JPS62102739A - X線断層撮像装置 - Google Patents

X線断層撮像装置

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JPS62102739A
JPS62102739A JP60244821A JP24482185A JPS62102739A JP S62102739 A JPS62102739 A JP S62102739A JP 60244821 A JP60244821 A JP 60244821A JP 24482185 A JP24482185 A JP 24482185A JP S62102739 A JPS62102739 A JP S62102739A
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JP
Japan
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switch
amplifier
ray
input
capacitor
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JP60244821A
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弘文 柳田
宇野 英明
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GE Healthcare Japan Corp
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Yokogawa Medical Systems Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野) 本発明はX線所層11i1像装置に関し、史に詳しくは
、測定誤差の改善に関する。 (従来の技術) 第3図はパルス照射方式のX線断層’id l像装置の
凹部構成図である。図において、1はX線管、2はX線
管1から照射されるX線を検出りる多数のX線検出器(
本例では502個)よりなるX線検出器l11であり、
これらX線管1及びX線検出:恨列2は被検体−1−を
中心にして回転可能に配置され−(いる。XPj管1か
ら照fJ・IされるX線の一部は被検体1で吸ll!減
食されてX線検出器列2を構成するX¥Q検出器22〜
25+11で検出され、電流信号に変換される。一方、
被検体「を透過しないX線L;L X線検出器列20両
端に設けられたリファレンスX線検出2ilA(2+)
及びB(2502>で検出され、電流信号に変換される
。これら各XL6検出器21〜25o2の出力端子はコ
ンデンサ31〜35o?を介してJ(通電位+::jに
接続されるとitに第1のスイッチ41〜45ozを介
して増幅器5に3(通に接続され(いる。該増幅器50
入力端子は第2のスイッチ−6を介して共通?U位点に
接続され、出力端′3′はA/D変換器7に)妄続され
ている。該△/D変換各7の出力端子は計q′et8に
接続されている。9は第1のスイッチ41〜4502及
び第2のスイッチ6をオン・オフf、IJ tit す
るための制御イΔ号を)X出するmi制御回路であり、
諸制御回路9には外部クロック信号源10の出ツノ端子
が接続されている。、 t!IIら、第1のスイッチ4
1〜45o2.第2のスイッチ6及び制御回路9は、各
]ンデン+j 3 、−35o2に充電される電圧を選
択的に増幅VS5及びA/D変換器7で構成される測定
回路に入力σる入力選択回路を構成している。 このような構成において、各コンデンサ31〜35oz
はX線検出器2+・”25o?の検出電流で充電され、
該各コンフ士ンリ”31〜3 s o 2に充゛tムさ
れた’tU JTは第1のスイッチ/II〜45oz及
び増幅?!i5を介してA/D変換器7に加えられてデ
ジタル信号に変換される。そして、Δ/
【〕変換its
 7で変換されたデジタル信号は計g)機8に加えられ
て所定の演n処理が行われる。又、第1のスイッチ41
〜45o2をオンにした状態で第2のスイッチ6をオン
にすることにより、各コンデンサ31〜35o2のリセ
ット(放電)が行われる。 第4図は第3図の装置にお【ノる従来の駆動例を承りタ
イハブ1!−トであり、X線がパルス状に照…される例
を示している。第4図にJ3いて、(a )は検出電流
lを示し、(11)〜(d )はぞれぞれ第1のスイッ
チ−41〜45ozの動作を示し、(e)は第2のスイ
ッチ6の動作を示している。 第1のスイッチ4.1〜4so2は、検出tFi m 
Iが無い時刻1.において同時にオンになり、検出電流
f hi照い時刻【2においてhi1時にオフとなる。 検出゛電流■は第1のスイッチ41〜4502がオフに
なった後の時刻t3にJ3いて立ら、1−がり、一定時
間経過後の「1刻t4においてでLり下がる。一方、第
2のス〜(ツチ6は、検出’1jlf流lが立15Fが
った模の時刻【5においてA)となる。これにより、各
コンiン4+ 3 r □〜3502のリセットは第1
のスイッチ41〜45oz及び第2のスイッチ6がオン
になる時刻1.において同時に開始され、第1のスイッ
′F41〜45o2がオフになる時刻【2までに完了り
る1、工の後、第2のスイッチ61fi オフになる時
刻[5までに各コンデンサ31〜35o?は検出電流I
により充電される。このようにして各コンデンサ31〜
3502の充電が完了すると、第1のスイッチ41〜4
5o?が例えば第5図に示すような所定の順序に従って
順次一定の時間づつオンとなり、各コンデンサ31〜3
502に充電された電圧の走査i1+11定が行われる
。 即し、時刻t5において第2のスイッチ6がA)とhる
ど同n5に例えば第1のスイッチ4z49がオンどなり
コンデンサ3249に充電された?む圧の測定が行われ
、時刻t+1において第1のスイッチ4z49がオフに
なると同時に第2のスイッチ4?5oがオンになりコン
デンサ32soに充電された電圧の測定が行われる。こ
のような電圧測定動作がコンデンサ−3502まで順次
行われる。。 尚、回転中心近傍に位jするX線検出器2?49から2
?5o→2?46−伽2?51−伽・・・→△(21)
→B(2so?>の順に左右に広がる方向に走査測定す
る例を示したが、これG、LPIJ接するX線検出器の
測定を可能な限り接近したl+、’l刻で行うようにし
たことによる1゜ さて、このようなパルスX線照射方式の装置で、X線を
連続照射して観測する場合について考察してみる。第4
図に示すような駆動によれば、各コンデンサ31〜35
o2のリセット・完了から’、M !〔測定開始までの
肋間(よそれぞれ貨なっているので、この駆far R
式を連続照射の場合にイのまま適用すると各コンデンサ
31〜35ozの充電11.1間に矛が生じ測定電1F
が不正確になる。 例えば商用電源を仝波整流することにより得られる脈流
波の高゛セ圧で連続的にX線を発生させるように構成さ
れ1.:X線Iei層曜像装置の場合には、商用電源に
存在する波形干害によってそのX線は2周期毎に変動す
る脈流波となり、検出電流を正確に測定できないことに
なる。又、all定に寄与する検出電流の利用効率が低
下してしまうという欠点しある。そこで、これを解決す
る一つの策として出願人は第6図に示すような駆動方式
を実現した。 即ら、各チトンネルの第1のスイッチをクロックCLの
川明To−cJンにし、11つそのオンの時間を一定に
すると共にオン時間の後半Trsff5間第2のスイッ
チをオンにしてコンデンサ゛をリセットする。これによ
り各コンデンサは、そのタイミングにはズレがあるもの
の充電時間は一律にTo −TrSとなり、検出電流を
正゛瞳に測定することができるようになっている。 (発明が解決しようとする問題点) しかしながら、高速化を日桁づ場合、検出電流の;!’
11速り°ンブリングが川水されるが、A/[)変換器
に部門した増幅器を単に高速応答型のものに代えると、
それににっで雑音が増加し測定誤差が生ずるという問題
がある。 又、入力を1ノンプルしてA/D変換した後、次のブ]
rンネルのサンプル及びA/r)変換までの間、Δ/D
変yA器番よ柿ら状態と<’にっでおり、Δ/D変換器
の利用効率が悪く、仝ヂt・ンネルの入力をA//[〕
変換する時間が艮くががることになり、高速化を阻害す
る要因となっている。 本発明は上2の点に鑑みてなされたもので、その目的は
、連続的にX線を照射するX線断Ft4111i像装置
において、ことさら高速応答型の増幅器を使用すること
なく、又、Δ/〔〕変換器の個数を増加することなく、
測定誤差が小ざく全入力のΔ/D変換に個する時間の短
いX線115′i層歴像装置を提供することにある。 (問題点を解決するためのT一段) このような問題点を解決覆る本発明は、被検体に連続的
にX線を照射JるX線管と、被検体を回転中心としてX
線管と対向配置され被検体を通過したX線を検出するX
線検出器列と、該X線検出器91」の各X線検出器の検
出電流によりそれぞれ充電されろ多数の」ンデンサと、
該コンデンサに充電される電圧を選択してΔ/D変換器
に入力する入力選択回路を具備してなるX1il断層湿
@装置において、iy7記人万入力選択回路眞記多数の
コンデン看すの出力をそれぞれ選択して取り出す第1の
スイッチと、前記多数の:】ンデンサを複数のグルー′
ゾに分りイの各グループごとに1個ずつ対応して設けら
れた多数の増幅器と、各増幅器の出力を17<−的に選
択Lノて△/D変換器に入力する第3のスイッチと、各
増幅器の入力と共通電位点の間に接続される第2のスイ
ッチと、各スイッチを制御りるための信0を発生する制
御回路J、り構成され、第3のスイッチで多数の増幅器
の出力を順次択一的に選択Jると」(に、ぞの出力が′
M沢された増幅器がΔ7/])変換後、次回の選択まで
の間に第2のスイッチにJ、り入力のリセットが行われ
た後、第1のスイッチにより次のヂ11ンネルの入力を
サンプル整定してb機するように制御されることを特徴
とするものである。 (実施例) 以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明りる。 第1図は本発明の一実施例の構成図で、特に本発明の特
徴と16部分の構成のみ示しである。従って図示しない
部分は第3図の従来例と同一である。第2図は動作説明
のlζめのタイムプ・1・−トである。第1図はX線検
出:Sの出力を4グループに分けてコンデンリ°電圧を
増幅する例を示しCいる。 第1のグループはコンデンサCII−c1oの充電電圧
を、第1のスイッチS++・〜S+n粁山で第1の増幅
器Δ1に入力し増幅し、第3のスイッチSSIを介して
△/D変換器7に専< にうになっている。尚、増幅器
△1の入力端は第2のスイッチSR+を介して共通電位
点に接続されている。 他のグループ即ら第2〜第4のグループについてもこれ
と同じ構成である、。 各スイッチは図示しない制御回路によって適宜にオン・
Aフ制御される。このような構成における動作を次に説
明する、5第2図に示1(1の時点においては、第1の
スイッチ811がオンになってから十分時間が経過して
いる。=]コンデンサs1の充電電几イε月はスイッチ
Sl+を介して増幅器△1により増幅され、tl−t3
の期間にオンになる第3のスイッチSS+を介してA/
D変換器7に導かれA/[〕変換して計測される。 次のt 3−t Sの11間ぐはスイッチS S rが
オフとなると」(に、スイッチS S2がA°ンとなる
。 t3の11,1点では]ンデンサC21の信号は十分時
間をかけて増幅器A2ににり増幅されている。そして、
13−15の期間内に△/D変換され計測される。 一方、【3の時点で第2のスイッチSRIがオンとなり
、1.−1.の期間にT1ンデンサC++の電荷が放電
され、更にt4の時点になるとスイッチS++がオフと
なり、スイッチS Rtによりt 4−L s 111
1131にわたって増幅2!iA1の入力がリセットさ
れる。 次に[5の時点になると第1のスイッチS+zがオンに
なり、そのまま1++の時点までオン状態が保持され、
コンデンサ゛C12の信号がll’1幅器Δ幅器上1増
幅されて出力されている。このためコンデンサ−C12
による信号は[9時点までに整定されればよいことにな
る。この信号は1.−111の期間でA/D変換される
。同様にしC1[7−19ではスイッチS84がオンと
なり、C4、によるf、(号がA/D変換され計測され
る。。 以下、′同様な動作を繰り返し最後の1ヤンネルのC4
nによる信号が計測され、走査が終了する。 このようにして、A/D変換器7は祐ら1時間を要する
ことなく仝ヂtpンネルのコンデンサ電圧を△/D変換
してゆく。この場合の増幅3A1〜A4としては高速応
答型のものを全く必要としない。 尚、実施例ではチャンネルを4つのグループに分けて4
個の増幅器を使用する例を示したが、これに限定される
しのではな(、mグループに分り11個の増幅器を用い
て構成してよく、同様にその目的が3?!けられる。こ
の場合全チャンネルを△/D変換する時間は市の値には
左右されず、同じ時間である。。 又、mを大きくすれば整定さVる時間がより長くなり、
王のため低速で雑音の少ない増幅器を使用することがで
きる。その結果測定誤差が小さくiEIIgな検出電流
計測が可能となる。 (発明の効架) 以上説明したように、本発明によれば、A/D変換の持
ら]1,1間を無くすことができると共に、増幅器に関
して次のような利点が得られる。 即ら、従来のらのでは第6図に示されるようにt?=を
貫、t4−13.L7−4eの時間内に増幅器が十分セ
トリングしている必要があり、現実には増幅器のレトリ
ング時間ぎりぎりのところで計測していたが、本発明に
J、れば全人ツノの計測を行う時間を従来より短くする
と同時に十分なレトリング時間を取ることができ、低速
型の増幅器によっても誤差の小さいデータを1!′Jる
ことができる。 又、増幅器のゲインを従来方式のものより更に大きくす
ることができるため、データ収集装置のダイナミックレ
ンジを広げることがでさる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の要部実施例描成図、第2図はITIJ
J作説明のためのクイムブーp−ト、第3図は従来装置
の一例を示す構成図、第4図は従来装置の動作を説明す
るためのタイム゛f−r・−ト、第5図は走査順序を説
明する図、第6図は第3図装置における他の動作を示り
°タイムヂp −ト−である。 1・・・X線管      2・・・X線検出器列C+
 + ”−C* n・・・コンデンサ゛S + + ”
−S 4 n・・・第1のスイッチSR+〜SR4・・
・第2のスイッチ Δ1〜Δ4・・・増幅器 SSr”SS4・・・第3のスイッチ 7・・・A/D変換器   8・・・みl算器9・・・
制御回路 10・・・外部クロック(を号源 14訂出願人  横河メゾ(カルジスjム株式会社第 
15召 第2 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被検体に連続的にX線を照射するX線管と、被検体を回
    転中心としてX線管と対向配置され被検体を通過したX
    線を検出するX線検出器列と、該X線検出器列の各X線
    検出器の検出電流によりそれぞれ充電される多数のコン
    デンサと、該コンデンサに充電される電圧を選択してA
    /D変換器に入力する入力選択回路を具備してなるX線
    断層撮像装置において、前記入力選択回路は、前記多数
    のコンデンサの出力をそれぞれ選択して取り出す第1の
    スイッチと、前記多数のコンデンサを複数のグループに
    分けその各グループごとに1個ずつ対応して設けられた
    多数の増幅器と、各増幅器の出力を択一的に選択してA
    /D変換器に入力する第3のスイッチと、各増幅器の入
    力と共通電位点の間に接続される第2のスイッチと、各
    スイッチを制御するための信号を発生する制御回路より
    構成され、第3のスイッチで多数の増幅器の出力を順次
    択一的に選択すると共に、その出力が選択された増幅器
    がA/D変換後、次回の選択までの間に第2のスイッチ
    により入力のリセットが行われた後、第1のスイッチに
    より次のチャンネルの入力をサンプル整定して待機する
    ように制御されることを特徴とするX線断層撮像装置。
JP60244821A 1985-10-31 1985-10-31 X線断層撮像装置 Granted JPS62102739A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01192336A (ja) * 1988-01-27 1989-08-02 Toshiba Corp X線ctスキャナ装置
US6572250B1 (en) 1999-03-15 2003-06-03 Britax Wingard Limited Exterior mirror having an attachment member including an approach light
US6848816B2 (en) 2000-02-11 2005-02-01 Schefenacker Vision Systems Australia Pty Ltd Exterior mirror
JP2005034313A (ja) * 2003-07-18 2005-02-10 Toshiba Corp コンピュータ断層撮影装置のx線検出器システム
US6976761B2 (en) 1999-10-19 2005-12-20 Schefenacker Vision Systems Australia Pty Ltd Exterior vehicle mirror with forward folding feature
JP2011056325A (ja) * 2004-05-11 2011-03-24 Toshiba Corp X線ct装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01192336A (ja) * 1988-01-27 1989-08-02 Toshiba Corp X線ctスキャナ装置
US6572250B1 (en) 1999-03-15 2003-06-03 Britax Wingard Limited Exterior mirror having an attachment member including an approach light
US6814476B2 (en) 1999-03-15 2004-11-09 Schefenacker Vision Systems Australia Pty Ltd Exterior mirror having an attachment member including an approach light
US6981789B2 (en) 1999-03-15 2006-01-03 Schefenacker Vision Systems Australia Pty Ltd Exterior mirror having an attachment member including an approach light
US6976761B2 (en) 1999-10-19 2005-12-20 Schefenacker Vision Systems Australia Pty Ltd Exterior vehicle mirror with forward folding feature
US7040770B1 (en) 1999-10-19 2006-05-09 Schefenacker Vision Systems Australia Pty Ltd. Exterior mirror
US6848816B2 (en) 2000-02-11 2005-02-01 Schefenacker Vision Systems Australia Pty Ltd Exterior mirror
US7165853B2 (en) 2000-02-11 2007-01-23 Schefenacker Vision Systems Australia Pty Ltd Exterior mirror
JP2005034313A (ja) * 2003-07-18 2005-02-10 Toshiba Corp コンピュータ断層撮影装置のx線検出器システム
JP2011056325A (ja) * 2004-05-11 2011-03-24 Toshiba Corp X線ct装置

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