JPH0560930B2 - - Google Patents
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- JPH0560930B2 JPH0560930B2 JP58216005A JP21600583A JPH0560930B2 JP H0560930 B2 JPH0560930 B2 JP H0560930B2 JP 58216005 A JP58216005 A JP 58216005A JP 21600583 A JP21600583 A JP 21600583A JP H0560930 B2 JPH0560930 B2 JP H0560930B2
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- rays
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は診断のための医療機器の分野に属し、
さらに詳しくはＸ線CT装置に関するものである。
さらに詳しくはＸ線CT装置に関するものである。
一般に、Ｘ線診断装置たとえばＸ線CT装置に
おいて、被写体（たとえば人体）を透過したＸ線
を検出する検出器には、直接Ｘ線とともに、被写
体等で散乱した、所謂散乱Ｘ線が入射する。この
散乱Ｘ線は、たとえば第１図に示すように再構成
画像において、高いＸ線吸収係数を有する組織
（たとえば骨）１ａ間を結ぶアーチフアクト１ｂ
を生ずる原因あるいは被写体の各組織におけるＸ
線吸収係数を表わすCT値がずれ原因となる。し
たがつて、診断能能の優れた再構成画像（Ｘ線断
層像）を得るためには、散乱Ｘ線を除去するかあ
るいは何らかの方法により散乱Ｘ線の再構成画像
への影響を防止することが極めて重要となる。
おいて、被写体（たとえば人体）を透過したＸ線
を検出する検出器には、直接Ｘ線とともに、被写
体等で散乱した、所謂散乱Ｘ線が入射する。この
散乱Ｘ線は、たとえば第１図に示すように再構成
画像において、高いＸ線吸収係数を有する組織
（たとえば骨）１ａ間を結ぶアーチフアクト１ｂ
を生ずる原因あるいは被写体の各組織におけるＸ
線吸収係数を表わすCT値がずれ原因となる。し
たがつて、診断能能の優れた再構成画像（Ｘ線断
層像）を得るためには、散乱Ｘ線を除去するかあ
るいは何らかの方法により散乱Ｘ線の再構成画像
への影響を防止することが極めて重要となる。
ところで、従来のＸ線CT装置においては、散
乱Ｘ線の再構成画像への影響を無視するかあるい
は極めて単純な補正により散乱Ｘ線対策を講じて
いた。
乱Ｘ線の再構成画像への影響を無視するかあるい
は極めて単純な補正により散乱Ｘ線対策を講じて
いた。
この極めて単純な補正とは、被写体のサイズ
を、オペレータが選択した撮影領域のサイズから
推測し、この被写体サイズをに直接Ｘ線に対する
散乱Ｘ線の比を推測し、この推測値と曝射Ｘ線量
とから散乱Ｘ線を推測し、この推測した散乱Ｘ線
量を、検出器で検出したＸ線量から減算するとい
うものである。
を、オペレータが選択した撮影領域のサイズから
推測し、この被写体サイズをに直接Ｘ線に対する
散乱Ｘ線の比を推測し、この推測値と曝射Ｘ線量
とから散乱Ｘ線を推測し、この推測した散乱Ｘ線
量を、検出器で検出したＸ線量から減算するとい
うものである。
しかしながら、この補正には、被写体の大小や
形状に関する情報が一切考慮されていないため
に、散乱Ｘ線の線量あるいは分布に大きな誤差を
生ずる虞れがあり、かかる場合、補正の過不足を
容易に生じてまう。
形状に関する情報が一切考慮されていないため
に、散乱Ｘ線の線量あるいは分布に大きな誤差を
生ずる虞れがあり、かかる場合、補正の過不足を
容易に生じてまう。
また、散乱Ｘ線補正無しで先ず画像を再構成
し、この再構成画像（Ｘ線吸収係数の分布）から
Ｘ線検出器に入射する散乱Ｘ線量を推測し、この
推測値を補正値として用いて再び画像再構成する
方法も考えられるが、この方法は画像再構成を２
度行わなければならず、時間的損失が大きいので
実用的とはいえない。
し、この再構成画像（Ｘ線吸収係数の分布）から
Ｘ線検出器に入射する散乱Ｘ線量を推測し、この
推測値を補正値として用いて再び画像再構成する
方法も考えられるが、この方法は画像再構成を２
度行わなければならず、時間的損失が大きいので
実用的とはいえない。
このように、散乱Ｘ線の実用的かつ十分な除去
方法について未だ殆んど知られていないのが現状
である。
方法について未だ殆んど知られていないのが現状
である。
本発明は前記事情に鑑みてなされたものあり、
散乱Ｘ線を実測し、これを基に適切な散乱Ｘ線補
正を行うことにより、診断能に優れた再構成画像
が得られるところのＸ線CT装置の提供を目的と
する。
散乱Ｘ線を実測し、これを基に適切な散乱Ｘ線補
正を行うことにより、診断能に優れた再構成画像
が得られるところのＸ線CT装置の提供を目的と
する。
前記目的を達成するための本発明の概要は、扇
状のＸ線を発生するＸ線源と、Ｘ線から曝射され
たＸ線を検出し、このＸ線源と被写体を挟んで対
向し、かつ前記扇状面に含まれる位置に配置にさ
れた、複数の検出素子からなる検出器列を有する
主検出器と、前記Ｘ線源から曝射されたＸ線を検
出し、前記Ｘ線源と被写体を挟んで対向し、前記
主検出器の近傍で、かつ前記扇状面に含まれない
位置に１つ以上配置された散乱線検出器と、前記
散乱線検出器による散乱線検出データおよび前記
主検出器による前記複数の検出素子についての主
検出データをそれぞれ入力し、入力された前記散
乱線検出データに基づいて演算により前記複数の
各検出素子に対応する散乱線データを作成し、作
成された散乱線データに基づいて散乱線成分を主
検出データから除去する演算を行なうデータ処理
部とを具備することを特徴とするものである。
状のＸ線を発生するＸ線源と、Ｘ線から曝射され
たＸ線を検出し、このＸ線源と被写体を挟んで対
向し、かつ前記扇状面に含まれる位置に配置にさ
れた、複数の検出素子からなる検出器列を有する
主検出器と、前記Ｘ線源から曝射されたＸ線を検
出し、前記Ｘ線源と被写体を挟んで対向し、前記
主検出器の近傍で、かつ前記扇状面に含まれない
位置に１つ以上配置された散乱線検出器と、前記
散乱線検出器による散乱線検出データおよび前記
主検出器による前記複数の検出素子についての主
検出データをそれぞれ入力し、入力された前記散
乱線検出データに基づいて演算により前記複数の
各検出素子に対応する散乱線データを作成し、作
成された散乱線データに基づいて散乱線成分を主
検出データから除去する演算を行なうデータ処理
部とを具備することを特徴とするものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例について図面を参照し
ながら説明する。
ながら説明する。
第２図は本発明に係るＸ線CT装置の構成を示
す説明図である。同図２で示すのは、回動可能な
ガントリ（回動ベース）であり、Ｘ線発生源１及
このＸ線発生源１より発生したＸ線６を被写体７
を透過後に検出する主検出器８が取り付けられて
いるとともに、駆動手段３の回動駆動により被写
体７の囲りを回動するようになつている。前記主
検出器８の近傍たとえば第３図に示すように、Ｘ
線６のスライス方向であつて主検出器８から数cm
離れた位置には、散乱Ｘ線検出器１０が１以上
（第２図では５個）図示しない固定手段によつて
固定されている。このような位置に散乱Ｘ線検出
器１０を取り付けるのは、以下に述べる理由によ
り主検出器８に入射する散乱Ｘ線の線量を検出す
ることができるからである。すなわち、被写体７
内で発生した散乱Ｘ線の進行方向は、格別鋭い選
択性を有していない。したがつて主検出器８の特
定チヤンネルに入射するＸ線（直接Ｘ線と散乱Ｘ
線とを意味する）に含まれる散乱Ｘ線の単位面積
当りの線量は、当該チヤンネルの近傍に位置する
散乱Ｘ線検出器に入射する散乱Ｘ線の単位面積当
りの線量にほぼ等しくなる。よつて、主検出器８
の近傍に取り付けられた散乱Ｘ線検出器１０の検
出信号を基に、主検出器８に入射する散乱Ｘ線の
線量を検出することができるのである。
す説明図である。同図２で示すのは、回動可能な
ガントリ（回動ベース）であり、Ｘ線発生源１及
このＸ線発生源１より発生したＸ線６を被写体７
を透過後に検出する主検出器８が取り付けられて
いるとともに、駆動手段３の回動駆動により被写
体７の囲りを回動するようになつている。前記主
検出器８の近傍たとえば第３図に示すように、Ｘ
線６のスライス方向であつて主検出器８から数cm
離れた位置には、散乱Ｘ線検出器１０が１以上
（第２図では５個）図示しない固定手段によつて
固定されている。このような位置に散乱Ｘ線検出
器１０を取り付けるのは、以下に述べる理由によ
り主検出器８に入射する散乱Ｘ線の線量を検出す
ることができるからである。すなわち、被写体７
内で発生した散乱Ｘ線の進行方向は、格別鋭い選
択性を有していない。したがつて主検出器８の特
定チヤンネルに入射するＸ線（直接Ｘ線と散乱Ｘ
線とを意味する）に含まれる散乱Ｘ線の単位面積
当りの線量は、当該チヤンネルの近傍に位置する
散乱Ｘ線検出器に入射する散乱Ｘ線の単位面積当
りの線量にほぼ等しくなる。よつて、主検出器８
の近傍に取り付けられた散乱Ｘ線検出器１０の検
出信号を基に、主検出器８に入射する散乱Ｘ線の
線量を検出することができるのである。
しかして、この散乱Ｘ線検出器１０及び主検出
器８の検出信号は、後段に配置されるデータ収集
部９に入力し、たとえばデータ収集部９内に具備
されるＡ／Ｄ（アナログ・デイジタル）変換手段
によりデイジタル信号に変換された後、データ処
理部４に入力する。このデータ処理部４は、たと
えばコンピユータシステムを含んで構成され、後
述するアルゴリズムに従つて、前記データ収集部
９を介して入力する被写体透過Ｘ線情報（この情
報には、直接Ｘ線による情報と散乱Ｘ線による情
報とが含まれており、主検出器８によつて検出さ
れた情報を意味する）から、散乱Ｘ線情報を除去
した後、従来装置と同様に画像再構成のための演
算処理を行う。尚、５で示すのは、Ｘ線ビームの
照射野を決定するためのコリメータである。
器８の検出信号は、後段に配置されるデータ収集
部９に入力し、たとえばデータ収集部９内に具備
されるＡ／Ｄ（アナログ・デイジタル）変換手段
によりデイジタル信号に変換された後、データ処
理部４に入力する。このデータ処理部４は、たと
えばコンピユータシステムを含んで構成され、後
述するアルゴリズムに従つて、前記データ収集部
９を介して入力する被写体透過Ｘ線情報（この情
報には、直接Ｘ線による情報と散乱Ｘ線による情
報とが含まれており、主検出器８によつて検出さ
れた情報を意味する）から、散乱Ｘ線情報を除去
した後、従来装置と同様に画像再構成のための演
算処理を行う。尚、５で示すのは、Ｘ線ビームの
照射野を決定するためのコリメータである。
次に、前記散乱Ｘ線検出器１０の構成について
詳述する。第４図は散乱Ｘ線検出器１０の構成を
示す斜視図である。同図に示すように、散乱Ｘ線
検出器１０は、入射する散乱Ｘ線X0を可視光に
変換するシンチレータ（たとえばCdWO4CsＩ等）
１６と、このシンチレータ１６のたとえば下面に
光学接着剤等によつて密着され、シンチレータ１
６より生ずる可視光を電気信号に変換するフオト
ダイオード１５と、このフオトダイオード１５の
アノードまたはカソードのいずれか一方がボーデ
インワイヤ１２を介して、また他方がフオトダイ
オード１２を介して、また他方がフオトダイオー
ド１５の背面より導電性の接着剤を介してそれぞ
れ電気的に接続されるところの電極パターン１
３，１４を有する基板（たとえばガラスエポキ
シ、セラミツク等）とを含んで構成される。
詳述する。第４図は散乱Ｘ線検出器１０の構成を
示す斜視図である。同図に示すように、散乱Ｘ線
検出器１０は、入射する散乱Ｘ線X0を可視光に
変換するシンチレータ（たとえばCdWO4CsＩ等）
１６と、このシンチレータ１６のたとえば下面に
光学接着剤等によつて密着され、シンチレータ１
６より生ずる可視光を電気信号に変換するフオト
ダイオード１５と、このフオトダイオード１５の
アノードまたはカソードのいずれか一方がボーデ
インワイヤ１２を介して、また他方がフオトダイ
オード１２を介して、また他方がフオトダイオー
ド１５の背面より導電性の接着剤を介してそれぞ
れ電気的に接続されるところの電極パターン１
３，１４を有する基板（たとえばガラスエポキ
シ、セラミツク等）とを含んで構成される。
次に、以上のように構成される装置の作用につ
いて説明する。Ｘ線発生源１より発生したＸ線６
は、コリメータ５によりビームが絞られた後、被
写体７に照射（曝射）され、被写体７を透過した
直接Ｘ線による被写体透過Ｘ線情報及び被写体７
で散乱した散乱Ｘ線による情報が、主検出器８に
よつて検出される。一方、被写体７で散乱した散
乱Ｘ線による情報は、散乱Ｘ線検出器１０によつ
ても検出され、この散乱Ｘ線検出器１０の検出信
号及び前記主検出器８の検出信号は、共にデータ
収集部９に入力し、たとえばデータ収集部９内に
具備されるＡ／Ｄ変換手段によりそれぞれデイジ
タル信号に変換された後、データ処理部４に入力
する。このデータ処理部４は、後述する所定のア
ルゴリズムに従つて、散乱Ｘ線による情報が含ま
れている被写体透過Ｘ線情報から散乱Ｘ線成分に
よる情報を除去した後、従来装置と同様のアルゴ
リズムに従つて画像再構成を行い、その結果はた
とえば図示しない外部モニタの画像表示あるいは
その他のデータ処理に供される。
いて説明する。Ｘ線発生源１より発生したＸ線６
は、コリメータ５によりビームが絞られた後、被
写体７に照射（曝射）され、被写体７を透過した
直接Ｘ線による被写体透過Ｘ線情報及び被写体７
で散乱した散乱Ｘ線による情報が、主検出器８に
よつて検出される。一方、被写体７で散乱した散
乱Ｘ線による情報は、散乱Ｘ線検出器１０によつ
ても検出され、この散乱Ｘ線検出器１０の検出信
号及び前記主検出器８の検出信号は、共にデータ
収集部９に入力し、たとえばデータ収集部９内に
具備されるＡ／Ｄ変換手段によりそれぞれデイジ
タル信号に変換された後、データ処理部４に入力
する。このデータ処理部４は、後述する所定のア
ルゴリズムに従つて、散乱Ｘ線による情報が含ま
れている被写体透過Ｘ線情報から散乱Ｘ線成分に
よる情報を除去した後、従来装置と同様のアルゴ
リズムに従つて画像再構成を行い、その結果はた
とえば図示しない外部モニタの画像表示あるいは
その他のデータ処理に供される。
次に、前記データ処理部４における散乱Ｘ線成
分除去のアルゴリズムについて、第図のフローチ
ヤートを中心に説明する。たとえば、Ｒ／Ｒ
（Rotate／Rotate）型のＸ線CT装置（Ｘ線発生
源及び検出器が共に被写体の囲りを回動する）の
場合、第５図に示すように、Ｘ線発生源１及び主
検出器８が１７を中心としてΔだけ回動する毎
にＸ線を照射し、検出器８によりデータを得る。
この主検出器８による測定（検出）データは、 Ｒ（mΔ，nΔΨ） ……(1) と表すことができる。ここで、ｍ＝０，１，２…
Ｍ−１のごとく変化し（MΔ＝2π）、またｎ＝
０，１，２…Ｎのごとく変化する。このＮは、主
検出器８のチヤンネル数を意味する（通常、512
あるいは320チヤンネルであり、その配列はＸ線
発生源から見てΔΨ毎に１チヤンネルとなる）。
一方、散乱Ｘ線検出器１０は、主検出器８のチヤ
ンネル配列よりも疎に配置されており（密に配置
することを要しない）、たとえば、主検出器８の
チヤンネル配列ピツチΔのｋ倍のピツチで散乱
Ｘ線検出器１０を配列したとすると、この散乱Ｘ
線検出器１０による散乱Ｘ線の測定データは、
Ｓ（mΔ，n′kΔΨ） ……(2) と表すことができる。ここで、n′＝０，１，２…
N′のごとく変化し、N′＝Ｎ／ｋとなる。
分除去のアルゴリズムについて、第図のフローチ
ヤートを中心に説明する。たとえば、Ｒ／Ｒ
（Rotate／Rotate）型のＸ線CT装置（Ｘ線発生
源及び検出器が共に被写体の囲りを回動する）の
場合、第５図に示すように、Ｘ線発生源１及び主
検出器８が１７を中心としてΔだけ回動する毎
にＸ線を照射し、検出器８によりデータを得る。
この主検出器８による測定（検出）データは、 Ｒ（mΔ，nΔΨ） ……(1) と表すことができる。ここで、ｍ＝０，１，２…
Ｍ−１のごとく変化し（MΔ＝2π）、またｎ＝
０，１，２…Ｎのごとく変化する。このＮは、主
検出器８のチヤンネル数を意味する（通常、512
あるいは320チヤンネルであり、その配列はＸ線
発生源から見てΔΨ毎に１チヤンネルとなる）。
一方、散乱Ｘ線検出器１０は、主検出器８のチヤ
ンネル配列よりも疎に配置されており（密に配置
することを要しない）、たとえば、主検出器８の
チヤンネル配列ピツチΔのｋ倍のピツチで散乱
Ｘ線検出器１０を配列したとすると、この散乱Ｘ
線検出器１０による散乱Ｘ線の測定データは、
Ｓ（mΔ，n′kΔΨ） ……(2) と表すことができる。ここで、n′＝０，１，２…
N′のごとく変化し、N′＝Ｎ／ｋとなる。
主検出器８及び散乱Ｘ線検出器１０から出力さ
れる前(1)，(2)で示す測定データは、Ａ／Ｄ変換
後、先ず、データ処理部４内に具備されるメモリ
に一旦記憶される（ステツプS1）。
れる前(1)，(2)で示す測定データは、Ａ／Ｄ変換
後、先ず、データ処理部４内に具備されるメモリ
に一旦記憶される（ステツプS1）。
ところで、散乱Ｘ線検出器１０は、主検出器８
のチヤンネル配列ピツチ（ΔΨ）よりも疎に配置
されているので、散乱Ｘ線検出器１０の測定デー
タは何らかの方法により補間する必要がある。た
とえばsinc関数による補間法を用いれば、予めデ
ータ処理部４内に具備されるsinc関数テーブル１
８よりsinc（lΔΨ）を読み出し（ステツプS2）、こ
れを基に、前記ステツプS1において記憶された
散乱Ｘ線データすなわちＳ（mΔ，n′kΔΨ）の補
間を行う。この補間は次式によつて実行される。
すなわち、補間後の散乱線データS′（mΔ，
nΔΨ）とすれば、 S′（mΔ，nΔΨ）＝N′ 〓 〓n ′=0Ｓ（mΔ，n′kΔΨ）・sinc（n′kΔΨ，nΔΨ
）……(3) となる。ここで、sinc（Ψ）は、 sinc（Ψ）＝sin（π・Ψ１／kΔΨ）／π・Ψ１／k
ΔΨ……(4) である。前(1)式の意味するところを第７図ａ及び
ｂに示す。同図ａは散乱Ｘ線の測定データを示
し、または同図ｂは、ｋ＝５，N′＝４，Ｎ＝20
とした場合の一例であり、ｎ＝７の状態である。
しかして、すべてのｎについて前(1)式による補間
演算を実行すれば、第８図に示すような補間後の
散乱Ｘ線データS′（mΔ，nΔΨ）を得る（ステツ
プS3）。尚、このようにsinc関数をその都度演算
すると時間的損失が大きいので、演算時間が問題
になる場合には、sinc関数をΔΨ毎にサンプリン
グした値を予め算出しておき、これを定数として
システムに記憶させておくと良い。
のチヤンネル配列ピツチ（ΔΨ）よりも疎に配置
されているので、散乱Ｘ線検出器１０の測定デー
タは何らかの方法により補間する必要がある。た
とえばsinc関数による補間法を用いれば、予めデ
ータ処理部４内に具備されるsinc関数テーブル１
８よりsinc（lΔΨ）を読み出し（ステツプS2）、こ
れを基に、前記ステツプS1において記憶された
散乱Ｘ線データすなわちＳ（mΔ，n′kΔΨ）の補
間を行う。この補間は次式によつて実行される。
すなわち、補間後の散乱線データS′（mΔ，
nΔΨ）とすれば、 S′（mΔ，nΔΨ）＝N′ 〓 〓n ′=0Ｓ（mΔ，n′kΔΨ）・sinc（n′kΔΨ，nΔΨ
）……(3) となる。ここで、sinc（Ψ）は、 sinc（Ψ）＝sin（π・Ψ１／kΔΨ）／π・Ψ１／k
ΔΨ……(4) である。前(1)式の意味するところを第７図ａ及び
ｂに示す。同図ａは散乱Ｘ線の測定データを示
し、または同図ｂは、ｋ＝５，N′＝４，Ｎ＝20
とした場合の一例であり、ｎ＝７の状態である。
しかして、すべてのｎについて前(1)式による補間
演算を実行すれば、第８図に示すような補間後の
散乱Ｘ線データS′（mΔ，nΔΨ）を得る（ステツ
プS3）。尚、このようにsinc関数をその都度演算
すると時間的損失が大きいので、演算時間が問題
になる場合には、sinc関数をΔΨ毎にサンプリン
グした値を予め算出しておき、これを定数として
システムに記憶させておくと良い。
次に、データ処理部４内に具備されるroテーブ
ル１９より主検出器８と散乱Ｘ線検出器１０との
感度比定数（本装置調整時等に実測して得られた
主検出器８と散乱Ｘ線検出器１０との感度比）を
読み出し（ステツプS4）、これを基に、前記ステ
ツプS3において得られた補間後の散乱線データ
S′（mΔ，nΔΨ）についてレベル補正を行う。た
とえば、主検出器８と散乱Ｘ線検出器１０との感
度比をro：１とすると、レベル補正は次式によつ
て実行される。すなわち、レベル補正後の散乱Ｘ
線データをS″（mΔ，nΔΨ）とすれば、 S″（mΔ，nΔΨ）＝roS′（mΔ，nΔΨ）……(5
) となり、これを各ｎについて計算する（ステツプ
S5）。
ル１９より主検出器８と散乱Ｘ線検出器１０との
感度比定数（本装置調整時等に実測して得られた
主検出器８と散乱Ｘ線検出器１０との感度比）を
読み出し（ステツプS4）、これを基に、前記ステ
ツプS3において得られた補間後の散乱線データ
S′（mΔ，nΔΨ）についてレベル補正を行う。た
とえば、主検出器８と散乱Ｘ線検出器１０との感
度比をro：１とすると、レベル補正は次式によつ
て実行される。すなわち、レベル補正後の散乱Ｘ
線データをS″（mΔ，nΔΨ）とすれば、 S″（mΔ，nΔΨ）＝roS′（mΔ，nΔΨ）……(5
) となり、これを各ｎについて計算する（ステツプ
S5）。
次に、前記(1)に示す主検出器８による測定デー
タから、前記ステツプＳ５において得られたレベ
ル補正後の散乱Ｘ線データを減算し、直接Ｘ線に
よる被写体透過Ｘ線情報Ｐ（mΔ，nΔΨ）を得
る。すなわち、 Ｐ（mΔ，nΔΨ）＝Ｒ（mΔ，nΔΨ）−
S″（mΔ，nΔΨ） ……(6) となる（ステツプS6）。以上で散乱Ｘ線成分除去
のアルゴリズムの実行を終了し、以後、データ処
理部４は、前記ステツプＳ６において得られたＰ
（mΔ，nΔΨ）を基に画像再構成を行う。この画
像再構成については、従来装置と同様であるので
省略する。
タから、前記ステツプＳ５において得られたレベ
ル補正後の散乱Ｘ線データを減算し、直接Ｘ線に
よる被写体透過Ｘ線情報Ｐ（mΔ，nΔΨ）を得
る。すなわち、 Ｐ（mΔ，nΔΨ）＝Ｒ（mΔ，nΔΨ）−
S″（mΔ，nΔΨ） ……(6) となる（ステツプS6）。以上で散乱Ｘ線成分除去
のアルゴリズムの実行を終了し、以後、データ処
理部４は、前記ステツプＳ６において得られたＰ
（mΔ，nΔΨ）を基に画像再構成を行う。この画
像再構成については、従来装置と同様であるので
省略する。
このように、主検出器８の近傍に配置された散
乱Ｘ線検出器１０によつて得られた散乱Ｘ線成分
を、主検出器８によつて得られた被写体透過Ｘ線
情報から減算し、散乱Ｘ線成分を除去することに
よつて、直接Ｘ線による情報を得ることができ
る。しかして、本実施例装置における補正の基と
なる散乱Ｘ線量は、被写体で散乱した散乱Ｘ線を
実測したものであり、よつて被写体の大小や形状
に応じた正確な散乱Ｘ線補正を行い得ることにな
る。
乱Ｘ線検出器１０によつて得られた散乱Ｘ線成分
を、主検出器８によつて得られた被写体透過Ｘ線
情報から減算し、散乱Ｘ線成分を除去することに
よつて、直接Ｘ線による情報を得ることができ
る。しかして、本実施例装置における補正の基と
なる散乱Ｘ線量は、被写体で散乱した散乱Ｘ線を
実測したものであり、よつて被写体の大小や形状
に応じた正確な散乱Ｘ線補正を行い得ることにな
る。
尚、本発明は前記実施例によつて限定されるも
のではなく、本発明の要旨の範囲で適宜に変形実
施が可能であるのはいうまでもない。
のではなく、本発明の要旨の範囲で適宜に変形実
施が可能であるのはいうまでもない。
たとえば、散乱Ｘ線検出器１０をΨ＝NΔΨ／２
の近傍に１個だけ配置しても良い。この場合、直
接Ｘ線による被写体透過Ｘ線情報Ｐ（mΔ，
nΔΨ）は、 Ｐ（mΔ，nΔΨ）＝Ｒ（mΔ，nΔΨ）−roＳ
（mΔ） ……(7) となり、面倒な補間を省略することができる。
接Ｘ線による被写体透過Ｘ線情報Ｐ（mΔ，
nΔΨ）は、 Ｐ（mΔ，nΔΨ）＝Ｒ（mΔ，nΔΨ）−roＳ
（mΔ） ……(7) となり、面倒な補間を省略することができる。
前記実施例では、Ｘ線発生源１及び主検出器８
が共に被写体７の周囲を回動する、所謂Ｒ／Ｒ
（Rotate／Rotate）型のＸ線CT装置について説
明したが、これに限定されず、たとえば第４世代
（Ｘ線発生源が被写体の周囲を回動し、被写体の
周囲に配置された主検出器は回動しない）のＸ線
CT装置等を含め、あらゆるＸ線CT装置における
散乱Ｘ線の補正が可能である。
が共に被写体７の周囲を回動する、所謂Ｒ／Ｒ
（Rotate／Rotate）型のＸ線CT装置について説
明したが、これに限定されず、たとえば第４世代
（Ｘ線発生源が被写体の周囲を回動し、被写体の
周囲に配置された主検出器は回動しない）のＸ線
CT装置等を含め、あらゆるＸ線CT装置における
散乱Ｘ線の補正が可能である。
前記実施例では、散乱Ｘ線検出器１０を主検出
器８の近傍に配置し、主検出器８とともに散乱Ｘ
線検出器１０が被写体７の周囲を回動するように
したが、たとえば第４世代のＸ線CT装置の主検
出器のごとく、散乱Ｘ線検出器を被写体の周囲に
固定しても良い。
器８の近傍に配置し、主検出器８とともに散乱Ｘ
線検出器１０が被写体７の周囲を回動するように
したが、たとえば第４世代のＸ線CT装置の主検
出器のごとく、散乱Ｘ線検出器を被写体の周囲に
固定しても良い。
前記実施例では、Ｘ線発生源１の回動角Δ毎
に全散乱Ｘ線データをサンプリングしたが、これ
に限定されず、たとえばｍ＝０にてn′＝０の散乱
Ｘ線データのみをサンプリングし、ｍ＝１にて
n′＝１の散乱Ｘ線データのみをサンプリングし、
ｍ＝N′にてn′＝N′の散乱Ｘ線データのみをサン
プリングするというようにサイクリツクに順次サ
ンプリングした後、ｍ方向に補間すれば、Ｓ
（mΔ，n′kΔΨ）が得得られるとともに、データ
収集部９におけるたとえばＡ／Ｄ変換手段等の数
を最少限にできる。
に全散乱Ｘ線データをサンプリングしたが、これ
に限定されず、たとえばｍ＝０にてn′＝０の散乱
Ｘ線データのみをサンプリングし、ｍ＝１にて
n′＝１の散乱Ｘ線データのみをサンプリングし、
ｍ＝N′にてn′＝N′の散乱Ｘ線データのみをサン
プリングするというようにサイクリツクに順次サ
ンプリングした後、ｍ方向に補間すれば、Ｓ
（mΔ，n′kΔΨ）が得得られるとともに、データ
収集部９におけるたとえばＡ／Ｄ変換手段等の数
を最少限にできる。
前記実施例では、散乱Ｘ線検出器を第４図に示
す構成としたが、これに限定されず、要はＸ線を
検出できるものであれば良く、あらゆる構成の検
出器が適用できる。
す構成としたが、これに限定されず、要はＸ線を
検出できるものであれば良く、あらゆる構成の検
出器が適用できる。
以上説明した本発明によれば、散乱Ｘ線検出器
により、散乱Ｘ線量を実測し、これを基に被写体
透過Ｘ線情報における散乱Ｘ線補正を行うので、
たとえば被写体の大小あるいは形状に無関係に常
に正確な散乱Ｘ線補正を行い得る。よつて、CT
値のずれ、あるいはアーチフアクトが低減された
再構成画像が得られるところのＸ線CT装置を提
供することができ、診断能の向上に大きく寄与す
ることができる。
により、散乱Ｘ線量を実測し、これを基に被写体
透過Ｘ線情報における散乱Ｘ線補正を行うので、
たとえば被写体の大小あるいは形状に無関係に常
に正確な散乱Ｘ線補正を行い得る。よつて、CT
値のずれ、あるいはアーチフアクトが低減された
再構成画像が得られるところのＸ線CT装置を提
供することができ、診断能の向上に大きく寄与す
ることができる。
第１図は散乱Ｘ線が再構成画像に与える影響を
説明するための説明図、第２図及び第３図は本発
明に係るＸ線CT装置の構成を示す説明図、第４
図は第２図及び第３図に示す装置に具備される散
乱Ｘ線検出器の一例を示す斜視図、第５図は第２
図及び第３図に示す装置の作用を説明するための
説明図、第６図は第２図及び第３図に示す装置に
おける散乱Ｘ線成分除去のアルゴリズムを説明す
るためのフローチヤート、第７図ａ及びｂ並びに
第８図は第２図及び第３図に示す装置におけるデ
ータの補間を説明するための説明図である。 １……Ｘ線発生源、４……データ処理部、６…
…Ｘ線（Ｘ線ビーム）、７……被写体、８……主
検出器、９……データ収集部、１０……散乱Ｘ線
検出器。
説明するための説明図、第２図及び第３図は本発
明に係るＸ線CT装置の構成を示す説明図、第４
図は第２図及び第３図に示す装置に具備される散
乱Ｘ線検出器の一例を示す斜視図、第５図は第２
図及び第３図に示す装置の作用を説明するための
説明図、第６図は第２図及び第３図に示す装置に
おける散乱Ｘ線成分除去のアルゴリズムを説明す
るためのフローチヤート、第７図ａ及びｂ並びに
第８図は第２図及び第３図に示す装置におけるデ
ータの補間を説明するための説明図である。 １……Ｘ線発生源、４……データ処理部、６…
…Ｘ線（Ｘ線ビーム）、７……被写体、８……主
検出器、９……データ収集部、１０……散乱Ｘ線
検出器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 扇状のＸ線を発生するＸ線源と、Ｘ線源から
曝射されたＸ線を検出し、このＸ線源と被写体を
挟んで対向し、かつ前記扇状面に含まれる位置に
所定のピツチで配列された複数の検出素子からな
る検出器列を有する主検出器と、前記Ｘ線源から
曝射されたＸ線を検出し、前記Ｘ線源と被写体を
挟んで対向し、前記主検出器の近傍で、かつ前記
扇状面に含まれない位置に前記所定のピツチより
は疎の状態で複数配置された散乱線検出器と、前
記各々の散乱線検出器による各散乱線検出データ
間の散乱線データを補間演算により求め散乱線分
布データを求める補間手段と、この補間手段によ
る散乱線分布データおよび前記主検出器による前
記複数の検出素子についての主検出データをそれ
ぞれ入力し、前記補間手段により求められた散乱
線分布データを主検出データから除外する演算と
行なうデータ処理部とを具備することを特徴とす
るＸ線CT装置。 ２ 前記主検出器は被写体の周囲に360゜にわたつ
て固定配置され、かつ前記散乱線検出器は前記Ｘ
線源との相対的な位置関係を保持したまま被写体
の周囲を回転するものであることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載のＸ線CT装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58216005A JPS60108039A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58216005A JPS60108039A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60108039A JPS60108039A (ja) | 1985-06-13 |
| JPH0560930B2 true JPH0560930B2 (ja) | 1993-09-03 |
Family
ID=16681813
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58216005A Granted JPS60108039A (ja) | 1983-11-18 | 1983-11-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60108039A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0763464B2 (ja) * | 1986-05-07 | 1995-07-12 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPS6351842A (ja) * | 1986-08-21 | 1988-03-04 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP5197025B2 (ja) * | 2008-01-09 | 2013-05-15 | 株式会社東芝 | 放射線治療システム、放射線治療支援装置及び放射線治療支援プログラム |
| JP5197024B2 (ja) * | 2008-01-09 | 2013-05-15 | 株式会社東芝 | 放射線治療システム、放射線治療支援装置及び放射線治療支援プログラム |
| JP5197026B2 (ja) * | 2008-01-09 | 2013-05-15 | 株式会社東芝 | 放射線治療システム、放射線治療支援装置及び放射線治療支援プログラム |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54152491A (en) * | 1978-05-13 | 1979-11-30 | Philips Nv | Device for determining space absorption distribution |
| JPS56151026A (en) * | 1980-04-01 | 1981-11-21 | Philips Nv | Apparatus for determining absorption distribution of radioactive ray |
| JPS59196447A (ja) * | 1983-04-22 | 1984-11-07 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 放射線検出器 |
-
1983
- 1983-11-18 JP JP58216005A patent/JPS60108039A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54152491A (en) * | 1978-05-13 | 1979-11-30 | Philips Nv | Device for determining space absorption distribution |
| JPS56151026A (en) * | 1980-04-01 | 1981-11-21 | Philips Nv | Apparatus for determining absorption distribution of radioactive ray |
| JPS59196447A (ja) * | 1983-04-22 | 1984-11-07 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | 放射線検出器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60108039A (ja) | 1985-06-13 |
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