KR100314919B1 - 광자기헤드장치 - Google Patents

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KR100314919B1
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마쯔모또요시유끼
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이데이 노부유끼
소니 가부시끼 가이샤
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Abstract

기록 및/재생 장치의 광자기 헤드 장치는 광 빔 발생 유니트, 대물 렌즈, 광 분할 소자, 반사 미러 및 광 검출기를 포함한다. 대물 렌즈는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔을 광학 축 상의 한 점 예를 들어, 광자기 기록 매체의 기록 층상의 한 점에 수렴시킨다. 광 분할 소자는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔을 편향시키고 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔과 대물 렌즈를 통한 광 빔을 분리한다. 반사 미러는 광 빔 발생 유니트로부터 방출되고 광 분할 소자에 의해 90°편향된 광 빔을 편향하여 광 빔이 대물 렌즈로 들어가게 한다. 광 검출기는 대물 렌즈를 통해 조사하고 광 분할 소자를 통과하는 광 빔을 수신한다. 광 빔 발생 유니트, 대물 렌즈, 광 분할 소자 및 광 검출기는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔의 광학 축, 광 분할 소자로부터 반사 미러로 연장되는 광학 축, 반사 미러로부터 대물 렌즈로 연장되는 광학 축, 및 광 분할 소자로부터 광 검출기로 연장되는 광학 축이 동일 평면을 정하도록 배치된다.

Description

광자기 헤드 장치
본 발명은 광자기 헤드 장치에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 크기를 감소시키기에 적당한 광자기 기록 및/또는 재생 장치용 광자기 헤드 장치에 관한 것이다.
광학 헤드 장치는 광학 기록 매체, 즉, 광자기 기록 매체 상에/로부터 정보를 기록하거나 재생하는데 사용된다. 종래의 광학 헤드 장치는 제1도에 도시된 바와 같이 배열된다. 다음의 설명에서 광학 헤드 장치는, 디스크형 광학 기록 매체 (이하에서는 간단히 "광 디스크"라함)가 광학 기록 매체로서 사용되는 예를 들어 설명될 것이다.
제1도 및 제2도를 참조하면, 광학 헤드 장치(1)는 광원으로서 반도체 레이저(2), 반사 미러(3), 대물 렌즈(5), 빔 분할기(6), 월라스톤 프리즘(Wollaston prism; 7) 및 광 검출기(8)를 갖추고 있다. 광학 헤드 장치(1)는, 도시되어 있지는 않지만, 초점을 맞추고 방향을 트래킹하는 대물 렌즈(5)를 구동하기 위한 작동기를 갖추고 있다. 반도체 레이저(2)는 정보 신호가 광 디스크(4) 상에 기록되어야 될 때 반도체 레이저(2)가 높은 출력 레벨의 광 빔을 출력하고, 반면에 정보 신호가 광 디스크(4)로부터 판독되어야 될 때에는 반도체 레이저(2)가 낮은 출격 레벨의 광 빔을 방사하도록 구동 회로 (도시되지 않음)로부터의 구동 신호에 기초하여 광 빔을 출력한다. 반사 미러(3)는 전반사 미러 이거나 다른 반사 미러이다. 반사 미러(3)는 제1도에 도시된 대물 렌즈(5)의 광학 축 상에 Z 축 방향, 즉 반도체 레이저(2)로부터 방출되는 광 빔의 광학 축에 대해 45°의 각으로 경사지게 배치된다. 대물 렌즈(5)는 광 디스크(4)의 기록 표면 상에 반사 미러(3)에 의해 반사된 광 빔을 수렴시킨다. 대물 렌즈(5)는 광 빔에 투명한 물질로 만들어진 비구면 렌즈(aspherical lens)이다. 빔 분할기(6)는 반도체 레이저(2)로부터 방출된 광 빔과 대물 렌즈(5)을 통과한 광 빔을 서로 분할하고, 대물 렌즈(5)을 통과하는 광 빔의 광학 경로를 90°편향시킨다. 빔 분할기(6)는 예를 들면, 편광 빔분할기이다. 월라스톤 프리즘(7)은 빔분할기(6)에 의해 분할된 광 빔으로부터 다수의 광 빔을 발생시킨다. 월라스톤 프리즘(7)은 예를 들어, 미합중국 특허 제 4,771,414호에 제시되어 있는 바와 같이 광학 비등방성을 갖는 광학 물질로 만들어진 2개의 프리즘을 서로 결합시킴으로써 형성된다. 월라스톤 프리즘(7)은 빔 분할기(6)의 한 출력면, 즉 제2도에 도시된 빔 분할기(6)의 한 측면에 부착된다. 광 검출기(8)는 월라스톤 프리즘(7)에 의해 발생된 광 빔을 각각 수신하기 위한 다수의 광 수신부를 갖는다. 광 검출기(8)는 월라스톤 프리즘(7)으로부터 출력하는 광 빔들이 집속되는 위치에 배치된다.
광 디스크(4)가 일정 선 속도로 또는 일정 각 속도로 스핀들 모터(9)에 의해 회전되게 구동된다는 것에 주의해야 한다.
상술한 바와 같이 배열된 광학 헤드 장치(1)에서, 반도체 레이저(2)로부터 방출된 광 빔은 빔 분할기(6)를 통과하여 반사 미러(3) 상에 충돌하는데, 여기서 광 빔의 광학 경로가 90°편향되어 광 빔은 대물 렌즈(5)에 이르게 된다. 대물 렌즈(5)는 반도체 레이저(2)로부터 방출된 광 빔을 광 디스크(4)의 기록 면 상에 수렴시킨다. 광 디스크(4)의 기록 면에 의해 반사된 광 빔은 대물 렌즈(5)를 통해 광학 헤드 장치(1)에 이른다. 대물 렌즈(5)를 통해 광학 헤드 장치(1)를 조사하는 광 빔은 빔 분할기(6)에 의해 반도체 레이저(2)로부터 방출된 광 빔과 분리되는데, 이광학 경로는 빔 분할기(6)에 의해 90°편향되어 광 빔이 월라스톤 프리즘(7)으로부터 다수의 광 빔 형태로 출력되고, 이 빔들은 광 검출기(8)의 각각의 광 수신부에 의해 수신된다. 광 검출기(8)로부터의 출력 신호에 기초하여, 광 디스크(4)에 기록된 정보 신호의 재생된 신호가 집속 오류, 트랙킹 오류, 등에 기초한 다양한 오류 신호와 함께 발생된다. 상술한 작동기를 구동하기 위한 서보 신호는 집속 오류 신호 및 트랙킹 오류 신호에 따라 발생된다.
제2도에 도시된 바와 같이 광학 헤드 장치(1)에서, 반도체 레이저(2)로부터 빔 분할기(6)를 경유하여 반사 미러(3)로 연장되는 광학 경로 또는 광학 축, 및 반사 미러(3)로부터 빔 분할기(6)를 경유하여 광 검출기(8)로 연장되는 광학 경로 또는 광학 축은 광 디스크(4)의 기록 면과 평행하다. 다시 말하면, 반도체 레이저(2), 빔 분할기(6), 월라스톤 프리즘(7) 및 광 검출기(8)는 광 디스크(4)의 기록 표면에 평행한 평면에 배치된다. 대조적으로, 반사 미러(3)로부터 대물 렌즈(5)로 연장되는 광학 경로 또는 광학 축은 광 디스크(4)의 기록면에 대해 수직이다.
광학 헤드 장치(1)는 이송 기구(feed mechanism; 도시되지 않음)에 의해 광 디스크(4)의 내원주(inner periphery)로부터 외원주(outer periphery)로 또는 그 역으로, 즉 제2도의 X 축 방향으로 이송된다. 광학 헤드 장치(1)가 이송되는 동안, 대물 렌즈(5)에 의해 광 디스크(4)의 기록면 상에 수렴된 광 빔의 스폿은 제2도에 도시된 스핀들 모터(9)에 의해 회전 구동되는 광 디스크(4)의 기록면 상의 트랙들의 중심을 통과하는 한 일직선 상에서 이동한다.
상술한 바와 같이 배열된 광학 헤드 장치(1)에서, 반도체 레이저(2), 빔 분할기(6), 월라스톤 프리즘(7) 및 광 검출기(8)가 광 디스크(4)의 기록면에 평행한 평면상에 배치되어 있으므로, 광학 헤드 장치(1)가 광 디스크(4)의 내원주를 향해 이송될 때, 특히 최내 주변 영역으로 이송될 때, 광학 헤드 장치(1)와 스핀들 모터(9)는 서로 충돌하는 경향이 있다. 즉, 광 검출기(8)가 제2도에 도시된 바와 같은 스핀들 모터(9)에 더 가까운 광학 헤드 장치(1)의 한 위치에 배치되므로, 광학 헤드 장치(1)가 광 디스크(4)의 최내 주변 영역으로 이송될 때, 광 검출기(8)가 제공되어 있는 광학 헤드 장치(1)의 영역은 스핀들 모터(9)와 충돌하는 경향이 있다.
상기 문제를 해결하는 한가지 방법은 제2도에 도시된 것과 같이 즉, 반도체 레이저(2)로부터 방출된 광 빔의 광학 축에 대해 설명된 위치와 대칭 되는 위치, 즉 반대편에 광 검출기(8)를 배치하는 것이다. 그러나, 이 경우에는, 광학 헤드 장치(1)가 광 디스크(4)의 최외 주변 영역으로 이송될 때, 광 디스크(4)의 외원주의 가장자리로부터 외부로 돌출하여, 광학 헤드 장치(1)를 사용하는 기록 및/또는 재생 장치의 전체 크기를 증가시키는 결과를 초래한다.
또한, 제1도 및 제2도에 도시된 바와 같은 광학 헤드 장치(1)에서, 광 디스크(4)에 의해 반사된 광 빔은 월라스톤 프리즘(7)을 통해 광 검출기(8)에 인가되기 전에 빔 분할기(6)에 의해 분리되고 편향된다. 따라서, 빔 분할기(6)로부터 광 검출기(8)로의 광학 경로 길이는 상대적으로 더 길어져서, 광학 헤드 장치(1)의 전체 크기를 증가시키는 결과를 초래한다. 또한, 광학 헤드 장치(1)의 구성 요소의 수가많기 때문에, 어셈블리 및 조정에 많은 단계가 요구가 되어 비용을 증가시킨다.
그러므로, 본 발명의 목적은 상술한 문제점을 해결하는 광자기 헤드 장치를 제공하는 것이다.
본 발명에 따르면, 광 빔 발생 유니트, 대물 렌즈, 광 분할 소자, 반사 미러 및 광 검출기를 포함하는 광자기 헤드 장치가 제공된다. 광 빔 발생 유니트는 광 빔을 방출한다. 대물 렌즈는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔을 광학 축 상의 한 점에 수렴시킨다. 광 분할 소자는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔과 대물 렌즈를 통과한 광 빔을 서로 분리한다. 반사 미러는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔을 90°편향시켜서 광 빔이 대물 렌즈에 이르게 한다. 광 검출기는 대물 렌즈를 통과하여 광 분할 소자에 의해 분리된 광 빔을 수신한다. 광 빔 발생 유니트, 대물 렌즈, 광 분할 소자 및 광 검출기는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔의 광학 축, 광 분할 소자로부터 반사 미러로 연장되는 광학 축, 반사 미러로부터 대물 렌즈로 연장되는 광학 축, 및 광 분할 소자로부터 광 검출기로 연장되는 광학 축이 동일 평면을 정의하도록 배치된다.
본 발명에 따르면, 광 빔 발생 유니트, 대물 렌즈, 광 분할 소자, 반사 미러 및 광 검출기를 포함하는 광자기 헤드 장치가 제공된다. 광 빔 발생 유니트는 광 빔을 방출한다. 대물 렌즈는 광학 축 상의 한 점에 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔을 수렴한다, 광 분할 소자는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔을 편향하고, 광 빙 발행 유니트로부터 방출된 광 빔과 대물 렌즈를 통해 출력하는 광 빔을 서로 분리한다. 반사 미러는 광 빔이 대물 렌즈에 이르도록 광 빔 발생 유니트로부터 방출되고 광 분할 소자에 의해 편향된 된 광 빔을 90°편향시킨다. 광 검출기는 대물 렌즈를 지나 광 분할 소자를 통과하는 광 빔을 수신한다. 광 빔 발생 유니트, 대물 렌즈, 광 분할 소자 및 광 검출기는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔의 광학 축, 광 분할 소자로부터 반사 미러로 연장되는 광학 축, 반사 미러로부터 대물 렌즈로 연장되는 광학 축, 및 광 분할 소자로부터 광 검출기로 연장되는 광학 축이 동일 평면을 정의하도록 배치된다.
본 발명에 따르면, 광 빔 발생 유니트, 대물 렌즈, 광 분할 소자, 반사 미러 및 제2 광 검출기를 포함하는 광자기 헤드 장치가 제공된다. 광 빔 발생 유니트는 광 빔을 방출하기 위한 광 소스 및 오류를 검출하기 위한 제2 광 검출기를 갖는다. 대물 렌즈는 광학 축 상의 한 점에 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔을 수렴시킨다. 광 분할 소자는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔과 대물 렌즈를 통과한 광 빔을 서로 분리한다. 반사 미러는 광 빔이 대물 렌즈에 이르도록 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔을 90°편향시킨다. 제2 광 검출기는 재생 신호를 검출하기 위해 대물 렌즈를 통과한 광 빔을 수신한다. 대물 렌즈를 통과한 광 빔은 광 분할 소자에 의해 제1 광 검출기에 이르는 광 빔 및 제2 광 검출기에 이르는 광 빔으로 분할되는데, 여기서 광 빔 발생 유니트, 대물 렌즈, 광 분할 소자 및 제2 광 검출기는 광 빔 발생 유니트로부터 방출된 광 빔의 광학 축, 광 분할 소자로부터 반사 미러로 연장되는 광학 축, 반사 미러로부터 대물 렌즈로 연장되는 광학 축, 및 광 분할 소자로부터 제2 광 검출기로 연장되는 광학 축이 동일 평면을 정의하도록 배치 된다.
따라서, 본 발명의 광자기 헤드 장치에 따르면, 장치의 전체 크기가 감소될 수 있어서 장치는 소형 구조로 형성될 수 있다. 부수적으로, 대물 렌즈의 광학 축에 수직인 평면의 방향으로 장치의 크기가 감소될 수 있으므로, 광자기 헤드 장치가 이송 기구에 의해 이송될 때 다른 기구와 충돌할 가능성이 전혀 없다.
본 발명의 상술한 특징 및 이점을 포함하여 다른 특징 및 이점은 동일 소자에 동일 참조 부호가 병기된 첨부 도면을 참조하여 기술된 이하의 상세한 설명에 의해 본 분야의 숙련된 기술자들에게 분명하게 인지될 수 있다.
본 발명에 따른 광자기 헤드 장치에 대해 첨부된 도면을 참조하여 이하에서 상세히 설명할 것이다.
다음 각각의 실시예에서 광자기 헤드 장치는 재생 및/또는 재생 장치에 사용되는 한 실시예를 가지고 설명될 것이다.
먼저, 본 발명의 제1 실시예에 따른 광자기 헤드 장치에 대해 제3도 내지 제5도를 참조하여 상세히 설명할 것이다.
제3도 및 제4도를 참조하면, 광자기 헤드 장치(10)는 광 빔 발생 및 검출 유니트(11), 빔 분할기(12), 전반사 미러(13), 대물 렌즈(15) 및 광 검출기(16)를 갖는다.
광 빔 발생 및 검출 유니트(11)는 기판(11a), 반도체 레이저(11b), 광학 프리즘(11c) 및 한 쌍의 광 검출기(11d 및 11e)를 갖는다. 기판(11a)은 예를 들어, 실리콘(Si)과 같은 물질을 사용하여 형성된다. 광 검출기(11d 및 11c)는 반도체 공정에 의해 기판(11a) 상에 형성된다. 광 검출기(11d 및 11e)는 각각 서로 평행한 3개의 스트립형 광 수신부를 갖는다. 산술연산 처리가 광 검출기(11d 및 11e)로부터의 출력 신호를 사용하여 수행됨으로써, 오류 신호들 예를 들어, 집속 오류 신호, 트랙킹 오류 신호 등 및 광자기 디스크(14) 상에 이전에 기록된 다른 신호들 및 어드레스를 발생시킨다. 반도체 레이저(11b)가 기판(11a) 상에 장착된다.
광학 프리즘(11c)은 반도체 레이저(11b)와 마주보는 측면이 선정된 각으로 경사져있는 사각형 구성을 갖는다. 경사진 표면은 다층 유전체층으로 코팅된다. 다층 유전체층은 반도체 레이저(11b)로부터 방출된 광 빔을 반사하지만, 빔 분할기(12)로부터 반사된 광 빔을 투과하여 광학 프리즘(11c)을 조사할 수 있도록 한다. 광학 프리즘(11c)은 광학 프리즘(11c)이 기판(11a) 상에 형성된 광 검출기(11d 및 11e)를 덮는 방식으로 접착제 등에 의해 기판(11a)의 표면에 단단하게 고정된다. 빔 분할기(12)에 의해 반사된 광 빔은 경사진 표면을 통해 광학 프리즘(11c)을 조사한다. 광 빔은 광학 프리즘(11c)에서 반사를 반복하여 결국 광 검출기(11d 및 11e)에 의해 수신된다. 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)는 광자기 헤드 장치(10)의 상부 즉, 광자기 디스크(14)에 더 가까운 위치에 배치된다.
제5도에 도시된 바와 같이, 빔 분할기(12)는 제1 광학 프리즘(12b), 제2 광학 프리즘(12c), 및 제1과 제2 광학 프리즘(12b 및 12c) 사이에 제공되는 다층 유전체층(12a)으로 구성된다. 제1 광학 프리즘(12b)은 광학 비등방성이 없는 광학 물질을 사용하여 삼각형 구성으로 형성된다. 제2 광학 프리즘(12c)은 광학 비등방성 (복국절 특성)을 갖는 광학 물질을 사용하여 사각형 구성으로 형성된다. 제2 광학 프리즘(12c)은 대물 렌즈(15)을 통해 빔 분할기(12)에 입사된 광 빔들 중에 제2 광학 프리즘(12c)을 통과하는 광 빔으로부터, 선정된 각도의 발산을 갖는 2개의 광 빔 즉, 정상 광선 및 이상 광선을 발생시킨다. 제1 광학 프리즘(12b)과 제2 광학 프리즘(12c)은, 제1 광학 프리즘(12b)이 반도체 레이저(11b)로부터 방출된 광 빔이 출력되는 측에 놓이고, 제2 광학 프리즘(12c)이 대물 렌즈(15)을 통과하는 광 빔이 출력되는 측에 놓이게 하여, 이들 사이에 다층 유전체층(12a)이 삽입된 상태로 육면체 형태로 함께 굳게 결합된다.
제1 실시예에서, 광원으로서 반도체 레이저(11b)로부터 방출된 광 빔이 예를 들어 78nm의 파장 λ을 갖는다고 가정하면, 제1 광학 프리즘(12b)은 1.825의 굴절률을 갖는 SF03 (상품명: OHARA 사에 의해 제조됨)을 사용하여 만들어지고, 제2 광학 프리즘(12c)은 정상 광선의 굴절률이 2.258이고 이상 광선의 굴절률이 2.178인 리들 니오베이트(LiNbO3)로 만들어진다. 제2 광학 프리즘(12c)이 LiNbO3으로 만들어지는 경우에, LiNbO3은 상대적으로 큰 굴절률을 가지므로, 빔 분할기(12)로부터 광 검출기(16)를 향해 나오는 광 빔은 바람직하지 않게 반사 미러(13)로부터 광 검출기(16)로 연장되는 광학 축으로부터 굽어지고, 출력된 광 빔은 바람직하지 않게도 비점수차(astigmatism)를 포함한다. 이에 부가하여, 2개의 빔은 후술하는 바와 같이, 광 검출기(16)의 2개의 광 수신부에서 서로 간섭한다. 이들 문제점들을 해결하기 위해, 제5도에 도시된 바와 같이, 대물 렌즈(15)을 통과하는 광 빔을 출력하는 제2 광학 프리즘(12c)의 출력 면은 제1 광학 프리즘(12b)의 출력면(12b1)에 평행하지 않도록 경사 표면(12c1)으로서 기울어져 있다. 그 결과, 제2 광학 프리즘(12c)으로부터 출력되는 2개의 광 빔은 제3도에 도시된 바와 같이, 각각 반사 미러(13)로부터 광 검출기(16)로 연장되는 광학 축의 상측 및 하측에 놓인다. 제3도에서, 상측 광 빔은 정상 광선(ordinary ray)이고, 하측 광 빔은 이상 광선(extraordinary ray)이다.
다층 유전체층(12a)은 제1 광학 프리즘(12b)의 경사면과 제2 광학 프리즘(12c)의 경사면 사이에 제공된다. 다층 유전체층(12a)은 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)로부터 방출된 광 빔의 광학 경로를 90°편향시킨다. 또한, 다층 유전체층(12a)은 대물 렌즈(15)을 통과하는 광 빔의 일부를 90°로 반사시키고 이를 투과시켜 반사된 광 빔이 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)의 광 검출기(11d 및 11e)에 이르도록 한다. 더욱이, 다층 유전체층(12a)은 대물 렌즈(15)를 통과하는 광 빔의 다른 일부를 투과시켜 투과된 광 빔이 광 검출기(16)에 이르도록 한다. 다층 유전체층(12a)은 코팅이나 다른 유사 공정에 의해 제1 및 제2 광학 프리즘(12b 및 12c) 중 하나의 경사면에 형성된 후에, 제2 광학 프리즘(12c)의 결정 광학 축(crystal optical axis)이 반사 미러(13)로부터 광 검출기(16)로 연장되는 광학 축에 대해 수직인 평면 내에서 45°로 경사지고, 제1 광학 프리즘(12b)의 경사면 및 제2 광학 프리즘(12c)의 경사면이 함께 결합됨으로써, 제5도에 도시된 바와 같은 빔 분할기(12)를 형성한다.
전반사 미러(13)는 대물 렌즈(15) 아래에, 반도체 레이저(11b)로부터 방출된 광 빔의 광학 축에 대해 45°의 경사각으로 대물 렌즈(15)의 광학 축 상에 배치된다.
대물 렌즈(15)는 유리 또는 광 빔에 투명한 합성 수지 물질로 만들어진 비구면 렌즈이다. 대물 렌즈(15)는 광자기 디스크(14)의 기록 면 상에 반사 미러(13)에 의해 반사된 광 빔을 수렴한다. 대물 렌즈(15)는 광자기 헤드 장치(10)의 작동기(도시되지 않음)에 의해 대물 렌즈(15)의 광학 축에 평행한 방향인 집속 방향으로, 및 대물 렌즈(15)의 광학 축에 수직한 평면의 방향인 트랙킹 방향으로 이동된다. 대물 렌즈(15)는 정보 신호가 광자기 디스크(14) 상에 기록되어야 할 때나 광자기 디스크(14)에 기록된 정보 신호가 판독되어야 할 때 집속 및 트랙킹 오류를 상쇄하기 위해 작동기에 의해 집속 및 트랙킹 방향으로 이동된다.
광 검출기(16)는 제1 광 수신부(16a) 및 제2 광 수신부(16b)를 갖는데, 이들은 제2 광학 프리즘(12c)에 의해 발생된 선정된 각으로 발산하는 2개의 광 빔 즉, 정상 광선 및 이상 광선을 각각 수신한다. 제1 및 제2 광 수신부(16a 및 16b)로부터 출력된 신호들 사이의 차를 결정함으로써, 광자기 디스크(14) 상에 기록된 정보 신호의 재생 신호가 얻어진다.
광자기 헤드 장치(10)는 광자기 디스크(14)의 외원주로부터 내원주를 향해 및 그 역으로, 또한 제3도의 평면과 직교하는 방향으로 이송 기구 (도시되지 않음)에 의해 이송된다. 광자기 디스크(14)는 제4도에 도시된 스핀들 모터(17)에 의해 일정한 선형 속도 또는 일정한 각 속도로 회전 구동된다.
상술한 바와 같이 배열된 광자기 헤드 장치(10)에서, 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)로부터 방출된 광 빔은 광학 프리즘(11c)의 경사면에 의해 반사되어 빔 분할기(12)에 이른다. 빔 분할기(12)에 입사한 광 빔은 다층 유전체층(12a)에 의해반사되어 입사 광 빔의 광학 경로가 90°편향된다. 이렇게 하여, 광 빔이 빔 분할기(12)로부터 반사 미러(13)를 향해 나온다. 빔 분할기(12)로부터의 광 빔은 반사 미러(13)에 의해 반사되어 그 광학 경로가 다시 90°편향된다. 이렇게 하여, 광 빔은 대물 렌즈(15)에 의해 광자기 디스크(14)의 기록면 상에 수렴된다. 이 때, 대물 렌즈(15)는 집속 및 트랙킹 오류를 상쇄하기 위해 작동기에 의해 집속 및 트랙킹 방향 모두로 이동된다. 광자기 디스크(14)의 기록 면에 조사되는 광 빔은 광자기 디스크(14)의 기록 면에 의해 반사되어 반사된 광 빔이 대물 렌즈(15)를 통해 광자기 헤드 장치(10) 내에 이른다. 대물 렌즈(15)를 통과하는 광 빔 즉, 반사된 광 빔은 빔 분할기(12)를 조사하는데, 여기서 반사된 광 빔의 일부는 90°로 편향된 광 경로로 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)에 이르고, 나머지 일부의 반사 광 빔은 빔 분할기(12)를 통과한다. 나머지 일부의 반사 광 빔이 제2 광학 프리즘(12c)을 통과할 때 2개의 광 빔 즉, 정상 광선 및 이상 광선이 발생된다. 빔 분할기(12)에 의해 발생된 2개의 광 빔은 광 검출기(16)의 광 수신부(16a 및 16b)에 의해 각각 수신된다. 한편, 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)를 향해 편향된 반사 광 빔은 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)의 광학 프리즘(11c)의 경사면을 통과하여 광 검출기(11d 및 11e)에 의해 수신된다. 결과적으로, 광 검출기(11d 및 11e)로부터 출력된 신호들을 사용하여 산술연산 처리를 수행함으로써, 오류 신호, 즉, 집속 오류 신호, 트랙킹 오류 신호, 등이 광자기 디스크(14)에 기록된 다른 신호들 및 어드레스와 함께 발생된다. 광 검출기(16)의 광 수신부(16a 및 16b)로부터 출력된 신호들 사이의 차를 결정함으로써, 광자기 디스크(14)에 기록된 정보 신호의 재생 신호가 얻어질 수 있다.
제3도에 도시된 바와 같이, 제1 실시예에 따른 광자기 헤드 장치(10)에서, 광 빔 발생 및 검출 유니트(11), 빔 분할기(12), 반사 미러(13) 및 광 검출기(16)는 모두 광자기 디스크(14)의 기록 면에 수직한 면 즉, 제3도의 XY-평면에 배치된다. 다시 말하면, 상기 구성 요소들은 반사 미러(13)로부터 빔 분할기(12)를 경유하여 광 검출기(16)로 연장되는 광학 축, 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)로부터 빔 분할기(12)로 연장되는 광학 축 및 반사 미러(13)로부터 대물 렌즈(15)로 연장되는 광학 축을 포함하는 단일 평면에 배치된다. 결과적으로, 제1 실시예에 따른 광자기 헤드 장치(10)에서, 제4도의 ZX-평면의 폭이 감소될 수 있다. 따라서, 광자기 헤드 장치(10)는 광자기 헤드 장치(10)가 이송 기구에 의해 광자기 디스크(14)의 내원주를 향해 이송될 때 발생하게 되는 스핀들 모터(17)와의 충돌을 피할 수 있다. 또한, 광자기 헤드 장치(10)가 광자기 디스크(14)의 외원주를 향해 이송될 때, 광자기 디스크(14)의 외원주 가장자리로부터 돌출되는 범위가 감소된다. 따라서, 기록 및/또는 재생 장치의 전체 크기가 증가하는 것을 피할 수 있다.
다음으로, 본 발명의 제2 실시예에 따른 광자기 헤드 장치(20)가 제6도를 참조하여 설명된다. 제6도에서, 제1 및 제2 실시예의 공통인 부재 및 부분은 제1 실시예에서의 것과 동일한 참조 번호로 표기되며, 반복 설명은 피하도록 한다. 제2 실시예는 제1 실시예와 광자기 헤드 장치의 광 빔 발생 및 검출 유니트의 위치만 다르다. 나머지 배열에 대해서는, 제2 실시예는 제1 실시예와 동일한 방법으로 배열된다.
제1 실시예에서, 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)는 광자기 헤드 장치(10)에서 광자기 디스크(14)에 가까운 쪽의 위치에 배치된다. 이와 대조적으로 제2 실시예에서는, 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)는 제6도에 도시된 바와 같이 하측에 즉, 광자기 헤드 장치(20)에 있어서 광자기 디스크(14)와 마주보는 측면의 이면인 측면 상의 한 위치에 배치된다. 이러한 위치에 광 빔 발생 및 검출 유니트(11)를 배치함으로써, 광자기 디스크(14)와, 광자기 디스크(14)에 면해 있는 광자기 헤드 장치(20)의 측면 사이의 거리가 증가될 수 있다. 이렇게 하여, 광자기 디스크(14)가 그의 워피지(warpage)나 다른 원인 때문에 상하로 파도칠 때 조차도 광자기 헤드 장치(20)의 경우에는 광자기 디스크(14)와의 충돌을 피할 수 있다.
계속적으로, 본 발명의 제3 실시예에 따른 광자기 헤드 장치에 대해 제7도를 참조하여 상세히 설명한다.
제7도에 도시된 바와 같이, 제3 실시예에 따른 광자기 헤드 장치(30)는 반도체 레이저(31), 빔 분할기(35), 전반사 미러(32), 대물 렌즈(34), 월라스톤 프리즘(36), 및 광 검출기(37)를 갖는다.
광원으로서 반도체 레이저(31)는 정보 신호가 광자기 디스크(33) 상에 기록되어야 할 때 반도체 레이저(31)가 고출력 레벨의 광 빔을 방사하고, 정보 신호가 광자기 디스크(33)로부터 판독되어야 할 때 반도체 레이저(31)가 저출력 레벨의 광 빔을 방사하도록 구동 회로 (도시되지 않음)로부터의 구동 신호에 기초하여 광 빔을 출력한다.
전반사 미러(32)는 반도체 레이저(31)로부터 방출되고 빔 분할기(35)에 의해투과된 광 빔의 광학 경로를 90°로 편향시킨다. 반사 미러(32)는 대물 렌즈(34) 아래에, 반도체 레이저(31)로부터 방출된 광 빔의 광학 축에 대해 45°의 경사각으로 대물 렌즈(34)의 광학 축 상에 배치된다.
대물 렌즈(34)는 광자기 디스크(33)의 기록면 상에 전반사 미러(32)에 의해 반사된 광 빔을 수렴시킨다. 대물 렌즈(34)는 유리나 광 빔에 투명한 물질로 만들어진 비구면 렌즈이다. 대물 렌즈(34)는 광자기 헤드 장치(30)에 갖추어져 있는 작동기 (도시되지 않음)에 의해 대물 렌즈(34)의 광학 축에 대해 평행한 방향인 집속 방향으로, 또한 대물 렌즈(34)의 광학 축에 수직인 평면의 방향인 트랙킹 방향으로 이동된다. 대물 렌즈(34)은 정보 신호가 광자기 디스크(33)에 기록되어야 할 때나 광자기 디스크(33)에 기록된 정보 신호가 재생되어야 할 때 집속 및 트랙킹 오류를 상쇄하기 위해 작동기에 의해 집속 및 트랙킹 방향으로 이동된다.
빔 분할기(35)는 2개의 삼각형 광학 프리즘이 함께 결합되고 다층 유전체층(35a)이 사이에 삽입되어 육면체 구성으로 형성된다. 빔 분할기(35)는 반도체 레이저(31)로부터 방출된 광 빔과 대물 렌즈(34)를 통해 광자기 헤드 장치(30)에 이르는 광 빔을 다층 유전체층(35a)으로 서로 분리한다. 또한, 빔 분할기(35)는 대물 렌즈(34)를 통과하는 광 빔의 광학 경로를 다층 유전체층(35a)에 의해 90°편향시켜서 입사 광 빔이 광 검출기(37)를 향해 출력되도록 한다. 월라스톤 프리즘(36)은 대물렌즈(34)를 통과하는 광 빔이 출력되어지는 빔 분할지(35)의 출력 면에 접착제 등을 사용하여 결합된다.
월라스톤 프리즘(36)은 2개의 광학 프리즘(36a 및 36b)과 함께 결합된다. 광학 프리즘(36a 및 36b)은 각각 광학 비등방성을 갖는 광학 물질 예를 들어, 리튬 니오베이트(LiNbO3)로 만들어진다. 빔 분할기(35)로부터 출력된 광 빔이 입사되는 광학 프리즘(36a)은 그의 결정 광학 축이 광 빔의 P-편광의 평면에 대해 45°만큼 회전되도록 배치되고, 광 빔이 광 검출기(37)로 출력되어지는 광학 프리즘(36b)은 그의 결정 광학 축이 광 빔의 P-편광의 평면에 대해 90°만큼 회전되도록 배치된다. 이러한 조건 하에서, 광학 프리즘(36a 및 36b)은 서로 결합된다. 월라스톤 프리즘(36)은 빔 분할기(35)로부터 출력되는 광 빔에 따라 3개의 광 빔들, 즉, P-, S- 및 (P+S)-편광 광 성분들을 발생시킨다.
광 검출기(37)는 다수의 광 수신부를 갖는다. 광 수신부들은 월라스톤 프리즘(36)에 의해 발생된 3개의 광 빔들을 각각 수신한다. 광 수신부로부터 출력된 신호들을 사용하여 산술논리 처리를 수행함으로써, 광자기 디스크(33)에 기록된 정보 신호의 재생 신호가 오류 신호들 예를 들어, 집속 오류 신호, 트랙킹 오류 신호, 등은 광자기 디스크(33)에 상에 기록된 다른 신호들 및 어드레스와 함께 발생된다.
제7도에 도시되지는 알았지만, 회절발(diffraction grating)이 반도체 레이저(31)로부터 방출된 광 빔의 광학 축에 놓이도록, 반도체 레이저(31)와 빔 분할기(35) 사이의 광학 경로에 제공된다. 회절발은 반도체 레이저(31)로부터 방출된 광 빔을 최소한 3개의 광 빔, 즉, 0차 회전 광 빔 및 ±1차-회절 광 빔으로 변환시킨다. ±1차 회절 광 빔은 트랙킹 오류를 검출하는데 사용된다. 0차 회절 광 빔은 집속 오류를 검출하고 광자기 디스크(33)에 기록된 정보 신호를 발생시키는데사용된다. 그러나, 제7도에서는 단순화를 위해 단지 하나의 광 빔만이 도시되어 있다.
상술한 바와 같이 배열된 광자기 헤드 장치(30)에서, 반도체 레이저(31)로부터 방출된 광 빔은 빔 분할기(35)를 통해 전반사 미러(32)에 이른다. 광 빔의 광학 경로는 전반사 미러(32)에 의해 90°편향되어 반사된 광 빔이 대물 렌즈(34)에 의해 광자기 디스크(33)의 기록 면에 집속된다. 광자기 디스크(33)에 조사되는 광 빔은 광자기 디스크(33)의 기록 면에 의해 반사되어 대물 렌즈(34)를 통해 광자기 헤드 장치(30) 내에 이른다. 대물 렌즈(34)를 통과하는 광 빔 즉, 반사된 광 빔은 빔 분할기(35)를 조사하는데, 여기서 반사된 광 빔의 광학 경로는 다층 유전체층(35a)에 의해 90°편향된다. 그래서, 반사된 광 빔은 월라스톤 프리즘(36)을 통해 광 검출기(37)의 각각의 광 수신부 상에 수렴된다. 월라스톤 프리즘(36)은 그 위에 입사된 반사 광 빔으로부터 3개의 광 빔을 발생시키고 이들을 광 건출기(37)로 향하게 한다. 광 검출기(37)의 광 수신부로부터 출력된 신호들을 사용하여 산술논리 처리를 수행함으로써, 오류 신호, 예, 집속 오류 신호, 트랙킹 오류 신호, 등이 광자기 디스크(33)에 기록된 다른 신호들 및 어드레스와 함께 발생된다. 광 검출기(37)의 광 수신부로부터 출력된 신호들 사이의 차를 결정함으로써, 광자기 디스크(33)에 기록된 정보신호의 재생 신호가 얻어진다.
제7도에 도시된 바와 같이, 제3 실시예에 따른 광자기 헤드 장치(30)에서, 반도체 레이저(31), 빔 분할기(35), 반사 미러(32) 및 광 검출기(37)는 모두, 광자기 디스크(33)의 기록 면에 수직한 평면 즉, 제7도의 ZX-평면에 배치된다. 다시 말하면, 상술한 구성 소자들은 반도체 레이저(31)로부터 빔 분할기(35)를 통해 전반사 미러(32)로 연장되는 광학 축, 전반사 미러(32)로부터 대물 렌즈(34)로 연장되는 광학 축, 및 빔 분할기(35)로부터 광 검출기(37)로 연장되는 광학 축을 포함하는 단일 플레이트에 배치된다. 결과적으로, 제3 실시예에 따른 광자기 헤드 장치(30)는 제7도의 ZY-평면에 수직이고, 광자기 디스크(33)의 기록면에 평행한 평면의 폭을 감소시키는 것을 가능하게 하여, 제1 실시예의 것과 유사한 진보된 효과를 제공한다.
다음으로, 본 발명의 제4 실시예에 따른 광자기 헤드 장치에 대해 제8도를 참조하여 상세히 설명한다. 제8도에서, 제1과 제4 실시예의 공통인 부재 및 부분은 제1 실시예에서의 것과 동일한 참조 번호로 표기되며, 이에 대한 반복 설명은 피하도록 한다. 제8도를 참조하면, 광자기 헤드 장치(40)는 광 빔 발생 및 검출 유니트(41)를 갖는다. 광 빔 발생 및 검출 유니트(41)는 반도체 레이저(41a), 홀로그램 소자(41b), 및 광 검출기(41c)를 갖는다. 반도체 레이저(41a)는 정보 신호가 광자기 디스크(14)에 기록되어야 될 때 반도체 레이저(41a)가 고출력 레벨의 광 빔을 방사하고, 정보 신호가 광자기 디스크(14)로부터 판독되어야 될 때 반도체 레이저(41a)가 저 출력 레벨의 광 빔을 방사하도록 구동기 회로 (도시되지 않음)로부터의 구동기 신호에 기초하여 광 빔을 출력한다. 반도체 레이저(41a)는 광 검출기(41c)와 함께 공통 베이스 상에 제공되고, 단일 패키지에 수용된다.
홀로그램 소자(41b)는 접착제 등에 의해 팩키지의 상부 표면에 견고하게 고정된다. 홀로그램 소자(41b)는 한 외부면 상에 홀로그램(41b1)이 형성되어 있고 그 이면 상에 회절발이 형성되어 있는 유리 기판으로 구성된다. 홀로그램 소자(41b)의 이면에 형성된 회절발은 트랙킹 오류 신호를 발생시키기 인해 반도체 레이저(41a)로 부터 방출된 광 빔으로부터, 다수의 광 빔 예를 들어, ±1차 회절 광 빔을 발생시킨다. 홀로그램 소자(41b)의 외부 면에 형성된 홀로그램(41b1)은 발 간격이 서로 다른 두 영역을 갖는다. 후술하는 바와 같이, 대물 렌즈(15)를 통과하는 광 빔은 광 빔 발생 및 검출 유니트(41) 내에 도달하는데, 서로 다른 발 간격을 갖는 홀로그램(41b1)의 두 영역 중 하나를 통과하는 광 빔의 일부가 광 검출기(41c; 후술됨)의 광 수신부들 중 하나에 수렴되고, 홀로그램(41b1)의 다른 영역을 통과하는 다른 광 빔은 광 검출기(41c)의 다른 광 수신부 상에 수신된다. 홀로그램(41b1)은 컴퓨터 생성 홀로그램 기술(technique of computer generated hologram)을 사용하여 형성된다. 예를 들어, 홀로그램(41b1)은 다음의 방법으로 제조된다: 컴퓨터에 의해 생성된 홀로그램 데이터가 전극-빔 노출 시스템에 의해 유리 기판 상의 포토 레지스터로 전달된다. 마스크로서 사용되는 포토 레지스터에 의해, 홀로그램은 경사 입사 이온 빔 에칭 방법(oblique incidence ion beam etching method)을 사용하여 유리 기판 상에 형성된다.
광 검출기(41c)는 다수의 광 수신부들을 갖는다. 광 수신부들로부터 출력된 신호들을 사용하여 산술논리 처리를 수행함으로써, 오류 신호, 예, 집속 오류 신호, 트랙킹 오류 신호 등이 발생된다.
상술한 바와 같이 배열된 제4 실시예에 따른 광자기 헤드 장치(40)에서, 반도체 레이저(41a)로부터 방출된 광 빔은 홀로그램 소자(41b)를 통과한 다음 빔 분할기(12)를 조사하는데, 여기서 광 빔의 광학 경로는 다층 유전체층(12a)에 의해 90°편향된다. 홀로그램 소자(41b)를 통과할 때 광 빔은 최소한 3개의 광 빔 즉, 0차 회절 광 빔 및 ±1차 회절 광 빔으로 분할된다. 그러나, 제8도에는 단순화를 목적으로 하나의 광 빔만이 도시되어 있다. 빔 분할기(12)의 다층 유전체층(12a)에 의해 편향되는 광 빔은 전반사 미러(13)로 조사되고, 여기서 광 빔의 광학 경로는 다시 90°편향된다. 전반사 미러(13)에 의해 90°편향된 광 빔은 대물 렌즈(15)에 의해 광자기 디스크(14)의 기록 면에 수렴된다. 광자기 디스크(14)에 조사된 광 빔은 광자기 디스크(14)의 기록 면에 의해 반사되어 대물 렌즈(15)를 통해 광자기 헤드 장치(40) 내에 도달한다. 대물 렌즈(15)를 통과하는 광 빔 즉, 반사 광 빔은 빔 분할기(12)를 조사하는데, 여기서 반사된 광 빔의 일부의 광학 경로가 90°편향되어 반사된 광 빔이 광 빔 발생 및 검출 유니트(41)에 도달되고, 나머지 일부의 반사 광 빔은 빔 분할기(12)를 통과한다. 나머지 반사 광 빔이 광학 프리즘(12c)을 통과할 때, 2개의 광 빔 즉, 정상 및 이상 광선이 발생된다. 빔 분할기(12)에 의해 발생되는 2개의 광 빔은 광 검출기(16)의 광 수신부(16a 및 16b)에 의해 각각 수신된다. 한편, 광 빔 발생 및 검출 유니트(41)를 향해 편향된 반사 광 빔은 홀로그램 소자(41b)에 입사된다. 서로 다른 회절 발 간격을 갖고 있는 홀로그램(41b1)의 두영역 중 하나를 통과하는 일부 광 빔은 광 검출기(41c)의 한 광 수신부에 의해 수신되고, 홀로그램(41b1)의 다른 영역을 통과하는 다른 광 빔은 다른 광 수신부에 의해 수신된다. 결과적으로, 광 검출기(41c)의 광 수신부로부터 출력된 신호들을 사용하여 산술논리 처리를 수행함으로써 오류 신호 예를 들어, 집속 오류 신호, 트랙킹 오류 신호, 등이 광자기 디스크(14)에 기록된 다른 신호들 및 어드레스와 함께 발생된다. 광 검출기(16)의 광 수신부(16a 및 16b)로부터 출력된 신호들 사이의 차를 결정함으로써, 광자기 디스크(14)에 기록된 정보 신호의 재생 신호가 얻어질 수 있다.
제8도에 도시된 바와 같이, 제4 실시예에 따른 광자기 헤드 장치(40)에서, 광 빔 발생 및 검출 유니트(41), 빔 분할기(12), 반사 미러(13) 및 광 검출기(16)는 제8도의 광자기 디스크(14)의 기록 면에 수직한 평면 즉, ZY-평면에 모두 배치된다. 다시 말하면, 상술한 구성 소자들은 전반사 미러(13)로부터 빔 분할기(12)를 경유하여 광 검출기(16)로 연장되는 광학 축, 광 빔 발생 및 검출 유니트(41)로부터 빔 분할기(12)로 연장되는 광학 축, 및 전반사 미러(13)로부터 대물 렌즈(15)로 연장되는 광학 축을 포함하는 단일 평면에 배치된다. 결과적으로, 제4 실시예에 따른 광자기 헤드 장치(40)는 제8도의 ZY-평면에 수직인 광자기 디스크(14)의 기록 면에 평행한 평면의 폭을 감소시키는 것이 가능해져서, 결과적으로, 제1 실시예의 것과 유사한 이로운 효과를 제공하게 된다.
본 발명에 따르면, 광자기 헤드 장치가 광자기 디스크의 내원주를 향해 이송될 때, 선행 실시예에 도시된 바와 같이 광자기 디스크를 회전시키는 스핀들 모터와 충돌하는 문제점이 발생하지 않는 소형의 광자기 헤드 장치를 제공하는 것이 가능하다.
더욱이, 빔 분할기를 구성하는 2개의 프리즘 중의 하나가 제1 및 제2 실시예에 도시된 바와 같이, 광학적인 비등방성을 갖고 있는 광학 물질로 형성되면, 제1도에 도시된 광학 헤드 장치에 사용된 바와 같은 월라스톤 프리즘을 제공할 필요가 없게 된다. 그러므로, 요구되는 소자의 수를 감소시킬 뿐만 아니라 빔 분할기로부터 광 검출기로의 광학 경로의 길이 또한 단축시킬 수 있다. 따라서, 광자기 헤드 장치는 더 소형 구조로 형성될 수 있다.
또한, 광자기 헤드 디스크에 기록된 정보 신호를 재생하기 위한 광 검출기 및 오류 신호들을 검출하기 위한 광 검출기가 제1, 제2 및 제4 실시예에서와 같이, 서로 분리되어 제공되면, 정보 신호에 대해 광 검출기로부터 높은 CNR (반송자 대 잡음 비)의 신호를 얻을 수 있다. 이 경우 상술한 배열이 채택되면, 광자기 헤드 장치의 전체 크기가 증가되는 것을 피할 수 있다.
상술한 실시예에서, 본 발명은 본 발명이 광자기 기록 매체를 대상으로 정보 신호를 기록 또는 재생하기 위한 광자기 헤드 장치에 적용될 수 있는 한 실시예를 가지고 설명되었지만, 본 발명은 광자기 디스크 및 판독 전용 광 디스크 모두와 양립할 수 있는 광학 헤드 장치에 적용될 수 있다.
지금까지 양호한 실시예에 대해 상세하게 기술하였으나, 본 분야에 숙련된 기술자들은 첨부된 특허 청구 범위에 의해 한정된 본 발명의 원리 및 배경을 벗어나지 않고서 본 발명을 여러 가지로 수정 및 변형시킬 수도 있다.
제1도는 광학 헤드 장치의 한 실시예의 배열을 계략적으로 도시하는 도면.
제2도는 제1도에 도시된 광학 헤드 장치의 배열을 개략적으로 도시하는 평면도.
제3도는 본 발명의 제1 실시예에 따른 광자기 헤드 장치의 배열을 도시하는 도면.
제4도는 제1 실시예에 따른 광자기 헤드 장치의 배열을 도시하는 평면도.
제5도는 본 발명에 사용되는 빔 분할기의 배열을 도시하는 도면.
제6도는 본 발명의 제2 실시예에 따른 광자기 헤드 장치의 배열을 도시하는 도면.
제7도는 본 발명의 제3 실시예에 따른 광자기 헤드 장치의 배열을 도시하는 도면.
제8도는 본 발명의 제4 실시예에 따른 광자기 헤드 장치의 배열을 도시하는 도면.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1 : 광학 헤드 장치
10, 20, 30, 40 : 광자기 헤드 장치
2, 11b, 31, 41a : 반도체 레이저
3, 13 : 반사 미러
4 : 광 디스크
5, 15, 34 : 대물 렌즈
6, 12, 35 : 빔 분할기
7, 36 : 월라스톤 프리즘
8, 11d, 11e, 16, 37, 41c : 광 검출기
9 : 스핀들 모터
11, 41 : 광 빔 발생 및 검출 유니트
11a : 기판
11c, 12b, 12c, 36a, 36b : 프리즘
12a : 다층 유전체층
14, 33 : 광자기 디스크
32 : 전반사 미러
41b : 홀로그램 소자
41b1: 홀로그램

Claims (10)

  1. 광 빔을 방출하기 위한 광 빔 발생 수단,
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔을 광학 축 상의 한 점에 수렴시키기 위한 대물 렌즈,
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔과 상기 대물 렌즈를 통과한 광 빔을 서로로부터 분리하기 위한 광 분할 소자,
    상기 광 빔이 상기 대물 렌즈에 이르도록 상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔을 90°편향시키기 위한 반사 미러, 및
    상기 대물 렌즈를 통과하고 상기 광 분할 소자에 의해 분리된 광 빔을 수신하기 위한 광 검출기
    를 포함하고,
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔의 광학 축, 상기 광 분리 소자로부터 상기 반사 미러로 연장되는 광학 축, 상기 반사 미러로부터 상기 대물 렌즈로 연장되는 광학 축, 및 상기 광 분리 소자로부터 상기 광 검출기로 연장되는 광학 축이 동일 평면을 정하도록 상기 광 빔 발생 수단, 상기 대물 렌즈, 상기 광 분리 소자 및 상기 광 검출기가 배치되고,
    상기 광 빔 발생 수단은
    광 빔을 방출하기 위한 광원,
    상기 대물 렌즈를 통과하고 상기 광 분할 소자에 의해 분할된 광 빔을 수신하기 위한 광 수신부, 및
    상기 광원으로부터 방출된 광 빔과 상기 대물 렌즈를 통과한 광 빔을 서로로부터 분리하고 상기 대물 렌즈를 통해 상기 광 수신부로 광을 인도하기 위한 다른 광 분할 소자
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광자기 헤드 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 광 검출기가 상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출되고 상기 광 분할 소자에 의해 편향된 광 빔의 광학 축 상에 배열되는 것을 특징으로 하는 광자기 헤드 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 광 분할 소자가
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔이 출력되는 위치에 배치되고 유리로 만들어지는 제1 프리즘, 및
    상기 대물 렌즈를 통과한 광 빔이 출력되는 위치에 배열되고 광학 비등방성을 갖는 광학 물질로 형성되는 제2 프리즘
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 광자기 헤드 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 광 분할 소자가
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔이 출력되는 위치에 배치되고 유리로 만들어지는 제1 프리즘, 및
    상기 대물 렌즈를 통과한 광 빔이 출력되는 위치에 배열되고 광학 비등방성을 갖는 광학 물질로 형성되며, 상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔을 출력하는 상기 제1 프리즘의 출력 면에 대해서 선정된 각도로 경사진 출력 면을 갖는 제2 프리즘, 및
    상기 제1 프리즘과 제2 프리즘 사이에 제공되는 다층 유전체층
    을 포함하고,
    상기 다층 유전체층이 상기 제1과 제2 프리즘 사이에 삽입되는 상태로 상기 제1 및 제2 프리즘이 함께 결합되는
    것을 특징으로 하는 광자기헤드 장치.
  5. 광 빔을 방출하기 위한 광 빔 발생 수단,
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔을 광학 축 상의 한 점에 수렴시키기 위한 대물 렌즈,
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔을 편향시키고 상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔과 상기 대물 렌즈를 통해 출력되는 광 빔을 서로로부터 분리하기 위한 광 분리 소자,
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출되고 상기 광 분리 소자에 의해 편향된 광 빔을 90°편향시켜 상기 광 빔이 상기 대물 렌즈에 이르도록 하기 위한 반사 미러, 및
    상기 대물 렌즈를 통하여 상기 광 분리 소자를 통과하는 광 빔을 수신하기위한 광 검출기
    를 포함하고,
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔의 광학 축, 상기 광 분할 소자로부터 상기 반사 미러로 연장되는 광학 축, 상기 반사 미러로부터 상기 대물 렌즈로 연장되는 광학 축, 및 상기 광 분할 소자로부터 상기 광 검출기로 연장되는 광학 축이 동일 평면을 정하도록 상기 광 빔 발생 수단, 상기 대물 렌즈, 상기 광 분할 소자 및 상기 광 검출기가 배치되고,
    상기 광 빔 발생 수단은
    광 빔을 방출하기 위한 광원,
    상기 대물 렌즈를 통과하고 상기 광 분할 소자에 의해 분할된 광 빔을 수신하기 위한 광 수신부, 및
    상기 광원으로부터 방출된 광 빔과 상기 대물 렌즈를 통과한 광 빔을 서로로부터 분리하고 상기 대물 렌즈를 통해 상기 광 수신부로 광을 인도하기 위한 다른 광 분할 소자
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 광자기 헤드 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 광 검출기가 상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출되고 상기 광 분할 소자에 의해 편향되는 광 빔의 광학 축 상에 배치되는 것을 특징으로 하는 광자기 헤드 장치.
  7. 제5항에 있어서, 상기 광 분할 소자가
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔이 출력되는 위치에 배치되고 유리로 만들어지는 제1 프리즘, 및
    상기 대물 렌즈를 통과한 광 빔이 출력되는 위치에 배열되고 광학 비등방성을 갖는 광학 물질로 만들어지는 제2 프리즘
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 광자기 헤드 장치.
  8. 제5항에 있어서, 상기 광 분할 소자가
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔이 출력되는 위치에 배치되고 유리로 만들어지는 제1 프리즘, 및
    상기 대물 렌즈를 통과한 광 빔이 출력되는 위치에 배열되고 광학 비등방성을 갖는 광학 물질로 형성되며, 상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔을 출력하는 상기 제1 프리즘의 출력 면에 대해서 선정된 각도로 경사진 출력 면을 갖는 제2 프리즘, 및
    상기 제1과 제2 프리즘 사이에 제공되는 다층 유전체층
    을 포함하고,
    상기 다층 유전체층이 상기 제1 프리즘과 제2 프리즘 사이에 삽입되는 상태로 상기 제1 및 제2 프리즘이 함께 결합되는 것을 특징으로 하는 광자기 헤드 장치.
  9. 광 빔을 방출하기 위한 광원, 및 오류를 검출하기 위한 제1 광 검출기를 갖는 광 빔 발생 수단,
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔을 광학 축 상의 한 점에 수렴시키기 위한 대물 렌즈,
    상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔과 상기 대물 렌즈를 통한 광 빔을 서로로부터 분리하기 위한 광 분할 소자,
    상기 광 빔이 상기 대물 렌즈에 이르도록 상기 광 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔을 90°편향시키기 위한 반사 미러, 및
    상기 대물 렌즈를 통과한 광 빔을 수신하고 재생 신호를 검출하기 위한 제2 광 검출기
    를 포함하고,
    상기 대물 렌즈를 통과한 광 빔이 상기 광 분할 소자에 의해 상기 제1 광 검출기에 이르는 광 빔과 상기 제2 광 검출기에 이르는 광 빔으로 분할되고, 상기 빔 발생 수단으로부터 방출된 광 빔의 광학 축, 상기 광 분할 소자로부터 상기 반사 미러로 연장되는 광학 축, 상기 반사 미러로부터 상기 대물 렌즈로 연장되는 광학 축, 및 상기 광 분할 소자로부터 상기 제2 광 검출기로 연장되는 광학 축이 동일 평면을 정하도록 상기 광 빔 발생 수단, 상기 대물 렌즈, 상기 광 분할 소자 및 상기 제2 광 검출기가 배치되는
    것을 특징으로 하는 광자기 헤드 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 광 빔 발생 수단이 상기 광원으로부터 방출된 광 빔과 상기 광 분할 소자에 의해 분할된 광 빔을 서로로부터 분리하기 위한 다른 광 분할 소자를 포함하는 것을 특징으로 하는 광자기 헤드 장치.
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08287510A (ja) * 1995-04-18 1996-11-01 Sony Corp 光ピックアップ装置
US5796701A (en) * 1995-06-23 1998-08-18 Sony Corporation Optical pickup and opto-magnetic signal reproducing apparatus
JP3732268B2 (ja) * 1996-02-28 2006-01-05 富士通株式会社 光ディスク装置用光学ヘッド
JP3439903B2 (ja) * 1996-03-11 2003-08-25 富士通株式会社 光ディスク装置用光学ヘッド
JPH1064078A (ja) * 1996-08-20 1998-03-06 Mitsubishi Electric Corp 光ヘッド
US5751681A (en) * 1997-03-17 1998-05-12 Nec Corporation Tracking signal detection with a photodetector receiving one of a ∓1st-order polarized light
JP3659089B2 (ja) * 1999-10-25 2005-06-15 株式会社日立製作所 光ヘッド及びそれを用いた光学的情報媒体記録再生装置
JP2001273670A (ja) * 2000-01-19 2001-10-05 Olympus Optical Co Ltd 光ピックアップ装置
US20040156302A1 (en) * 2003-01-07 2004-08-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical head

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0281340A (ja) * 1988-09-19 1990-03-22 Hitachi Maxell Ltd 光記録媒体駆動装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3581033D1 (de) * 1984-09-04 1991-02-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd Geraet zum antreiben eines optischen speichermediums.
DE3802538A1 (de) * 1987-01-28 1988-08-11 Olympus Optical Co Vorrichtung zum erfassen von fotomagnetischen signalen
JP2705418B2 (ja) * 1991-12-10 1998-01-28 日本電気株式会社 光ディスク装置のトラックアクセス制御装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0281340A (ja) * 1988-09-19 1990-03-22 Hitachi Maxell Ltd 光記録媒体駆動装置

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