JPS60220050A - 計算機トモグラフィ装置 - Google Patents

計算機トモグラフィ装置

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JPS60220050A
JPS60220050A JP59077261A JP7726184A JPS60220050A JP S60220050 A JPS60220050 A JP S60220050A JP 59077261 A JP59077261 A JP 59077261A JP 7726184 A JP7726184 A JP 7726184A JP S60220050 A JPS60220050 A JP S60220050A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、主として電子医療機器の分野で使用される計
算機トモグラフィ装置に関する。特に、ファンビーム放
射線により透視像データの収集を行い、被検体の断面部
分に関する放射線吸収係数の分布画像を再構成するよう
に構成された計算機トモグラフィ装置の改良に関する。
〔従来技術の説明〕
計算機トモグラフィ装置では、エックス綿などの放射線
の強度が測定され、この測定強度の変動に応じた補正処
理が実行される。この放射線強度の測定は、検出器群の
中で被検体領域の両弁側に位置する検出器群(以下、参
照用検出器という。)で行われ、この参照用検出器で検
出されたデータ(以下、参照データという。)が入射放
射線強度にかかわるデータとして利用されることが多い
ところが、参照用検出器は被検体そのもの、パッドやマ
ットなどの患者用具、クレードルなどの患者支持台など
により遮蔽されることがあり、この異常状態では真の放
射線強度が測定されない。
この異常状態が参照用検出器の測定値と基準値との比較
により検出されたときに、特開昭58−43689号公
報に開示されている第一の従来例装置では、計算機トモ
グラフィ装置のデータ処理部で実行中の再構成処理が停
止され、がっ、特定検出器が異常状態にあることが表示
され、また、ジェネラル・エフトリック社で開発された
第二の従来例装置では、全投影データ群を準備した後に
、オフライン状態での参照データの検定および妥当なデ
ータの抽出、対応する補正処理、および画像再構成を行
う方法が用いられている。
ところで、オンラインの走査および画像再構成処理が行
われる計算機トモグラフィ装置では、処理のやり直しや
処理の時間遅れは回避されねばならないが、第一の従来
例装置は単なる異常状態の検出に留まり、また、第二の
従来例装置では、オンライン状態での投影データ収集、
参照データの検定、画像再構成を同時に実行することが
できない欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明は、前述の欠点を除去するもので、透視像データ
の基準値となる参照データの収集が不能の事態であって
も、被検体の透過データを有効にオンライン処理するこ
とができる計算機トモグラフィ装置を提供することを目
的とする。
〔発明の要点〕
本発明は、被検体の断面に対して放射線を発生照射する
放射線発生源と、前記被検体をはさんで前記放射線発生
源と対向するように配置された多数の放射線検出器群と
、前記断面内で前記放射線発生源と前記放射線検出器群
とを前記被検体のまわりに相対的に回転し、ある方向の
前記断面に関する前記放射線検出器群の出力であるサン
プリングデータ(ビュー・データ)を多くの方向に走査
収集する手段と、前記多くの方゛向のビュー・データよ
り前記断面に関する放射線吸収係数の分布画像を再構成
する演算手段とを備え、前記演算手段には、前記放射線
検出器のうち前記被検体の存在する領域の外の領域で前
記放射線発生源の発生ずる放射線を直接検出する参照用
検出器の出力を前記ビュー・データの基準として利用す
る手段を備えた計算機トモグラフィ装置において、前記
参照用検出器は前記被検体の存在する領域の両弁側に複
数個設置され、この参照用検出器群の出力をオンライン
のデータ収集過程で評価し、評価結果に基づき補正した
基準データを生成する手段を備え、この補正された基準
データを直ちに画像再構成に使用し、遮蔽等による参照
用検出器群の異常にオンラインで対応することを特徴と
する。
また、参照用検出器群の出力を評価し補正した基準デー
タを生成する手段は、参照用検出器群の正常・異常の判
定を(一方の側の一つまたは複数の参照用検出器の出力
の平均値)対(全部または両側の複数の参照用検出器群
の出力の平均値)の比率と(他方の側の一つまたは複数
の参照用検出器の出力の平均値)対(全部または両側の
複数の参照用検出器群の出力の平均値)の比率と参照用
検出器の出力の大きさ等のパラメータの全部または一部
またはこれに類するパラメータにより評価し、条件に応
じて全部または両側にある複数の参照用検出器群の出力
の平均値または何れか一方の側の一つまたは複数の参照
用検出器の出力の平均値に比例する値または前回の正常
な基準データまたは統計的推定値またはこれに類するデ
ータを生成して補正された基準データとするように構成
されてもよい。
〔発明の原理〕
被検体の存在する領域の一方の外側に設置された複数個
の参照用検出器で収集された参照データの集合を(at
、 at、−+ afi ] とし、また、他方の外側
の複数個の参照用検出器で収集された参照データの集合
をlb、、bX、−、b、)とする。ここで、 r+ 
=at /=S rz =b; /b、とすると、最も
妥当な参照データREFは次の条件を満足する。
(i)Ir3 cal〈δ、でa>d、。
かつIr4−C41〈δ4で1〉δ2ならば、REF=
ab −−421 (ii)(i)が成立せず、 lr+ c、l <δ1でa >d、のみが成立すれば
、 REF=a −−・−(3) (iii ) (i )が成立せず、 lr、Czl<δ2でbad、のみが 成立すれば、 REF=b ・−・−(4) (IV) (i)〜(iii )が成立しない場合は、
REF = RB F p −(5ま ただし、REFpはREFの直前に保存された値 ここで、C,−%−C4は「1」に近い値で、計算機ト
モグラフィシステム毎にその時点での値を決定でき、6
1〜δ4は小さい正の値であり、d。
およびd!は正の値でC5〜C4と同様に決定できる。
また、(at、 az、”’tan)および(b+、 
bt、−。
b、lにはエックス線管、検出器などの雑音の影響が存
在するが、a、b、abなどのデータは加算処理により
雑音の影響が軽減されたデータとなる。
(i)の条件は、(at、 at、””’+ajおよび
(b+、 bX、 −−、b−)の各々のデータの大き
さの正しさと全データ群に対する一方のデータ群の相関
および両データ群間の相関の正確さを要求するものであ
り、(ii)の条件は、(al+ aZ+ ”’+an
lのそれぞれのデータの正しさとその中の特定のデータ
とデータ群間の相関の正しさを要求するものであり、(
iii )の条件はデータ群が(al= 82− ”−
+8、 )から(b+、 bt、 −、b、 )に代わ
ること以外は(ii )の条件と同様である。ここで、
rlおよびr2の分子を複数データの平均値にすること
もできる。(I’/)の条件にたいしては、エックス線
源のビュー依存性を考慮した処理により、参照データを
生成することもできる。
〔実施例による説明〕
以下、本発明の実施例装置を図面に基づいて説明する。
第1図は、この実施例装置の構成を示すブロック構成図
であり、第2図は、第1図の内の参照データ検定部7の
構成を示すブロック構成図であり、この図に示される部
分は本発明の特徴とするところの一つである。
まず、本発明実施例装置の構成を第1図および第2図に
基づき説明する。この実施例装置は、ガントリ・テーブ
ル15と、ガントリ・テーブル制御部1と、エックス線
を放射線とする放射線発生源(以下、エックス線発生源
という。)31と、高圧発生エックス線管制御部3と、
エックス線発生制御部2と、被検体20を透過するエッ
クス線を検出する放射線検出器(以下、透過線検出器と
いう。)40と、エックス線発生源31の発生する放射
線を直接検出する参照用検出器41および42と、デー
タ収集部5と、透視像データから分布画像を再構成する
演算手段(以下、データ処理部という。)6と、参照用
検出器41および42の出力を評価補正してデータ処理
部6に透視像データの基準データを与える手段(以下、
参照データ検定部という。)7と、画像表示部8と、写
真撮影制御部9と、大容量記憶部10と操作・撮影制御
部11とで構成され、また、参照データ検定部7は、レ
ジスタ群110および120と、加算装置210および
220と、加算器231 と、ROM50と、乗算器6
1および62と、下限設定レジスタ71〜76と、除算
器81〜84と、上限設定レジスタ91〜94と、レジ
スタ103〜109と、比較器305.306.311
.312.321.322.331 、332.34]
および342と、アンドゲート素子151〜153と、
インバータ251および252と、制御装置1i500
とで構成され、さらに、ここで、レジスタ群1104よ
レジスタ111〜113で構成され、レジスタ群120
番よレジスタ121〜123で構成され、加算装置21
0番よ加算器211および212で構成され、加算装置
220は加算器221および222で構成される。
ガントリ・テーブル制御部1の出力はガントリ・テーブ
ル15に接続され、エックス線発生制御部2の出力は高
圧発生エックス線管制御部3に接続され、エックス線発
生源31より発生したエックス線は被検体20およびそ
の近傍を通過して透過線検出器40および参照用検出器
41および42に入射し、透過線検出器40および参照
用検出器41および42の出力はデータ収集部5の入力
に接続され、データ収集部5はデータ処理部6に接続さ
れ、′データ処理部6は参照データ検定部7とデータを
授受するように接続され、データ処理部6は大容量記憶
部10とデータを授受するように接続され、データ処理
部6は写真撮影制御部9に接続され、データ処理部6は
画像表示部8に接続され、また、操作・撮影制御部11
はガントリ・テーブル制御部1と信号を授受するように
接続され、操作・撮影制御部11はエックス線発生制御
部2と信号を授受するように接続され、操作・撮影制御
部11はデータ処理部6と信号を授受するように接続さ
れる。
また、参照データ検定部7の入力はレジスタ群110の
レジスタ111.112および113の人力およびレジ
スタ群120のレジスタ121 、122および123
の入力に接続され、レジスタ111の出力は加算装置2
10の加算器211の第一の入力および乗算器61の第
二の入力に接続され、レジスタ112の出力は加算器2
11の第二の入力に接続され、レジスタ113の出力は
加算装置210の加算器212の第二の入力に接続され
、レジスタ121の出力は加算装置220の加算器22
1の第一の入力に接続され、レジスタ122の出力は加
算器221の第二の入力に接続され、レジスタ123の
出力は加算装置220の加算器222の第二の人力およ
び乗算器62の第二の入力に接続され、加算器211の
出力は加算器212の第一の入力に接続され、加算22
1の出力は加算器222の第一の入力に接続され、加算
器212の出力は加算器231の第一の入力およびレジ
スタ103の入力に接続され、加算器222の出力は加
算器231の第二の入力およびレジスタ104の入力に
接続され、加算器231の出力はレジスタ105の入力
に接続され、参照データ検定部7の入力は下限設定レジ
スタ75の入力および下限設定レジスタ76の入力に接
続され、ROM50の出力は、乗算器61の第一の入力
および乗算器62の第一の入力に接続され、乗算器61
の出力は除算器81の第一の人力に接続され、下限設定
レジスタ75の出力は比較器305の第一の入力に接続
され、レジスタ103の出力は除算器81の第二の入力
および除算器83の第一の入力および比較器305の第
二の入力に接続され、また、レジスタ103の出力は参
照データ検定部7の出力であり、レジスタ105の出力
は除算器83の第二の入力および除算器84の第一の人
力に接続され、また、レジスタ105の出力は参照デー
タ検定部7の出力であり、レジスタ104の出力は除算
器84の第二の人力、比較器306の第一の入力、およ
び除算器82の第一の入力に接続され、また、レジスタ
104の出力は参照データ検定部7の出力であり、下限
設定レジスタ76の出力は比較器306の第二の入力に
接続され、乗算器62の出力は除算器82の第二の入力
に接続され、除算器81の出力はレジスタ106の入力
に接続され、除算器83の出力はレジスタ108の入力
に接続され、除算器84の出力はレジスタ109の入力
に接続され、除算器82の出力はレジスタ107の入力
に接続され、参照データ検定部7の入力は下限設定レジ
スタ71〜74および上限設定レジスタ91〜94のそ
れぞれの人力に接続され、下限設定レジスタ71の出力
は比較器311の第一の入力に接続され、レジスタ10
6の出力は比較器311の第二の入力および比較器31
2の第一の入力に接続され、上限設定レジスタ91の出
力は比較器312の第二の入力に接続され、下限設定レ
ジスタ93の出力は比較器331の第一の入力に接続さ
れ、レジスタ108の出力は比較器331の第二の入力
および比較器332の第一の入力に接続され、上限設定
レジスタ93の出力は比較器332の第二の入力に接続
され、下限設定レジスタ74の出力は比較器341の第
一の入力に接続され、レジスタ109の出力は比較器3
41 の第二の入力および比較器342の第一の入力に
接続され、上限設定レジスタ94の出力は比較器342
の第二の入力に接続され、下限設定レジスタ72の出力
は比較器321の第一の入力に接続され、レジスタ10
7の出力は比較器321の第二の入力および比較器32
2の第一の入力に接続され、上限設定レジスタ92の出
力は比較器322の第二の入力に接続され、比較器31
1の出力はアンドゲート素子151の第一の入力に接続
され、比較器312の出力はアンドゲート素子151の
第二の入力に接続され、比較器305の出力はアンドゲ
ート素子151の第三の入力およびアンドゲート素子1
53の第一の入力に接続され、比較器331の出力はア
ンドゲート素子153の第二の入力に接続され、比較器
332の出力はアンドゲート素子153の第三の入力に
接続され、比較器341の出力はアンドゲート素子15
3の第四の入力に接続され、比較器342の出力はアン
ドゲート素子153の第五の入力に接続され、比較器3
06の出力はアンドゲート素子153の第六の入力およ
びアンドゲート素子152の第二の入力に接続され、比
較器321の出力はアンドゲート素子152の第三の入
力に接続され、比較器322の出力はアンドゲート素子
152の第四の入力に接続され、アンドゲート素子15
3の出力はインバータ251の入力およびインバータ2
52の入力に接続され、また、アンドゲート素子153
の出力は参照データ検定部7の出力であり、インバータ
251の出力はアンドゲート素子151の第四の入力に
接続され、インバータ252の出力はアンドゲート素子
152の第一の入力に接続され、アンドゲート素子15
1の出力およびアンドゲート素子152の出力は参照デ
ータ検定部7の出力となり、制御装置500はデータ処
理部6と制御信号を授受するように接続され、制御装置
500は参照データ検定部7の各部と制御信号を授受す
るように接続される。
本発明の特徴に最も関連の深い部分は、第2図に詳細に
示された参照データ検定部7である。
以下、この実施例装置の動作を第1図および第2図に基
づいて説明する。まず、第1図で、エックス線発生源3
1から放射されるエックス線はコリメータ、フィルタな
どを通過した後に、被検体20を透過した部分は透過線
検出器40により検出され、また、被検体20の両弁側
のエックス線は参照用検出器41および42で直接検出
される。一方、エックス線発生源31、透過線検出器4
0および参照用検出器41および42は被検体20の周
囲を回転させられ、各方向ごとに被検体20の投影デー
タとエックス線の強度データ群が検出収集され、データ
収集部5を介してデータ処理部6に転送される。参照デ
ータは参照データ検定部7で検定され、最も信幀性の高
い妥当なデータが参照データとして生成され、画像デー
タの再構成がオンラインで実行される。
この画像データは画像表示部8および写真撮影制御部9
に与えられ画像が表示され、また、必要に応じて写真撮
影される。
次に、第2図で、参照データ検定部7の動作を説明する
。下限設定レジスタ71〜76および上限設定レジスタ
91〜94には、あらかじめ次の通りのデータが設定さ
れる。
下限設定レジスタ71: C1−δ。
下限設定レジスタ12: C2−62 下限設定レジスタ73 : c 3−δ。
下限設定レジスタ74: c、−64 下限設定レジスタ15: 3dl 下限設定レジスタ76: 3dz 上限設定レジスタ91: C,+61 上限設定レジスタ92: C2+62 上限設定レジスタ93 : C3+δ。
上限設定レジスタ94: ca +64これらの設定は
オンライン比較処理中に動的に設定することもできる。
さて、所定の方向のデータ群が「1」ビュー得られる毎
に、データ処理部6から参照用検出器41のデータ(a
t、 at、 C3)の元のそれぞれが、レジスタ11
1、レジスタ112およびレジスタ113のそれぞれに
設定され、また、参照用検出器42のデータ(b+、 
b!、 b+lの元のそれぞれが、レジスタ121、レ
ジスタ122およびレジスタ123のそれぞれに設定さ
れる。
加算装置210では、al+a2+a3の演算が行われ
、その演算結果がレジスタ103に格納され、加算装置
220では、bl+b2+b3の演算が行われ、その演
算結果がレジスタ104に格納され、加算器23+では
(a++az+as)+(b++bz+b、)の1/2
の演算が行われ、その演算結果がレジスタ105に格納
され、乗算器61では、3a+の演算が行われ、その演
算結果は除算器81の第一の入力に与えられ、乗算器6
2では、3biの演算が行われ、その演算結果は除算器
82の第二の入力に与えられる。
除算器81では、r、 =3a、/3’;の演算が行わ
れ、その演算結果はレジスタ106に格納され、除算器
82では、r Z = 3b3/3bの演算が行われ、
その演算結果はレジスタ107に格納され、除算器83
では、r 3 =3M/ 3■の演算が行われ、その演
算結果がレジスタ108に格納され、除算器84では、
ra =3b/3−の演算が行われ、その演算結果がレ
ジスタ109に格納される。
比較器311および312では、 C1−δ1〈rl、r、<C,+δヨ の比較が行われ、それぞれの演算結果SllおよびSl
!が得られ、比較器321および322では、C,−δ
z <f、、、rz <c、+δ2の比較が行われ、そ
れぞれの演算結果SZ+およびSttが得られ、比較器
331および332では、C3−δ3 〈r3 、r3
 < C3+δ3の比較が行われ、それぞれの演算結果
S31およびS3□が得られ、比較器341および34
2では、C4−δa < r4 \r4 < C4+δ
4の比較が行われ、それぞれの演算結果S41およびS
atが得られる。
比較器305および306では 3a>3d+、 3b>3dz の比較が行われ、それぞれの演算結果S、およびS6が
得られる。
アンドゲート素子153では、 (SwenS3z oSs) n (S4in 5at
ll S&)の演算が行われ、演算結果C3が得られ、
アンドゲート素子151では、 (S++nS+znSs nτ、) の演算が行われ、演算結果C1が得られ、アンドゲート
素子152では、 (Sz+n5zznS+、n C3) の演算が行われ、演算結果C2が得られる。
演算結果CI%C2およびC3の値はデータ処理部6で
、次の通りに検出判定され、最も妥当な参照データとし
て演算に用いられる。
演算結果c3の論理値が真のときは、レジスタ105の
出力が読み出され、3i/3が参照データとなり、演算
結果c、の論理値が真のときは、レジスタ103の出力
が読み出され、(3’i/3)p+が参照データとなり
、演算結果C2の論理値が真のときは、レジスタ104
の出力が読み出され、(3b/3)pzが参照データと
なる。ここで、plおよびp2は、予め設定された換算
係数で、はぼ「1」に近い値である。
また、前述の構成に代り、下記のように構成しても、本
発明を実施することができる。
fil 参照データ検定部7をデータ収集部5に直接に
接続する。また、参照データ検定部7をデータ収集部に
包含させる。
(2) 参照用検出器41の参照データ数を「3」以外
の数値とする。また、参照用検出器42の参照データ数
を「3」以外の数値とする。
(3) 加算装置110を三つのレジスタ111.11
2および113で構成せずに、一つ以上のレジスタ・フ
ァイルにする。また、加算器120を三つのレジスタ1
21.122および123で構成せずに、一つ以上のレ
ジスタ・ファイルにする。
また、加算装置110と加算装置120を合体して、一
つ以上のレジスタ・ファイルにする。
(4)加算装置210は、al+a2+83の演算が行
われれば、他の構成および接続であってもよい。
加算装置220は、b、+b、+b、の演算が行われれ
ば、他の構成および接続であってもよい。
また、2加算器231の出力が(a++az+83)+
(b++bz+b、)であれば、加算装置210、加算
装置220および加算器231の構成および接続は、他
の構成および接続であってもよい。
(5) 乗算器61および62は、時分割使用によりハ
ードウェアを共用してもよい。
(6)除算器81〜84は、時分割使用によりハードウ
ェアを共用してもよい。
(7) 式(2)〜(4)を満足すれば、下限設定レジ
スタ71〜76、上限設定レジスタ91〜94、比較回
路305.306.311.312.321.322.
331 、332.341.342 、レジスタ103
〜109の構成および接続は、他の構成および接続であ
ってもよい。また、時分割使用によりハードウェアを共
用してもよい。
(8)式(2)の条件を式(3)および(4)の条件に
置換えて、ハードウェアを構成してもよい。
また、式+11のr+ またはr2の分子a、およびす
、に代り、複数データの平均値とし、バードウェアを構
成してもよい。
(9)除算器81〜84の一個に対し、1個の自然対数
変換器と1個の加減算器で代用してもよい。
また、自然対数変換器と加減算器を時分割使用によりハ
ードウェアを共用してもよい。
θ呻 乗算器61および62の後にレジスタを挿入して
もよい。
(11)データ処理部6からの入力にレシーバを挿入し
てもよい。また、データ処理部6への出力にドライバを
挿入したちよい。
(12)ハードウェアに代り、ソフトウェアおよびファ
ームウェアの単独または複合したもので構成してもよい
。また、ハードウェアに代り、ソフトウェア、ファーム
ウェアおよびハードウェアの任意の三者または三者を複
合したもので構成してもよい。
(13)他の構成の計算機トモグラフィ装置でもよい。
(14)各構成要素を、より小さい複数の構成に分割し
てもよい。また、複数の構成要素を合体してもよい。
(15)加算装置210および220、加算器231の
出力に除算器を挿入してもよい。
〔発明の効果〕
本発明は、以上説明したように、透視像データの基準と
して利用される参照データが阻害された場合でも、デー
タ処理の遅れと処理のやり直しの許されないオンライン
処理を有効に実行できるので、単なる警報の発生による
計算機トモグラフィ装置の動作停止を伴う従来例装置お
よびオンラインで投影データ収集、参照データの検定お
よび画像の再構成を並行して行えない従来例装置と比較
して、スループットの増大など計算機トモグラフィ装置
の利用効率の増大や被曝量が問題とされるエックス線利
用効率の向上が図られ、被検体領域(再構成領域)を大
きく取れることにより大きい物体の撮影が可能となり、
また運転操作が簡便になり、かつ、断層画像情報を得る
所要時間が短縮される効果がある。
さらに、本発明では、参照データを収集する複数個の手
段の出力がすべて阻止されても、妥当な処置を施すこと
ができるので、上記の効果は顕著になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例装置の構成を示すブロック構成図
。 第2図は第1図の内の参照データ検定部7の構成を示す
ブロック構成図。 1・・・ガントリ・テーブル制御部、2・・・エックス
線発住制御部、3・・・高圧発生エックス線管制御部、
5・・・データ収集部、6・・・データ処理部、7・・
・参照データ検定部、8・・・画像表示部、9・・・写
真撮影制御部、10・・・大容量記憶部、11・・・操
作・撮影制御部、15・・・ガントリ・テーブル、20
・・・被検体、31・・・エックス線発生源、40・・
・透過線検出器、41.42・・・参照用検出器、50
・・・ROM、61.62・・・乗算器、71〜76・
・・下限設定レジスタ、81〜84・・・除算器、91
〜94・・・上限設定レジスタ、103〜109 、I
II〜113.121〜123・・・レジスタ、110
.120・・・レジスタ群、210220・・・加算装
置、211.212.221.222.231・・・加
算器、305.306.311 、312.321 、
322.331.332.341.342・・・比較器
、151〜153・・・アンドゲート素子、251.2
52・・・インバータ、500・・・制御装置。 特許出願人 横河メディカルシステム株式会社 代理人 弁理士 井 出 直 孝

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 fi+ 被検体の断面に対して放射線を発生照射する放
    射線発生源と、前記被検体をはさんで前記放射線発生源
    と対向するように配置された多数の放射線検出器群と、 前記断面内で前記放射線発生源と前記放射線検出器群と
    を前記被検体のまわりに相対的に回転し、ある方向の前
    記断面に関する前記放射線検出器群の出力であるサンプ
    リングデータ(ビュー・データ)を多くの方向に走査収
    集する手段と、前記多くの方向のビュー・データより前
    記断面に関する放射線吸収係数の分布画像を再構成する
    演算手段と を備え、 前記演算手段には、前記放射線検出器のうち前記被検体
    の存在する領域の外の領域で前記放射線発生源の発生す
    る放射線を直接検出する参照用検出器の出力を前記ビュ
    ー・データの基準として利用する手段を備えた計算機ト
    モグラフィ装置において、 前記参照用検出器は前記被検体の存在する領域の両外側
    に複数個設置され、 この参照用検出器群の出力をオンラインのデータ収集過
    程で評価し、評価結果に基づき補正した基準データを生
    成する手段を備え、この補正された基準データを直ちに
    画像再構成に使用し、遮蔽等による参照用検出器群の異
    常にオンラインで対応することを特徴とする計算機トモ
    グラフィ装置。 (2)参照用検出器群の出力を評価し補正した基準デー
    タを生成する手段は、 参照用検出器群の正常・異常の判定を(一方の側の一つ
    または複数の参照用検出器の出力の平均値)対(全部ま
    たは両側の複数の参照用検出器群の出力の平均値)の比
    率と(他方の側の一つまたは複数の参照用検出器の出力
    の平均値)対(全部または両側の複数の参照用検出器群
    の出力の平均値)の比率と参照用検出器の出力の大きさ
    等のパラメータの全部または一部またはこれに類するパ
    ラメータにより評価し、条件に応じて全部または両側に
    ある複数の参照用検出器群の出力の平均値または何れか
    一方の側の一つまたは複数の参照用検出器の出力の平均
    値に比例する値または前回の正常な基準データまたは統
    計的推定値またはこれに類するデータを生成して補正さ
    れた基準データとする特許請求の範囲第(1)項に記載
    された計算機トモグラフィ装置。
JP59077261A 1984-04-17 1984-04-17 計算機トモグラフィ装置 Granted JPS60220050A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6486939A (en) * 1987-09-30 1989-03-31 Yokogawa Medical Syst X-ray tomographic imaging apparatus
JPH0299845A (ja) * 1988-10-06 1990-04-11 Yokogawa Medical Syst Ltd X線ctのデータ収集装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5438789A (en) * 1977-09-02 1979-03-23 Hitachi Medical Corp Tomography
JPS5980234A (ja) * 1982-09-27 1984-05-09 ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ Ct像を補償する装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5438789A (en) * 1977-09-02 1979-03-23 Hitachi Medical Corp Tomography
JPS5980234A (ja) * 1982-09-27 1984-05-09 ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ Ct像を補償する装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6486939A (en) * 1987-09-30 1989-03-31 Yokogawa Medical Syst X-ray tomographic imaging apparatus
JPH0479260B2 (ja) * 1987-09-30 1992-12-15 Yokokawa Medeikaru Shisutemu Kk
JPH0299845A (ja) * 1988-10-06 1990-04-11 Yokogawa Medical Syst Ltd X線ctのデータ収集装置
JPH0479258B2 (ja) * 1988-10-06 1992-12-15 Yokokawa Medeikaru Shisutemu Kk

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