JPH01192336A - X線ctスキャナ装置 - Google Patents
X線ctスキャナ装置Info
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- JPH01192336A JPH01192336A JP63016449A JP1644988A JPH01192336A JP H01192336 A JPH01192336 A JP H01192336A JP 63016449 A JP63016449 A JP 63016449A JP 1644988 A JP1644988 A JP 1644988A JP H01192336 A JPH01192336 A JP H01192336A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 4
- 238000013480 data collection Methods 0.000 abstract description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/40—Imaging
- G01N2223/419—Imaging computed tomograph
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、被検体を挟んで7アンビームを曝射するX線
源と単位検出器を多数円弧状に並設した検出器とが対向
配置され、このXk源と検出器との組は対向関係を保っ
て回転中心に対して回転可能であシ且つ連続的にxm*
射を行うことによシ、前記被検−に対する多方向からの
透過X線に基づく投影データを収集し、この投影データ
に対し逆投影法を適用した画像再構成処理を施して、前
記被検体のX@透過位置における断層像を生成するよう
にしたX線CTスキャナ装置に関し、特−画像再構成を
容易化できるようにしたX線CTスキャナ装置に関する
。
源と単位検出器を多数円弧状に並設した検出器とが対向
配置され、このXk源と検出器との組は対向関係を保っ
て回転中心に対して回転可能であシ且つ連続的にxm*
射を行うことによシ、前記被検−に対する多方向からの
透過X線に基づく投影データを収集し、この投影データ
に対し逆投影法を適用した画像再構成処理を施して、前
記被検体のX@透過位置における断層像を生成するよう
にしたX線CTスキャナ装置に関し、特−画像再構成を
容易化できるようにしたX線CTスキャナ装置に関する
。
(従来の技術)
この種のX@CTスキャナ装置をその代表的な装置であ
る第3世代の装置を例にして第5図を参照して説明する
。すなわち、図示しないガントリ内には被検体Pを挾ん
で、ファンビームラ−射するXll1I源1と、単位検
出器2aを多数円弧状に並設した検出器2とが対向配置
され、このX線源1と検出器2との組は対向関係を保り
て回転中心0に対して矢印方向に回転可能になっている
。
る第3世代の装置を例にして第5図を参照して説明する
。すなわち、図示しないガントリ内には被検体Pを挾ん
で、ファンビームラ−射するXll1I源1と、単位検
出器2aを多数円弧状に並設した検出器2とが対向配置
され、このX線源1と検出器2との組は対向関係を保り
て回転中心0に対して矢印方向に回転可能になっている
。
データ収集部3は、検出器12の各単位検出器21(チ
ャンネル、eh)に対応した数だけデータ収集器3IL
を設けて構成され、各X線1?ス毎に検出したX線透過
データをそれぞれ積分し、その後それぞれをディジタル
信号化してディジタル投影データとして後段の処理に待
機させるようになっている。
ャンネル、eh)に対応した数だけデータ収集器3IL
を設けて構成され、各X線1?ス毎に検出したX線透過
データをそれぞれ積分し、その後それぞれをディジタル
信号化してディジタル投影データとして後段の処理に待
機させるようになっている。
画像再構成部5は前処理部、コンゲルパ、バックグロジ
ェクタ、イメージメモリ等から構成され、データ収集部
3から被検体Pに関する多方向からの投影データを切換
部4を介して取込んで、フィルタ袖正逆投影法等の逆投
影法によシ被検体のX線透過方向の位置におけるX線吸
収の程度を反映した断Jfli像を生成するようになっ
ている。すなわち、前処理部では、投影データに対して
直流成分の補正、X線強度の変化補正等の処理を行なう
ものであり、この場合、ファンビームデータをノ母うレ
ルビームデータに並換えて信号処理する装置にあっては
、この並換え処理(ファン/パラレル並換え死斑)を前
処理部にて行なうものと考える。
ェクタ、イメージメモリ等から構成され、データ収集部
3から被検体Pに関する多方向からの投影データを切換
部4を介して取込んで、フィルタ袖正逆投影法等の逆投
影法によシ被検体のX線透過方向の位置におけるX線吸
収の程度を反映した断Jfli像を生成するようになっ
ている。すなわち、前処理部では、投影データに対して
直流成分の補正、X線強度の変化補正等の処理を行なう
ものであり、この場合、ファンビームデータをノ母うレ
ルビームデータに並換えて信号処理する装置にあっては
、この並換え処理(ファン/パラレル並換え死斑)を前
処理部にて行なうものと考える。
コンボルバは主にほけ回復フィルタ処理とセンタリング
処理とを行なうものであシ、前処理部で補正された投影
データに基づき各投影方向別にほけ回復フィルタを用い
てコンボリューション(積和演算)処理し、センタリン
グ処理を行なう。パックグロソエクタは、コンボルバに
よる各投影方向別のコン?リューシ、ン後投影データを
イメージメモリに対して逆投影して重ね合せし、このイ
メージメモリ上に断層像を生成する。
処理とを行なうものであシ、前処理部で補正された投影
データに基づき各投影方向別にほけ回復フィルタを用い
てコンボリューション(積和演算)処理し、センタリン
グ処理を行なう。パックグロソエクタは、コンボルバに
よる各投影方向別のコン?リューシ、ン後投影データを
イメージメモリに対して逆投影して重ね合せし、このイ
メージメモリ上に断層像を生成する。
そして、画像再構成部5のイメージメモリ上の画像に対
し所望の範囲のCT値t−濃淡像の映像信号に変換し、
モニタ6に与え、ここで79r望の範囲のCT値による
断NI像が表示されるようになる。
し所望の範囲のCT値t−濃淡像の映像信号に変換し、
モニタ6に与え、ここで79r望の範囲のCT値による
断NI像が表示されるようになる。
(発明が解決しようとする課題)
上述したように従来の装置では、データ収集においては
ファンビームに基づく投影データであるのを、画像再構
成部5にてコンボリューションやパックグロジェクショ
ンを行う前にファン/パラレル並換え処理に工9パラレ
ルビームに基つく投影データに変換したシ、ファンビー
ムに基づく投影データを直接にコンボリューションやパ
ックグロジェクシ、ンを行うようにしている・従って、
複雑なデータ処理を必要とし、そのハードウェアの構成
も複雑である、という問題点があった。
ファンビームに基づく投影データであるのを、画像再構
成部5にてコンボリューションやパックグロジェクショ
ンを行う前にファン/パラレル並換え処理に工9パラレ
ルビームに基つく投影データに変換したシ、ファンビー
ムに基づく投影データを直接にコンボリューションやパ
ックグロジェクシ、ンを行うようにしている・従って、
複雑なデータ処理を必要とし、そのハードウェアの構成
も複雑である、という問題点があった。
そこで本発明の目的は、画像再構成を容易化できるよう
にしたX線CTスキャナ装置を提供することにある。
にしたX線CTスキャナ装置を提供することにある。
[発明の構成コ
(問題点を解決するための手段)
本発明は上記課題を解決し且つ目的を達成するために次
のような手段を講じたことを特徴としティる。すなわち
、本発明によるX線CTスキャナ装置は、検出器からデ
ータを収集するタイミングを、各単位検出器の位置に基
づいて各単位検出器毎に変える制御手段を具備したこと
を特徴とする。
のような手段を講じたことを特徴としティる。すなわち
、本発明によるX線CTスキャナ装置は、検出器からデ
ータを収集するタイミングを、各単位検出器の位置に基
づいて各単位検出器毎に変える制御手段を具備したこと
を特徴とする。
(作用)
このような構成によれば、5P−夕収集時にパラレルデ
ータとして得ることができるようになるので、画像再構
成処理においては複雑なデータ処理は必要としなく、そ
のハードウェアの構成も簡略化される。
ータとして得ることができるようになるので、画像再構
成処理においては複雑なデータ処理は必要としなく、そ
のハードウェアの構成も簡略化される。
(実施例)
以下本発明にかかるX1CTスキヤナ装置の一実施例を
、第5図と同一部分には同一符号を付した第1図を参照
して説明する。
、第5図と同一部分には同一符号を付した第1図を参照
して説明する。
第1図に示すように本実施例のX線CTスキャナ装置は
、X線源1は連続曝射で運転するものであって、データ
収集部3の各ah対応のr−夕収果器3aにおけるデー
タ収集タイミングを制御するタイミング信号発生!IS
7を設けている。そして、切換部4と画像再構成部との
間に、バッファメモリ部8とアドレス制御部9とを設け
ている。
、X線源1は連続曝射で運転するものであって、データ
収集部3の各ah対応のr−夕収果器3aにおけるデー
タ収集タイミングを制御するタイミング信号発生!IS
7を設けている。そして、切換部4と画像再構成部との
間に、バッファメモリ部8とアドレス制御部9とを設け
ている。
第2図はパラレルビームを作シ出すために必要なX線源
の位置と検出器の各チャンネルの位置関係を示しておシ
、第3図は検出器の各チャンネルにおけるファンビーム
パスとXMl源との関係を示している。
の位置と検出器の各チャンネルの位置関係を示しておシ
、第3図は検出器の各チャンネルにおけるファンビーム
パスとXMl源との関係を示している。
従って、本実施例ではタイミング信号発生部7とし、各
チャンネルのプロノエクションデータ収集間隔をθユニ
180’/Mとする制御を行うものである。このとき
、Xll11詠1と検出器2とがファン角度分回転した
とき、第2図に示す−ように、1つのパラレルビームの
収集が完了される。
チャンネルのプロノエクションデータ収集間隔をθユニ
180’/Mとする制御を行うものである。このとき
、Xll11詠1と検出器2とがファン角度分回転した
とき、第2図に示す−ように、1つのパラレルビームの
収集が完了される。
そして、X線源1と検出器2の組が、X線源1は連続陽
射を行ない被検体の回fi′jk180°+ファン角度
分だけ回転すると、/ぐ2レルビームで180@分のデ
ータを得ることができるようになる。この場合、検出器
2よシ出力される収集データは平行ビームとなっていな
いため、画像再構成処理には用いるため、平行ビームと
なるように並べかえる必要があシ、r−タ収集毎にバッ
ファメモリ部8に一旦保持し、アドレス制御部9からの
アドレスに従ってバッファメモリs8から読出しては平
行ビームになるように並びかえ画像再構成部5に与える
ようにしている。
射を行ない被検体の回fi′jk180°+ファン角度
分だけ回転すると、/ぐ2レルビームで180@分のデ
ータを得ることができるようになる。この場合、検出器
2よシ出力される収集データは平行ビームとなっていな
いため、画像再構成処理には用いるため、平行ビームと
なるように並べかえる必要があシ、r−タ収集毎にバッ
ファメモリ部8に一旦保持し、アドレス制御部9からの
アドレスに従ってバッファメモリs8から読出しては平
行ビームになるように並びかえ画像再構成部5に与える
ようにしている。
このように、データ収集時にノ々ラレルデータとして得
ることができるようになるので、画像再構成処理におい
ては複雑なデータ処理は必要としなく、そのハードウェ
アの構成も簡略化される。
ることができるようになるので、画像再構成処理におい
ては複雑なデータ処理は必要としなく、そのハードウェ
アの構成も簡略化される。
[発明の効果]
以上のように本発明では、各単位@山谷の位置に基づい
て各単位検出益毎に変える制御l+段を具備したことに
よシ、データ収集時にパラレルデータとして得ることが
で龜るようになるので、画像再構成地理においては複雑
なデータ処理は必要としなく、そのハードウェアの構成
も簡略化される。よって1本発明に工れば、画像再構成
を容易化できるようにしfcXMCTスキャナ装置t−
提供することができる。
て各単位検出益毎に変える制御l+段を具備したことに
よシ、データ収集時にパラレルデータとして得ることが
で龜るようになるので、画像再構成地理においては複雑
なデータ処理は必要としなく、そのハードウェアの構成
も簡略化される。よって1本発明に工れば、画像再構成
を容易化できるようにしfcXMCTスキャナ装置t−
提供することができる。
第1図は本発明にかかるXkCTスキャナ装置の一実施
例を示す図、第2図は検出器の各チャンネルにおけるベ
ラレルピームパスとxm源との関係を示す図、第3図は
検出器の各チャンネルにおけるファンビームノ母スとX
線源との関係を示す図、第4図はデータ収集のタイミン
グを示す図、第5図は従来例を示す図である。 1・・・Xg源、2・・・検出器、3・・・データ収集
部、4・・・切換部、5・・・画像再構成部、6・・・
モニタ、1・・・タイミング信号発生部、8・・・バッ
ファメモリ部、9・・・アドレス制御部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
例を示す図、第2図は検出器の各チャンネルにおけるベ
ラレルピームパスとxm源との関係を示す図、第3図は
検出器の各チャンネルにおけるファンビームノ母スとX
線源との関係を示す図、第4図はデータ収集のタイミン
グを示す図、第5図は従来例を示す図である。 1・・・Xg源、2・・・検出器、3・・・データ収集
部、4・・・切換部、5・・・画像再構成部、6・・・
モニタ、1・・・タイミング信号発生部、8・・・バッ
ファメモリ部、9・・・アドレス制御部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
Claims (1)
- 被検体を挟んでファンビームを曝射するX線源と単位検
出器を多数円弧状に並設した検出器とが対向配置され、
このX線源と検出器との組は対向関係を保って回転中心
に対して回転可能であり且つ連続的にX線曝射を行うこ
とにより、前記被検体に対する多方向からの透過X線に
基づく投影データを収集し、この投影データに対し逆投
影法を適用した画像再構成処理を施して、前記被検体の
X線透過位置における断層像を生成するようにしたX線
CTスキャナ装置において、前記検出器からデータを収
集するタイミングを、各単位検出器の位置に基づいて各
単位検出器毎に変える制御手段を具備したことを特徴と
するX線CTスキャナ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63016449A JPH01192336A (ja) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | X線ctスキャナ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63016449A JPH01192336A (ja) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | X線ctスキャナ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01192336A true JPH01192336A (ja) | 1989-08-02 |
Family
ID=11916553
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63016449A Pending JPH01192336A (ja) | 1988-01-27 | 1988-01-27 | X線ctスキャナ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01192336A (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5538185A (en) * | 1974-01-31 | 1980-03-17 | Emi Ltd | Radiation livinggbody inspection device |
JPS61126141A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-13 | ザ・グツドイヤー・タイヤ・アンド・ラバー・カンパニー | 成形組成物 |
JPS62102739A (ja) * | 1985-10-31 | 1987-05-13 | 横河メディカルシステム株式会社 | X線断層撮像装置 |
-
1988
- 1988-01-27 JP JP63016449A patent/JPH01192336A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5538185A (en) * | 1974-01-31 | 1980-03-17 | Emi Ltd | Radiation livinggbody inspection device |
JPS61126141A (ja) * | 1984-11-16 | 1986-06-13 | ザ・グツドイヤー・タイヤ・アンド・ラバー・カンパニー | 成形組成物 |
JPS62102739A (ja) * | 1985-10-31 | 1987-05-13 | 横河メディカルシステム株式会社 | X線断層撮像装置 |
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