JPS60108039A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- JPS60108039A JPS60108039A JP58216005A JP21600583A JPS60108039A JP S60108039 A JPS60108039 A JP S60108039A JP 58216005 A JP58216005 A JP 58216005A JP 21600583 A JP21600583 A JP 21600583A JP S60108039 A JPS60108039 A JP S60108039A
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- rays
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本つれ四は診断のための医恢脅器の分野に属し、さらに
Ｕ” Ｌ ＜はＸ線ＣＴ装置に関するものである、〔発
明の技術的背景とその問題点〕 一般に、Ｘ線診断装置たとえばＸ線ＣＴ装随において、
被写体（たとえば人体）を透過したＸ線を検出する検出
器には、直接Ｘｌｊとともに、被写体等で散乱した、所
謂散乱Ｘ線が入射する。この散乱ＸＪは、たとえば第１
図に示すように再構成ｉ［ｌｌ１１＃において、高いＸ
線吸収係数を有する組織（たとえば骨）ｌａ間を結ぶア
ーチ７アク１−１ｂを生ずる原因あるいは被写体の各組
織におけるＸ線吸収係数を表わすＣＴ値がずれる原因と
なる。
Ｕ” Ｌ ＜はＸ線ＣＴ装置に関するものである、〔発
明の技術的背景とその問題点〕 一般に、Ｘ線診断装置たとえばＸ線ＣＴ装随において、
被写体（たとえば人体）を透過したＸ線を検出する検出
器には、直接Ｘｌｊとともに、被写体等で散乱した、所
謂散乱Ｘ線が入射する。この散乱ＸＪは、たとえば第１
図に示すように再構成ｉ［ｌｌ１１＃において、高いＸ
線吸収係数を有する組織（たとえば骨）ｌａ間を結ぶア
ーチ７アク１−１ｂを生ずる原因あるいは被写体の各組
織におけるＸ線吸収係数を表わすＣＴ値がずれる原因と
なる。
したがって、診断能の優れた再構疲幽稼（Ｘ線断層像）
を得るためには、散乱Ｘ線を除去するかあるいは（ａＪ
らかの方法により散乱Ｘ線の再構成画像への影響を防止
することが極めて重要となる。
を得るためには、散乱Ｘ線を除去するかあるいは（ａＪ
らかの方法により散乱Ｘ線の再構成画像への影響を防止
することが極めて重要となる。
ところで、従来のＸ線ＣＴ装置においては、散乱Ｘ線の
再構成１ｌｌＩｌ稼への影響を無視するかあるいは極め
て単純な補正により散乱Ｘ線対策を講じていた。
再構成１ｌｌＩｌ稼への影響を無視するかあるいは極め
て単純な補正により散乱Ｘ線対策を講じていた。
この極めて単純な補正とは、被写体のサイズを、オペレ
ータが選択した撮影領域のサイズから推ａ＋１＋し、こ
の被写体サイズを基に直接Ｘ線に対する散乱Ｘ線の比を
４１１６１１１ Ｌ、この推８＋１１１直と曝射Ｘ線量
とから散乱Ｘ線を推測し、この推測した散乱Ｘ線量を、
検出器で検出したＸ線量から減算するというものである
。
ータが選択した撮影領域のサイズから推ａ＋１＋し、こ
の被写体サイズを基に直接Ｘ線に対する散乱Ｘ線の比を
４１１６１１１ Ｌ、この推８＋１１１直と曝射Ｘ線量
とから散乱Ｘ線を推測し、この推測した散乱Ｘ線量を、
検出器で検出したＸ線量から減算するというものである
。
しかしながら、この補正には、被写体の大小や形状に関
するｔＨ報が一切考慮されていないために、散乱ＸｆＪ
の線量あるいは分布に大きな誤差を生ずる虞れがあり、
かかる場合、補正の過不足を容易に生じてしまう。
するｔＨ報が一切考慮されていないために、散乱ＸｆＪ
の線量あるいは分布に大きな誤差を生ずる虞れがあり、
かかる場合、補正の過不足を容易に生じてしまう。
また、散乱Ｘ１ｊ！補正悪しで先ず画像を再構成し、こ
の再構成画像（Ｘ線吸収係数の分布）からＸ＠検出器に
入射する散乱Ｘ線量を推測し、この推測１１１１Ｉを補
正値として用いて再び画像再構成する方法も考えられる
が、この方法は画体再ＩＭ成を２度行わなければならず
、時的的損失が太ぎいので実用１ｊジとはいえない。
の再構成画像（Ｘ線吸収係数の分布）からＸ＠検出器に
入射する散乱Ｘ線量を推測し、この推測１１１１Ｉを補
正値として用いて再び画像再構成する方法も考えられる
が、この方法は画体再ＩＭ成を２度行わなければならず
、時的的損失が太ぎいので実用１ｊジとはいえない。
このように、散乱Ｘ葎の実用的かつ十分な除去力法につ
いて未だ殆んど知られていないのが現状である。
いて未だ殆んど知られていないのが現状である。
本発明は前記事情に鑑みてなされたものであり、散乱Ｘ
線を実測し、これを基に適切な散乱Ｘ線補正を行うこと
により、診ル［能に優れた再構成画像が得られるところ
のＸａＣＴ装置の提供を目的とする。
線を実測し、これを基に適切な散乱Ｘ線補正を行うこと
により、診ル［能に優れた再構成画像が得られるところ
のＸａＣＴ装置の提供を目的とする。
前記目的を達成するための本発明の概女は、被写体を挾
んで対向配置したＸ線発生諒と主検出器とを有し、被写
体に向って所定角度毎に曝則されたＸ線を被写体透過後
に検出することにより、被写体透過Ｘ線データを収集し
、このデータを基にＸ線断層像を丹構成するＸ線ＣＴ装
置において、被写体等で散乱した散乱Ｘ線を検出し、か
つ、前記主検出器の近傍に配置された１以上の散乱Ｘ線
検出器と、この散乱Ｘ＝検出器によって検出された散乱
Ｘ線データを基に、前記主検出器により検出された被写
体透過Ｘ勝データから散乱Ｘ線成分を除去する演算を少
な（とも実行可能なデータ処理部とを具備することを特
徴とするものである。
んで対向配置したＸ線発生諒と主検出器とを有し、被写
体に向って所定角度毎に曝則されたＸ線を被写体透過後
に検出することにより、被写体透過Ｘ線データを収集し
、このデータを基にＸ線断層像を丹構成するＸ線ＣＴ装
置において、被写体等で散乱した散乱Ｘ線を検出し、か
つ、前記主検出器の近傍に配置された１以上の散乱Ｘ線
検出器と、この散乱Ｘ＝検出器によって検出された散乱
Ｘ線データを基に、前記主検出器により検出された被写
体透過Ｘ勝データから散乱Ｘ線成分を除去する演算を少
な（とも実行可能なデータ処理部とを具備することを特
徴とするものである。
以下、本発明の一゛実施例について図面を参照し７なが
ら説明する。
ら説明する。
！Ａ”ｙ ２図は本発明に係るＸ線ＣＴ装置の構成を示
−４−説明図である。同図２で示すのは、回動可能なガ
ントリ（回動ベース）であり、Ｘυメ発生源１及びこの
Ｘ ％］ ｆ６生ｔ＋＋ｘ ｉより発生じたＸ＠６を被
写体７馨透過鏝に検出１−る主検出器８が取り付けられ
ているとともに、駆動手段３０回動駆動により被ＪＪ庫
７の囲り馨回ｄｉｌｌするようになっている。前記」ミ
検出ｇＷ ８の近傍たとえば第３図に示すように、Ｘ線
６のスライス方向であって主検出器８から数ｃｍ離れた
位１紅には、散乱Ｘ線検出器１０が１以上（第２図では
５個）図示しない固定手段によつ゛〔固定されている。
−４−説明図である。同図２で示すのは、回動可能なガ
ントリ（回動ベース）であり、Ｘυメ発生源１及びこの
Ｘ ％］ ｆ６生ｔ＋＋ｘ ｉより発生じたＸ＠６を被
写体７馨透過鏝に検出１−る主検出器８が取り付けられ
ているとともに、駆動手段３０回動駆動により被ＪＪ庫
７の囲り馨回ｄｉｌｌするようになっている。前記」ミ
検出ｇＷ ８の近傍たとえば第３図に示すように、Ｘ線
６のスライス方向であって主検出器８から数ｃｍ離れた
位１紅には、散乱Ｘ線検出器１０が１以上（第２図では
５個）図示しない固定手段によつ゛〔固定されている。
このような位置に散乱Ｘ線検出器ＪＯＹ取り付けるのは
、以下だ述べる理由により主検出器８に入射する散乱Ｘ
線の＠量を検出することができるからである。すなわち
、被写体７内でうれ生した散乱Ｘ線の進行方向は、格別
鋭い遇択性’Ｙ４＝ｉしていない。したがって主検出器
８の特定チャンネルに入射するＸ？ＩＭ（直接Ｘ線と散
乱Ｘ線とを意味する）に含まれる散乱ｘｈの単位面積当
りの１ｆＭ量は、当該チャンネルの近傍に位置する散乱
Ｘ線検出器に入射する散乱Ｘ線の単位面積当 当りの線量にほぼ等しくなる。よって、主検器８の近傍
に取り付けられた散乱Ｘ線検出器１０の検を 出信セ遁に、主検出器８に入射する散乱Ｘ線の線量ヲ検
出することができるのである。
、以下だ述べる理由により主検出器８に入射する散乱Ｘ
線の＠量を検出することができるからである。すなわち
、被写体７内でうれ生した散乱Ｘ線の進行方向は、格別
鋭い遇択性’Ｙ４＝ｉしていない。したがって主検出器
８の特定チャンネルに入射するＸ？ＩＭ（直接Ｘ線と散
乱Ｘ線とを意味する）に含まれる散乱ｘｈの単位面積当
りの１ｆＭ量は、当該チャンネルの近傍に位置する散乱
Ｘ線検出器に入射する散乱Ｘ線の単位面積当 当りの線量にほぼ等しくなる。よって、主検器８の近傍
に取り付けられた散乱Ｘ線検出器１０の検を 出信セ遁に、主検出器８に入射する散乱Ｘ線の線量ヲ検
出することができるのである。
しかして、この散乱Ｘ線検出器１０及び主検出器８の検
出信号は、後段に配置されるデータ収集部９に入力し、
たとえばデータ収集部９内に具備されるＡ／Ｄ （アナ
ログ轡ディジタル）変倶手段によりディジタル信号に変
侠された後、データ処理部４に入力する。このデータ処
理部４は、たとえばコンピュータシステムを含んで構成
され、後述するアルゴリズムに従って、前記データ収集
部９′？：介して入力する被写体透過Ｘ線↑ｎ報（この
情報には、直接Ｘ線による清報と散乱Ｘ＠による↑Ｈ報
とが含まれており、主検出器８によって検出された情報
を意味する）から、散乱Ｘ線情報を除去した後、従来装
置と同様に画像８構成のための演算処理を行う。尚、５
で示すのは、Ｘ線ビーム６の照射野を決定するためのコ
リメータである、次に、前記散乱Ｘ線検出器１０の構成
について詳述する。ｊ；ｌ’！ ４図は散乱Ｘ＃検出器
１０の構成を示す糾祝図である、同図に示すように、散
乱Ｘ線検出器１０は、入射する散乱Ｘ線Ｘ。を可視光に
変換するシンチレータ（たとえばＣｄＷＯ４Ｃ３Ｉ等）
１６と、このシンチレータ１６のたとえば下面に光学＋
汐−ｔｔｉ酌％ｆよって密層され、シンチレータ１６よ
り生ずるｉＪ視光を電気信号に変換するフォトダイオー
ド１５と、このフォトダイオード１５のアノードまたは
カソードのいずれか一方がボーディンワイヤ１２？：介
して、また他方がフォトダイオ−、ド１５のバ面より導
゛亀性の接后剤を介してそれぞれ電気的に接ｈ□される
ところの電極パターン１３゜１４を有する基板（たとえ
ばガラスエポキシ、セラミック青）とを剖んで構成され
る。
出信号は、後段に配置されるデータ収集部９に入力し、
たとえばデータ収集部９内に具備されるＡ／Ｄ （アナ
ログ轡ディジタル）変倶手段によりディジタル信号に変
侠された後、データ処理部４に入力する。このデータ処
理部４は、たとえばコンピュータシステムを含んで構成
され、後述するアルゴリズムに従って、前記データ収集
部９′？：介して入力する被写体透過Ｘ線↑ｎ報（この
情報には、直接Ｘ線による清報と散乱Ｘ＠による↑Ｈ報
とが含まれており、主検出器８によって検出された情報
を意味する）から、散乱Ｘ線情報を除去した後、従来装
置と同様に画像８構成のための演算処理を行う。尚、５
で示すのは、Ｘ線ビーム６の照射野を決定するためのコ
リメータである、次に、前記散乱Ｘ線検出器１０の構成
について詳述する。ｊ；ｌ’！ ４図は散乱Ｘ＃検出器
１０の構成を示す糾祝図である、同図に示すように、散
乱Ｘ線検出器１０は、入射する散乱Ｘ線Ｘ。を可視光に
変換するシンチレータ（たとえばＣｄＷＯ４Ｃ３Ｉ等）
１６と、このシンチレータ１６のたとえば下面に光学＋
汐−ｔｔｉ酌％ｆよって密層され、シンチレータ１６よ
り生ずるｉＪ視光を電気信号に変換するフォトダイオー
ド１５と、このフォトダイオード１５のアノードまたは
カソードのいずれか一方がボーディンワイヤ１２？：介
して、また他方がフォトダイオ−、ド１５のバ面より導
゛亀性の接后剤を介してそれぞれ電気的に接ｈ□される
ところの電極パターン１３゜１４を有する基板（たとえ
ばガラスエポキシ、セラミック青）とを剖んで構成され
る。
次に、以上のように構成される装置の作用について説明
する。Ｘ？ｔＭａ生ｍ、１より発生したＸ線６は、コリ
メータ５によりビームが絞られた後、被写体７に照射（
曝射）され、被写体７を透過した直接Ｘ線による被写体
透過Ｘ線情報及び被写体７で散乱した散乱Ｘ線による情
報が、主検出器８によって検出される。一方、被写体７
で散乱した散乱Ｘ線による情報は、散乱Ｘ＃検出器１０
によっても検出され、この散乱Ｘ線検出器１０の検出信
号及び前記主検出器８の検出信号は、共にデータ収集部
９に入力し、たとえばデータ収集部９内に具備されるＡ
／Ｄ変換手段によりそれぞれディジタル信号に変換され
た後、データ処理部４に入力する。このデータ処理部４
は、後述する所定のアルゴリズムに従って、散乱Ｘ線に
よる情報が含まれている被写体透過Ｘ線情報から散乱Ｘ
線成分による情報を除去した後、従来装置と同様のアル
ゴリズムに従って画像再構成を行い、その結果はたとえ
ば図示しない外部モニタの画像表示あるいはその他のデ
ータ処理に供される。
する。Ｘ？ｔＭａ生ｍ、１より発生したＸ線６は、コリ
メータ５によりビームが絞られた後、被写体７に照射（
曝射）され、被写体７を透過した直接Ｘ線による被写体
透過Ｘ線情報及び被写体７で散乱した散乱Ｘ線による情
報が、主検出器８によって検出される。一方、被写体７
で散乱した散乱Ｘ線による情報は、散乱Ｘ＃検出器１０
によっても検出され、この散乱Ｘ線検出器１０の検出信
号及び前記主検出器８の検出信号は、共にデータ収集部
９に入力し、たとえばデータ収集部９内に具備されるＡ
／Ｄ変換手段によりそれぞれディジタル信号に変換され
た後、データ処理部４に入力する。このデータ処理部４
は、後述する所定のアルゴリズムに従って、散乱Ｘ線に
よる情報が含まれている被写体透過Ｘ線情報から散乱Ｘ
線成分による情報を除去した後、従来装置と同様のアル
ゴリズムに従って画像再構成を行い、その結果はたとえ
ば図示しない外部モニタの画像表示あるいはその他のデ
ータ処理に供される。
次Ｋ、前記データ処理部４における散乱Ｘ線成分除去の
アルゴリズムについて、第６図のフローチャートを中心
に説明する、たとえば、Ｒ／Ｒ（Ｒｏｔａｔｅ／Ｒｏｔ
ａｔｅ ）型のＸ線ＣＴ装置（Ｘｉ発生源及び検出器が
共に被写体の四りを回動する）の場合、第５図に示すよ
うに、Ｘ線発生源１及び主検出器８が１７を中心として
Δψだけ回動する毎にＸ線６を照則し、検出器８により
データを得る。この主検出器８によ６６１１定（検出）
データは、ｌ尤（ｍΔψ、ｎΔＶ）・・・・・・・・・
・・・・・・（１）と表すことができる。ここで、ｍ
＝ Ｑ 、 ｌ 、 ２・・・Ｍ−１のごとく変化しく
ＭΔψ＝２π）、またｎ＝（１、１、２・・Ｎのごと（
変化する。このＮは、主検出器８０チヤンネル数を意味
する（通常、５１２あるいは：３２０チヤンネルであり
、その配列はＸｌｉｌ発生源から見てΔＶ毎に１チヤン
ネルとなる）。
アルゴリズムについて、第６図のフローチャートを中心
に説明する、たとえば、Ｒ／Ｒ（Ｒｏｔａｔｅ／Ｒｏｔ
ａｔｅ ）型のＸ線ＣＴ装置（Ｘｉ発生源及び検出器が
共に被写体の四りを回動する）の場合、第５図に示すよ
うに、Ｘ線発生源１及び主検出器８が１７を中心として
Δψだけ回動する毎にＸ線６を照則し、検出器８により
データを得る。この主検出器８によ６６１１定（検出）
データは、ｌ尤（ｍΔψ、ｎΔＶ）・・・・・・・・・
・・・・・・（１）と表すことができる。ここで、ｍ
＝ Ｑ 、 ｌ 、 ２・・・Ｍ−１のごとく変化しく
ＭΔψ＝２π）、またｎ＝（１、１、２・・Ｎのごと（
変化する。このＮは、主検出器８０チヤンネル数を意味
する（通常、５１２あるいは：３２０チヤンネルであり
、その配列はＸｌｉｌ発生源から見てΔＶ毎に１チヤン
ネルとなる）。
一方、散乱Ｘ線検出器１０は、主検出器８０チヤンネル
配列よりも疎に配置されており（＠に配置することヲ安
しない）、たとえば、主検出器８０チヤンネル配列ピッ
チΔψのに倍のピッチで散乱Ｘ線検出器１０を配列した
とすると、この散乱Ｘ線検出器１０による散乱Ｘ線の測
定データは、Ｓ（ｍΔψ Ｈｌ ｋΔＶ） ・・・・・
・・・・・・・・・・（２）と表すことができる。ここ
で、ｎ・＝０．１．２ ・・・Ｎ′のごとく変化し、Ｎ
′＝ＮとなるＯ 主検出器８及び散乱Ｘ線検出器１０から出力される前（
１） 、 （２）で示す測定データは、Ａ／ＤＩ換後、
先ず、データ処理部４内に具備されるメモリに一旦記憶
される（ステップ８１）。
配列よりも疎に配置されており（＠に配置することヲ安
しない）、たとえば、主検出器８０チヤンネル配列ピッ
チΔψのに倍のピッチで散乱Ｘ線検出器１０を配列した
とすると、この散乱Ｘ線検出器１０による散乱Ｘ線の測
定データは、Ｓ（ｍΔψ Ｈｌ ｋΔＶ） ・・・・・
・・・・・・・・・・（２）と表すことができる。ここ
で、ｎ・＝０．１．２ ・・・Ｎ′のごとく変化し、Ｎ
′＝ＮとなるＯ 主検出器８及び散乱Ｘ線検出器１０から出力される前（
１） 、 （２）で示す測定データは、Ａ／ＤＩ換後、
先ず、データ処理部４内に具備されるメモリに一旦記憶
される（ステップ８１）。
ところで、散乱ＸｓＩ検出器１０は、主検出器８）のチ
ャンネル配列ピッチ（ΔＷ）よりも疎に配置／ されているので、散乱Ｘ＠検出器１０の測定データは何
らかの方法により補間する必要がある、た°とえば５ｉ
ｎｅ関数による補間法な用いれば、予めデータ処理部４
内に具備される５ｉｎｅ関数テーブル１８よりｇｉｎｃ
（Ａ！ΔＦ）を読み出しくステップＳ２）、これを基ｋ
、前記ステップＳ１において記憶された散乱ｘｉＩＭデ
ータすなわちＳ（ｍΔψ。
ャンネル配列ピッチ（ΔＷ）よりも疎に配置／ されているので、散乱Ｘ＠検出器１０の測定データは何
らかの方法により補間する必要がある、た°とえば５ｉ
ｎｅ関数による補間法な用いれば、予めデータ処理部４
内に具備される５ｉｎｅ関数テーブル１８よりｇｉｎｃ
（Ａ！ΔＦ）を読み出しくステップＳ２）、これを基ｋ
、前記ステップＳ１において記憶された散乱ｘｉＩＭデ
ータすなわちＳ（ｍΔψ。
ｎ・ｋΔＶ）の補間な行う。この補間は次式によりて実
行される。すなわち、補間後の散乱線データＳ’（ｍΔ
ψ、ｎΔｙ）とすれば、 Ｓ’（ｍΔψ、ｎｌすｌ）＝ΣＳ（ｍΔψ、ｎ’にΔ（
／’） ｅｓｉｎｃ（ｆｆｋΔｖ、ｎｌＶ）ｎ＝０ ・・・・・・・・・・・・・・・（３）となる。ここで
、５ｉｎｃ（Ｆ）は、 である。＋４＋Ｊｃｌ１式の意味するところを第７図（
ａ）及び（ｂｌにボす。同図（ａｌは散乱Ｘ＠の測定デ
ータを示し、また同１Δ（ｂ）は、ｋ＝５．Ｎ’＝４．
Ｎ＝２０とした場合の一例であり、ｎ ＝ ７の状態で
ある。しかして、すべてのｎについて前（１）式による
補間演算を実行すれは、第８図に示すような補間後の散
乱Ｘ線データＳ’（ｍΔψ、ｎｌＦ）を得る（ステップ
Ｓ３）。尚、このように５ｉｎｅ関数をその都度演算す
ると時間的損失が大きいので、演舅時間が問題になる場
合には、Ｂｉｎｃ関数をΔγ毎にサンプリングし７た値
を予め鼻当しておき、これを定数としてシステムに記憶
させておくと良い。
行される。すなわち、補間後の散乱線データＳ’（ｍΔ
ψ、ｎΔｙ）とすれば、 Ｓ’（ｍΔψ、ｎｌすｌ）＝ΣＳ（ｍΔψ、ｎ’にΔ（
／’） ｅｓｉｎｃ（ｆｆｋΔｖ、ｎｌＶ）ｎ＝０ ・・・・・・・・・・・・・・・（３）となる。ここで
、５ｉｎｃ（Ｆ）は、 である。＋４＋Ｊｃｌ１式の意味するところを第７図（
ａ）及び（ｂｌにボす。同図（ａｌは散乱Ｘ＠の測定デ
ータを示し、また同１Δ（ｂ）は、ｋ＝５．Ｎ’＝４．
Ｎ＝２０とした場合の一例であり、ｎ ＝ ７の状態で
ある。しかして、すべてのｎについて前（１）式による
補間演算を実行すれは、第８図に示すような補間後の散
乱Ｘ線データＳ’（ｍΔψ、ｎｌＦ）を得る（ステップ
Ｓ３）。尚、このように５ｉｎｅ関数をその都度演算す
ると時間的損失が大きいので、演舅時間が問題になる場
合には、Ｂｉｎｃ関数をΔγ毎にサンプリングし７た値
を予め鼻当しておき、これを定数としてシステムに記憶
させておくと良い。
次に、データ処理部４内に具備されるｒｎテーブル１９
より主検出器８と散乱Ｘ線検出器１０との感度比定ｅ＜
本装＠調整時等に実測して得られた主検出器８と散乱Ｘ
線検出器１０との感度比）をＩｔみ出しくステップＳ４
）、これを基に、前記ステップＳ３において得られた補
間後の散乱線データＳ’（ｍΔψ、ｎｌＶ）についてレ
ベル補正を行う。たとえば、主検出器８と散乱Ｘ＠検出
器１０との感度比をｒｎ：１とすると、レベル補正は次
式によって実行される。すなわち、レベル補正後の散乱
Ｘ線データをＳ”（ｍΔψ、ｎｌ１）とすれば、Ｓ”（
ｍΔψ、ｎｌＦ） ＝ ｒｎＳ’ （ｍΔψ、ｎｌＦ
） ・・・・−＝−（５１となり、これを各ｎについて
削具する（ステップＳ５）。
より主検出器８と散乱Ｘ線検出器１０との感度比定ｅ＜
本装＠調整時等に実測して得られた主検出器８と散乱Ｘ
線検出器１０との感度比）をＩｔみ出しくステップＳ４
）、これを基に、前記ステップＳ３において得られた補
間後の散乱線データＳ’（ｍΔψ、ｎｌＶ）についてレ
ベル補正を行う。たとえば、主検出器８と散乱Ｘ＠検出
器１０との感度比をｒｎ：１とすると、レベル補正は次
式によって実行される。すなわち、レベル補正後の散乱
Ｘ線データをＳ”（ｍΔψ、ｎｌ１）とすれば、Ｓ”（
ｍΔψ、ｎｌＦ） ＝ ｒｎＳ’ （ｍΔψ、ｎｌＦ
） ・・・・−＝−（５１となり、これを各ｎについて
削具する（ステップＳ５）。
記
次に、前（１）に下す主検出器８による測定データから
、前記ステップＳ５において得られたレベル補正後の散
乱Ｘａ＋データを減算し、直接ＸＷによる被写体透過Ｘ
線情報Ｐ（ｍΔψ、ｎｌＦ）を得る、すなわち、 Ｐ（ｍΔψ、ｎｌＦ）−Ｒ（ｍΔψ、ｎｌＦ）−８”（
ｍΔψ、ｎｌ灼−・四（６）となる（ステップＳ６）。
、前記ステップＳ５において得られたレベル補正後の散
乱Ｘａ＋データを減算し、直接ＸＷによる被写体透過Ｘ
線情報Ｐ（ｍΔψ、ｎｌＦ）を得る、すなわち、 Ｐ（ｍΔψ、ｎｌＦ）−Ｒ（ｍΔψ、ｎｌＦ）−８”（
ｍΔψ、ｎｌ灼−・四（６）となる（ステップＳ６）。
以上で散乱Ｘ線成分除去のアルゴリズの実行を終了し、
以後、データ処理部４は、ｉＩ記ステップｓ６において
得られたＰ（ｍΔψ、ｎｌＶ）を基に画像書構成を行う
。この画像書４１１（成については、従来装置と同様で
あるので省１１＋４−１−る。
以後、データ処理部４は、ｉＩ記ステップｓ６において
得られたＰ（ｍΔψ、ｎｌＶ）を基に画像書構成を行う
。この画像書４１１（成については、従来装置と同様で
あるので省１１＋４−１−る。
このように、主検出器８の近傍に配置された散乱Ｘ線検
出′ａ１０によって得られた散乱Ｘ＠成分ゲ、主検出器
８によって得られた被写体透過Ｘ１ｆＭＩＩ７ｉから減
昇し、散乱Ｘ線成分を除去することによって、直接Ｘ物
によるｆｈ報を得ることができる。
出′ａ１０によって得られた散乱Ｘ＠成分ゲ、主検出器
８によって得られた被写体透過Ｘ１ｆＭＩＩ７ｉから減
昇し、散乱Ｘ線成分を除去することによって、直接Ｘ物
によるｆｈ報を得ることができる。
しかして、本実施例−ｊＡｔｔにおける補正の基となる
散乱Ｘ線黛は、被写体で散乱した散乱Ｘ線を実測したも
のであり、よって被写体の大小や形状に応じた正確な散
乱Ｘ線−ｆｌｌ（止を行い得ることになる、向、本づら
明はＨＩＪ記笑施例によって限定されるものではなく、
本う６明の要旨の純囲で適宜に変形実軸かｕＪ’ ｈヒ
であるのはいうまでもない。
散乱Ｘ線黛は、被写体で散乱した散乱Ｘ線を実測したも
のであり、よって被写体の大小や形状に応じた正確な散
乱Ｘ線−ｆｌｌ（止を行い得ることになる、向、本づら
明はＨＩＪ記笑施例によって限定されるものではなく、
本う６明の要旨の純囲で適宜に変形実軸かｕＪ’ ｈヒ
であるのはいうまでもない。
たとえば、散乱Ｘｍ検出器１０をｙ ＝＝ ＮＪ Ｆ
の近傍に１個だけ配置−しても良い。この場合、直接Ｘ
勝による被写体透過Ｘ線清報Ｐ（ｍΔψ、ｎｌＦ）（ま
、 ｐ（ｒｎΔψ、ｎΔψ）二Ｒ（ｍΔψ、ｎｌＦ）−ｒｎ
Ｓ（ｍΔｑｙ ） ・＝−（７１となり、面倒な補間な
省略することができる。
の近傍に１個だけ配置−しても良い。この場合、直接Ｘ
勝による被写体透過Ｘ線清報Ｐ（ｍΔψ、ｎｌＦ）（ま
、 ｐ（ｒｎΔψ、ｎΔψ）二Ｒ（ｍΔψ、ｎｌＦ）−ｒｎ
Ｓ（ｍΔｑｙ ） ・＝−（７１となり、面倒な補間な
省略することができる。
前記実施例でｔｉ、Ｘ線発生源ｌ及び主検出器８が共に
被写体７の周囲を回動する、所ｉｄＲ／Ｒ（Ｒｏｔａｔ
ｅ／１ｔｏｔａｔｅ ）型のＸＩＪＣＴ装置について説
明したが、これに限定されず、たとえば第４世代（Ｘ線
発生源が被写体の周囲を回動し、被写体の周囲に配置さ
れた主検出器は回動しない）のＸ＠ＣＴ装置等を含め、
あらゆるＸ線ＣＴ装置における散乱ＸＩＩＭの補正が可
能である。
被写体７の周囲を回動する、所ｉｄＲ／Ｒ（Ｒｏｔａｔ
ｅ／１ｔｏｔａｔｅ ）型のＸＩＪＣＴ装置について説
明したが、これに限定されず、たとえば第４世代（Ｘ線
発生源が被写体の周囲を回動し、被写体の周囲に配置さ
れた主検出器は回動しない）のＸ＠ＣＴ装置等を含め、
あらゆるＸ線ＣＴ装置における散乱ＸＩＩＭの補正が可
能である。
前記実施例では、散乱Ｘ線検出器１０を主検出器８の近
傍に配置し、主検出器８とともに散乱Ｘ鞄検出器１０が
被写体７の周囲を回動するようにしたが、たとえば第４
世代のＸ線ＣＴ装置の主検出器のごとく、散乱Ｘｍ検出
器を被写体の周囲に固にしても良い。
傍に配置し、主検出器８とともに散乱Ｘ鞄検出器１０が
被写体７の周囲を回動するようにしたが、たとえば第４
世代のＸ線ＣＴ装置の主検出器のごとく、散乱Ｘｍ検出
器を被写体の周囲に固にしても良い。
前記実施例では、Ｘ線発生源１０回動角Δψ毎に全散乱
Ｘ線データをサンプリングしたが、これに限定されず、
たとえばｍ ＝ Ｏにてｎｌ ＝： Ｑの散乱Ｘ線デー
タのみをサンプリングし、ｍ＝ｌにてｎｌ＝１の散乱Ｘ
線データのみをサンプリングし、ｍ＝ Ｎ’ＩＣＩ ｎ
’ 、： Ｎ’の散乱Ｘ線データのみをサンプリングす
るというようにサイクリックに順次サンプリングした鏝
、ｍ方向に補聞丁れば、Ｓ（ｍΔψ。
Ｘ線データをサンプリングしたが、これに限定されず、
たとえばｍ ＝ Ｏにてｎｌ ＝： Ｑの散乱Ｘ線デー
タのみをサンプリングし、ｍ＝ｌにてｎｌ＝１の散乱Ｘ
線データのみをサンプリングし、ｍ＝ Ｎ’ＩＣＩ ｎ
’ 、： Ｎ’の散乱Ｘ線データのみをサンプリングす
るというようにサイクリックに順次サンプリングした鏝
、ｍ方向に補聞丁れば、Ｓ（ｍΔψ。
＋１” ＩｃΔＶ）が得られるとともに、データ収集部
９におけるたとえばＡ／Ｄ変侯＋段等の数を最少限にで
きる。
９におけるたとえばＡ／Ｄ変侯＋段等の数を最少限にで
きる。
＃＋＋Ｊ記実施例では、散乱Ｘ線検出器を第４図に示す
構ＩＮとしたが、これに限定されず、賛はＸＷを検出で
きるものであれば良（、あらゆる構成の検出器か過用で
きる。
構ＩＮとしたが、これに限定されず、賛はＸＷを検出で
きるものであれば良（、あらゆる構成の検出器か過用で
きる。
以上説明した本党明によれば、散乱Ｘｓ検出器により、
散乱Ｘ勝報を実測し、これを基に被写体透過Ｘ線１６報
における散乱Ｘ線袖止を行うので、たとえは被写体の大
小あるいは形状に無関係に常に正確な散乱Ｘ線ｈ１ノ正
を行い得る。よって、Ｃｒ２匿のずれ、あるいはアーチ
ノアクトが数置された（す構成画像が得られるところの
Ｘ欄ＣＴ装瞳な提供することができ、診断能の向上に大
きく寄与することができる。
散乱Ｘ勝報を実測し、これを基に被写体透過Ｘ線１６報
における散乱Ｘ線袖止を行うので、たとえは被写体の大
小あるいは形状に無関係に常に正確な散乱Ｘ線ｈ１ノ正
を行い得る。よって、Ｃｒ２匿のずれ、あるいはアーチ
ノアクトが数置された（す構成画像が得られるところの
Ｘ欄ＣＴ装瞳な提供することができ、診断能の向上に大
きく寄与することができる。
第１図は散乱Ｘ線がＮ構成画像に与える影響を説明する
ための説明図、第２図及び第３図は本発明に係る）ｌＩ
ＣＴ装置の構成を示す説明図、第４図は第２図及び第３
図に示す装置に具備される散乱Ｘ＠検出器の一例を示す
斜視図、第５図は第２図及び第３図に示す装置の作用を
説明するための説ＨＡ図、第６図は第２図及び第３図に
示す装置における散乱Ｘ線成分除去のアルゴリズムを説
明するためのフローチャート、第７図（ａｌ及び（ｂ）
並びにＸ８８図は第２図及び第３図に示す装置における
データの補間を説明するための説明図である。 ｌ・・・Ｘ線発生源、 ４・・・データ処理部、６・・
・Ｘａ（Ｘ＆ｌビーム）、７・・・被写体、 ８・・・
主検出器、９・・・データ収集部、ｌ （１山散乱Ｘ線
検出器。 代理人 弁理士 則 近 慾 佑（はが１名）第４図 １０ 第５図
ための説明図、第２図及び第３図は本発明に係る）ｌＩ
ＣＴ装置の構成を示す説明図、第４図は第２図及び第３
図に示す装置に具備される散乱Ｘ＠検出器の一例を示す
斜視図、第５図は第２図及び第３図に示す装置の作用を
説明するための説ＨＡ図、第６図は第２図及び第３図に
示す装置における散乱Ｘ線成分除去のアルゴリズムを説
明するためのフローチャート、第７図（ａｌ及び（ｂ）
並びにＸ８８図は第２図及び第３図に示す装置における
データの補間を説明するための説明図である。 ｌ・・・Ｘ線発生源、 ４・・・データ処理部、６・・
・Ｘａ（Ｘ＆ｌビーム）、７・・・被写体、 ８・・・
主検出器、９・・・データ収集部、ｌ （１山散乱Ｘ線
検出器。 代理人 弁理士 則 近 慾 佑（はが１名）第４図 １０ 第５図
Claims (1)
- 被写体す七（んで対向配置したＸ線発生源と主検出器と
をイーし、被写体に向って所定角度毎に曝射されたＸ線
を被写体ｘｌ’を過後に検出することにより、被写体ｉ
１過Ｘ１ｆｆデータを収集し、このデータを基にＸ線断
ｊ曽稼を＋＋４構成するＸ線ＣＴ装置において、１片方
体等でｔＩｔ乱した散乱Ｘ線を検出し、かつ、前記主検
出器の近傍に配置された１以上の散乱Ｘ線検出器と、こ
の散乱Ｘ線イ矢出器によって検出された散乱Ｘ線データ
を基に、前記主検出器により検出された被写体透過Ｘ線
データから散乱Ｘ線成分を除去する演ｎｒ少なくとも実
行ＨＪ能なデータ処理部とを具（ｎｆｊ−ｒることを特
徴とするＸ＠ＣＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58216005A JPS60108039A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58216005A JPS60108039A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60108039A true JPS60108039A (ja) | 1985-06-13 |
| JPH0560930B2 JPH0560930B2 (ja) | 1993-09-03 |
Family
ID=16681813
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58216005A Granted JPS60108039A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60108039A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62261342A (ja) * | 1986-05-07 | 1987-11-13 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPS6351842A (ja) * | 1986-08-21 | 1988-03-04 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2009160309A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Toshiba Corp | 放射線治療システム、放射線治療支援装置及び放射線治療支援プログラム |
| JP2009160307A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Toshiba Corp | 放射線治療システム、放射線治療支援装置及び放射線治療支援プログラム |
| JP2009160308A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Toshiba Corp | 放射線治療システム、放射線治療支援装置及び放射線治療支援プログラム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54152491A (en) * | 1978-05-13 | 1979-11-30 | Philips Nv | Device for determining space absorption distribution |
| JPS56151026A (en) * | 1980-04-01 | 1981-11-21 | Philips Nv | Apparatus for determining absorption distribution of radioactive ray |
| JPS59196447A (ja) * | 1983-04-22 | 1984-11-07 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 放射線検出器 |
-
1983
- 1983-11-18 JP JP58216005A patent/JPS60108039A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54152491A (en) * | 1978-05-13 | 1979-11-30 | Philips Nv | Device for determining space absorption distribution |
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|---|---|---|---|---|
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| JPS6351842A (ja) * | 1986-08-21 | 1988-03-04 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2009160309A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Toshiba Corp | 放射線治療システム、放射線治療支援装置及び放射線治療支援プログラム |
| JP2009160307A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Toshiba Corp | 放射線治療システム、放射線治療支援装置及び放射線治療支援プログラム |
| JP2009160308A (ja) * | 2008-01-09 | 2009-07-23 | Toshiba Corp | 放射線治療システム、放射線治療支援装置及び放射線治療支援プログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0560930B2 (ja) | 1993-09-03 |
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