JPH09245494A - カスケード動作用半導体集積回路 - Google Patents

カスケード動作用半導体集積回路

Info

Publication number
JPH09245494A
JPH09245494A JP8049311A JP4931196A JPH09245494A JP H09245494 A JPH09245494 A JP H09245494A JP 8049311 A JP8049311 A JP 8049311A JP 4931196 A JP4931196 A JP 4931196A JP H09245494 A JPH09245494 A JP H09245494A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cascade
circuit
input
output
semiconductor integrated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8049311A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Kurimoto
孝一 栗本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP8049311A priority Critical patent/JPH09245494A/ja
Publication of JPH09245494A publication Critical patent/JPH09245494A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Shift Register Type Memory (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 イネーブルチェン方式のカスケード接続動作
におけるノイズの影響を低減させる。 【解決手段】 機能ブロック21は、複数段のデバイス
22A,22B,…,22Nがカスケード接続される。
各デバイスは複数のカスケード入力端子23i1,23
i2,23i3を有し、前段のカスケード出力端子23
o1,23o2,23o3からの出力を、カスケード接
続ライン23s1,23s2,23s3を介してそれぞ
れ入力する。クロック入力端子23cは共通接続され、
シフトクッロク信号CLKが与えられる。第1段目のカ
スケード入力端子には、スタートパルスが3つに分けた
入力信号DI1,DI2,DI3として与えられる。3
つのカスケード入力は多数決回路に与えられ、1つのカ
スケード接続ラインにノイズが影響しても、信頼性の高
い動作を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数のデバイスが
カスケード接続されて全体として所定の論理動作を行う
カスケード動作用半導体集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、複数の半導体集積回路をカス
ケード接続して全体として1つの論理機能を果すように
動作させる技術は、たとえばドットマトリクスタイプの
液晶表示装置などの駆動用に広く用いられている。液晶
表示装置のドライブ用の半導体集積回路(以下「IC」
と略称することもある)についての先行技術は、たとえ
ば特公平5−49990などに開示されている。この先
行技術の従来技術についての説明では、複数個の半導体
集積回路によるデバイスをカスケード接続し、コントロ
ーラから初段のデバイスにスタートパルスを与え、クロ
ック信号に従ってデバイス内でスタートパルスを順次的
にシフトしながら、デバイス内のシフトレジスタの段数
だけ遅延した出力を導出させ、1つのデバイスの出力を
次のデバイスにスタートパルスとして与えて、デバイス
間でも順次的な動作を起こさせるイネーブルチェン方式
による構成が開示されている。
【0003】カスケード接続の基本的な方式としては、
イネーブルチェン方式とともに、デバイス内にカウンタ
回路を備え、カウンタ回路の計数によってスタートパル
ス位置の制御を行う内部カウンタ方式も用いられてい
る。たとえば2段目のカウンタ回路が時間経過を計数し
て1段目のデバイスのシフト動作終了のタイミングを図
り、2段目の集積回路のシフト動作を開始する方式であ
る。内部カウンタ方式では、各デバイスにそれぞれカウ
ンタ回路が内蔵されるため、半導体集積回路としての規
模が大きくなり、消費電力も増大する。またカウンタ回
路の計数によって、そのデバイスのシフト動作開始と終
了とを行うためには、そのデバイスがカスケードの何段
目に接続されているかの動作順を設定する必要もあり、
その設定のための入力端子も必要となる。このため、内
部カウント方式よりもイネーブルチェン方式の方が回路
構成が簡単となり、低消費電力が達成される。
【0004】図9は、消費電力が少なく動作順の設定が
不要な長所を有するイネーブルチェン方式のカスケード
接続についての基本的構成を示す。カスケード接続によ
って形成される機能ブロック1には、複数段のICであ
るデバイス2A,2B,…,2N(以下、各デバイスを
総称するときは参照符「2」で示す)が含まれる。デバ
イス2には、シフトクロックCLK入力端子3c、カス
ケード入力端子3iおよびカスケード出力端子3oがそ
れぞれ設けられている。複数段のデバイス2A,2B,
…,2Nの段間は、前段のカスケード出力端子3oと次
段のカスケード入力端子3iとがカスケード接続ライン
3sによって接続され、各段のクロック入力端子3cは
共通接続される。最前段のデバイス2Aのカスケード入
力端子3iには、外部からスタートパルス信号がカスケ
ード入力DIとして与えられる。共通接続されたクロッ
ク入力端子3cには、外部からシフトクロックCLK信
号が与えられる。
【0005】図10は、図9の機能ブロック1内のデバ
イス2単体の内部構成を示す。デバイス2内には、入力
回路4、出力回路5および内部回路6が含まれる。入力
回路4内には、DI入力バッファ7およびCLK入力バ
ッファ8が含まれる。出力回路5内にはDO出力バッフ
ァ9が含まれる。内部回路6内には、N段のフリップフ
ロップ11〜1Nが含まれる。DI入力バッファ7およ
びCLK入力バッファ8からは、出力信号DO’および
CLK’がそれぞれ内部回路6内の最前段のフリップフ
ロップ11に与えられる。最終段のフリップフロップ1
Nからの出力Q’はDO出力バッファ9の入力側に与え
られる。
【0006】図11は、図10の内部回路6の構成を示
す。各フリップフロップ11〜1Nは、Dフリップフロ
ップとして構成され、クロック入力CKは互いに共通に
接続されてCLK’信号が与えられる。2段目のフリッ
プフロップ12のデータ入力Dには、前段の第1段目の
フリップフロップ11の出力Qからの信号Q1’が与え
られる。第3段目のフリップフロップ13も同様に前段
の第2段のフリップフロップ12の出力信号Q2’がデ
ータ入力Dに与えられ、出力Q3’が次段のデータ入力
となる。このようにしてカスケード接続された第1段の
フリップフロップ11のデータ入力Dには、DI入力バ
ッファ7からの出力信号DO’信号が入力される。最終
段のフリップフロップ1Nの出力QからはDQ’信号が
導出される。
【0007】図12、図13および図14は、図10の
DI入力バッファ7、CLK入力バッファ8およびDO
出力バッファ9の内部構成をそれぞれ示す。各バッファ
7,8,9は、2段のインバータ7a,7b;8a,8
b;9a,9bをそれぞれ有し、入力される信号DI,
CLK,DQ’と同一極性の出力信号DO’,CL
K’,DOをそれぞれ導出する。
【0008】図15は、図10に示すデバイス2の基本
的な動作タイミングを示す。図10のクロック入力端子
3cに図15(a)に示すようなシフトクロックCLK
信号が与えられ、図10のカスケード入力端子3iに図
15(b)に示すスタートパルスDIが与えられる場合
を想定する。各フリップフロップ11〜1Nはシフトク
ロックCLKの立上がり時点でデータ入力を取込むの
で、図15(c),(d),(e)に示す1段目の出力
Q1’、2段目の出力Q2’および最終段の出力DO
は、それぞれ1シフトクロックCLK周期ずつずれて順
次的に導出される。最終段の出力信号DOは、カスケー
ド接続された次のデバイス2のカスケード入力端子3i
に与えられ、そのデバイス2内のフリップフロップ11
〜1Nで同様にシフトされ、さらに次段のデバイス2に
対するスタートパルスを導出する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】図9に示すようなカス
ケード接続は、一方ではICの外部端子数が限られてお
り、他方ではドットマトリクス型表示装置の構成の変更
に柔軟に対応可能とする必要もあるために、複数のデバ
イス2を使用して行われる。近年大規模な集積回路を高
速で動作させるために、電源電圧を従来の論理ICで標
準的であった5V系から3V系に移行させる傾向があ
る。このような低電圧化によって、あらゆる用途の電子
機器の低消費電力化にも貢献することができる。しか
し、電源電圧が低くなると、ノイズによるトラブルが発
生しやすくなる。種々の電子機器におけるノイズ発生の
事情は論理回路の電源電圧が低電圧化されても大きな変
化はなく、「ノイズと回路電圧との相対的レベル」とい
う視点で考えてみると、ノイズの影響はむしろ増大し、
低消費電力化によってノイズマージンが低下してノイズ
トラブルが起こるリスクが増大する。ノイズマージンの
低下は、論理回路への入力電圧の“High”および
“Low”電圧が低下することによる。そのため、今後
は低電圧化に伴う信頼性面の向上に向けた取り組みが必
須となる。
【0010】図9に示すような機能ブロック1において
は、カスケード信号ライン3sにノイズが混入すると、
誤動作し、システム全体に悪影響を及ぼすおそれがあ
る。前述のように、イネーブルチェン方式のカスケード
接続では、カウンタ方式よりも回路構成が簡単で低消費
電力という利点があるけれども、カスケード信号ライン
3s自身にノイズが混入するだけで複数のデバイス2に
影響を与えてしまうという問題がある。各段のデバイス
2は、前段のデバイス2からのカスケード出力信号に基
づいて動作するけれども、真のカスケード出力信号であ
るかノイズであるかを判断することができないからであ
る。一方、ノイズ発生を抑える対策は、ノイズの原因を
特定すること自体がかなり難しく、解析面においてかな
りの時間と労力を必要とする。また現状以上に充分な対
策を施そうとすると、電子機器の製造コストが上昇す
る。
【0011】本発明の目的は、イネーブルチェン方式に
よるカスケード接続の際にノイズの影響を受けにくく
し、動作の信頼性を高めることが可能なカスケード動作
用半導体集積回路を提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、各段のカスケ
ード接続用入力端子に前段のカスケード接続用出力端子
を接続するイネーブルチェン方式で、入力回路および出
力回路を介して入力端子および出力端子にそれぞれ接続
される各段の内部回路が順次的な動作を行うように、カ
スケード接続されるカスケード接続用半導体集積回路に
おいて、カスケード接続用に、複数の入力端子および出
力端子を備え、信号ラインを前記複数本使用して統計処
理を伴うカスケード接続が可能であることを特徴とする
カスケード動作用半導体集積回路である。本発明に従え
ば、イネーブルチェン方式でカスケード接続されるカス
ケード動作用半導体集積回路は、複数の入力端子および
出力端子をカスケード接続用に備える。複数段のカスケ
ード接続用半導体集積回路を、前段のカスケード出力端
子とカスケード入力端子とをそれぞれ複数の信号線で接
続することが可能であるので、統計処理によってノイズ
による誤動作の影響を軽減し、信頼性の高い動作を実現
することができる。
【0013】また本発明で前記複数は3以上の奇数であ
り、前記入力回路には、その複数の前記入力端子に与え
られる信号の論理値を前記統計処理として多数決で判定
し、判定結果を内部回路に与える多数決回路が含まれる
ことを特徴とする。本発明に従えば、カスケード接続を
3以上の奇数の信号線で行い、入力回路には多数決回路
を含むので、部分的にノイズの影響を受ける信号線があ
っても全体として多数決によってノイズの影響を排除
し、信頼性の高い動作を行うことができる。
【0014】また本発明で前記内部回路は、シフトレジ
スタ回路を含むことを特徴とする。本発明に従えば、内
部回路にはシフトレジスタを含むので、スタートパルス
などにノイズが混入すると誤動作しやすく、その影響は
重大となる。複数のカスケード接続線を用いてノイズに
よる誤動作の影響を低減することができるので、シフト
レジスタ回路を確実に適正なタイミングで動作させるこ
とができる。
【0015】また本発明は、前記入力回路と前記出力回
路とへの電力供給用配線ラインは、電気的に分離するよ
うに形成されていることを特徴とする。本発明に従え
ば、半導体集積回路内の入力回路と出力回路とは電力供
給用配線ラインが電気的に分離するように形成されてい
るので、電力供給用配線ラインを通じる電気的結合がな
く、カスケード入力信号が内部回路を通さずに外部にカ
スケード出力信号として導出されてしまうようなトラブ
ルを防ぐことができる。
【0016】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施の一形態に
よるイネーブルチェン方式のカスケード接続の基本的構
成を示す。機能ブロック21は、図9に示す従来の機能
ブロック1と同様に、複数のIC化されたデバイス22
A,22B,…,22Nによって構成されている。なお
各デバイス22A,22B,…,22Nは、参照符「2
2」を用いて総称する。各デバイス22は、シフトクロ
ック入力CLK、カスケード入力DIiおよびカスケー
ド出力DOiを有する。ここでは、i=1,2,3であ
る場合について説明する。複数のデバイス22A,22
B,…,22Nは、前段のカスケード出力DO1,DO
2,DO3が導出される出力端子23o1,23o2,
23o3と、カスケード入力DI1,DI2,DI3が
それぞれ接続されるカスケード入力端子23i1,23
i2,23i3との間を、カスケード接続ライン23s
1,23s2,23s3によってそれぞれ接続し、クロ
ック入力端子23cは共通接続する。第1段目のデバイ
ス22Aのカスケード入力DI1,DI2,DI3に接
続されるカスケード入力端子23i1,23i2,23
i3には、外部からスタートパルス信号が供給される。
【0017】図2は、図1のデバイス22の内部構成を
示す。カスケード動作用半導体集積回路であるデバイス
22には、入力回路24、出力回路25および内部回路
26が含まれる。入力回路24内にはDi入力バッファ
27およびCLK入力バッファ28が含まれ、出力回路
25内にはDO出力バッファ29が含まれる。さらに入
力回路24内には、多数決回路30が設けられる。CL
K入力バッファ28の構成および動作は、図13に示す
従来のCLK入力バッファ8と基本的に同等であり、2
段のインバータを含んで入力されるシフトクロックCL
K信号と同一極性の出力信号CLK’を、内部回路26
にシフトクロックとして与える。
【0018】図3は、図2のDI入力バッファ27およ
び多数決回路30の構成を示す。DI入力バッファ27
は3つのカスケード入力端子23i1,23i2,23
i3にそれぞれ接続され、スタートパルスであるDI
1,DI2,DI3の信号がそれぞれ与えられる。各ス
タートパルス信号DI1,DI2,DI3は、2段のイ
ンバータ27a1,27b1;27a2,27b2;2
7a3,27b3によって緩衝増幅され、出力信号DO
1’,DO2’,DO3’をそれぞれ多数決回路30に
与える。多数決回路30内には、3入力ORゲート4
0、3つの2入力ANDゲート41,42,43が含ま
れる。3入力ORゲート40の3つの入力には、3つの
2入力ANDゲート41,42,43の出力がそれぞれ
接続される。2入力ANDゲート41の一対の入力に
は、DI入力バッファ27のインバータ27b1,27
b2の出力が接続される。同様に2入力ANDゲート4
2,43の入力には、DI入力バッファ27のインバー
タ27b2,27b3;27b3,27b1の出力がそ
れぞれ接続される。
【0019】図4は、図3の多数決回路30の動作の真
理値表を示す。カスケード入力DI1,DI2,DI3
のうちの2つが論理値が1である“High”レベルで
あれば、その組合わせが入力される2入力ANDゲート
41,42,43の出力も論理値1である“High”
レベルとなり、3入力ORゲート40のうちの入力の1
つは論理値1となる。この結果他の入力が論理値0の
“Low”レベルであっても、多数決回路30の出力デ
ータであるDO’は論理値1となる。逆に入力データD
I1,DI2,DI3のうちの2つ以上が論理値0の
“Low”レベルであれば、出力データDO’は論理値
0となる。すなわち、図3に示す多数決回路30は、3
入力のうちの多数である2以上の入力の論理値に従って
出力データDO’が 変化し、多数決に従う論理出力が
得られる。
【0020】図5は、図2の出力回路29の構成を示
す。内部回路26からの出力信号DO’は、3つのイン
バータ29a1,29a2,29a3に同時に入力さ
れ、各出力はさらにインバータ29b1,29b2,2
9b3にそれぞれ入力されて、3つのカスケード出力端
子23o1,23o2,23o3からカスケード出力D
O1,DO2,DO3としてそれぞれ導出される。すな
わち、1つの入力信号DO’を3つに分けて外部に対し
てカスケード出力DO1,DO2,DO3として導出す
る。
【0021】図6は、図1に示す機能ブロック21内で
のカスケード動作状態を示す。図6(e)に示すよう
に、デバイスAのカスケード出力DO1,DO2,DO
3がカスケード接続ライン23s1,23s2,23s
3を介して次の段のデバイスDのカスケード入力DI
1,DI2,DI3にそれぞれ接続されている場合を想
定する。図6(a),(b),(c)に示すように、時
刻t1で発生する本来の信号は3つのカスケード入力D
I1,DI2,DI3に同じタイミングで入力され、デ
バイスB内部での出力DO’が得られる。図6(a)に
示すように、時刻t2でカスケード入力DI1だけにノ
イズ信号が加わるとしても、図6(b)および(c)に
示す他のカスケード入力DI2,DI3にはノイズ信号
が現れなければ、デバイス内部での出力信号DO’は変
化しない。
【0022】以上説明した実施形態では、3本のカスケ
ード接続ライン23s1,23s2,23s3を用い、
多数決回路30で3つのうち2以上の多数決で入力論理
値を決定しているけれども、5以上の奇数のカスケード
接続ラインを用いることもできる。
【0023】図7は、本発明の実施の他の形態に含まれ
る多数決回路50の構成を示す。5入力ORゲート60
の5つの入力には5つの3入力ANDゲート61〜65
の出力がそれぞれ接続される。各3入力ANDゲート6
1〜65の3つの入力は、それぞれカスケード入力DO
1’,DO2’,DO3’,DO4’およびDO5’の
うちの3つに接続されている。本実施形態では、5つの
入力のうちの3以上の多数決で出力DO’の論理値が決
定される。
【0024】図8は、デバイス22として形成される半
導体チップ70の表面における部分的な回路配置を示
す。半導体チップ70には、ワイヤボンディングなどに
よって電源供給用の外部端子と接続するVDDパッド7
1が設けられる。VDDパッド71からは、斜線を施し
て示す複数の電源ライン72〜74がそれぞれ独立に接
続される。VDDパッド71は、たとえば3Vや5Vの
電源の正電圧端子に接続される。GNDパッド75は、
外部の接続端子を介して電源の接地GNDパッド75に
は、斜線を施して示す複数の接地ライン76〜78がそ
れぞれ接続される。電源ライン72と接地ライン76と
の間には入力回路24、電源ライン73と接地ライン7
7との間には出力回路25および電源ライン74と接地
ライン78との間には内部回路26がそれぞれ接続され
ていると、電源供給ラインを介する電気的な結合による
誤動作を防ぐことができる。特に多数決回路30,50
を含む場合は、少数のカスケード入力がノイズの影響を
受けても、多数決回路30,50によってノイズの影響
を除去することができるので、信頼性の高い出力を得る
ことができる。ノイズの影響の除去は、カスケード接続
ラインの本数増加に従って容易になる。カスケード接続
ラインの本数を増加する際には、多数決回路の取扱う入
力数も対応して増加させる。多数決を確実に決定するた
めには、カスケード接続ラインの本数は奇数であること
が好ましい。偶数であると、同数の場合の取扱いを予め
決めておく必要がある。また多数決回路によらず、複数
の入力の平均などの他の統計処理によってノイズの影響
を低減させることもできる。
【0025】なお、複数のカスケード接続ラインは、図
1に示すような機能ブロック21を構成する際に、可能
な限り相互に離れた位置となるように配置することが好
ましい。電子機器内で発生するノイズは、ノイズ源から
の距離によってカスケード接続ラインに発生するノイズ
の大きさが異なってくる。本発明の各実施形態でも、過
半数のカスケード接続ラインに論理値として反転するよ
うな強いノイズが発生しているときには、誤動作を防ぐ
ことはできないけれども、少数のカスケード接続ライン
に影響を与える程度の弱いノイズに対しては誤動作の防
止が可能である。カスケード接続ラインが単独である従
来の構成では、そのカスケード接続ラインにノイズが影
響すれば、必ず誤動作を生じてしまうのに対し、本発明
の各実施形態では、ノイズの影響による誤動作の発生す
る確率を低減することができる。図6では、“Low”
レベルの信号中に“High”レベルのノイズ信号が混
入する場合を示しているけれども、“High”レベル
の信号がノイズの影響で“Low”レベルになる場合も
あり得る。たとえば“High”レベルの信号を導出し
ている信号ラインに逆位相でノイズが影響する場合であ
る。電子機器内で負電源の中耐圧系の回路がスタートパ
ルス伝送信号線の近くにある場合などでは、−10V以
下の信号線の影響を受けて、たとえば5Vの“Hig
h”レベルの信号でも0V以下に低下する可能性があ
る。図1の実施形態によれば、図4の真理値表に従っ
て、論理値0の“Low”レベルについても多数決で出
力を得ることができる。
【0026】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、複数段の
半導体集積回路間のカスケード接続を、複数のカスケー
ド接続用信号線を用いて行うので、ノイズなどの影響を
受けにくく信頼性の高い動作を実現することができる。
【0027】また本発明によれば、カスケード接続を3
以上の奇数の信号線を介して行い、カスケード入力信号
を多数決回路を介して内部回路に入力するので、カスケ
ード接続用の信号の一部にノイズが混入しても内部回路
に与える信号にはノイズの影響を除去することができ、
信頼性の高い動作を実現することができる。
【0028】また本発明によれば、内部回路に含まれる
シフトレジスタをノイズの影響を受けくい信頼性の高い
状態で動作させることができる。
【0029】また本発明によれば、入力回路と出力回路
との電力供給用配線ラインを介する結合を低減し、ノイ
ズによる誤動作の可能性を少なくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態によるカスケード接続の
基本的構成を示すブロック図である。
【図2】図1でカスケード接続される1つのデバイス2
2の内部構成を示すブロック図である。
【図3】図2のDI入力バッファ27および多数決回路
30の内部構成を示す論理回路図である。
【図4】図3の多数決回路30の動作真理値を示す図表
である。
【図5】図2のDO出力バッファ29の構成を示す論理
回路図である。
【図6】図1のカスケード接続回路の動作を示すタイム
チャートである。
【図7】本発明の実施の他の形態における多数決回路5
0の構成を示す論理回路図である。
【図8】本発明の実施のさらに他の形態としての半導体
チップ70上の部分的な回路配置図である。
【図9】従来からのイネーブルチェン方式のカスケード
接続の基本的構成を示すブロック図である。
【図10】カスケード接続される1つのデバイス2の内
部構成を示すブロック図である。
【図11】図10の内部回路6の構成を示す論理回路図
である。
【図12】図10のDI入力バッファ7の内部構成を示
す論理回路図である。
【図13】図10のCLK入力バッファ8の内部構成を
示す論理回路図である。
【図14】図10のDO出力バッファ9の内部構成を示
す論理回路図である。
【図15】図11の内部回路6の動作を示すタイムチャ
ートである。
【符号の説明】 21 機能ブロック 22,22A,22B,…,22N デバイス 23c クロック入力端子 23i1,23i2,23i3 カスケード入力端子 23o1,23o2,23o3 カスケード出力端子 23s1,23s2,23s3 カスケード接続ライン 24 入力回路 25 出力回路 26 内部回路 27 DI入力バッファ 28 CLK入力バッファ 29 DO出力バッファ 30,50 多数決回路 31〜3N フリップフロップ 40 3入力ORゲート 41,42,43 2入力ANDゲート 60 5入力ORゲート 61〜65 3入力ANDゲート 71 VDDパッド 72〜74 電源ライン 75 GNDパッド 76〜78 接地ライン

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 各段のカスケード接続用入力端子に前段
    のカスケード接続用出力端子を接続するイネーブルチェ
    ン方式で、入力回路および出力回路を介して入力端子お
    よび出力端子にそれぞれ接続される各段の内部回路が順
    次的な動作を行うように、カスケード接続されるカスケ
    ード接続用半導体集積回路において、 カスケード接続用に、複数の入力端子および出力端子を
    備え、信号ラインを前記複数本使用して統計処理を伴う
    カスケード接続が可能であることを特徴とするカスケー
    ド動作用半導体集積回路。
  2. 【請求項2】 前記複数は3以上の奇数であり、前記入
    力回路には、その複数の前記入力端子に与えられる信号
    の論理値を前記統計処理として多数決で判定し、判定結
    果を内部回路に与える多数決回路が含まれることを特徴
    とする請求項1記載のカスケード動作用半導体集積回
    路。
  3. 【請求項3】 前記内部回路は、シフトレジスタ回路を
    含むことを特徴とする請求項1または2記載のカスケー
    ド動作用半導体集積回路。
  4. 【請求項4】 前記入力回路と前記出力回路とへの電力
    供給用配線ラインは、電気的に分離するように形成され
    ていることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載
    のカスケード動作用半導体集積回路。
JP8049311A 1996-03-06 1996-03-06 カスケード動作用半導体集積回路 Pending JPH09245494A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8049311A JPH09245494A (ja) 1996-03-06 1996-03-06 カスケード動作用半導体集積回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8049311A JPH09245494A (ja) 1996-03-06 1996-03-06 カスケード動作用半導体集積回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09245494A true JPH09245494A (ja) 1997-09-19

Family

ID=12827420

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8049311A Pending JPH09245494A (ja) 1996-03-06 1996-03-06 カスケード動作用半導体集積回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09245494A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005208449A (ja) * 2004-01-26 2005-08-04 Sony Corp 表示装置および表示装置の駆動方法
JP2013160999A (ja) * 2012-02-07 2013-08-19 Sharp Corp 駆動制御装置、それを備える表示装置、および駆動制御方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005208449A (ja) * 2004-01-26 2005-08-04 Sony Corp 表示装置および表示装置の駆動方法
JP2013160999A (ja) * 2012-02-07 2013-08-19 Sharp Corp 駆動制御装置、それを備える表示装置、および駆動制御方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4378405B2 (ja) 走査信号線駆動回路および表示装置
JP2002185309A (ja) データ保持回路および半導体装置並びに半導体装置の設計方法
JP3866111B2 (ja) 半導体集積回路及びバーンイン方法
US5194853A (en) Scanning circuit
KR101076809B1 (ko) 불필요한 전력소모를 줄일 수 있는 스캔 플립플롭 회로
JP4108374B2 (ja) スキャンフリップフロップ回路,スキャンフリップフロップ回路列,および集積回路装置
JP2003223147A (ja) 集積回路、液晶表示装置、及び信号伝送システム
JPH09245494A (ja) カスケード動作用半導体集積回路
JP2690083B2 (ja) 半導体集積回路装置
US5926519A (en) Semiconductor integrated circuit including dynamic registers
US6373287B1 (en) Input/output control circuit and microcomputer
JPH11108995A (ja) 関数クロック発生回路およびそれを用いたシフトレジスタ回路
JP2590105B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH06311022A (ja) 半導体論理回路装置
JPH073750B2 (ja) 半導体集積回路
JP3036476B2 (ja) 半導体集積回路装置
JPH09251056A (ja) 故障診断用フリップフロップ回路、故障診断回路、半導体集積回路
JP2917711B2 (ja) 出力バッファ回路
JP4542714B2 (ja) 半導体集積回路
JPH0389546A (ja) 半導体集積回路
JPH0567961A (ja) 出力バツフア回路
JPH08285924A (ja) 半導体集積回路
JPH02232577A (ja) 出力回路
JP2002176349A (ja) 半導体装置
JPH0879048A (ja) 出力バッファ