JPS61196945A - Ｘ線断層撮影装置 - Google Patents
Ｘ線断層撮影装置Info
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 28
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- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、Ｘ線断ｍ撮影装置に関し、更に詳しくは、Ｘ
線の強度の変動の補正に関する。
線の強度の変動の補正に関する。
（従来の技術）
第１図は、Ｘ線断層撮影装置の要部構成図である。図に
おいて、１はＸ線管、２はＸ線管１から照射されるｘｉ
ｓを検出する多数のＸＩ検出器（本例では５０２個）よ
りなるＸ線検出器列であり、これらｘｍ管１及びｘ１１
１１１１検出器被検体Ｔを中心にして回転可能に配置さ
れている。Ｘ線管１から照射されるｘｍの一部は被検体
Ｔで吸収減衰されてＸ線検出器列２を構成するＸ線検出
器２２〜２５ｏ１で検出され、電流信号に変換される。
おいて、１はＸ線管、２はＸ線管１から照射されるｘｉ
ｓを検出する多数のＸＩ検出器（本例では５０２個）よ
りなるＸ線検出器列であり、これらｘｍ管１及びｘ１１
１１１１検出器被検体Ｔを中心にして回転可能に配置さ
れている。Ｘ線管１から照射されるｘｍの一部は被検体
Ｔで吸収減衰されてＸ線検出器列２を構成するＸ線検出
器２２〜２５ｏ１で検出され、電流信号に変換される。
一方、被検体Ｔを透過しないＸ線はＸ１１１検出器列２
の両端に設けられたリファレンスＸ線検出器（２１）及
びＢ （２ｓ ｏ ｚ ＞で検出され、電流信号に変換
される。これら各×１１！検出器２１〜２５ｏ２の出力
端子はコンデンサ３１〜３５ｏ２を介して共通電位点に
接続されると共に第１のスイッチ４１〜４５ｏ２を介し
て増幅器５に共通に接続されている。該増幅器５の入力
端子は第２のスイッチ６を介して共通電位点に接続され
、出力端子はＡ／Ｄ変換器７に接続されている。該Ａ１
０変換器７の出力端子は計算機８に接続されている。
の両端に設けられたリファレンスＸ線検出器（２１）及
びＢ （２ｓ ｏ ｚ ＞で検出され、電流信号に変換
される。これら各×１１！検出器２１〜２５ｏ２の出力
端子はコンデンサ３１〜３５ｏ２を介して共通電位点に
接続されると共に第１のスイッチ４１〜４５ｏ２を介し
て増幅器５に共通に接続されている。該増幅器５の入力
端子は第２のスイッチ６を介して共通電位点に接続され
、出力端子はＡ／Ｄ変換器７に接続されている。該Ａ１
０変換器７の出力端子は計算機８に接続されている。
９は第１のスイッチ４１〜４５ｏ２及び第２のスイッチ
６を開閉制御するための制御信号を送出する制御回路で
あり、該制御回路９には外部クロック信号＋！１１０の
出力端子が接続されている。即ち、第１のスイッチ４１
〜４ Ｓ Ｏ２＊第２のスイッチ６及び制御口ｖｊ！１
９は、各コンデンサ３１〜３ｓ。
６を開閉制御するための制御信号を送出する制御回路で
あり、該制御回路９には外部クロック信号＋！１１０の
出力端子が接続されている。即ち、第１のスイッチ４１
〜４ Ｓ Ｏ２＊第２のスイッチ６及び制御口ｖｊ！１
９は、各コンデンサ３１〜３ｓ。
２に充電される電圧を選択的に増幅器５及びＡ／Ｄ！換
＠７で構成される測定回路に入力する入力選択回路を構
成している。
＠７で構成される測定回路に入力する入力選択回路を構
成している。
このような構成において、各コンデンサ３１〜３５ｏ２
はｘｓｍ検出器２１〜２ｓ０２の検出電流で充電され、
該各コンデンサ３１〜３５ｏｚに充電された電圧は第１
のスイッチ４１〜４５０２及び増幅器５を介してＡ／Ｄ
変換１７に加えられてデジタル信号に変換される。そし
て、Ａ／Ｄ変換器７で変換されたデジタル信号は計算機
８に加えられて所定の演算処理が行われる。又、第１の
スイッチ４ｔ〜４５ｏ２を閉成した状態で第２のスイッ
チ６を閉成することにより、各コンデンサ３１〜３５ｏ
２のリセット（放電）が行われる。
はｘｓｍ検出器２１〜２ｓ０２の検出電流で充電され、
該各コンデンサ３１〜３５ｏｚに充電された電圧は第１
のスイッチ４１〜４５０２及び増幅器５を介してＡ／Ｄ
変換１７に加えられてデジタル信号に変換される。そし
て、Ａ／Ｄ変換器７で変換されたデジタル信号は計算機
８に加えられて所定の演算処理が行われる。又、第１の
スイッチ４ｔ〜４５ｏ２を閉成した状態で第２のスイッ
チ６を閉成することにより、各コンデンサ３１〜３５ｏ
２のリセット（放電）が行われる。
第４図は第１図の装置における従来の駆動例を示すタイ
ムチャートであり、Ｘ４１がパルス状に照射される例を
示している。第４図において、（ａ）は検出電流Ｉを示
し、（ｂ）〜（ｄ ）はそれぞれ第１のスイッチ４１〜
４５ｏ２の動作を示し、（ｅ）は第２のスイッチ６の動
作を示している。
ムチャートであり、Ｘ４１がパルス状に照射される例を
示している。第４図において、（ａ）は検出電流Ｉを示
し、（ｂ）〜（ｄ ）はそれぞれ第１のスイッチ４１〜
４５ｏ２の動作を示し、（ｅ）は第２のスイッチ６の動
作を示している。
第１のスイッチ４１〜４５ｏ２は、検出電流■が無い時
刻１．において同時に閉成され、検出電流Ｉが無い時刻
ｔ２において同時にＷＩｌｌｌされる。
刻１．において同時に閉成され、検出電流Ｉが無い時刻
ｔ２において同時にＷＩｌｌｌされる。
検出電流ｌは第１のスイッチ４１〜４５ｏ２が開離され
た後の時刻ｔ３において立ち上がり、一定時間経過後の
時刻ｔ４において立ち下がる。一方、第２のスイッチ６
は、検出筒ＩＩが立ち下がった後の時刻ｔ５において開
離される。これにより、各コンデンサ３１〜３５０２の
リセットは第１のスイッチ４１〜４５０２及び第２のス
イッチ６が閉成される時刻【１において同時に開始され
、第１のスイッチ４１〜４５０２が開離される時刻ｔ２
までに完了する。その後、第２のスイッチ６が開離され
る時刻ｔｓまでに各コンデンサ３１〜３５０２は検出電
流【により充電される。このようにして各コンデンサ３
１〜３５ｏ２の充電が完了すると、第１のスイッチ４１
〜４５０２が例えば第５図に示すような所定の順序に従
って順次一定の時間閉成されて、各コンデンサ３１〜３
５ｏｚに充電された電圧の走査測定が行われる。即ち、
時刻ｔ５において第２のスイッチ６が開離されると同時
に例えば第１のスイッチ４２４Ｓが閉成されてコンデン
サ３２４ｓに充電された電圧の測定が行われ、時刻１ｓ
において第１のスイッチ４２４ｓが開離されると同時に
第２のスイッチ４２５０が閉成されてコンデンサ３２５
ｏに充電された電圧の測定が行われる。このような電圧
測定動作がコンデンサ３５ｏ２まで順次行われる。
た後の時刻ｔ３において立ち上がり、一定時間経過後の
時刻ｔ４において立ち下がる。一方、第２のスイッチ６
は、検出筒ＩＩが立ち下がった後の時刻ｔ５において開
離される。これにより、各コンデンサ３１〜３５０２の
リセットは第１のスイッチ４１〜４５０２及び第２のス
イッチ６が閉成される時刻【１において同時に開始され
、第１のスイッチ４１〜４５０２が開離される時刻ｔ２
までに完了する。その後、第２のスイッチ６が開離され
る時刻ｔｓまでに各コンデンサ３１〜３５０２は検出電
流【により充電される。このようにして各コンデンサ３
１〜３５ｏ２の充電が完了すると、第１のスイッチ４１
〜４５０２が例えば第５図に示すような所定の順序に従
って順次一定の時間閉成されて、各コンデンサ３１〜３
５ｏｚに充電された電圧の走査測定が行われる。即ち、
時刻ｔ５において第２のスイッチ６が開離されると同時
に例えば第１のスイッチ４２４Ｓが閉成されてコンデン
サ３２４ｓに充電された電圧の測定が行われ、時刻１ｓ
において第１のスイッチ４２４ｓが開離されると同時に
第２のスイッチ４２５０が閉成されてコンデンサ３２５
ｏに充電された電圧の測定が行われる。このような電圧
測定動作がコンデンサ３５ｏ２まで順次行われる。
尚、第５図では、回転中心近傍に位置するＸ線検出器２
２４ｅから２２５０→２２４８″２２５１→・・・→Ａ
（２１）→Ｂ （２ｓ Ｏ２）の順に左右に広がる方向
に走査測定する例を示しているが、これは隣接するＸ線
検出器の測定を可能な限り接近した時刻で行うようにし
たことによる。
２４ｅから２２５０→２２４８″２２５１→・・・→Ａ
（２１）→Ｂ （２ｓ Ｏ２）の順に左右に広がる方向
に走査測定する例を示しているが、これは隣接するＸ線
検出器の測定を可能な限り接近した時刻で行うようにし
たことによる。
（発明が解決しようとする問題点）
しかし、このような従来の駆動によれば、各コンデンサ
３．１〜３５ｏ２のリセット完了から電圧測定開始まで
の時間がそれぞれ異なることになる。
３．１〜３５ｏ２のリセット完了から電圧測定開始まで
の時間がそれぞれ異なることになる。
このような時間の違いは、各コンデンサ３１〜３５０２
の充電時間の違いとなり、各コンデンサ３１〜３５ｃ２
に現われる測定電圧の違いとなる。
の充電時間の違いとなり、各コンデンサ３１〜３５ｃ２
に現われる測定電圧の違いとなる。
この結果、例えば商用電源を全波整流することにより得
られる脈流波の高電圧で連続的にＸＷＡを発生させるよ
うに構成されたＸＩＩ断層撤影装置の場合には、商用電
源に存在する波形歪等によってそのＸ線は２周期毎に変
動する脈流波となり、検出電流を正確に測定できないこ
とになる。又、測定に寄与する検出電流の利用効率が低
下してしまうという欠点もある。更に、第５図のような
走査順序によれば、回転中心近傍のＸ線検出器の検出ｍ
＊測測定リファレンスＸ線検出器の検出電流測定との間
には相当の時間差があることから、Ｘ線の強度の変動を
精度良く補正することはできず、イメージの中心近傍に
ノイズを生じることになる。
られる脈流波の高電圧で連続的にＸＷＡを発生させるよ
うに構成されたＸＩＩ断層撤影装置の場合には、商用電
源に存在する波形歪等によってそのＸ線は２周期毎に変
動する脈流波となり、検出電流を正確に測定できないこ
とになる。又、測定に寄与する検出電流の利用効率が低
下してしまうという欠点もある。更に、第５図のような
走査順序によれば、回転中心近傍のＸ線検出器の検出ｍ
＊測測定リファレンスＸ線検出器の検出電流測定との間
には相当の時間差があることから、Ｘ線の強度の変動を
精度良く補正することはできず、イメージの中心近傍に
ノイズを生じることになる。
本発明はこのような点に鑑みてなされたもので、その目
的は、連続的で且つ変動する検出電流を利用効率を低下
させることなく正確に測定すると共に、回転中心近傍の
Ｘ線検出器の検出電流に含まれるＸ線の強度の変動を精
度良く補正して高品位のイメージを得ることにある。
的は、連続的で且つ変動する検出電流を利用効率を低下
させることなく正確に測定すると共に、回転中心近傍の
Ｘ線検出器の検出電流に含まれるＸ線の強度の変動を精
度良く補正して高品位のイメージを得ることにある。
（問題点を解決するための手段）
前記した問題点を解決する本発明は、被検体を中心にし
て回転可能に対向配置されたＸ線管及びｘ４１１検出器
列と、該ｘ＊’検出器列の各Ｘ線検出器の検出電流によ
りそれぞれ充電される多数のコンデンサと、該各コンデ
ンサに充電される電圧を選択的に測定回路に入力する入
力選択回路とを具備し、被検体を透過しないＸＳＳを検
出するリファレンスＸＳ検出器の検出電流に従ってＸｓ
管から照射されるＸ線の強度の変動を補正するように構
成されたＸｔｓ断層撤影装置において、回転中心近傍の
Ｘ線検出器の検出電流の測定とリファレンスＸ線検出器
の検出電流の測定とが極めて接近した時刻に行われるよ
うに前記入力選択回路が駆動されることを特徴とするも
のである。
て回転可能に対向配置されたＸ線管及びｘ４１１検出器
列と、該ｘ＊’検出器列の各Ｘ線検出器の検出電流によ
りそれぞれ充電される多数のコンデンサと、該各コンデ
ンサに充電される電圧を選択的に測定回路に入力する入
力選択回路とを具備し、被検体を透過しないＸＳＳを検
出するリファレンスＸＳ検出器の検出電流に従ってＸｓ
管から照射されるＸ線の強度の変動を補正するように構
成されたＸｔｓ断層撤影装置において、回転中心近傍の
Ｘ線検出器の検出電流の測定とリファレンスＸ線検出器
の検出電流の測定とが極めて接近した時刻に行われるよ
うに前記入力選択回路が駆動されることを特徴とするも
のである。
（実施例）
゛ 以下、図面を用いて、本発明の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第２図は第１図の装置を本発明に基づいて駆動する場合
の一例を示すタイムチャートであり、第３図は走査説明
図である。第２図において、（ａ ）は外部クロック信
号ＣＬを示し、（ｂ）〜（ｄ）はそれぞれ１１のスイッ
チ４１〜４５Ｇ２の動作を示し、（ｅ）は第２のスイッ
チ６の動作を示している。
の一例を示すタイムチャートであり、第３図は走査説明
図である。第２図において、（ａ ）は外部クロック信
号ＣＬを示し、（ｂ）〜（ｄ）はそれぞれ１１のスイッ
チ４１〜４５Ｇ２の動作を示し、（ｅ）は第２のスイッ
チ６の動作を示している。
先ず、時刻ｔ１において外部クロック信号ＣＬにより起
動がかけられると、第１のスイッチ４１２８が閉成され
てコンデンサ３１２６に充電された電圧の測定が行われ
る。そして、電圧測定終了後の第１のスイッチ４１２＠
が閉成されている時刻ｔ２において第２のスイッチ６も
閉成され、コンデンサ３１２６のリセット（放電）が行
われる。
動がかけられると、第１のスイッチ４１２８が閉成され
てコンデンサ３１２６に充電された電圧の測定が行われ
る。そして、電圧測定終了後の第１のスイッチ４１２＠
が閉成されている時刻ｔ２において第２のスイッチ６も
閉成され、コンデンサ３１２６のリセット（放電）が行
われる。
時刻ｔ３において第１のスイッチ４１２８及び第２のス
イッチ６が開離されてコンデンサ３１２６のリセットが
完了すると同時に第１のスイッチ４３７５が閉成されて
コンデンサ３３７５に充電された電圧の測定が行われる
。そして、電圧測定終了後の第１のスイッチ４３７５が
閉成されている時刻ｔ４において第２のスイッチ６も閉
成され、コンデンサ３３７５のリセット（放電）が行わ
れる。以下、同様のシーケンスで５０２１１の第１のス
イッチが第３図に示すような所定の順序で順次選択され
ると共に一定の時間関係で第２のスイッチも開閉駆動さ
れ、５０２個のコンデンサに充電された電圧が順次測定
された後に順次リセットされる。このような一連の動作
を周期Ｔｏで繰り返すと、各コンデンサ３１〜３５０２
の充電時間は一律にＴｏ−Ｔｒｓとなる。ここで、Ｔｒ
ｓはリセットのために第２のスイッチ６が閉成されてい
る時間であって、不感時間となるものであり、測定精度
とコンデンサの放電時間とに基づいて適宜設定されるも
のである。尚、この場合における入力電流の利用効率は
（Ｔｏ ＴｒＳ）／Ｔｏとなる。
イッチ６が開離されてコンデンサ３１２６のリセットが
完了すると同時に第１のスイッチ４３７５が閉成されて
コンデンサ３３７５に充電された電圧の測定が行われる
。そして、電圧測定終了後の第１のスイッチ４３７５が
閉成されている時刻ｔ４において第２のスイッチ６も閉
成され、コンデンサ３３７５のリセット（放電）が行わ
れる。以下、同様のシーケンスで５０２１１の第１のス
イッチが第３図に示すような所定の順序で順次選択され
ると共に一定の時間関係で第２のスイッチも開閉駆動さ
れ、５０２個のコンデンサに充電された電圧が順次測定
された後に順次リセットされる。このような一連の動作
を周期Ｔｏで繰り返すと、各コンデンサ３１〜３５０２
の充電時間は一律にＴｏ−Ｔｒｓとなる。ここで、Ｔｒ
ｓはリセットのために第２のスイッチ６が閉成されてい
る時間であって、不感時間となるものであり、測定精度
とコンデンサの放電時間とに基づいて適宜設定されるも
のである。尚、この場合における入力電流の利用効率は
（Ｔｏ ＴｒＳ）／Ｔｏとなる。
このように駆動することにより、各コンデンサの充電時
間が等しく、且つ連続に行えるため、連続的で且つ変動
する検出電流に対しても正確な測定が行える。又、入力
電流の利用効率が高くなるので、患者の被ｌ１ｉｌ線量
を低く抑えることができる。
間が等しく、且つ連続に行えるため、連続的で且つ変動
する検出電流に対しても正確な測定が行える。又、入力
電流の利用効率が高くなるので、患者の被ｌ１ｉｌ線量
を低く抑えることができる。
そして、更に、入力選択回路を２１〜２１２５１２１２
ａ〜２２５０．２２５１〜２ｓ７５及び２３７６〜２５
０２の４ブロツクに分割して第３図に示すように略Ｗ字
形に走査測定しているので、回転中心近傍のＸ線検出器
２２５０１２２５１の検出電流の測定に続いてリファレ
ンスＸＳ検出器Ａ（２１）、Ｂ（２５０２）の検出電流
の測定が行われることになり、回転中心近傍のＸｖｓ検
出器２２５０１２２５１の検出電流に含まれているＸ線
の強度の変動を精度良く補正することができ、高品位の
イメージを得ることができる。又、このようにＷ字形に
走査測定することにより、隣接するＸ線検出器を略等し
い時刻に測定することもできる。
ａ〜２２５０．２２５１〜２ｓ７５及び２３７６〜２５
０２の４ブロツクに分割して第３図に示すように略Ｗ字
形に走査測定しているので、回転中心近傍のＸ線検出器
２２５０１２２５１の検出電流の測定に続いてリファレ
ンスＸＳ検出器Ａ（２１）、Ｂ（２５０２）の検出電流
の測定が行われることになり、回転中心近傍のＸｖｓ検
出器２２５０１２２５１の検出電流に含まれているＸ線
の強度の変動を精度良く補正することができ、高品位の
イメージを得ることができる。又、このようにＷ字形に
走査測定することにより、隣接するＸ線検出器を略等し
い時刻に測定することもできる。
尚、本発明に基づく駆動は、外部クロック信号ＯＬの周
期Ｔｏが各コンデンサ３１〜３ｎの測定時間とリセット
時間の総和よりも長い場合において成立するものであっ
て、外部クロック信号ＣＬの周期は各コンデンサ３１〜
３ｎの測定時間とリセット時間の総和により制限される
ことになる。
期Ｔｏが各コンデンサ３１〜３ｎの測定時間とリセット
時間の総和よりも長い場合において成立するものであっ
て、外部クロック信号ＣＬの周期は各コンデンサ３１〜
３ｎの測定時間とリセット時間の総和により制限される
ことになる。
そこで、外部クロック信号ＣＬの高速化を図りたい場合
には、ｎ個のコンデンサ３１〜３ｎをＭ群のグループに
分割し、各グループ毎に増幅器及びＡ／Ｄ変換器を含む
測定回路を設ければよい。このようにＭＩｔ成すること
により、高速測定が行える。
には、ｎ個のコンデンサ３１〜３ｎをＭ群のグループに
分割し、各グループ毎に増幅器及びＡ／Ｄ変換器を含む
測定回路を設ければよい。このようにＭＩｔ成すること
により、高速測定が行える。
又、上記実施例では、２個のリファレンスＸ線検出器Ａ
、Ｂを設ける例を示したが、より多くのリファレンスＸ
線検出器を設けておいて１回の測定期間中にこれらリフ
ァレンスＸＳ検出器を複数回測定し、各リファレンスＸ
線検出器の測定条件に近いＸ線検出器の検出信号をそれ
ぞれのリファレンスＸＳ検出器の検出信号で補正するよ
うにしてもよい。これにより、更に高品位のイメージを
得ることができる。
、Ｂを設ける例を示したが、より多くのリファレンスＸ
線検出器を設けておいて１回の測定期間中にこれらリフ
ァレンスＸＳ検出器を複数回測定し、各リファレンスＸ
線検出器の測定条件に近いＸ線検出器の検出信号をそれ
ぞれのリファレンスＸＳ検出器の検出信号で補正するよ
うにしてもよい。これにより、更に高品位のイメージを
得ることができる。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、連続的で且つ変
動する入力電流を高い利用効率で正確に測定することが
できると共に、回転中心近傍のＸ線検出器の検出電流に
含まれているｘｍの強度の変動を精度良く補正すること
ができ、高品位のイメージを得ることができる。
動する入力電流を高い利用効率で正確に測定することが
できると共に、回転中心近傍のＸ線検出器の検出電流に
含まれているｘｍの強度の変動を精度良く補正すること
ができ、高品位のイメージを得ることができる。
第１図は本発明を適用する装置の一例を示す要部構成図
、第２図は本発明による駆動例を示すタイムチャート、
第３図は第２図における走査順説明図、第４図は従来の
駆動例を示すタイムチｐ −ト、第５図は第４図におけ
る走査順説明図である１・・・ＸＷＡ管 ２
・・・Ｘ１ｓ検出器列３・・・コンデンサ ４・
・・第１のスイッチ５・・・増幅器 ６・・
・第２のスイッチ７・・・Ａ／Ｄ変換器 ８・・・
計算機９・・・制御回路 １０・・・外部クロック信号源
、第２図は本発明による駆動例を示すタイムチャート、
第３図は第２図における走査順説明図、第４図は従来の
駆動例を示すタイムチｐ −ト、第５図は第４図におけ
る走査順説明図である１・・・ＸＷＡ管 ２
・・・Ｘ１ｓ検出器列３・・・コンデンサ ４・
・・第１のスイッチ５・・・増幅器 ６・・
・第２のスイッチ７・・・Ａ／Ｄ変換器 ８・・・
計算機９・・・制御回路 １０・・・外部クロック信号源
Claims (1)
- 被検体を中心にして回転可能に対向配置されたＸ線管及
びＸ線検出器列と、該Ｘ線検出器列の各Ｘ線検出器の検
出電流によりそれぞれ充電される多数のコンデンサと、
該各コンデンサに充電される電圧を選択的に測定回路に
入力する入力選択回路とを具備し、被検体を透過しない
Ｘ線を検出するリフアレンスＸ線検出器の検出電流に従
つてＸ線管から照射されるＸ線の強度の変動を補正する
ように構成されたＸ線断層撮影装置において、回転中心
近傍のＸ線検出器の検出電流の測定とリフアレンスＸ線
検出器の検出電流の測定とが極めて接近した時刻に行わ
れるように前記入力選択回路が駆動されることを特徴と
するＸ線断層撮影装置
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60038249A JPS61196945A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | Ｘ線断層撮影装置 |
| US06/928,286 US4769827A (en) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | CAT scanner |
| PCT/JP1986/000094 WO1986005084A1 (en) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | Apparatus for x-ray tomography |
| DE8686901510T DE3687193T2 (de) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | Vorrichtung fuer roentgenstrahlentomographie. |
| DE198686901510T DE213213T1 (de) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | Vorrichtung fuer roentgenstrahlentomographie. |
| KR1019860700741A KR890001874B1 (ko) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | X선 단층 촬영 장치 |
| EP86901510A EP0213213B1 (en) | 1985-02-27 | 1986-02-26 | Apparatus for x-ray tomography |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60038249A JPS61196945A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | Ｘ線断層撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61196945A true JPS61196945A (ja) | 1986-09-01 |
| JPH0436698B2 JPH0436698B2 (ja) | 1992-06-17 |
Family
ID=12520031
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60038249A Granted JPS61196945A (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 | Ｘ線断層撮影装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4769827A (ja) |
| EP (1) | EP0213213B1 (ja) |
| JP (1) | JPS61196945A (ja) |
| KR (1) | KR890001874B1 (ja) |
| DE (2) | DE3687193T2 (ja) |
| WO (1) | WO1986005084A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0299845A (ja) * | 1988-10-06 | 1990-04-11 | Yokogawa Medical Syst Ltd | Ｘ線ｃｔのデータ収集装置 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01119233A (ja) * | 1987-10-30 | 1989-05-11 | Yokogawa Medical Syst Ltd | Ｘ線断層撮影装置 |
| FR2626432B1 (fr) * | 1988-01-25 | 1995-10-13 | Commissariat Energie Atomique | Appareil de tomographie a rayons x |
| DE3878247D1 (en) * | 1988-11-09 | 1993-03-18 | Siemens Ag | Computer-tomograph. |
| EP0498213B1 (en) * | 1991-02-07 | 1997-08-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray computerized tomographic image data acquisition circuitry capable of performing high speed data acquisition |
| US5550886A (en) * | 1994-11-22 | 1996-08-27 | Analogic Corporation | X-Ray focal spot movement compensation system |
| BR9509814A (pt) * | 1994-11-22 | 1997-10-21 | Analogic Corp | Normalização de dados de imagem tomográfica |
| US6094469A (en) * | 1998-10-21 | 2000-07-25 | Analogic Corporation | Computed tomography system with stable beam position |
| US6471400B1 (en) | 2000-10-26 | 2002-10-29 | Analogic Corporation | Adaptive CT monitor correction system and method |
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| GB2411093B (en) * | 2004-02-13 | 2007-10-24 | Teraview Ltd | Terahertz imaging system |
| US7113120B1 (en) * | 2004-07-19 | 2006-09-26 | Analogic Corporation | Charge transfer system and method |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59125547A (ja) * | 1983-01-05 | 1984-07-19 | 横河電機株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4041315A (en) * | 1972-05-17 | 1977-08-09 | E M I Limited | Computerized tomography comprising laterally shifting detected beams within a rotated fan of radiation |
| DE2627433A1 (de) * | 1976-06-18 | 1977-12-29 | Siemens Ag | Roentgenschichtgeraet zur herstellung von transversalschichtbildern |
| JPS5438789A (en) * | 1977-09-02 | 1979-03-23 | Hitachi Medical Corp | Tomography |
| DE2831038C2 (de) * | 1978-07-14 | 1982-07-01 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Strahlendiagnostikgerät für die Erzeugung von Schichtbildern |
| US4484340A (en) * | 1981-12-09 | 1984-11-20 | Yokogawa Hokushin Electric Corporation | Multichannel current measuring apparatus for X-ray computerized tomograph |
-
1985
- 1985-02-27 JP JP60038249A patent/JPS61196945A/ja active Granted
-
1986
- 1986-02-26 DE DE8686901510T patent/DE3687193T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1986-02-26 WO PCT/JP1986/000094 patent/WO1986005084A1/ja active IP Right Grant
- 1986-02-26 DE DE198686901510T patent/DE213213T1/de active Pending
- 1986-02-26 EP EP86901510A patent/EP0213213B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-02-26 US US06/928,286 patent/US4769827A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-02-26 KR KR1019860700741A patent/KR890001874B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59125547A (ja) * | 1983-01-05 | 1984-07-19 | 横河電機株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0299845A (ja) * | 1988-10-06 | 1990-04-11 | Yokogawa Medical Syst Ltd | Ｘ線ｃｔのデータ収集装置 |
| JPH0479258B2 (ja) * | 1988-10-06 | 1992-12-15 | Yokokawa Medeikaru Shisutemu Kk |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1986005084A1 (en) | 1986-09-12 |
| EP0213213A4 (en) | 1988-05-03 |
| EP0213213B1 (en) | 1992-12-02 |
| KR890001874B1 (ko) | 1989-05-29 |
| KR880700296A (ko) | 1988-02-22 |
| US4769827A (en) | 1988-09-06 |
| DE213213T1 (de) | 1987-09-03 |
| JPH0436698B2 (ja) | 1992-06-17 |
| DE3687193T2 (de) | 1993-04-01 |
| EP0213213A1 (en) | 1987-03-11 |
| DE3687193D1 (de) | 1993-01-14 |
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