JPS6271301A - マイクロ波集積回路装置 - Google Patents
マイクロ波集積回路装置Info
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- Power Engineering (AREA)
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- Microwave Amplifiers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、マイクロ波帯あるいはミリ波帯の通信機やレ
ーダー等に用いられるマイクロ波集積回路装置に関する
ものである。
ーダー等に用いられるマイクロ波集積回路装置に関する
ものである。
従来の技術
近年、マイクロ波帯あるいはミリ波帯の通信機やレーダ
ー等は、従来の導波管による構成から誘電体基板上に形
成したマイクロストリップラインを伝送路として用いる
マイクロ波集積回路に置き替わりつつある。マイクロ波
集積回路によって増幅器あるいは発振器等を構成する場
合、トランジスタあるいはダイオード等の半導体素子を
誘電体基板上に装置し、マイクロストリンブラインと電
気的に接続する必要がある。この際、ケース入りの半導
体素子を用いるよりはチップ素子を基板に付着させ、チ
ップ素子の電極とマイクロストリレブラインをボンディ
ングワイヤーによって直接接続するほうが小型化、高効
率化、高倍転性等、装置の高性能化に有利である。
ー等は、従来の導波管による構成から誘電体基板上に形
成したマイクロストリップラインを伝送路として用いる
マイクロ波集積回路に置き替わりつつある。マイクロ波
集積回路によって増幅器あるいは発振器等を構成する場
合、トランジスタあるいはダイオード等の半導体素子を
誘電体基板上に装置し、マイクロストリンブラインと電
気的に接続する必要がある。この際、ケース入りの半導
体素子を用いるよりはチップ素子を基板に付着させ、チ
ップ素子の電極とマイクロストリレブラインをボンディ
ングワイヤーによって直接接続するほうが小型化、高効
率化、高倍転性等、装置の高性能化に有利である。
以下、図面に従って従来の半導体チップ素子とマイクロ
ストリップラインのボンディングワイヤーの接続構造に
ついて説明する。第3図は従来のマイクロ波集積回路に
おいて半導体チップ素子を付着させ、半導体チップ素子
の電極とマイクロストリップラインをボンディングワイ
ヤーによって電気的に接続した場合の斜視図、第4図は
断面図を示す、ここで、14は誘電体基板、15は誘電
体基板の裏面全面に金属薄膜を密着させて形成したアー
ス面、10は誘電体基板の表面の一部に金属薄膜を密着
させて形成したマイクロストリップライン、11は半導
体チップ素子、13はボンディングワイヤー、12は半
導体チップ素子の電極をあられしている。これらの構成
は、例えば電子技術臨時増刊号(マイクロ接合技術58
年7月号)にも見られる。
ストリップラインのボンディングワイヤーの接続構造に
ついて説明する。第3図は従来のマイクロ波集積回路に
おいて半導体チップ素子を付着させ、半導体チップ素子
の電極とマイクロストリップラインをボンディングワイ
ヤーによって電気的に接続した場合の斜視図、第4図は
断面図を示す、ここで、14は誘電体基板、15は誘電
体基板の裏面全面に金属薄膜を密着させて形成したアー
ス面、10は誘電体基板の表面の一部に金属薄膜を密着
させて形成したマイクロストリップライン、11は半導
体チップ素子、13はボンディングワイヤー、12は半
導体チップ素子の電極をあられしている。これらの構成
は、例えば電子技術臨時増刊号(マイクロ接合技術58
年7月号)にも見られる。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、上記のような構成では、ボンディングワ
イヤー13はマイクロストリップライン10の上に直接
ボンディングすることによって半導体チップ素子11と
電気的に接続されているので、その長さは半導体チップ
素子11の高さを考慮して設定しなければならない。
イヤー13はマイクロストリップライン10の上に直接
ボンディングすることによって半導体チップ素子11と
電気的に接続されているので、その長さは半導体チップ
素子11の高さを考慮して設定しなければならない。
加えてマイクロストリップライン10へのボンディング
を半導体チップ素子11の近傍に行なうことができない
場合はボンディングワイヤー13の長さは橿めて長くな
り、ボンディングワイヤ−13自体のインダクタンスお
よび漂遊容量が大きくなるので、回路の動作に悪影響を
及ぼすようになる。
を半導体チップ素子11の近傍に行なうことができない
場合はボンディングワイヤー13の長さは橿めて長くな
り、ボンディングワイヤ−13自体のインダクタンスお
よび漂遊容量が大きくなるので、回路の動作に悪影響を
及ぼすようになる。
本発明は上記問題点に鑑み、半導体チップ素子とマイク
ロストリップラインを極めて短いボンデインクワイヤー
によって接続することのできるマイクロ波集積回路装置
を提供するものである。
ロストリップラインを極めて短いボンデインクワイヤー
によって接続することのできるマイクロ波集積回路装置
を提供するものである。
問題点を解決するための手段
上記問題点を解決するため、本発明のマイクロ波集積回
路装置は、誘電体基板の一面の全面に金属薄膜を密着さ
せたアース面と、前記誘電体基板の他面の一部に金属薄
膜を密着させたマイクロストリップラインと、このマイ
クロストリップラインの近傍に設けた前記誘電体基板を
貫通する貫通孔と、この貫通孔内に前記アース面が面が
一致するように置かれた金属片と、この金属片上に置か
れた半導体チップ素子を有し、この半導体チップ素子と
前記金属片を導電性の接着剤を用いて前記誘電体基板に
固定し、前記半導体チップ素子の電極と前記マイクロス
トリップラインとを電気的に接続した1本または複数本
のボンディングワイヤーとからなる手段を用いた。
路装置は、誘電体基板の一面の全面に金属薄膜を密着さ
せたアース面と、前記誘電体基板の他面の一部に金属薄
膜を密着させたマイクロストリップラインと、このマイ
クロストリップラインの近傍に設けた前記誘電体基板を
貫通する貫通孔と、この貫通孔内に前記アース面が面が
一致するように置かれた金属片と、この金属片上に置か
れた半導体チップ素子を有し、この半導体チップ素子と
前記金属片を導電性の接着剤を用いて前記誘電体基板に
固定し、前記半導体チップ素子の電極と前記マイクロス
トリップラインとを電気的に接続した1本または複数本
のボンディングワイヤーとからなる手段を用いた。
作用
上記手段において、マイクロストリップラインは半導体
チップ素子への回路上の配線を行っている。マイクロ波
はインダクタンス等の悪影響を受けやすいので、半導体
チップ素子とマイクロストリップラインとを電気的に接
続する場合、ボンディングワイヤーはできるだけ短くす
るのがよい。
チップ素子への回路上の配線を行っている。マイクロ波
はインダクタンス等の悪影響を受けやすいので、半導体
チップ素子とマイクロストリップラインとを電気的に接
続する場合、ボンディングワイヤーはできるだけ短くす
るのがよい。
本発明では半導体チップ素子は誘電体基板内に埋め込ま
れた状態で固定され、かつ半導体素子表面と誘電体基板
表面をほぼ一致させることができるので、ボンティング
ワイヤーは水平距離だけを考えて結線すればよく、最短
距離の結線ができ、インダクタンスや漂誘容量を小さく
することができる。
れた状態で固定され、かつ半導体素子表面と誘電体基板
表面をほぼ一致させることができるので、ボンティング
ワイヤーは水平距離だけを考えて結線すればよく、最短
距離の結線ができ、インダクタンスや漂誘容量を小さく
することができる。
実施例
以下、本発明のマイクロ波集積回路装置の一実施例につ
いて、図面に従って説明する。第1図はマイクロ波集積
回路装置の斜視図、第2図は断面図を示す、ここで、8
は誘電体基板、9は誘電体基板の一面全面に金属薄膜を
密着させて形成したアース面、1は誘電体基板の他面の
一部に金属薄膜を密着させて形成したマイクロストリッ
プライン、3は半導体チップ素子、4は半導体チップ素
子の電極、5はボンディングワイヤー、6は金属片であ
る。誘電体基板8にあけられた貫通孔2の形状は、半導
体チップ素子3が入れば任意の形状でよいが、金属片6
は金属片と誘電体基板8との間のすきま16ができるだ
け小さくなるように形状を決める。半導体チップ素子3
と金属片6は導電性接着剤7によって誘電体基板8に固
定される。
いて、図面に従って説明する。第1図はマイクロ波集積
回路装置の斜視図、第2図は断面図を示す、ここで、8
は誘電体基板、9は誘電体基板の一面全面に金属薄膜を
密着させて形成したアース面、1は誘電体基板の他面の
一部に金属薄膜を密着させて形成したマイクロストリッ
プライン、3は半導体チップ素子、4は半導体チップ素
子の電極、5はボンディングワイヤー、6は金属片であ
る。誘電体基板8にあけられた貫通孔2の形状は、半導
体チップ素子3が入れば任意の形状でよいが、金属片6
は金属片と誘電体基板8との間のすきま16ができるだ
け小さくなるように形状を決める。半導体チップ素子3
と金属片6は導電性接着剤7によって誘電体基板8に固
定される。
この場合、すきま16を小さくすることによって接着剤
が外部にはみでることを防ぐと共に接着強度を高めてい
る。半導体チップ素子3の高さが、誘電体基板8の厚さ
よりも小さい場合には、金属片6の高さを加減すること
によって、半導体チップ素子の表面を誘電体基板の表面
とほぼ一致させることができる。
が外部にはみでることを防ぐと共に接着強度を高めてい
る。半導体チップ素子3の高さが、誘電体基板8の厚さ
よりも小さい場合には、金属片6の高さを加減すること
によって、半導体チップ素子の表面を誘電体基板の表面
とほぼ一致させることができる。
以上のように本実施例によれば、マイクロストリップラ
イン1と半導体チップ素子の電極4はほぼ同一平面上に
並べることができる。従って、半導体チップ素子3とマ
イクロストリップライン1との間隔を小さくすることに
よって半導体チップ素子3と掻めて隣接してボンディン
グすることができ、ボンディングワイヤーの長さを短く
することができる。すなわち、ボンディングワイヤー5
のインダクタンスおよび漂遊容量が従来に比較して極め
て小さくなるので、回路をより理想的な状態で動作させ
ることが可能となる。
イン1と半導体チップ素子の電極4はほぼ同一平面上に
並べることができる。従って、半導体チップ素子3とマ
イクロストリップライン1との間隔を小さくすることに
よって半導体チップ素子3と掻めて隣接してボンディン
グすることができ、ボンディングワイヤーの長さを短く
することができる。すなわち、ボンディングワイヤー5
のインダクタンスおよび漂遊容量が従来に比較して極め
て小さくなるので、回路をより理想的な状態で動作させ
ることが可能となる。
尚、上記実施例においてはいずれも半導体チップ素子3
とマイクロストリップライン1とを接続するボンディン
グワイヤー5は1本のみで表現されているが、それぞれ
の接続について2本以上の本数としてもよい、ボンディ
ングワイヤーの数をふやした場合には、さらにインダク
タンスを減らすごとができ、高効率化を図ることができ
る。
とマイクロストリップライン1とを接続するボンディン
グワイヤー5は1本のみで表現されているが、それぞれ
の接続について2本以上の本数としてもよい、ボンディ
ングワイヤーの数をふやした場合には、さらにインダク
タンスを減らすごとができ、高効率化を図ることができ
る。
発明の効果
以上のように本発明は、半導体チップ素子をマイクロス
トリップラインに隣接して誘電体基板内に埋め込まれた
状態で固定してボンディングワイヤーの両端をボンディ
ングしているので、半導体チップ素子の高さに応じて長
めのボンディングワイヤーを使用するという必要がなく
、半導体チップ素子とマイクロストリップラインを極め
て短いボンディングワイヤーによって接続できる。従っ
て、ボンディングワイヤーによるインダクタンスおよび
漂遊容量を掻めて小さな値にして悪影響を防止すること
ができるので、回路の動作が安定し、且つ回路性能の高
いマイクロ波集積回路装置を提供することができた。
トリップラインに隣接して誘電体基板内に埋め込まれた
状態で固定してボンディングワイヤーの両端をボンディ
ングしているので、半導体チップ素子の高さに応じて長
めのボンディングワイヤーを使用するという必要がなく
、半導体チップ素子とマイクロストリップラインを極め
て短いボンディングワイヤーによって接続できる。従っ
て、ボンディングワイヤーによるインダクタンスおよび
漂遊容量を掻めて小さな値にして悪影響を防止すること
ができるので、回路の動作が安定し、且つ回路性能の高
いマイクロ波集積回路装置を提供することができた。
第1図は本発明の一実施例のマイクロ波集積回路装置の
斜視図、第2図は第1図の断面図、第3図は従来例の斜
視図、第4図は第3図の断面図である。 ■・・・・・・マイクロストリップライン、3・・・・
・・半導体チップ素子、4・・・・・・半導体チップ素
子の電極、5・・・・・・ボンディングワイヤー、6・
・・・・・金属片、7・・・・・・導電性接着剤、8・
・・・・・誘電体基板、9・・・・・・アース。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第2図
5
斜視図、第2図は第1図の断面図、第3図は従来例の斜
視図、第4図は第3図の断面図である。 ■・・・・・・マイクロストリップライン、3・・・・
・・半導体チップ素子、4・・・・・・半導体チップ素
子の電極、5・・・・・・ボンディングワイヤー、6・
・・・・・金属片、7・・・・・・導電性接着剤、8・
・・・・・誘電体基板、9・・・・・・アース。 代理人の氏名 弁理士 中尾敏男 ほか1名第2図
5
Claims (1)
- 誘電体基板の一面の全面に金属薄膜を密着させたアー
ス面と、前記誘電体基板の他面の一部に金属薄膜を密着
させたマイクロストリップラインと、このマイクロスト
リップラインの近傍に設けた前記誘電体基板を貫通する
貫通孔と、この貫通孔内に前記アース面と面が一致する
ように置かれた金属片と、この金属片上に置かれた半導
体チップ素子を有し、この半導体チップ素子と前記金属
片を導電性の接着剤を用いて前記誘電体基板に固定し、
前記半導体チップ素子の電極と前記マイクロストリップ
ラインとを1本または複数本のボンディングワイヤーに
よって電気的に接続したことを特徴とするマイクロ波集
積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60211455A JPS6271301A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | マイクロ波集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60211455A JPS6271301A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | マイクロ波集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6271301A true JPS6271301A (ja) | 1987-04-02 |
Family
ID=16606223
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60211455A Pending JPS6271301A (ja) | 1985-09-25 | 1985-09-25 | マイクロ波集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6271301A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03286611A (ja) * | 1990-04-03 | 1991-12-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 高周波増幅器 |
FR2764116A1 (fr) * | 1997-06-03 | 1998-12-04 | Telecommunications Sa | Dispositif de connexion et protection de circuit micro-electronique hyperfrequence |
EP1274149A3 (en) * | 2001-07-05 | 2003-10-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Radio frequency circuit manufacturing method and radio frequency circuit |
US7196909B2 (en) | 2003-02-04 | 2007-03-27 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | AC coupling circuit having a large capacitance and a good frequency response |
US8866312B2 (en) | 2011-02-25 | 2014-10-21 | Fujitsu Limited | Semiconductor apparatus, method for manufacturing the same and electric device |
-
1985
- 1985-09-25 JP JP60211455A patent/JPS6271301A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03286611A (ja) * | 1990-04-03 | 1991-12-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 高周波増幅器 |
FR2764116A1 (fr) * | 1997-06-03 | 1998-12-04 | Telecommunications Sa | Dispositif de connexion et protection de circuit micro-electronique hyperfrequence |
EP1274149A3 (en) * | 2001-07-05 | 2003-10-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Radio frequency circuit manufacturing method and radio frequency circuit |
US7196909B2 (en) | 2003-02-04 | 2007-03-27 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | AC coupling circuit having a large capacitance and a good frequency response |
US8866312B2 (en) | 2011-02-25 | 2014-10-21 | Fujitsu Limited | Semiconductor apparatus, method for manufacturing the same and electric device |
US9177938B2 (en) | 2011-02-25 | 2015-11-03 | Fujitsu Limited | Method for manufacturing semiconductor apparatus |
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