JPH0299845A - X線ctのデータ収集装置 - Google Patents
X線ctのデータ収集装置Info
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- JPH0299845A JPH0299845A JP63252358A JP25235888A JPH0299845A JP H0299845 A JPH0299845 A JP H0299845A JP 63252358 A JP63252358 A JP 63252358A JP 25235888 A JP25235888 A JP 25235888A JP H0299845 A JPH0299845 A JP H0299845A
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- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 42
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 35
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract description 12
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は多数の測定用チャネルと測定データを補正する
ための補正用チャネルを有する検出器のデータを収集し
て前記補正用チャネルの測定データにより前記測定用チ
ャネルによる測定データを補正する機能を有するX線C
Tのデータ収集装置に関する。
ための補正用チャネルを有する検出器のデータを収集し
て前記補正用チャネルの測定データにより前記測定用チ
ャネルによる測定データを補正する機能を有するX線C
Tのデータ収集装置に関する。
(従来の技術)
X線CTは被検体に対しX線を全周に亘って照射して、
被検体を透過したX線を検出し、画像再構成することに
より断層写真を撮影する装置である。このように被検体
の全周に亘ってデータを取るための方式としては各種の
ものがあるが、X線源と検出器とが被検体の周囲を1周
するR−R方式と称せられる装置について考察する。
被検体を透過したX線を検出し、画像再構成することに
より断層写真を撮影する装置である。このように被検体
の全周に亘ってデータを取るための方式としては各種の
ものがあるが、X線源と検出器とが被検体の周囲を1周
するR−R方式と称せられる装置について考察する。
第3図は従来のR−R方式の検出器とその信号処理回路
を示す図である。図において、1は被検体2を照射する
ためのX線を放射するX線源で、被検体2を透過したX
線は検出器3に入射される。
を示す図である。図において、1は被検体2を照射する
ためのX線を放射するX線源で、被検体2を透過したX
線は検出器3に入射される。
検出器3は被検体2を透過したX線を検出して断層像を
作るための測定チャネル3Aと、被検体2を透過しない
X線源1から直接入射されるX線を検出して、X線源の
変動等を測定し、1m定チャネル3Aの出力データを補
正するために測定チャネル3Aの両側に設けた補正チャ
ネル3B、3Cとで構成されている。測定チャネル3A
は例えば300〜500のチャネルで構成されていて、
データ処理を全チャネルにプリアンプを接続して行うの
は設備が膨大になるので、例えば8〜10チヤネルのブ
ロックに分けて測定している。
作るための測定チャネル3Aと、被検体2を透過しない
X線源1から直接入射されるX線を検出して、X線源の
変動等を測定し、1m定チャネル3Aの出力データを補
正するために測定チャネル3Aの両側に設けた補正チャ
ネル3B、3Cとで構成されている。測定チャネル3A
は例えば300〜500のチャネルで構成されていて、
データ処理を全チャネルにプリアンプを接続して行うの
は設備が膨大になるので、例えば8〜10チヤネルのブ
ロックに分けて測定している。
ICI、IC2,・・・、IC4は測定チャネル3Aの
n個のブロック中の第1ブロツクに属するm個のチャネ
ルの出力端子と接地間に接続されたコンデンサ群で、そ
れぞれのチャネルの出力電流を積分して電圧として出力
する。出力電力Vは次式の通りである。
n個のブロック中の第1ブロツクに属するm個のチャネ
ルの出力端子と接地間に接続されたコンデンサ群で、そ
れぞれのチャネルの出力電流を積分して電圧として出力
する。出力電力Vは次式の通りである。
V= (1/C) 、1’ i d tISI、IS2
.・・・、IS□は各チャネルに接続されたスイッチ群
で、起動トリガによりスイッチIS、が動作すると自動
的に逐次切り替えられて、各チャネルの出力信号を連続
した信号としてプリアンプ4aに出力する。nC+ +
nC2+ ・・・nC,及びn S l + n
S 2 + ”’+ n Ssはそれぞれ第nブロ
ックにおける積分用コンデンサ群と積分された電荷によ
る測定チャネル3Aのデータを出力回路に接続するため
のスイッチ群である。
.・・・、IS□は各チャネルに接続されたスイッチ群
で、起動トリガによりスイッチIS、が動作すると自動
的に逐次切り替えられて、各チャネルの出力信号を連続
した信号としてプリアンプ4aに出力する。nC+ +
nC2+ ・・・nC,及びn S l + n
S 2 + ”’+ n Ssはそれぞれ第nブロ
ックにおける積分用コンデンサ群と積分された電荷によ
る測定チャネル3Aのデータを出力回路に接続するため
のスイッチ群である。
xc、、xc2.・・・、XC□及びVC,、VC2゜
・・・、YC□はそれぞれ補正チャネル3B及び3Cの
積分コンデンサ群、xs、、xs2.・・・XSm及び
YS+ 、YS2 、 ・、YS、はそれぞれ補正チャ
ネル3B及び3Cの出力を切り替えるスイッチ群で、そ
れぞれの出力はプリアンプ4Xとプリアンプ4Yに入力
される。各プリアンプの出力はスイッチ5a、5b、
・・、5n、5X。
・・・、YC□はそれぞれ補正チャネル3B及び3Cの
積分コンデンサ群、xs、、xs2.・・・XSm及び
YS+ 、YS2 、 ・、YS、はそれぞれ補正チャ
ネル3B及び3Cの出力を切り替えるスイッチ群で、そ
れぞれの出力はプリアンプ4Xとプリアンプ4Yに入力
される。各プリアンプの出力はスイッチ5a、5b、
・・、5n、5X。
5Yにより切り替えられてプログラマブルゲインアンプ
(以下PGAという)に人力されて増幅された後、AD
変換器7においてディジタル信号に変換され、計算機8
に人力されて演算処理される。
(以下PGAという)に人力されて増幅された後、AD
変換器7においてディジタル信号に変換され、計算機8
に人力されて演算処理される。
(発明が解決しようとする課題)
上記のX線CTにおいて、プリアンプ4a〜4nに繋が
る一群の測定チャネル3Aのサンプリングがそれぞれの
起動トリガにより開始されるものとし、X線源2による
X線の変動、トリガの周期の変動等の影響を正確に補正
しようとすると、各プリアンプ4a〜4nの数だけ補正
チャネルが必要となり、検出器、データ収集装置が大き
くなってしまう問題がある。従来は補正チャネルを増や
すことなく、複数個の補正チャネルの平均値を測定して
おり、もしある起動トリガ内の1個のみに影響を与える
ようなX線の変動が起こった場合、正常な有効チャネル
のデータにまで悪影響を与えてしまうことがあった。
る一群の測定チャネル3Aのサンプリングがそれぞれの
起動トリガにより開始されるものとし、X線源2による
X線の変動、トリガの周期の変動等の影響を正確に補正
しようとすると、各プリアンプ4a〜4nの数だけ補正
チャネルが必要となり、検出器、データ収集装置が大き
くなってしまう問題がある。従来は補正チャネルを増や
すことなく、複数個の補正チャネルの平均値を測定して
おり、もしある起動トリガ内の1個のみに影響を与える
ようなX線の変動が起こった場合、正常な有効チャネル
のデータにまで悪影響を与えてしまうことがあった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的は
、補正チャネルの数をふやすことなく、照射X線の強度
の変動及びトリガの周期変動に基づくコンデンサの積分
時間の変動等の影響を正確に補正できるX線CTのデー
タ収集装置を実現することにある。
、補正チャネルの数をふやすことなく、照射X線の強度
の変動及びトリガの周期変動に基づくコンデンサの積分
時間の変動等の影響を正確に補正できるX線CTのデー
タ収集装置を実現することにある。
(課題を解決するための手段)
前記の課題を解決する本発明は、多数の測定用チャネル
と測定データを補正するための補正用チャネルを有する
検出器のデータを収集して前記補正用チャネルの測定デ
ータにより前記測定用チャネルによる測定データを補正
する機能を有するX線CTのデータ収集装置において、
前記各チャネルの検出器出力電流を積分する積分コンデ
ンサの充電電葡を放電させるための切り替え手段と、補
正用チャネル測定データであるか測定用チャネル測定デ
ータであるかによって出力経路を切り替えるための切り
替え手段と、補正用チャネル測定ブタを所定回数累積加
算するための演算手段と、前記補正用チャネル測定デー
タにより前記測定用チャネル測定データを補正し得るよ
うに前記切り替え手段の切り替えタイミングを制御する
ための制御手段とを具備することを特徴とするものであ
る。
と測定データを補正するための補正用チャネルを有する
検出器のデータを収集して前記補正用チャネルの測定デ
ータにより前記測定用チャネルによる測定データを補正
する機能を有するX線CTのデータ収集装置において、
前記各チャネルの検出器出力電流を積分する積分コンデ
ンサの充電電葡を放電させるための切り替え手段と、補
正用チャネル測定データであるか測定用チャネル測定デ
ータであるかによって出力経路を切り替えるための切り
替え手段と、補正用チャネル測定ブタを所定回数累積加
算するための演算手段と、前記補正用チャネル測定デー
タにより前記測定用チャネル測定データを補正し得るよ
うに前記切り替え手段の切り替えタイミングを制御する
ための制御手段とを具備することを特徴とするものであ
る。
(作用)
起動トリが人力後リセットされた1測定用チヤネルの積
分コンデンサは全測定用チャネルの測定−巡検の第2回
目の測定の起動トリガ入力時点における積分コンデンサ
放電時間までの測定用チャネル検出データを積分してデ
ータとし、第1回目の各測定用チャネル1個ずつ711
1定の都度積分して出力したデータの全測定用チャネル
測定の期間分のデータを加算手段により累積加算した結
果の補正用チャネルのデータにより補正を施す。
分コンデンサは全測定用チャネルの測定−巡検の第2回
目の測定の起動トリガ入力時点における積分コンデンサ
放電時間までの測定用チャネル検出データを積分してデ
ータとし、第1回目の各測定用チャネル1個ずつ711
1定の都度積分して出力したデータの全測定用チャネル
測定の期間分のデータを加算手段により累積加算した結
果の補正用チャネルのデータにより補正を施す。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第1図は本発明の一実施例の装置のブロック図である。
図において、第3図と同等の部分には同一の符号を付し
である。図中、9a、9b、・・・9nは各ブロックの
積分コンデンサに充電された荷電を放電させるための各
信号ラインと接地間に入れられたスイッチ、9Xは補正
チャネル3Bの積分コンデンサに充電された電荷を放電
させるための信号ラインと接地間に入られたスイッチで
ある。10と11は同時に動作して、AD変換器7の出
力信号の加算演算処理の実施を選択する2個のデータセ
レクタで、加算器12の入力側と出力側に設けられてい
る。又データセレクタ10゜11はスイッチ5Xと連動
していてスイッチ5Xが“オン“になったとき、データ
セレクタ10゜11の接点A、 A’が“オン”になり
、スイッチ5Xが“オフ”になったとき、データセレク
タ10.11の接点A、 A’が“オフ”になり、接点
B、 B’が′オン”になる。13は入力されたデー
タを処理し、画像再構成を行う計算機である。
である。図中、9a、9b、・・・9nは各ブロックの
積分コンデンサに充電された荷電を放電させるための各
信号ラインと接地間に入れられたスイッチ、9Xは補正
チャネル3Bの積分コンデンサに充電された電荷を放電
させるための信号ラインと接地間に入られたスイッチで
ある。10と11は同時に動作して、AD変換器7の出
力信号の加算演算処理の実施を選択する2個のデータセ
レクタで、加算器12の入力側と出力側に設けられてい
る。又データセレクタ10゜11はスイッチ5Xと連動
していてスイッチ5Xが“オン“になったとき、データ
セレクタ10゜11の接点A、 A’が“オン”になり
、スイッチ5Xが“オフ”になったとき、データセレク
タ10.11の接点A、 A’が“オフ”になり、接点
B、 B’が′オン”になる。13は入力されたデー
タを処理し、画像再構成を行う計算機である。
制御回路14は図中の矢印の示すように各スイッチの動
作を制御している。
作を制御している。
次に上記のように構成された装置の動作を第2図のタイ
ムチャートを参照して説明する。第2図において、各波
形は横軸を時間軸としたパルスシーケンスを示す波形で
ある。上欄のITl。
ムチャートを参照して説明する。第2図において、各波
形は横軸を時間軸としたパルスシーケンスを示す波形で
ある。上欄のITl。
IT2.・・・、ITnは各起動トリガの番号で、最初
の数字の1は全測定チャネルによる第1回の測定、2T
8.・・・、2T、の最初の数字の2は第2回目の測定
における起動トリガを意味し、添字は測定チャネル3A
の各ブロックの番号を示す数字である。下端に各タイミ
ングを50音で記してあり、片仮名は第1回目の測定の
タイミング、平仮名は第2回目の測定のタイミングを示
している。
の数字の1は全測定チャネルによる第1回の測定、2T
8.・・・、2T、の最初の数字の2は第2回目の測定
における起動トリガを意味し、添字は測定チャネル3A
の各ブロックの番号を示す数字である。下端に各タイミ
ングを50音で記してあり、片仮名は第1回目の測定の
タイミング、平仮名は第2回目の測定のタイミングを示
している。
(ア)の起動トリガIT、によって補正チャネル3B及
びプリアンプ4aに繋がる測定チャネル3Aの第1ブロ
ツクのデータ計測が行われる。先ず、(ア)のIT、に
おいて、スイッチ5Xが“オン1になり、補正チャネル
3Bからのデータはプリアンプ4X、スイッチ5Xを経
てPGA6で増幅される。(イ)のADトリガによりデ
ータはAD変換器7においてディジタル信号に変換され
る。又、(ア)において、スイッチ5Xと連動している
データセレクタ10,1.1の接点A。
びプリアンプ4aに繋がる測定チャネル3Aの第1ブロ
ツクのデータ計測が行われる。先ず、(ア)のIT、に
おいて、スイッチ5Xが“オン1になり、補正チャネル
3Bからのデータはプリアンプ4X、スイッチ5Xを経
てPGA6で増幅される。(イ)のADトリガによりデ
ータはAD変換器7においてディジタル信号に変換され
る。又、(ア)において、スイッチ5Xと連動している
データセレクタ10,1.1の接点A。
A′が“オン“になり、データを加算器12に送る。加
算器12は後に説明するように所要の回数のデータを累
積加算して、データセレクタ10゜11の接点A、 A
’が“オン”になっているときに計算機13に送る。(
つ)〜(1)間にスイッチ9Xが“オン”になり、コン
デンサXCの蓄積電荷は放電され、補正チャネルのデー
タはリセットされる。(1)において、スイッチチ5X
が“オフ”となり、スイッチ5aが“オン”になると同
時に、データセレクタ10.11の接点B。
算器12は後に説明するように所要の回数のデータを累
積加算して、データセレクタ10゜11の接点A、 A
’が“オン”になっているときに計算機13に送る。(
つ)〜(1)間にスイッチ9Xが“オン”になり、コン
デンサXCの蓄積電荷は放電され、補正チャネルのデー
タはリセットされる。(1)において、スイッチチ5X
が“オフ”となり、スイッチ5aが“オン”になると同
時に、データセレクタ10.11の接点B。
B′が“オン”になってデータセレクタ10゜11の接
点B、 B’の経路が有効になる。又、この(1)にお
いてスイッチ1.3 +が“オン1となり、AD)リガ
もAD変換器7に入力されて、IC,の信号がAD変換
され、データセレクタ10.11の接点B、 B’を
経て計算機13に送られる。(オ)〜(力)の期間にス
イ・ソチ9aが“オン”になり、スイッチIS、が“オ
ン”状態にあるためコンデンサIC+の充電荷電は放電
されて、測定データはリセットされる。
点B、 B’の経路が有効になる。又、この(1)にお
いてスイッチ1.3 +が“オン1となり、AD)リガ
もAD変換器7に入力されて、IC,の信号がAD変換
され、データセレクタ10.11の接点B、 B’を
経て計算機13に送られる。(オ)〜(力)の期間にス
イ・ソチ9aが“オン”になり、スイッチIS、が“オ
ン”状態にあるためコンデンサIC+の充電荷電は放電
されて、測定データはリセットされる。
同様に、(力)においてスイッチ152が“オン”とな
り、スイッチ5aは“オン2の状態が継続されており、
AD)リガ入力に伴ってAD変換器7はコンデンサ1.
C2の信号のAD変換を行う。
り、スイッチ5aは“オン2の状態が継続されており、
AD)リガ入力に伴ってAD変換器7はコンデンサ1.
C2の信号のAD変換を行う。
(キ)〜(り)の期間にスイッチ9aは再び“オン”に
なってコンデンサIC2のデータをリセ・ソトする。(
ケ)〜(す)の期間で既述の場合と同様にコンデンサ1
.C,nの信号計測及びリセットが行われた後、スイッ
チ5aは“オフ”となって、プリアンプ4aの受は持つ
測定チャネル3Aの第1ブロツクの計測を終了する。
なってコンデンサIC2のデータをリセ・ソトする。(
ケ)〜(す)の期間で既述の場合と同様にコンデンサ1
.C,nの信号計測及びリセットが行われた後、スイッ
チ5aは“オフ”となって、プリアンプ4aの受は持つ
測定チャネル3Aの第1ブロツクの計測を終了する。
同様に起動トリガ]T2によりプリアンプ4bに繋がる
測定チャネル3Aの第2ブロツクの旧制が開始される。
測定チャネル3Aの第2ブロツクの旧制が開始される。
これはコンデンサ2C,〜2C□に充電された電荷によ
る電圧の信号を旧制するもので、同時にコンデンサXC
による補1モチャネル3Bの計測が行われる。この間ス
イッチ5Xの″オン”する(シ)〜(ソ)の期間にデー
タセレクタ1.0,1.1の接点A、 A’の経路が選
択され、補正チャネル3Bのデータの加算及び計算機1
3へのデータ転送が行われ、(ソ)〜(ニ)の期間にス
イッチ5bが“オン”となり、データセレクタ10.1
1の接点B、 B’の経路が選択されて測定チャネル
3Aの第2ブロツクのデータが計算機13に送られる。
る電圧の信号を旧制するもので、同時にコンデンサXC
による補1モチャネル3Bの計測が行われる。この間ス
イッチ5Xの″オン”する(シ)〜(ソ)の期間にデー
タセレクタ1.0,1.1の接点A、 A’の経路が選
択され、補正チャネル3Bのデータの加算及び計算機1
3へのデータ転送が行われ、(ソ)〜(ニ)の期間にス
イッチ5bが“オン”となり、データセレクタ10.1
1の接点B、 B’の経路が選択されて測定チャネル
3Aの第2ブロツクのデータが計算機13に送られる。
この一連の動作において、起動l・リガ1T、、により
、プリアンプ4nに繋がる測定チャネル3Aの第nブロ
ックのコンデンサnc1〜nC□の信号を計測した後、
2T、の起動トリガにより再び第1ブロツクの計測に戻
り、コンデンサ1.CIの充電電荷により計測を行う。
、プリアンプ4nに繋がる測定チャネル3Aの第nブロ
ックのコンデンサnc1〜nC□の信号を計測した後、
2T、の起動トリガにより再び第1ブロツクの計測に戻
り、コンデンサ1.CIの充電電荷により計測を行う。
この間に測定される測定チャネル3Aの各チャネルのデ
ータについて考察する。起動トリガ2 T +によりス
イッチ]、 S +とスイッチ5aが゛オン”になった
時点で計測されるコンデンサIC+の電荷の積分時間は
、スイッチIS1.スイッチ9aが“オフ”になってコ
ンデンサIC+の充電が開始された(力)から第2回目
の計測のためにスイッチi S +が“オン”になった
後スイッチ9aがオンになる(お)までの期間であり、
コンデンサIC2に対しては(り)から(き)までの期
間である。この間の補正チャネル3Bのデータは起動ト
リガ1T1におけるスイッチ9Xが“オン”になること
によりコンデンサXCがリセットされ、充電を開始した
(1)から次にスイッチ9Xが“オン”になりコンデン
サXCの電荷が放電されるまでの(セ)の期間のコンデ
ンサXC] 2 に充電された電荷による出力電圧を計測されたデータ、
同様に起動トリガIT2における(ソ)〜())の期間
のデータ、起動トリガIT、における())までの期間
のデータ等のn個のデータが加算器12で加算されたデ
ータである。加算器12はこのn個のデータが累積加算
された結果を出力し、次の起動パルスにより次の期間の
データが入力される時点て加算器12は先頭データを消
去し、常にn個のデータを加算する。
ータについて考察する。起動トリガ2 T +によりス
イッチ]、 S +とスイッチ5aが゛オン”になった
時点で計測されるコンデンサIC+の電荷の積分時間は
、スイッチIS1.スイッチ9aが“オフ”になってコ
ンデンサIC+の充電が開始された(力)から第2回目
の計測のためにスイッチi S +が“オン”になった
後スイッチ9aがオンになる(お)までの期間であり、
コンデンサIC2に対しては(り)から(き)までの期
間である。この間の補正チャネル3Bのデータは起動ト
リガ1T1におけるスイッチ9Xが“オン”になること
によりコンデンサXCがリセットされ、充電を開始した
(1)から次にスイッチ9Xが“オン”になりコンデン
サXCの電荷が放電されるまでの(セ)の期間のコンデ
ンサXC] 2 に充電された電荷による出力電圧を計測されたデータ、
同様に起動トリガIT2における(ソ)〜())の期間
のデータ、起動トリガIT、における())までの期間
のデータ等のn個のデータが加算器12で加算されたデ
ータである。加算器12はこのn個のデータが累積加算
された結果を出力し、次の起動パルスにより次の期間の
データが入力される時点て加算器12は先頭データを消
去し、常にn個のデータを加算する。
このようにしてデータセレクタ10.11の接点B、B
’ の経路で計算機]3に人力されたコンデンサIC1
のデータと、データセレクタ]−0゜11の接点A、A
’の経路で加算器12で累積加算されたデータとは、コ
ンデンサXc及び1c1を放電する時定数は小さいため
スイッチ9X。
’ の経路で計算機]3に人力されたコンデンサIC1
のデータと、データセレクタ]−0゜11の接点A、A
’の経路で加算器12で累積加算されたデータとは、コ
ンデンサXc及び1c1を放電する時定数は小さいため
スイッチ9X。
9aの“オン”時間は短く無視できるので、それぞれの
積分コンデンサに充電される時間は等しくなっていて同
じレベルの信号であり、旧算機13は測定チャネル3A
のデータを、補正チャネル3BのデータであるX線の変
動及び積分コンデンサの積分時間の変動による誤差を含
む測定データで補正しながら所要の計算処理を行い画像
再構成する。
積分コンデンサに充電される時間は等しくなっていて同
じレベルの信号であり、旧算機13は測定チャネル3A
のデータを、補正チャネル3BのデータであるX線の変
動及び積分コンデンサの積分時間の変動による誤差を含
む測定データで補正しながら所要の計算処理を行い画像
再構成する。
以上説明したように本実施例の装置によれば、各起動ト
リガ毎に分割された補正チャネルの積分データを、測定
チャネルの積分時間に応じた分だけ加算できるようにな
り、補正データとして測定チャネルと時間的に等しいも
のを得られるようになるので、正しい補正ができるよう
になる。
リガ毎に分割された補正チャネルの積分データを、測定
チャネルの積分時間に応じた分だけ加算できるようにな
り、補正データとして測定チャネルと時間的に等しいも
のを得られるようになるので、正しい補正ができるよう
になる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではない。例
えば、実施例では補正チャネルを1チヤネルのみ使用す
るものとして説明したが、補正チャネルが被検体によっ
て遮蔽された場合を考慮して測定チャネルの両側に設け
るようにしてもよい。
えば、実施例では補正チャネルを1チヤネルのみ使用す
るものとして説明したが、補正チャネルが被検体によっ
て遮蔽された場合を考慮して測定チャネルの両側に設け
るようにしてもよい。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように補正チャネルの数を増やすこ
となくX線強度の変動やコンデンサの積分時間の変動等
の影響を正確に補正し得るようになり、実用上の効果は
大きい。
となくX線強度の変動やコンデンサの積分時間の変動等
の影響を正確に補正し得るようになり、実用上の効果は
大きい。
第1図は本発明の一実施例の装置のブロック図、第2図
は実施例の装置の動作のタイムチャート、第3図は従来
の装置の図である。 1・・・X線源 2・・・被検体 3・・・検出器 3A・・・測定チャネル3B、3C
・・・補正チャネル 4X、4a、4b、−,4n−プリアンプ5a、5b、
−,5n、5X−xイッチ6・・・PGA 7・・
・AD変換器9a、9b、−,9n 9X−=スイッ
チ10.11・・・データセレクタ 12・・・加算器 13・・・計算機14・・・制御
回路 IC+ + IC2、=・+ ICm 、nc+
、nc2゜・・・、nC,、、XC・・・コンデンサL
S1.IS2.・・・、Is−,25+、2S2゜−・
−,2Sm 、nS+ 、nS2、−=、nSm ++
+スイッチ 特許出願人 横河メディカルシステム株式会社1T1 角幇2 図 T2 T3 Tn T1 T2
は実施例の装置の動作のタイムチャート、第3図は従来
の装置の図である。 1・・・X線源 2・・・被検体 3・・・検出器 3A・・・測定チャネル3B、3C
・・・補正チャネル 4X、4a、4b、−,4n−プリアンプ5a、5b、
−,5n、5X−xイッチ6・・・PGA 7・・
・AD変換器9a、9b、−,9n 9X−=スイッ
チ10.11・・・データセレクタ 12・・・加算器 13・・・計算機14・・・制御
回路 IC+ + IC2、=・+ ICm 、nc+
、nc2゜・・・、nC,、、XC・・・コンデンサL
S1.IS2.・・・、Is−,25+、2S2゜−・
−,2Sm 、nS+ 、nS2、−=、nSm ++
+スイッチ 特許出願人 横河メディカルシステム株式会社1T1 角幇2 図 T2 T3 Tn T1 T2
Claims (1)
- 多数の測定用チャネルと測定データを補正するための補
正用チャネルを有する検出器のデータを収集して前記補
正用チャネルの測定データにより前記測定用チャネルに
よる測定データを補正する機能を有するX線CTのデー
タ収集装置において、前記各チャネルの検出器出力電流
を積分する積分コンデンサの充電電荷を放電させるため
の切り替え手段と、補正用チャネル測定データであるか
測定用チャネル測定データであるかによって出力経路を
切り替えるための切り替え手段と、補正用チャネル測定
データを所定回数累積加算するための演算手段と、前記
補正用チャネル測定データにより前記測定用チャネル測
定データを補正し得るように前記切り替え手段の切り替
えタイミングを制御するための制御手段とを具備するこ
とを特徴とするX線CTのデータ収集装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63252358A JPH0299845A (ja) | 1988-10-06 | 1988-10-06 | X線ctのデータ収集装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63252358A JPH0299845A (ja) | 1988-10-06 | 1988-10-06 | X線ctのデータ収集装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0299845A true JPH0299845A (ja) | 1990-04-11 |
JPH0479258B2 JPH0479258B2 (ja) | 1992-12-15 |
Family
ID=17236182
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63252358A Granted JPH0299845A (ja) | 1988-10-06 | 1988-10-06 | X線ctのデータ収集装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0299845A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60220050A (ja) * | 1984-04-17 | 1985-11-02 | 横河メディカルシステム株式会社 | 計算機トモグラフィ装置 |
JPS61196945A (ja) * | 1985-02-27 | 1986-09-01 | 横河メディカルシステム株式会社 | X線断層撮影装置 |
-
1988
- 1988-10-06 JP JP63252358A patent/JPH0299845A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60220050A (ja) * | 1984-04-17 | 1985-11-02 | 横河メディカルシステム株式会社 | 計算機トモグラフィ装置 |
JPS61196945A (ja) * | 1985-02-27 | 1986-09-01 | 横河メディカルシステム株式会社 | X線断層撮影装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0479258B2 (ja) | 1992-12-15 |
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