JP4078846B2 - 断層撮影装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、医療分野、工業分野などに用いられる、被検体の断層撮影を行なう断層撮影装置に係り、特に、断層画像の偽像を低減する技術に関する。
【0002】
【従来技術】
従来の断層撮影装置としては、例えば、近年進歩の著しいX線CT(X線コンピュータ・トモグラフィ)タイプのX線断層撮影装置(以下、適宜にX線CT装置と呼ぶ。)がある。このX線CT装置は、被検体を挟んで、コーンビーム形状のX線を被検体に照射するX線管と、被検体を透過したX線を面検出するイメージインテンシファイア(以下、「I.I管」と言う)とが対向配置され、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸が直交する単一平面内でその走査中心軸周りに、X線管とI.I管とを同期させて一回転(少なくとも半回転)走査させながら撮影することで、被検体の体軸周り1回転分(少なくとも半回転分)の透過像を取得する。
【0003】
そして、このX線CT装置では、取得した複数枚の透過像に対してフェルドカンプ(feldkamp)法を用いた画像再構成を行なうことで、被検体の関心領域についての3次元ボリュームデータを生成しており、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の断層画像が選択されると、その選択された断層画像(被検体の体軸方向から見た断層画像)がモニタなどに表示されるようになっている。
【0004】
このように、1回の撮影で被検体の関心領域についての3次元ボリュームデータが得られるので、撮影後に任意の断層面の断層画像を選択するだけで、所望の断層面の断層画像を迅速に表示できるなどの利点を有している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、このような構成を有する従来例の場合には、次のような問題がある。すなわち、フェルドカンプ(feldkamp)法を用いた画像再構成では、被検体の関心領域のほぼ中心に位置するとともに走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れるほどその位置における再構成画像に偽像が大きく現れるという問題がある。これは、以下に説明するように、ボリュームスキャン方式に起因するためであると言える。
【0006】
上述したように、X線管からはコーンビーム形状のX線が被検体に照射され、I.I管は被検体を透過したX線を面検出して、走査各位置で検出された透過像に対してフェルドカンプ(feldkamp)法を用いた画像再構成を行なっている。例えば、X線管から照射されるコーンビームX線の中心と、I.I管の検出面における走査中心軸方向のほぼ中心に位置する画素とを結ぶ対向パスは、走査各位置に関わらず、同一スライス平面に属している、すなわち、対向パスが一致しているので、画像再構成された3次元ボリュームのほぼ中心面付近の断層画像には、対向パスが不一致であることに起因する偽像は存在しない。しかし、X線管から照射されるコーンビームX線の中心と、I.I管の検出面の走査中心軸方向の中心から離れた画素とを結ぶ対向パス方向、すなわち、X線管から照射されるコーンビームX線の開き角度方向(傾斜方向)は、同一スライス平面に属さず、走査各位置ごとに異なり不一致となっているので、画像再構成された3次元ボリュームの中心面から離れた断層画像ほど、対向パスが不一致であることに起因する偽像が大きく現れることになるのである。
【0007】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、ボリュームスキャン方式に起因する偽像などを低減する断層撮影装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわち、請求項1に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、前記照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線から離れた前記面検出器の画素行の投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけることを特徴とするものである。
【0010】
また、請求項に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、前記照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線と、前記面検出器の画素行と前記照射源とを結ぶ投影線とからなる開き角度をαとし、その画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とするものである。
【0011】
また、請求項に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記面検出器はフラットパネル型検出器とし、前記フラットパネル型検出器のゲート線の配列方向を走査中心軸方向に対応するように配置し、前記画像処理部は、前記面検出器における走査中心軸方向に対応する所定数画素行における各ゲートを同時にオンすることでローパスフィルタリングを行なうことを特徴とするものである。
【0012】
また、請求項に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とのいずれか一方を、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される中心軸に直交する第1方向に直線移動させるのと同期して、他方を前記第1方向とは反対方向である第2方向に平行直線移動させる直線走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記中心軸と前記照射源のビーム中心とのなす角度を、前記中心軸と走査所定位置での前記照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、第1方向と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とするものである。
【0013】
また、請求項に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器と、被検体の周りの円周軌道上に被検体を挟んで2の円弧軌道を対向させるとともに、両円弧の中心点同士を結ぶ直線が中心軸となるように設定し、両円弧軌道のいずれか一方の円弧軌道上に前記照射源を移動させるのと同期して、他方の円弧軌道上に前記面検出器を前記照射源との間隔が一定になるように移動させる円弧走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記中心軸と前記照射源のビーム中心とのなす角度を、前記中心軸と走査所定位置での前記照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、前記中心軸に直交する水平線と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とするものである。
【0014】
また、請求項に記載の断層撮影装置は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体を挟んで対向して平行配置される、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸に直交する両平行面のいずれか一方の平行面内で前記照射源を回転移動させるのと同期して、他方の平行面内で前記照射源の回転方向とは反対方向に前記面検出器を回転移動させる円形走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、その画素行が投影される走査中心軸上の場所に応じたローパスフィルタリングを行うことを特徴とするものである。
【0016】
また、請求項に記載の断層撮影装置は、請求項に記載の断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記平行面と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、αが大きいほど通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけることを特徴とするものである。
【0019】
また、請求項に記載の断層撮影装置は、請求項に記載の断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記平行面と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とするものである。
【0020】
【作用】
この発明の作用は次の通りである。すなわち、請求項1に記載の発明によれば、走査手段は、被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する。画像処理部は、面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、その画素行が投影される走査中心軸上の場所に応じて、照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線から離れた面検出器の画素行の投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかける。逆投影処理部は、画像処理部でローパスフィルタリングされた投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう。したがって、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像が、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングされて低減され、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像が低減される。
【0022】
また、請求項に記載の発明によれば、画像処理部は、照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線と、面検出器の画素行と照射源とを結ぶ投影線とからなる開き角度をαとし、その画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なう。したがって、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像が、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングされて低減され、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像が低減される。
【0023】
また、請求項に記載の発明によれば、面検出器はフラットパネル型検出器とし、このフラットパネル型検出器のゲート線の配列方向を走査中心軸方向に対応するように配置し、画像処理部は、走査中心軸方向に対応する所定数画素行における各ゲートを同時にオンすることでローパスフィルタリングを行なう。したがって、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像が、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングされて低減され、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像が低減される。
【0024】
また、請求項に記載の発明によれば、走査手段は、照射源と面検出器のいずれか一方を被検体の関心領域のほぼ中心に設定される中心軸に直交する第1方向に直線移動させるのと同期して、他方を前記第1方向とは反対方向である第2方向に平行直線移動させる直線走査を行なう。画像処理部は、中心軸と照射源のビーム中心とのなす角度を、中心軸と走査所定位置での照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、第1方向と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで平行直線走査して、被検体の関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非CTタイプ(照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない)の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【0025】
また、請求項に記載の発明によれば、走査手段は、被検体の周りの円周軌道上に被検体を挟んで2つの円弧軌道を対向させるとともに、両円弧の中心点同士を結ぶ直線が中心軸となるように設定し、両円弧軌道のいずれか一方の円弧軌道上に前記照射源を移動させるのと同期して、他方の円弧軌道上に面検出器を照射源との間隔が一定になるように移動させる円弧走査を行なう。画像処理部は、中心軸と照射源のビーム中心とのなす角度を、中心軸と走査所定位置での照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、前記中心軸に直交する水平線と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで円弧走査して、被検体の関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非CTタイプ(照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない)の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【0026】
また、請求項に記載の発明によれば、走査手段は、同一平面内回転走査に替えて、被検体を挟んで対向して平行配置される、走査中心軸に直交する両平行面のいずれか一方の平行面内で照射源を回転移動させるのと同期して、他方の平行面内で照射源の回転方向とは反対方向に面検出器を回転移動させる円形走査を行なう。したがって、照射源と面検出器とを個別に被検体を挟む両平行面の各平行面内で回転走査して、被検体の関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非CTタイプの断層撮影装置の場合であっても、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【0028】
また、請求項に記載の発明によれば、画像処理部は、平行面と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、αが大きいほど通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで回転走査して、被検体の関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非CTタイプ(照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない)の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【0031】
また、請求項に記載の発明によれば、画像処理部は、平行面と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで円形走査して、被検体の関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非CTタイプ(照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない)の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【0032】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照してこの発明の断層撮影装置に係る一実施例としてのX線CTタイプのX線断層撮影装置(以下、適宜にX線CT装置と呼ぶ。)について、図面を参照しながら説明する。図1は、この発明の断層撮影装置に係る実施例のX線CT装置の概略構成を示すブロック図である。
【0033】
この実施例のX線CT装置は、種々の情報および命令を入力する操作部10と、これら入力された情報および命令に基づいてX線撮影を制御する撮影制御部20と、この撮影制御部20により制御されながら撮像部40を動作させる駆動部30と、被検体Mの関心領域を撮影する撮像部40と、この撮像部40から検出された画像情報に基づいて被検体Mの関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行ない、その生成した3次元ボリュームデータを記憶するデータ処理部50と、このデータ処理部50に記憶された画像情報を出力表示するモニタ60とを備えている。
【0034】
以下、各部の構成および機能について詳細に説明する。図2(a)は、この実施例のX線CT装置におけるX線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとの一走査形態を示す概略平面図であり、図2(b)は、図2(a)に示したX線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを横から見た概略側面図である。図2(a)に示すように、被検体Mを挟んで、被検体Mの関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸Z周りに、X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを同期させて同一平面内で一回転(少なくとも半回転)走査させながら撮影することで、被検体の体軸周り1回転分(少なくとも半回転分)の透過像を取得する。操作部10からは、被検体Mの関心領域を撮影する前に、X線管Rからフラットパネル型X線検出器Dまでの距離や、X線管Rおよびフラットパネル型X線検出器Dを円形に回転移動させるその円形方向への移動ピッチなどが予め設定入力される。なお、この操作部10としては、キーボード、マウス、タッチパネルなどの入力装置が用いられる。上述したX線管Rはこの発明における照射源に相当する。
【0035】
撮影制御部20には、操作部10と、駆動部30およびデータ処理部50とが接続されている。撮影制御部20は、操作部10より設定入力された各情報に基づいて、駆動部30とデータ処理部50とをそれぞれ制御している。制御内容については、各部にて後述する。
【0036】
駆動部30は、図2(a)に示すように、被検体Mを挟んで対向配置されるX線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを、被検体Mの関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸Z周りに、同期させて同一平面内で一回転(少なくとも半回転)させて移動させるように走査させるものである。また、このとき、図2(b)に示すように、被検体Mに向けてX線管Rから照射されるコーンビーム状のX線の中心点が、常に、走査中心軸Z上の特定の点である、被検体Mの特定断層面の中心点Oを透過して、フラットパネル型X線検出器Dの検出面の中心点に垂直に入射されるように、X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを対向させている。上述した駆動部30はこの発明における走査手段に相当する。
【0037】
撮像部40は、図1に示すように、被検体Mを載置する天板Tと、被検体Mに向けてコーンビーム状のX線を照射するX線管Rと、被検体Mを透過したX線を検出するフラットパネル型X線検出器Dとを備えている。
【0038】
フラットパネル型X線検出器Dは、X線管RによるX線照射によって生じる被検体MのX線透視像を検出してX線検出信号としての電気信号に変換して出力するという構成のX線検出器であって、図3に示すように、多数の検出素子Duが縦横に配列されている所謂2次元状マトリックス状のX線検出器である。実施例のフラットパネル型X線検出器Dにおける検出素子Duの配列は、例えば横(i行)方向1024,縦(j列)方向1024の正方形マトリックスであるが、説明の便宜上、横(i)方向1000,縦(j)方向1000の正方形マトリックスであるものとし、図3には、縦3×横3マトリックス構成で合計9個分のマトリックス構成のみを示している。矩形の平面形状を有するフラットパネル型X線検出器Dは、検出面が円形に限られるイメージインテンシファイアと違って、胸部や腹部など大きな部位を撮影するのに適した方形の検出面が可能な点でも、有用なX線検出器である。
【0039】
フラットパネル型X線検出器Dは、図4に示すように、入射X線を電荷あるいは光に変換するX線変換層12と、このX線変換層12で生じた電荷あるいは光を検出する素子が縦横にマトリックス状に配置形成されている検出アレイ層13との積層構造となっている。このフラットパネル型X線検出器DのX線変換層12の平面寸法としては、例えば縦横約30cmが挙げられる。
【0040】
このフラットパネル型X線検出器Dには、図5(a)に示す直接変換タイプのものと、図5(b)に示す間接変換タイプのものがある。前者の直接変換タイプの場合、X線変換層12が入射X線を直に電荷に変換するセレン層やCdZnTe層などからなり、検出アレイ層13の表面に電荷検出素子14として表面電極15に対向形成された電荷収集電極群でもって電荷の検出を行いコンデンサCsに蓄電する構成となっていて、各電荷検出素子14とその上のX線変換層12の一部分とで1個の検出素子Duが形成されることになる。後者の間接変換タイプの場合、X線変換層12が入射X線を光に変換するシンチレータ層からなり、検出アレイ層13の表面に光検出素子16として形成されたフォトダイオード群でもって光の検出を行いコンデンサCsに蓄電する構成となっていて、各光検出素子16とその上のX線変換層12の一部分とで1個の検出素子Duが形成されることになる。
【0041】
フラットパネル型X線検出器Dは、図3に示すように、X線変換層12と検出アレイ層13とが形成されたX線検出基板41と、X線検出基板41のキャリア収集電極(電荷収集電極)を介して収集キャリア(収集電荷)を溜めるコンデンサCsと、コンデンサCsに蓄積された電荷を取り出すための通常時オフ(遮断)の電荷の電荷取り出し用スイッチ素子42である薄膜トランジスタ(TFT)と、X、Y方向の読み出し回路のマルチプレクサ45と、ゲートドライバ47とを備えている。
【0042】
また、フラットパネル型X線検出器Dは、図3に示すように、検出素子Duのスイッチ素子42用の薄膜トランジスタのソースがi方向に配列した縦の読み出し配線43に接続され、ゲートがj方向に配列した横の読み出し配線46に接続されている。読み出し配線43は電荷−電圧変換器群(プリアンプ群)44を介してマルチプレクサ45に接続されているとともに、読み出し配線46はゲートドライバ47に接続されている。なお、電荷−電圧変換器群44では、1本の読み出し配線43に対して、図示しないが、電荷−電圧変換器群44が1個それぞれ接続されている。
【0043】
そして、フラットパネル型X線検出器Dの場合、マルチプレクサ45およびゲートドライバ47へ信号取り出し用の走査信号が送り込まれることになる。検出部10の各検出素子Duの特定は、i方向・j方向の配列に沿って各検出素子Duへ順番に割り付けられているアドレス(検出素子Duが1000個としているので0〜999、検出素子Duが1024個である場合は0〜1023)に基づいて行なわれるので、取り出し用の走査信号は、それぞれi方向アドレスまたはj方向アドレスを指定する信号となる。
【0044】
j方向の走査信号に従ってゲートドライバ47からj方向の読み出し配線46に対し取り出し用の電圧が印加されるのに伴い、各検出素子Duが列単位で選択される。そして、i方向の走査信号に従ってマルチプレクサ45が切り替えられることにより、選択された列の検出素子DuのコンデンサCsに蓄積された電荷が、電荷−電圧変化器群44およびマルチプレクサ45の順に経て外部に送りだされることになる。このように、フラットパネル型X線検出器Dで検出された検出信号は、逐次、データ処理部50にリアルタイムに出力される。上述したフラットパネル型X線検出器Dはこの発明における面検出器に相当する。
【0045】
次に、データ処理部50の構成および機能について説明する。図1に示すように、データ処理部50は、撮像部40において走査各位置で検出された投影データ(検出信号)に基づいて、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成(フェルドカンプ(Feldkamp)法を用いた画像再構成)を行なう画像処理部51と、この画像処理部51で画像再構成された関心領域の3次元ボリュームデータを記憶する画像情報記憶部52とを備えている。この画像処理部51と画像情報記憶部52の具体的な機能について説明する。
【0046】
ここで、関心領域の3次元ボリュームデータを生成するために行なわれる、フェルドカンプ(Feldkamp)法による画像再構成の一連の処理手順について、図1,図2を参照しながら概説する。まず、図2に示すように、被検体Mを挟んでX線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを、被検体Mの関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸Z周りに、同期させて同一平面内で一回転させて移動させるように走査させることで、被検体Mの関心領域についての撮影を行ない、走査各位置で検出された、被検体Mの関心領域についての一群の投影データを取得する。次に、この一群の投影データを個別に、後述する所定の第1の重み付け処理を行なう。次に、第1の重み付け処理後の各投影データに対して、後述する所定のコンボリューション処理を施す。次に、コンボリューション処理後の各投影データに対して、後述する所定の第2の重み付け処理を行なう。次に、第2の重み付け処理した後の投影データを個別に、後述する所定の逆投影(バックプロジェクション:BP)処理してBP像(3次元ボリュームデータ)を生成する。このようにして、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成が行なわれる。なお、オペレータは、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を選択することで、選択した断層画像(走査中心軸(Z軸)方向から見た断層画像)が見られる。
【0047】
画像処理部51は、図1に示すように、撮影により得られた一群の投影データを個別に所定の第1の重み付け処理を行なう第1の重み付け処理部53と、この第1の重み付け処理後の各投影データに対して所定のコンボリューション処理を施すコンボリューション処理部54と、このコンボリューション処理後の各投影データに対して所定の第2の重み付け処理を行なう第2の重み付け処理部55と、この第2の重み付け処理した後の投影データを個別に所定の逆投影(バックプロジェクション:BP)処理してBP像(3次元ボリュームデータ)を生成する逆投影処理部56とを備えている。
【0048】
第1の重み付け処理部53は、撮影により得られた一群の投影データを個別に所定の第1の重み付け処理(リング補正、余弦補正)を行なう。具体的には、図6に示すように、走査各位置でフラットパネル型X線検出器Dで検出された各投影データに対して、フラットパネル型X線検出器Dの各画素行iごとにビュー方向の画素検出レベル変動を補正する、いわゆる、リング補正を行なう。なお、図6に示すように、被検体Mに向けてX線管Rから照射されるコーンビーム状のX線の中心点が、常に、被検体Mの特定断層面の中心点O(走査中心軸Z上の点でもある)を透過して、フラットパネル型X線検出器Dの検出面の中心点に垂直に入射されるようになっている。
【0049】
続いて、第1の重み付け処理部53は、図6に示すように、リング補正後の投影データに対して、次に示す式(1)に基づく余弦補正を行なう。ただし、RDは、X線管Rからフラットパネル型X線検出器Dまでの距離である。
cos θ=RD/(RD2 +Yj2 +Zj21/2 …… (1)
つまり、各画素に式(1)のcos θをかけて余弦補正を行なう。例えば、画素Dijは、Yj ・cos θとすることで、余弦補正後の画素値が求められる。これはビューによらず一定であるので、余弦補正テーブルとして予め作られている。このようにして、余弦補正後の投影データを算出する(図7には、「余弦補正後投影像:SC(i,j)」として図示している)。
【0050】
コンボリューション処理部54は、第1の重み付け処理後の各投影データ、すなわち、余弦補正後投影像:SC(i,j)に対して所定のコンボリューション処理を施す。実空間で行なうコンボリューション処理は、フーリエ空間で行なうフィルタリング処理と同等であるので、ここでは説明の便宜上、上述の所定コンボリューション処理を、フーリエ空間で行なうフィルタリング処理(図7に示す|ω|(絶対値オメガ)フィルタリング処理と、ローパスフィルタリング処理)として説明するものとする。なお、最初にコンボリューション処理部54での|ω|フィルタリング処理について説明し、その後にコンボリューション処理部54でのローパスフィルタリング処理について説明する。
【0051】
まず、コンボリューション処理部54での|ω|フィルタリング処理について説明する。コンボリューション処理部54は、フラットパネル型X線検出器Dのi行ごとに横方向に1次元フーリエ変換を行ない、フーリエ面像SCF(i,ω)を生成する1次元フーリエ変換部と、1次元フーリエ変換したフーリエ面像SCF(i,ω)に対して|ω|フィルタリングを施すフィルタリング部と、このフィルタリング部でフィルタリングした後のフーリエ面像SCF´(i,ω)を1次元逆フーリエ変換して実空間データに戻す1次元逆フーリエ変換部とを備えている。
【0052】
フィルタリング部は、図7に示すように、1次元フーリエ変換したフーリエ面像SCF(i,ω)のi行方向に等方的に高周波領域を低減して高周波ノイズ分を抑制するフィルタとデータ収集走査形態に依存するフィルタとにより構成される|ω|フィルタリング部を備えている。なお、上述のデータ収集走査形態に依存するフィルタは、フィルタリング後のフーリエ面像SCF´(i,ω)を1次元逆フーリエ変換する際に、直流成分が強調されて生成されるのを抑制しており、直流成分が強調されることに起因する偽像を低減しているのである。
【0053】
ここで、1次元フーリエ空間でフィルタリング処理を行なうことの意味合いについて説明する。1次元フーリエ空間でフィルタリング処理を行なうことは、数学的には次に示す式(2)で示される。なお、SCF´(i,ω)はフィルタリング処理された後の1次元フーリエ面像であり、M(ωi )は上述したフィルタリング部のフィルタ特性を示す関数である。
SCF´(i,ω)=SCF(i,ω)×M(ωi ) … (2)
【0054】
なお、M(ωi )は、前述の2個のフィルタ特性を表す関数の積として次に示す式(3)のように表される。
M(ωi )=Mi(ωi )・Mω(ωi) … (3)
式(3)に示した各フィルタ関数系の典型例について、以下に示す。
【0055】
Mi(ωi )は、図8(a)に示すようなフィルタ特性を有しており、次に示す式(4)〜(6)で表される。
Mi(ωi )=1 (ωi <CFR−WFR/2である場合) … (4)
Mi(ωi )={1−sin((ωi −CFR)・π/WFR)}/2
(CFR−WFR/2<ωi <CFR+WFR/2である場合)… (5)
Mi(ωi )=0 (CFR+WFR/2<ωi である場合) … (6)
ただし、高周波成分が図8(a)に示すように滑らかに減衰する正弦波状関数型にした。CFRはカットオフ周波数であり、WFRはフィルタ強度の遷移全周波数幅である(図8(a)参照)。このMi(ωi )は、1次元フーリエ空間での高周波成分を削除するものである。
【0056】
Mω(ωi)は、図8(b)に示すようなフィルタ特性を有しており、次に示す式(7)で表される。
Mω(ωi)=|ωi| … (7)
【0057】
なお、図8(a),(b)には、横軸のプラス方向の特性のみを図示しているが、横軸のマイナス方向の特性は、縦軸を中心に横軸のプラス方向の特性を線対称させたものと同じであるので、図示省略している。
【0058】
図7に戻って、1次元逆フーリエ変換部は、|ω|フィルタリング部で|ω|フィルタリングした後のフーリエ面像SCF´(i,ω)を1次元逆フーリエ変換して実空間データに戻して、コンボリューション後の投影像SC´(i,j)を生成する。
【0059】
次に、コンボリューション処理部54でのローパスフィルタリング処理について説明する。このコンボリューション処理部54は、さらに、図7に示すコンボリューション後の投影像SC´(i,j)のi行方向の画素に対して、そのi行方向の画素が投影される走査中心軸(Z方向)上の場所に応じたローパスフィルタをかけるフーリエ空間ローパスフィルタリング部を備えている。なお、このローパスフィルタは、ガウス型のローパスフィルタ特性を有するものである。ここで、このローパスフィルタリングの必要性について以下に説明する。
【0060】
走査各位置における投影データ全てについて、図7に示す|ω|フィルタリング処理だけを行ない、この処理後のコンボリューション後投影像SC´(i,j)の画素行iの近傍行の部分を逆投影(BP)処理して得た3次元ボリュームデータを3次元フーリエ変換した3次元フーリエ変換データ(3次元フーリエ分布像)について見てみる。図10(a)に示すように、例えば、フラットパネル型X線検出器Dの中心に近い画素行in-m と検出面の中心から離れた画素行in とにおける各3次元フーリエ変換データ(3次元フーリエ分布像)には、図10(b),(c)に示すように、ωZ軸を軸心とし互いの中心角の先端がフーリエ空間座標の原点で交わる2つの欠損円錐(ミッシングコーン:Missing Cone)MSが存在している。この2つの欠損円錐MSは、データが欠落して存在していないものである。また、この2つの欠損円錐MSの大きさ(体積)は、フラットパネル型X線検出器Dの画素行iごとに異なっている。すなわち、X線管Rから照射されるコーンビームX線の中心と、フラットパネル型X線検出器Dの走査中心軸方向(Z軸)に並ぶ各画素行iとを結ぶ対向パスが、X線管Rのコーンビーム状X線の中心点と被検体Mの特定断層面の中心点Oとフラットパネル型X線検出器Dの中心点おける画素行i0 とを結ぶ直線(以下、適宜に照射基準線Refと呼ぶ)に対して傾いている角度分の大きさに比例して、欠損円錐MSの中心角および体積が大きくなっている。
【0061】
図10(b)に示すように、X線管Rと、フラットパネル型X線検出器Dの検出面の中心に近い画素行in-m とを結ぶ対向パスは、照射基準線Refに対してθn-m だけ傾いており、その角度は比較的小さいので、走査各位置における対向パスの不一致分は小さくとなっており、欠損円錐MSは中心角が小さく体積の小さいものとなっている。なお、上述のm,nは整数であり、m<nとなっている。図10(c)に示すように、X線管Rと、フラットパネル型X線検出器Dの検出面の中心から離れた画素行in とを結ぶ対向パスは、照射基準線Refに対してθn 傾いており、その角度は比較的大きいので、走査各位置における対向パスの不一致分は大きくとなっており、欠損円錐MSは中心角が大きく体積の大きいものとなっている。このように、フーリエ空間ローパスフィルタリング部は、図10に示すように、フラットパネル型X線検出器Dの中心から離れた画素行ほど体積が大きくなる欠損円錐MSの影響を低減させるように、画素行iごとに応じたローパスフィルタをかけることが特徴となっている。
【0062】
具体的には、図9,図10に示すように、フーリエ空間ローパスフィルタリング部は、照射基準線Refと、フラットパネル型X線検出器Dの各画素行in とX線管Rとを結ぶ投影線とからなる開き角度をα(α=θn )とし、その画素行in の投影データに対して、sin(θn )に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なう。例えば、図9(a)に示すように、フラットパネル型X線検出器Dの画素行im に対してsin(θm )に比例するぼかしを行なう、すなわち、X線管Rからフラットパネル型X線検出器Dまでの距離RDにtanθm をかけたもの、つまり照射基準線Refから画素行im までの距離(=RD・tan θm )にある画素行im に対して、sin(θm )に比例するガウス型のローパスフィルタをかけて、|sin(θ)|に比例するぼかし程度(FWHM:半値幅)でローパスフィルタリングを行なう。図9(b)には、|sin(θ)|に比例するぼかし程度(FWHM:半値幅)特性を示す。なお、縦軸をフラットパネル型X線検出器Dの画素行iとし、横軸をぼかし程度(FWHM:半値幅)とする。
【0063】
図10(b)に示すように、フラットパネル型X線検出器Dの検出面の中心に近い画素行in-m では、欠損円錐が小さくその影響は小さいので、ぼかし程度(FWHM:半値幅)は小さく、すなわち、ωZ軸の高周波成分をカットする量(図中の白抜き部分)を小さくしている。また、図10(c)に示すように、フラットパネル型X線検出器Dの検出面の中心から離れた画素行in では、欠損円錐が大きくその影響は大きいので、ぼかし程度(FWHM:半値幅)は大きく、すなわち、ωZ軸の高周波成分をカットする量(図中の白抜き部分)を大きくしている。
【0064】
このように、フラットパネル型X線検出器Dの中心から走査中心軸(Z軸)方向に離れた画素行i程大きく現れる欠損円錐MSを、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減させることができ、これにより、後段の逆投影処理部56でコンボリューション後の投影像を後述の逆投影して生成する3次元ボリュームデータにおける偽像を低減しているのである。なお、上述したコンボリューション処理部54はこの発明における画像処理部に相当する。
【0065】
第2の重み付け処理部55は、走査各位置におけるコンボリューション処理後の投影データSC´(i,j)に対して所定の第2の重み付け処理を行なう。具体的には、次に示す式(8)に従って、被検体固定座標系での3次元画素ポイント:P(l,m,n)の重み関数W(l,m,n)を計算する(図11参照)。ただし、Hは、画素ポイントP(l,m,n)からX軸に下ろした垂線の位置である。
W(l,m,n)=RO2 /(RO+OH)2 … (8)
【0066】
続いて、第2の重み付け処理部55は、図12に示すように、3次元画素ポイント:P(l,m,n)の投影像SC´(i,j)上での座標(I,J)と重み用の仮数(az ,ay )とを求める。このようにして、第2の重み付け処理を行なう。
【0067】
次に、逆投影処理部56は、第2の重み付け処理後の投影データを個別に所定の逆投影(バックプロジェクション:BP)処理してBP像(3次元ボリュームデータ)を生成する。具体的には、図12に示すように、走査各位置で検出された、被検体Mの関心領域についての一群の第2の重み付け処理後の投影データを、撮影された被検体Mの関心領域に仮想的に設定される3次元格子群Kの所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、すなわち、上述の単純BP像を生成する。なお、図12に示す3次元格子群Kの各軸方向における最小単位の格子間隔は、フラットパネル型X線検出器Dの画素ピッチとの関係で決まる。すなわち、フラットパネル型X線検出器Dはその画素が1000×1000の2次元マトリックス状に配置されていることから、3次元格子群Kの各3軸(X,Y,Z軸)方向の格子点の最大設定数はそれぞれ1000となる。
【0068】
具体的には、次に示す式(9)に従って、線型補間演算とバックプロジェクションとを行なう。なお、バックプロジェクション蓄積量をIn(l,m,n)とし、前回までのバックプロジェクション蓄積量をIn-1(l,m,n)とする。In (l,m,n )=In-1 (l,m,n )+W(l,m,n )×{W11・SC´(I,J)+W12・SC´(I,J+1)+W21・SC´(I+1,J)+W22・SC´(I+1,J+1)} …(9)
【0069】
なお、投影像の画素間隔を1に規格化して、次に示す式(10)〜(13)のような乗算重み付け方式の場合の重み関数を示す。
11=(1−az )・(1−ay ) …(10)
12=(1−az )・ay …(11)
21=az ・(1−ay ) …(12)
22=az ・ay …(13)
【0070】
3次元格子群Kの残りの所定の格子点についても、前記と同様にして逆投影を行ない、さらに、走査各位置ごと、すなわち、360°にわたって、これと同様の逆投影を行なうことで、BP像(3次元ボリュームデータ)が生成される。
【0071】
画像情報記憶部52は、逆投影処理部56で生成された3次元ボリュームデータを記憶しており、操作部10から任意の断層面の画像情報が選択されると、その断層面の画像情報をモニタ60に出力する。
【0072】
モニタ60は、画像情報記憶部52に蓄積された所定の画像情報を出力表示するものである。
【0073】
以上、上述した実施例では、コンボリューション処理部54は、フラットパネル型X線検出器Dにおける、走査中心軸方向(Z軸)に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、その画素行が投影される走査中心軸(Z軸)上の場所に応じたローパスフィルタリングを行なっているので、被検体Mの関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸(Z軸)に直交する中心面から、その走査中心軸(Z軸)方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像を、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減することができ、走査中心軸(Z軸)方向に離れた部位における再構成偽像を低減できる。
【0074】
コンボリューション処理部54は、X線管Rのビーム中心を走査中心軸(Z軸)に直交するように照射した照射基準線Refと、フラットパネル型X線検出器Dの画素行iとX線管Rとを結ぶ投影線とからなる開き角度をα(=θn )とし、その画素行の投影データに対して、sin(θn )に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なっているので、被検体Mの関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸(Z軸)に直交する中心面から、その走査中心軸(Z軸)方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像を、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減することができ、走査中心軸(Z軸)方向に離れた部位における再構成偽像を低減できる。
【0075】
また、上述の実施例では、フラットパネル型X線検出器Dで検出した投影データの画素行ごとに、sin(θn )に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なっているが、フラットパネル型検出器Dのゲート線の配列方向を走査中心軸(Z軸)方向に対応するように配置し、走査中心軸(Z軸)方向に対応する所定数画素行における各ゲートを同時にオンすることにより、同時にこの所定数画素行についての複数画素分の信号が読み出され、結果的に加算された信号が得られる(加算処理される)ことで、面検出器上でのsin(θn )に比例するぼかしを行なうようにしてもよい。これは、上述のローパスフィルタリングをかけたことと等価なものである。したがって、所定数画素行にローパスフィルタリングがかかったデータ収集を、面検出器側でその所定数画素行のデータを同時に読み出し制御するということでハードウエア的に実現できる。
【0076】
なお、上述の実施例は、X線管Rおよびフラットパネル型X線検出器Dを連続回転走査、例えば、螺旋走査(ヘリカルスキャン)させるコーンビームCTにおいても適用可能である。
【0077】
この発明は、上記実施例に限られるものではなく、下記のように変形実施することができる。
【0078】
(1)上述の実施例では、駆動部30は、被検体Mを挟んで、被検体Mの関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸(Z軸)周りに、X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを同期させて同一平面内で一回転(少なくとも半回転)走査させて、X線CTタイプのX線断層撮影を行なっているが、以下に説明するような非CTタイプ(X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを被検体の体軸周りに半回転以上させない)のX線断層撮影を行なうための種々の走査を行えるようにしてもよい。
【0079】
例えば、駆動部30は、図13(a)に示すように、X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dのいずれか一方を第1方向に移動させるのと同期して、他方を第1方向とは反対方向である第2方向に移動させるようにして、X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを被検体Mを挟んで平行直線移動させた場合には、X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを被検体Mを挟んで平行直線走査して、被検体Mの関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なうための非CTタイプの断層撮影を行なうことができる。なお、この直線走査の場合には、図13(a)に示すように、X線管Rのコーンビーム中心と走査中心軸であるZ軸との角度は、走査各位置によって変化していく、つまり、+θmax 〜−θmax の範囲で変化していくことになる。そこで、Z軸と走査所定位置でのX線管Rのコーンビーム中心とのなす角度を例えば2乗平均するなどして平均角度θave を求める。そして、Z軸とX線管Rのコーンビーム中心とのなす角度が、この求めた平均角度θave に一致させた状態における、Z軸に直交する水平線(直線)HLとフラットパネル型X線検出器Dの各画素行とのなす角度をαとし、フラットパネル型X線検出器Dの各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことで、開き角度(90°−|θ|)ごとに大きさの異なる欠損円錐による偽像を低減できる
【0080】
また、駆動部30は、図13(b)に示すように、被検体Mの周りの円周軌道上に被検体Mを挟んで2つの円弧軌道を対向して設定し、両円弧軌道のいずれか一方の円弧軌道上にX線管Rを移動させるのと同期して、他方の円弧軌道上にフラットパネル型X線検出器DをX線管Rとの間隔が一定になるように移動させる、所謂、円弧走査を行なうようにした場合は、被検体Mを挟んでX線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを個別に円弧走査して、被検体Mの関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なうための非CTタイプの断層撮影を行なうことができる。なお、この円弧走査の場合には、図13(b)に示すように、X線管Rのコーンビーム中心と走査中心軸であるZ軸との角度は、走査各位置によって変化していく、つまり、+θmax 〜−θmax の範囲で変化していくことになる。そこで、Z軸と走査所定位置でのX線管Rのコーンビーム中心とのなす角度を例えば2乗平均するなどして平均角度θave を求める。そして、Z軸とX線管Rのコーンビーム中心とのなす角度が、この求めた平均角度θave に一致させた状態における、Z軸に直交する水平線(直線)HLとフラットパネル型X線検出器Dの各画素行とのなす角度をαとし、フラットパネル型X線検出器Dの各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことで、開き角度(90°−|θ|)ごとに大きさの異なる欠損円錐による偽像を低減できる
【0081】
また、上述の直線走査や円弧走査の場合の非CTタイプの断層撮影において、フラットパネル型X線検出器Dの各画素行の投影データに対して、X線管Rに近いZ軸上の場所ほど通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるようにしてもよい。
【0082】
また、駆動部30は、図14に示すように、被検体Mを挟んでX線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを被検体Mを挟んで対向して平行配置される両平行面のいずれか一方の平行面内でX線管Rを回転移動させるのと同期して、他方の平行面内でX線管Rの回転方向とは反対方向にフラットパネル型X線検出器Dを回転移動させる、所謂、円形走査を行なうようにした場合は、X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを個別に被検体Mを挟む両平行面の各平行面内で回転走査して、被検体Mの関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なうための非CTタイプの断層撮影を行なうことができる。なお、この円形走査の場合には、図14に示すように、走査中心軸であるZ軸に直交する水平線(直線)HLとフラットパネル型X線検出器Dの各画素行とのなす角度をαとし、フラットパネル型X線検出器Dの各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことで、開き角度αごとに大きさの異なる欠損円錐による偽像を低減できる。
【0084】
また、図13,図14に示すように非CTタイプの断層撮影装置において、X線管Rから照射されるコーンビーム状のX線の中心点が、常に、被検体Mの特定断層面の中心点Oを透過してフラットパネル型X線検出器Dの検出面の中心点に垂直に入射されるように、X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dとを対向させているが、このフラットパネル型X線検出器Dの検出面を被検体Mの断層面と平行になるようにしておいてもよい。
【0085】
また、X線管Rおよびフラットパネル型X線検出器Dを移動させるようにして走査しているが、例えば、X線管Rを固定としフラットパネル型X線検出器Dと被検体Mとを移動させて走査したり、フラットパネル型X線検出器Dを固定としX線管Rと被検体Mとを移動させて走査したりするなど、X線管Rとフラットパネル型X線検出器Dと被検体Mとのうちのいずれか2つを移動させるようにして走査してもよい。
【0086】
(2)上述の実施例のコンボリューション処理部54では、|ω|フィルタリング後にローパスフィルタリングを行なっているが、|ω|フィルタリングとローパスフィルタリングの演算順序はどちらが先でも構わない。また、上述の実施例では、|ω|フィルタリングとローパスフィルタリングとの双方をフーリエ空間上で行なっているが、この双方を実空間上で行なってもよいし、一方を実空間上で他方をフーリエ空間上で行なってもよい。また、上述の実施例では、ローパスフィルタリングのフィルタ関数としてガウス型のフィルタ関数を一例として採用しているが、正弦波形型のフィルタ関数などガウス型以外のフィルタ関数を採用してもよい。
【0087】
(3)上述の実施例のコンボリューション処理部54では、フラットパネル型X線検出器Dで検出した投影データの画素行ごとに、sin(θn )に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なっているが、コンボリューション処理部54は、図10に示すように、X線源RのX線ビーム中心を走査中心軸(Z軸)に直交するように照射した照射基準線Refから離れたフラットパネル型X線検出器Dの画素行iの投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるようにしてもよい。
【0088】
具体的には、照射基準線Refに近いフラットパネル型X線検出器Dの画素行iの投影データに対しては、図15(a)に示すように、通過周波数が高い(例えばカットオフ周波数CFR1である)ローパスフィルタリングをかけ、殆ど高周波成分をカットせずに、直流からカットオフ周波数CFR1までを通過させるようにする。次に、前記よりも照射基準線Refから離れたフラットパネル型X線検出器Dの画素行iの投影データに対しては、図15(b)に示すように、前記よりも通過周波数を低くした(例えばカットオフ周波数CFR2である)ローパスフィルタリングをかけ、直流からカットオフ周波数CFR2までを通過させるようにする。次に、前記よりもさらに照射基準線Refから離れたフラットパネル型X線検出器Dの画素行iの投影データに対しては、図15(c)に示すように、前記よりもさらに通過周波数を低くした(例えばカットオフ周波数CFR3である)ローパスフィルタリングをかけ、直流からカットオフ周波数CFR3までを通過させるようにする。なお、これらのカットオフ周波数は、CFR3<CFR2<CFR1の関係にある。このようにして、照射基準線Refから離れたフラットパネル型X線検出器Dの画素行iの投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるようにする。このようにした場合でも、被検体Mの関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸(Z軸)に直交する中心面から、その走査中心軸(Z軸)方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像を、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減することができ、走査中心軸(Z軸)方向に離れた部位における再構成偽像を低減できる。
【0089】
(4)上述の実施例では、面検出器としてフラットパネル型X線検出器Dを採用しているが、X線CCDカメラやI.I管やイメージングプレートなど各種の2次元面検出器を採用することもできる。
【0090】
(5)上述の実施例の断層撮影装置は、被検体Mを人体などとして医療用に用いることもできるし、被検体MをBGA(Ball Grid Array)基板やプリント配線基板など各種の電子部品などとして非破壊検査用に用いることもできる。
【0091】
【発明の効果】
以上の説明からも明らかなように、請求項1に記載の断層撮影装置によれば、画像処理部は、面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、その画素行が投影される走査中心軸上の場所に応じて、照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線から離れた面検出器の画素行の投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるので、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像を、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減でき、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像を低減できる。
【0093】
また、請求項2に記載の発明によれば、画像処理部は、照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線から離れた面検出器の画素行の投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるので、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像が、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングされて低減され、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像が低減される。
【0094】
また、請求項に記載の断層撮影装置によれば、画像処理部は、照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線と、面検出器の画素行と照射源とを結ぶ投影線とからなる開き角度をαとし、その画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像を、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングして低減でき、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像を低減できる。
【0095】
また、請求項に記載の発明によれば、面検出器はフラットパネル型検出器とし、このフラットパネル型検出器のゲート線の配列方向を走査中心軸方向に対応するように配置し、画像処理部は、走査中心軸方向に対応する所定数画素行における各ゲートを同時にオンすることでローパスフィルタリングを行なうので、被検体の関心領域のほぼ中心に位置し、かつ、走査中心軸に直交する中心面から、その走査中心軸方向に離れた部位ほど大きく現れる偽像が、その程度に応じて適切にローパスフィルタリングされて低減され、走査中心軸方向に離れた部位における再構成偽像が低減される。
【0096】
また、請求項に記載の断層撮影装置によれば、照射源と面検出器のいずれか一方を中心軸に直交する第1方向に直線移動させるのと同期して、他方を前記第1方向とは反対方向である第2方向に平行直線移動させる。画像処理部は、走査中心軸と照射源のビーム中心とのなす角度を、走査中心軸と走査所定位置での照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、第1方向と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで平行直線走査して、被検体の関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非CTタイプ(照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない)の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【0097】
また、請求項に記載の断層撮影装置によれば、被検体の周りの円周軌道上に被検体を挟んで2つの円弧軌道を対向させるとともに、両円弧の中心点同士を結ぶ直線が中心軸となるように設定し、両円弧軌道のいずれか一方の円弧軌道上に前記照射源を移動させるのと同期して、他方の円弧軌道上に面検出器を照射源との間隔が一定になるように移動させる。画像処理部は、中心軸と照射源のビーム中心とのなす角度を、中心軸と走査所定位置での照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、中心軸に直交する水平線と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで円弧走査して、被検体の関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非CTタイプ(照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない)の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【0098】
また、請求項に記載の断層撮影装置によれば、被検体を挟んで対向して平行配置される、走査中心軸に直交する両平行面のいずれか一方の平行面内で照射源を回転移動させるのと同期して、他方の平行面内で照射源の回転方向とは反対方向に面検出器を回転移動させるので、照射源と面検出器とを個別に被検体を挟む両平行面の各平行面内で回転走査して、被検体の関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう非CTタイプの断層撮影装置の場合においても、開き角度に応じた部位における再構成偽像を低減できる。
【0100】
また、請求項に記載の発明によれば、画像処理部は、平行面と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、αが大きいほど通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけるので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで回転走査して、被検体の関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非CTタイプ(照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない)の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【0103】
また、請求項に記載の発明によれば、画像処理部は、平行面と面検出器の各画素行とのなす角をαとし、面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうので、照射源と面検出器とを被検体を挟んで円形走査して、被検体の関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう、いわゆる、非CTタイプ(照射源と面検出器とを被検体の体軸周りに半回転以上させない)の断層撮影装置の場合に現れる偽像が、適切にローパスフィルタリングされて低減され、開き角度に応じた部位における再構成偽像が低減される。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例に係るX線CT装置のブロック図である。
【図2】(a)は実施例のX線CT装置におけるX線管とフラットパネル型X線検出器との一走査形態を示す概略平面図であり、(b)は(a)の概略側面図である。
【図3】フラットパネル型X線検出器の構成図である。
【図4】フラットパネル型X線検出器の概略構成を示す斜視図である。
【図5】(a)、(b)はフラットパネル型X線検出器の層構造を示す断面図である。
【図6】実施例の第1の重み付け処理部による余弦補正を説明するための模式図である。
【図7】実施例のコンボリューション部での一連の処理を説明するための模式図である。
【図8】(a)、(b)は実施例の|ω|フィルタリング部の各フィルタ関数を示す特性図である。
【図9】(a)、(b)は画素行ごとに、開き角度に応じたローパスフィルタリングを施すことを説明するための模式図である。
【図10】(a)〜(c)は画素行ごとに、開き角度に応じたローパスフィルタリングを施すことを説明するための模式図である。
【図11】コンボリューション処理後の投影データを仮想の3次元格子群に逆投影処理することを説明するための模式図である。
【図12】コンボリューション処理後の投影データを仮想の3次元格子群に逆投影処理することを説明するための模式図である。
【図13】(a)、(b)は非CTタイプのX線断層撮影装置における撮影の様式図である。
【図14】非CTタイプのX線断層撮影装置における撮影の様式図である。
【図15】(a)〜(c)は照射基準線から離れたフラットパネル型X線検出器の画素行ほど通過周波数が低くなるローパスフィルタ特性を示す特性図である。
【符号の説明】
30 … 駆動部
51 … 画像処理部
54 … コンボリューション処理部
56 … 逆投影処理部
D … フラットパネル型X線検出器
M … 被検体
R … X線管

Claims (8)

  1. 被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、
    前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、前記照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線から離れた前記面検出器の画素行の投影データほど、通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけることを特徴とする断層撮影装置。
  2. 被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、
    前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、前記照射源のビーム中心を走査中心軸に直交するように照射した照射基準線と、前記面検出器の画素行と前記照射源とを結ぶ投影線とからなる開き角度をαとし、その画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
  3. 被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸周りに同期させて同一平面内で回転走査する走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、
    前記面検出器はフラットパネル型検出器とし、前記フラットパネル型検出器のゲート線の配列方向を走査中心軸方向に対応するように配置し、
    前記画像処理部は、前記面検出器における走査中心軸方向に対応する所定数画素行における各ゲートを同時にオンすることでローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
  4. 被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とのいずれか一方を、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される中心軸に直交する第1方向に直線移動させるのと同期して、他方を前記第1方向とは反対方向である第2方向に平行直線移動させる直線走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成 を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記中心軸と前記照射源のビーム中心とのなす角度を、前記中心軸と走査所定位置での前記照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、第1方向と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
  5. 被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器と、被検体の周りの円周軌道上に被検体を挟んで2つの円弧軌道を対向させるとともに、両円弧の中心点同士を結ぶ直線が中心軸となるように設定し、両円弧軌道のいずれか一方の円弧軌道上に前記照射源を移動させるのと同期して、他方の円弧軌道上に前記面検出器を前記照射源との間隔が一定になるように移動させる円弧走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記中心軸と前記照射源のビーム中心とのなす角度を、前記中心軸と走査所定位置での前記照射源のビーム中心とのなす角度から求められた平均角度に一致させた状態における、前記中心軸に直交する水平線と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
  6. 被検体に対して透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして被検体に照射する照射源と、被検体を挟んで前記照射源に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する面検出器とを、被検体を挟んで対向して平行配置される、被検体の関心領域のほぼ中心に設定される走査中心軸に直交する両平行面のいずれか一方の平行面内で前記照射源を回転移動させるのと同期して、他方の平行面内で前記照射源の回転方向とは反対方向に前記面検出器を回転移動させる円形走査を行なう走査手段と、走査各位置で検出された投影データに対して所定の画像処理を施す画像処理部と、前記画像処理部で画像処理された投影データを、撮影された被検体の関心領域に仮想的に設定される3次元格子群の所定の格子点に逆投影して、関心領域の3次元ボリュームデータを生成する画像再構成を行なう逆投影処理部とを備え、この3次元ボリュームデータから任意の断層面の画像を取得する断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記面検出器における、走査中心軸方向に対応する方向に直交する画素行ごとの投影データに対して、その画素行が投影される走査中心軸上の場所に応じたローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
  7. 請求項6に記載の断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記平行面と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、αが大きいほど通過周波数が低くなるローパスフィルタリングをかけることを特徴とする断層撮影装置。
  8. 請求項6に記載の断層撮影装置において、前記画像処理部は、前記平行面と前記面検出器の各画素行とのなす角をαとし、前記面検出器の各画素行の投影データに対して、sin(α)に比例するぼかしとしてのローパスフィルタリングを行なうことを特徴とする断層撮影装置。
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FR2847797B1 (fr) * 2002-11-28 2005-09-23 Ge Med Sys Global Tech Co Llc Perfectionnements aux procedes et dispositifs d'imagerie fluoroscopique
US6990167B2 (en) * 2003-08-29 2006-01-24 Wisconsin Alumni Research Foundation Image reconstruction method for divergent beam scanner
JP2006122086A (ja) * 2004-10-26 2006-05-18 Hitachi Ltd 生体光計測装置
FR2884948B1 (fr) * 2005-04-26 2009-01-23 Gen Electric Procede et dispositif de reduction du bruit dans une sequence d'images fluoroscopiques
JP5405048B2 (ja) * 2007-07-10 2014-02-05 株式会社東芝 X線コンピュータ断層撮影装置、再構成処理装置及び画像処理装置
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