JP2002510516A - 測定値の獲得プロセスとそのプロセスを実行するための断面デンシトメータ - Google Patents
測定値の獲得プロセスとそのプロセスを実行するための断面デンシトメータInfo
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Abstract
Description
ロセスを実行するための断面デンシトメータに関するものである。これらの装置
は、一般に、X線源と、該線源に対向する多要素検出器とを使用する。線源と検
出器の組立体は、該線源および検出器の間に配置された患者の身体に対して回転
または並進移動することができる。
に、並べられた多数の別個の検出要素を含んでいる。それにもかかわらず、湾曲
していない検出器が存在する。最もよく知られた検出器は、ガス検出器と固体検
出器である。検出器要素による信号出力は、定期的に収集され、ディジタル化さ
れ、装置の回転または並進移動と連携してコンピュータに送られ、X線照射され
た身体のスライスの内部画像を再構築すべく、ディジタルコンピュータにより処
理される。
軸にほぼ垂直な平面内に配置された線に沿って並べられた多数の検出要素を有す
ることが望ましい。さらに、検出器は、回転移動軸に平行な方向に並べられた複
数の検出器組立体の形態で構成されていてもよい。この場合には、個別の検出要
素は、2以上の要素からなる複数のストリップとして配列されていてもよい。こ
れらの要素は、回転軸に平行な方向に整列され、前記ストリップは、円弧に沿っ
て並べられる。これにより、特に、線源が、回転によって、隣り合った小寸法の
連続した検出器に同時に照射するので、検査される身体の2以上の非常に細かく
並んだスライスを同時に探査することができる。そのような装置は、例えば、米
国特許第5592523号明細書に開示されている。
偏光形式または光起電力形式の数千個のフォトダイオードに達する検出要素とし
て使用することができ、この数は、数万まで増加させることさえ可能である。こ
こでは、例えば、25000個の検出要素を含むものとする。この結果、これら
の多数の検出要素から発せられた電気信号を収集することが困難となる。この発
明の目的は、このように膨大な数の検出要素の存在によって生ずる技術的な制約
に対して、最良の解決手段を提供することができる処理方法を提案することであ
る。
の時間内に読む必要がある。なぜなら、断面デンシトメータは、一定速度で、例
えば、従来は、1秒間に2回転の速度で連続して回転させられるからである。好
ましい態様では、各回転毎に、身体の約1000個の観察図を得ることが望まれ
る。1回の観察は、身体が、連続またはパルス状のX線に晒される所定の期間に
対応している。検出器に現れた観察画像は、観察の期間に生じた放射線医学的吸
収の現象に対応している。観察図自体からの画像と、この観察図が再構築の計算
に関与する身体部分の再構築された画像とは、区別される(検出器により投影モ
ードで直接描写される)。観察期間にわたって、断面デンシトメータは、画像を
処理するときに、身体に対して固定された位置に配置されるものと考えられる。
もちろん、このことは、断面デンシトメータが連続して移動しているので誤りで
ある。それにもかかわらず、観察図は、入射角度、位置:X線照射の主軸が身体
を照射する平均角度のタギングに関連している。測定期間、すなわち、観察期間
が長い場合には、画像の最終的な解像度は許容できないものとなり、したがって
、より少ない観察図を得るか、断面デンシトメータをより遅く回転させるかのい
ずれかが必要である。
信号を読む必要がある。なぜなら、画像の暗い部分は、より明るい部分に対して
、非常に弱い信号を与えるが、この弱い信号が、いくらかの解像度(数ビット)
で測定されなければならないからである。したがって、公称モードで受け取られ
る1000000個のX線光子、または、最も少なく受け取られる4個のX線光
子の両方を測定するために20ビットのダイナミックレンジが必要である。 しかしながら、画像の全体ダイナミックレンジが20ビットを示す場合には、
有用な局所的なダイナミックレンジはより小さいものが要求される。なぜなら、
この有用な局所的ダイナミックレンジは、信号−雑音比に等しいからである。現
実には、信号−雑音比は、最大で1000程度に等しい。これは、実際には、身
体におけるX線の吸収の量子効果、および、シンチレータ内におけるそれらの変
換により受け取られるX線光子の数の平方根に等しい。このことは、測定された
20ビットの内、14ビットのみが、重要であるということを意味している。そ
れにもかかわらず、そのようなダイナミックレンジにわたる測定値のディジタル
化は、性能に関して大きすぎる回路を採用するものであり、集積回路において広
すぎる空間を占有するものである。
り高い電荷量を処理する必要がある。実際に、1フォトダイオード当たり100
ピコクーロン(pC)程度の公称電荷に遭遇する。そのような電荷は、大きな蓄
積領域を必要とする。しかしながら、このことは、これらの集積回路の作動電圧
が低いことを考えれば、これらの電荷を蓄積するための必要な容量を得ることに
関して寸法的な問題を提起する。例えば、検出器は逆バイアス形式のダイオード
であり、キャパシタは、その逆バイアスのためにダイオードの端子に構成される
。ダイオードによって受け取られた光の作用下で喪失する電荷でキャパシタを再
充電するように、プリアンプが、これらのダイオードの各々に連続して接続され
ていてもよい。プリアンプにより再入射された電荷量は、測定信号を構成する。
線形性の理由から、光起電力形式の、非バイアスダイオードを使用することが好
ましい。該光起電力形式の非バイアスダイオードは、受けた光に比例するDC電
流を発生する。X線照射の測定値は、この光起電力ダイオードから積分器へのリ
ンク、および、この電流信号の、微小期間にわたる積分を介してもたらされる。
新たな積分期間ごとに、積分器は予めゼロにリセットされる。この場合には、積
分器は、測定された電荷を蓄積するための部材であるのに対し、前の場合には反
転形成されたキャパシタである。
とするために、この発明は、好ましくは、少なくとも1つの基本検出器の配列、
各検出器に接続された電荷蓄積要素、および、種々の検出器の蓄積要素への接続
を定期的に指図するように前記蓄積要素の配列に接続された回路、マルチプレク
サを使用して、断層撮影画像を得るためのプロセスを提案している。マルチプレ
クサによる連続したアナログ信号出力は、アナログ/ディジタル変換器によって
、ディジタル化された信号列に変換される。
間中に、信号積分時間を分割することにある。さらに、これらの条件下において
、使用される検出器は、もはや大きな電荷量を蓄積することができる必要はない
。さらに、アナログ/ディジタル変換器は、大きなダイナミックレンジを必要と
しない。したがって、ダイナミックレンジは20ビットから14ビットに低減す
ることができる。サンプリングと多数回の量子化が、観察期間中にもたらされる
ので、もちろん、各検出器に対して、観察に対応する信号を生成するように、量
子化の結果の加算を実行することが必要である。
れる(nは測定加速度である。)。 − アナログ/ディジタル変換器の周波数は、ファクタnにより増加される。 − アナログ/ディジタル変換器のダイナミックレンジは、全体的に、nとn
の平方根との間に配されるファクタ内に低減される。
るためのプロセスであって、 − 所定の観察期間中に、X線により身体を照射するステップと、 − この観察期間中に、検出器配列の各検出器において、これらの検出器の各
々の位置における身体内のX線吸収の効果を現すアナログ信号を測定するステッ
プと、 − 各アナログ検出器信号を、サンプリングしてディジタル検出器信号に変換
するステップとを具備し、 − 各検出器からのアナログ信号が、観察期間中にn回繰り返してサンプリン
グされ、 − 各検出器からのn回変換された信号が、各検出器のディジタル観察信号を
構成するために、一緒に加算されることを特徴としている。
タであって、 − 連続する観察期間中に、身体をX線照射するためのX線チューブと、 − 観察期間中に、各々の位置における身体へのX線の吸収の効果を現すアナ
ログ信号を測定するための検出器配列と、 − アナログ検出器信号をサンプリングして、ディジタル検出器信号に変換す
るためのアナログ/ディジタル変換器と、 − 観察速度において、検出器配列および変換器を駆動するためのシーケンサ
とを具備し、 − 観察速度よりn倍大きな速度で前記検出器配列および変換器を駆動するた
めのシーケンサ内の手段と、 − 各検出器のディジタル観察信号を構築するために、各検出器からのn個の
変換された信号を一緒に加算する加算器とを含むことを特徴としている。
に非常に多い検出器の数に関連している。したがって、これら全ての検出器の制
御回路の組立体は、最新の小型化技術を用いたとしても、非常に容積の大きなシ
ステムを構成する。700個の検出要素を有する検出器から25000個の検出
要素を有する検出器までを製造することは、現実には容易なことではない。
ープ化が行われ、共通の処理が、これらのグループの全ての検出器に適用される
。この発明は、実際には、既に強調された、以下の原則から出発している。 第1に、投影形態の画像において、コントラストの変化は、たとえ全画像にわ
たる測定値のダイナミックレンジがそれ自体で大きなものであったとしても、急
激なものであってはならない。なぜなら、患者の身体の臓器が、相互に透視され
るか、または、他の臓器を通して投影された状態で観察されるかのいずれかだか
らである。したがって、これらの臓器の画像間に遷移領域が常に存在する。この
遷移領域は、検出器の大きさの規模に対して比較的大きい。この遷移領域のため
に、コントラストは、過度に変化させるべきではないと考えられる。
の瞬間に、検出器において測定される吸収現象は、次の観察期間における隣接す
る検出器に生ずる現象と(同じダイナミックレンジを有する)同じ現象であると
考えることもできる。
能であったと考えられてきた。このグループ化の効果は、グループの検出器を全
く同じ測定形態におくということである。これらの研究は、実際に、測定のダイ
ナミックレンジが同じ範囲内に配されると考えられる検出器のグループの構築に
つながってきた。
により、電子検出回路を簡略化することができる。この範囲は、グループの検出
器に対して遂行される最も大きな測定値が、このグループに割り当てられた可能
な限り小さい測定範囲内に配されることを保証することにより決定される。改良
として、決定は観察期間中に行われ、割り当ては、次の観察期間において実行さ
れる。
ができる。添付図面は、単に、この発明の完全に非限定的な表示として与えられ
る。 図1は、断面デンシトメータの基本的な手段を概略的に示す図である。 図2は、この発明のプロセスを実行することを可能にするために、断面デンシ
トメータの検出回路の修正を示す図である。 図3a〜図3gは、従来技術およびこの発明においてそれぞれ実施され、プロ
セスに対応する信号のタイムチャートを示している。 図4は、検出された信号の値に対する、この発明のプロセスの種々の使用形態
を示すチャートである。 図5は、この発明において使用される検出モジュールの実施形態を示す概略図
である。
タは、この発明の枠内で使用することができる。この断面デンシトメータは、身
体3を照射するX線2を生起する線源1を具備している。身体3は線源1と検出
器4との間に配される。さらに、検出器4は、身体3により覆われるX線場の外
側に配置された補助検出器5を具備していてもよい。この補助検出器5は、得ら
れた測定値を正規化する役割を果たすことができる。断面デンシトメータは、交
点6が示された回転軸回りに回転する。検出器4は、多数の検出要素7を含む検
出器である。
1を具備している。このシンチレータ要素の層71は、X線を、下に配されてい
る検出層72の光検出器要素に感知される光線に変換する。
約1000個の光子がシンチレータクリスタル要素によって生起される。これら
のシンチレータクリスタル要素は、各結晶間の遷移壁によって相互に分離されて
いる。
ジュール8の組立体を含んでいる。モジュール8は、検出要素のマトリックスで
ある。モジュール8は、検出器4の長手方向に沿って、並んで配列されている。
一実施形態において、モジュールの長さ9は、約20mmである。この実施形態
において、30〜50個のモジュールが、検出器4の長さ方向に配列されている
。これにより、検出器長さは60cm〜1mの範囲となる。この実施形態におい
て、モジュール8の幅10は、検出に有用な部分において、約64mmである。
したがって、これにより、間に挟まれた身体3内部の約40mmの厚さの範囲に
配された断面を獲得することが可能である。
により与えられる保護範囲を限定するものではない。この例において、モジュー
ルは、幅方向10に相互に積み重ねられた32行、検出器4の長さ方向9に並ん
だ16列の配列を具備している。したがって、モジュール8は、512個の基本
検出器を具備している。事案を固定するために、断面デンシトメータは、1秒間
に2回転の速さで回転し、各回転毎に1000回の観察を行うことが望ましいこ
とを仮定する。したがって、観察期間は、500マイクロ秒である。これら50
0マイクロ秒の各観察期間中には、全てのモジュールに対して、かつ、各モジュ
ールにおける全ての基本検出器に対して、検出された照度信号を測定することが
好ましい。
検出器モジュールは、基本検出器と関連する処理回路とを含む4つのサブグルー
プ11〜14から構成されていることが好ましい。したがって、サブグループ1
1は、符号15〜17で示された128個の検出器を含んでいる。この実施形態
において、これらの検出器は、光起電力形式のダイオードである。サブグループ
には、例えば、16列の内の隣接する8列、32行の内の16行に配置された検
出器を含んでいる。変形例として、モジュール毎に2つのサブグループが構成さ
れてもよい。
要素である。これらの光検出器15〜17は、それらの上に配置されているシン
チレータクリスタルの位置において受けたX線に相当する光の照射を受ける。こ
れらのダイオードは、2つの端子によって、一方は、共通のアースに、他方は、
別々に、各増幅器18〜20の入力に接続されている。増幅器18〜20は、演
算増幅器である。一実施形態では、それらは単純なトランジスタから構成されて
いてもよい。増幅器18〜20は、それらの入力に出力をそれぞれ帰還させるキ
ャパシタ21〜23によって積分器として構成されている。増幅器18〜20の
出力は、さらに、それぞれのストレージキャパシタ24〜26に接続されている
。増幅器18〜20の出力とキャパシタ24〜26との間の接続は、信号S1に
よって制御されたスイッチ27〜29によって構成されている。
26を瞬時に充電する。キャパシタに入射された電荷は、積分期間(1回の観察
期間に対応し、したがって、実際には500マイクロ秒に相当する期間)の終了
時に積分器18〜20が到達している電圧に依存する。
伝達されると、増幅器18〜20は、キャパシタ21〜23をそれぞれ短絡する
スイッチ群30〜32に印加される信号S2によって再初期化される。この再初
期化は瞬時に行われる。信号S2の終了時に、ダイオード15〜17は、増幅器
18〜20への電流の入射を再開する。
グ/ディジタル変換器34、この発明の好ましい実施形態では、14ビットのア
ナログ/ディジタル変換器に、順に接続することができる。
換器34によって供給される信号は、観察に関連する信号であった。また、検出
器15〜17の各々に対して個別であった。図3cは、特に、8×16=128
個のパルスを含む信号S3が、観察期間中に、128個のキャパシタ24〜26
に含まれる信号を、それぞれ順次サンプリングし、ディジタル化することを可能
としていることを示している。したがって、4つのサブグループ11〜14によ
れば、各観察期間毎に、モジュールに対応して4×128=512個の測定値が
得られる。観察期間は、ここでは、図3aおよび図3bにおいて、信号S1のパ
ルス35,36、または、信号S2のパルス37,38間の期間である。
換器34が存在することがわかる。サブグループ11〜14の各々に対して1つ
である。モジュールの数を50とすると、この発明の装置には200個の変換器
34が含まれる。さらに、これらの変換器は簡易なものである。
いものであるとすれば、この発明により、技術水準の変換器(20ビット)より
も小さいサイズの変換器34(14ビット)を採用することが好ましい。この発
明では、この問題を解決するために、変換器34がキャパシタ24〜26の内容
をサンプリングしてディジタル化する周波数を増大させることにした。
達周波数は、同様に増加させられる。このことは図3a〜図3cにそれぞれ対応
する図3d〜図3fに示されている。これら一群の図面において、観察期間Dは
同じままであることがわかる。一実施形態では、なお500マイクロ秒である。
一方では、この発明において、積分、サンプリングおよび量子化が、この期間中
にn回行われる。好ましい実施形態では、n=8である。図3fの信号S3の意
味は、変換器34が、図3cの枠内よりもn倍頻繁に128個の結果を提供する
ということである。
きに、その結果は、加算器39において同じ検出器に対応し、この同じ変換器に
よって、前の量子化の際に供給された結果に加算される。このために、信号S3
の速度で作動する第1のマルチプレクサ40は、メモリ41から、(信号S3の
速度で変化する)アドレス42において、そこに格納されている前の量子化の結
果をタップオフする。この結果は、バッファメモリ43に格納される。バッファ
メモリ43は、加算器39に接続されている。相当の瞬間に、加算器39は、メ
モリ43の内容を変換器34により供給された結果に加算する。加算器39の出
力は、変換器34により供給された量子化結果とアドレス42の古い内容との加
算の結果を、再度アドレス42に格納する役割を果たす第2のマルチプレクサ4
4に接続されている。
び図3bの技術水準の信号S1または信号S2に同期した信号である。信号S4
は、メモリ41から、そこに格納されている128個のデータを迅速に引き出す
第3のマルチプレクサ45を制御する。メモリ41は、好ましくは20ビットの
メモリセルを含んでいる。メモリ41のマルチプレクサ45による読み出しは、
迅速でなければならない。なぜなら、その読み出しは、観察期間中にアナログ/
ディジタル変換器34によって実行される最初のn回の量子化の間に生じなけれ
ばならないからである。
、信号は、出力46においてn回毎に1回のみ利用可能である。
モードを示している。横軸は、検出器4の基本検出器に、観察期間(500マイ
クロ秒)にわたって入射されるX線光子の数を与えている。縦軸は、ディジタル
化後に期待される出力信号を示している。座標軸のスケールは、20ビットの大
きなダイナミックレンジ全体を考慮して対数で示されている。直線47は、1対
1の変換速度を有する検出回路により行われる(通常の)処理を示している。直
線48も、シンチレータクリスタルによる量子検出の結果生ずる信号−雑音比に
おける変化を示している。特に、公称の照度に対して、信号−雑音比は、100
0(1000000の平方根)に等しい。
が、X線照射の異なるスパンに対応して示されている。モード1に対して、検出
された信号は、12.5pC〜100pCに配される変化に相当している。この
発明によれば、このモードに対応する信号に対して、増幅器18〜20からの出
力電圧並びに変換器34による対応する量子化のタップオフ速度の加速を使用す
る。特に、この場合には、変換器34は、図3fの信号S3の速度で作動するこ
とになる。n=8の場合には、メモリ41のセル42に格納されている結果は、
観察期間の終端において、最高位ビットに配置された17ビット(14+3)に
符号化された信号に等しい。なぜなら、14ビットに、符号化された8個の信号
を加算することにより、17ビットの結果がもたらされるからである。したがっ
て、加算器39は、17ビット加算器である。
応する信号が、マルチプレクサ45の出力46に接続された比較器49において
測定される。これらの基本検出器の少なくとも1つからの信号が、12.5pC
以上である場合には、加速された獲得が、このサブグループに基本的な検出器の
全てに使用される。他方では、サブグループの全ての検出器からの信号が12.
5pCより小さい場合には、もはやこの発明に改良を使用しないことを決定する
。このために、比較器49は、図3dに見られる信号S1を図3aに見られる信
号S1に変換する役割を果たす信号50を供給する。実際に、信号S1,S2,
S3の周波数は、その後、nで割られる。したがって、シーケンサの役割を果た
すクロック51は、信号50に応じて変化する、加速されまたは加速されていな
い信号S1,S2,S3を供給する。非常に速いクロックにより駆動される周期
的なカウンタを用いて、このカウンタにより供給される信号の1ビットを検査し
、かつ、このビットの状態を用いてS1〜S3を構築することは容易である。8
倍の加速のためには、3ユニットだけシフトするために、1つの下位ビットを検
査すれば十分である。
ノイズが、シンチレータクリスタルによるX線量子化ノイズよりも大きいときに
は、もはや行われないことが好ましい。
は、勾配は50または100より小さい。このことはモジュール8の検出器にお
いて検出された信号が、隣接するモジュールの検出器において検出された信号と
はあまり異ならないことを意味している。これにより、この発明により構成され
る、検出器のグループにつながった。
ジュール8内の隣接する検出器により観察される身体の領域は、次の観察期間に
おいて、モジュール8の同じ検出器により、ほとんど観察される。したがって、
局所的には信号はさらに小さく変化し、コントラストは急激に変化しないので、
1つの観察期間において次の観察期間における信号がどのようなものであるかを
予測することができる。したがって、この改良によれば、観察のための測定を行
う際に、観察期間中ではなく、次の観察期間のために、信号50を適用すること
を決定することができる。言い換えると、モード1からモード2へ、またはその
逆に、トグリングを生ずる信号50は、電流観察の終了を示す信号S4のパルス
後のみに、クロック51に適用される。
弱い。この場合には、その範囲の最大値に変換器34を使用するために、記憶要
素24〜26から発せられる信号は、増幅器52を用いて、変換前に増幅される
。この増幅は、グループの全ての検出器の信号がしきい値より小さい場合に行わ
れることが好ましい。例えば、増幅率は8である。言い換えると、そのような増
幅を用いれば、変換器34のダイナミックレンジを完全に使用することができる
。しかしながら、実行される増幅によっては、メモリ41のセル42内において
、下位ビットに向けて結果をシフトすることが適当である。増幅率が8である場
合には、結果は、3ビット分だけ、下位方向にシフトされなければならない。実
際に、増幅率は8ではない。その結果、変換の結果は、実際の増幅率によって分
割される。このことは、変換器34と加算器39との間に配置された回路によっ
て実行される。
、任意のものであることを特筆しておく。 増幅器52を制御する比較器49からの信号は、さらに、選択回路521に格
納される。この回路521は、その後、メモリ41への記録時に、下位ビットに
向けて3ビットだけシフトされ、または、シフトされずに、記録を行うように、
マルチプレクサ44に接続されている。
タル変換器を使用するだけで、14+3+3=20ビットのダイナミックレンジ
が得られることになる。 必要があれば、増幅器52による増幅および速度の加速が組み合わせられても
よい。
の実施形態を示している。図5は、32行16列に分布された512個の基本検
出器を含むモジュール8を示している。図5は、4個のサブグループ11〜14
を示しており、各々が、128個の光検出器を含んでいる。一実施形態では、層
72を構成するこれらの光検出器は、制御回路を有するセラミックサポートによ
り支持されたシリコン基板上に形成されている。符号53のような金属被覆が、
接続体(図示略)によって、各光検出器にそれぞれ接続されている。これらの光
検出器の他の端子は、アース、基板の下側の金属被覆(図示略)および全ての共
通端子に接続されている。
mの寸法よりも小さい0.6mm×1.2mmの面積に相当している。したがっ
て、各検出領域55の周りに中立枠が存在する。この中立枠の目的は、光検出器
を相互に対して電気的に絶縁し、さらに、光検出器の上に置かれるシンチレータ
クリスタルの大きさに適合させることである。実際には、量子検出現象が検出器
55および枠54の上に配されたシンチレータクリスタル層71において生ずる
ので、この方法での作動には欠点が全くない。フォトダイオード15は、約10
00倍以上の光子を含む照度の高い放射線に敏感である。この場合には、ダイオ
ードの有用面積は、それらの上に配されるシンチレータクリスタルにより提供さ
れる対応する面積よりも小さい。
ンシトメータの検出回路の修正を示す図である。
セスに対応する信号のタイムチャートを示している。
形態を示すチャートである。
略図である。
Claims (11)
- 【請求項1】 断面デンシトメータによる測定値の獲得プロセスであって、 − 所定の観察期間(D)中に、身体(3)にX線(2)を照射するステップ
と、 − この観察期間中に、検出器配列(11)の各検出器において、これら検出
器(15〜17)の各々の位置での身体におけるX線の吸収の効果を示すアナロ
グ信号(24〜26)を測定するステップと、 − 各アナログ検出信号をサンプリング(33)して、ディジタル検出信号(
34)に変換するステップとを具備し、 − 各検出器からのアナログ信号が、観察期間中にn回繰り返してサンプリン
グされ、 − 各検出器からのn個の変換された信号が、各検出器のディジタル観察信号
(S4)を構築するために加算(39)されることを特徴とするプロセス。 - 【請求項2】 − 検出器グループ(11〜14)を構成し、 − 該グループの少なくとも1つの検出器からの信号をしきい値と比較(49
)し、 − 該グループの少なくとも1つの検出器からの信号がこのしきい値よりも大
きいときに、グループの検出器からの信号をn回繰り返してサンプリングするこ
とを特徴とする請求項1記載のプロセス。 - 【請求項3】 − 検出器のグループ(11〜14)を構成し、 − 該グループの全ての検出器からの信号をしきい値と比較し、 − これらの信号の各々がしきい値よりも小さいときに、グループの検出器か
らの信号を増幅(52)することを特徴とする請求項1または請求項2記載のプ
ロセス。 - 【請求項4】 − 比較が行われている期間の次の観察期間に対応する検出
器からのアナログ信号を、n回繰り返してサンプリングし、または、増幅するこ
とを特徴とする請求項2または請求項3記載のプロセス。 - 【請求項5】 検出器が光起電力ダイオードであり、測定を行うために、 − この検出器信号をサンプリング(S1)する前に、観察期間よりもn倍短
い期間にわたって、各光起電力ダイオードにより生成された電流信号を、検出信
号として積分器(18〜20)において積分し、 − 前記積分器を、この電流の新たな積分前にゼロにリセット(S2)するこ
とを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載のプロセス。 - 【請求項6】 測定値獲得手段を備えた断面デンシトメータであって、 − 連続した観察期間(D)中に、身体(3)にX線(2)を照射するための
X線チューブ(1)と、 − 観察期間中におけるこれら検出器の各々の位置での、X線の身体への吸収
効果を示すアナログ信号を測定するための検出器(7)の配列(4)と、 − 各アナログ検出信号をサンプリングしてディジタル検出信号に変換するア
ナログ/ディジタル変換器(34)と、 − 観察の速度で、検出器の配列および変換器を駆動するシーケンサ(51)
とを具備し、 − 観察の速度よりもn倍速い速度で前記検出器配列および変換器を駆動する
、シーケンサ内部の手段(50)と、 − 各検出器のディジタル観察信号(S4)を構築するために、各検出器から
のn個の変換された信号を加算する加算器(39)とを含むことを特徴とする断
面デンシトメータ。 - 【請求項7】 − 検出器のグループ(11〜14)と、 − 該グループの少なくとも1つの検出器からの信号をしきい値と比較するよ
うに、グループに割り当てられた比較器(49)と、 − 該グループの少なくとも1つの検出器からのこの信号が、このしきい値よ
りも大きいときに、n倍速い速度で前記駆動を制御する回路(50〜51)とを
含むことを特徴とする請求項6記載の断面デンシトメータ。 - 【請求項8】 − 検出器のグループ(11〜14)と、 − 該グループの全ての検出器からの信号をしきい値と比較するためにグルー
プに割り当てられた比較器(49)と、 − これらの信号群がしきい値より小さいときに、前記検出器からの信号を変
換する前に増幅する増幅器(52)とを具備することを特徴とする請求項6また
は請求項7記載の断面デンシトメータ。 - 【請求項9】 検出器のグループ(8)が、セラミックサポートのような同
一のサポート上にそれらの制御回路とともに装着された2つまたは4つの検出器
サブグループ(11〜14)を含むことを特徴とする請求項7または請求項8記
載の断面デンシトメータ。 - 【請求項10】 前記検出器が、各々制御(S1,S2)された積分器(1
8)に接続された光起電力ダイオードであることを特徴とする請求項6から請求
項9のいずれかに記載の断面デンシトメータ。 - 【請求項11】 前記検出器が、上に配されているシンチレータクリスタル
の検出面積より小さい検出面積を有するフォトダイオードを含むことを特徴とす
る請求項6から請求項10のいずれかに記載の断面デンシトメータ。
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