JPH0436698B2 - - Google Patents
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- JPH0436698B2 JPH0436698B2 JP60038249A JP3824985A JPH0436698B2 JP H0436698 B2 JPH0436698 B2 JP H0436698B2 JP 60038249 A JP60038249 A JP 60038249A JP 3824985 A JP3824985 A JP 3824985A JP H0436698 B2 JPH0436698 B2 JP H0436698B2
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 43
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 33
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 24
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
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- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、Ｘ線断層撮影装置に関し、更に詳し
くは、Ｘ線の強度の変動の補正に関する。
くは、Ｘ線の強度の変動の補正に関する。
（従来の技術）
第１図は、Ｘ線断層撮影装置の要部構成図であ
る。図において、１はＸ線管、２はＸ線管１から
照射されるＸ線を検出する多数のＸ線検出器（本
例では502個）よりなるＸ線検出器列であり、こ
れらＸ線管１及びＸ線検出器列２は被検体Ｔを中
心にして回転可能に配置されている。Ｘ線管１か
ら照射されるＸ線の一部は被検体Ｔで吸収減衰さ
れてＸ線検出器列２を構成するＸ線検出器２2〜
２501で検出され、電流信号に変換される。一方、
被検体Ｔを透過しないＸ線はＸ線検出器列２の両
端に設けられたリフアレンス用のＸ線検出器Ａ２
１及びＢ２502で検出され、電流信号に変換され
る。これら各Ｘ線検出器２1〜２502の出力端子は
コンデンサ３1〜３502を介して共通電位点に接続
されると共に第１のスイツチ４1〜４502を介して
増幅器５に共通に接続されている。該増幅器５の
入力端子は第２のスイツチ６を介して共通電位点
に接続され、出力端子はＡ／Ｄ変換器７に接続さ
れている。該Ａ／Ｄ変換器７の出力端子は計算機
８に接続されている。９は第１のスイツチ４1〜
４502及び第２のスイツチ６を開閉制御するため
の制御信号を送出する制御回路であり、該制御回
路９には外部クロツク信号源１０の出力端子が接
続されている。即ち、第１のスイツチ４1〜４50
２、第２のスイツチ６及び制御回路９は、各コン
デンサ３1〜３502に充電される電圧を選択的に増
幅器５及びＡ／Ｄ変換器７で構成される測定回路
に入力する入力選択回路を構成している。
る。図において、１はＸ線管、２はＸ線管１から
照射されるＸ線を検出する多数のＸ線検出器（本
例では502個）よりなるＸ線検出器列であり、こ
れらＸ線管１及びＸ線検出器列２は被検体Ｔを中
心にして回転可能に配置されている。Ｘ線管１か
ら照射されるＸ線の一部は被検体Ｔで吸収減衰さ
れてＸ線検出器列２を構成するＸ線検出器２2〜
２501で検出され、電流信号に変換される。一方、
被検体Ｔを透過しないＸ線はＸ線検出器列２の両
端に設けられたリフアレンス用のＸ線検出器Ａ２
１及びＢ２502で検出され、電流信号に変換され
る。これら各Ｘ線検出器２1〜２502の出力端子は
コンデンサ３1〜３502を介して共通電位点に接続
されると共に第１のスイツチ４1〜４502を介して
増幅器５に共通に接続されている。該増幅器５の
入力端子は第２のスイツチ６を介して共通電位点
に接続され、出力端子はＡ／Ｄ変換器７に接続さ
れている。該Ａ／Ｄ変換器７の出力端子は計算機
８に接続されている。９は第１のスイツチ４1〜
４502及び第２のスイツチ６を開閉制御するため
の制御信号を送出する制御回路であり、該制御回
路９には外部クロツク信号源１０の出力端子が接
続されている。即ち、第１のスイツチ４1〜４50
２、第２のスイツチ６及び制御回路９は、各コン
デンサ３1〜３502に充電される電圧を選択的に増
幅器５及びＡ／Ｄ変換器７で構成される測定回路
に入力する入力選択回路を構成している。
このような構成において、各コンデンサ３1〜
３502はＸ線検出器２1〜２502の検出電流で充電さ
れ、該各コンデンサ３1〜３502に充電された電圧
は第１のスイツチ４1〜４502及び増幅器５を介し
てＡ／Ｄ変換器７に加えられてデジタル信号に変
換される。そして、Ａ／Ｄ変換器７で変換された
デジタル信号は計算機８に加えられて所定の演算
処理が行われる。又、第１のスイツチ４1〜４502
を閉成した状態で第２のスイツチ６を閉成するこ
とにより、各コンデンサ３1〜３502のリセツト
（放電）が行われる。
３502はＸ線検出器２1〜２502の検出電流で充電さ
れ、該各コンデンサ３1〜３502に充電された電圧
は第１のスイツチ４1〜４502及び増幅器５を介し
てＡ／Ｄ変換器７に加えられてデジタル信号に変
換される。そして、Ａ／Ｄ変換器７で変換された
デジタル信号は計算機８に加えられて所定の演算
処理が行われる。又、第１のスイツチ４1〜４502
を閉成した状態で第２のスイツチ６を閉成するこ
とにより、各コンデンサ３1〜３502のリセツト
（放電）が行われる。
第４図は第１図の装置における従来の駆動例を
示すタイムチヤートであり、Ｘ線がパルス状に照
射される例を示している。第４図において、ａは
検出電流Ｉを示し、ｂ〜ｄはそれぞれ第１のスイ
ツチ４1〜４502の動作を示し、ｅは第２のスイツ
チ６の動作を示している。
示すタイムチヤートであり、Ｘ線がパルス状に照
射される例を示している。第４図において、ａは
検出電流Ｉを示し、ｂ〜ｄはそれぞれ第１のスイ
ツチ４1〜４502の動作を示し、ｅは第２のスイツ
チ６の動作を示している。
第１のスイツチ４1〜４502は、検出電流Ｉが無
い時刻t1において同時に閉成され、検出電流Ｉが
無い時刻t2において同時に開離される。検出電流
Ｉは第１のスイツチ４1〜４502が開離された後の
時刻t3において立ち上がり、一定時間経過後の時
刻t4において立ち下がる。一方、第２のスイツチ
６は、検出電流Ｉが立ち下がつた後の時刻t5にお
いて開離される。これにより、各コンデンサ３1
〜３502のリセツトは第１のスイツチ４1〜４502及
び第２のスイツチ６が閉成される時刻t1において
同時に開始され、第１のスイツチ４1〜４502が開
離される時刻t2までに完了する。その後、第２の
スイツチ６が開離される時刻t5までに各コンデン
サ３1〜３502は検出電流Ｉによりい充電される。
このようにして各コンデンサ３1〜３502の充電が
完了すると、第１のスイツチ４1〜４502が例えば
第５図に示すような所定の順序で従つて順次一定
の時間閉成されて、各コンデンサ３1〜３502に充
電された電圧の走査測定が行われる。即ち、時刻
t5において第２のスイツチ６が開離されると同時
に例えば第１のスイツチ４249が閉成されてコン
デンサ３249に充電された電圧の測定が行われ、
時刻t6において第１のスイツチ４249が開離される
と同時に第２のスイツチ250が閉成されてコンデ
ンサ３250に充電された電圧の測定が行われる。
このような電圧測定動作がコンデンサ３502まで
順次行われる。
い時刻t1において同時に閉成され、検出電流Ｉが
無い時刻t2において同時に開離される。検出電流
Ｉは第１のスイツチ４1〜４502が開離された後の
時刻t3において立ち上がり、一定時間経過後の時
刻t4において立ち下がる。一方、第２のスイツチ
６は、検出電流Ｉが立ち下がつた後の時刻t5にお
いて開離される。これにより、各コンデンサ３1
〜３502のリセツトは第１のスイツチ４1〜４502及
び第２のスイツチ６が閉成される時刻t1において
同時に開始され、第１のスイツチ４1〜４502が開
離される時刻t2までに完了する。その後、第２の
スイツチ６が開離される時刻t5までに各コンデン
サ３1〜３502は検出電流Ｉによりい充電される。
このようにして各コンデンサ３1〜３502の充電が
完了すると、第１のスイツチ４1〜４502が例えば
第５図に示すような所定の順序で従つて順次一定
の時間閉成されて、各コンデンサ３1〜３502に充
電された電圧の走査測定が行われる。即ち、時刻
t5において第２のスイツチ６が開離されると同時
に例えば第１のスイツチ４249が閉成されてコン
デンサ３249に充電された電圧の測定が行われ、
時刻t6において第１のスイツチ４249が開離される
と同時に第２のスイツチ250が閉成されてコンデ
ンサ３250に充電された電圧の測定が行われる。
このような電圧測定動作がコンデンサ３502まで
順次行われる。
尚、第５図では、中央のＸ線検出器２249から
２250→２248→２251→……→Ａ２1→Ｂ２502の順に
左右に広がる方向に走査測定する例を示している
が、これは隣接するＸ線検出器の測定を可能な限
り接近した時刻で行うようにしたことによる。
２250→２248→２251→……→Ａ２1→Ｂ２502の順に
左右に広がる方向に走査測定する例を示している
が、これは隣接するＸ線検出器の測定を可能な限
り接近した時刻で行うようにしたことによる。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、このような従来の駆動によれば、各コ
ンデンサ３1〜３502のリセツト完了から電圧測定
開始までの時間がそれぞれ異なることになる。こ
のような時間の違いは、各コンデンサ３1〜３502
の充電時間の違いとなり、各コンデンサ３1〜３5
０２に現われる測定電圧の違いとなる。
ンデンサ３1〜３502のリセツト完了から電圧測定
開始までの時間がそれぞれ異なることになる。こ
のような時間の違いは、各コンデンサ３1〜３502
の充電時間の違いとなり、各コンデンサ３1〜３5
０２に現われる測定電圧の違いとなる。
この結果、例えば商用電源を全波整流すること
により得られる脈流波の高電圧で連続的にＸ線を
発生させるように構成されたＸ線断層撮影装置の
場合には、商用電源に存在する波形歪等によつて
そのＸ線は２周期毎に変動する脈流波となり、検
出電流を正確に測定できないことになる。又、測
定に寄与する検出電流の利用効率が低下してしま
うという欠点もある。更に、第５図のような走査
順序によれば、中央のＸ線検出器の検出電流測定
とリフアレンスＸ線検出器の検出電流測定との間
には相当の時間差があることから、Ｘ線の強度の
変動を精度良く補正することはできず、イメージ
の中心近傍にノイズを生じることになる。
により得られる脈流波の高電圧で連続的にＸ線を
発生させるように構成されたＸ線断層撮影装置の
場合には、商用電源に存在する波形歪等によつて
そのＸ線は２周期毎に変動する脈流波となり、検
出電流を正確に測定できないことになる。又、測
定に寄与する検出電流の利用効率が低下してしま
うという欠点もある。更に、第５図のような走査
順序によれば、中央のＸ線検出器の検出電流測定
とリフアレンスＸ線検出器の検出電流測定との間
には相当の時間差があることから、Ｘ線の強度の
変動を精度良く補正することはできず、イメージ
の中心近傍にノイズを生じることになる。
本発明はこのような点に鑑みてなされたもの
で、その目的は、連続的で且つ変動する検出電流
を利用効率を低下させることなく正確に測定する
と共に、回転中心近傍のＸ線検出器の検出電流に
含まれるＸ線の強度の変動を精度良く補正して高
品位のイメージを得ることにある。
で、その目的は、連続的で且つ変動する検出電流
を利用効率を低下させることなく正確に測定する
と共に、回転中心近傍のＸ線検出器の検出電流に
含まれるＸ線の強度の変動を精度良く補正して高
品位のイメージを得ることにある。
（問題点を解決するための手段）
前記した問題点を解決する本発明は、被検体を
中心にして回転可能に対向配置されたＸ線管及び
Ｘ線検出器列と、該Ｘ線検出器列の端や中央やこ
れらに挟まれた中間の各Ｘ線検出器の検出電流に
より、それぞれ充電される多数のコンデンサと、
該各コンデンサ毎に設けた第１のスイツチを介し
て該各コンデンサの充電電圧を選択し測定回路に
出力する入力選択回路と、該入力選択回路の出力
端に接続され、該入力選択回路に選択されている
コンデンサの充電電圧をリセツトする第２のスイ
ツチと、前記第１及び第２のスイツチを制御し、
前記コンデンサの充電電圧の前記測定回路への出
力と前記コンデンサの充電電圧のリセツトとを繰
り返す制御回路とを具備し、被検体を透過しない
Ｘ線を検出するリフアレンス用の前記端のＸ線検
出器の検出電流に従つて前記中央や中間のＸ線管
から照射されるＸ線の強度の変動を補正するよう
に構成したＸ線断層撮影装置において、前記制御
回路として、前記第１のスイツチによる前記コン
デンサの充電電圧の選択を一定の周期で順次行
い、且つ該選択時に、前記第２のスイツチによる
充電電圧のリセツトをも行わせるように、前記入
力選択回路を制御すると共に、前記中央のＸ線検
出器の検出電流の測定の順番が、前記中間のＸ線
検出器の検出電流の測定の順番と比較して、相対
的に前記リフアレンス用の端のＸ線検出器の検出
電流の測定の順番に近い順番となるような走査順
序で、前記Ｘ線検出器の検出電流の測定を行うよ
うに、前記入力選択回路を制御するものを用いた
ことを特徴とするものである。
中心にして回転可能に対向配置されたＸ線管及び
Ｘ線検出器列と、該Ｘ線検出器列の端や中央やこ
れらに挟まれた中間の各Ｘ線検出器の検出電流に
より、それぞれ充電される多数のコンデンサと、
該各コンデンサ毎に設けた第１のスイツチを介し
て該各コンデンサの充電電圧を選択し測定回路に
出力する入力選択回路と、該入力選択回路の出力
端に接続され、該入力選択回路に選択されている
コンデンサの充電電圧をリセツトする第２のスイ
ツチと、前記第１及び第２のスイツチを制御し、
前記コンデンサの充電電圧の前記測定回路への出
力と前記コンデンサの充電電圧のリセツトとを繰
り返す制御回路とを具備し、被検体を透過しない
Ｘ線を検出するリフアレンス用の前記端のＸ線検
出器の検出電流に従つて前記中央や中間のＸ線管
から照射されるＸ線の強度の変動を補正するよう
に構成したＸ線断層撮影装置において、前記制御
回路として、前記第１のスイツチによる前記コン
デンサの充電電圧の選択を一定の周期で順次行
い、且つ該選択時に、前記第２のスイツチによる
充電電圧のリセツトをも行わせるように、前記入
力選択回路を制御すると共に、前記中央のＸ線検
出器の検出電流の測定の順番が、前記中間のＸ線
検出器の検出電流の測定の順番と比較して、相対
的に前記リフアレンス用の端のＸ線検出器の検出
電流の測定の順番に近い順番となるような走査順
序で、前記Ｘ線検出器の検出電流の測定を行うよ
うに、前記入力選択回路を制御するものを用いた
ことを特徴とするものである。
（実施例）
以下、図面を用いて、本発明の実施例を詳細に
説明する。
説明する。
第２図は第１図の装置を本発明に基づいて駆動
する場合の一例を示すタイムチヤートであり、第
３図は走査説明図である。第２図において、ａは
外部クロツク信号CLを示し、ｂ〜ｄはそれぞれ
第１のスイツチ４1〜４502の動作を示し、ｅは第
２のスイツチ６の動作を示している。
する場合の一例を示すタイムチヤートであり、第
３図は走査説明図である。第２図において、ａは
外部クロツク信号CLを示し、ｂ〜ｄはそれぞれ
第１のスイツチ４1〜４502の動作を示し、ｅは第
２のスイツチ６の動作を示している。
先ず、時刻t1において外部クロツク信号CLに
より起動がかけられると、第１のスイツチ４126
が閉成されてコンデンサ３126に充電された電圧
の測定が行われる。そして、電圧測定終了後の第
１のスイツチ４126が閉成されている時刻t2におい
て第２のスイツチ６も閉成され、コンデンサ３12
６のリセツト（放電）が行われる。時刻t3におい
て第１のスイツチ４126及び第２のスイツチ６が
開離されてコンデンサ３126のリセツトが完了す
ると同時に第１のスイツチ４375が閉成されてコ
ンデンサ３375に充電された電圧の測定が行われ
る。そして、電圧測定終了後の第１のスイツチ４
３７５が閉成されている時刻t4において第２のスイツ
チ６も閉成され、コンデンサ３375のリセツト
（放電）が行われる。以下、同様にシーケンスで
502個の第１のスイツチが第３図に示すように所
定の順序で順次選択されると共に一定の時間関係
で第２のスイツチも開閉駆動され、502個のコン
デンサに充電された電圧が順次測定された後に順
次リセツトされる。このような一連の動作を周期
T0で繰り返すと、各コンデンサ３1〜３502の充電
時間は一律にT0−Trsとなる。ここで、Trsはリ
セツトのために第２のスイツチ６が閉成されてい
る時間であつて、不感時間となるものであり、測
定精度とコンデンサの放電時間とに基づいて適宜
設定されるものである。尚、この場合における入
力電流の利用効率は（T0−Trs）／T0となる。
より起動がかけられると、第１のスイツチ４126
が閉成されてコンデンサ３126に充電された電圧
の測定が行われる。そして、電圧測定終了後の第
１のスイツチ４126が閉成されている時刻t2におい
て第２のスイツチ６も閉成され、コンデンサ３12
６のリセツト（放電）が行われる。時刻t3におい
て第１のスイツチ４126及び第２のスイツチ６が
開離されてコンデンサ３126のリセツトが完了す
ると同時に第１のスイツチ４375が閉成されてコ
ンデンサ３375に充電された電圧の測定が行われ
る。そして、電圧測定終了後の第１のスイツチ４
３７５が閉成されている時刻t4において第２のスイツ
チ６も閉成され、コンデンサ３375のリセツト
（放電）が行われる。以下、同様にシーケンスで
502個の第１のスイツチが第３図に示すように所
定の順序で順次選択されると共に一定の時間関係
で第２のスイツチも開閉駆動され、502個のコン
デンサに充電された電圧が順次測定された後に順
次リセツトされる。このような一連の動作を周期
T0で繰り返すと、各コンデンサ３1〜３502の充電
時間は一律にT0−Trsとなる。ここで、Trsはリ
セツトのために第２のスイツチ６が閉成されてい
る時間であつて、不感時間となるものであり、測
定精度とコンデンサの放電時間とに基づいて適宜
設定されるものである。尚、この場合における入
力電流の利用効率は（T0−Trs）／T0となる。
このように駆動することにより、各コンデンサ
の充電時間が等しく、且つ連続に行えるため、連
続的で且つ変動する検出電流に対しても正確な測
定が行える。又、入力電流の利用効率が高くなる
ので、患者の被曝線量を低く抑えることができ
る。そして、更に、Ｘ線検出器列２を２1〜２12
５，２126〜２250，２251〜２375及び２376〜２502の
４ブロツクに分割して第３図に示すように略Ｗ字
形に走査測定しているので、まずＸ線検出器列２
の端と中央に挟まれた中間のＸ線検出器２126，
２375の検出電流の測定が行われる。その後、測
定対象となるＸ線検出器の位置が中央側及び端側
に移り、中央のＸ線検出器２250，２251の検出電
流の測定に続いてリフアレンス用の端のＸ線検出
器Ａ２1，Ｂ２502の検出電流の測定が行われるこ
となる。このように中央のＸ線検出器２250，２25
１とリフアレンス用の端のＸ線検出器２1，２502の
検出電流を近い順番で測定することにより、イメ
ージの良否に最も大きく影響する中央のＸ線検出
器２250，２251の検出電流に含まれているＸ線の
強度の変動を精度良く補正することができ、高品
位のイメージを得ることができる。又、このよう
にＷ字形に走査測定することにより、結果とし
て、隣接するＸ線検出器の検出電流を近い順番で
測定することにもなり、Ｘ線検出器の配列方向の
走査順序の不連続を小さくして目立たなくでき、
この点からも高品位のイメージを得ることができ
る。
の充電時間が等しく、且つ連続に行えるため、連
続的で且つ変動する検出電流に対しても正確な測
定が行える。又、入力電流の利用効率が高くなる
ので、患者の被曝線量を低く抑えることができ
る。そして、更に、Ｘ線検出器列２を２1〜２12
５，２126〜２250，２251〜２375及び２376〜２502の
４ブロツクに分割して第３図に示すように略Ｗ字
形に走査測定しているので、まずＸ線検出器列２
の端と中央に挟まれた中間のＸ線検出器２126，
２375の検出電流の測定が行われる。その後、測
定対象となるＸ線検出器の位置が中央側及び端側
に移り、中央のＸ線検出器２250，２251の検出電
流の測定に続いてリフアレンス用の端のＸ線検出
器Ａ２1，Ｂ２502の検出電流の測定が行われるこ
となる。このように中央のＸ線検出器２250，２25
１とリフアレンス用の端のＸ線検出器２1，２502の
検出電流を近い順番で測定することにより、イメ
ージの良否に最も大きく影響する中央のＸ線検出
器２250，２251の検出電流に含まれているＸ線の
強度の変動を精度良く補正することができ、高品
位のイメージを得ることができる。又、このよう
にＷ字形に走査測定することにより、結果とし
て、隣接するＸ線検出器の検出電流を近い順番で
測定することにもなり、Ｘ線検出器の配列方向の
走査順序の不連続を小さくして目立たなくでき、
この点からも高品位のイメージを得ることができ
る。
尚、本発明に基づく駆動は、外部クロツク信号
CLを周期T0が各コンデンサ３1〜３oの測定時間
とリセツト時間の総和よりも長い場合において成
立するものであつて、外部クロツク信号CLの周
期は各コンデンサ３1〜３oの測定時間とリセツト
時間の総和により制限されることになる。そこ
で、外部クロツク信号CLの高速化を図りたい場
合には、ｎ個のコンデンサ３1〜３oをＭ群のグル
ープに分割し、各グループ毎に増幅器及びＡ／Ｄ
変換器を含む測定回路を設ければよい。このよう
に構成することにより、高速測定が行える。
CLを周期T0が各コンデンサ３1〜３oの測定時間
とリセツト時間の総和よりも長い場合において成
立するものであつて、外部クロツク信号CLの周
期は各コンデンサ３1〜３oの測定時間とリセツト
時間の総和により制限されることになる。そこ
で、外部クロツク信号CLの高速化を図りたい場
合には、ｎ個のコンデンサ３1〜３oをＭ群のグル
ープに分割し、各グループ毎に増幅器及びＡ／Ｄ
変換器を含む測定回路を設ければよい。このよう
に構成することにより、高速測定が行える。
又、上記実施例では、２個のリフアレンスＸ線
検出器Ａ，Ｂを設ける例を示したが、より多くの
リフアレンス用のＸ線検出器を設けておいて１回
の測定期間中にこれらリフアレンス用のＸ線検出
器を複数回測定し、各リフアレンス用のＸ線検出
器の測定条件に近いＸ線検出器の検出信号をそれ
ぞれのリフアレンス用のＸ線検出器の検出信号で
補正するようにしてもよい。これにより、更に高
品位のイメージを得ることができる。
検出器Ａ，Ｂを設ける例を示したが、より多くの
リフアレンス用のＸ線検出器を設けておいて１回
の測定期間中にこれらリフアレンス用のＸ線検出
器を複数回測定し、各リフアレンス用のＸ線検出
器の測定条件に近いＸ線検出器の検出信号をそれ
ぞれのリフアレンス用のＸ線検出器の検出信号で
補正するようにしてもよい。これにより、更に高
品位のイメージを得ることができる。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、連続的
で且つ変動する入力電流を高い利用効率で正確に
測定することができる。また、イメージの良否に
最も大きく影響する中央のＸ線検出器の検出電流
に含まれているＸ線の強度の変動を精度良く補正
することができると共に、隣接するＸ線検出器の
検出電流を近い順番で測定することにもなり、Ｘ
線検出器の配列方向の走査順序の不連続を小さく
して目立たなくできるので、高品位のイメージを
得ることができる。
で且つ変動する入力電流を高い利用効率で正確に
測定することができる。また、イメージの良否に
最も大きく影響する中央のＸ線検出器の検出電流
に含まれているＸ線の強度の変動を精度良く補正
することができると共に、隣接するＸ線検出器の
検出電流を近い順番で測定することにもなり、Ｘ
線検出器の配列方向の走査順序の不連続を小さく
して目立たなくできるので、高品位のイメージを
得ることができる。
第１図は本発明を適用する装置の一例を示す要
部構成図、第２図は本発明による駆動例を示すタ
イムチヤート、第３図は第２図における走査順説
明図、第４図は従来の駆動例を示すタイムチヤー
ト、第５図は第４図における走査順説明図であ
る。 １……Ｘ線管、２……Ｘ線検出器列、３……コ
ンデンサ、４……第１のスイツチ、５……増幅
器、６……第２のスイツチ、７……Ａ／Ｄ変換
器、８……計算機、９……制御回路、１０……外
部クロツク信号源。
部構成図、第２図は本発明による駆動例を示すタ
イムチヤート、第３図は第２図における走査順説
明図、第４図は従来の駆動例を示すタイムチヤー
ト、第５図は第４図における走査順説明図であ
る。 １……Ｘ線管、２……Ｘ線検出器列、３……コ
ンデンサ、４……第１のスイツチ、５……増幅
器、６……第２のスイツチ、７……Ａ／Ｄ変換
器、８……計算機、９……制御回路、１０……外
部クロツク信号源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検体を中心にして回転可能に対向配置され
たＸ線管及びＸ線検出器列と、該Ｘ線検出器列の
端や中央やこれらに挟まれた中間の各Ｘ線検出器
の検出電流により、それぞれ充電される多数のコ
ンデンサと、該各コンデンサ毎に設けた第１のス
イツチを介して該各コンデンサの充電電圧を選択
し測定回路に出力する入力選択回路と、該入力選
択回路の出力端に接続され、該入力選択回路に選
択されているコンデンサの充電電圧をリセツトす
る第２のスイツチと、前記第１及び第２のスイツ
チを制御し、前記コンデンサの充電電圧の前記測
定回路への出力と前記コンデンサの充電電圧のリ
セツトとを繰り返す制御回路とを具備し、被検体
を透過しないＸ線を検出するリフアレンス用の前
記端のＸ線検出器の検出電流に従つて前記中央や
中間のＸ線管から照射されるＸ線の強度の変動を
補正するように構成したＸ線断層撮影装置におい
て、 前記制御回路として、前記第１のスイツチによ
る前記コンデンサの充電電圧の選択を一定の周期
で順次行い、且つ該選択時に、前記第２のスイツ
チによる充電電圧のリセツトをも行わせるよう
に、前記入力選択回路を制御すると共に、前記中
央のＸ線検出器の検出電流の測定の順番が、前記
中間のＸ線検出器の検出電流の測定の順番と比較
して、相対的に前記リフアレンス用の端のＸ線検
出器の検出電流の測定の順番に近い順番となるよ
うな走査順序で、前記Ｘ線検出器の検出電流の測
定を行うように、前記入力選択回路を制御するも
のを用いたことを特徴とするＸ線断層撮影装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60038249A JPS61196945A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | Ｘ線断層撮影装置 |
| KR1019860700741A KR890001874B1 (ko) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | X선 단층 촬영 장치 |
| EP86901510A EP0213213B1 (en) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | Apparatus for x-ray tomography |
| PCT/JP1986/000094 WO1986005084A1 (en) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | Apparatus for x-ray tomography |
| DE198686901510T DE213213T1 (de) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | Vorrichtung fuer roentgenstrahlentomographie. |
| US06/928,286 US4769827A (en) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | CAT scanner |
| DE8686901510T DE3687193T2 (de) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | Vorrichtung fuer roentgenstrahlentomographie. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60038249A JPS61196945A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | Ｘ線断層撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61196945A JPS61196945A (ja) | 1986-09-01 |
| JPH0436698B2 true JPH0436698B2 (ja) | 1992-06-17 |
Family
ID=12520031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60038249A Granted JPS61196945A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | Ｘ線断層撮影装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4769827A (ja) |
| EP (1) | EP0213213B1 (ja) |
| JP (1) | JPS61196945A (ja) |
| KR (1) | KR890001874B1 (ja) |
| DE (2) | DE213213T1 (ja) |
| WO (1) | WO1986005084A1 (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01119233A (ja) * | 1987-10-30 | 1989-05-11 | Yokogawa Medical Syst Ltd | Ｘ線断層撮影装置 |
| FR2626432B1 (fr) * | 1988-01-25 | 1995-10-13 | Commissariat Energie Atomique | Appareil de tomographie a rayons x |
| JPH0299845A (ja) * | 1988-10-06 | 1990-04-11 | Yokogawa Medical Syst Ltd | Ｘ線ｃｔのデータ収集装置 |
| DE3878247D1 (en) * | 1988-11-09 | 1993-03-18 | Siemens Ag | Computer-tomograph. |
| EP0498213B1 (en) * | 1991-02-07 | 1997-08-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray computerized tomographic image data acquisition circuitry capable of performing high speed data acquisition |
| US5550886A (en) * | 1994-11-22 | 1996-08-27 | Analogic Corporation | X-Ray focal spot movement compensation system |
| WO1996016529A1 (en) * | 1994-11-22 | 1996-05-30 | Analogic Corporation | Normalization of tomographic image data |
| US6094469A (en) * | 1998-10-21 | 2000-07-25 | Analogic Corporation | Computed tomography system with stable beam position |
| US6471400B1 (en) | 2000-10-26 | 2002-10-29 | Analogic Corporation | Adaptive CT monitor correction system and method |
| GB2411093B (en) * | 2004-02-13 | 2007-10-24 | Teraview Ltd | Terahertz imaging system |
| GB2436744B (en) * | 2004-02-13 | 2008-09-10 | Tera View Ltd | Terahertz imaging system |
| US7113120B1 (en) * | 2004-07-19 | 2006-09-26 | Analogic Corporation | Charge transfer system and method |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59125547A (ja) * | 1983-01-05 | 1984-07-19 | 横河電機株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4041315A (en) * | 1972-05-17 | 1977-08-09 | E M I Limited | Computerized tomography comprising laterally shifting detected beams within a rotated fan of radiation |
| DE2627433A1 (de) * | 1976-06-18 | 1977-12-29 | Siemens Ag | Roentgenschichtgeraet zur herstellung von transversalschichtbildern |
| JPS5438789A (en) * | 1977-09-02 | 1979-03-23 | Hitachi Medical Corp | Tomography |
| DE2831038C2 (de) * | 1978-07-14 | 1982-07-01 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Strahlendiagnostikgerät für die Erzeugung von Schichtbildern |
| US4484340A (en) * | 1981-12-09 | 1984-11-20 | Yokogawa Hokushin Electric Corporation | Multichannel current measuring apparatus for X-ray computerized tomograph |
-
1985
- 1985-02-27 JP JP60038249A patent/JPS61196945A/ja active Granted
-
1986
- 1986-02-26 KR KR1019860700741A patent/KR890001874B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1986-02-26 DE DE198686901510T patent/DE213213T1/de active Pending
- 1986-02-26 DE DE8686901510T patent/DE3687193T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-02-26 US US06/928,286 patent/US4769827A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-02-26 WO PCT/JP1986/000094 patent/WO1986005084A1/ja active IP Right Grant
- 1986-02-26 EP EP86901510A patent/EP0213213B1/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59125547A (ja) * | 1983-01-05 | 1984-07-19 | 横河電機株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1986005084A1 (en) | 1986-09-12 |
| EP0213213A4 (en) | 1988-05-03 |
| DE3687193T2 (de) | 1993-04-01 |
| EP0213213A1 (en) | 1987-03-11 |
| DE3687193D1 (de) | 1993-01-14 |
| KR880700296A (ko) | 1988-02-22 |
| JPS61196945A (ja) | 1986-09-01 |
| DE213213T1 (de) | 1987-09-03 |
| EP0213213B1 (en) | 1992-12-02 |
| US4769827A (en) | 1988-09-06 |
| KR890001874B1 (ko) | 1989-05-29 |
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