JPS59125547A - Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置Info
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- JPS59125547A JPS59125547A JP58000380A JP38083A JPS59125547A JP S59125547 A JPS59125547 A JP S59125547A JP 58000380 A JP58000380 A JP 58000380A JP 38083 A JP38083 A JP 38083A JP S59125547 A JPS59125547 A JP S59125547A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000010606 normalization Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
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- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はＸ線ＣＴ装置に使用する電流計測装置に関する
ものである。
ものである。
Ｘ線ｃ Ｔ装置（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐ
ｈｙ ）においては、患者へパルス状のＸ線を照射し、
その透過Ｘ線を多数のＸ線検出素子である電離箱を配列
したＸ線検出器で検知し、その信号に基づき患者を輪切
りにしたような断層画像を得るように構成している。
ｈｙ ）においては、患者へパルス状のＸ線を照射し、
その透過Ｘ線を多数のＸ線検出素子である電離箱を配列
したＸ線検出器で検知し、その信号に基づき患者を輪切
りにしたような断層画像を得るように構成している。
この場合、患者の各部（例えば頭部）へＸ線を照射し、
この透過量を測定することでＸ！１！を照射した部分の
断層画像を得ることができるのは、人体の各組織によシ
Ｘ線の透過量が異なっているからである。
この透過量を測定することでＸ！１！を照射した部分の
断層画像を得ることができるのは、人体の各組織によシ
Ｘ線の透過量が異なっているからである。
一方、Ｘ線ＣＴ装置においては、パルス状のＸ線を１発
想部へ照射しては、この透過Ｘ線を測定し、その次にＸ
線の照射角度を変えて、また前と同じ患部へパルス状の
Ｘ線を１発照射して、この透過Ｘ線を測定する動作を繰
り返している。
想部へ照射しては、この透過Ｘ線を測定し、その次にＸ
線の照射角度を変えて、また前と同じ患部へパルス状の
Ｘ線を１発照射して、この透過Ｘ線を測定する動作を繰
り返している。
そこで、Ｘ線発生器から照射されるＸＭパルスが常に一
定のレベルであるならよいが、各種の要因（例えばＸ線
ＣＴ装置の電源投入直後のＸ線パルスと電源投入から長
時間経た後のＸ線パルスのレベルは通常具なって来る。
定のレベルであるならよいが、各種の要因（例えばＸ線
ＣＴ装置の電源投入直後のＸ線パルスと電源投入から長
時間経た後のＸ線パルスのレベルは通常具なって来る。
またＸ線発生器に印加する電圧が電源変動により変化す
るとそれにつれてＸ線パルスのレベルも変化する。）に
よって変化するので、患者を通過したＸ線透過量を１発
ごとの照射Ｘ線量で規格化する必要がある。
るとそれにつれてＸ線パルスのレベルも変化する。）に
よって変化するので、患者を通過したＸ線透過量を１発
ごとの照射Ｘ線量で規格化する必要がある。
以上の動作を図を用いて説明する。図はＸ線ＣＴ装置の
要部とこれに使用する電流計測装置の構成例を示すもの
であり、これらの外見上の構成は、従来から知られたも
のであり、また本発明においても図の構成を使用してい
る。
要部とこれに使用する電流計測装置の構成例を示すもの
であり、これらの外見上の構成は、従来から知られたも
のであり、また本発明においても図の構成を使用してい
る。
まず、従来手段による電流計測装置の動作とその欠点を
説明する。
説明する。
図において、１けＸ線発生器でありパルス状のＸ＠を図
のように扇形方向へ１度に照射する。Ｌ□。
のように扇形方向へ１度に照射する。Ｌ□。
Ｌ２．Ｌ３けＸ線のビームである。５け検査対象の患者
である。５けＸ＃検出器であり患者３を挾んでＸ線発生
器と対向して設けられている。このＸ線検出器５け多数
のＸ線検出素子Ａ１〜Ａｎを図のように配列して構成さ
れたものである。このＸ線検出素子Ａ１〜Ａｎとしては
各種の検出原理のものを使用できるが例えば電離箱（特
開昭５１．−１２６０８５号に記載されている）のよう
なものを用いることができる。そしてこのＸ線検出器５
は各検出素子Ａ１〜Ａｎごとに入射したＸ重量のエネル
ギーレベルに比例した電流１１〜ｉｎを出力する。Ｂ１
〜Ｂｎは電流・電圧変換器であり、例えばコンデンサの
ようなものである。この各コンデンサ３１〜Ｂｎと各ｘ
ｌｓ検出素子Ａ□〜Ａｎは入力チャンネル回路を形成し
ている。Ｃ□とＣ２けマルチプレクサであシ、コンデン
サＢ１〜Ｂｎの電圧を選択的に取り出して次段へ伝える
ものである。６と７はＡ−Ｄ変換器でありアナログ信号
をデジタル信号へ変換するものである。９けメモリであ
りＡ−Ｄ変換器６７から出力されたＸ線量に比例した信
号を格納しておくものである。１０け演算器であり、上
述したような規格化するための演算機能を有するもので
ある。
である。５けＸ＃検出器であり患者３を挾んでＸ線発生
器と対向して設けられている。このＸ線検出器５け多数
のＸ線検出素子Ａ１〜Ａｎを図のように配列して構成さ
れたものである。このＸ線検出素子Ａ１〜Ａｎとしては
各種の検出原理のものを使用できるが例えば電離箱（特
開昭５１．−１２６０８５号に記載されている）のよう
なものを用いることができる。そしてこのＸ線検出器５
は各検出素子Ａ１〜Ａｎごとに入射したＸ重量のエネル
ギーレベルに比例した電流１１〜ｉｎを出力する。Ｂ１
〜Ｂｎは電流・電圧変換器であり、例えばコンデンサの
ようなものである。この各コンデンサ３１〜Ｂｎと各ｘ
ｌｓ検出素子Ａ□〜Ａｎは入力チャンネル回路を形成し
ている。Ｃ□とＣ２けマルチプレクサであシ、コンデン
サＢ１〜Ｂｎの電圧を選択的に取り出して次段へ伝える
ものである。６と７はＡ−Ｄ変換器でありアナログ信号
をデジタル信号へ変換するものである。９けメモリであ
りＡ−Ｄ変換器６７から出力されたＸ線量に比例した信
号を格納しておくものである。１０け演算器であり、上
述したような規格化するための演算機能を有するもので
ある。
なお、図においては入力チャンネル回路を２つのブロッ
クに分け、その分けたブロックごとに（５） Ａ″Ｄ変換器６，７を接続している。
クに分け、その分けたブロックごとに（５） Ａ″Ｄ変換器６，７を接続している。
ここでＸ＠発生器１から照射される元のＸ線パルスの強
さく患者を通過しないで直接Ｘ線検出器へ到達するＸ線
の強さ）を測定する入力チャンネルを基準チャンネルと
呼ぶことにする。この基準チャンネルのＸ線検出素子は
図においてへとＡｎであるとする。
さく患者を通過しないで直接Ｘ線検出器へ到達するＸ線
の強さ）を測定する入力チャンネルを基準チャンネルと
呼ぶことにする。この基準チャンネルのＸ線検出素子は
図においてへとＡｎであるとする。
以上のような構成の図の装置において、従来手段では次
に示す演算により規格化を行なっていた。
に示す演算により規格化を行なっていた。
Ａ−Ｄ変換器６の測定値に対してけ（２）式の規格化を
行なう。
行なう。
Ａ−Ｄ変換器７の測定値に対しては（３）式の規格化を
行なう。
行なう。
ただし
く ４ ）
Ｒ二元のＸ線強度
Ｄ：患者（被検体）の透過Ｘ線量
Ｒ６： ＲをＡ−Ｄ変換器６で測定した値Ｒ７’ Ｒを
Ａ−Ｄ変換器７で測定した値Ｄ ：ＤをＡ−Ｄ変換器６
で測定した値Ｄ７：ＤをＡ−Ｄ変換器７で測定した値α
： Ａ−Ｄ変換器６のゲイン α７ ’ Ａ’ Ｄ変換器７のゲイン 上記のような場合、（２）式及び（３）式−に示す如く
、２つのＡ−Ｄ変換器６，７のゲインに差異や変動があ
れば測定結果に誤差を生じさせることになる。
Ａ−Ｄ変換器７で測定した値Ｄ ：ＤをＡ−Ｄ変換器６
で測定した値Ｄ７：ＤをＡ−Ｄ変換器７で測定した値α
： Ａ−Ｄ変換器６のゲイン α７ ’ Ａ’ Ｄ変換器７のゲイン 上記のような場合、（２）式及び（３）式−に示す如く
、２つのＡ−Ｄ変換器６，７のゲインに差異や変動があ
れば測定結果に誤差を生じさせることになる。
本発明は、以上のような点に鑑みてなされたものであり
Ａ−Ｄ変換器を２個以上用いた電流計測装置においてＡ
−Ｄ変換器の相互間のゲインの差異や変動の影響を除去
できる手段を提供しようとするものである。
Ａ−Ｄ変換器を２個以上用いた電流計測装置においてＡ
−Ｄ変換器の相互間のゲインの差異や変動の影響を除去
できる手段を提供しようとするものである。
本発明に係る電流計測装置の構成は、上述したように図
と同じものである。ただし演算器１０における演算の仕
方が従来のものと異なる。
と同じものである。ただし演算器１０における演算の仕
方が従来のものと異なる。
本発明においては、Ａ’Ｄ変換器６と７のそれぞれの測
定値を別々に規格化している。すなわち、Ａ−Ｄ変換器
６の測定値に対しては（４）式の規格化を行なう。
定値を別々に規格化している。すなわち、Ａ−Ｄ変換器
６の測定値に対しては（４）式の規格化を行なう。
またＡ−Ｄ変換器７の測定値に対しては（５）式の規格
化を行なう。
化を行なう。
このように同一のＡ−１）変換器で得られたデータ同士
で規格化の演算を行なうようにしている。その結果、（
４）式、（５）式で示すようＫＡ−Ｄ変換器６，７のゲ
イン変動やゲインの差異による誤差が生じなくなる。
で規格化の演算を行なうようにしている。その結果、（
４）式、（５）式で示すようＫＡ−Ｄ変換器６，７のゲ
イン変動やゲインの差異による誤差が生じなくなる。
なお、上述ではＡ−Ｄ変換器を２個用いた例で説明した
がＭ個であっても本発明は成立する。この場合、基準チ
ャンネルと測定用チャンネルをそれぞれＭプロ、りに分
割し、前記と同様に規格化け、同−Ａ−Ｄ変換器におけ
るデータで行なえばよいわけである。
がＭ個であっても本発明は成立する。この場合、基準チ
ャンネルと測定用チャンネルをそれぞれＭプロ、りに分
割し、前記と同様に規格化け、同−Ａ−Ｄ変換器におけ
るデータで行なえばよいわけである。
以上の説明のように本発明によれば、複数のＡ′Ｄ変換
器相互間のゲインを同一にする必要はなく、またこのゲ
インが変化したとしても、規格化された測定値は上記ゲ
インの影響を受けることがない。
器相互間のゲインを同一にする必要はなく、またこのゲ
インが変化したとしても、規格化された測定値は上記ゲ
インの影響を受けることがない。
図は従来及び本発明に係るＸ線ＣＴ装置の要部とこれに
使用する電流計測装置の構成例を示したものである。 １・・・Ｘ線発生器、５・・・Ｘ線検出器、へ〜Ａｎ・
・・Ｘ線検出素子、Ｂ□〜Ｂｎ・・・電流・電圧変換器
、ｃｌ、ｃ２・・・マルチプレクサ、６．７・・・Ａ−
Ｄ変換器、９・・・メモリ、１０・・・演算器。
使用する電流計測装置の構成例を示したものである。 １・・・Ｘ線発生器、５・・・Ｘ線検出器、へ〜Ａｎ・
・・Ｘ線検出素子、Ｂ□〜Ｂｎ・・・電流・電圧変換器
、ｃｌ、ｃ２・・・マルチプレクサ、６．７・・・Ａ−
Ｄ変換器、９・・・メモリ、１０・・・演算器。
Claims (1)
- （１）Ｘ線発生器と、被検体を挾んでＸ線発生器と対向
して設けられ多数のＸ線検出素子を配列して構成したＸ
線検出器と、このＸ線検出器から得られる多チャンネル
の電離電流をそれぞれ電圧に変換する手段と、前記それ
ぞれの電圧を複数のブロックに分けその各プロ、り毎に
接続されたＡ−Ｄ変換器と、とのＡ−Ｄ変換器からの出
力を導入してこれを規格化する手段とを備え、前記各チ
ャンネルからの電離電流の規格化した値を求めるように
した装置において、 前記各ブロックに対応したチャンネル群に１個ずつ被検
体を通過しないでＸ線検出素子へＸ線が照射される基準
チャンネルを設叶、同一のＡ−Ｄ変換器で得られ九電離
電流データ同士で規格化の演算を行かうようにしたＸ線
ＣＴ装置に使用する電流計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58000380A JPS59125547A (ja) | 1983-01-05 | 1983-01-05 | Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58000380A JPS59125547A (ja) | 1983-01-05 | 1983-01-05 | Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59125547A true JPS59125547A (ja) | 1984-07-19 |
| JPH049533B2 JPH049533B2 (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=11472187
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58000380A Granted JPS59125547A (ja) | 1983-01-05 | 1983-01-05 | Ｘ線ｃｔ装置に使用する電流計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59125547A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61196945A (ja) * | 1985-02-27 | 1986-09-01 | 横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線断層撮影装置 |
| JP2002510516A (ja) * | 1998-04-03 | 2002-04-09 | トムソン テューブ エレクトロニク | 測定値の獲得プロセスとそのプロセスを実行するための断面デンシトメータ |
-
1983
- 1983-01-05 JP JP58000380A patent/JPS59125547A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61196945A (ja) * | 1985-02-27 | 1986-09-01 | 横河メディカルシステム株式会社 | Ｘ線断層撮影装置 |
| JPH0436698B2 (ja) * | 1985-02-27 | 1992-06-17 | Yokokawa Medeikaru Shisutemu Kk | |
| JP2002510516A (ja) * | 1998-04-03 | 2002-04-09 | トムソン テューブ エレクトロニク | 測定値の獲得プロセスとそのプロセスを実行するための断面デンシトメータ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH049533B2 (ja) | 1992-02-20 |
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