JPH01297534A - 面発光装置 - Google Patents
面発光装置Info
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- JPH01297534A JPH01297534A JP63127717A JP12771788A JPH01297534A JP H01297534 A JPH01297534 A JP H01297534A JP 63127717 A JP63127717 A JP 63127717A JP 12771788 A JP12771788 A JP 12771788A JP H01297534 A JPH01297534 A JP H01297534A
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- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 abstract description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
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- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Input (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電子部品の検査や位置計測をカメラなどの撮
像手段を用いて非接触で行うための、電子部品シルエッ
ト撮像用バックライトとしての面発光装置に関するもの
である。
像手段を用いて非接触で行うための、電子部品シルエッ
ト撮像用バックライトとしての面発光装置に関するもの
である。
従来の技術
第３図に電子部品シルエット撮像用の面発光装置の構成
を示す。電子部品３ｏは背後より光源３１によって照ら
され、その結果、電子部品３０のシルエットがカメラ３
２によって撮像されるようになっている。
を示す。電子部品３ｏは背後より光源３１によって照ら
され、その結果、電子部品３０のシルエットがカメラ３
２によって撮像されるようになっている。
通常、電子部品３０と光源３１の間には、光源３１から
照射される光を均一に拡散させるための拡散フィルター
３３が設置される。拡散フィルター３３は、カメラ３２
で電子部品３ｏを撮像した時に電子部品３０のシルエッ
トが実際の寸法通りのコントラストの高い像となってカ
メラに取り込まれるようにする働きを持っている。
照射される光を均一に拡散させるための拡散フィルター
３３が設置される。拡散フィルター３３は、カメラ３２
で電子部品３ｏを撮像した時に電子部品３０のシルエッ
トが実際の寸法通りのコントラストの高い像となってカ
メラに取り込まれるようにする働きを持っている。
従来、上記面発光装置の光源３１としては電球や螢光管
などの単一発光体が用いられてきた。
などの単一発光体が用いられてきた。
発明が解決しようとする課題
電子部品シルエット撮像用の面発光装置では、電子部品
の形状を正確にカメラに撮像させるため。
の形状を正確にカメラに撮像させるため。
発光面全域が均一の明るさに保たれていなければならな
い。
い。
しかしながら面発光装置を長時間使用していると、拡散
フィルター上にほこりが付着したり、光源が発する熱や
使用環境によって拡散フィルターが変色したりし、面発
光装置の発光面に部分的に暗い領域ができ、発光面全域
が均一の明るさに保たれなくなる。
フィルター上にほこりが付着したり、光源が発する熱や
使用環境によって拡散フィルターが変色したりし、面発
光装置の発光面に部分的に暗い領域ができ、発光面全域
が均一の明るさに保たれなくなる。
しかも、電球や螢光管などの単一発光体を光源として用
いた面発光装置では、部分的に暗くなった領域だけを特
別に明るくすることができず、発光面全域が均一の明る
さに保たれる面発光装置を実現することができなかった
。
いた面発光装置では、部分的に暗くなった領域だけを特
別に明るくすることができず、発光面全域が均一の明る
さに保たれる面発光装置を実現することができなかった
。
本発明は上記従来の問題点を解消し、発光面全域が常に
均一の明るさに保たれる面発光装置を提供することを目
的とする。
均一の明るさに保たれる面発光装置を提供することを目
的とする。
課題を解決するだめの手段
本発明は上記目的を達成するため、複数の発光体を平面
上に２次元的に配置し、かつ上記複数の発光体を平面上
の領域によっていくつかの部分発光領域に分類し、上記
部分発光領域ごとに電圧を供給する手段を設け、上記複
数の発光体が照射する光の強度を、上記複数の部分発光
領域ごとに分離して受光できる光強度測定手段によって
測定し、上記部分発光領域の光の強度が全ての部分発光
領域において等しくなるように、上記電圧を供給する手
段の電圧を調整することによって、発光面が常に均一の
明るさに保たれるようにしだものである。
上に２次元的に配置し、かつ上記複数の発光体を平面上
の領域によっていくつかの部分発光領域に分類し、上記
部分発光領域ごとに電圧を供給する手段を設け、上記複
数の発光体が照射する光の強度を、上記複数の部分発光
領域ごとに分離して受光できる光強度測定手段によって
測定し、上記部分発光領域の光の強度が全ての部分発光
領域において等しくなるように、上記電圧を供給する手
段の電圧を調整することによって、発光面が常に均一の
明るさに保たれるようにしだものである。
作 用
本発明は上記構成を有するので、光の強度が弱くなった
部分発光領域に対応する電源電圧を１発光強度を測定し
ながら高めることによって、面発光装置の発光面を常に
均一な明るさに保つことができる。
部分発光領域に対応する電源電圧を１発光強度を測定し
ながら高めることによって、面発光装置の発光面を常に
均一な明るさに保つことができる。
実施例
以下本発明の一実施例の面発光装置について、図面を参
照しながら説明する。
照しながら説明する。
第１図は本発明の実施例における面発光装置を示すもの
である。第１図においてコントローラ１は、電子部品２
を吸着しない状態でカメラ３より得た画像を処理して発
光面の光強度を面発光部４の部分発光領域ごとに測定し
、各部分発光領域の光強度が等しくなるように面発光部
４へ供給する電源電圧を部分領域ごとに調整する機能を
有している。面発光部４では、電子部品２を吸着するノ
ズル５が中心部を貫通しており、プリント基板６に２次
元的に配置された複数個の発光ダイオード７より光が照
射され、拡散フィルター８を通して電子部品２を照らす
ようになっている。拡散フィルター８は、離散的に配置
された発光ダイオード７より照射される光の発光強度を
均一化し、電子部品２のシルエットを忠実にカメラ３に
撮像させる役割を担っている。
である。第１図においてコントローラ１は、電子部品２
を吸着しない状態でカメラ３より得た画像を処理して発
光面の光強度を面発光部４の部分発光領域ごとに測定し
、各部分発光領域の光強度が等しくなるように面発光部
４へ供給する電源電圧を部分領域ごとに調整する機能を
有している。面発光部４では、電子部品２を吸着するノ
ズル５が中心部を貫通しており、プリント基板６に２次
元的に配置された複数個の発光ダイオード７より光が照
射され、拡散フィルター８を通して電子部品２を照らす
ようになっている。拡散フィルター８は、離散的に配置
された発光ダイオード７より照射される光の発光強度を
均一化し、電子部品２のシルエットを忠実にカメラ３に
撮像させる役割を担っている。
また発光ダイオードを２次元的に配置したプリント基板
６と拡散フィルター８は、ケース９によって一定の間隔
を保った状態で保持されているが、ケース９の材質や表
面の状態によっては、拡散フィルター８の外周部におけ
る発光強度が低下することがあるため、ケース９の内側
に反射板１ｏを張りめぐらし、発光強度の低下を防いで
いる。
６と拡散フィルター８は、ケース９によって一定の間隔
を保った状態で保持されているが、ケース９の材質や表
面の状態によっては、拡散フィルター８の外周部におけ
る発光強度が低下することがあるため、ケース９の内側
に反射板１ｏを張りめぐらし、発光強度の低下を防いで
いる。
さらにケース９の下部にはフード１１を取り付けて、電
子部品２に外乱光が当たるのを防ぎ、電子部品２のシル
エットを忠実にカメラ３に撮像させる役割を担っている
。
子部品２に外乱光が当たるのを防ぎ、電子部品２のシル
エットを忠実にカメラ３に撮像させる役割を担っている
。
第２図（８）は第１図における面発光部４をカメラ側よ
り見た図であり、破線により区切られたＡ１からＤ４の
１６の小領域は発光強度が制御可能である部分発光領域
を示している。また第２図（Ｂ）は、上記Ａ１からＤ４
の各部分発光領域が複数個の発光ダイオードによって構
成させていることを示しており、さらに第２図（ｑは、
上記Ａ１からＤ４の各部分小領域の回路図を示している
。この回路への電源電圧は第１図に示したコントローラ
１より供給される。
り見た図であり、破線により区切られたＡ１からＤ４の
１６の小領域は発光強度が制御可能である部分発光領域
を示している。また第２図（Ｂ）は、上記Ａ１からＤ４
の各部分発光領域が複数個の発光ダイオードによって構
成させていることを示しており、さらに第２図（ｑは、
上記Ａ１からＤ４の各部分小領域の回路図を示している
。この回路への電源電圧は第１図に示したコントローラ
１より供給される。
発明の詳細
な説明したように本発明の面発光装置によれば、拡散フ
ィルターの汚れによって発光面が部分的に暗くなった場
合に、その領域に対応する部分発光領域の電源電圧を高
め、発光面の明るさが均一に保たれるように調整するこ
とがきわめて容易になるという効果がある。
ィルターの汚れによって発光面が部分的に暗くなった場
合に、その領域に対応する部分発光領域の電源電圧を高
め、発光面の明るさが均一に保たれるように調整するこ
とがきわめて容易になるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例である面発光装置を示す図、
第２図（８）〜０は面発光部の平面図および部分発光領
域の構成を示す図、第３図は従来の面発光装置の構成を
示す図である。 １・・・・・・コントローラ、２・・・・・・電子部品
、３・・・・・・カメラ、４・・・・・・面発光部。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図
第２図（８）〜０は面発光部の平面図および部分発光領
域の構成を示す図、第３図は従来の面発光装置の構成を
示す図である。 １・・・・・・コントローラ、２・・・・・・電子部品
、３・・・・・・カメラ、４・・・・・・面発光部。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図
Claims (1)
- 複数の発光体を平面上に２次元的に配置した面発光装置
であって、上記複数の発光体を平面上の領域によってい
くつかの部分発光領域に分類し、上記部分発光領域ごと
に電圧を供給する手段を設け、上記複数の発光体が照射
する光の強度を、上記複数の部分発光領域ごとに分離し
て受光できる光強度測定手段によって測定し、上記部分
発光領域の光の強度が全ての部分発光領域において等し
くなるように、上記電圧を供給する手段の電圧を調整す
るようにしたことを特徴とする面発光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63127717A JP2689482B2 (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | 面発光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63127717A JP2689482B2 (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | 面発光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01297534A true JPH01297534A (ja) | 1989-11-30 |
| JP2689482B2 JP2689482B2 (ja) | 1997-12-10 |
Family
ID=14966964
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63127717A Expired - Fee Related JP2689482B2 (ja) | 1988-05-25 | 1988-05-25 | 面発光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2689482B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0232005U (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-28 | ||
| JPH04248449A (ja) * | 1991-02-04 | 1992-09-03 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 成形品の外観検査装置 |
| JP2003058873A (ja) * | 2001-08-13 | 2003-02-28 | Olympus Optical Co Ltd | 形状抽出装置および方法、並びに画像切り出し装置および方法 |
| JP2003065960A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Kyoto Denkiki Kk | Ｌｅｄ照明装置 |
| WO2004044565A1 (ja) * | 2002-11-14 | 2004-05-27 | Ccs Inc. | 光量調整システム |
| JP2008170207A (ja) * | 2007-01-10 | 2008-07-24 | Olympus Corp | 目視検査装置用のマクロ照明装置、目視検査装置及びガラス基板の目視検査方法 |
-
1988
- 1988-05-25 JP JP63127717A patent/JP2689482B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0232005U (ja) * | 1988-08-24 | 1990-02-28 | ||
| JPH04248449A (ja) * | 1991-02-04 | 1992-09-03 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 成形品の外観検査装置 |
| JP2003058873A (ja) * | 2001-08-13 | 2003-02-28 | Olympus Optical Co Ltd | 形状抽出装置および方法、並びに画像切り出し装置および方法 |
| JP2003065960A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Kyoto Denkiki Kk | Ｌｅｄ照明装置 |
| WO2004044565A1 (ja) * | 2002-11-14 | 2004-05-27 | Ccs Inc. | 光量調整システム |
| JP2009222728A (ja) * | 2002-11-14 | 2009-10-01 | Ccs Inc | 光量調整システム |
| US7643746B2 (en) | 2002-11-14 | 2010-01-05 | Ccs Inc. | Light intensity adjusting system |
| JP2008170207A (ja) * | 2007-01-10 | 2008-07-24 | Olympus Corp | 目視検査装置用のマクロ照明装置、目視検査装置及びガラス基板の目視検査方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2689482B2 (ja) | 1997-12-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |