JP2607241B2 - 弾性散乱ｘ線の散乱断面の決定方法及び装置 - Google Patents
弾性散乱ｘ線の散乱断面の決定方法及び装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 本発明は、小さい断面の１次ビームで照射される検査
域において弾性散乱Ｘ線に対する散乱断面の空間分布を
決定するに当り、検査域から異なる角度で放射される前
記散乱Ｘ線を多数の検出器によって検出し、１次ビーム
におけるＸ線量子のエネルギー及び検出器が前記散乱Ｘ
線を検出する角度範囲を適切に選定した弾性散乱放射線
の割合の方が優勢になるようにする弾性散乱Ｘ線の散乱
断面決定方法に関する。また本発明はこの方法を実施す
るための装置に関する。
域において弾性散乱Ｘ線に対する散乱断面の空間分布を
決定するに当り、検査域から異なる角度で放射される前
記散乱Ｘ線を多数の検出器によって検出し、１次ビーム
におけるＸ線量子のエネルギー及び検出器が前記散乱Ｘ
線を検出する角度範囲を適切に選定した弾性散乱放射線
の割合の方が優勢になるようにする弾性散乱Ｘ線の散乱
断面決定方法に関する。また本発明はこの方法を実施す
るための装置に関する。
かかる装置は刊行物“ジャーナル・フィジックス・メ
ド・バイオル（Journal Physics Med.Biol.）,1985 Vo
l.30,No.2,第183〜186頁から既知である。
ド・バイオル（Journal Physics Med.Biol.）,1985 Vo
l.30,No.2,第183〜186頁から既知である。
この方法は、Ｘ線量子のエネルギーが過大でない場合
には、１次ビームの方向に対し極めて小さい角度（例え
ば12°より小さい）のみを成す散乱放射線は、主に弾性
散乱放射線から成るという事実を利用する。非弾性散乱
放射線（コンプトン散乱放射線）に対し、弾性散乱放射
線のエネルギースペクトラムは１次ビームのエネルギー
スペクトラムに対応する。弾性散乱した放射線は所定量
最大値に対して著しい角度依存性を有し、所定最大値の
角度位置は照射される材料及び１次ビームにおける放射
線の硬度に依存し、かつ１°と約19°との間にある。
には、１次ビームの方向に対し極めて小さい角度（例え
ば12°より小さい）のみを成す散乱放射線は、主に弾性
散乱放射線から成るという事実を利用する。非弾性散乱
放射線（コンプトン散乱放射線）に対し、弾性散乱放射
線のエネルギースペクトラムは１次ビームのエネルギー
スペクトラムに対応する。弾性散乱した放射線は所定量
最大値に対して著しい角度依存性を有し、所定最大値の
角度位置は照射される材料及び１次ビームにおける放射
線の硬度に依存し、かつ１°と約19°との間にある。
既知の方法では、第１世代コンピュータトモグラフに
類似の態様において、１次ビーム及び１次ビームに直角
な検査域の間において相対的変位を生ぜしめて検査域全
体が照射されるようにし、次いでＸ線放射器が検査域を
照射する方向を変化させ、然る後再び横方向変位を生ぜ
しめるようにする。検査域に対する１次ビームの各角度
及び変位位置では放射線の強度が異なる散乱角において
検出されかつ通常は１次ビーム自体においても検出され
る。毎回、一つの散乱角即ち特定の検出器について測定
した値だけ使用した場合、この散乱角につき弾性散乱放
射線に対する散乱断面の空間分布を再生することができ
る。ここで、散乱断面とは、弾性散乱したＸ線量子の割
合を表わすものとする。他の散乱角に対する分布は他の
検出器の測定値から同様にして再生できる。散乱強度
が、１次ビーム内で散乱過程を生ぜしめる散乱中心の化
学的組成に強く依存することに起因して、散乱角に応じ
て分類される弾性散乱断面の分布のかかる再生はかなり
相違するので、例えば、同一吸収容量を有し、従って通
常のコンピュータトモグラムでは弁別できない異なる物
質が関連する散乱角に対し異なる断面を有する場合に
は，これらの物質を、散乱角によって分離される再生さ
れた散乱断面分布から互に識別することができる。
類似の態様において、１次ビーム及び１次ビームに直角
な検査域の間において相対的変位を生ぜしめて検査域全
体が照射されるようにし、次いでＸ線放射器が検査域を
照射する方向を変化させ、然る後再び横方向変位を生ぜ
しめるようにする。検査域に対する１次ビームの各角度
及び変位位置では放射線の強度が異なる散乱角において
検出されかつ通常は１次ビーム自体においても検出され
る。毎回、一つの散乱角即ち特定の検出器について測定
した値だけ使用した場合、この散乱角につき弾性散乱放
射線に対する散乱断面の空間分布を再生することができ
る。ここで、散乱断面とは、弾性散乱したＸ線量子の割
合を表わすものとする。他の散乱角に対する分布は他の
検出器の測定値から同様にして再生できる。散乱強度
が、１次ビーム内で散乱過程を生ぜしめる散乱中心の化
学的組成に強く依存することに起因して、散乱角に応じ
て分類される弾性散乱断面の分布のかかる再生はかなり
相違するので、例えば、同一吸収容量を有し、従って通
常のコンピュータトモグラムでは弁別できない異なる物
質が関連する散乱角に対し異なる断面を有する場合に
は，これらの物質を、散乱角によって分離される再生さ
れた散乱断面分布から互に識別することができる。
放射線源としては単色放射線源、例えば、放射性同位
体を使用できる。かかる手段により異なる物質を互に極
めて良好に識別できるが、かかる放射線源は通常強度が
小さいので比較的長い測定時間を必要とする。これに代
えて、遥に大きい強度を有することができるＸ線管を使
用した場合には、実際上所望の短い測定時間が達成され
るが、異なる物質を最早や互に弁別できなくなり、その
理由はＸ線が多色放射線であり、かつ散乱角に対する散
乱断面の依存度が単色放射線の場合より遥に不明確にな
るからである。
体を使用できる。かかる手段により異なる物質を互に極
めて良好に識別できるが、かかる放射線源は通常強度が
小さいので比較的長い測定時間を必要とする。これに代
えて、遥に大きい強度を有することができるＸ線管を使
用した場合には、実際上所望の短い測定時間が達成され
るが、異なる物質を最早や互に弁別できなくなり、その
理由はＸ線が多色放射線であり、かつ散乱角に対する散
乱断面の依存度が単色放射線の場合より遥に不明確にな
るからである。
そこで本発明の目的は、多色放射線源、例えば、高強
度のＸ線管を使用した場合でも異なる物質を互に十分に
識別できる弾性散乱Ｘ線に対する散乱断面決定方法を提
供するにある。
度のＸ線管を使用した場合でも異なる物質を互に十分に
識別できる弾性散乱Ｘ線に対する散乱断面決定方法を提
供するにある。
かかる目的を達成するため本発明の弾性散乱Ｘ線に対
する散乱断面の空間分布決定方法は、検査域から出射す
る散乱したＸ線を多数の検出器によって検出し、１次ビ
ーム中のＸ線量子のエネルギー及び検出器の前記散乱Ｘ
線を検出する角度範囲を、弾性散乱した放射線の割合が
優勢になるように選択し、Ｘ線量子のエネルギーを測定
し、検出されたＸ線量子を、各グループが散乱したＸ線
量子が前記１次ビームから離れる方向の散乱角とＸ線量
子のエネルギーとの積が少なくともほぼ同一になるＸ線
量子を含むグループに分類し、分類された各グループの
Ｘ線量子の数を計算することを特徴とする。
する散乱断面の空間分布決定方法は、検査域から出射す
る散乱したＸ線を多数の検出器によって検出し、１次ビ
ーム中のＸ線量子のエネルギー及び検出器の前記散乱Ｘ
線を検出する角度範囲を、弾性散乱した放射線の割合が
優勢になるように選択し、Ｘ線量子のエネルギーを測定
し、検出されたＸ線量子を、各グループが散乱したＸ線
量子が前記１次ビームから離れる方向の散乱角とＸ線量
子のエネルギーとの積が少なくともほぼ同一になるＸ線
量子を含むグループに分類し、分類された各グループの
Ｘ線量子の数を計算することを特徴とする。
なおここで、検査域を小さい断面の１次ビームで照射
し、検査域から出射する放射線を、個別のＸ線量子（X-
ray quanta）のエネルギーを測定する多数の検出器によ
り個別に検出するようにする検査域における散乱断面決
定方法は西ドイツ公開特許公報第2432305号から既知で
あるということを述べておく。しかし乍らこの方法では
コンプトン散乱によってかなり減衰されるような硬さの
Ｘ線（200keV及び2MeVの間）が使用される。コンプトン
散乱によりＸ線が減衰する場合、散乱したＸ線量子のエ
ネルギーは既知であり、個々の散乱角の関数として減少
する。従ってこの既知の方法ではＸ線量子のエネルギー
が測定され、これから散乱角及び検査域であって１次ビ
ームに沿う散乱中心の位置を決定して、１次ビームに沿
った散乱密度分布を検査域につき１次ビームの一つの位
置において再生できるようにしている。
し、検査域から出射する放射線を、個別のＸ線量子（X-
ray quanta）のエネルギーを測定する多数の検出器によ
り個別に検出するようにする検査域における散乱断面決
定方法は西ドイツ公開特許公報第2432305号から既知で
あるということを述べておく。しかし乍らこの方法では
コンプトン散乱によってかなり減衰されるような硬さの
Ｘ線（200keV及び2MeVの間）が使用される。コンプトン
散乱によりＸ線が減衰する場合、散乱したＸ線量子のエ
ネルギーは既知であり、個々の散乱角の関数として減少
する。従ってこの既知の方法ではＸ線量子のエネルギー
が測定され、これから散乱角及び検査域であって１次ビ
ームに沿う散乱中心の位置を決定して、１次ビームに沿
った散乱密度分布を検査域につき１次ビームの一つの位
置において再生できるようにしている。
これに対して、本発明は、所定の物質に対し散乱断面
が最大値を有する散乱角がＸ線のエネルギーに依存し、
この散乱角がＸ線量子のエネルギーに少なくともほぼ逆
比例するという事実を基礎としている。従って、測定さ
れたＸ線量子を、測定されたエネルギーと散乱角（実際
上１次ビームに対する検出器の構成配置によって与えら
れる）との積が少なくともほぼ特定値になるグループ毎
に分類すれば、各グループは、単一エネルギー放射線の
場合に特定の散乱角に割り当てられるＸ線量子を精密に
含むことになる。従って、散乱密度分布の再生がこれら
のグループに従って個別に行われれば、異なる物質を単
色Ｘ線の場合におけると同じく識別することができる。
が最大値を有する散乱角がＸ線のエネルギーに依存し、
この散乱角がＸ線量子のエネルギーに少なくともほぼ逆
比例するという事実を基礎としている。従って、測定さ
れたＸ線量子を、測定されたエネルギーと散乱角（実際
上１次ビームに対する検出器の構成配置によって与えら
れる）との積が少なくともほぼ特定値になるグループ毎
に分類すれば、各グループは、単一エネルギー放射線の
場合に特定の散乱角に割り当てられるＸ線量子を精密に
含むことになる。従って、散乱密度分布の再生がこれら
のグループに従って個別に行われれば、異なる物質を単
色Ｘ線の場合におけると同じく識別することができる。
以下図面につき本発明の実施例を説明する。
第１図において１はＸ線放射器の形態の放射線源を示
し、その放射線通路には、マスキングにより伝播方向に
おいて小さい断面積の１次ビーム （ペンシルビーム）３を形成する絞り２を配設する。
１次ビーム３は、人体だけでなく技術的対象物の如き被
検体をも配置できる検査域４を通過する。この検査域４
をはさんで放射線源とは反対側には多数の検出器D0,D1,
…,DNを含む検出装置５を配置する。検出器D0は１次ビ
ーム中に配置する一方、他の検出器D1,…,DNはこれに対
し同心状態で円弧状に配置し、環状形状に配置するのが
好適である。検出器D0,D1,…,DNを適切に構成配置し
て、Ｘ線量子の検出時に発生する電気パルスの振幅が当
該Ｘ線量子エネルギーに比例するようにする。これら検
出器は、例えば、半導体検出器、例えば、ゲルマニウム
検出器もしくはシンチレーション検出器、又はタリウム
活性化ヨウ化ナトリウム検出器とすることができる。簡
単のため図面には５個の検出器のみ示す（Ｎ＝４）。し
かし実際上に遥に多数の検出器を使用する必要があり例
えば、Ｎ＝30とする。
し、その放射線通路には、マスキングにより伝播方向に
おいて小さい断面積の１次ビーム （ペンシルビーム）３を形成する絞り２を配設する。
１次ビーム３は、人体だけでなく技術的対象物の如き被
検体をも配置できる検査域４を通過する。この検査域４
をはさんで放射線源とは反対側には多数の検出器D0,D1,
…,DNを含む検出装置５を配置する。検出器D0は１次ビ
ーム中に配置する一方、他の検出器D1,…,DNはこれに対
し同心状態で円弧状に配置し、環状形状に配置するのが
好適である。検出器D0,D1,…,DNを適切に構成配置し
て、Ｘ線量子の検出時に発生する電気パルスの振幅が当
該Ｘ線量子エネルギーに比例するようにする。これら検
出器は、例えば、半導体検出器、例えば、ゲルマニウム
検出器もしくはシンチレーション検出器、又はタリウム
活性化ヨウ化ナトリウム検出器とすることができる。簡
単のため図面には５個の検出器のみ示す（Ｎ＝４）。し
かし実際上に遥に多数の検出器を使用する必要があり例
えば、Ｎ＝30とする。
検出器D1,…,DNは毎回、１次ビーム３及び検査域４に
おいて発生しかつ１次ビームに対して所定角度において
又はこの角度の周りの小さい領域において進行する散乱
し放射線を検出する。従って各検出器に対し明確な角度
が割り当てられる。この割り当てが過度に不正確である
場合には、これを第２及び３図につき西ドイツ特許出願
第P3406905号に記載された如く補正できる。検出器が散
乱放射線を検出する角度は約10°に制限され、従って検
査域からの散乱放射線６が最も外側の検出器DNに入射す
る角度は約10°である。一層大きい角度の場合には弾性
散乱放射線の割合が使用Ｘ線管電圧（150kV以下）と共
に過小になる。
おいて発生しかつ１次ビームに対して所定角度において
又はこの角度の周りの小さい領域において進行する散乱
し放射線を検出する。従って各検出器に対し明確な角度
が割り当てられる。この割り当てが過度に不正確である
場合には、これを第２及び３図につき西ドイツ特許出願
第P3406905号に記載された如く補正できる。検出器が散
乱放射線を検出する角度は約10°に制限され、従って検
査域からの散乱放射線６が最も外側の検出器DNに入射す
る角度は約10°である。一層大きい角度の場合には弾性
散乱放射線の割合が使用Ｘ線管電圧（150kV以下）と共
に過小になる。
詳細には図示しない検査テーブル７の上に配置された
被検体４と検出装置５との間に別の絞り８を設け、その
開口を適切に構成配置して、検査域４の内側で１次ビー
ムにおいて発生する散乱放射線が丁度検出器DNに入射で
きるようにする。かくすることにより検査域４における
増倍散乱放射線の影響を抑圧できる。かかる増倍散乱放
射線は、詳細には図示しない放射線吸収材料の薄層を截
頭円錐の形態で検査域４の下において検査域及び検出装
置５の間に配置して、各検出器がこれら薄層を介して、
検査域を透過した一次放射線の一部のみ検出できるよう
にすることにより一層良好に抑圧できる。
被検体４と検出装置５との間に別の絞り８を設け、その
開口を適切に構成配置して、検査域４の内側で１次ビー
ムにおいて発生する散乱放射線が丁度検出器DNに入射で
きるようにする。かくすることにより検査域４における
増倍散乱放射線の影響を抑圧できる。かかる増倍散乱放
射線は、詳細には図示しない放射線吸収材料の薄層を截
頭円錐の形態で検査域４の下において検査域及び検出装
置５の間に配置して、各検出器がこれら薄層を介して、
検査域を透過した一次放射線の一部のみ検出できるよう
にすることにより一層良好に抑圧できる。
破線９で示す如く放射線源１、絞り２及び８並びに検
出装置５を互に機械的に結合して検出装置及び検査域４
の間の相対運動を可能にする。平面検査域の検出に対し
ては、第１世代コンピュータトモグラフの場合における
如く、１次ビーム３を横方向に変位させて１次ビームが
平面検査域を順次通過するようにし、次いで被検体を回
転し、次いで１次ビームを同じ面内において変位させる
ことを繰り返して最終的に各検出器が複数の角度位置及
び変位位置において散乱放射線を検出するようにする。
検出装置は以上述べた範囲までは前記刊行物“ジャーナ
ル・フィジックス・メッド・バイオル（Journal Phys.M
ed.Biol.）,1985,Vol.30,No.2,第183〜186頁から広く知
られており、かつ前記西ドイツ特許出願P3406905号に記
載されている。
出装置５を互に機械的に結合して検出装置及び検査域４
の間の相対運動を可能にする。平面検査域の検出に対し
ては、第１世代コンピュータトモグラフの場合における
如く、１次ビーム３を横方向に変位させて１次ビームが
平面検査域を順次通過するようにし、次いで被検体を回
転し、次いで１次ビームを同じ面内において変位させる
ことを繰り返して最終的に各検出器が複数の角度位置及
び変位位置において散乱放射線を検出するようにする。
検出装置は以上述べた範囲までは前記刊行物“ジャーナ
ル・フィジックス・メッド・バイオル（Journal Phys.M
ed.Biol.）,1985,Vol.30,No.2,第183〜186頁から広く知
られており、かつ前記西ドイツ特許出願P3406905号に記
載されている。
第２図はある物質に対する散乱強度Ｉのパターンを異
なるエネルギー（異なるＸ線波長）E1,E2,E3（但しE1＞
E2＞E3）につき散乱角βの関数として示す。この図から
明らかなように、強度即ち単位時間当りに記録されるＸ
線量子は各エネルギーに対し所定最大値を有する。異な
る化学的組成を有する物質は同一のＸ線量子エネルギー
に対し異なる曲線を有すると共に所定の最大値を有す
る。この明瞭な角度依存性に起因して、一つのエネルギ
ーのみ（例えばE3のみ）有するＸ線即ち単色（モノクロ
マチック）Ｘ線が使用された場合、２つの物質を明瞭に
識別することかできる。しかし単色Ｘ線源、例えば、放
射性同位体の強度は極めて小さく，これは長い測定時間
を要することを意味する。Ｘ線管は遥に大きい強度の放
射線を送出し、これは測定時間が大幅に短縮されること
を意味する。しかしＸ線管は連続スペクトラムを有し、
その最大エネルギー（kev）はＸ線管における電圧（k
v）に対応する。すべてのエネルギーはこの限界エネル
ギーまでこのスペクトラムにおいて表わされるから、か
かるエネルギースペクトラムの場合散乱角βに対する強
度Ｉは、第２図において破線Ｅで示した如く、所定最大
値を若干上廻わる値を有するに過ぎない。他の物質に対
する対応曲線は実際上これと十分には合致しないが、極
めて広いオーバーラップ領域を有し、これは弾性散乱放
射線の強度を左右する散乱角に基づいては２つの異なる
物質を互に識別するのが難かしいことを意味する。
なるエネルギー（異なるＸ線波長）E1,E2,E3（但しE1＞
E2＞E3）につき散乱角βの関数として示す。この図から
明らかなように、強度即ち単位時間当りに記録されるＸ
線量子は各エネルギーに対し所定最大値を有する。異な
る化学的組成を有する物質は同一のＸ線量子エネルギー
に対し異なる曲線を有すると共に所定の最大値を有す
る。この明瞭な角度依存性に起因して、一つのエネルギ
ーのみ（例えばE3のみ）有するＸ線即ち単色（モノクロ
マチック）Ｘ線が使用された場合、２つの物質を明瞭に
識別することかできる。しかし単色Ｘ線源、例えば、放
射性同位体の強度は極めて小さく，これは長い測定時間
を要することを意味する。Ｘ線管は遥に大きい強度の放
射線を送出し、これは測定時間が大幅に短縮されること
を意味する。しかしＸ線管は連続スペクトラムを有し、
その最大エネルギー（kev）はＸ線管における電圧（k
v）に対応する。すべてのエネルギーはこの限界エネル
ギーまでこのスペクトラムにおいて表わされるから、か
かるエネルギースペクトラムの場合散乱角βに対する強
度Ｉは、第２図において破線Ｅで示した如く、所定最大
値を若干上廻わる値を有するに過ぎない。他の物質に対
する対応曲線は実際上これと十分には合致しないが、極
めて広いオーバーラップ領域を有し、これは弾性散乱放
射線の強度を左右する散乱角に基づいては２つの異なる
物質を互に識別するのが難かしいことを意味する。
本発明はＸ線量子のエネルギーと散乱角との間に E1*sin（β1/2）＝E2*sin（β2/2）＝Ｘ なる関係が存在することを利用する。この関係式におい
てβ1,β2,β３はそれぞれエネルギーE1,E2,E3に対する
散乱角である。しかし一層小さい角度の場合には大きな
誤差を伴うことなくsin（β）＝βを使用できるので、 E1*β１＝E2* β２Ｘ となる。Ｘ線量子エネルギーと散乱角との積はいわゆる
運動量輸送（momentum transfer）Ｘに比例する。多色
（ポリクロマティック）放射線の場合においてこの積の
関数としてのＸ線強度曲線の形状は単色放射線の場合に
おける散乱角に対する放射線強度曲線の形状とほぼ同一
である。従って各Ｘ線量子に対しＸ線量子のエネルギー
と散乱角との積を決定し、かつそれぞれの場合において
同一の積を呈するＸ線量子について計数を行えば、前記
積の関数としてＸ線量子の数の曲線の相違に基づいて２
つの異なる物質を明瞭に識別することができる。
てβ1,β2,β３はそれぞれエネルギーE1,E2,E3に対する
散乱角である。しかし一層小さい角度の場合には大きな
誤差を伴うことなくsin（β）＝βを使用できるので、 E1*β１＝E2* β２Ｘ となる。Ｘ線量子エネルギーと散乱角との積はいわゆる
運動量輸送（momentum transfer）Ｘに比例する。多色
（ポリクロマティック）放射線の場合においてこの積の
関数としてのＸ線強度曲線の形状は単色放射線の場合に
おける散乱角に対する放射線強度曲線の形状とほぼ同一
である。従って各Ｘ線量子に対しＸ線量子のエネルギー
と散乱角との積を決定し、かつそれぞれの場合において
同一の積を呈するＸ線量子について計数を行えば、前記
積の関数としてＸ線量子の数の曲線の相違に基づいて２
つの異なる物質を明瞭に識別することができる。
第３図は検出器D1…DNの信号を適切に処理する本発明
装置の実施例を示す。本例では各検出器に１チャンネル
をそれぞれ割り当て、このチャンネルは検出器自体に加
え、後続の増幅器V1,V2…VNと、この増幅器の出力信号
を２進符号化ディジタルデータワードに変換する高速ア
ナログ・ディジタル・コンバータ（A/Dコンバータ）10
とを具える。
装置の実施例を示す。本例では各検出器に１チャンネル
をそれぞれ割り当て、このチャンネルは検出器自体に加
え、後続の増幅器V1,V2…VNと、この増幅器の出力信号
を２進符号化ディジタルデータワードに変換する高速ア
ナログ・ディジタル・コンバータ（A/Dコンバータ）10
とを具える。
増幅器V1…VNの利得は、接続した検出器がそれぞれの
場合において散乱放射線を検出する散乱角β１…βＮに
比例させる。従って、例えば、検出器DJは角度βにおけ
る散乱放射線を検出し、検出器DK角度ｎβにおける散乱
放射線を検出し（但しｎは１より大きい係数）、従って
検出器DKの後段に接続する増幅器VKの利得は増幅器VJの
利得より係数ｎだけ大きくする。この理由のため、及び
検出器の出力信号は検出されたＸ線量子のエネルギーに
比例するから、対応する検出器D1…DNによるＸ線量子の
検出中に増幅器V1…VNの出力端子には、振幅が散乱角と
Ｘ線量子のエネルギーとの積に比例する信号が現われ
る。
場合において散乱放射線を検出する散乱角β１…βＮに
比例させる。従って、例えば、検出器DJは角度βにおけ
る散乱放射線を検出し、検出器DK角度ｎβにおける散乱
放射線を検出し（但しｎは１より大きい係数）、従って
検出器DKの後段に接続する増幅器VKの利得は増幅器VJの
利得より係数ｎだけ大きくする。この理由のため、及び
検出器の出力信号は検出されたＸ線量子のエネルギーに
比例するから、対応する検出器D1…DNによるＸ線量子の
検出中に増幅器V1…VNの出力端子には、振幅が散乱角と
Ｘ線量子のエネルギーとの積に比例する信号が現われ
る。
アナログ・ディジタル・コンバータは、前位の検出器
によるＸ線量の毎回の検出中に増幅器V1に出力信号の振
幅を示す信号を発生できる十分高速のものとする必要が
ある。各アナログ・ディジタル・コンバータには、例え
ば、前段の増幅器の出力パルスによりピーク値整流器を
介して充電され、次いで一定電流を介して十分に放電す
るコンデンサを設けることができる。この場合放電時間
はＸ線量子のエネルギーと前段増幅器の利得との積、即
ち前段検出器の散乱角に比例する。放電時間は、放電期
間中一定周波発振器のパルスを計数する電子計数レジス
タによって測定し、コンデンサの放電はこの発振器のパ
ルスと同期して開始される。アナログ・ディジタル・コ
ンバータ10に対するトリガ信号は前段検出器の出力信号
から導出する。
によるＸ線量の毎回の検出中に増幅器V1に出力信号の振
幅を示す信号を発生できる十分高速のものとする必要が
ある。各アナログ・ディジタル・コンバータには、例え
ば、前段の増幅器の出力パルスによりピーク値整流器を
介して充電され、次いで一定電流を介して十分に放電す
るコンデンサを設けることができる。この場合放電時間
はＸ線量子のエネルギーと前段増幅器の利得との積、即
ち前段検出器の散乱角に比例する。放電時間は、放電期
間中一定周波発振器のパルスを計数する電子計数レジス
タによって測定し、コンデンサの放電はこの発振器のパ
ルスと同期して開始される。アナログ・ディジタル・コ
ンバータ10に対するトリガ信号は前段検出器の出力信号
から導出する。
アナログ・ディジタル・コンバータ10の出力端は記憶
装置12のアドレス入力端に結合する。アナログ・ディジ
タル・コンバータの一つが電圧パルスをディジタルデー
タワードに変換する毎に、記憶装置12においてこのデー
タワードに対応するアドレスが呼出される。同時に加算
器13が付勢され、この加算器は呼出された記憶装置のア
ドレスに１を加算し、その結果を同じ記憶装置へ書込
む。従って、検査域に対し１次ビームの規定された位置
においてはＸ線量子の記憶装置12の異なる記憶位置にお
ける計数値が導出され、Ｘ線量子のエネルギーと散乱角
との積X1,X2…XMはそれぞれの場合においてほぼ同じ値
を有する。従って、アナログ・ディジタル・コンバータ
10は、記憶装置12及び加算器13と共に、パルス高さ分析
装置として作動する。
装置12のアドレス入力端に結合する。アナログ・ディジ
タル・コンバータの一つが電圧パルスをディジタルデー
タワードに変換する毎に、記憶装置12においてこのデー
タワードに対応するアドレスが呼出される。同時に加算
器13が付勢され、この加算器は呼出された記憶装置のア
ドレスに１を加算し、その結果を同じ記憶装置へ書込
む。従って、検査域に対し１次ビームの規定された位置
においてはＸ線量子の記憶装置12の異なる記憶位置にお
ける計数値が導出され、Ｘ線量子のエネルギーと散乱角
との積X1,X2…XMはそれぞれの場合においてほぼ同じ値
を有する。従って、アナログ・ディジタル・コンバータ
10は、記憶装置12及び加算器13と共に、パルス高さ分析
装置として作動する。
Ｘ線量子が割り当てられるグループX1…XMの数は検出
器の数の約２倍にする必要がある。記憶装置12及び加算
器13はＮチャンネルのすべてからの信号を処理する必要
があるから、高い計数速度における高い処理速度を有す
る必要がある。処理速度が不適切である場合には、記憶
装置12及び加算器13を各チャンネルに対して設けるか又
は全チャンネル中のいくつかのチャンネルに対して設け
るようにすることができる。測定の終りにおいては同じ
積X1,X2又はXMに対応する記憶内容のみ加えることを必
要とするに過ぎない。
器の数の約２倍にする必要がある。記憶装置12及び加算
器13はＮチャンネルのすべてからの信号を処理する必要
があるから、高い計数速度における高い処理速度を有す
る必要がある。処理速度が不適切である場合には、記憶
装置12及び加算器13を各チャンネルに対して設けるか又
は全チャンネル中のいくつかのチャンネルに対して設け
るようにすることができる。測定の終りにおいては同じ
積X1,X2又はXMに対応する記憶内容のみ加えることを必
要とするに過ぎない。
毎回の測定後、記憶装置12に記憶した値を呼出し、例
えば、前記西ドイツ特許出願P3406905号に記載された如
く、マイクロコンピュータ14において更に処理する。毎
回の測定に対し被検体による１次ビームの減衰に応じて
修正を行うことができる。この修正は１次ビーム中に配
置した検出器D0の出力信号から得られる。かかる態様に
おいてすべての測定が行われた場合、マイクロコンピュ
ータは各積X1,X2…XMに対し検査面の個々の点における
散乱分布を個別に計算し、得られた値を、各積X1…XMに
対し個別記憶域151…15Mを有する記憶装置15に記憶させ
ることができる。当該システムの特性（例えば、Ｘ線管
の放射線スペクトラム、検出器の特性等）が散乱断面の
分布の再生に影響するのを防止するためには、異なる積
X1,X2…XMに対して得られた値を、これらの積に対しプ
レクシグラス（Plexiglas）を可とする校正物体につい
ての校正測定から得られる基準値によって除算する必要
がある。従って、このようにして得られる標準化された
値は基準媒体に対する相対散乱関数を表わす。この校正
測定は、測定状態が時間と共に変化しないとき一度だけ
行うことを必要とするに過ぎない。状態が一定でない場
合には、校正測定を、例えば、検査以前及び／又は以後
に繰り返す必要がある。
えば、前記西ドイツ特許出願P3406905号に記載された如
く、マイクロコンピュータ14において更に処理する。毎
回の測定に対し被検体による１次ビームの減衰に応じて
修正を行うことができる。この修正は１次ビーム中に配
置した検出器D0の出力信号から得られる。かかる態様に
おいてすべての測定が行われた場合、マイクロコンピュ
ータは各積X1,X2…XMに対し検査面の個々の点における
散乱分布を個別に計算し、得られた値を、各積X1…XMに
対し個別記憶域151…15Mを有する記憶装置15に記憶させ
ることができる。当該システムの特性（例えば、Ｘ線管
の放射線スペクトラム、検出器の特性等）が散乱断面の
分布の再生に影響するのを防止するためには、異なる積
X1,X2…XMに対して得られた値を、これらの積に対しプ
レクシグラス（Plexiglas）を可とする校正物体につい
ての校正測定から得られる基準値によって除算する必要
がある。従って、このようにして得られる標準化された
値は基準媒体に対する相対散乱関数を表わす。この校正
測定は、測定状態が時間と共に変化しないとき一度だけ
行うことを必要とするに過ぎない。状態が一定でない場
合には、校正測定を、例えば、検査以前及び／又は以後
に繰り返す必要がある。
かかる態様において得られたイメージは、再び積X1…
XMに従って表示装置16へ供給できる。従って、かくして
得られる画像は各画像点につき散乱強度のパターンをＸ
の関数又は散乱角の関数として示す。これにより，照射
された領域の化学的組成についての情報が得られる。
XMに従って表示装置16へ供給できる。従って、かくして
得られる画像は各画像点につき散乱強度のパターンをＸ
の関数又は散乱角の関数として示す。これにより，照射
された領域の化学的組成についての情報が得られる。
適切に調整された利得を有する増幅器を使用する代り
に、アナログ・ディジタル・コンバータ10の後段に接続
した乗算器によって又はアナログ・ディジタル・コンバ
ータを乗算アナログ・ディジタル・コンバータとして構
成することによっても個々のチャンネルにおけるエネル
ギー及び散乱角の積を得ることができるが、この方法は
第３図に示したものに比べ通常は高価になる。
に、アナログ・ディジタル・コンバータ10の後段に接続
した乗算器によって又はアナログ・ディジタル・コンバ
ータを乗算アナログ・ディジタル・コンバータとして構
成することによっても個々のチャンネルにおけるエネル
ギー及び散乱角の積を得ることができるが、この方法は
第３図に示したものに比べ通常は高価になる。
第１図は散乱放射線の検出動作説明図、 第２図は所定物質の場合においてＸ線量子の異なるエネ
ルギーにつき放射線強度の散乱角依存性を示す図、 第３図は本発明装置の実施例を示すブロック図である。 １……Ｘ線放射器、２……絞り ３……１次ビーム、４……検査域 ５……検出装置、６……散乱放射線 ７……検査テーブル、８……絞り D0〜DN……Ｘ線検出器、V1〜VN……増幅器 10……A/Dコンバータ、12……記憶装置 13……加算器、14……マイクロコンピュータ 15……記憶装置、151〜15M……記憶域 16……表示装置
ルギーにつき放射線強度の散乱角依存性を示す図、 第３図は本発明装置の実施例を示すブロック図である。 １……Ｘ線放射器、２……絞り ３……１次ビーム、４……検査域 ５……検出装置、６……散乱放射線 ７……検査テーブル、８……絞り D0〜DN……Ｘ線検出器、V1〜VN……増幅器 10……A/Dコンバータ、12……記憶装置 13……加算器、14……マイクロコンピュータ 15……記憶装置、151〜15M……記憶域 16……表示装置
フロントページの続き (72)発明者 ヨゼフ−マリア・コザネッキー ドイツ連邦共和国 2000 ノルデルシュ テット １ランゲンハーマー リンク 120 (72)発明者 ウルリヒ・ナイツエル ドイツ連邦共和国 2000 ハンブルク 65 キップス ヴェーク ３
Claims (3)
- 【請求項１】少なくとも一方向に小さい断面の１次ビー
ムで照射される検査域において弾性散乱したＸ線の散乱
断面を決定するに当り、１次ビーム中のＸ線量子のエネ
ルギー及び検出器の前記散乱Ｘ線を検出する角度範囲
を、弾性散乱した放射線の割合が優勢になるように選択
し、検査域から出射する散乱したＸ線を多数の検出器に
よって検出し、Ｘ線量子のエネルギーを測定し、検出さ
れたＸ線量子を、各グループが散乱したＸ線量子が前記
１次ビームから離れる方向の散乱角とＸ線量子のエネル
ギーとの積が少なくともほぼ同一になるＸ線量子を含む
グループに分類し、分類された各グループのＸ線量子の
数を計数することを特徴とする弾性散乱Ｘ線の散乱断面
決定方法。 - 【請求項２】Ｘ線放射源（１）と、Ｘ線放射源から出射
した放射ビームから少なくとも一方向に小さい断面の１
次ビーム（３）を形成するためのマスキング手段（２）
と、１次ビームに対し空間的位置が規定された検出器
（D1…DN）とを具える弾性散乱Ｘ線の散乱断面決定装置
において、 前記検出器を、Ｘ線量子の検出中にＸ線量子のエネルギ
ーに依存する振幅を有するパルスを発生するように検出
器（D1…DN）を構成し、これら検出器の後段にパルス高
さ分析装置（10）を接続し、測定されたエネルギーと散
乱角との積に比例する積信号を発生する手段（V1…VN;1
0）を設け、所定の範囲に存在する積信号からＸ線量子
の数を記憶できる記憶装置（12）を設けて成ることを特
徴とする弾性散乱Ｘ線の散乱断面決定装置。 - 【請求項３】前記パルス高さ分析装置（10…13）と対応
する検出器（D1…DN）との間に増幅器（V1…VN）をそれ
ぞれ接続し、これらの増幅器の利得が、結合された検出
器（D1…DN）が弾性散乱したＸ線を検出す角度（β１…
βｎ）に比例することを特徴とする特許請求の範囲第２
項記載の弾性散乱Ｘ線の散乱断面決定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19853526015 DE3526015A1 (de) | 1985-07-20 | 1985-07-20 | Verfahren zum bestimmen der raeumlichen verteilung der streuquerschnitte fuer elastisch gestreute roentgenstrahlung und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
| DE3526015.7 | 1985-07-20 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6222052A JPS6222052A (ja) | 1987-01-30 |
| JP2607241B2 true JP2607241B2 (ja) | 1997-05-07 |
Family
ID=6276310
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61169066A Expired - Fee Related JP2607241B2 (ja) | 1985-07-20 | 1986-07-19 | 弾性散乱ｘ線の散乱断面の決定方法及び装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4754469A (ja) |
| EP (1) | EP0209952B1 (ja) |
| JP (1) | JP2607241B2 (ja) |
| DE (2) | DE3526015A1 (ja) |
Families Citing this family (41)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0672718B2 (ja) * | 1985-06-07 | 1994-09-14 | ダイキン工業株式会社 | 空気調和装置の風向制御装置 |
| DE3608965A1 (de) * | 1986-03-18 | 1987-10-01 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur bestimmung der raeumlichen struktur in einer schicht eines untersuchungsbereiches |
| EP0311177B1 (de) * | 1987-10-05 | 1993-12-15 | Philips Patentverwaltung GmbH | Anordnung zur Untersuchung eines Körpers mit einer Strahlenquelle |
| JPH01227555A (ja) * | 1988-03-08 | 1989-09-11 | Eiji Watanabe | カード型電話機およびその電話システム |
| US5007072A (en) * | 1988-08-03 | 1991-04-09 | Ion Track Instruments | X-ray diffraction inspection system |
| DE3909147A1 (de) * | 1988-09-22 | 1990-09-27 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zur messung des impulsuebertrages |
| DE4101544A1 (de) * | 1991-01-19 | 1992-07-23 | Philips Patentverwaltung | Roentgengeraet |
| GB9303518D0 (en) * | 1993-02-22 | 1993-04-07 | Merrell Dow Pharma | Combinations of retroviral inhibitors |
| DE19510168C2 (de) * | 1995-03-21 | 2001-09-13 | Heimann Systems Gmbh & Co | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von kristallinen und polykristallinen Materialien in einem Untersuchungsbereich |
| JP2000512764A (ja) * | 1997-01-24 | 2000-09-26 | クウォンタ・ビジョン・インコーポレイテッド | 物体の内部構造及び組成を判定する際に小角トポグラフィ的方法を用いる検査装置 |
| US5863445A (en) * | 1997-03-27 | 1999-01-26 | Control Screening L.L.C. | Etched coil unibody digital detector |
| US6054712A (en) * | 1998-01-23 | 2000-04-25 | Quanta Vision, Inc. | Inspection equipment using small-angle topography in determining an object's internal structure and composition |
| US6175117B1 (en) | 1998-01-23 | 2001-01-16 | Quanta Vision, Inc. | Tissue analysis apparatus |
| US6281503B1 (en) | 1998-05-06 | 2001-08-28 | Quanta Vision, Inc. | Non-invasive composition analysis |
| DE19954661C2 (de) * | 1999-11-13 | 2001-12-06 | Heimann Systems Gmbh & Co | Vorrichtung und Verfahren zur Justage eines Kollimators |
| DE19954663B4 (de) | 1999-11-13 | 2006-06-08 | Smiths Heimann Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung eines Materials eines detektierten Gegenstandes |
| US8837669B2 (en) | 2003-04-25 | 2014-09-16 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanning system |
| US20050058242A1 (en) * | 2003-09-15 | 2005-03-17 | Peschmann Kristian R. | Methods and systems for the rapid detection of concealed objects |
| US8223919B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-07-17 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection systems for the identification of specific target items |
| US7949101B2 (en) | 2005-12-16 | 2011-05-24 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners and X-ray sources therefor |
| GB0525593D0 (en) | 2005-12-16 | 2006-01-25 | Cxr Ltd | X-ray tomography inspection systems |
| US8243876B2 (en) | 2003-04-25 | 2012-08-14 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanners |
| US9113839B2 (en) | 2003-04-25 | 2015-08-25 | Rapiscon Systems, Inc. | X-ray inspection system and method |
| US8451974B2 (en) | 2003-04-25 | 2013-05-28 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray tomographic inspection system for the identification of specific target items |
| US7092485B2 (en) * | 2003-05-27 | 2006-08-15 | Control Screening, Llc | X-ray inspection system for detecting explosives and other contraband |
| WO2004105610A1 (en) * | 2003-05-28 | 2004-12-09 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Fan-beam coherent-scatter computer tomography |
| US7366282B2 (en) | 2003-09-15 | 2008-04-29 | Rapiscan Security Products, Inc. | Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence |
| US7856081B2 (en) | 2003-09-15 | 2010-12-21 | Rapiscan Systems, Inc. | Methods and systems for rapid detection of concealed objects using fluorescence |
| EP1676126A1 (en) * | 2003-10-14 | 2006-07-05 | Philips Intellectual Property & Standards GmbH | Fan-beam coherent-scatter computed tomography |
| DE102004057743B4 (de) * | 2004-09-08 | 2007-08-09 | Mahlo Gmbh & Co Kg | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen des Flächengewichtes einer geförderten Materialprobe |
| GB0424876D0 (en) * | 2004-11-11 | 2004-12-15 | Koninkl Philips Electronics Nv | Energy-resolved computer tomography |
| GB0425112D0 (en) * | 2004-11-13 | 2004-12-15 | Koninkl Philips Electronics Nv | Computer tomography apparatus and method for examining an object of interest |
| GB0500535D0 (en) | 2005-01-12 | 2005-02-16 | Koninkl Philips Electronics Nv | Computer tomography apparatus |
| US7697664B2 (en) * | 2006-05-15 | 2010-04-13 | Morpho Detection, Inc. | Systems and methods for determining an atomic number of a substance |
| US20080219404A1 (en) * | 2007-03-08 | 2008-09-11 | Bio-Imaging Research, Inc. | Method and Apparatus to Facilitate Formation of a Two-Dimensional Image Using X-Ray Fan Beam Scatter |
| US9310323B2 (en) | 2009-05-16 | 2016-04-12 | Rapiscan Systems, Inc. | Systems and methods for high-Z threat alarm resolution |
| EP2810296A4 (en) | 2012-02-03 | 2015-12-30 | Rapiscan Systems Inc | COMBINED MULTIVUE IMAGING SYSTEM FOR DIFFUSION AND TRANSMISSION |
| US9823383B2 (en) | 2013-01-07 | 2017-11-21 | Rapiscan Systems, Inc. | X-ray scanner with partial energy discriminating detector array |
| BR112014013226B1 (pt) | 2013-01-31 | 2021-08-24 | Rapiscan Systems, Inc | Sistema de inspeção de segurança portátil e método de implantação do mesmo |
| US9557427B2 (en) | 2014-01-08 | 2017-01-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Thin gap chamber neutron detectors |
| US10345479B2 (en) | 2015-09-16 | 2019-07-09 | Rapiscan Systems, Inc. | Portable X-ray scanner |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5034587A (ja) * | 1973-07-06 | 1975-04-02 | ||
| JPS5742330A (en) * | 1980-08-25 | 1982-03-09 | Fujitsu Ltd | Liquid distributor |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1509528A (en) * | 1974-06-07 | 1978-05-04 | Emi Ltd | Radiology |
| DE2432905C3 (de) * | 1974-07-09 | 1985-06-20 | Maximilian Dr. 2430 Sierksdorf Wächtler | Einkanal-Peilempfänger |
| DE2544354A1 (de) * | 1975-10-03 | 1977-04-14 | Siemens Ag | Verfahren zur bestimmung der dichte von koerpern mittels durchdingender strahlen und geraet zu seiner durchfuehrung |
| DE2703562A1 (de) * | 1977-01-28 | 1978-08-03 | Max Planck Gesellschaft | Verfahren und einrichtung zur roentgenfluoreszenzanalyse |
| DE3406905A1 (de) * | 1984-02-25 | 1985-09-05 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Roentgengeraet |
-
1985
- 1985-07-20 DE DE19853526015 patent/DE3526015A1/de not_active Withdrawn
-
1986
- 1986-07-11 US US06/884,452 patent/US4754469A/en not_active Expired - Lifetime
- 1986-07-16 DE DE8686201250T patent/DE3682453D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-07-16 EP EP86201250A patent/EP0209952B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1986-07-19 JP JP61169066A patent/JP2607241B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5034587A (ja) * | 1973-07-06 | 1975-04-02 | ||
| JPS5742330A (en) * | 1980-08-25 | 1982-03-09 | Fujitsu Ltd | Liquid distributor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4754469A (en) | 1988-06-28 |
| EP0209952A2 (de) | 1987-01-28 |
| DE3682453D1 (de) | 1991-12-19 |
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| JPS6222052A (ja) | 1987-01-30 |
| EP0209952A3 (en) | 1989-05-03 |
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