収差する光ビーム偏光面
で透過および反射させ透過光と反射光とを異なる光路に
分離する偏光ビームスプリッタとを備え、 前記透過光を第１の４分割光検出器に、前記反射光を第
２の４分割光検出器にそれぞれ導くと共に、前記第１お
よび第２の各４分割光検出器の各領域の出力を、一の非
点収差に対して受光出力が大となる全ての領域の和出力
と、残余の全ての領域の和出力との差出力を求める演算
手段に供給し、前記差出力をフォーカスエラー信号とす
ることを特徴とする光ヘッド。 - 【請求項２】前記演算手段は、前記第１および第２の４
分割光検出器のそれぞれに対して、一の非点収差に対し
て受光出力が大となる領域の和出力を求める第１加算手
段と、残余の領域の和出力を求める第２加算手段と、上
記両加算手段の出力の差を求める減算手段とを含み、そ
れぞれの光検出器に対応する上記減算手段の和出力を求
める加算手段を備えることを特徴とする請求項第１項記
載の光ヘッド。 - 【請求項３】前記演算手段は、前記第１および第２の４
分割光検出器の各領域のうち、一の非点収差に対して受
光出力が大となる全ての領域の和出力を求める第１加算
手段と、残余の領域の和出力を求める第２加算手段と、
第１および第２の加算手段の各和出力の差出力を求める
減算手段とを備えることを特徴とする請求項第１項記載
の光ヘッド。 - 【請求項４】前記演算手段は、少なくとも１つの可変抵
抗手段を含んで構成されていることを特徴とする請求項
第１項乃至第３項いずれか記載の光ヘッド。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1049941A JP2657413B2 (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | 光ヘッド |
| US07/487,077 US5084850A (en) | 1989-03-03 | 1990-03-01 | Apparatus for detecting focus error signal |
| DE69022447T DE69022447T2 (de) | 1989-03-03 | 1990-03-02 | Optischer Kopf. |
| EP90104111A EP0385500B1 (en) | 1989-03-03 | 1990-03-02 | Optical head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1049941A JP2657413B2 (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | 光ヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02230517A JPH02230517A (ja) | 1990-09-12 |
| JP2657413B2 true JP2657413B2 (ja) | 1997-09-24 |
Family
ID=12845047
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1049941A Expired - Fee Related JP2657413B2 (ja) | 1989-03-03 | 1989-03-03 | 光ヘッド |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5084850A (ja) |
| EP (1) | EP0385500B1 (ja) |
| JP (1) | JP2657413B2 (ja) |
| DE (1) | DE69022447T2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2724232B2 (ja) * | 1990-05-02 | 1998-03-09 | 株式会社日立製作所 | 自動焦点手段およびその自動焦点手段を用いた光ディスク装置 |
| US5247510A (en) * | 1990-06-29 | 1993-09-21 | Digital Equipment Corporation | Increasing storage density of optical data media by detecting a selected portion of a light spot image corresponding to a single domain |
| JP3004036B2 (ja) * | 1990-08-07 | 2000-01-31 | 旭光学工業株式会社 | 光ディスク装置のｆ／ｔクロストーク補正方法 |
| US5297114A (en) * | 1990-11-30 | 1994-03-22 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Magneto-optic recording/reproduction apparatus for minimizing variation in focusing error signals caused by variation in optical source wavelength |
| GB2256725B (en) * | 1991-06-10 | 1995-01-18 | Alps Electric Co Ltd | Polarising light separation element and light receiving optical device using same |
| JPH05242511A (ja) * | 1992-02-28 | 1993-09-21 | Pioneer Electron Corp | 光ピックアップ装置 |
| US5453962A (en) * | 1992-08-20 | 1995-09-26 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Focus error detecting device |
| JPH06111344A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-22 | Pioneer Electron Corp | 光ピックアップ装置 |
| US5586101A (en) * | 1995-03-01 | 1996-12-17 | Eastman Kodak Company | Magneto-optic data storage system with differential detection channels having separate gain control circuit |
| US5537383A (en) * | 1995-03-01 | 1996-07-16 | Eastman Kodak Company | Optical data storage system with differential data detection and source noise subtraction for use with magneto-optic, write-once and other optical media |
| JPH08287481A (ja) * | 1995-04-11 | 1996-11-01 | Pioneer Electron Corp | 光カードのピックアップ装置 |
| US6801491B1 (en) * | 1999-02-24 | 2004-10-05 | Pioneer Corporation | Focus error detecting apparatus of optical pickup with a light separating and astigmatism generation optical element and detection method thereof |
| CA2311509C (en) | 2000-06-14 | 2008-11-25 | Technologies Of Sterilization With Ozone Ts03 Inc. | Method of monitoring sterilization and indicator therefor |
| US7450477B2 (en) * | 2004-11-22 | 2008-11-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup having a polarization beam splitter |
| JP5427121B2 (ja) * | 2010-06-18 | 2014-02-26 | 株式会社日立メディアエレクトロニクス | 光ピックアップ |
| CN119502351B (zh) * | 2024-11-20 | 2025-11-14 | 湖南华曙高科技股份有限公司 | 一种3d打印设备自动对焦系统、方法及3d打印设备 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL7703077A (nl) * | 1977-03-22 | 1978-09-26 | Philips Nv | Inrichting voor het uitlezen van een stralings- reflekterende registratiedrager. |
| NL8101932A (nl) * | 1981-04-21 | 1982-11-16 | Philips Nv | Inrichting voor het inschrijven en uitlezen van informatiesporen in een optische registratiedrager. |
| JPS5922242A (ja) * | 1982-07-26 | 1984-02-04 | Foster Denki Kk | 情報再生装置における光学系制御信号検出回路 |
| JPS59146452A (ja) * | 1983-02-10 | 1984-08-22 | Asahi Optical Co Ltd | 記録担体からの光学的情報読取装置 |
| JPS59145726U (ja) * | 1983-03-16 | 1984-09-28 | パイオニア株式会社 | 情報読取装置におけるサ−ボ装置 |
| JPS60185230A (ja) * | 1984-03-02 | 1985-09-20 | Pioneer Electronic Corp | 焦点誤差検出装置 |
| JPS6186819U (ja) * | 1984-11-14 | 1986-06-06 | ||
| JPH0650580B2 (ja) * | 1985-05-15 | 1994-06-29 | 株式会社東芝 | 消去可能な光ヘツド |
| JPS6282525A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-16 | Toshiba Corp | 光学ヘツド |
| JPS6353739A (ja) * | 1986-08-22 | 1988-03-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光磁気再生装置 |
| US4879706A (en) * | 1987-07-29 | 1989-11-07 | Laser Magnetic Storage International Company | Method and apparatus for focus and tracking in an optical disk system |
| JP3043341B2 (ja) * | 1988-05-25 | 2000-05-22 | 日本電気株式会社 | マイクロコンピュータシステム |
-
1989
- 1989-03-03 JP JP1049941A patent/JP2657413B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-03-01 US US07/487,077 patent/US5084850A/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-02 EP EP90104111A patent/EP0385500B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-02 DE DE69022447T patent/DE69022447T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0385500A3 (en) | 1991-12-11 |
| EP0385500B1 (en) | 1995-09-20 |
| JPH02230517A (ja) | 1990-09-12 |
| DE69022447D1 (de) | 1995-10-26 |
| DE69022447T2 (de) | 1996-02-08 |
| US5084850A (en) | 1992-01-28 |
| EP0385500A2 (en) | 1990-09-05 |
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|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |