JPH01208012A - フリップフロップ回路 - Google Patents
フリップフロップ回路Info
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- JPH01208012A JPH01208012A JP63033338A JP3333888A JPH01208012A JP H01208012 A JPH01208012 A JP H01208012A JP 63033338 A JP63033338 A JP 63033338A JP 3333888 A JP3333888 A JP 3333888A JP H01208012 A JPH01208012 A JP H01208012A
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- JP
- Japan
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- circuit
- input
- flip
- flop
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Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/173—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
- H03K19/1733—Controllable logic circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/027—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
- H03K3/037—Bistable circuits
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Computing Systems (AREA)
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電子回路の構成に関し、特しこ順序回路に使用
されるフリップフロップ回路の構成手段しこ関する。
されるフリップフロップ回路の構成手段しこ関する。
従来、フリップフロップ回路は第7図に示すフリップフ
ロップ60に代表されるごとく基本的にデータ系人力り
とクロック入力C,リセット人力R,セット入力S等の
コントロール系入力と出力Qおよび反転出力頁とを外部
との接続端子として有する構成となっていた。
ロップ60に代表されるごとく基本的にデータ系人力り
とクロック入力C,リセット人力R,セット入力S等の
コントロール系入力と出力Qおよび反転出力頁とを外部
との接続端子として有する構成となっていた。
かかる従来のフリップフロップ60は、基本的にデータ
人力りに入力される設定されたデータ入力信号をクロッ
ク信号をクロック人力Cに入力することによって出力Q
、Qに転送するだけの極めて単純な機能の論理回路であ
るが、これらが複数あるいは多数使用される電子回路に
おいては、これらフリップフロップ回路の前後に位置す
る組合わせ回路のテストを行う上で種々の問題が生じる
。
人力りに入力される設定されたデータ入力信号をクロッ
ク信号をクロック人力Cに入力することによって出力Q
、Qに転送するだけの極めて単純な機能の論理回路であ
るが、これらが複数あるいは多数使用される電子回路に
おいては、これらフリップフロップ回路の前後に位置す
る組合わせ回路のテストを行う上で種々の問題が生じる
。
例えば、フリップフロップ回路群のデータを決める組合
わせ回路の論理動作を確認するためには、これらのデー
タをクロック信号でフリップフロップ回路群に書き込む
ことが前提となり、組合わせ回路が複雑であればある程
クロック数は増大する。
わせ回路の論理動作を確認するためには、これらのデー
タをクロック信号でフリップフロップ回路群に書き込む
ことが前提となり、組合わせ回路が複雑であればある程
クロック数は増大する。
またフリップフロップ回路群の後に位置する組合わせ回
路の論理動作を確認するためには、それに必要な入カバ
ターンを、すべてフリップフロップ回路群の出力から印
加しなければならずやはり多数のクロック信号を必要と
する。又、フリップフロップ回路群と他のフリップフロ
ップ群との間に位置する組合わせ回路の論理動作を確認
するためには前記2種類のクロック操作が必要となり極
めて煩雑なテストパターンの作成が必要となる。
路の論理動作を確認するためには、それに必要な入カバ
ターンを、すべてフリップフロップ回路群の出力から印
加しなければならずやはり多数のクロック信号を必要と
する。又、フリップフロップ回路群と他のフリップフロ
ップ群との間に位置する組合わせ回路の論理動作を確認
するためには前記2種類のクロック操作が必要となり極
めて煩雑なテストパターンの作成が必要となる。
本発明は、順序回路でなる電子回路を強制的に組合わせ
回路に変えてしまう新しいフリップフロップ回路を提供
するもので、その構成はデータ系入力端子と、コントロ
ール系入力端子と、フリップフロップ出力を生じる出力
端子と、反転フリップフロップ出力を生じる反転出力端
子とを有するフリップフロップ回路と、データ系入力の
信号の組合せに応じて第1の組合せ出力を生じる第1の
組合せ回路とコントロール系入力の信号の組合せに応じ
て第2の組合せ出力を生じる第2の組合せ回路と第1の
組合せ出力とフリップフロップ出力とを選択する第2の
セレクタ回路と第1および第2のセレクタを駆動するモ
ード切換信号を受けるモード切換端子とを有している。
回路に変えてしまう新しいフリップフロップ回路を提供
するもので、その構成はデータ系入力端子と、コントロ
ール系入力端子と、フリップフロップ出力を生じる出力
端子と、反転フリップフロップ出力を生じる反転出力端
子とを有するフリップフロップ回路と、データ系入力の
信号の組合せに応じて第1の組合せ出力を生じる第1の
組合せ回路とコントロール系入力の信号の組合せに応じ
て第2の組合せ出力を生じる第2の組合せ回路と第1の
組合せ出力とフリップフロップ出力とを選択する第2の
セレクタ回路と第1および第2のセレクタを駆動するモ
ード切換信号を受けるモード切換端子とを有している。
第1および第2の組合せ回路は適当な論理回路で構成さ
れる。
れる。
次に、図面を用いて本発明をより詳細に説明する。
第1図は本発明の概念を示すものでDフリップフロップ
回路1はデータ系入力とコントロール系入力を受けて動
作する。これらデータ系入力とコントロール系入力の入
力信号の組み合せに応じて所定の組み合せの時に組合せ
回路3から出力を生じる。D−フリップフロップ回路1
の出力と組合せ回路3の出力とはモード切換入力に応じ
てセレクタ回路2で選択された最終的に出力を生じる。
回路1はデータ系入力とコントロール系入力を受けて動
作する。これらデータ系入力とコントロール系入力の入
力信号の組み合せに応じて所定の組み合せの時に組合せ
回路3から出力を生じる。D−フリップフロップ回路1
の出力と組合せ回路3の出力とはモード切換入力に応じ
てセレクタ回路2で選択された最終的に出力を生じる。
このモード切換によって順序回路と組み合せ回路とに切
り換えることができる。
り換えることができる。
第2図は本発明の一実施例を示す論理回路図である。D
タイプのフリップフロップ回路11に2人力NANDゲ
ー)12.13とセレクタ回路14゜15が付加されて
いる。セット入力とデータ入力は2人力NANDゲート
12を介してセレクタ回路14に、クロック入力とリセ
ット入力は2人力NANDゲート13を介してセレクタ
回路15にそれぞれ接続されており、モード切換人力M
1を切換えることによりD−フリップフロップ11の出
力Q、可と、2人力NANDゲー)12.13の出力が
選択されてセレクタ回路14.15から出力される。こ
こで、2人力NANDゲート12.13の出力が選択さ
れた場合D−フリップフロップ11のすべての入力はD
−フリップフロップ11を介さずにセレクタ回路14.
15から出力されるため入力と出力の関係は完全に粗分
わせ回路として取扱うことが可能となる。
タイプのフリップフロップ回路11に2人力NANDゲ
ー)12.13とセレクタ回路14゜15が付加されて
いる。セット入力とデータ入力は2人力NANDゲート
12を介してセレクタ回路14に、クロック入力とリセ
ット入力は2人力NANDゲート13を介してセレクタ
回路15にそれぞれ接続されており、モード切換人力M
1を切換えることによりD−フリップフロップ11の出
力Q、可と、2人力NANDゲー)12.13の出力が
選択されてセレクタ回路14.15から出力される。こ
こで、2人力NANDゲート12.13の出力が選択さ
れた場合D−フリップフロップ11のすべての入力はD
−フリップフロップ11を介さずにセレクタ回路14.
15から出力されるため入力と出力の関係は完全に粗分
わせ回路として取扱うことが可能となる。
このため、第3図に示すような組合せ回路群16.18
.20と順序回路群17.19とが交互に接続される論
理構成の回路においても順序回路群17.19はすべて
モード切換人力M1によって論理的に組合わせ回路に変
換できるため、テストパターンの作成が極めて容易にな
る。
.20と順序回路群17.19とが交互に接続される論
理構成の回路においても順序回路群17.19はすべて
モード切換人力M1によって論理的に組合わせ回路に変
換できるため、テストパターンの作成が極めて容易にな
る。
第4図は本発明の他の実施例による論理回路40を示す
論理回路図である。用いられているD−フリップフロッ
プ21は第6図にその詳細を示すごとくシフトイン入力
端子SINとモード切換人力Mを有するスキャンパス構
成用のフリップフロップ回路で従来のD−フリップフロ
ップ60のデータ人力りにシフトイン入力SINとデー
タ人力りとをモード切換人力M2で切換える切換回路3
0を介して接続している。本実施例において、データ系
入力とコントロール系入力は3人力NANDゲー)22
.23を介してセレクタ24.25に接続されており、
モード切換入力M1を切換えることにより、D−フリッ
プフロップ21の出力Q、 Qと3人力NANDゲー)
22.23の出力のいずれかがセレクタ回路24.25
から出力される。
論理回路図である。用いられているD−フリップフロッ
プ21は第6図にその詳細を示すごとくシフトイン入力
端子SINとモード切換人力Mを有するスキャンパス構
成用のフリップフロップ回路で従来のD−フリップフロ
ップ60のデータ人力りにシフトイン入力SINとデー
タ人力りとをモード切換人力M2で切換える切換回路3
0を介して接続している。本実施例において、データ系
入力とコントロール系入力は3人力NANDゲー)22
.23を介してセレクタ24.25に接続されており、
モード切換入力M1を切換えることにより、D−フリッ
プフロップ21の出力Q、 Qと3人力NANDゲー)
22.23の出力のいずれかがセレクタ回路24.25
から出力される。
本実施例では、モード切換人力M1に加えて設けられた
スキャンモードへの切換入力であるモード切換入力M2
によって第5図の構成でなる電子回路においてすべての
フリップフロップ回路を論理的にシフトレジスタ構成に
変えることができる。
スキャンモードへの切換入力であるモード切換入力M2
によって第5図の構成でなる電子回路においてすべての
フリップフロップ回路を論理的にシフトレジスタ構成に
変えることができる。
第5図で示す論理回路40は全て第4図に示す論理回路
である。
である。
以上説明したように、本発明はフリップフロップ回路を
組合わせ回路に変えることによってテストの単純化をは
かることができる。特に第4〜6図に示した実施例の方
法においてはスキャンパス構成が可能となるため組合わ
せ回路化によるフリップフロップ間の接続確認の単純化
に加えて全フリップフロップ回路自身の機能まで動作確
認が可能である。
組合わせ回路に変えることによってテストの単純化をは
かることができる。特に第4〜6図に示した実施例の方
法においてはスキャンパス構成が可能となるため組合わ
せ回路化によるフリップフロップ間の接続確認の単純化
に加えて全フリップフロップ回路自身の機能まで動作確
認が可能である。
第1図は本発明の概念を示す論理ブロック図、第2図は
本発明の一実施例を示す論理ブロック図、第3図は本発
明の一実施例を用いて構成される電子回路のブロック図
、第4図は本発明の他の実施例を示す論理ブロック図、
第5図は本発明の他の実施例を用いて構成されたスキャ
ンパス回路の部分ブロック図、第6図は本発明の他の実
施例に用いられるスキャンパス構成用のフリップフロッ
プ回路の論理ブロック図、第7図は従来のフリップフロ
ップ回路を示す論理ブロック図である。 1.11,21.60・・・・・・D−フリップフロッ
プ、2,14,15,24.25・・川・セレクタ回路
、3・・・・・・組合せ回路、12,13,22,23
・・・・・・NANDゲート、16,18.20・・川
・組合せ回路群、17.19・・印・順序回路群、3o
・旧・・切換回路、40・・・・・・論理回路。 代理人 弁理士 内 原 音 口 ( 甲 !’lp y7 r、!? 〆229条
、5区 ・第に図 条7図
本発明の一実施例を示す論理ブロック図、第3図は本発
明の一実施例を用いて構成される電子回路のブロック図
、第4図は本発明の他の実施例を示す論理ブロック図、
第5図は本発明の他の実施例を用いて構成されたスキャ
ンパス回路の部分ブロック図、第6図は本発明の他の実
施例に用いられるスキャンパス構成用のフリップフロッ
プ回路の論理ブロック図、第7図は従来のフリップフロ
ップ回路を示す論理ブロック図である。 1.11,21.60・・・・・・D−フリップフロッ
プ、2,14,15,24.25・・川・セレクタ回路
、3・・・・・・組合せ回路、12,13,22,23
・・・・・・NANDゲート、16,18.20・・川
・組合せ回路群、17.19・・印・順序回路群、3o
・旧・・切換回路、40・・・・・・論理回路。 代理人 弁理士 内 原 音 口 ( 甲 !’lp y7 r、!? 〆229条
、5区 ・第に図 条7図
Claims (1)
- データ系入力端子と、コントロール系入力端子と、出力
端子を有するフリップフロップ基本回路部分と、前記デ
ータ系入力およびコントロール系入力の信号の所定の組
合せに応じて組合せ出力を生じる組合わせ回路と、前記
出力端子の出力と前記組合せ出力とを選択して出力する
セレクタ回路と、前記セレクタ回路を駆動するモード切
換信号を入力するモード切換端子とを有していることを
特徴とするフリップフロップ回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63033338A JPH01208012A (ja) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | フリップフロップ回路 |
US07/310,443 US4933575A (en) | 1988-02-15 | 1989-02-14 | Electric circuit interchangeable between sequential and combination circuits |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63033338A JPH01208012A (ja) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | フリップフロップ回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01208012A true JPH01208012A (ja) | 1989-08-22 |
Family
ID=12383781
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63033338A Pending JPH01208012A (ja) | 1988-02-15 | 1988-02-15 | フリップフロップ回路 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4933575A (ja) |
JP (1) | JPH01208012A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5394404A (en) * | 1992-05-19 | 1995-02-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Flip-flop circuit having diagnostic function |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5268598A (en) * | 1991-04-25 | 1993-12-07 | Altera Corporation | High-density erasable programmable logic device architecture using multiplexer interconnections |
US5384499A (en) * | 1991-04-25 | 1995-01-24 | Altera Corporation | High-density erasable programmable logic device architecture using multiplexer interconnections |
US5241224A (en) * | 1991-04-25 | 1993-08-31 | Altera Corporation | High-density erasable programmable logic device architecture using multiplexer interconnections |
US5221865A (en) * | 1991-06-21 | 1993-06-22 | Crosspoint Solutions, Inc. | Programmable input/output buffer circuit with test capability |
US5856792A (en) * | 1992-02-24 | 1999-01-05 | Sony Corporation Of America | Interrupt driven method of remote control |
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US5386154A (en) * | 1992-07-23 | 1995-01-31 | Xilinx, Inc. | Compact logic cell for field programmable gate array chip |
US5291079A (en) * | 1992-07-23 | 1994-03-01 | Xilinx, Inc. | Configuration control unit for programming a field programmable gate array and reading array status |
US5365125A (en) * | 1992-07-23 | 1994-11-15 | Xilinx, Inc. | Logic cell for field programmable gate array having optional internal feedback and optional cascade |
US5646547A (en) * | 1994-04-28 | 1997-07-08 | Xilinx, Inc. | Logic cell which can be configured as a latch without static one's problem |
US5331226A (en) * | 1992-07-23 | 1994-07-19 | Xilinx, Inc. | Logic cell for field programmable gate array having optional input inverters |
US5414380A (en) * | 1993-04-19 | 1995-05-09 | Motorola, Inc. | Integrated circuit with an active-level configurable and method therefor |
US5486775A (en) * | 1993-11-22 | 1996-01-23 | Altera Corporation | Multiplexer structures for use in making controllable interconnections in integrated circuits. |
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WO1996027945A1 (en) * | 1995-03-08 | 1996-09-12 | Advanced Micro Devices, Inc. | Conditional latching mechanism and pipelined microprocessor employing the same |
US5970255A (en) | 1995-10-16 | 1999-10-19 | Altera Corporation | System for coupling programmable logic device to external circuitry which selects a logic standard and uses buffers to modify output and input signals accordingly |
JPH11118883A (ja) * | 1997-10-20 | 1999-04-30 | Kawasaki Steel Corp | 半導体集積回路およびそのテスト方法 |
US7962681B2 (en) * | 2008-01-09 | 2011-06-14 | Qualcomm Incorporated | System and method of conditional control of latch circuit devices |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US4745573A (en) * | 1986-04-11 | 1988-05-17 | Symbolics Inc. | Programmable clock generator |
US4786829A (en) * | 1987-02-24 | 1988-11-22 | Letcher John H | Latched fedback memory finite-state-engine |
US4783606A (en) * | 1987-04-14 | 1988-11-08 | Erich Goetting | Programming circuit for programmable logic array I/O cell |
-
1988
- 1988-02-15 JP JP63033338A patent/JPH01208012A/ja active Pending
-
1989
- 1989-02-14 US US07/310,443 patent/US4933575A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US5394404A (en) * | 1992-05-19 | 1995-02-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Flip-flop circuit having diagnostic function |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4933575A (en) | 1990-06-12 |
US4933575B1 (ja) | 1992-07-21 |
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