JPH01238317A - 並列型エラーカウンタ回路 - Google Patents

並列型エラーカウンタ回路

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JPH01238317A
JPH01238317A JP6620388A JP6620388A JPH01238317A JP H01238317 A JPH01238317 A JP H01238317A JP 6620388 A JP6620388 A JP 6620388A JP 6620388 A JP6620388 A JP 6620388A JP H01238317 A JPH01238317 A JP H01238317A
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JP
Japan
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error
circuit
counter circuit
simultaneous
error counter
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Pending
Application number
JP6620388A
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English (en)
Inventor
Yukio Suda
幸夫 須田
Akira Nozawa
晃 野澤
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 並列化して伝送されてくるエラーデータビットを簡易な
回路構成にて計数する並列型エラーカウンタ回路に関し
、 少ないIC基本論理ゲート数で構成することが可能な並
列型エラーカウンタ回路を提供することを目的とし、 並列エラーデータのうちの一方だけに発生したエラービ
ットを計数するリングカウンタ型の片側エラー計数手段
と、並列エラーデータの両方に同時に発生したエラーを
計数するリングカウンタ型の同時エラー計数手段と、片
側エラー計数手段と同時エラー計数手段の各計数値の状
態を論理演算し、所定計数値以上の場合にアラームを発
生する論理手段とを備え構成する。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、並列化して伝送されてくるエラーデータビッ
トを簡易な回路構成にて計数する並列型エラーカウンタ
回路に関する。
例えば、伝送装置等で処理されるデータや信号を伝送回
線を通じて伝送する場合、それまでの直列データから並
列データに変換して伝送するのが一般的である。
このように処理されるデータや信号は、一定の品質を維
持して伝送処理される必要があり、そのためにはエラー
発生状況を監視して一定以上のエラーが発生していれば
、再度送り直す等の対策を施す必要がある。
特に、伝送回線上を伝送する場合には、例えば外部から
混入する雑音等によりエラーが発生しやすく、この並列
データのエラービットを監視するエラーカウンタが付加
されており、かかるエラーカウンタはその装置の設置ス
ペース上の制限により、小型化されたものが要求される
〔従来の技術〕
第6図は従来例を説明するブロック図、第7図は従来例
におけるエラー計数組み合わせ状況を説明する図をそれ
ぞれ示す。
第6図に示す従来例は並列の第1のエラーデータ■と第
2のエラーデータ■との合計が15ビット以上の時、ア
ラーム■を発生する並列型エラーカウンタ回路であり、
エラー検出が最も容易に調査出来るものの1つとして、
従来多く使用されている。
即ち、第6図の従来例はシフトレジスタ形の並列型エラ
ーカウンタ回路であり、符号1 (1)〜1(15)は
第1のエラーデータ■を計数するシフトレジスタを構成
するD型フリップフロンプ回路(以下D−F、F回路と
称する)、 符号2(1)〜2(15)は第2のエラーデータ■を計
数するシフトレジスタを構成するD−F。
F回路、 符号3 (1)〜3(14)はD−F、F回路1(1)
〜1  (14)、2 (1)〜2(14)内容正出力
を論理積する論理積回路(以下AND回路と称する)、 符号4はAND回路3(1)〜3(14)の出力及び最
終段のD−F、F回路1(15)、2(15)の正出力
を含めた16人力を否定論理和する否定論理和回路(以
下NOR回路と称する)、符号5及び6は第1のエラー
データ■及び第2のエラーデータ■のD−F、F回路1
 (1)〜1(15)、2 (1)〜2(15)に対す
るシフトタイミングを取る論理和回路(以下OR回路と
称する)からなっている。
尚、クロックCLKは第1のエラーデータ■及び第2の
エラーデータ■をデータビット毎にシフトするための信
号であり、タイミング信号■は所定周期毎に発生する信
号で、これらは図示省略した内部の信号発生回路からの
信号をもとにして生成される。
第1のエラーデータ■と第2のエラーデータ■のエラー
の組み合わせは第7図に示す通り、エラービットが15
ビット以上の組み合わせの場合、16通りの組み合わせ
が考えられる。
即ち、第1のエラーデータ■のエラービットが10″で
第2のエラーデータ■のエラービットが15″の場合か
ら、第1のエラーデータ■のエラービットが“15”で
第2のエラーデータ■のエラービットが0”の場合まで
の16通りである。
AND回路3 (1)〜3(14)は、第7図の組み合
わせの最初と最後を除いた14通りの条件をD−F、F
回路1(1)〜1(14)とD−F。
F回路2(1)〜2(14)内容正出力を論理積してい
る。
即ち、第7図に示すようにAND回路3 (1)はD−
F、F回路1 (1)とD−F、F回路2(14)の正
出力を論理積し、AND回路3 (2)はD−F、F回
路1 (2)とD−F、F回路2(13)の正出力を論
理積し、最後のAND回路3(14)はD−F、F回路
1(14)とD−F、F回路2(1)の正出力を論理積
している。
NOR回路4はこれらAND回路3 (1)〜3(14
)の出力と、D−F、F回路1(15)とD−F、F回
路2(15)の正出力とを否定論理和して、その結果が
“1”の場合は15ビット以内のエラービットとして正
常とし、′0″の場合は15ビット以上のエラービット
が発生しているとしてアラームを、図示省略している例
えば監視盤へ送出する。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述のように並列型エラーカウンタ回路はその処理過程
を容易に把握出来ると言う特徴を有するが、カウント数
の2倍のD−F、F回路を必要とする。
このD−F、F回路は7IC基本論理ゲートを必要とし
、カウント数が増加(但し、2倍以内)するに伴い2X
7 IC基本論理ゲートずつ必要となる。
尚、第6図に示す従来例は253IC基本論理ゲートを
必要とする。
本発明は、少ないIC基本論理ゲート数で構成すること
が可能な並列型エラーカウンタ回路を提供することを目
的とする。
〔課題を解決するための手段〕
第1図は本発明の詳細な説明するブロック図を示す。
第1図に示す本発明の原理ブロック図中の10は並列エ
ラーデータのうちの一方だけに発生したエラービットを
計数するリングカウンタ型の片側エラー計数手段であり
、 20は並列エラーデータの両方に同時に発生したエラー
ビットを計数するリングカウンタ型の同時エラー計数手
段であり、 30は片側エラー計数手段10と同時エラー計数手段2
0の各計数値の状態を論理演算して所定計数値以上の場
合にアラームを発生する論理手段であり、かかる手段を
具備することにより本問題点を解決するための手段とす
る。
〔作 用〕
第1のエラーデータの又は第2のエラーデータ■に単独
に発生するエラービットの計数は、片側エラー計数手段
10で行い、第1のエラーデータ■と第2のエラーデー
タ■とが同時に発生するエラービットの計数は、同時エ
ラー計数手段20で行い、片側エラー計数手段10と同
時エラー計数手段20との組み合わせを論理手段30で
論理演算することにより、全体のエラーを計数するよう
に構成することで、IC基本論理ゲート数を大幅に削減
することが可能となる。
〔実施例〕
以下本発明の要旨を第2図〜第5図に示す実施例により
具体的に説明する。
第2図は本発明の詳細な説明するブロック図、第3図は
本発明の実施例における全体のタイムチャートを説明す
る図、第4図は本発明の実施例における計数手段のタイ
ムチャートを説明する図、第5図は本発明の実施例にお
けるエラー計数組み合わせ状況を説明する図をそれぞれ
示す。尚、全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。
第2図に示す本発明の実施例はエラーカウント数が第6
図と同様に15ビット以上の場合アラームとなる場合で
あり、 本実施例の構成は、第1図で説明した片側エラー計数手
段10として、4つのDLF、F回路10(1)〜10
(4)と3つのOR回路11(1)〜11(3)からな
るリングカウンタを形成する片側エラーカウンタ回路1
0a、 同時エラー計数手段20として、同じく4つのD−F、
F回路20(1)〜20 (4)と3つのOR回路2H
1)〜21 (3)からなるリングカウンタを形成する
同時エラーカウンタ回路20a、 論理手段30として、9つのNAND回路30(1)〜
30 (8) 、 31と1つのJK−F、F回路32
からなる論理部30aから構成した例である。
尚、本実施例の並列型エラーカウンタ回路は、上述の機
能ブロック10a、20a、30aの他に第1のエラー
データ■と第2のエラーデータ■を排他的否定論理和す
るEX−NOR回路40と、2つのOR回路50.60
と、タイミング信号■とリセット信号R3Tとを論理積
するAND回路70とを具備している。
第1のエラーデータ■と第2のエラーデータ■へ発生す
るエラービットの状況は、第3図に示す状態とする。
即ち、エラービットE7とE8.E9とElo。
E19とEgo、E21とE22.E25とEgoは、
同時に“L”に変化しているためEX−NOR回路40
の出力は変化せず、片側エラーカウンタ回路10aは動
作しない。
一方この時、OR回路60の入力は同時に“L”に変化
しているため、その出力に“L”への変化部分が出来、
同時エラーカウンタ回路20aがカウント動作を行う。
上記以外のエラービットはそれぞれ第1のエラーデータ
■と第2のエラーデータ■の一方だけで発生しているこ
とになるため、OR回路50の出力が“L”に変化し、
片側エラーカウンタ回路10aのカウント動作を第3図
のように行う。
尚、片側エラーカウンタ回路10aと同時エラーカウン
タ回路20aの各D−F、F回路10(1)〜10(4
) 、 20(1)〜20 (3)の正出力の状態を(
1)〜(7)、D−F、F回路20 (4)の負出力の
状態を(8)で表示すると、カウント動作した時のその
状態は第4図に示す通りとなる。
即ち、第4図(A)は片側エラーカウンタ回路10aの
カウント動作状況であり、第4図(B)は同時エラーカ
ウンタ回路20aのカウント動作状況である。
又、上段に示す数値O〜16はエラービット数であり、
符号(a)〜(1)は、片側エラーカウンタ回路10a
と同時エラーカウンタ回路20aの各状態(1)〜(7
)をNAND回路30(1)〜30(8)にてNAND
した時の出力状態を示す。
更に、第5図は片側エラーカウンタ回路10aと同時エ
ラーカウンタ回路20aにおける各状態(11〜(8)
を、NAND回路30 (1)〜30(8)にてNAN
Dした時の出力(a)〜(ilを全体のエラービット数
としてカウント子るために、NAND回路31でNAN
Dする時のエラーの組み合わせを示す。
即ち、出力(alは同時エラーカウンタ回路20aだけ
で15ビツト以上のエラーをカウントした時であり、出
力(1)は片側エラーカウンタ回路10aだけで15ビ
ツト以上のエラーをカウントした時であり、出力(b)
は同時エラーカウンタ回路20aで14ビツト、片側エ
ラーカウンタ回路10aで1ビット以上をカウントした
時の状態である。
尚、第4図に示す出力(a)〜(1)はこの組み合わせ
に応じたエラービット数の状態へ付加表示したものであ
る。即ち、状態(2)がエラー数1ないし2で変化した
場合のNANDは、NAND回路30(1)にて行う。
又、状態(8)が変化した場合は、D−F、F回路20
(4)の負出力が直接NAND回路31へ送出される。
NAND回路30(1)〜30 (8)は入力が全て“
H”の時“L”を出力し、一方NAND回路31は入力
が全て“H”の時“L”を出力し、入力のうち何れか1
が“L”であれば“H”を出力する。
次に、NAND回路31の出力が“L”から“H”にな
ると、JK−F、F回路32の負出力が“H”からL”
になり、15以上のエラービットの発生を図示省略した
監視盤等へ通知する。
上述のようにリングカウンタを基に並列エラーカウンタ
回路を構成した場合に必要とするIC基本論理ゲートは
、121個である。従って、第6図で説明したシフトレ
ジスタを基にした場合の253個に対して約1/2のI
C基本論理ゲート数で構成することが可能となる。
〔発明の効果〕
以上のような本発明によれば、少数のIC基本論理ゲー
ト数で構成することが出来る並列エラーカウンタ回路を
提供することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の詳細な説明するブロック図、第2図は
本発明の詳細な説明するブロック図、第3図は本発明の
実施例における全体のタイムチャートを説明する図、 第4図は本発明の実施例における計数手段のタイムチヤ
ードを説明する図、 第5図は本発明の実施例におけるエラー計数組み合わせ
状況を説明する図、 第6図は従来例を説明するブロック図、第7図は従来例
におけるエラー計数組み合わせ状況を説明する図、 をそれぞれ示す。 図において、 1(1)〜1 (15) 、 2(1)〜2 (15)
 、 10 (1)〜10(4) 、20(1)〜20
 (4)はD−F、F回路、 3(1)〜3(14)、70はAND回路、4はNOR
回路、 5.6.IHI)〜lN5)、2H1)〜21 (3)
 、 50 、60はOR回路、 10は片側エラー計数手段、 10aは片側エラーカウンタ回路、 20は同時エラー計数手段、 20aは同時エラーカウンタ回路、 30は論理手段、   30aは論理部、30(1)〜
30(8)、31はNANDAND回路はJK−F、F
回路、40はEX−NOR回路、第111! 第4図 第5図 第7図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 並列化されたエラーデータを計数する並列型エラーカウ
    ンタ回路であって、 並列エラーデータのうちの一方だけに発生したエラービ
    ットを計数するリングカウンタ型の片側エラー計数手段
    (10)と、 前記並列エラーデータの両方に同時に発生したエラーを
    計数するリングカウンタ型の同時エラー計数手段(20
    )と、 前記片側エラー計数手段(10)と同時エラー計数手段
    (20)の各計数値の状態を論理演算し、所定計数値以
    上の場合にアラームを発生する論理手段(30)とを備
    えることを特徴とする並列型エラーカウンタ回路。
JP6620388A 1988-03-18 1988-03-18 並列型エラーカウンタ回路 Pending JPH01238317A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6620388A JPH01238317A (ja) 1988-03-18 1988-03-18 並列型エラーカウンタ回路

Applications Claiming Priority (1)

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JP6620388A JPH01238317A (ja) 1988-03-18 1988-03-18 並列型エラーカウンタ回路

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JPH01238317A true JPH01238317A (ja) 1989-09-22

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ID=13309046

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JP6620388A Pending JPH01238317A (ja) 1988-03-18 1988-03-18 並列型エラーカウンタ回路

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JP (1) JPH01238317A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8143901B2 (en) 2008-05-30 2012-03-27 Fujitsu Limited Test apparatus, test method, and integrated circuit

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US8143901B2 (en) 2008-05-30 2012-03-27 Fujitsu Limited Test apparatus, test method, and integrated circuit

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