JP2003510616A - センサ及び評価ユニットを有するｘ線検出器 - Google Patents
センサ及び評価ユニットを有するｘ線検出器Info
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
Abstract
(57)【要約】
本発明は、入射Ｘ線を電荷パルスに変換する変換素子をそれぞれ有する複数のＸ線感応センサより成るアレイと、前記変換素子に電気接続され、前記電荷パルスを受けて評価する評価ユニットとを具えるＸ線検出器に関する。大きなダイナミックレンジに亙る直線性を高めるとともに、最大計数速度を高め、しかもＸ線量子の多重計数により計算画像に誤りを導入するのを回避しうるＸ線検出器を形成するために、評価ユニットに電流／周波数変換器（２）と、この電流／周波数変換器に電気接続された電子カウンタ（３）とを設け、前記電荷パルスが前記変換素子から電流／周波数変換器の入力端（４）に供給され、この電流／周波数変換器の出力パルスが前記電子カウンタに供給されるようにする。
Description
【０００１】
本発明は、入射Ｘ線を電荷パルスに変換する変換素子をそれぞれ有する複数の
Ｘ線感応センサより成るアレイと、前記変換素子に電気接続され、前記電荷パル
スを受けて評価する評価ユニットとを具えるＸ線検出器に関するものである。
Ｘ線感応センサより成るアレイと、前記変換素子に電気接続され、前記電荷パル
スを受けて評価する評価ユニットとを具えるＸ線検出器に関するものである。
【０００２】
Ｘ線感応センサのアレイが設けられたＸ線検出器は、特に医療診断の分野に用
いられている。通常のコンピュータトモグラフィー（ＣＴ）装置では、Ｘ線管と
一列のセンサとを有する回転装置により、患者の体の軸線に対し直角に延在する
平面内で種々の方向から患者に照射が行なわれる。各投射に対し一組のデータが
得られ、最終的に全ての投射のこれらデータ組から二次元の断面画像が計算され
る。センサが行及び列に配置されたいわゆるセンサマトリックスが設けられた、
より高機能のコンピュータトモグラフィー装置も既知である。この種類のＸ線検
出器は、工業分野や、セキュリティー分野、例えば、手荷物検査に用いることが
できる。
いられている。通常のコンピュータトモグラフィー（ＣＴ）装置では、Ｘ線管と
一列のセンサとを有する回転装置により、患者の体の軸線に対し直角に延在する
平面内で種々の方向から患者に照射が行なわれる。各投射に対し一組のデータが
得られ、最終的に全ての投射のこれらデータ組から二次元の断面画像が計算され
る。センサが行及び列に配置されたいわゆるセンサマトリックスが設けられた、
より高機能のコンピュータトモグラフィー装置も既知である。この種類のＸ線検
出器は、工業分野や、セキュリティー分野、例えば、手荷物検査に用いることが
できる。
【０００３】
入射Ｘ線を電荷パルスに変換するには、直接変換式の変換素子又はホトダイオ
ードと関連するシンチレーターより成る変換素子が適している。直接変換式のセ
ンサは、構造が簡単で、同時に空間解像度が高いという特徴を有している。これ
らのセンサは、例えば、CdZnTe又はPbＯのような重く吸光性に適した半導体材料
を以て構成されている。ホトダイオードと関連するシンチレーターを用いる場合
には、シンチレーターの発光特性を用いて、Ｘ線をまず最初に低エネルギーで、
特に可視の放射に変換し、その後この放射がホトダイオード中に電荷パルスを生
ぜしめるようにする。
ードと関連するシンチレーターより成る変換素子が適している。直接変換式のセ
ンサは、構造が簡単で、同時に空間解像度が高いという特徴を有している。これ
らのセンサは、例えば、CdZnTe又はPbＯのような重く吸光性に適した半導体材料
を以て構成されている。ホトダイオードと関連するシンチレーターを用いる場合
には、シンチレーターの発光特性を用いて、Ｘ線をまず最初に低エネルギーで、
特に可視の放射に変換し、その後この放射がホトダイオード中に電荷パルスを生
ぜしめるようにする。
【０００４】
このようなＸ線検出器に対しては、いわゆる積分センサか或いはいわゆる計数
センサの何れかが用いられている。積分センサの評価ユニットは、変換素子から
の電荷パルスを規定の積分時間（フレーム時間）に亙って積分する。積分時間の
終了時に積分された電荷量が、Ｘ線量子により変換素子中に堆積されるエネルギ
ーの目安を構成する。計数センサは、各量子中に含まれるＸ線のエネルギーにか
かわらず、各変換素子中に吸収される各Ｘ線量子を個々に計数する。この目的の
ために、規則的な時間間隔で、変換素子により発生される各電荷パルスを、信号
形成増幅器及び比較器によりデジタルパルスに変換し、このデジタルパルスを電
子カウンタにより計数する。計数期間（フレーム時間）の終了時における計数値
が、計数期間中に変換素子内に吸収されるＸ線量子数の目安を構成する。
センサの何れかが用いられている。積分センサの評価ユニットは、変換素子から
の電荷パルスを規定の積分時間（フレーム時間）に亙って積分する。積分時間の
終了時に積分された電荷量が、Ｘ線量子により変換素子中に堆積されるエネルギ
ーの目安を構成する。計数センサは、各量子中に含まれるＸ線のエネルギーにか
かわらず、各変換素子中に吸収される各Ｘ線量子を個々に計数する。この目的の
ために、規則的な時間間隔で、変換素子により発生される各電荷パルスを、信号
形成増幅器及び比較器によりデジタルパルスに変換し、このデジタルパルスを電
子カウンタにより計数する。計数期間（フレーム時間）の終了時における計数値
が、計数期間中に変換素子内に吸収されるＸ線量子数の目安を構成する。
【０００５】
例えば、ドイツ国特許公開第19703428号明細書には、列又はマトリックスに配
置され、入射Ｘ線量子を個々に、従って、デジタル的に検出しうるセンサを有す
るＸ線検出器が開示されている。各センサは、個別に読取りを行ないうる変換素
子を有する。この目的のために、変換素子が前置増幅器に容量結合され、この前
置増幅器が評価ユニットに接続されている。この評価ユニットは、少なくとも１
つの積分器と１つのカウンタとを有し、このカウンタが積分器の出力端から生ぜ
しめられる電荷パルスを計数する。評価ユニットは、計数した電荷パルス数を各
検出器素子（変換素子）に対し記憶するデジタル記憶装置をも有している。
置され、入射Ｘ線量子を個々に、従って、デジタル的に検出しうるセンサを有す
るＸ線検出器が開示されている。各センサは、個別に読取りを行ないうる変換素
子を有する。この目的のために、変換素子が前置増幅器に容量結合され、この前
置増幅器が評価ユニットに接続されている。この評価ユニットは、少なくとも１
つの積分器と１つのカウンタとを有し、このカウンタが積分器の出力端から生ぜ
しめられる電荷パルスを計数する。評価ユニットは、計数した電荷パルス数を各
検出器素子（変換素子）に対し記憶するデジタル記憶装置をも有している。
【０００６】
計数センサを有する既知のＸ線検出器には、前置増幅器、評価ユニットの他の
部分（例えば、比較器）又は変換素子のむだ（不感）時間効果により計数速度が
制限されるという欠点がある。従って、各変換素子に対して期待すべきＸ線量子
流を、関連のセンサが依然として個別にＸ線量子を検出しうる最大計数速度より
も少なくなるようにする必要がある。この目的のためには、ドイツ国特許公開第
19703428号明細書によれば、個々の検出器素子の表面積を、量子流が最大計数速
度よりも少なくなる程度に小さく選択する必要がある。更に、既知のＸ線検出器
では、隣り合う変換素子間にクロストークが生じる。従って、Ｘ線量子が数個の
センサで計数される為、結果が誤ったものとなるおそれがある。計数センサが設
けられたＸ線検出器には、ダイナミックレンジが大きくなるとともに、全ダイナ
ミックレンジに亙る評価ユニットの直線性が優れたものとなるという利点が得ら
れることに注意すべきである。
部分（例えば、比較器）又は変換素子のむだ（不感）時間効果により計数速度が
制限されるという欠点がある。従って、各変換素子に対して期待すべきＸ線量子
流を、関連のセンサが依然として個別にＸ線量子を検出しうる最大計数速度より
も少なくなるようにする必要がある。この目的のためには、ドイツ国特許公開第
19703428号明細書によれば、個々の検出器素子の表面積を、量子流が最大計数速
度よりも少なくなる程度に小さく選択する必要がある。更に、既知のＸ線検出器
では、隣り合う変換素子間にクロストークが生じる。従って、Ｘ線量子が数個の
センサで計数される為、結果が誤ったものとなるおそれがある。計数センサが設
けられたＸ線検出器には、ダイナミックレンジが大きくなるとともに、全ダイナ
ミックレンジに亙る評価ユニットの直線性が優れたものとなるという利点が得ら
れることに注意すべきである。
【０００７】
上述した従来技術に基づき、本発明の目的は、最大計数速度が大きくなるとと
もに直線性が、大きなダイナミックレンジに亙って高くなり、Ｘ線量子の多重計
数により計算画像が誤ったものとなるのを回避した、前述した種類のＸ線検出器
を提供せんとするにある。
もに直線性が、大きなダイナミックレンジに亙って高くなり、Ｘ線量子の多重計
数により計算画像が誤ったものとなるのを回避した、前述した種類のＸ線検出器
を提供せんとするにある。
【０００８】
この目的は、電荷パルスに含まれる電荷量の合計Ｑを固定電荷量Ｑ1 の単位で
計数するという着想、すなわち、変換素子における個々のＸ線量子により発生さ
れる各電荷パルスを計数せずに、その電荷量にかかわらず、各固定電荷量Ｑ1 に
対し正確に１つの出力パルスを発生させるという着想を基に達成する。
計数するという着想、すなわち、変換素子における個々のＸ線量子により発生さ
れる各電荷パルスを計数せずに、その電荷量にかかわらず、各固定電荷量Ｑ1 に
対し正確に１つの出力パルスを発生させるという着想を基に達成する。
【０００９】
より一層明瞭に言えば、本発明の目的は、前記評価ユニットが、電流／周波数
変換器と、この電流／周波数変換器に電気接続された電子カウンタとを有し、前
記電荷パルスが前記変換素子から電流／周波数変換器の入力端に供給され、この
電流／周波数変換器の出力パルスが前記電子カウンタに供給されるようにするこ
とにより達成する。アナログ測定量を周波数変調信号に変換することは、信号伝
送技術、特に、物理的な測定技術から既知であり、信号の伝送中の妨害に対する
イミュニティを高めたい場合に適用されている。この場合、アナログ測定量、こ
の場合電荷パルスを周波数変調信号に変換するのは、第１に、本発明とは完全に
異なる目的で、すなわち、計数センサが設けられている既知のＸ線検出器の欠点
を排除する目的で行なわれている。
変換器と、この電流／周波数変換器に電気接続された電子カウンタとを有し、前
記電荷パルスが前記変換素子から電流／周波数変換器の入力端に供給され、この
電流／周波数変換器の出力パルスが前記電子カウンタに供給されるようにするこ
とにより達成する。アナログ測定量を周波数変調信号に変換することは、信号伝
送技術、特に、物理的な測定技術から既知であり、信号の伝送中の妨害に対する
イミュニティを高めたい場合に適用されている。この場合、アナログ測定量、こ
の場合電荷パルスを周波数変調信号に変換するのは、第１に、本発明とは完全に
異なる目的で、すなわち、計数センサが設けられている既知のＸ線検出器の欠点
を排除する目的で行なわれている。
【００１０】
本発明による装置では、個々の電荷パルスをもはや計数しない為、単一のパル
ス評価の場合に前置増幅器及びパルス整形増幅器の双方又はいずれか一方の為に
通常生じるむだ時間がもはや存在しない。本発明によれば、ダイナミックレンジ
の直線性又は大きさを制限することなく、Ｘ線検出器の動作を高い計数速度にし
うる。
ス評価の場合に前置増幅器及びパルス整形増幅器の双方又はいずれか一方の為に
通常生じるむだ時間がもはや存在しない。本発明によれば、ダイナミックレンジ
の直線性又は大きさを制限することなく、Ｘ線検出器の動作を高い計数速度にし
うる。
【００１１】
更に、本発明による装置では、Ｘ線量子の多重計数が回避される。確かに、Ｘ
線量子が前述したように隣接の変換素子において依然として電荷パルスを発生す
るおそれがある。しかし、これらの電荷パルスはもはや計数期間の終了時におけ
る計数に誤った影響を及ぼさない。その理由は、変換素子からの各電荷量Ｑは、
この電荷量Ｑが固定電荷量Ｑ1 となった場合のみデジタルパルスを発生する為で
ある。従って、Ｘ線量子により発生される電荷パルスが隣接の変換素子間にまた
がる場合、隣接のセンサの電流／周波数変換器は少量の電荷しか受けず、各セン
サにおいて計数パルスを発生させるのに必要とする電荷量Ｑ1 には後にしか到達
しない。
線量子が前述したように隣接の変換素子において依然として電荷パルスを発生す
るおそれがある。しかし、これらの電荷パルスはもはや計数期間の終了時におけ
る計数に誤った影響を及ぼさない。その理由は、変換素子からの各電荷量Ｑは、
この電荷量Ｑが固定電荷量Ｑ1 となった場合のみデジタルパルスを発生する為で
ある。従って、Ｘ線量子により発生される電荷パルスが隣接の変換素子間にまた
がる場合、隣接のセンサの電流／周波数変換器は少量の電荷しか受けず、各セン
サにおいて計数パルスを発生させるのに必要とする電荷量Ｑ1 には後にしか到達
しない。
【００１２】
例えば、CdTe、CdZnTe、GaAs、HgＩ2 、PbＩ、PbＯ、TlBr、InSb、Si、Ge又は
Seより成る直接変換用の変換素子は、これらの構造がコンパクトで簡単である為
に、本発明の実施例に用いて有利である。これらの材料のあるものは、時間的に
比較的広い電荷パルスを生じる。従って、これらの材料を含む変換素子では、Ｘ
線照射が強い場合に、順次の電荷パルスがしばしば重なり合ってしまう。このよ
うな重なり合いによると、通常の計数センサにおいては、計数結果が失われてし
まうが、本発明による装置では、全ての電荷パルス及びこれらの関連の電荷量Ｑ
は正しく検出される。
Seより成る直接変換用の変換素子は、これらの構造がコンパクトで簡単である為
に、本発明の実施例に用いて有利である。これらの材料のあるものは、時間的に
比較的広い電荷パルスを生じる。従って、これらの材料を含む変換素子では、Ｘ
線照射が強い場合に、順次の電荷パルスがしばしば重なり合ってしまう。このよ
うな重なり合いによると、通常の計数センサにおいては、計数結果が失われてし
まうが、本発明による装置では、全ての電荷パルス及びこれらの関連の電荷量Ｑ
は正しく検出される。
【００１３】
本発明の他の例では、前記電流／周波数変換器と前記電子カウンタとの双方又
はいずれか一方にリセット入力端を設ける。電流／周波数変換器のリセット入力
端は、前の計数期間からの残留電荷がこれに続く計数期間中の測定に影響を及ぼ
さないようにするものである。
はいずれか一方にリセット入力端を設ける。電流／周波数変換器のリセット入力
端は、前の計数期間からの残留電荷がこれに続く計数期間中の測定に影響を及ぼ
さないようにするものである。
【００１４】
カウンタを帰還型シフトレジスタとして構成すると、その構造がコンパクトで
あるために、集積化密度を高くすることができ、このように集積化密度を高くす
るのは、特に、センサをマトリックス配置したＸ線検出器の場合に必要である。
帰還型シフトレジスタに対しては、「Nucl. Instr. and Meth.」A405(1998)の第
53〜59頁の論文“A counting pixel readout chip for imaging applications”
(P. Fischer等著)を参照しうる。
あるために、集積化密度を高くすることができ、このように集積化密度を高くす
るのは、特に、センサをマトリックス配置したＸ線検出器の場合に必要である。
帰還型シフトレジスタに対しては、「Nucl. Instr. and Meth.」A405(1998)の第
53〜59頁の論文“A counting pixel readout chip for imaging applications”
(P. Fischer等著)を参照しうる。
【００１５】
変換素子は互いに個別の構造にしうるも、少なくともセンサの関連の評価ユニ
ットを有する集積回路の一部として構成するのが好ましい。センサより成る１つ
のマトリックスはこのような集積回路の１つ以上を以て構成しうる。（例えば、
Si‐ＰＩＮダイオードはシリコン集積回路内に集積化し、GaAs変換素子はGaAs集
積回路内に集積化し、CdZnTe変換素子はシリコン集積回路内に集積化した。）
ットを有する集積回路の一部として構成するのが好ましい。センサより成る１つ
のマトリックスはこのような集積回路の１つ以上を以て構成しうる。（例えば、
Si‐ＰＩＮダイオードはシリコン集積回路内に集積化し、GaAs変換素子はGaAs集
積回路内に集積化し、CdZnTe変換素子はシリコン集積回路内に集積化した。）
【００１６】
本発明の有利な例では、Ｘ線検出器の暗電流を補償するために、各電流／周波
数変換器の入力端に追加の可調整電流源を接続する。
数変換器の入力端に追加の可調整電流源を接続する。
【００１７】
次に、図面を参照して本発明を詳細に説明する。
図１は本発明によるＸ線検出器の評価ユニットを示すブロック線図であり、こ
の評価ユニット１は、電流／周波数変換器２と、カウンタ３とを有する。電流／
周波数変換器２の入力端４には変換素子（図１に図示せず）から電荷パルスが供
給され、この電流／周波数変換器は、規定の電荷Ｑi が入力端４を経て供給され
るとデジタルパルスを生じる。電流／周波数変換器２のデジタルパルス列はその
出力端５から導電ライン６を経てカウンタ３に伝達される。このカウンタ３の内
容は、例えば、直列又は並列デジタルインターフェイスを介して下流の回路に供
給することができる。電流／周波数変換器２及びカウンタ３には、リセットの目
的のためのリセット入力端７及び８が設けられている。
の評価ユニット１は、電流／周波数変換器２と、カウンタ３とを有する。電流／
周波数変換器２の入力端４には変換素子（図１に図示せず）から電荷パルスが供
給され、この電流／周波数変換器は、規定の電荷Ｑi が入力端４を経て供給され
るとデジタルパルスを生じる。電流／周波数変換器２のデジタルパルス列はその
出力端５から導電ライン６を経てカウンタ３に伝達される。このカウンタ３の内
容は、例えば、直列又は並列デジタルインターフェイスを介して下流の回路に供
給することができる。電流／周波数変換器２及びカウンタ３には、リセットの目
的のためのリセット入力端７及び８が設けられている。
【００１８】
図２に示す可能な電流／周波数変換器２の一般的な回路線図では、機能を説明
するために、演算増幅器、抵抗、キャパシタ及びスイッチの記号を用いている。
しかし実際には、これらの構成素子は、例えば、ＣＭＯＳ技術で集積化されてい
る。符号２で全体を示している電流／周波数変換器は、演算増幅器ＯＡ１より成
る第１段を有している。この第１段は、組込み放電抵抗ＲA を有する積分器を表
わす。
するために、演算増幅器、抵抗、キャパシタ及びスイッチの記号を用いている。
しかし実際には、これらの構成素子は、例えば、ＣＭＯＳ技術で集積化されてい
る。符号２で全体を示している電流／周波数変換器は、演算増幅器ＯＡ１より成
る第１段を有している。この第１段は、組込み放電抵抗ＲA を有する積分器を表
わす。
【００１９】
電流／周波数変換器の第２段は、図２に示すような回路線図の演算増幅器ＯＡ
２、ＯＡ３及びＯＡ４より成っており、これを以下に詳細に説明する。キャパシ
タＣB を有する積分用演算増幅器ＯＡ２の積分方向は、演算増幅器ＯＡ３と抵抗
ＲD 及びＲE とより成るシュミットトリガ回路により制御される。演算増幅器Ｏ
Ａ３の出力電圧が正である間、スイッチＳが閉じる為、演算増幅器ＯＡ２の積分
方向は、電圧インバータとして接続され２つの抵抗ＲC を有する演算増幅器ＯＡ
４を介して、スイッチＳが開放している場合の積分方向に比べて反転される。電
圧／周波数変換器（第２段）に対する同様な回路配置は従来から既知である（例
えば、1989年にCambridge University Pressにより発行されたP.Horowitz及びW.
Hill氏著“The art of electronics”参照）。
２、ＯＡ３及びＯＡ４より成っており、これを以下に詳細に説明する。キャパシ
タＣB を有する積分用演算増幅器ＯＡ２の積分方向は、演算増幅器ＯＡ３と抵抗
ＲD 及びＲE とより成るシュミットトリガ回路により制御される。演算増幅器Ｏ
Ａ３の出力電圧が正である間、スイッチＳが閉じる為、演算増幅器ＯＡ２の積分
方向は、電圧インバータとして接続され２つの抵抗ＲC を有する演算増幅器ＯＡ
４を介して、スイッチＳが開放している場合の積分方向に比べて反転される。電
圧／周波数変換器（第２段）に対する同様な回路配置は従来から既知である（例
えば、1989年にCambridge University Pressにより発行されたP.Horowitz及びW.
Hill氏著“The art of electronics”参照）。
【００２０】
評価ユニットの入力端４に瞬時ｔ＝０で瞬時的な電荷パルスＱm が現れると、
演算増幅器ＯＡ１の出力端における出力電圧は、 Ｕaus ＝（Ｑm ／ＣA ）ｅ−ｔ／τ となる。ここに、特性時定数τは、 τ＝ＲA ＣA である。
演算増幅器ＯＡ１の出力端における出力電圧は、 Ｕaus ＝（Ｑm ／ＣA ）ｅ−ｔ／τ となる。ここに、特性時定数τは、 τ＝ＲA ＣA である。
【００２１】
更に概して言えば、任意の形状で電荷量Ｑを有する各電荷パルスが演算増幅器
ＯＡ１で電圧変化に変換される。この電圧変化に亙る積分は電荷パルスの電荷量
Ｑに比例する。抵抗ＲA 及びキャパシタＣA により規定される時定数τは計数期
間（フレーム時間）よりもかなり短く選択することが重要である。さもないと、
１計数期間の電荷パルスが次の計数期間の計数に誤りを導入するおそれがある為
である。
ＯＡ１で電圧変化に変換される。この電圧変化に亙る積分は電荷パルスの電荷量
Ｑに比例する。抵抗ＲA 及びキャパシタＣA により規定される時定数τは計数期
間（フレーム時間）よりもかなり短く選択することが重要である。さもないと、
１計数期間の電荷パルスが次の計数期間の計数に誤りを導入するおそれがある為
である。
【００２２】
本発明によれば、入力端４に存在する電荷パルスの電荷量Ｑが、電流／周波数
変換器２の出力端におけるデジタルパルスに正確に一致する、前に規定された電
荷値Ｑ1 となる場合のみ、この電流／周波数変換器２がデジタルパルスを発生す
る。
変換器２の出力端におけるデジタルパルスに正確に一致する、前に規定された電
荷値Ｑ1 となる場合のみ、この電流／周波数変換器２がデジタルパルスを発生す
る。
【００２３】
図２に示す回路配置の場合、この電荷量Ｑ1 は以下の式に応じて計算される。
Ｑ1 ＝８ＵT ＣB ＲB ／ＲA
ここに、ＵT ＝Ｕmax ＲE ／（ＲD ＋ＲE ）はシュミットトリガ回路のスイッチ
ングしきい値を表わす。この計算に対しては、演算増幅器ＯＡ３に対し＋／−Ｕ max の対称的な出力電圧を仮定した。
ングしきい値を表わす。この計算に対しては、演算増幅器ＯＡ３に対し＋／−Ｕ max の対称的な出力電圧を仮定した。
【図１】 本発明によるＸ線検出器の評価ユニットを示すブロック線図である。
【図２】 図１に示す評価ユニットの電流／周波数変換器の可能な回路配置を示
す。
す。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 ヨセフ ローター
オランダ国 5656 アーアー アインドー
フェン プロフ ホルストラーン ６
(72)発明者 ヴァルター リュッテン
オランダ国 5656 アーアー アインドー
フェン プロフ ホルストラーン ６
Ｆターム(参考） 2G088 EE02 FF02 GG19 JJ05 KK11
Claims (8)
- 【請求項１】 入射Ｘ線を電荷パルスに変換する変換素子をそれぞれ有する複数
のＸ線感応センサより成るアレイと、前記変換素子に電気接続され、前記電荷パ
ルスを受けて評価する評価ユニットとを具えるＸ線検出器において、 前記評価ユニットが、電流／周波数変換器と、この電流／周波数変換器に電気
接続された電子カウンタとを有し、前記電荷パルスが前記変換素子から電流／周
波数変換器の入力端に供給され、この電流／周波数変換器の出力パルスが前記電
子カウンタに供給されるようになっていることを特徴とするＸ線検出器。 - 【請求項２】 請求項１に記載のＸ線検出器において、このＸ線検出器が直接変
換式の変換素子を有していることを特徴とするＸ線検出器。 - 【請求項３】 請求項１に記載のＸ線検出器において、このＸ線検出器が、ホト
ダイオードと関連するシンチレーターより成る変換素子を有していることを特徴
とするＸ線検出器。 - 【請求項４】 請求項１〜３のいずれか一項に記載のＸ線検出器において、前記
電流／周波数変換器と前記電子カウンタとの双方又はいずれか一方にリセット入
力端が設けられていることを特徴とするＸ線検出器。 - 【請求項５】 請求項１〜４のいずれか一項に記載のＸ線検出器において、前記
電子カウンタが、帰還型シフトレジスタとして構成されていることを特徴とする
Ｘ線検出器。 - 【請求項６】 請求項１〜５のいずれか一項に記載のＸ線検出器において、複数
の変換素子の各々がこれと関連する評価ユニットと相俟って少なくとも１つの集
積回路の一部を構成していることを特徴とするＸ線検出器。 - 【請求項７】 請求項１〜６のいずれか一項に記載のＸ線検出器において、各電
流／周波数変換器の入力端に、追加の可調整電流源が接続されていることを特徴
とするＸ線検出器。 - 【請求項８】 請求項１〜７のいずれか一項に記載のＸ線検出器を、特にコンピ
ュータトモグラフィー装置とするのが好ましいＸ線診断装置に用いるＸ線検出器
の使用方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19945757.3 | 1999-09-24 | ||
| DE19945757A DE19945757A1 (de) | 1999-09-24 | 1999-09-24 | Röntgendetektor |
| PCT/EP2000/009202 WO2001023909A1 (en) | 1999-09-24 | 2000-09-20 | X-ray detector having sensors and evaluation units |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003510616A true JP2003510616A (ja) | 2003-03-18 |
Family
ID=7923133
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001527241A Withdrawn JP2003510616A (ja) | 1999-09-24 | 2000-09-20 | センサ及び評価ユニットを有するｘ線検出器 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6586743B1 (ja) |
| EP (1) | EP1133704B1 (ja) |
| JP (1) | JP2003510616A (ja) |
| DE (2) | DE19945757A1 (ja) |
| WO (1) | WO2001023909A1 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6359155A (ja) * | 1986-08-29 | 1988-03-15 | Toshiba Corp | 通信制御方式 |
| JP2009540282A (ja) * | 2006-06-05 | 2009-11-19 | プランメカ オイ | Ｘ線イメージング・センサおよびｘ線イメージング法 |
| JP2015523554A (ja) * | 2012-05-15 | 2015-08-13 | ベラジニ，ロナルド | デジタルｘ線センサ |
| JP2015158501A (ja) * | 2009-03-26 | 2015-09-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | データ取得 |
| JP2016528749A (ja) * | 2013-05-16 | 2016-09-15 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | イメージング検出器 |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6671345B2 (en) * | 2000-11-14 | 2003-12-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Data acquisition for computed tomography |
| JP4234485B2 (ja) * | 2003-04-28 | 2009-03-04 | 浜松ホトニクス株式会社 | Ｉ／ｆ変換装置および光検出装置 |
| DE10357202A1 (de) * | 2003-12-08 | 2005-06-30 | Siemens Ag | Strahlungsdetektor sowie Verfahren zur synchronisierten Strahlungserfassung |
| US7476840B2 (en) | 2006-05-08 | 2009-01-13 | Slicex, Inc. | Sensing light and sensing the state of a memory cell an aid of a switch controlled by a schmidt trigger |
| US8270564B2 (en) | 2008-12-01 | 2012-09-18 | Teratech Corporation | Digital integration with detector correction |
| WO2010109354A2 (en) * | 2009-03-26 | 2010-09-30 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Data acquisition |
| CN102413765B (zh) * | 2009-03-26 | 2016-09-21 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 频谱成像 |
| FI126847B (en) | 2012-12-13 | 2017-06-15 | Upm Kymmene Corp | Process for catalytic oxidation of cellulose and process for producing a cellulose product |
| FI127002B (en) | 2013-07-29 | 2017-09-15 | Upm Kymmene Corp | Process for catalytic oxidation of cellulose and process for manufacturing cellulose product |
| FI127246B (en) | 2013-09-02 | 2018-02-15 | Upm Kymmene Corp | Process for the catalytic oxidation of cellulose and process for the manufacture of a cellulose product |
| KR20150046641A (ko) * | 2013-10-22 | 2015-04-30 | 삼성전자주식회사 | 전하 증폭기 및 이를 포함하는 검출기와 엑스선 촬영 장치 |
| RU2581391C2 (ru) * | 2013-12-05 | 2016-04-20 | Федеральное государственное бюджетное учреждение "33 Центральный научно-исследовательский испытательный институт" Министерства обороны Российской Федерации (ФГБУ "33 ЦНИИИ" Минобороны России) | Способ измерения высоких уровней мощности дозы гамма-излучения и устройство для его осуществления |
| CN107923983B (zh) * | 2015-08-07 | 2021-09-28 | 皇家飞利浦有限公司 | 具有改进的空间准确度的成像探测器 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3984690A (en) * | 1975-04-02 | 1976-10-05 | Mdh Industries, Inc. | Circuitry for use with an ionizing-radiation detector |
| US5592523A (en) * | 1994-12-06 | 1997-01-07 | Picker International, Inc. | Two dimensional detector array for CT scanners |
| US5602468A (en) | 1995-08-07 | 1997-02-11 | Radcal Corporation | Method and apparatus for ion chamber identification |
| EP0791230B1 (en) * | 1995-09-12 | 2008-08-13 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray image sensor |
| DE19703428A1 (de) | 1997-01-30 | 1998-08-06 | Siemens Ag | Schnelles Computertomographie-Verfahren und Anordnung dafür |
-
1999
- 1999-09-24 DE DE19945757A patent/DE19945757A1/de not_active Withdrawn
-
2000
- 2000-09-20 JP JP2001527241A patent/JP2003510616A/ja not_active Withdrawn
- 2000-09-20 EP EP00967720A patent/EP1133704B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-20 DE DE60024405T patent/DE60024405T2/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-20 US US09/856,770 patent/US6586743B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-09-20 WO PCT/EP2000/009202 patent/WO2001023909A1/en active IP Right Grant
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| JP2015158501A (ja) * | 2009-03-26 | 2015-09-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | データ取得 |
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| JP2016528749A (ja) * | 2013-05-16 | 2016-09-15 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | イメージング検出器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1133704A1 (en) | 2001-09-19 |
| DE60024405D1 (de) | 2006-01-05 |
| DE60024405T2 (de) | 2006-08-17 |
| DE19945757A1 (de) | 2001-03-29 |
| US6586743B1 (en) | 2003-07-01 |
| EP1133704B1 (en) | 2005-11-30 |
| WO2001023909A1 (en) | 2001-04-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20070315 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070918 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20090722 |