JPH01270326A - 導波路形フィルムキャリアおよびその端子接続方法 - Google Patents
導波路形フィルムキャリアおよびその端子接続方法Info
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- JPH01270326A JPH01270326A JP63099616A JP9961688A JPH01270326A JP H01270326 A JPH01270326 A JP H01270326A JP 63099616 A JP63099616 A JP 63099616A JP 9961688 A JP9961688 A JP 9961688A JP H01270326 A JPH01270326 A JP H01270326A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/50—Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は高周波マイクロ波デバイスを実装するために用
いる導波路形フィルムキャリアおよびその端子接続方法
に関するものである。
いる導波路形フィルムキャリアおよびその端子接続方法
に関するものである。
〔従来の技術および発明が解決しようとする課題〕従来
、この種のフィルムキャリアは第11図に示すように、
絶縁性フレキシブル基板1、該絶縁性フレキシブル基板
1に設けられた開口部2、該絶縁性フレキシブル基板1
の表面に形成された高周波用電極3、バイアス供給用T
i様4、接地用電極5等の導電体、さらに該絶縁性フレ
キシブル基板1に設番ブられた間口部2において高周波
用電極3、バイアス供給用電極4、接地用電極5の延長
線上にそれぞれ高周波用!f4i3、バイアス供給用電
極4、接地用電極5と接続されたり−ドRとからなる単
純な構造ものであった。
、この種のフィルムキャリアは第11図に示すように、
絶縁性フレキシブル基板1、該絶縁性フレキシブル基板
1に設けられた開口部2、該絶縁性フレキシブル基板1
の表面に形成された高周波用電極3、バイアス供給用T
i様4、接地用電極5等の導電体、さらに該絶縁性フレ
キシブル基板1に設番ブられた間口部2において高周波
用電極3、バイアス供給用電極4、接地用電極5の延長
線上にそれぞれ高周波用!f4i3、バイアス供給用電
極4、接地用電極5と接続されたり−ドRとからなる単
純な構造ものであった。
この種のフィルムキャリアは第12図に示すように、高
周波用電極3、バイアス供給用電極4、接地用電極5お
よびリードRは該絶縁性フレキシブル基板1に接着剤7
等で接着した銅等の導電体箔をエツチングすることによ
って一括して形成される。さらに、リードRの先端部に
おいてメツキ等によってバンブ8を形成する場合もある
。
周波用電極3、バイアス供給用電極4、接地用電極5お
よびリードRは該絶縁性フレキシブル基板1に接着剤7
等で接着した銅等の導電体箔をエツチングすることによ
って一括して形成される。さらに、リードRの先端部に
おいてメツキ等によってバンブ8を形成する場合もある
。
ベアチップ半導体素子とフィルムキャリアとの接続は第
13図(a)に示すように、該ベアチップ半導体素子9
等の表面に形成された電極バンド10と、このフィルム
キャリアの該リードRの先端との間をキャビラリー11
で加熱し熱圧着あるいは熱if!4音波等の技術を用い
て接続することによって行なわれる。フィルムキャリア
は該ベアチップ半導体素子9等を接続した状態で、第1
3図(b)に示ずように実装用基板12等の所定の位置
に持って行き、該実装用基板12上に形成された電極1
3とベアチップ半導体素子9を接続した反対側の該リー
ドRとをキャビラリー11で加熱し熱圧着あるいは熱超
音波等の技術を用いて接続した後、第13図(a)に示
す切断部14で切断し不要なリードおよび該絶縁性フレ
キシブル基板1を廃棄する構成であった。
13図(a)に示すように、該ベアチップ半導体素子9
等の表面に形成された電極バンド10と、このフィルム
キャリアの該リードRの先端との間をキャビラリー11
で加熱し熱圧着あるいは熱if!4音波等の技術を用い
て接続することによって行なわれる。フィルムキャリア
は該ベアチップ半導体素子9等を接続した状態で、第1
3図(b)に示ずように実装用基板12等の所定の位置
に持って行き、該実装用基板12上に形成された電極1
3とベアチップ半導体素子9を接続した反対側の該リー
ドRとをキャビラリー11で加熱し熱圧着あるいは熱超
音波等の技術を用いて接続した後、第13図(a)に示
す切断部14で切断し不要なリードおよび該絶縁性フレ
キシブル基板1を廃棄する構成であった。
フィルムキャリアの複数の該リードRはそれらの一側を
ベアチップ半導体素子9等の表面の複数の該電極パッド
10に、さらに他側を該実装用基板12等に形成された
複数の電極13上に、それぞれ−括して接続することを
主眼として構成されていたので、2ケ所接続に要する該
リードRの良さに余裕を持たせる必要があり、該リード
Rの長さに応じたインダクタンス成分によって、該ベア
チップ半導体素子9あるいは複数の該ベアチップ半導体
素子9で構成された高周波モジュールの周波数特性を劣
化させるという欠点があった。
ベアチップ半導体素子9等の表面の複数の該電極パッド
10に、さらに他側を該実装用基板12等に形成された
複数の電極13上に、それぞれ−括して接続することを
主眼として構成されていたので、2ケ所接続に要する該
リードRの良さに余裕を持たせる必要があり、該リード
Rの長さに応じたインダクタンス成分によって、該ベア
チップ半導体素子9あるいは複数の該ベアチップ半導体
素子9で構成された高周波モジュールの周波数特性を劣
化させるという欠点があった。
さらに該リードRのみで該ベアチップ半導体素子9と該
実装用基板12との間を電気的に接続する構成となって
いるため、複数の該ベアデツプ半導体素子9を1つのフ
ィルムキャリアに接続することは不要のリードおよび該
絶縁性フレキシブル基板1を廃棄するための切断を該ベ
アチップ半導体素子9の内側で行う必要があり、該ベア
チップ半導体素子9を損傷させるという欠点があった。
実装用基板12との間を電気的に接続する構成となって
いるため、複数の該ベアデツプ半導体素子9を1つのフ
ィルムキャリアに接続することは不要のリードおよび該
絶縁性フレキシブル基板1を廃棄するための切断を該ベ
アチップ半導体素子9の内側で行う必要があり、該ベア
チップ半導体素子9を損傷させるという欠点があった。
第14図、第15図は、本発明者等がこのような欠点を
解決することを目的として先に案出した導波路形フィル
ムキャリア(特許出願中)である。
解決することを目的として先に案出した導波路形フィル
ムキャリア(特許出願中)である。
この導波路形フィルムキャリアは絶縁性フレキシブル基
板1に開口部2,15を有し、該高周波用電極3、該バ
イアス供給用電極4、該接地用電極5の内、少なくとも
高周波信号の伝搬に寄与する該高周波用電極3、該接地
用電極5が該絶縁性フレキシブル基板1の表面に形成さ
れたコプレーナ導波路構造であり、かつ該絶縁性フレキ
シブル基板1の開口部2,15において該高周波用電極
3、該バイアス供給用電極4、該接地用電極5等と接続
された該リードRを有する構造である。
板1に開口部2,15を有し、該高周波用電極3、該バ
イアス供給用電極4、該接地用電極5の内、少なくとも
高周波信号の伝搬に寄与する該高周波用電極3、該接地
用電極5が該絶縁性フレキシブル基板1の表面に形成さ
れたコプレーナ導波路構造であり、かつ該絶縁性フレキ
シブル基板1の開口部2,15において該高周波用電極
3、該バイアス供給用電極4、該接地用電極5等と接続
された該リードRを有する構造である。
しかし、この先行技術においても、接続用り一ドRのイ
ンダクタンスによって高周波モジュールの周波数特性が
劣化し、またリードRが各種電極との接続部のみで保持
されているためボンディング時のリード断線、リード間
のショートを生じ易いという欠点があった。
ンダクタンスによって高周波モジュールの周波数特性が
劣化し、またリードRが各種電極との接続部のみで保持
されているためボンディング時のリード断線、リード間
のショートを生じ易いという欠点があった。
本発明は上記背景のものになされたものであり、その目
的とするところは、周波数特性の向上を図ったマイクロ
波デバイスのマルチチップ−括実装が行なえ、かつ高密
度実装が容易に行なえるとともに機械的強度にも優れる
導波路形フィルムキャリアおよびその端子接続方法を提
供することにある。
的とするところは、周波数特性の向上を図ったマイクロ
波デバイスのマルチチップ−括実装が行なえ、かつ高密
度実装が容易に行なえるとともに機械的強度にも優れる
導波路形フィルムキャリアおよびその端子接続方法を提
供することにある。
上記目的を達成するために本発明の導波路形フィルムキ
ャリアにおいては、絶縁性フレキシブル基板と、該絶縁
性フレキシブル基板表裏面あるいは内部に形成された高
周波用電極、バイアス供給用電極および接地用電極と、
それら電極と接続されて前記絶縁性フレキシブル基板を
貫通して形成されたボンディング用導電体柱とから構成
されている。
ャリアにおいては、絶縁性フレキシブル基板と、該絶縁
性フレキシブル基板表裏面あるいは内部に形成された高
周波用電極、バイアス供給用電極および接地用電極と、
それら電極と接続されて前記絶縁性フレキシブル基板を
貫通して形成されたボンディング用導電体柱とから構成
されている。
また、前記絶縁性フレキシブル基板、高周波用T1極、
バイアス供給用電極および接地用電極のうち、少なくと
も高周波信号伝搬に寄与する高周波用電極と接地用電極
および絶縁性フレキシブル基板とを組合せて導波路とす
るのが好ましい。
バイアス供給用電極および接地用電極のうち、少なくと
も高周波信号伝搬に寄与する高周波用電極と接地用電極
および絶縁性フレキシブル基板とを組合せて導波路とす
るのが好ましい。
さらに、前記絶縁性フレキシブル基板には、高周波用電
極、バイアス供給用電極および接地用電極が複数組形成
されていれば、より好ましい。
極、バイアス供給用電極および接地用電極が複数組形成
されていれば、より好ましい。
また、上記導波路形フィルムキャリアをベアチップ半導
体素子、実装用基板等の被接続物に接続するには、ボン
ディング用導電体柱の接続面と反対側の面からキャビラ
リー等によって熱および、または超音波撮動を加えるこ
とに行なえばよい。
体素子、実装用基板等の被接続物に接続するには、ボン
ディング用導電体柱の接続面と反対側の面からキャビラ
リー等によって熱および、または超音波撮動を加えるこ
とに行なえばよい。
(作用)
ィング用導電体柱によってベアチップ半導体素子に電気
的に接続することができ、従来のワイヤ。
的に接続することができ、従来のワイヤ。
リボン等を用いる接続に比べて、上記導電体柱は絶縁性
フレキシブル基板中に貫通されたままであることから、
機械的に強固な固定が実現でき、また導電体柱同士が接
触することもないため、高密度実装が行なえる。
フレキシブル基板中に貫通されたままであることから、
機械的に強固な固定が実現でき、また導電体柱同士が接
触することもないため、高密度実装が行なえる。
また、高周波用電極と接地用電極および絶縁性フレキシ
ブル基板を組合せて導波路を構成する場合には、上記の
如く電極にボンディング用導電体柱が接続されて形成さ
れていることと相まって、導波路をベアチップ半導体素
子等に電気的に真近に接続することができ、従来のワイ
V、リボン等による接続に比べて高周波特性の改善が図
れる。
ブル基板を組合せて導波路を構成する場合には、上記の
如く電極にボンディング用導電体柱が接続されて形成さ
れていることと相まって、導波路をベアチップ半導体素
子等に電気的に真近に接続することができ、従来のワイ
V、リボン等による接続に比べて高周波特性の改善が図
れる。
さらに、高周波用電極、バイアス供給用電極および接地
用電極を複数組方する場合には、複数のベアチップ半導
体素子を一度で接続でき、作業性が非常に良くなる。
用電極を複数組方する場合には、複数のベアチップ半導
体素子を一度で接続でき、作業性が非常に良くなる。
また、導波路形フィルムキャリアをベアチップ半導体素
子等に接続するに際し、ボンディング用導電体柱の接続
面と反対面の面からキャビラリー等によって熱および、
または超音波振動を加えるように行えば、容易に接続が
行なえる。
子等に接続するに際し、ボンディング用導電体柱の接続
面と反対面の面からキャビラリー等によって熱および、
または超音波振動を加えるように行えば、容易に接続が
行なえる。
尖i■ユ
第1図〜第5図は本発明の第1の実施例を説明する図で
あって、第1図は上面図、第2図は高周波用電極3部分
の導波路形フィルムキャリアの信号伝搬方向の断面図、
第3図はコプレーナ導波路を説明する斜視図、第4図(
a)〜(e)はボンディング用導電体柱の製造工程を説
明する図、第5図(a)〜(C)はベアチップ半導体を
接続する場合および実装基板に接続する場合の断面図で
ある。
あって、第1図は上面図、第2図は高周波用電極3部分
の導波路形フィルムキャリアの信号伝搬方向の断面図、
第3図はコプレーナ導波路を説明する斜視図、第4図(
a)〜(e)はボンディング用導電体柱の製造工程を説
明する図、第5図(a)〜(C)はベアチップ半導体を
接続する場合および実装基板に接続する場合の断面図で
ある。
図において符号1は絶縁性フレキシブル基板、3は該絶
縁性フレキシブル基板1の表面に形成された高周波用電
極、4は該絶縁性フレキシブル基板1の表面に形成され
たバイアス供給用電極、5は該絶縁性フレキシブル基板
1の表面に形成された接地用電極である。高周波用電極
3、接地用電極5および絶縁性フレキシブル基板1は導
波路6を構成する。
縁性フレキシブル基板1の表面に形成された高周波用電
極、4は該絶縁性フレキシブル基板1の表面に形成され
たバイアス供給用電極、5は該絶縁性フレキシブル基板
1の表面に形成された接地用電極である。高周波用電極
3、接地用電極5および絶縁性フレキシブル基板1は導
波路6を構成する。
また、20はボンディング用導電体柱である。
ボンディング用1?Jaf体柱20は絶縁性フレキシブ
ル基板1を貫通し、前記それぞれの電極3.4゜5と接
続している。また、該導電体柱20の少なくとも一側は
第2図、第5図に示すようにフレキシブル基板1の表面
から突起されるのが好ましい。
ル基板1を貫通し、前記それぞれの電極3.4゜5と接
続している。また、該導電体柱20の少なくとも一側は
第2図、第5図に示すようにフレキシブル基板1の表面
から突起されるのが好ましい。
はじめに、本発明の第1の実施例での導波路形フィルム
キャリアの製造方法における導電体柱の形成法の1例を
第4図(a)〜(e)を用いて説明する。本実施例の導
波路形フィルムキャリアを製造するには、ポリイミド樹
脂、エポキシ樹脂等の絶縁性フレキシブル基板1の表裏
面に、たとえば銅等の金属16をスパッタ、蒸着等によ
り堆積した後(第4図(a))、両面にホトレジスト1
7を塗布、露光、現像する(第4図(b))。現像によ
って開口した領域18で該絶縁性フレキシブル基板1に
堆積した金属および絶縁性フレキシプル基板1を除去し
、貫通孔19を形成しく第4図(c)(d))、さらに
、該貫通孔19をメツキ等により金属で充填しボンディ
ング用導電体柱20を形成する(第4図(e))。
キャリアの製造方法における導電体柱の形成法の1例を
第4図(a)〜(e)を用いて説明する。本実施例の導
波路形フィルムキャリアを製造するには、ポリイミド樹
脂、エポキシ樹脂等の絶縁性フレキシブル基板1の表裏
面に、たとえば銅等の金属16をスパッタ、蒸着等によ
り堆積した後(第4図(a))、両面にホトレジスト1
7を塗布、露光、現像する(第4図(b))。現像によ
って開口した領域18で該絶縁性フレキシブル基板1に
堆積した金属および絶縁性フレキシプル基板1を除去し
、貫通孔19を形成しく第4図(c)(d))、さらに
、該貫通孔19をメツキ等により金属で充填しボンディ
ング用導電体柱20を形成する(第4図(e))。
その後、ホトレジストの塗布、露光、現像を行い、該絶
縁性フレキシブル基板1に堆積した金属をエツチングに
より除去し、高周波用電極3、バイアス供給用電極4、
接地用電極5等のバターニングを行う。さらに所定の個
所にホト工程、メツキ工程を繰り返すことによって、該
絶縁性フレキシブル基板1の上の高周波用電極3、バイ
アス供給相Ti極4、接地用電極5およびボンディング
用導電体柱20の補強をするとともに、バンブ8をさら
に形成する場合もある。
縁性フレキシブル基板1に堆積した金属をエツチングに
より除去し、高周波用電極3、バイアス供給用電極4、
接地用電極5等のバターニングを行う。さらに所定の個
所にホト工程、メツキ工程を繰り返すことによって、該
絶縁性フレキシブル基板1の上の高周波用電極3、バイ
アス供給相Ti極4、接地用電極5およびボンディング
用導電体柱20の補強をするとともに、バンブ8をさら
に形成する場合もある。
次に第5図(a)を用いて導波路形フィルムキ1rリア
とベアチップ半導体素子9を接続する方法の一例を説明
する。ボンディング用導電体柱20とベアチップ半導体
素子9上に形成された電極パッド10が重なるように導
波路形フィルムキャリアをベアチップ半導体素子9の所
定の位置に持つブ半導体素子9表面の電極パッド10と
の間をキャピラリ−11で加熱し熱圧着あるいは超音波
等の技術を用いて接続して、導波路形フィルムキャリア
とベアチップ半導体素子9とを接続・実装する。
とベアチップ半導体素子9を接続する方法の一例を説明
する。ボンディング用導電体柱20とベアチップ半導体
素子9上に形成された電極パッド10が重なるように導
波路形フィルムキャリアをベアチップ半導体素子9の所
定の位置に持つブ半導体素子9表面の電極パッド10と
の間をキャピラリ−11で加熱し熱圧着あるいは超音波
等の技術を用いて接続して、導波路形フィルムキャリア
とベアチップ半導体素子9とを接続・実装する。
次に、ベアチップ半導体素子9を接続・実装した導波路
形フィルムキレリアを実装用基板12に接続・実装する
方法について第5図(b)、(C)を用いて説明する。
形フィルムキレリアを実装用基板12に接続・実装する
方法について第5図(b)、(C)を用いて説明する。
まず、第1の実装例は第5図(b)に示すように導波路
形フィルムキセリアごと実装用基板72上の所定の位置
に持って行き、ボンディング用導電体柱20と実装用基
板12表面の電極13との間をキャビラリー11で加熱
し熱圧着あるいは超音波等の技術を用いて導波路形フィ
ルムキャリアと実装用基板12を接続・実装し、その後
ベアチップ半導体素子9の裏面と実装用基板12の間を
はんだ等により溶融接続する(図示せず)aまた、第2
の実装の実装例は第5(C)図に示すようにベアチップ
半導体素子9を接続・実装した導波路形フィルムキャリ
アをベアチップ半導体素子9の電極′面が実装用基板1
2の電極13面となるように導波路形フィルムキャリア
を反転させて、導波路形フィルムキャリアごと実装用基
板12上の所定の位置に持って行き、ボンディング用導
電体柱20と実装用基板12表面の電極13との間をキ
ャビラリー11で加熱し熱圧着あるいは超音波等の技術
を用いて接続して導波路形フィルムキャリアと実装用基
板12とを接続・実装する。
形フィルムキセリアごと実装用基板72上の所定の位置
に持って行き、ボンディング用導電体柱20と実装用基
板12表面の電極13との間をキャビラリー11で加熱
し熱圧着あるいは超音波等の技術を用いて導波路形フィ
ルムキャリアと実装用基板12を接続・実装し、その後
ベアチップ半導体素子9の裏面と実装用基板12の間を
はんだ等により溶融接続する(図示せず)aまた、第2
の実装の実装例は第5(C)図に示すようにベアチップ
半導体素子9を接続・実装した導波路形フィルムキャリ
アをベアチップ半導体素子9の電極′面が実装用基板1
2の電極13面となるように導波路形フィルムキャリア
を反転させて、導波路形フィルムキャリアごと実装用基
板12上の所定の位置に持って行き、ボンディング用導
電体柱20と実装用基板12表面の電極13との間をキ
ャビラリー11で加熱し熱圧着あるいは超音波等の技術
を用いて接続して導波路形フィルムキャリアと実装用基
板12とを接続・実装する。
最優に、第5図(b)および第5図(C)に示すいずれ
の実装例の場合も、切断部14(第5図(a))で切断
して不要の絶縁性フレキシブル基板を廃棄する。
の実装例の場合も、切断部14(第5図(a))で切断
して不要の絶縁性フレキシブル基板を廃棄する。
第1図に示す導波路形フィルムキャリアによれば、ベア
チップ半導体素子9と実装用基板12との間をインピー
ダンス的に整合を取ったコプレーナ導波路6(第3図参
照)で接続し、しかもボンディング用導電体柱20を用
いることで該導波路6をベアチップ半導体素子9、実装
用基板12に対して電気的に直近で接続することができ
るため、従来のワイヤ、リボン等による接続に比べて高
周波特性の改善が図れるとともに高密度にベアチップ半
導体装を可能にできる。また、ボンディング用n電体柱
20が該絶縁性フレキシブル基板1を貫通して形成され
ているため、キャビラリー11で与えられるボンディン
グエネルギをボンディング用導電体柱20からベアチッ
プ半導体素子9表面の電極パッド10、実装用基板12
表面の電極13等の被接続部に容易に伝達でき、接続の
信頼性を改善できる。
チップ半導体素子9と実装用基板12との間をインピー
ダンス的に整合を取ったコプレーナ導波路6(第3図参
照)で接続し、しかもボンディング用導電体柱20を用
いることで該導波路6をベアチップ半導体素子9、実装
用基板12に対して電気的に直近で接続することができ
るため、従来のワイヤ、リボン等による接続に比べて高
周波特性の改善が図れるとともに高密度にベアチップ半
導体装を可能にできる。また、ボンディング用n電体柱
20が該絶縁性フレキシブル基板1を貫通して形成され
ているため、キャビラリー11で与えられるボンディン
グエネルギをボンディング用導電体柱20からベアチッ
プ半導体素子9表面の電極パッド10、実装用基板12
表面の電極13等の被接続部に容易に伝達でき、接続の
信頼性を改善できる。
コプレーナ導波路の特性インピーダンスは、■フィルム
の誘電率、■フィルムの厚さ、■高周波用電極3のパタ
ーン幅!+ 、■高周波用1i13と接地用電極5との
間のギャップ寸法j 2 、により決まる。ここでは、
導波路形フィルムキャリアにおいて■高周波用電極3の
パターン幅および■高周波用電極3と接地用電極5との
間のギャップ寸法を変えて、インピーダンス的に整合を
取った尋波路形フィルムキャリアを実現することが可能
である。パターン変更は、フォトマスクパターンの変更
により対処は容易である。
の誘電率、■フィルムの厚さ、■高周波用電極3のパタ
ーン幅!+ 、■高周波用1i13と接地用電極5との
間のギャップ寸法j 2 、により決まる。ここでは、
導波路形フィルムキャリアにおいて■高周波用電極3の
パターン幅および■高周波用電極3と接地用電極5との
間のギャップ寸法を変えて、インピーダンス的に整合を
取った尋波路形フィルムキャリアを実現することが可能
である。パターン変更は、フォトマスクパターンの変更
により対処は容易である。
なお、バイアス供給用電極4は高周波用電極3と異なる
ように記載しているが、バイアス供給用電極4の一部を
接地用電極として扱うことにより接地用電極に挟まれた
バイアス供給用電極が構成され、コプレーナ導波路構造
となる。したがって、バイアス供給用電極4にも、コプ
レーナ導波路構造の考え方を適用できるのは明らかであ
る。以下の実施例についても同様である。
ように記載しているが、バイアス供給用電極4の一部を
接地用電極として扱うことにより接地用電極に挟まれた
バイアス供給用電極が構成され、コプレーナ導波路構造
となる。したがって、バイアス供給用電極4にも、コプ
レーナ導波路構造の考え方を適用できるのは明らかであ
る。以下の実施例についても同様である。
また、上記した図示例では、高周波用電極3と接地用電
極5を構成する導電体を絶縁性フレキシブル基板1の片
面にのみ形成しているが、さらに絶縁性フレキシブル基
板1の他の片面にも接地用電極用の導電体を形成しても
よい。
極5を構成する導電体を絶縁性フレキシブル基板1の片
面にのみ形成しているが、さらに絶縁性フレキシブル基
板1の他の片面にも接地用電極用の導電体を形成しても
よい。
友直通λ
第6図〜第9図は本発明の第2の実施例を説明する図で
あって、第6図は上面図、第7図は高周波用電極3部分
の導波路形フィルムキャリアの信号伝搬方向の断面図、
第8図はマイクロストリップ線路の断面図、第9図は高
周波用電極接続するボンディング用導電体柱と接地用電
極との関係を説明する斜視図である。
あって、第6図は上面図、第7図は高周波用電極3部分
の導波路形フィルムキャリアの信号伝搬方向の断面図、
第8図はマイクロストリップ線路の断面図、第9図は高
周波用電極接続するボンディング用導電体柱と接地用電
極との関係を説明する斜視図である。
図中符号1は絶縁性フレキシブル基板、3は該絶縁性フ
レキシブル基板1の表面に形成された高周波用電極、4
は該絶縁性フレキシブル基板1の表面に形成されたバイ
アス供給用電極、5は該絶縁性フレキシブル基板1の表
面に形成された接地用電極、6は高周波用電極3、接地
用電極5および絶縁性フレキシブル基板1から成る導波
路、8はバンブ、20はボンディング用1i体柱、21
は高周波用電極3と接地用電極5の短絡防止用開口部で
ある。
レキシブル基板1の表面に形成された高周波用電極、4
は該絶縁性フレキシブル基板1の表面に形成されたバイ
アス供給用電極、5は該絶縁性フレキシブル基板1の表
面に形成された接地用電極、6は高周波用電極3、接地
用電極5および絶縁性フレキシブル基板1から成る導波
路、8はバンブ、20はボンディング用1i体柱、21
は高周波用電極3と接地用電極5の短絡防止用開口部で
ある。
この実施例は、第8図に示すように高周波用電極3、接
地用′I3極5および絶縁性フレキシブル基板1から成
る導波路6の構造をマイクロストリップ路構造としたも
のである。このように導波路構造がマイクロストリップ
路構造であるため、高周波用電極3の裏面には接地用T
i極5が必ず形成されるので、第9図にポリように接地
用電極5の一部に開口部21を設け、高周波用電極3と
接地用電極5との短絡を防ぐ構造とした。
地用′I3極5および絶縁性フレキシブル基板1から成
る導波路6の構造をマイクロストリップ路構造としたも
のである。このように導波路構造がマイクロストリップ
路構造であるため、高周波用電極3の裏面には接地用T
i極5が必ず形成されるので、第9図にポリように接地
用電極5の一部に開口部21を設け、高周波用電極3と
接地用電極5との短絡を防ぐ構造とした。
この実施例での導波路形フィルムキャリアの製造方法、
ベアチップ半導体素子の導波路形フィルムキャリアへの
接続方法、導波路形フィルムキャリアの実装基板への接
続方法は第1の実施例とほぼ同様である。
ベアチップ半導体素子の導波路形フィルムキャリアへの
接続方法、導波路形フィルムキャリアの実装基板への接
続方法は第1の実施例とほぼ同様である。
マイクロストリップ線路の特性インピーダンスは、■フ
ィルムの誘電率、■フィルムの厚さ、■高周波用電極の
パターン幅、により決まる。ここでは、導波路形フィル
ムキャリアにおいて■高周波用電極のパターン幅を変え
て、インピーダンス的に整合を取った導波路形フィルム
キャリアを実現することが可能である。パターン変更は
、フォトマスクパターンの変更により対処は容易である
。
ィルムの誘電率、■フィルムの厚さ、■高周波用電極の
パターン幅、により決まる。ここでは、導波路形フィル
ムキャリアにおいて■高周波用電極のパターン幅を変え
て、インピーダンス的に整合を取った導波路形フィルム
キャリアを実現することが可能である。パターン変更は
、フォトマスクパターンの変更により対処は容易である
。
なお、実施例では、電極幅を変えていないのは、チップ
の入出力インピーダンスが一定と仮定したためである。
の入出力インピーダンスが一定と仮定したためである。
この実施例によれば前記した第1の実施例と同様、ベア
チップ半導体素子9と実装用基板12との間をインピー
ダンス的に整合を取った導波路6で接続し、しかもボン
ディング用導電体柱20を用いることで該導波路6をベ
アチップ半導体素子に電気的に直近で接続することがで
きるため、従来のワイヤ、リボン等による接続に比べて
高周波特性の改善が図れるとともに高密度にベアチップ
半導体装を可能にできる。また、ボンディング用1ff
i体柱20が該絶縁性フレキシブル基板1を貫通して形
成されているため、キャビラリーで与えられるボンディ
ングエネルギをボンディング用導電体柱からベアデツプ
半導体素子表面の電極パッド、実装用基板表面の電極等
の被接続部に容易に伝達でき、接続の信頼性を改善でき
る。
チップ半導体素子9と実装用基板12との間をインピー
ダンス的に整合を取った導波路6で接続し、しかもボン
ディング用導電体柱20を用いることで該導波路6をベ
アチップ半導体素子に電気的に直近で接続することがで
きるため、従来のワイヤ、リボン等による接続に比べて
高周波特性の改善が図れるとともに高密度にベアチップ
半導体装を可能にできる。また、ボンディング用1ff
i体柱20が該絶縁性フレキシブル基板1を貫通して形
成されているため、キャビラリーで与えられるボンディ
ングエネルギをボンディング用導電体柱からベアデツプ
半導体素子表面の電極パッド、実装用基板表面の電極等
の被接続部に容易に伝達でき、接続の信頼性を改善でき
る。
なお、上記した図示例では、高周波用ff113を構成
する導電体を絶縁性フレキシブル基板1の片面に形成し
ているが、これに代えて高周波用電極3の導電体を絶縁
性フレキシブル基板1の内部に形成してもよい。
する導電体を絶縁性フレキシブル基板1の片面に形成し
ているが、これに代えて高周波用電極3の導電体を絶縁
性フレキシブル基板1の内部に形成してもよい。
夫五■ユ
第10図は本発明の第3の実施例を説明する図であって
、複数のベアチップ半導体素子を接続する導波路形フィ
ルムキャリアの例である。図において符号1は絶縁性フ
レキシブル基板、3は該絶縁性フレキシブル基板1の表
面に形成された高周波用電極、4は該絶縁性フレキシブ
ル基板1の表面に形成されたバイアス供給用電極、5は
該絶縁性フレキシブル基板1の表面に形成された接地用
電極、6は導波路、20はボンディング用導電体柱であ
る。
、複数のベアチップ半導体素子を接続する導波路形フィ
ルムキャリアの例である。図において符号1は絶縁性フ
レキシブル基板、3は該絶縁性フレキシブル基板1の表
面に形成された高周波用電極、4は該絶縁性フレキシブ
ル基板1の表面に形成されたバイアス供給用電極、5は
該絶縁性フレキシブル基板1の表面に形成された接地用
電極、6は導波路、20はボンディング用導電体柱であ
る。
この実施例は複数のベアチップ半導体素子を接続するコ
プレーナ導波路形フィルムキャリアの例であり、高周波
用電極3、バイアス供給用電極4および接地用電極5が
複数組形成されている。本実施例の製造方法は第1の実
施例とほぼ同様である。また、複数のベアチップ半導体
素子(図示せず)を導波路形フィルムキャリアに接続・
実装するには、1つ1つのベアチップ半導体素子(図示
せず)を導波路形フィルムキャリアに第1の実施例で述
べた方法で接続・実装し、これを繰り返して行う。この
導波路形フィルムキャリアを実装用基板に接続・実装す
る方法は第1の実施例とほぼ同様に、第5図(b)、(
c)で示す2つの方法で実装される。
プレーナ導波路形フィルムキャリアの例であり、高周波
用電極3、バイアス供給用電極4および接地用電極5が
複数組形成されている。本実施例の製造方法は第1の実
施例とほぼ同様である。また、複数のベアチップ半導体
素子(図示せず)を導波路形フィルムキャリアに接続・
実装するには、1つ1つのベアチップ半導体素子(図示
せず)を導波路形フィルムキャリアに第1の実施例で述
べた方法で接続・実装し、これを繰り返して行う。この
導波路形フィルムキャリアを実装用基板に接続・実装す
る方法は第1の実施例とほぼ同様に、第5図(b)、(
c)で示す2つの方法で実装される。
この実施例Cも前記した第1.第2の実施例と同様の効
果が得られる。また、この実施例では、さらに導波路形
フィルムキャリアのパターンは通常のホトリソ技術で容
易に変更できるため、パッケージの統一化が容易である
等の利点も得られる。
果が得られる。また、この実施例では、さらに導波路形
フィルムキャリアのパターンは通常のホトリソ技術で容
易に変更できるため、パッケージの統一化が容易である
等の利点も得られる。
本発明の導波路形フィルムキャリアによれば、高周波用
電極、バイアス供給用電極等をボンディング用導電体柱
によってベアチップ半導体素子に電気的に接続すること
ができ、従来のワイヤ、リボン等を用いる接続に比べて
、上記導電体柱は絶縁性フレキシブル基板中に貫通され
たままであることから、機械的に強固な固定が実現でき
、また導電体柱同士が接触することもないため、高密度
実装が行なえる。
電極、バイアス供給用電極等をボンディング用導電体柱
によってベアチップ半導体素子に電気的に接続すること
ができ、従来のワイヤ、リボン等を用いる接続に比べて
、上記導電体柱は絶縁性フレキシブル基板中に貫通され
たままであることから、機械的に強固な固定が実現でき
、また導電体柱同士が接触することもないため、高密度
実装が行なえる。
また、高周波用電極と接地用電極および絶縁性フレキシ
ブル基板を組合せて導波路を構成する場合には、上記の
如く電極にボンディング用54電休柱が接続されて形成
されていることと相まって、導波路をベアチップ半導体
素子等に電気的に貞近に接続することができ、従来のワ
イヤ、リボン等による接続に比べて高周波特性の改善が
図れる。
ブル基板を組合せて導波路を構成する場合には、上記の
如く電極にボンディング用54電休柱が接続されて形成
されていることと相まって、導波路をベアチップ半導体
素子等に電気的に貞近に接続することができ、従来のワ
イヤ、リボン等による接続に比べて高周波特性の改善が
図れる。
さらに、高周波用電極、バイアス供給用電極および接地
用電極を複数粗石する場合には、マイクロ波デバイスの
マルチチップあるいは複数のベアチップ半導体素子を一
括して接続でき、作業性が非常に良くなる。また製造過
程において導波路形フィルムキレリアパターン変更が容
易であることから、マルチチップ実装用パッケージの統
一化も図れる。
用電極を複数粗石する場合には、マイクロ波デバイスの
マルチチップあるいは複数のベアチップ半導体素子を一
括して接続でき、作業性が非常に良くなる。また製造過
程において導波路形フィルムキレリアパターン変更が容
易であることから、マルチチップ実装用パッケージの統
一化も図れる。
また、導波路形フィルムキャリアをベアチップ半導体素
子等に接続するに際し、ボンディング用導電体柱の接続
面と反対面の面からキャビラリー等によって熱および、
また番、末超&波振動を加えるように行えば、容易に接
続が行なえる等の効果を有する。
子等に接続するに際し、ボンディング用導電体柱の接続
面と反対面の面からキャビラリー等によって熱および、
また番、末超&波振動を加えるように行えば、容易に接
続が行なえる等の効果を有する。
第1図は本発明の第1の実施例のコプレーナ尋波路形フ
ィルムキ1ノリアの上面図、第2図は高周波用電極部分
の導波路形フィルムキレリアの信号伝搬方向の断面図、
第3図はコプレーナ導波路を説明する斜視図、第4図(
a)〜(e)はボンディング用導電体柱のvlJ造工程
を説明する図、第5図(a)はベアデツプ半導体素子を
接続した場合の断面図、第5図(b)、(c)は実装用
基板に接続した場合の断面図、第6図は本発明用2の実
施例の脣波路形フィルムキトリアの1−面図、第7図は
高周波用電極部分の導波路形フィルムキャリアの信号伝
搬方向の断面図、第8図はマイクロストリップ線路の断
面図、第9図は高周波用電極接続づるボンディング用1
体柱と接地用電極との関係を説明する斜視図、第10図
は本発明用3の実施例の導波路形フィルムキャリアの上
面図である。 また、第11図、第12図はそれぞれ従来のフィルハキ
1/リアの上面図、断面図、第13図(a)はフィルム
キャリアにベアチップ半導体素子を接続した場合の断面
図、第13図(b)はフィルムキトリアを実装用基板に
接続した場合の断面図、第14図、第15図は先行技術
の導波路形フィルムキトリアの上面図、断面図である。 1・・・絶縁性フレキシブル基板、2・・・開口部、3
・・・高周波電極、4・・・バイアス供給用電極、5・
・・接地用電極、6・・・導波路、R・・・リード、7
・・・接着剤、8・・・バンブ、9・・・ベアチップ半
導体素子、10・・・電極パッド、11・・・キャビラ
リー、12・・・実装用基板、13・・・電極、14・
・・接続部、15・・・第2の開口部、16・・・導電
体膜、17・・・レジスト膜、18・・・レジスト膜に
おける開口部、19・・・貫通孔、20・・・導電体柱
、21・・・高周波用電極と接地用ミルの短絡防止用開
口部。 第1図 第2図 ニー二二=コ 第3図 t;inす*ybey゛x4jix− 3;纂I!1波用電極 4 : ノs−477’flE 1?臼−Mtri、%
5;樗氾用電場 6;導遠務 20;ホーシテねり°“l!l導31オ土第5図 1:車ピ」ヨにフレ+シフ゛’JL基不吸3;高周浪/
?’lt極 4;バイアス4史冶用」奏i 5;中暫之序I5七に 6;導じ皮路 20:片γ;つビ≧〕り°°月5導4タイ$1ヨL第6
図 第7図 第8図 @9図 1;1e景東7レキシフール基す( 5コ#士+=m弯(1金i 6;善兼1番 20;〕T;:、↑゛イン7”m4を体1ゴ一(b)
ィルムキ1ノリアの上面図、第2図は高周波用電極部分
の導波路形フィルムキレリアの信号伝搬方向の断面図、
第3図はコプレーナ導波路を説明する斜視図、第4図(
a)〜(e)はボンディング用導電体柱のvlJ造工程
を説明する図、第5図(a)はベアデツプ半導体素子を
接続した場合の断面図、第5図(b)、(c)は実装用
基板に接続した場合の断面図、第6図は本発明用2の実
施例の脣波路形フィルムキトリアの1−面図、第7図は
高周波用電極部分の導波路形フィルムキャリアの信号伝
搬方向の断面図、第8図はマイクロストリップ線路の断
面図、第9図は高周波用電極接続づるボンディング用1
体柱と接地用電極との関係を説明する斜視図、第10図
は本発明用3の実施例の導波路形フィルムキャリアの上
面図である。 また、第11図、第12図はそれぞれ従来のフィルハキ
1/リアの上面図、断面図、第13図(a)はフィルム
キャリアにベアチップ半導体素子を接続した場合の断面
図、第13図(b)はフィルムキトリアを実装用基板に
接続した場合の断面図、第14図、第15図は先行技術
の導波路形フィルムキトリアの上面図、断面図である。 1・・・絶縁性フレキシブル基板、2・・・開口部、3
・・・高周波電極、4・・・バイアス供給用電極、5・
・・接地用電極、6・・・導波路、R・・・リード、7
・・・接着剤、8・・・バンブ、9・・・ベアチップ半
導体素子、10・・・電極パッド、11・・・キャビラ
リー、12・・・実装用基板、13・・・電極、14・
・・接続部、15・・・第2の開口部、16・・・導電
体膜、17・・・レジスト膜、18・・・レジスト膜に
おける開口部、19・・・貫通孔、20・・・導電体柱
、21・・・高周波用電極と接地用ミルの短絡防止用開
口部。 第1図 第2図 ニー二二=コ 第3図 t;inす*ybey゛x4jix− 3;纂I!1波用電極 4 : ノs−477’flE 1?臼−Mtri、%
5;樗氾用電場 6;導遠務 20;ホーシテねり°“l!l導31オ土第5図 1:車ピ」ヨにフレ+シフ゛’JL基不吸3;高周浪/
?’lt極 4;バイアス4史冶用」奏i 5;中暫之序I5七に 6;導じ皮路 20:片γ;つビ≧〕り°°月5導4タイ$1ヨL第6
図 第7図 第8図 @9図 1;1e景東7レキシフール基す( 5コ#士+=m弯(1金i 6;善兼1番 20;〕T;:、↑゛イン7”m4を体1ゴ一(b)
Claims (4)
- (1)絶縁性フレキシブル基板と、該絶縁性フレキシブ
ル基板表裏面あるいは内部に形成された高周波用電極、
バイアス供給用電極および接地用電極と、それら電極と
接続されて前記絶縁性フレキシブル基板を貫通して形成
されたボンディング用導電体柱とから構成されたことを
特徴とする導波路形フィルムキャリア。 - (2)前記絶縁性フレキシブル基板、高周波用電極、バ
イアス供給用電極および接地用電極のうち、少なくとも
高周波信号伝搬に寄与する高周波用電極と接地用電極お
よび絶縁性フレキシブル基板とを組合せて導波路とした
ことを特徴とする請求項1記載の導波路形フィルムキャ
リア。 - (3)前記絶縁性フレキシブル基板には、高周波用電極
、バイアス供給用電極および接地用電極が複数組形成さ
れていることを特徴とする請求項1記載の導波路形フィ
ルムキャリア。 - (4)ベアチップ半導体素子、実装用基板等の被接続物
と接続せしめる、絶縁性フレキシブル基板を貫通するボ
ンディング用導電体柱の接続面と反対側の面からキャビ
ラリー等の連結用治具によって熱および、または超音波
振動を加えることにより、導波路形フィルムキャリアと
ベアチップ半導体素子、実装用基板等の被接続物と接続
させることを特徴とする導波路形フィルムキャリアの端
子接続方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63099616A JP2532126B2 (ja) | 1988-04-22 | 1988-04-22 | 導波路形フィルムキャリアおよびその端子接続方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63099616A JP2532126B2 (ja) | 1988-04-22 | 1988-04-22 | 導波路形フィルムキャリアおよびその端子接続方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01270326A true JPH01270326A (ja) | 1989-10-27 |
JP2532126B2 JP2532126B2 (ja) | 1996-09-11 |
Family
ID=14252025
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63099616A Expired - Lifetime JP2532126B2 (ja) | 1988-04-22 | 1988-04-22 | 導波路形フィルムキャリアおよびその端子接続方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2532126B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03235403A (ja) * | 1990-02-09 | 1991-10-21 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | ハイブリット型マイクロ波集積回路装置 |
JPH0936616A (ja) * | 1995-07-13 | 1997-02-07 | Mitsubishi Electric Corp | マイクロ波回路装置 |
JPH1116957A (ja) * | 1997-06-24 | 1999-01-22 | Hitachi Cable Ltd | Tab用テープキャリアの製造方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62199023A (ja) * | 1986-02-27 | 1987-09-02 | Toshiba Corp | 半導体装置の実装方法 |
-
1988
- 1988-04-22 JP JP63099616A patent/JP2532126B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
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